JPH10197576A

JPH10197576A - 周波数特性測定方法および装置

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Publication number: JPH10197576A
Application number: JP1310397A
Authority: JP
Inventors: Takashi Seike; 高志清家; Takashi Mori; 隆森; Toshiyuki Matsuda; 俊幸松田
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 1997-01-07
Filing date: 1997-01-07
Publication date: 1998-07-31

Abstract

(57)【要約】【課題】被測定回路の周波数特性を短時間に且つ正確
に測定すること。【解決手段】合成波形メモリ２４には、周波数が異な
る複数の正弦波を合成して得た擬似白色雑音信号の波形
データが予め記憶されており、この合成波形メモリ２４
の波形データをＤ／Ａ変換器２５によってアナログ信号
に変換して被測定回路１へ入力し、被測定回路１から出
力される信号のスペクトラムをスペクトラム解析器３０
に入力する。このとき、分周比可変手段２６によって擬
似白色雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間隔はスペ
クトラム解析器３０の解析帯域幅以上に設定され、且つ
各正弦波の周波数はスペクトラム解析器３０の各解析周
波数に一致させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、回路の周波数特性
を効率的に且つ正確に測定するための技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】フィルタや増幅器等の回路の周波数特性
を測定するため、従来では、図１３に示すように、信号
発生器１１から振幅一定の正弦波信号を被測定回路１に
入力し、被測定回路１の出力信号のレベルをレベル検出
器１２で検出できるように構成し、信号発生器１１から
出力される信号の周波数を所定の測定範囲内で掃引し
て、被測定回路１の出力信号のレベルを各周波数毎に求
めるようにしている。

【０００３】ところが、このような測定システムで被測
定回路１の周波数特性を高い周波数分解能で測定するた
めには、信号発生器１１の周波数可変速度を遅くする必
要があり、このために、測定範囲内を可変するのに長い
時間がかかってしまうという問題がある。

【０００４】これを解決するために、図１４に示すよう
に、所定の周波数範囲にわたってスペクトラムが一様に
分布する幅の狭いパルス信号をパルス発生装置１５から
被測定回路１に入力し、被測定回路１の出力信号を例え
ばＦＦＴ演算器を用いたスペクトラム解析装置１６に入
力して、そのスペクトラムを一括に検出する方法も考え
られる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにパルス発生装置１５から出力されるパルス信号を被
測定回路１へ入力する場合には、被測定回路１およびス
ペクトラム解析装置１６自体のダイナミックレンジの制
限を受けて波高値の大きいパルス信号を用いることがで
きず、スペクトラムを十分なＳＮ比で解析できなくなっ
てしまう。

【０００６】また、図１５の（ａ）に示すように、パル
ス発生装置１５が出力するパルスのスペクトラムは測定
周波数範囲内で一様であるのに対して、スペクトラム解
析装置１６は図１５の（ｂ）のように有限の帯域幅をも
っているため、測定結果はそれぞれ帯域幅内の平均的な
値となり、各解析周波数ｆ_r1、ｆ_r2、…における被測定
回路１の周波数特性を正確に求めることができないとい
う問題も生じる。

【０００７】本発明は、この課題を解決し、短時間に且
つ正確に被測定回路の周波数特性を測定できる周波数特
性測定方法および装置を提供することを目的としてい
る。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の周波数特性測定方法は、周波数が異なる複
数の正弦波を合成して得た擬似雑音信号を被測定回路へ
入力し、該被測定回路から出力される信号のスペクトラ
ムを所定の解析帯域幅で所定の解析周波数毎に離散的に
且つ同時に検出して、前記正弦波の周波数における前記
被測定回路の周波数特性を測定する周波数特性測定方法
であって、擬似雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間
隔を前記所定の解析帯域幅以上にし、且つ前記各正弦波
の周波数を前記各解析周波数に一致させて測定すること
を特徴としている。

【０００９】また、本発明の周波数特性測定装置は、周
波数が異なる複数の正弦波を合成して得た擬似白色雑音
信号を被測定回路へ入力する擬似雑音発生手段（２１）
と、前記被測定回路からの出力信号を受けて、該出力信
号に含まれる各スペクトラムを複数の解析周波数および
所定の解析帯域幅で離散的に且つ同時に検出するスペク
トラム解析手段（３０）とを備えるとともに、前記擬似
雑音発生手段およびスペクトラム解析手段は、前記擬似
雑音発生手段の擬似白色雑音信号に含まれる正弦波の各
周波数と前記スペクトラム解析手段の解析周波数とを同
一に設定し、且つ前記正弦波の各周波数の間隔を前記ス
ペクトラム解析手段の解析帯域幅以上の間隔にするため
の手段を有し、前記被測定回路の出力信号から前記各周
波数の単一正弦波を瞬時的に選択検出して、前記各周波
数における周波数特性を測定することを特徴としてい
る。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の一
実施形態を説明する。図１は、一実施形態の周波数特性
測定装置２０の構成を示している。この周波数特性測定
装置２０は、低周波用の回路の周波数特性を測定するた
めのものである。

【００１１】図１において、この周波数特性測定装置２
０の擬似雑音発生器２１は、所定周波数ｆｃのクロック
信号をＮ分周する分周器２２と、分周器２２から出力さ
れる分周信号を計数するアドレスカウンタ２３と、アド
レスカウンタ２３の計数出力に対応したアドレスに記憶
されている波形データを出力する合成波形メモリ２４
と、合成波形メモリ２４から出力される波形データをア
ナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器２５とによって構成
されている。

【００１２】合成波形メモリ２４には、次式（１）で表
される波形のデータがアドレス順に予め記憶されてい
る。Ｐ（ｔ）＝ΣＡ cos（２π・ｉ・ｆ・ｔ＋φ_i） ……（１）（ただし記号Σはｉ＝１からｉ＝Ｍまでの総和をとるも
のとする）

【００１３】この式（１）で表される信号Ｐ（ｔ）は、
その下限周波数および周波数間隔がｆで振幅Ａが等しい
複数Ｍ（例えばＭ＝１０２３）の正弦波を合成したもの
であり、図２に示す線スペクトラムを有している擬似白
色雑音信号となる。

【００１４】前記各正弦波の周期は、下限周波数ｆの正
弦波の周期Ｔ（＝１／ｆ）の整数分の１であるから、こ
の信号Ｐ（ｔ）も下限周波数ｆの正弦波と同様に周期Ｔ
の周期関数となる。

【００１５】合成波形メモリ２４には、この信号Ｐ
（ｔ）のＴ時間分のデータが例えば図３に示すように、
０〜ｎ−１（例えばｎ＝８１９２）のアドレス範囲に順
番に記憶されており、この波形データをＴ／ｎ時間毎に
順番に且つ循環的に読み出せば、前記した図２のスペク
トラムを有する擬似白色雑音信号が発生することにな
る。

【００１６】なお、各正弦波の位相初期値φ_iは、Ｐ
（ｔ）の絶対値の最大値が最小となるように予め設定さ
れている。

【００１７】Ｄ／Ａ変換器２５から出力される擬似白色
雑音信号は、測定装置２０の出力端子２０ａを介して被
測定回路１に入力される。

【００１８】分周比可変手段２６は、正弦波の各周波数
を解析周波数に一致させるためのものであり、後述する
測定条件設定手段２７によって設定された測定分解能情
報に対応した分周比Ｎを分周器２２に設定する。

【００１９】測定条件設定手段２７は、設定操作部２８
の操作によって入力された測定分解能情報を分周比可変
手段２６およびスペクトラム解析器３０に設定する。

【００２０】スペクトラム解析器３０は、被測定回路１
から出力された信号を入力端子２０ｂを介して受けて、
その信号のスペクトラムを測定条件設定手段２７によっ
て設定された測定分解能情報に対応する周波数分解能で
離散的に且つ同時に検出解析する。

【００２１】このスペクトラム解析器３０は、例えば図
４に示すように、入力信号をＡ／Ｄ変換器３１によって
ディジタル信号に変換してから、離散的なＦＦＴ（高速
フーリエ変換）演算器３２によって測定分解能情報に対
応した各解析周波数毎のベクトル成分を求め、このベク
トル成分をベクトルスカラー変換器３３によってスカラ
ーに変換して各解析周波数毎のスペクトラムを求める。

【００２２】ＦＦＴ演算の周波数間隔はサンプリング周
波数を標本数で除算したΔｆになることが知られている
が、有限長の測定信号に対するＦＦＴ演算の応答関数に
は、図５の（ａ）に示すようにメインローブＭａの両側
に複数のサイドローブＳｄが発生する。このため、この
実施形態では、Ａ／Ｄ変換器３１とＦＦＴ演算器３２の
間に挿入した窓関数回路３４によって、サイドローブＳ
ｄの発生を図５の（ｂ）に示すように抑えている。な
お、この窓関数処理によってメインローブＭａの幅が広
がるが、この幅は一般的にはＦＦＴ演算の周波数間隔Δ
ｆの数倍程度となる。したがって、スペクトラム解析器
３０全体としての下限解析周波数および解析帯域幅は、
ＦＦＴ演算器３２の周波数間隔Δｆの数倍（例えば４
倍）となり、ＦＦＴ演算器３２の周波数間隔Δｆが例え
ば５Ｈｚであれば、スペクトラム解析器３０全体として
の下限解析周波数および解析帯域幅は２０Ｈｚ程度とな
る。

【００２３】また、このＦＦＴ演算器３２のサンプリン
グ周波数および標本数が一定で、その周波数間隔Δｆが
５Ｈｚで固定されているとすれば、スペクトラム解析器
３０下限解析周波数および解析周波数間隔は、ｍを０，
１，２，…とすると（２０＋５・ｍ）Ｈｚとなり、測定
条件設定手段２７からは（２０＋５・ｍ）で表される測
定分解能情報を設定する。ＦＦＴ演算器３２は、５Ｈｚ
ステップで算出したスペクトラムのうち（２０＋５・
ｍ）Ｈｚのスペクトラムのみを間引いて出力する。

【００２４】スペクトラム解析器３０によって検出され
た各解析周波数毎のスペクトラムは、解析データメモリ
３５に記憶される。

【００２５】表示制御手段３６は、この解析データメモ
リ３５に記憶された各解析周波数毎のスペクトラムを表
示器３７に表示する。

【００２６】次にこの周波数特性測定装置２０の動作を
説明する。例えば、設定操作部２８の操作によって、測
定分解能ｆ_a（その周期をＴ_aとする）が２０Ｈｚに設
定されると、分周比可変手段２６は、分周器２２からア
ドレスカウンタ２３に出力される分周信号の周期がＴ_a
／ｎ即ち、１／（２０×８１９２）となるように分周器
の分周比Ｎを設定する。この分周比の設定によって、ア
ドレスカウンタ２３の出力値はＴ_a／ｎ時間毎に１ずつ
変化することになるので、Ｄ／Ａ変換器２５からは、図
６の（ａ）に示すように、振幅Ａが一定で、下限周波数
が２０Ｈｚで２０Ｈｚ間隔の１０２３本の線スペクトラ
ムを有する擬似白色雑音信号Ｐ（ｔ）が出力されること
になる。

【００２７】一方、スペクトラム解析器３０は、測定条
件設定手段２７からの２０Ｈｚ（ｍ＝０の場合）の測定
分解能情報を受けて、図６の（ｂ）に示すように、解析
帯域幅が２０Ｈｚで、解析周波数が２０Ｈｚ、４０Ｈ
ｚ、６０Ｈｚ、…というように２０Ｈｚの整数倍となる
ように設定される。

【００２８】また、例えば、測定分解能ｆ_aが３０Ｈｚ
に設定されると、分周比設定手段２６は、分周器２２か
らアドレスカウンタ２３に出力される分周信号の周期が
１／（３０×８１９２）となるように分周器２２の分周
比Ｎを設定して、被測定回路１に対して図７の（ａ）に
示すように下限周波数が３０Ｈｚで周波数間隔が３０Ｈ
ｚの１０２３本の線スペクトラムを有する擬似白色雑音
信号を出力させ、スペクトラム解析器３０は、測定条件
設定手段２７からの３０Ｈｚ（ｍ＝２の場合）の測定分
解能情報を受けて図７の（ｂ）に示すように、解析帯域
幅２０Ｈｚで解析周波数が３０Ｈｚ、６０Ｈｚ、９０Ｈ
ｚ、…というように３０Ｈｚの整数倍となるように設定
される。

【００２９】このように、擬似白色雑音信号に含まれる
正弦波の各周波数ｆ_sと、スペクトラム解析器３０の解
析周波数ｆ_rとは常に一致し、しかも、擬似白色雑音信
号に含まれるスペクトラムの周波数間隔は、スペクトラ
ム解析器３０の解析帯域幅以上に設定されているので、
スペクトラム解析器３０は、図６の（ｃ）および図７の
（ｃ）に示すように、被測定回路１の周波数特性Ｆａ、
Ｆｂに正確に対応したスペクトラムＳ₁〜Ｓ₁₀₂₃を瞬時
に検出する。

【００３０】また、予め擬似雑音発生器２１から出力さ
れる擬似白色雑音信号は、複数の正弦波を予め合成して
得たものであって、前記したように、その合成信号の絶
対値のの最大値が最小となるように合成しておくことが
できるから、被測定回路１のダイナミックレンジが低い
場合でも、被測定回路を飽和状態にすることなくレベル
の高い応答信号を得ることができ、周波数特性の減衰領
域を十分高いＳ／Ｎで解析することができる。

【００３１】このようにしてスペクトラム解析器３０に
よって検出された各解析周波数毎のスペクトラムＳ₁〜
Ｓ₁₀₂₃は解析データメモリ３５に記憶され、表示制御手
段３６がこの解析データメモリ３５に記憶されたスペク
トラムに基づいて被測定回路１の周波数特性を例えば図
８に示すように表示器３７の画面上に表示させる。

【００３２】なお、この実施形態のスペクトラム解析器
３０では、窓関数回路３４によってＦＦＴ演算器３２の
応答関数のサイドローブを抑えていたが、図５の（ａ）
に示したようにＦＦＴ演算によって生じるサイドローブ
Ｓｄは、所定の周波数Δｆ間隔で０となるので、擬似雑
音発生器２１から出力される擬似白色雑音信号に含まれ
る正弦波の周波数を、サイドローブＳｄが０となる点に
一致させるようにすれば、このサイドローブの影響を無
くすことができ、窓関数回路３４を省略することも可能
である。

【００３３】また、前記説明では、スペクトラム解析器
３０に、周波数分解能が一定のＦＦＴ演算器３２を用い
ていたが、前記したようにＦＦＴ演算の周波数分解能は
サンプリング周波数と標本数とで決定されるから、その
一方または両方を測定分解能情報に応じて可変すること
により、ＦＦＴ演算器３２の周波数分解能を可変するこ
とができ、測定分解能情報として例えば２３Ｈｚや３
１．５Ｈｚ等のように、自由度の高い設定が可能とな
る。

【００３４】また、前記説明では、スペクトラム解析器
３０の各解析周波数に対して擬似白色雑音信号に含まれ
る正弦波の各周波数を１対１で一致させていたが、図９
の（ａ）に示すスペクトラム解析器３０の各解析周波数
ｆ_rに対して、擬似白色雑音信号の各正弦波の周波数ｆ
_sが図９の（ｂ）に示すように整数倍となるようにした
り、あるいは図９の（ｃ）に示すように整数分の１とな
るようにしてもよい。ただし図９の（ｃ）に示したよう
に整数分の１にする場合でも、正弦波の周波数間隔をス
ペクトラム解析器３０の解析帯域幅以上にする。

【００３５】また、前記実施形態では、周波数間隔が一
定で振幅が等しい擬似白色雑音を用いたが、これは本発
明を限定するものでなく、例えば次式（２）で表される
一般的な擬似雑音信号を用いることも可能である。ｆ（ｔ）＝ΣＡ_i cos（２πｆ_iｔ＋φ_i） ……（２）（ただし記号Σはｉ＝１からｉ＝ｎまでの総和をとるも
のとする）

【００３６】そして、この式（２）の正弦波の周波数ｆ
_iがスペクトラム解析器のいずれかの解析周波数に一致
し、周波数ｆ_iの間隔はスペクトラム解析器の解析帯域
幅以上であれば必ずしも一定間隔でなくてもよく、また
最低周波数が周波数間隔に等しくなくてもよい。また、
各正弦波の振幅Ａ_iが既知であれば、スペクトラム解析
器の出力をそれぞれ振幅Ａ_iで除算することにより周波
数特性を算出することができるので、必ずしも各正弦波
の振幅を等しくする必要はない。したがって、例えば被
測定回路の周波数特性が大きく減衰している周波数領域
の正弦波の振幅を大きく設定することによって、スペク
トラム解析における信号対雑音比を改善することが可能
になる。なお、正弦波の各初期位相値φ_iは、前記実施
形態と同様に、ｆ（ｔ）の絶対値の最大値が小さくなる
ように予め設定する。

【００３７】また、ｆ_i＝ｋ_iｆ_s（ｋ_iは整数）とす
ると、前式（２）は、ｆ（ｔ）＝ΣＡ_i cos（２πｋ_iｆ_sｔ＋φ_i） ……（３）（ただし記号Σはｉ＝１からｉ＝ｎまでの総和をとるも
のとする）となる。このｆ（ｔ）は任意の時刻ｔにおい
て、ｆ（ｔ）＝ｆ（ｔ＋１／ｆ_s）となる。つまり、ｆ
（ｔ）は周期Ｔ＝１／ｆ_sの周期関数となるため、合成
波形メモリを備えた前記実施形態の擬似雑音発生器で実
現可能となる。この場合においても、最低周波数は周波
数間隔に等しい必要はなく、例えばｆ_s＝２０Ｈｚ、ｋ
₁＝２、ｋ₂＝３、ｋ₃＝４、…とすれば、４０Ｈｚ、
６０Ｈｚ、８０Ｈｚ、…の線スペクトラムが得られる。
また、必ずしも全て周波数間隔ｆ_sで設定する必要はな
く、必要でない周波数は省略することができる。このよ
うに、不必要な周波数を省略することにより、ｆ（ｔ）
の絶対値の最大値をより小さくすることができるので、
被測定回路を飽和させることなく、レベルを大きくする
ことができ、スペクトラム解析の信号対雑音比をより一
層改善することができる。

【００３８】なお、前記式（２）の特別な場合としてＡ
_i＝Ａ、ｆ_i＝ｉｆ_sとすると、ｆ（ｔ）＝ΣＡ cos（２πｉｆ_sｔ＋φ_i）（ただし記号Σはｉ＝１からｉ＝ｎまでの総和をとるも
のとする）となり、前記実施形態で述べたｆ_s〜ｎｆ_s
の周波数範囲でｆ_s間隔の線スペクトラムをもった周期
Ｔ＝１／ｆ_sの擬似白色雑音信号となる。

【００３９】

【他の実施形態】前記実施形態のスペクトラム解析器で
はＦＦＴ演算器を用いていたが、これは本発明を限定す
るものでなく、例えば図１０に示すスペクトラム解析器
４０のように、被測定回路１からの信号を狭帯域な解析
用のフィルタ４１₁〜４１_Mに入力し、各フィルタの出
力信号のレベルをレベル検出器４２₁〜４２_Mによって
それぞれ検出するように構成するとともに、解析周波数
設定部４３によって、測定分解能情報に対応したフィル
タを選択したり、あるいは、測定分解能情報に応じて各
フィルタの通過中心周波数を可変制御する。なお、フィ
ルタ４１₁〜４１_Mは、アナログ式のものだけでなく、
ディジタルフィルタやディジタルシグナルプロセッサ等
で構成してもよい。

【００４０】また、前記実施形態では、被測定回路１か
ら出力される信号のスペクトラムを直接解析していた
が、例えば音声信号等の低周波信号で高周波信号を変調
して出力する送信機を被測定回路として測定する場合に
は、図１１に示す周波数特性測定装置５０のように、ス
ペクトラム解析器３０の前段に復調器５１を設け、この
復調器５１の復調出力のスペクトラムを解析するように
してもよい。

【００４１】また、前記実施形態では、擬似白色雑音信
号を直接被測定回路１に入力していたが、例えば変調信
号を復調して音声信号等の低周波信号を出力する受信機
を被測定回路として測定する場合には、Ｄ／Ａ変換器２
５の後段に変調器を設ける構成にして、Ｄ／Ａ変換器２
５から出力される擬似白色雑音信号（または擬似雑音信
号）によって搬送波を変調した信号を、被測定回路とし
ての受信機へ入力するようにしてもよい。また、変調器
を設けずに、複数の正弦波を合成した擬似白色雑音信号
（または擬似雑音信号）によって搬送波を変調して得ら
れる変調信号のデータを直接合成波形メモリ２４に記憶
しておくようにしてもよい。

【００４２】また、前記実施形態の擬似雑音発生器２１
は、予め合成された波形のデータを成波形データメモリ
２４から順次読み出してＤ／Ａ変換することによって擬
似白色雑音信号を出力するように構成されていたが、複
数の波形メモリに、それぞれ正弦波のデータ（前記した
ようにその振幅は一定でも異なっていてもよい）を１周
期分、２周期分、…、Ｍ周期分記憶しておき、各波形メ
モリの波形データを共通のアドレスカウンタの出力によ
って読み出して、加算器で加算し、Ｄ／Ａ変換するよう
に構成したり、あるいは、複数の波形メモリに正弦波の
データを１周期分記憶しておき、各波形メモリ毎に設け
たアドレスカウンタに対して、所定周波数の１倍、２
倍、３倍、…、Ｍ倍の周波数のクロック信号をそれぞれ
与えて、各波形メモリから読み出したデータを加算器で
加算し、その加算結果をＤ／Ａ変換してもよい。

【００４３】また、図１２に示す擬似雑音発生器７０の
ように、周波数の異なるアナログの正弦波信号（前記し
たようにその振幅は一定でも異なっていてもよく、また
周波数も解析周波数に一致していればよい）を各信号発
生器７１₁〜７１_Mから出力してこれをアナログ加算器
７２によって加算合成しその合成出力を擬似白色雑音信
号（または擬似雑音信号）として被測定回路１へ入力し
てもよい。なお、この場合、各信号発生器７１₁〜７１
_MをＰＬＬ回路等によって形成し、測定分解能情報を受
けた周波数可変手段７３によって、信号発生器７１₁〜
７１_Mから出力される正弦波信号の周波数を可変制御す
るようにしてもよい。この場合でも、信号発生器７１₁
〜７１_Mから出力される正弦波信号の位相を、その合成
信号の絶対値の最大値が最小となるように設定すれば、
被測定回路１を飽和することなく、信号対雑音比の高い
測定が可能となる。

【００４４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の周波数特
性測定方法および装置では、周波数が異なる複数の正弦
波を合成して得た擬似雑音信号を被測定回路へ入力し、
被測定回路から出力される信号のスペクトラムを所定の
解析帯域幅で所定の解析周波数毎に離散的に且つ同時に
検出して被測定回路の周波数特性を測定する際に、擬似
雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間隔を前記所定の
解析帯域幅以上にし、且つ前記各正弦波の周波数を前記
各解析周波数に一致させて測定しているので、被測定回
路の周波数特性を短時間に且つ正確に測定することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図

【図２】一実施形態の要部の出力信号のスペクトラムを
示す図

【図３】一実施形態のメモリに記憶されているデータを
示す図

【図４】一実施形態の要部の構成を示すブロック図

【図５】一実施形態の要部の応答関数を示す図

【図６】一実施形態の動作を説明するための図

【図７】一実施形態の動作を説明するための図

【図８】一実施形態の測定結果の一例を示す図

【図９】一実施形態の動作を説明するための図

【図１０】本発明の他の実施形態の要部の構成を示すブ
ロック図

【図１１】本発明の他の実施形態の構成を示すブロック
図

【図１２】本発明の他の実施形態の要部の構成を示すブ
ロック図

【図１３】従来の測定システムの構成を示す図

【図１４】パルス信号を用いた測定システムの構成を示
す図

【図１５】図１４に示したシステムの動作を説明するた
めの図

【符号の説明】

１被測定回路２０周波数特性測定装置２１擬似雑音発生器２２分周器２３アドレスカウンタ２４合成波形メモリ２５Ｄ／Ａ変換器２６分周比可変手段２７測定条件設定手段３０スペクトラム解析器３１Ａ／Ｄ変換器３２ＦＦＴ演算器３３ベクトルスカラー変換器３４窓関数回路３５解析データメモリ３６表示制御手段３７表示器

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【手続補正書】

【提出日】平成９年２月２５日

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【図２】

【図８】

【図３】

【図４】

【図５】

【図６】

【図７】

【図９】

【図１０】

【図１１】

【図１２】

【図１３】

【図１４】

【図１５】

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】周波数が異なる複数の正弦波を合成して得
た擬似雑音信号を被測定回路へ入力し、該被測定回路か
ら出力される信号のスペクトラムを所定の解析帯域幅で
所定の解析周波数毎に離散的に且つ同時に検出して、前
記正弦波の周波数における前記被測定回路の周波数特性
を測定する周波数特性測定方法であって、擬似雑音信号に含まれる各正弦波の周波数間隔を前記所
定の解析帯域幅以上にし、且つ前記各正弦波の周波数を
前記各解析周波数に一致させて測定することを特徴とす
る周波数特性測定方法。
【請求項２】周波数が異なり振幅の等しい複数の正弦波
を合成して得た擬似白色雑音信号を前記擬似雑音信号と
して被測定回路へ入力することを特徴とする請求項１記
載の周波数特性測定方法。
【請求項３】周波数が異なる複数の正弦波を合成して得
た擬似白色雑音信号を被測定回路へ入力する擬似雑音発
生手段（２１）と、前記被測定回路からの出力信号を受けて、該出力信号に
含まれる各スペクトラムを複数の解析周波数および所定
の解析帯域幅で離散的に且つ同時に検出するスペクトラ
ム解析手段（３０）とを備えるとともに、前記擬似雑音発生手段およびスペクトラム解析手段は、
前記擬似雑音発生手段の擬似白色雑音信号に含まれる正
弦波の各周波数と前記スペクトラム解析手段の解析周波
数とを同一に設定し、且つ前記正弦波の各周波数の間隔
を前記スペクトラム解析手段の解析帯域幅以上の間隔に
するための手段を有し、前記被測定回路の出力信号から前記各周波数の単一正弦
波を瞬時的に選択検出して、前記各周波数における周波
数特性を測定することを特徴とする周波数特性測定装
置。
【請求項４】前記擬似雑音発生手段は、各周波数が所定
間隔にあり且つ振幅が同一の複数の正弦波を合成して擬
似白色雑音信号を出力することを特徴とする請求項３記
載の周波数特性測定装置。
【請求項５】少なくとも前記各周波数の間隔の値を前記
擬似雑音発生手段および前記スペクトラム解析手段に送
出する制御手段を備え、前記擬似雑音発生手段が出力す
る擬似白色雑音信号に含まれる正弦波の周波数および周
波数間隔を制御するとともに、前記スペクトラム解析手
段の解析周波数および解析帯域幅を制御するようにした
請求項３記載の周波数特性測定装置。