JP2010010657A - 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 - Google Patents
化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010010657A JP2010010657A JP2009060868A JP2009060868A JP2010010657A JP 2010010657 A JP2010010657 A JP 2010010657A JP 2009060868 A JP2009060868 A JP 2009060868A JP 2009060868 A JP2009060868 A JP 2009060868A JP 2010010657 A JP2010010657 A JP 2010010657A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- substrate
- compound semiconductor
- columnar crystal
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/819—Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02367—Substrates
- H01L21/0237—Materials
- H01L21/02373—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/02381—Silicon, silicon germanium, germanium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02436—Intermediate layers between substrates and deposited layers
- H01L21/02439—Materials
- H01L21/02455—Group 13/15 materials
- H01L21/02458—Nitrides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02538—Group 13/15 materials
- H01L21/0254—Nitrides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/0257—Doping during depositing
- H01L21/02573—Conductivity type
- H01L21/02576—N-type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/0257—Doping during depositing
- H01L21/02573—Conductivity type
- H01L21/02579—P-type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02587—Structure
- H01L21/0259—Microstructure
- H01L21/02603—Nanowires
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/0262—Reduction or decomposition of gaseous compounds, e.g. CVD
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02636—Selective deposition, e.g. simultaneous growth of mono- and non-monocrystalline semiconductor materials
- H01L21/02639—Preparation of substrate for selective deposition
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02612—Formation types
- H01L21/02617—Deposition types
- H01L21/02636—Selective deposition, e.g. simultaneous growth of mono- and non-monocrystalline semiconductor materials
- H01L21/02647—Lateral overgrowth
- H01L21/0265—Pendeoepitaxy
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/813—Bodies having a plurality of light-emitting regions, e.g. multi-junction LEDs or light-emitting devices having photoluminescent regions within the bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/817—Bodies characterised by the crystal structures or orientations, e.g. polycrystalline, amorphous or porous
- H10H20/818—Bodies characterised by the crystal structures or orientations, e.g. polycrystalline, amorphous or porous within the light-emitting regions
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】Si基板4の一部領域にトレンチ11を形成し、そのトレンチ11内にさらにナノコラム2の化合物種結晶膜であるAlN層12を形成した後にナノコラム2を成長させることで、前記AlN層12の有る領域は、それが無い壁13上の領域に比べて、成長が速く、所定の時間成長させると、前記トレンチ11と壁13との段差を吸収して、p型層14の表面が略同じ高さとなる。これによって、同一基板でかつ単一の成長工程で簡単に、したがって低コストに、白色光などの所望の色味を実現できる。また、蛍光体を用いずに所望の色味を実現できるので、高い信頼性および長寿命化を図ることができるとともに、トレンチ11の面積を任意に調整し、色味を細かく高精度に調整できる。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る化合物半導体発光素子である発光ダイオード1の構造を模式的に示す断面図である。本実施の形態では、ナノコラム2の材料としてGaNを例にとるが、これに限定されるものではなく、酸化物、窒化物、酸窒化物などを含む化合物半導体総てを対象とすることができる。また、ナノコラム2の成長は、分子線エピタキシー(MBE)装置によって行うことを前提としているが、有機金属気相成長(MOCVD)装置やハイドライド気相成長(HVPE)装置等を用いても、ナノコラム2が作成可能であることは公知である。以下、特に断らない限り、MBE装置を用いるものとする。
図4は本発明の第2の実施形態に係る化合物半導体発光素子である発光ダイオード21の構造を模式的に示す断面図である。図5はその発光ダイオード21の底面図である。この発光ダイオード21は、前述の発光ダイオード1に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、下記の点である。すなわち、本実施の形態では、各トレンチ11の底部の外周部分の下部、すなわち第1領域Aと第2領域Bとの境界部分に絶縁領域22を有するとともに、前記トレンチ11が(図4の奥行き方向に)帯状に延びて連続して形成されている。そして、それらに対応して、図5に示すように各トレンチ11の領域(各第1領域A)を連続させるように接続する櫛形のn型電極24(第1領域用電極)と、各壁13の領域(各第2領域B)を連続させるように接続する櫛型のn型電極23(第2領域用電極)とが形成されて、n型電極23,24に、個別の電圧および電流が印加されるようになっている。
図7は、本発明の第3の実施形態に係る化合物半導体発光素子である発光ダイオード31の製造工程を説明するための図である。この発光ダイオード31は、前述の発光ダイオード1に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、前述の発光ダイオード1,21では、トレンチ11内には、下地層として、化合物種結晶膜となるAlN層12を形成したけれども、この発光ダイオード31では、ナノコラム2の成長にあたって、前記のGa,N,In,Alなどの化合物半導体材料や、Mg,Siなどの添加物材料を溶解して取込み、かつ自身とは合成物を作らないカタリスト(触媒)材料膜であるNi薄膜32を下地層として形成することである。
図8は、本発明の第4の実施形態に係る化合物半導体発光素子である発光ダイオード41の製造工程を説明するための図である。この発光ダイオード41は、前述の発光ダイオード31に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、前述の発光ダイオード31では、カタリスト材料膜であるNi薄膜32がトレンチ11内のみに設けられていたのに対して、この発光ダイオード41では、壁13上にもNi薄膜43が設けられ、その厚さが、トレンチ11内のNi薄膜42よりも厚く形成されることである。
図9は、本発明の第5の実施形態に係る化合物半導体発光素子である発光ダイオード51の製造工程を説明するための図である。この発光ダイオード51は、前述の発光ダイオード1に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して示し、その説明を省略する。注目すべきは、この発光ダイオード51では、特定のナノコラム2aのアスペクト比を、後処理によって変更することである。この図9に示す例では、酸素雰囲気中で、その特定のナノコラム2aに、図9(a)で示すように、レーザ源52からレーザ光53を照射している。なお、前記アスペクト比を変更する処理としては、他にも酸化や硫化による不活性化等の後処理によっても同等の効果を得ることができる。
2,2a ナノコラム
2b 酸化膜
3 n型電極
4 Si基板
5 n型半導体層
6 発光層
7 p型半導体層
8 透明電極
9 p型電極
11 トレンチ
12 AlN層
13 壁
14 p型層
22 絶縁領域
23,24 n型電極
25 Si酸化膜
26 開口
32,42,43 Ni薄膜
34 GaN基板
52 レーザ源
53 レーザ光
A 第1領域
B 第2領域
Claims (15)
- 基板と、
前記基板の一方の面に設けられた第1電極と、
前記基板における他方の面上にn型半導体層と発光層とp型半導体層とが順に積層されたナノスケールの複数の柱状結晶構造体と、
前記複数の柱状結晶構造体の頂部に接続された第2電極と、
前記基板の一部の領域である第1領域における前記他方の面側に設けられ、前記柱状結晶構造体の成長を制御する下地層とを備え、
前記基板における前記第1領域を除く残余の領域の少なくとも一部である第2領域と当該第1領域とには、前記他方の面において段差が設けられていること
を特徴とする化合物半導体発光素子。 - 前記第2領域の前記他方の面には、前記第1領域の下地層とは条件の異なる下地層が形成されていること
を特徴とする請求項1記載の化合物半導体発光素子。 - 前記第1領域の下地層と前記第2領域の下地層とは、
層の厚さ、及び材料のうち少なくとも一つが互いに異なる条件にされていること
を特徴とする請求項2記載の化合物半導体発光素子。 - 前記下地層は、複数の島に分離されて形成され、
前記第1領域の下地層を構成する島の大きさと、前記第2領域の下地層を構成する島の大きさとが互いに異なる条件にされていること
を特徴とする請求項2又は3記載の化合物半導体発光素子。 - 前記第1及び第2領域において設けられた柱状結晶構造体が放射する光のスペクトルの最大強度を示す波長は、CIE色度図における白色領域と交差する直線の両端に位置する色の波長となるように、前記第1及び第2領域において設けられた各柱状結晶構造体の長さと太さとの比がそれぞれ設定されていること
を特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記基板には、前記第1及び第2領域を除く残余の領域の少なくとも一部であり、前記基板の前記他方の面において、前記第1及び第2領域と段差を有する第3領域が設けられ、
前記第3領域における前記他方の面には、前記柱状結晶構造体の成長を制御する下地層が設けられ、
前記第1、第2、及び第3領域において設けられた各柱状結晶構造体が放射する光のスペクトルの最大強度を示す波長は、CIE色度図における白色領域を包囲する三角形の頂点に位置する色の波長となるように、前記第1、第2、及び第3領域における各柱状結晶構造体の長さと太さとの比がそれぞれ設定されていること
を特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記下地層は、化合物種結晶膜であること
を特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記下地層は、カタリスト材料膜であること
を特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記第1領域は、複数、互いに間隔を空けて帯状に設けられ、
前記間隔となる領域が、前記第2領域として用いられ、
前記第1電極は、
前記複数の第1領域に一括して電圧を供給するための第1領域用電極と、
当該第1領域用電極とは分離され、前記第2領域に電圧を供給するための第2領域用電極とを含むこと
を特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記第1領域用電極は、
前記基板の前記一方の面に櫛形に形成され、当該櫛形における櫛の歯が前記帯状の第1領域に沿うように配設されて接続され、
前記第2領域用電極は、
前記基板の前記一方の面に櫛形に形成され、前記第1領域用電極と互いに櫛の歯がかみ合うように対向配置されて前記第2領域に接続されていること
を特徴とする請求項9記載の化合物半導体発光素子。 - 前記第1領域と前記第2領域との境界部に、絶縁領域を有すること
を特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子。 - 前記請求項1〜11のいずれか1項に記載の化合物半導体発光素子を用いること
を特徴とする照明装置。 - 基板の一方の面に第1電極を設ける工程と、
前記基板の一部の領域である第1領域における他方の面側に、凹所を形成することで、前記第1領域を除く残余の領域の少なくとも一部である第2領域と当該第1領域との間に段差を形成する工程と、
前記凹所の底部に柱状結晶構造体の成長を制御する下地層を形成する工程と、
前記凹所の底部、及び前記第2領域における前記他方の面上に、n型半導体層と発光層とp型半導体層とを順に積層してナノスケールの柱状結晶構造体を複数、前記凹所の底部と前記第2領域における前記他方の面上とで略同じ高さになるまで成長させる工程と、
前記複数の柱状結晶構造体の頂部に接続される第2電極を形成する工程と
を含むことを特徴とする化合物半導体発光素子の製造方法。 - 前記凹所を形成した後、該凹所の底部の外周部分が開口されたマスクを形成する工程と、
前記開口部分から前記第1領域にイオン注入することによって絶縁層を形成する工程と、
前記マスクを除去する工程とをさらに含むこと
を特徴とする請求項13記載の化合物半導体発光素子の製造方法。 - 前記複数の柱状結晶構造体の成長後に、後処理によって、選択的に、当該各柱状結晶構造体の有効径を細くする工程をさらに含むこと
を特徴とする請求項13又は14記載の化合物半導体発光素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009060868A JP5227224B2 (ja) | 2008-03-14 | 2009-03-13 | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008065452 | 2008-03-14 | ||
| JP2008065452 | 2008-03-14 | ||
| JP2008137145 | 2008-05-26 | ||
| JP2008137145 | 2008-05-26 | ||
| JP2009060868A JP5227224B2 (ja) | 2008-03-14 | 2009-03-13 | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010010657A true JP2010010657A (ja) | 2010-01-14 |
| JP5227224B2 JP5227224B2 (ja) | 2013-07-03 |
Family
ID=41065312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009060868A Expired - Fee Related JP5227224B2 (ja) | 2008-03-14 | 2009-03-13 | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8263990B2 (ja) |
| EP (1) | EP2254164B1 (ja) |
| JP (1) | JP5227224B2 (ja) |
| KR (1) | KR101396679B1 (ja) |
| CN (1) | CN101971369B (ja) |
| WO (1) | WO2009113651A1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020161622A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP2020161621A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP2022152161A (ja) * | 2021-03-29 | 2022-10-12 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
| JP2022553236A (ja) * | 2019-10-17 | 2022-12-22 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | マグネシウム原子でPドープされたAlNに基づく半導体及びドープされたダイヤモンドの層を含む発光ダイオード |
| US11552216B2 (en) | 2020-03-09 | 2023-01-10 | Seiko Epson Corporation | Light emitting apparatus and projector |
| JP2023041231A (ja) * | 2021-09-13 | 2023-03-24 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101396679B1 (ko) * | 2008-03-14 | 2014-05-16 | 파나소닉 주식회사 | 화합물 반도체 발광 소자 및 이를 이용하는 조명 장치 및 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법 |
| JP5145120B2 (ja) * | 2008-05-26 | 2013-02-13 | パナソニック株式会社 | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 |
| KR101515100B1 (ko) * | 2008-10-21 | 2015-04-24 | 삼성전자주식회사 | 발광 다이오드 및 그 제조 방법 |
| CN102197299B (zh) | 2008-10-29 | 2013-06-19 | 松下电器产业株式会社 | 检测元件、检测装置及氧浓度测试装置 |
| FR2949278B1 (fr) * | 2009-08-18 | 2012-11-02 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication d'un dispositif d'emission de lumiere a base de diodes electroluminescentes |
| KR101244926B1 (ko) * | 2011-04-28 | 2013-03-18 | 피에스아이 주식회사 | 초소형 led 소자 및 그 제조방법 |
| FR2983639B1 (fr) | 2011-12-01 | 2014-07-18 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif optoelectronique comprenant des nanofils de structure coeur/coquille |
| US8937297B2 (en) | 2011-12-02 | 2015-01-20 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Optoelectronic device including nanowires with a core/shell structure |
| US9401453B2 (en) * | 2012-05-24 | 2016-07-26 | The University Of Hong Kong | White nanoLED without requiring color conversion |
| KR101365229B1 (ko) * | 2013-05-28 | 2014-02-19 | 부경대학교 산학협력단 | 백색 led와 그 제조방법 |
| FR3011380B1 (fr) | 2013-09-30 | 2017-01-13 | Aledia | Dispositif optoelectronique a diodes electroluminescentes |
| KR102285786B1 (ko) | 2014-01-20 | 2021-08-04 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 발광 소자 |
| FR3023410A1 (fr) * | 2014-07-02 | 2016-01-08 | Aledia | Dispositif optoelectronique a elements semiconducteurs et son procede de fabrication |
| KR102223036B1 (ko) | 2014-08-18 | 2021-03-05 | 삼성전자주식회사 | 나노구조 반도체 발광소자 |
| KR20160054073A (ko) | 2014-11-05 | 2016-05-16 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이 장치 및 디스플레이 패널 |
| FR3029015B1 (fr) * | 2014-11-24 | 2018-03-02 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Dispositif optoelectronique a elements semiconducteurs tridimensionnels et son procede de fabrication |
| CN104465925B (zh) * | 2014-12-16 | 2017-04-12 | 聚灿光电科技股份有限公司 | 一种led芯片外延层的制作方法及led芯片结构 |
| JP7147132B2 (ja) * | 2017-05-31 | 2022-10-05 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、および発光装置の製造方法 |
| WO2020137470A1 (ja) * | 2018-12-26 | 2020-07-02 | 豊田合成株式会社 | 半導体発光素子 |
| CN111188027B (zh) * | 2020-02-12 | 2021-08-03 | 南京大学 | 一种化学气相沉积设备和成膜方法 |
| US11094846B1 (en) | 2020-08-31 | 2021-08-17 | 4233999 Canada Inc. | Monolithic nanocolumn structures |
| JP7613134B2 (ja) * | 2021-01-28 | 2025-01-15 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター |
| JP7760879B2 (ja) * | 2021-09-29 | 2025-10-28 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター及びディスプレイ |
| CN118922945A (zh) * | 2022-03-21 | 2024-11-08 | 艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司 | 光电子部件和用于产生光电子部件的方法 |
| US11799054B1 (en) | 2023-02-08 | 2023-10-24 | 4233999 Canada Inc. | Monochromatic emitters on coalesced selective area growth nanocolumns |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08330623A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 発光ダイオードアレイおよびその製造方法 |
| JPH09223819A (ja) * | 1995-12-15 | 1997-08-26 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
| JP2002043624A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-02-08 | Lg Electronics Inc | 白色発光ダイオード及びその製造方法 |
| JP2003124453A (ja) * | 2001-10-11 | 2003-04-25 | Japan Fine Ceramics Center | 量子井戸構造を有するSi系半導体デバイスおよびその製造方法 |
| JP2005228936A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Dongguk Univ | 発光ダイオードおよびその製造方法 |
| JP2006506819A (ja) * | 2002-11-20 | 2006-02-23 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 発光半導体素子と発光半導体素子の製造方法 |
| JP2007123398A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光素子の製造方法 |
| JP2008034482A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体素子の製造方法 |
| JP2008034483A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 化合物半導体素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体素子の製造方法 |
| JP2008169060A (ja) * | 2007-01-09 | 2008-07-24 | Sophia School Corp | Iii族窒化物半導体微細柱状結晶の製造方法およびiii族窒化物構造体 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06244457A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Nisshin Steel Co Ltd | 発光ダイオードの製造方法 |
| US20040252737A1 (en) * | 2003-06-16 | 2004-12-16 | Gyu Chul Yi | Zinc oxide based nanorod with quantum well or coaxial quantum structure |
| KR100644166B1 (ko) * | 2004-02-12 | 2006-11-10 | 학교법인 포항공과대학교 | 질화물 반도체의 이종접합 구조체, 이를 포함하는나노소자 또는 이의 어레이 |
| TWI442456B (zh) * | 2004-08-31 | 2014-06-21 | Sophia School Corp | 發光元件 |
| US20060223211A1 (en) * | 2004-12-02 | 2006-10-05 | The Regents Of The University Of California | Semiconductor devices based on coalesced nano-rod arrays |
| US20060134392A1 (en) * | 2004-12-20 | 2006-06-22 | Palo Alto Research Center Incorporated | Systems and methods for electrical contacts to arrays of vertically aligned nanorods |
| WO2007001098A1 (en) * | 2005-06-25 | 2007-01-04 | Seoul Opto Device Co., Ltd. | Nanostructure having a nitride-based quantum well and light emitting diode employing the same |
| WO2007001099A1 (en) * | 2005-06-27 | 2007-01-04 | Seoul Opto Device Co., Ltd. | Light emitting diode of a nanorod array structure having a nitride-based multi quantum well |
| JP4591276B2 (ja) | 2005-08-12 | 2010-12-01 | パナソニック電工株式会社 | 半導体発光素子の製造方法 |
| CN100401544C (zh) * | 2006-06-30 | 2008-07-09 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 氮化镓基圆盘式单色光源列阵 |
| KR100972842B1 (ko) * | 2007-09-11 | 2010-07-28 | 포항공과대학교 산학협력단 | 나노막대를 포함하는 나노디바이스 및 그 제조 방법 |
| KR101396679B1 (ko) * | 2008-03-14 | 2014-05-16 | 파나소닉 주식회사 | 화합물 반도체 발광 소자 및 이를 이용하는 조명 장치 및 화합물 반도체 발광 소자의 제조 방법 |
-
2009
- 2009-03-13 KR KR1020107021457A patent/KR101396679B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-13 EP EP09719384A patent/EP2254164B1/en not_active Not-in-force
- 2009-03-13 CN CN2009801088464A patent/CN101971369B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-13 US US12/920,972 patent/US8263990B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-13 WO PCT/JP2009/054851 patent/WO2009113651A1/ja not_active Ceased
- 2009-03-13 JP JP2009060868A patent/JP5227224B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08330623A (ja) * | 1995-05-29 | 1996-12-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 発光ダイオードアレイおよびその製造方法 |
| JPH09223819A (ja) * | 1995-12-15 | 1997-08-26 | Toshiba Corp | 半導体発光素子及びその製造方法 |
| JP2002043624A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-02-08 | Lg Electronics Inc | 白色発光ダイオード及びその製造方法 |
| JP2003124453A (ja) * | 2001-10-11 | 2003-04-25 | Japan Fine Ceramics Center | 量子井戸構造を有するSi系半導体デバイスおよびその製造方法 |
| JP2006506819A (ja) * | 2002-11-20 | 2006-02-23 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 発光半導体素子と発光半導体素子の製造方法 |
| JP2005228936A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Dongguk Univ | 発光ダイオードおよびその製造方法 |
| JP2007123398A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光素子の製造方法 |
| JP2008034482A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体素子の製造方法 |
| JP2008034483A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 化合物半導体素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体素子の製造方法 |
| JP2008169060A (ja) * | 2007-01-09 | 2008-07-24 | Sophia School Corp | Iii族窒化物半導体微細柱状結晶の製造方法およびiii族窒化物構造体 |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2020161622A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP2020161621A (ja) * | 2019-03-26 | 2020-10-01 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP7232465B2 (ja) | 2019-03-26 | 2023-03-03 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP7232464B2 (ja) | 2019-03-26 | 2023-03-03 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置およびプロジェクター |
| JP2022553236A (ja) * | 2019-10-17 | 2022-12-22 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | マグネシウム原子でPドープされたAlNに基づく半導体及びドープされたダイヤモンドの層を含む発光ダイオード |
| US11552216B2 (en) | 2020-03-09 | 2023-01-10 | Seiko Epson Corporation | Light emitting apparatus and projector |
| JP2022152161A (ja) * | 2021-03-29 | 2022-10-12 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
| US12349514B2 (en) | 2021-03-29 | 2025-07-01 | Seiko Epson Corporation | Light emitting device, projector, and display |
| JP7707605B2 (ja) | 2021-03-29 | 2025-07-15 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
| JP2023041231A (ja) * | 2021-09-13 | 2023-03-24 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
| JP7776817B2 (ja) | 2021-09-13 | 2025-11-27 | セイコーエプソン株式会社 | 発光装置、プロジェクター、およびディスプレイ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR101396679B1 (ko) | 2014-05-16 |
| JP5227224B2 (ja) | 2013-07-03 |
| WO2009113651A1 (ja) | 2009-09-17 |
| US8263990B2 (en) | 2012-09-11 |
| US20110012168A1 (en) | 2011-01-20 |
| EP2254164A1 (en) | 2010-11-24 |
| KR20100118609A (ko) | 2010-11-05 |
| CN101971369A (zh) | 2011-02-09 |
| EP2254164B1 (en) | 2012-05-16 |
| EP2254164A4 (en) | 2011-06-29 |
| CN101971369B (zh) | 2012-05-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5227224B2 (ja) | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 | |
| JP5145120B2 (ja) | 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法 | |
| CN111048641B (zh) | 一种单芯片白光发光二极管及其制备方法 | |
| JP2013512567A (ja) | 注入効率が向上したled | |
| JP2009111339A (ja) | 発光ダイオードパッケージ | |
| JP5306779B2 (ja) | 発光素子及びその製造方法 | |
| JP2016508668A (ja) | モノリシックな白色ダイオードを製造するための方法 | |
| CN108389941A (zh) | 显指可调的无荧光粉单芯片白光led器件及其制备方法 | |
| CA2583504A1 (en) | High efficiency light-emitting diodes | |
| JP3498140B2 (ja) | 半導体発光素子 | |
| JP2009140975A (ja) | 半導体発光装置およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光装置の製造方法 | |
| JP7236078B2 (ja) | 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法 | |
| WO2022249873A1 (ja) | 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法 | |
| KR101581438B1 (ko) | 나노막대를 이용한 백색 발광소자의 제조방법 및 그에 의해 제조된 나노막대를 이용한 백색 발광소자 | |
| CN112786762B (zh) | 发光二极管外延片及其制备方法 | |
| CN108831878B (zh) | 一种薄膜发光二极管的制造方法 | |
| CN115312559A (zh) | 紫外和可见光的混合光源及其制备方法 | |
| CN120456678A (zh) | 一种双波长发光的led外延结构及其制备方法 | |
| CN117673228A (zh) | 一种改善侧壁非辐射复合的led芯片及其制备方法 | |
| CN117894896A (zh) | 一种多色led及其制备方法 | |
| TWI249256B (en) | Light emitting diode structure with multiple light emission layer | |
| JPH0324775A (ja) | ダイヤモンド電子装置 | |
| KR20060075646A (ko) | 발광 소자 및 그의 제조 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110915 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20120111 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121226 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130305 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130315 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160322 Year of fee payment: 3 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |