JP2010003998A - 電子部品のはんだ付け装置およびはんだ付け方法 - Google Patents
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- C22B25/00—Obtaining tin
- C22B25/08—Refining
Abstract
【解決手段】銀2.5重量%、銅0.5重量%、残部錫からなる鉛フリーはんだ合金を貯槽2に入れ溶融させ、溶融鉛フリーはんだ合金液1をノズル4に移送し、多層プリント回路板表面5の銅ランド部およびスルーボール部に溶融鉛フリーはんだ合金液1を噴流吹付けして、その溢流液6を樋7で受け、該溢流液とパルミチン酸5重量%と残部エステル合成からなる液温280℃の溶液8とをそれぞれスタティックミキサー9の上部から内部に送り撹拌混合して、この混合液をパルミチン酸溶液貯槽10に導入し、比重差により該パルミチン酸溶液貯槽底部に堆積した溶融鉛フリーはんだ液11を元の溶融鉛フリーはんだ液貯槽2に戻し循環して連続使用した。
【選択図】図2
Description
このため、錫またははんだ接合に使用する錫またははんだ合金側にも接合強度、とりわけ電子素子、電子部品のリードの接合面積およびピッチの微小化に伴う錫またははんだ微小接合部の高信頼性が要求されている。
また一方では、近年、環境汚染ならびに人体に対する有害性の問題で鉛の使用禁止または規制化が進み、特に電子部品分野においては鉛を含有しない所謂「鉛フリーはんだ合金」がはんだ付け加工に広く使用されており、特に、錫・銀・銅系はんだ合金、及びそれにアンチモンを添加したはんだ合金(特許文献1)、錫・銀・銅系はんだ合金にニッケルまたはゲルマニウムなどを添加したはんだ合金(特許文献2)などが提案され、実用化されている。このほかにも、錫・亜鉛・ニッケル系はんだ合金及び更に銀、銅、ビスマスなどを添加したはんだ合金(特許文献3)など数多くの各種はんだ合金が提案されている。
一般に、プリント回路板、半導体パッケージ、電子素子等の電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に錫またははんだ合金を接合する方法としては、貯槽内で該錫またははんだ合金を融点以上の温度に加熱して融解させ液状にした後、ポンプで給液しノズルやスリットから該錫またははんだ合金液を噴流させてプリント回路板や電子部品などの被錫またははんだ接合物表面の銅ランドまたは銅リードに吹付けて錫またははんだ付し、その溢液を元の貯槽に戻し循環使用するが、はんだ付時に上記銅ランドまたは銅リード部の表面に存在するフラックスと酸化銅皮膜などが該溶融錫または溶融はんだ合金液の溢流液中に不純物として混入し該溶融錫または溶融はんだ合金液中の銅濃度や不純物濃度が経時的にどんどん高くなり、はんだ組成が変化し物理的物性はもとより化学的物性も変化し、特にはんだぬれ性が悪くなり、接合部に必要以上の容量ではんだが盛り上がる所謂「オーバーボリューム」(ツノ、ツララ)やリード間ピッチが狭小の回路では隣接リードにブリッジオーバーしてリークを生じやすい難点があるばかりか、はんだ未着などの外観的現象を生ずる難点もある(特許文献4)。また、接合はんだの物理的機械的特性の1つである伸びが小さくなるために電子回路として半導体装置などに組み込まれた後、通電on−offを繰返すと、ヒートサイクルによりはんだ接合部が疲労破断して導通不良など生じやすく、微小化した電子機器の接続信頼性を損なうことが広く知られている。従って、連続はんだ付け加工後に銅濃度が一定の上限を超えて上記はんだ特性劣化し異常現象(品質不良)が生じると、一般的には劣化したはんだを比較的頻繁に廃棄し、はんだを更新して使用することになるため、資源上からもまた作業性、品質安定性からも、更には経済的にも極めて効率が悪い。
このため、特に、プリント回路板などの連続加工時の銅濃度上昇を抑制し効率化する方法として、連続加工時には貯液槽内の溶融はんだ液が一定の液面まで低下した際に、銅を除いた合金を主成分とする第2のはんだを補給する方法などが提案され実用化されているが、この方法でも銅の増加をある程度抑制できるが経時的に増加する傾向は変わらず、したがって、はんだ接合品質的にも経時的に劣化傾向にあり、第2のはんだを用意し管理する煩雑さもあり、使用寿命が延びるメリットはあるもが、必ずしも充分満足できる方法とはいえない。
(特許文献4)
これにより、連続錫またははんだ付け加工の際に生ずるロット間の経時的接合品質の劣化防止が可能になり、接合品質のばらつきがきわめて小さい、安定した高接合信頼性の製品が得られる。
該有機脂肪酸濃度については1重量%以下ではこの効果が低く、補充管理など煩雑なこと、また80重量%以上では液粘度も著しく高くなり300℃以上の高温領域では発煙と悪臭の問題を生ずること、溶融錫またははんだ合金液との撹拌混合性に問題を生じる。従って、好ましくは5〜60重量%の濃度範囲が良い。
液温は使用する錫またははんだ合金の融点で決まり、少なくとも該融点以上の高温領域で有機脂肪酸溶液と溶融した該錫またははんだ合金液を激しく撹拌接触混合させる必要がある。
また上限温度は発煙の問題や省エネの観点から350℃程度であり、望ましくは使用する錫またははんだ合金の融点以上の温度〜300℃である。また、エステル合成油を混合する理由は液粘度を下げて均一な撹拌混合処理を行い易くすること及び有機脂肪酸の高温発煙性抑制にあり、その濃度は有機脂肪酸濃度で決まる。
撹拌時間は溶融錫または溶融はんだ合金溢流液の投入量および撹拌機の構造および撹拌条件にもよるが、スタティックミキサーを使用すれば1〜50秒間程撹拌混合すれば充分である。その後はこの撹拌混合された液を有機脂肪酸溶液の貯槽に導入すると、比重差で自然に該有機脂肪酸貯槽底部(下層)に清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液が、その上層に該有機脂肪酸のカルボニル基と反応してケン化物の形で取り込まれた該溢流液中に存在する銅酸化物、錫酸化物、あるいはその他の添加金属の酸化物、および微量混入している鉄、鉛、珪素、カリウムなどの酸化不純物を含有する有機脂肪酸溶液が分離する。この状態で該貯槽底部(下層)の清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液は専用ポンプで元の溶融錫または溶融はんだ合金液貯槽に戻し別の専用ポンプでノズルまたはスリットへ給液して噴流し、溢流液をスタティックミキサー等の撹拌器内部に循環させる。同様に、有機脂肪酸溶液もそれ専用のポンプでスタティックミキサー等の撹拌器内部に循環給液する。
従って、底部よりポンプで清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液をはんだ付装置の該溶融錫または溶融はんだ合金液貯槽に戻し、それを別のポンプで錫またははんだ付用ノズルまたはスリットに給液して噴流させ、その溢流液を再びスタティックミキサーなどの撹拌器内部に注入し循環使用することにより、従来の装置では連続錫またははんだ付け加工した場合に生ずるロット間の経時的接合品質の劣化防止が可能になり、接合品質のばらつきが極めて小さく安定した高接合信頼性の錫またははんだ合金接合の長期連続加工が可能になる。
また、電子部品、とりわけスルーホールを多数含む多層プリント回路板のはんだ付け加工では該多層プリント回路板に接合するはんだ量が多いので、連続加工時には貯液槽内の溶融はんだ液面が管理下限レベルにまで低下した際に線棒状または板状のはんだを補給する必要があるが、本発明の場合、単純に初期段階と同一組成のはんだを必要量投入すればよく、従来方法のような連続加工により増加した銅濃度分を調整するために低銅濃度はんだを用意する必要もなく、また著しく銅濃度が上昇してはんだ接合性能が悪化することによる頻繁な廃棄と建浴更新を繰り返す必要もなく、本発明の装置および方法は省資源、省エネルギーの環境的観点からもまた経済的面からも非常に効率的で、工業的に有益である。
更に、はんだぬれ性の経時劣化も殆ど見られず、はんだ接合の際のはんだぬれ性も遥かによく、また溶融時の粘性も低く、微小部のはんだ接合に最適であることが確認された。
即ち、リード面積が0.08mmφ、隣接リード間隔が0.08mmの極狭ピッチのプリント回路においてもオーバーボリューム(ツノ、ツララ)、ブリッジオーバーして隣接リードにリークすることもなく、更にははんだの部分未着もなく、また高低温ヒートサイクルに伴う微小はんだ接合部の疲労破断による電子回路の導通不良もなく、本発明装置および方法で錫またははんだ接合部は長期接続信頼性に非常に優れていることが判った。
更に、物理的機械的評価方法は、連続使用前と上記プリント回路板のはんだ付け加工枚数が通過量で5万枚後と10万枚後に各はんだ液貯槽からサンプリングして、それぞれステンレス(SUS 304)製鋳造金型(JIS 6号)を用い、評点間距離 L=50mm、直径 8mmφ、チャッキング部長さ L=20mm、直径 10mmφの試験片を作成し、JIS Z 4421)の試験方法により島津製作所製引張り試験機(AG100型)を用い、室温25℃において、それぞれ繰返し2(n=2)で、荷重負荷速度 5mm/minで試験測定した。
これに対して、本発明の実施例1および実施例2においては、プリント回路板の連続通過処理量が5万枚後及び10万枚後でも銅濃度上昇は殆どなく、はんだぬれ性は逆に好転し、物理的機械的特性値は伸びが若干大きくなるものの、オーバーボリューム(ツノ、ツララ)もブリッジオーバー(リーク)、未着も全く見られず、鉄不純物濃度は逆に減少し、物理的機械的特性のうち伸びがやや大きくなることが判った。
2 溶融錫またははんだ合金液の貯槽
3 溶融錫またははんだ合金液移送用ポンプ
4 溶融錫またははんだ合金液を噴流するノズルまたはスリット
5 プリント回路板または電子部品
6 噴流吹付け後の溢流(オーバーフロー)溶融錫またははんだ合金液(溢流液)
7 上記溢流液6を受ける金属製樋
8 有機脂肪酸溶液
9 撹拌器
10 有機脂肪酸溶液の貯槽
11 清浄化された溶融錫またははんだ合金液
12 上記清浄化された溶融錫またははんだ合金液11の移送用ポンプ
13 有機脂肪酸溶液8の移送用ポンプ
このため、錫またははんだ接合に使用する錫またははんだ合金側にも接合強度、とりわけ電子素子、電子部品のリードの接合面積およびピッチの微小化に伴う錫またははんだ微小接合部の高信頼性が要求されている。
また一方では、近年、環境汚染ならびに人体に対する有害性の問題で鉛の使用禁止または規制化が進み、特に電子部品分野においては鉛を含有しない所謂「鉛フリーはんだ合金」がはんだ付け加工に広く使用されており、特に、錫・銀・銅系はんだ合金、及びそれにアンチモンを添加したはんだ合金(特許文献1)、錫・銀・銅系はんだ合金にニッケルまたはゲルマニウムなどを添加したはんだ合金(特許文献2)などが提案され、実用化されている。このほかにも、錫・亜鉛・ニッケル系はんだ合金及び更に銀、銅、ビスマスなどを添加したはんだ合金(特許文献3)など数多くの各種はんだ合金が提案されている。
一般に、プリント回路板、半導体パッケージ、電子素子等の電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に錫またははんだ合金を接合する方法としては、貯槽内で該錫またははんだ合金を融点以上の温度に加熱して融解させ液状にした後、ポンプで給液しノズルやスリットから該錫またははんだ合金液を噴流させてプリント回路板や電子部品などの被錫またははんだ接合物表面の銅ランドまたは銅リードに吹付けて錫またははんだ付し、その溢液を元の貯槽に戻し循環使用するが、はんだ付時に上記銅ランドまたは銅リード部の表面に存在するフラックスと酸化銅皮膜などが該溶融錫または溶融はんだ合金液の溢流液中に不純物として混入し該溶融錫または溶融はんだ合金液中の銅濃度や不純物濃度が経時的にどんどん高くなり、はんだ組成が変化し物理的物性はもとより化学的物性も変化し、特にはんだぬれ性が悪くなり、接合部に必要以上の容量ではんだが盛り上がる所謂「オーバーボリューム」(ツノ、ツララ)やリード間ピッチが狭小の回路では隣接リードにブリッジオーバーしてリークを生じやすい難点があるばかりか、はんだ未着などの外観的現象を生ずる難点もある(特許文献4)。また、接合はんだの物理的機械的特性の1つである伸びが小さくなるために電子回路として半導体装置などに組み込まれた後、通電on−offを繰返すと、ヒートサイクルによりはんだ接合部が疲労破断して導通不良など生じやすく、微小化した電子機器の接続信頼性を損なうことが広く知られている。従って、連続はんだ付け加工後に銅濃度が一定の上限を超えて上記はんだ特性劣化し異常現象(品質不良)が生じると、一般的には劣化したはんだを比較的頻繁に廃棄し、はんだを更新して使用することになるため、資源上からもまた作業性、品質安定性からも、更には経済的にも極めて効率が悪い。
このため、特に、プリント回路板などの連続加工時の銅濃度上昇を抑制し効率化する方法として、連続加工時には貯液槽内の溶融はんだ液が一定の液面まで低下した際に、銅を除いた合金を主成分とする第2のはんだを補給する方法などが提案され実用化されているが、この方法でも銅の増加をある程度抑制できるが経時的に増加する傾向は変わらず、したがって、はんだ接合品質的にも経時的に劣化傾向にあり、第2のはんだを用意し管理する煩雑さもあり、使用寿命が延びるメリットはあるも、必ずしも充分満足できる方法とはいえない。(特許文献4)
これにより、連続錫またははんだ付け加工の際に生ずるロット間の経時的接合品質の劣化防止が可能になり、接合品質のばらつきがきわめて小さい、安定した高接合信頼性の製品が得られる。
該有機脂肪酸濃度については1質量%以下ではこの効果が低く、補充管理など煩雑なこと、また80質量%以上では液粘度も著しく高くなり300℃以上の高温領域では発煙と悪臭の問題を生ずること、溶融錫またははんだ合金液との撹拌混合性に問題を生じる。従って、好ましくは5〜60質量%の濃度範囲が良い。
液温は使用する錫またははんだ合金の融点で決まり、少なくとも該融点以上の高温領域で有機脂肪酸溶液と溶融した該錫またははんだ合金液を激しく撹拌接触混合させる必要がある。
また上限温度は発煙の問題や省エネの観点から350℃程度であり、望ましくは使用する錫またははんだ合金の融点以上の温度〜300℃である。また、エステル合成油を混合する理由は液粘度を下げて均一な撹拌混合処理を行い易くすること及び有機脂肪酸の高温発煙性抑制にあり、その濃度は有機脂肪酸濃度で決まる。
撹拌時間は溶融錫または溶融はんだ合金溢流液の投入量および撹拌機の構造および撹拌条件にもよるが、スタティックミキサーを使用すれば1〜50秒間程撹拌混合すれば充分である。その後はこの撹拌混合された液を有機脂肪酸溶液の貯槽に導入すると、比重差で自然に該有機脂肪酸貯槽底部(下層)に清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液が、その上層に該有機脂肪酸のカルボニル基と反応してケン化物の形で取り込まれた該溢流液中に存在する銅酸化物、錫酸化物、あるいはその他の添加金属の酸化物、および微量混入している鉄、鉛、珪素、カリウムなどの酸化不純物を含有する有機脂肪酸溶液が分離する。この状態で該貯槽底部(下層)の清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液は専用ポンプで元の溶融錫または溶融はんだ合金液貯槽に戻し別の専用ポンプでノズルまたはスリットへ給液して噴流し、溢流液をスタティックミキサー等の撹拌器内部に循環させる。同様に、有機脂肪酸溶液もそれ専用のポンプでスタティックミキサー等の撹拌器内部に循環給液する。
従って、底部よりポンプで清浄化された溶融錫または溶融はんだ合金液をはんだ付装置の該溶融錫または溶融はんだ合金液貯槽に戻し、それを別のポンプで錫またははんだ付用ノズルまたはスリットに給液して噴流させ、その溢流液を再びスタティックミキサーなどの撹拌器内部に注入し循環使用することにより、従来の装置では連続錫またははんだ付け加工した場合に生ずるロット間の経時的接合品質の劣化防止が可能になり、接合品質のばらつきが極めて小さく安定した高接合信頼性の錫またははんだ合金接合の長期連続加工が可能になる。
また、電子部品、とりわけスルーホールを多数含む多層プリント回路板のはんだ付け加工では該多層プリント回路板に接合するはんだ量が多いので、連続加工時には貯液槽内の溶融はんだ液面が管理下限レベルにまで低下した際に線棒状または板状のはんだを補給する必要があるが、本発明の場合、単純に初期段階と同一組成のはんだを必要量投入すればよく、従来方法のような連続加工により増加した銅濃度分を調整するために低銅濃度はんだを用意する必要もなく、また著しく銅濃度が上昇してはんだ接合性能が悪化することによる頻繁な廃棄と建浴更新を繰り返す必要もなく、本発明の装置および方法は省資源、省エネルギーの環境的観点からもまた経済的面からも非常に効率的で、工業的に有益である。
更に、はんだぬれ性の経時劣化も殆ど見られず、はんだ接合の際のはんだぬれ性も遥かによく、また溶融時の粘性も低く、微小部のはんだ接合に最適であることが確認された。
即ち、リード面積が0.08mmφ、隣接リード間隔が0.08mmの極狭ピッチのプリント回路においてもオーバーボリューム(ツノ、ツララ)、ブリッジオーバーして隣接リードにリークすることもなく、更にははんだの部分未着もなく、また高低温ヒートサイクルに伴う微小はんだ接合部の疲労破断による電子回路の導通不良もなく、本発明装置および方法で錫またははんだ接合部は長期接続信頼性に非常に優れていることが判った。
更に、物理的機械的評価方法は、連続使用前と上記プリント回路板のはんだ付け加工枚数が通過量で5万枚後と10万枚後に各はんだ液貯槽からサンプリングして、それぞれステンレス(SUS 304)製鋳造金型(JIS 6号)を用い、評点間距離 L=50mm、直径 8mmφ、チャッキング部長さ L=20mm、直径 10mmφの試験片を作成し、JIS Z 4421)の試験方法により島津製作所製引張り試験機(AG100型)を用い、室温25℃において、それぞれ繰返し2(n=2)で、荷重負荷速度 5mm/minで試験測定した。
これに対して、本発明の実施例1および実施例2においては、プリント回路板の連続通過処理量が5万枚後及び10万枚後でも銅濃度上昇は殆どなく、はんだぬれ性は逆に好転し、物理的機械的特性値は伸びが若干大きくなるものの、オーバーボリューム(ツノ、ツララ)もブリッジオーバー(リーク)、未着も全く見られず、鉄不純物濃度は逆に減少し、物理的機械的特性のうち伸びがやや大きくなることが判った。
2 溶融錫またははんだ合金液の貯槽
3 溶融錫またははんだ合金液移送用ポンプ
4 溶融錫またははんだ合金液を噴流するノズルまたはスリット
5 プリント回路板または電子部品
6 噴流吹付け後の溢流(オーバーフロー)溶融錫またははんだ合金液(溢流液)
7 上記溢流液6を受ける金属製樋
8 有機脂肪酸溶液
9 撹拌器
10 有機脂肪酸溶液の貯槽
11 清浄化された溶融錫またははんだ合金液
12 上記清浄化された溶融錫またははんだ合金液11の移送用ポンプ
13 有機脂肪酸溶液8の移送用ポンプ
Claims (8)
- プリント回路板、半導体パッケージ、電子素子等の電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に錫またははんだ合金を接合する装置において、被はんだ接合電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面にノズルまたはスリットから溶融錫液または溶融はんだ合金液を噴流状に吹きつけて錫またははんだ合金皮膜を形成させた後、溢流する該溶融錫または溶融はんだ合金液を撹拌器に移送し、該撹拌器内部において循環する炭素数12〜20の有機脂肪酸を1〜80重量%を含有する温度180〜350℃の溶液と接触させながら激しく撹拌混合することにより、該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液中に混入した被錫またははんだ合金接合電子部品の該銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に存在する酸化銅とフラックス成分およびそれらの反応生成物、更には元々該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液中に存在する銅酸化物、錫酸化物、あるいはその他の添加金属の酸化物、および微量混入している鉄、鉛、珪素、カリウムなどの酸化不純物などの汚染物質をも該有機脂肪酸含有液中に取り込ませて、該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液を清浄化し、しかる後にその混合液を該有機脂肪酸含有溶液貯槽に導入し、該有機脂肪酸含有溶液貯槽中において比重差で分離された清浄化溶融錫液または溶融はんだ合金液を該有機脂肪酸含有溶液貯槽の底部からポンプで該溶融錫または溶融はんだ液貯槽に戻して循環使用することを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け装置。
- 前記請求項1における有機脂肪酸としてはパルミチン酸、ステアリン酸のいずれか1種を3〜60重量%と残部エステル合成油からなる液温180〜300℃の溶液を用いることを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け装置。
- 前記請求項1における溶融錫またははんだ合金液としては、錫を主成分としこれに銀、銅、亜鉛、ビスマス、アンチモン、ニッケル、ゲルマニウムのいずれか1種以上の金属を添加した溶融鉛フリーはんだ合金を用いることを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け装置。
- 前記請求項1における撹拌器としては、スタティックミキサーを用いることを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け装置。
- プリント回路板、半導体パッケージ、電子素子等の電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に錫またははんだ合金を接合する方法において、被はんだ接合電子部品の銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面にノズルまたはスリットから溶融錫液または溶融はんだ合金液を噴流状に吹きつけて錫またははんだ合金皮膜を形成させた後、溢流する該溶融錫または溶融はんだ合金液を撹拌器に移送し、該撹拌器内部において循環する炭素数12〜20の有機脂肪酸を1〜80重量%を含有する温度180〜350℃の溶液と接触させながら激しく撹拌混合することにより、該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液中に混入した被錫またははんだ合金接合電子部品の該銅ランド部表面または銅および銅合金リード部表面に存在する酸化銅とフラックス成分およびそれらの反応生成物、更には元々該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液中に存在する銅酸化物、錫酸化物、あるいはその他の添加金属の酸化物、および微量混入している鉄、鉛、珪素、カリウムなどの酸化不純物などの汚染物質をも該有機脂肪酸含有液中に取り込ませて、該溢流溶融錫または溶融はんだ合金液を清浄化し、しかる後にその混合液を該有機脂肪酸含有溶液貯槽に導入し、該有機脂肪酸含有溶液貯槽中において比重差で分離された清浄化溶融錫液または溶融はんだ合金液を該有機脂肪酸含有溶液貯槽の底部からポンプで該溶融錫または溶融はんだ液貯槽に戻して循環使用することを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け方法。
- 前記請求項5における有機脂肪酸としてパルミチン酸、ステアリン酸のいずれか1種を3〜60重量%と残部エステル合成油からなる液温180〜300℃の溶液を用いた電子部品用錫またははんだ付け方法。
- 前記請求項5における溶融錫またははんだ合金液は、錫を主成分としこれに銀、銅、亜鉛、ビスマス、アンチモン、ニッケル、ゲルマニウムのいずれか1種以上の金属を添加した溶融鉛フリーはんだ合金を用いた電子部品用錫またははんだ付け方法。
- 前記請求項5における撹拌器はスタティックミキサーであることを特徴とする電子部品用錫またははんだ付け方法。
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JP2008186519A JP4375491B1 (ja) | 2008-06-23 | 2008-06-23 | 電子部品のはんだ付け装置およびはんだ付け方法 |
EP08810074.8A EP2302083B1 (en) | 2008-06-23 | 2008-08-29 | Method of tinning or soldering electronic component with copper land portions |
PCT/JP2008/066019 WO2009157099A1 (ja) | 2008-06-23 | 2008-08-29 | 電子部品のはんだ付け装置およびはんだ付け方法 |
US12/600,399 US8011562B2 (en) | 2008-06-23 | 2009-08-29 | Soldering equipment and soldering method for electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (6)
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---|---|---|---|---|
KR20110129151A (ko) * | 2010-05-25 | 2011-12-01 | 삼성전자주식회사 | 부력 인가 수단을 가진 웨이브 솔더링 장치와 솔더링 방법 및 플립 칩용 솔더 범프 형성 방법 |
DE102010038452A1 (de) * | 2010-07-27 | 2012-02-02 | Robert Bosch Gmbh | Leiterquerschnitt mit Verzinnung |
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KR101702171B1 (ko) * | 2012-04-14 | 2017-02-02 | 가부시키가이샤 다니구로구미 | 납땜 장치 및 방법 그리고 제조된 기판 및 전자 부품 |
US20150115020A1 (en) * | 2012-04-17 | 2015-04-30 | Tanigurogumi Corporation | Solder bump, method for forming a solder bump, substrate provided with solder bump, and method for manufacturing substrate |
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Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5040103B1 (ja) * | 1969-10-08 | 1975-12-22 | ||
US3993235A (en) * | 1975-09-02 | 1976-11-23 | Hollis Engineering, Inc. | Differential pressure wave soldering system |
US3990621A (en) * | 1976-01-07 | 1976-11-09 | Hollis Engineering, Inc. | Static head soldering system with oil |
CH660145A5 (de) * | 1983-07-15 | 1987-03-31 | Landis & Gyr Ag | Verfahren zum schutz der oberflaeche eines loetbads. |
JPS6182964A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-26 | Ginya Ishii | 噴流はんだ装置のはんだ酸化物の除去装置 |
DE3441687C2 (de) * | 1984-11-15 | 1986-10-02 | Kirsten Kabeltechnik AG, Welschenrohr | Wellenlötvorrichtung |
JPS6224859A (ja) * | 1985-07-24 | 1987-02-02 | Kenji Kondo | はんだ付け装置 |
EP0212911B1 (en) * | 1985-08-09 | 1991-07-31 | Dolphin Machinery Limited | Soldering apparatus |
US4747533A (en) * | 1986-04-28 | 1988-05-31 | International Business Machines Corporation | Bonding method and apparatus |
JP2555715B2 (ja) | 1988-10-26 | 1996-11-20 | 三菱マテリアル株式会社 | はんだ合金微粉末の製造方法 |
JP3027441B2 (ja) | 1991-07-08 | 2000-04-04 | 千住金属工業株式会社 | 高温はんだ |
JPH0540103A (ja) | 1991-08-08 | 1993-02-19 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 感湿または結露センサを製造する方法 |
US5388756A (en) * | 1993-12-27 | 1995-02-14 | At&T Corp. | Method and apparatus for removing contaminants from solder |
JPH0837366A (ja) * | 1994-07-22 | 1996-02-06 | Ibiden Co Ltd | 電子部品搭載用基板の半田接合方法及びその半田接合装置 |
JP3299091B2 (ja) | 1995-09-29 | 2002-07-08 | 千住金属工業株式会社 | 鉛フリーはんだ合金 |
KR100504404B1 (ko) * | 1996-06-11 | 2005-11-01 | 가부시키가이샤 다무라 세이사쿠쇼 | 납땜장치 |
JP3296289B2 (ja) | 1997-07-16 | 2002-06-24 | 富士電機株式会社 | はんだ合金 |
JP2001320162A (ja) * | 1998-02-27 | 2001-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | はんだ回収装置と酸化物の除去方法 |
JP3221670B2 (ja) | 2000-02-24 | 2001-10-22 | 株式会社日本スペリア社 | ディップはんだ槽の銅濃度制御方法 |
JP2002080950A (ja) * | 2000-09-07 | 2002-03-22 | Senju Metal Ind Co Ltd | ドロスから酸化物を分離する方法および噴流はんだ槽 |
US6666370B2 (en) * | 2002-01-18 | 2003-12-23 | Speedline Technologies, Inc. | Solder-dross mixture separation method and apparatus |
US20040000574A1 (en) * | 2002-03-08 | 2004-01-01 | Haruo Watanabe | Solder applying method and solder applying apparatus |
US6942791B1 (en) * | 2002-07-16 | 2005-09-13 | Radko G. Petrov | Apparatus and method for recycling of dross in a soldering apparatus |
KR100820621B1 (ko) * | 2003-10-10 | 2008-04-08 | 센주긴조쿠고교 가부시키가이샤 | 분류 땜납조 |
KR101297611B1 (ko) * | 2004-04-16 | 2013-08-19 | 피. 케이 메탈 인코포레이티드 | 솔더링 방법 |
DE102004038280B4 (de) * | 2004-08-03 | 2006-07-27 | W.C. Heraeus Gmbh | Verfahren zum Herstellen von Feinstlotpulvern |
JPWO2008084673A1 (ja) * | 2007-01-09 | 2010-04-30 | 日本ジョイント株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP4844842B2 (ja) * | 2007-10-25 | 2011-12-28 | ホライゾン技術研究所株式会社 | プリント回路板及びプリント回路板の表面処理方法 |
TW200920877A (en) * | 2007-11-05 | 2009-05-16 | Magtech Technology Co Ltd | Method for soldering magnesium alloy workpieces |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140212678A1 (en) * | 2012-04-16 | 2014-07-31 | Tanigurogumi Corporation | Soldering device, soldering method, and substrate and electronic component produced by the soldering device or the soldering method |
US9289841B2 (en) * | 2012-04-16 | 2016-03-22 | Tanigurogumi Corporation | Soldering device, soldering method, and substrate and electronic component produced by the soldering device or the soldering method |
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