JP2009540613A - 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット - Google Patents

複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット Download PDF

Info

Publication number
JP2009540613A
JP2009540613A JP2009515565A JP2009515565A JP2009540613A JP 2009540613 A JP2009540613 A JP 2009540613A JP 2009515565 A JP2009515565 A JP 2009515565A JP 2009515565 A JP2009515565 A JP 2009515565A JP 2009540613 A JP2009540613 A JP 2009540613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
substrate
load lock
transfer
chambers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009515565A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009540613A5 (ja
Inventor
ロバート ビー. ムーア,
エリック ルーランド,
サティッシュ サンダー,
マリオ デイヴィッド シルヴェッティ,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Applied Materials Inc
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Publication of JP2009540613A publication Critical patent/JP2009540613A/ja
Publication of JP2009540613A5 publication Critical patent/JP2009540613A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67742Mechanical parts of transfer devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/67201Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the load-lock chamber
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S414/00Material or article handling
    • Y10S414/135Associated with semiconductor wafer handling
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49826Assembling or joining

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

基板を処理するための新規な装置が開示される。4つの環境的に分離されたチャンバを有する複数レベルのロードロックチャンバが、ロボットアッセンブリを有する移送チャンバとインターフェイスする。ロボットアッセンブリは、ロボットアッセンブリがその軸の周りで回転するときに水平方向に各々移動できる2つのアームを有する。これらのアームは、ロードロックの分離されたチャンバに届き、底部の分離されたチャンバから基板を受け入れ、基板をプロセスチャンバへ搬送し、次いで、基板を上部チャンバへ入れることができる。ロードロックチャンバにおける分離されたチャンバは、分離されたチャンバの内部にアクセスするために開くことのできる枢着された蓋を含むことができる。
【選択図】 図2

Description

発明の背景
発明の分野
[0001]本発明の実施形態は、一般に、環境的に制御された雰囲気内で基板に対して複数のプロセスを次々に遂行するための装置に関する。
関連技術の説明
[0002]半導体処理における基板スループットは、常に、難題である。技術を進歩させるべき場合には、半導体基板を効率的に処理することが絶えず必要である。真空を中断せずに複数の基板を同時に処理するための効率的な手段としてクラスターツールが開発されている。単一の基板を処理し、次いで、別のチャンバへ移送する間に基板を雰囲気へ露出するのではなく、複数のプロセスチャンバを共通の移送チャンバに接続して、あるプロセスチャンバ内で基板に対してプロセスが完了したときに、基板を、まだ真空下にある状態で、その同じ移送チャンバに結合された別のプロセスチャンバへ移動できるようにしている。
[0003]クラスターツールの別の利益は、異なるチャンバのツール内で複数の基板を同時に処理できることである。ある基板がプロセスチャンバを出て別のプロセスチャンバへ移送された後、その第1のプロセスチャンバへ第2の基板を入れることができる。従って、クラスターツール内では異なる基板に対して順次のプロセスを同時に遂行することができる。
[0004]移送チャンバに入るために、基板は、先ず、ロードロックチャンバを通過する。ロードロックチャンバは、基板を処理の前に加熱することができる。クラスターツール内で遂行されるべき全ての基板処理が基板に対して完了した後に、基板は、ロードロックへ戻るように移送され、そこで、クラスターツールシステムから出ることができる。
[0005]それ故、クラスターツールは、基板のスループットを高める上で非常に有用なものである。もちろん、基板のスループットを更に高めようとする希望が常に存在する。従って、この技術では、基板に対して複数のプロセスを次々に遂行する装置において基板のスループットを高めることが要望される。
発明の概要
[0006]本発明は、一般に、複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれに調和させるのに適したロボットを包含する。複数レベルのロードロックチャンバは、4つの環境的に分離されたチャンバを有していて、ロボットアッセンブリを収容する移送チャンバとインターフェイスすることができる。ロボットアッセンブリは、そのロボットアッセンブリが軸の周りで回転するときに水平方向及び垂直方向の両方に独立して移動できる2つのアームを有している。ロボットは、そのアームの各々でロードロックの上部チャンバ及び下部チャンバの両方にアクセスするように構成される。
[0007]一実施形態においては、ロードロックチャンバが開示される。このロードロックチャンバは、第1、第2、第3及び第4の環境的に分離されたチャンバが形成された一体的チャンバ本体を備えている。第1及び第2のチャンバは、横方向に間隔が開いている。第3及び第4のチャンバは、横方向に間隔が開けてあり、且つ第1及び第2のチャンバより高さが低い。環境的に分離されたチャンバの各々には、基板支持体が配置されている。
[0008]別の実施形態では、移送チャンバが開示される。この移送チャンバは、ロードロックチャンバインターフェイス及び中央空洞を有する本体を備えている。空洞にはロボットアッセンブリが配設される。ロードロックチャンバインターフェイスに形成された開口内で移送チャンバ本体に複数のスリットバルブドアが結合される。
[0009]別の実施形態では、2つのアームを備えたロボットアッセンブリが開示される。アームは、水平及び垂直の両方に移動可能である。各アームは、2つの基板受け入れ延長部を含む。各基板受け入れ延長部は、1つの基板を受け入れることができる。
[0010]別の実施形態では、ロードロックチャンバ、移送チャンバ、及び該移送チャンバ内に配設されたロボットアッセンブリを備えた装置が開示される。ロードロックチャンバは、第1、第2、第3及び第4の環境的に分離されたチャンバが形成された一体的チャンバ本体を備えている。第1及び第2のチャンバは、横方向に間隔が開けてある。第3及び第4のチャンバは、横方向に間隔が開けてあり、且つ第1及び第2のチャンバより高さが低い。環境的に分離されたチャンバの各々には、基板支持体が配置されている。
[0011]本発明の前述した特徴を詳細に理解できるように、簡単に概要を前述した本発明について、幾つかを添付図面に例示した実施形態を参照して以下に詳細に説明する。しかしながら、添付図面は、本発明の典型的な実施形態のみを例示するもので、それ故、本発明の範囲をそれに限定するものではなく、本発明は、等しく有効な他の実施形態も包含することに注意されたい。
[0021]理解を容易にするために、図面に対して共通の同じ要素を示すのに、できるだけ同じ参照番号を使用する。1つの実施形態に開示される要素は、特に記載がなくても、他の実施形態に有益に使用できることが意図される。
詳細な説明
[0022]本発明は、一般に、複数レベルのロードロックチャンバ及び移送チャンバを有する処理装置を包含する。複数レベルのロードロックチャンバは、4つの環境的に分離されたチャンバを有しており、ロボットアッセンブリを有する移送チャンバとインターフェイスする。ある実施形態では、ロボットアッセンブリは、ロボットアッセンブリがその軸の周りで回転するときに各々水平方向に移動できる2つのアームを含む。これらアームは、ロードロックチャンバの底部の分離されたチャンバに届き、基板を受け入れ、基板をプロセスチャンバへ搬送し、次いで、基板を上部の分離されたチャンバへ入れることができる。ロードロックチャンバにおける分離されたチャンバの各々は、分離されたチャンバの内部にアクセスするために開くことのできる蓋を含む。本発明の実施形態は、カリフォルニア州、サンタクララのアプライドマテリアルズ社により製造されたPRODUCER(登録商標)SE処理システムのようなクラスターツールにおいて移送チャンバ、ロードロックチャンバ及び/又は移送ロボットとして使用することができる。また、本発明は、他の製造者から入手できるものを含む他のチャンバ、ロボット及びクラスターツールにおいても有益に実施され得ることが意図される。
[0023]図1は、複数レベルのロードロックチャンバ100と、該ロードロックチャンバ100に結合された移送チャンバ400と、複数のプロセスチャンバ16とを備えたクラスターツール又は処理システム10の一実施形態を示す平面図である。移送チャンバ400の中央空洞412内には、移送チャンバ用ロボット600が配置される。ロードロックチャンバ100は、処理を開始するために基板18がロードロックチャンバ100へ運び込まれるファクトリインターフェイス側と、処理の後に基板18がロードロックチャンバ100へ入れられる移送チャンバ側とを有する。移送チャンバ用ロボット600は、基板を処理チャンバ16とロードロックチャンバ100との間で移送するのに適している。
ロードロックチャンバ
[0024]図2から図4は、本発明の一実施形態によるロードロックチャンバの種々の図である。図2は、本発明による複数レベルのロードロックチャンバ100の一実施形態のファクトリインターフェイス側を示す前面図である。図3は、ロードロックチャンバの断面図である。図4は、ロードロックチャンバの上面図である。図2を参照すれば、ロードロックチャンバ100は、スリットバルブドア102と、チャンバアクセス蓋104と、スリットバルブドアアクチュエータ106と、流体供給管108と、蓋ロックメカニズム110と、基板リフトピンアクチュエータ112と、基板支持柱114と、チャンバ開口116とを備えている。複数レベルのロードロックチャンバ100は、基板をシステムへ連続的に出し入れするのを許す。流体供給管108は、窒素を供給することができる。
[0025]ロードロックチャンバ100は、一体的チャンバ本体218を有する。第1チャンバ220及び第2チャンバ222がチャンバ本体218に横方向に間隔が開けて形成される。第3チャンバ224(図3を参照)及び第4チャンバ226(図3を参照)が、第1チャンバ220及び第2チャンバ222より低い高さにおいて、チャンバ本体218に横方向に間隔が開けて形成される。第1チャンバ220、第2チャンバ222、第3チャンバ224及び第4チャンバ226は、交配汚染を防止するために互いに環境的に分離される。基板支持体206、210(図3を参照)が、各チャンバに配置される。2つの上部チャンバ220、222は、開口116内に示されており、また、2つの下部チャンバ224、226は、下部のスリットバルブドア102の後方にある。上部チャンバ220、222は、下部チャンバ224、226とは独立して動作でき、従って、上部チャンバ220、222は、下部チャンバ224、226を含む活動によって影響されない。更に、各個々のチャンバは、ロードロックチャンバ100内の他のチャンバとは独立して動作(即ち、開/閉、通気、及び排気)でき、従って、各チャンバは、ロードロックチャンバ100内の他のチャンバの活動によって影響されない。4つの環境的に分離されたチャンバをロードロックチャンバ100内に有することで、各チャンバ内の内部容積が減少され、これは、排気時間を短縮できるようにし、それに対応して、小型の低廉な真空ポンプしか要求しない。
[0026]各チャンバ220、222、224、226は、他のチャンバから環境的に分離された指定のチャンバ容積を有するので、基板の連続的な出し入れ移動を行うことができる。入ってくる基板からの脱ガスが、出て行く基板に接触することはない。環境的に分離されたチャンバ容積は、入ってくる基板及び出て行く基板の基板スループットを独立して最大にすることができる。更に、入ってくる方のチャンバが出て行く方のチャンバから分離されるので、出て行くウェハからの汚染又はクロストークは、入ってくるウェハから分離される。
[0027]一実施形態では、下部の2つのチャンバ224、226は、到来する(即ち未処理の)基板に使用され、また、上部チャンバ220、222は、システム内で処理された去り行く基板に使用される。基板は、下部チャンバ224、226へ、一度に2つ、運び込むことができる。換言すれば、各1つの基板が各下部チャンバ224、226へ実質的に同時に入れられる。次いで、基板は、ロードロックチャンバ100から出て、処理システムへ移送され、そこで、基板が処理される。全ての処理が完了した後に、基板は、ロードロックチャンバ100の上部チャンバ220、222を通ることにより、システムから取り出される。処理された基板及び未処理の基板は、チャンバ本体218内のチャンバの他の組合せを通して移動されてもよいことが意図される。
[0028]スリットバルブドア102は、ファクトリインターフェイス側でロードロックチャンバ100を横切って水平方向に延び、チャンバ本体218を貫通して形成された2つの水平方向チャンバ開口116を各々カバーする。単一のスリットバルブドア102を使用して2つの上部チャンバ220、222をシールすると共に、単一のスリットバルブドア102を使用して2つの下部チャンバ224、226をシールする。アクチュエータ106は、スリットバルブドア102を開き、チャンバ開口116を通してチャンバの内部を露出させる。複数レベルのロードロックチャンバ100の頂部に配置されたアクチュエータ106は、第1チャンバ220及び第2チャンバ222を選択的にシールするドア102を操作する。複数レベルのロードロックチャンバ100の底部に配置された第2のアクチュエータ106は、第3チャンバ224及び第4チャンバ226を選択的にシールするドア102を操作する。これらアクチュエータ106は、これらスリットバルブドア102が逆方向に開くように動作する。スリットバルブアクチュエータ106は、互いに独立して動作し、下部のアクチュエータ106が上部のアクチュエータ106とは独立して下部のスリットバルブドア102を開閉することができる。上部チャンバ220、222のためのスリットバルブドア102は、上方に開き、また、下部チャンバ224、226のためのスリットバルブドアは、下方に開く。
[0029]1つの上部チャンバ及び1つの下部チャンバがスリットバルブドア102を共有するのではなく、ファクトリインターフェイス側で上部チャンバ220、222が1つのスリットバルブドア102を共有することの利益は、上部チャンバ220、222を一致して動作して基板スループットの効率を高めることである。同様に、下部チャンバ224、226も、一致して動作して、基板スループットを更に向上させることができる。(以下に述べる)移送ロボットは、基板支持体が例えば同じ平面内に存在するように実質的に同様の高さに配設された2つのチャンバに同時にアクセスするように設計される。1つの上部チャンバ及び1つの下部チャンバが実質的に同様の機能を実質的に同時に遂行すべき(即ち一致して動作すべき)場合に、実質的に同じ平面に存在する処理チャンバへ基板を移送することは、著しく困難で、効率の悪いことになる。
[0030]ロードロックチャンバ100内の上部チャンバ220、222は、ロードロックチャンバを通して流れる熱交換流体であって上部チャンバ220、222が大気へ通気されたときにそれらチャンバ内の基板から熱を引き出す熱交換流体により能動的に冷却することができる。それに加えて又はそれとは別に、冷却プレートにおいて基板を冷却することもできる。冷却プレートは、複数のスタンドオフピンを含み、これらスタンドオフピンは、基板及び基板支持体の間隔を開けて維持し、潜在的な後方汚染を減少すると共に、基板と基板支持体との間に均一なギャップを与えて、均一な放射冷却を促進する。一実施形態では、ギャップは、約0.05インチから約0.025インチでよい。別の実施形態では、ギャップは、約0.010インチから約0.020インチでよい。更に別の実施形態では、ギャップは、0.015インチでよい。このギャップは、基板を冷却プレートから間隔を開け、潜在的な後方汚染を減少させる一方、基板を効率的に冷却できるようにもする。
[0031]ロードロックチャンバ100内の各チャンバは、独立して動作される基板支持体206、210を、それに対応するリフト共に有している。下部チャンバ224、226のリフトは、一連のリフトピン208である。上部チャンバのリフトは、スタンドオフピンを伴うフープ204である。チャンバ本体218内の各チャンバは、ロードロックチャンバ100の他のチャンバ及び処理環境から環境的に分離された容積部を有する。上部チャンバ220、222及び下部チャンバ224、226のための蓋306(図4を参照)、104(図2を参照)は、処理中に計測を遂行できるように計測信号を透過してもよいし、又はそれを透過する領域を有してもよい。透過的である蓋104、306は、基板及びそこに堆積される層の異なる条件及びパラメータをセンサで監視できるようにする。一実施形態では、蓋104、306が透過的である。別の実施形態では、蓋304、306が透過的な石英である。
[0032]ロードロックチャンバ100は、上部チャンバ220、222及び下部チャンバ224、226の各々に対して存在する蓋104、306を開放することにより、容易にサービスすることができる。下部チャンバ224、226の蓋104は、ロードロックチャンバ100に枢着されている。下部チャンバ224、226の枢着された蓋104は、技術者が、ハードウェアを最小限取り除くだけで、下部チャンバ224、226をサービスできるようにする。蓋104は、チャンバ本体218から離れて支持柱114を揺動できる角度(図2を参照)でカットされる。蓋104が180度揺動されると、技術者は、下部チャンバ224、226の全てのコンポーネントを容易に且つ効率的にサービスすることができる。下部チャンバ224、226の蓋104は、ロードロックチャンバ100に固定される蓋ロックメカニズム110により、ロードロックチャンバ100を閉じた状態でロックされる。一実施形態では、蓋ロックメカニズム110は、ロードロックチャンバ100にねじで取り付けられ、蓋104をチャンバ本体218にクランプするように締め付けることができる。下部チャンバの蓋104は、ヒンジ118(図2を参照)の周りで枢着回転する。図4は、ポイント216(図2を参照)に取り付けられる上部蓋306を示し、この上部蓋306は、技術者がこれを容易に把持して取り外せるようにする取手304を有する。蓋306は平らな表面を有する。流体供給管108は、蓋306をチャンバにインデックスする。蓋306をチャンバ100にシールするための固定具スルーホールが流体供給管108の周りを回転する。ポイント216は、蓋306でチャンバ100を閉じるときに蓋306の重量を制御するための支点として使用されてもよい。
[0033]ロードロックチャンバ100は、ロードロックチャンバ100の雄コネクタ302、308を移送チャンバの雌コネクタ406、408(図5を参照)に挿入することにより、移送チャンバ400(図5を参照)にインターフェイスすることができる。ロードロックチャンバの本体218は、ロードロックチャンバ100の上部チャンバ220、222及び下部チャンバ224、226の開口を取り巻く雄コネクタ302を含む。丸い雄コネクタ308は、チャンバ本体218から延びて、移送チャンバ400へ挿入され、移送チャンバ400に対してロードロックチャンバ100を配置させる。ロードロックチャンバ100と移送チャンバ400との間には、真空漏れを防止するために、シール(図示せず)が配設される。
[0034]ある動作モードでは、ロボットが下部チャンバ224、226へ伸びて、基板を各基板支持体210に載せる。加熱流体を下部チャンバ224、226へ通流できる基板支持柱114が存在する。基板がロードロックチャンバ100から移送チャンバ400へ移送される準備ができたときに、リフトピンアクチュエータ112がリフトピン(図3を参照)を上昇させて、基板を基板支持体210から持ち上げる。次いで、下部チャンバ内の圧力は、移送チャンバ400内の圧力に一致するように下げられる。この時間中に、基板は、予熱又は冷却のような前処理プロセスを受けることができる。基板が前処理プロセスを受けるかどうかは、システムが基板において遂行する一次プロセスの要件に依存する。例えば、ある用途では、プロセスが開始する前に基板が加熱される場合には一次プロセスがより迅速に又はより効率的に進行する。
[0035]基板は、基板支持体210内に存在する加熱素子212(図3を参照)によって加熱することができる。熱供給体214(図3を参照)は、加熱流体のような適当な加熱手段を加熱チャンネルに供給するか、又は加熱素子212へ電気を供給する電気的コンジットである。熱供給体は、基板支持柱114を通して供給される。一実施形態では、ロードロックチャンバ100は、下部チャンバ224、226内の基板を加熱し、上部チャンバ220、222内の基板を冷却する。
[0036]下部チャンバ224、226内の圧力が下げられ、任意の前処理が完了した後に、移送チャンバ側のスリットバルブドア502(図6を参照)が開く。次いで、移送チャンバ用ロボット600(図7を参照)が、下部チャンバ224、226に応対し、下部チャンバ224、226のリフトピン208から基板を取り出すことができる。移送チャンバ用ロボット600は、基板を処理のために下部チャンバ224、226からプロセスチャンバ600へ移動させ、その後、基板を上部チャンバ220、222へ戻す。上部チャンバ220、222に基板を受け取ると、ロボット600は、上部チャンバ220、222に配設されたフープ204(図3を参照)に基板を載せる。フープ204に受け取られると、フープアクチュエータ202(図3を参照)が基板を基板支持体206へ下げることができる。基板がシステムから取り出される準備ができると、上部アクチュエータ106がスリットバルブドア102を開き、両上部チャンバ220、222をファクトリインターフェイスに露出させる。フープアクチュエータ202は、フープ204上の基板を上昇させる。基板が取り出された後に、アクチュエータ106は、スリットバルブドア102を上部チャンバ220、222に対して閉じる。
[0037]次いで、上部チャンバ220、222内の圧力が流体供給管108によりファクトリインターフェイスの圧力に戻される。この時間中に、基板は、熱処理又は冷却のような後処理プロセスを受けることができる。例えば、スピン又はガラスプロセスのようなあるケースでは、基板支持体206を加熱することにより薄い液体ガラスコーティングが熱硬化される。或いは又、基板がプロセスチャンバから戻された後に高温である幾つかのケースでは、基板支持体206を冷却することにより基板を冷却した後にファクトリインターフェイスを通して基板を返送してもよい。上部チャンバ220、222内の圧力が周囲圧力へ増加され、任意の後処理ステップが完了した後に、ファクトリインターフェイス内のロボットが処理済みの基板を上部チャンバから移動することができる。
移送チャンバ
[0038]図5は、本発明の一実施形態による移送チャンバの概略図である。移送チャンバ400は、中央空洞412を含む本体を有する。この本体は、中央空洞412が処理チャンバとインターフェイスするのを許す6個までの開口404を有する。第1の側には、ロードロックチャンバ100とインターフェイスするための2つの開口402が存在する。移送チャンバ400は、雌コネクタ406、408を有し、これは、ロードロックチャンバ100の雄コネクタ302、308と係合する。雄コネクタ302は、雌コネクタ406に嵌合し、雄コネクタ308は、雌コネクタ408に接続する。本体の下部には、移送チャンバ用ロボット600のための開口410が設けられている。
[0039]図6は、本発明の一実施形態によりロードロックチャンバがインターフェイスする移送チャンバの概略図である。ロードロックチャンバ100の移送チャンバ側をシールするためのスリットバルブドア502が、移送チャンバ400に設けられている。ロードロックチャンバ100の各チャンバ220、222、224、226に対してスリットバルブドア502が設けられている。2つの上部ドア502及び2つの下部ドア502がある。2つの上部ドア502は、ロードロックチャンバ100の2つの上部チャンバ220、222に対応し、2つの下部ドア502は、ロードロックチャンバ100の2つの下部チャンバ224、226に対応する。スリットバルブドア502の各々は、アクチュエータ接続部504によりスリットバルブアクチュエータ06に接続される。一実施形態では、スリットバルブアクチュエータ506は、空気圧式であり、アクチュエータへ空気圧流体を供給するための配管を有する。ベローズ(図示せず)が空気圧配管を取り巻き、空気圧流体がシステムへ漏れるのを防止することができる。
[0040]移送チャンバ400は、この移送チャンバ400を必要に応じてサービスできるようにロボットアーム512(図6を参照)により枢着回転して開く蓋510(図6を参照)を有する。この蓋510は、計測のための(石英窓のような)透過領域でもよいし、又はそれを有してもよい。移送チャンバ400の上面にわたり、スルービーム局部中心ファインダー508が取り付けられ、これは、システム内の異なる平面において基板を検出することができる。基板は、ロードロックチャンバ100の下部チャンバ224、226を通して移送チャンバ400へ運び込まれ、更に、移送チャンバ400からロードロックチャンバ100の上部チャンバ220、222を通して取り出されるので、基板は、複数の平面において移送チャンバ400内を移動することになる。スルービーム局部中心ファインダー508は、移送チャンバ400内で複数の平面において基板を追跡するのに使用できる。
移送チャンバ用ロボット
[0041]図7から図9は、本発明の移送チャンバ用ロボット600の一実施形態を示す。この移送チャンバ用ロボット600は、複数のアーム608、616を有する。移送チャンバ用ロボット600は、ロードロックチャンバ100の下部チャンバ224、226及び上部チャンバ220、222の両方にアクセスするように構成される。ロボット600は、複数の平面内でアーム608、616を移動することができる。ロボット600は、X−Y平面内でアーム608、616を回転し及び伸ばすことができる。また、ロボット600は、Z平面内でアップ及びダウン方向に並進移動して、下部チャンバ224、226から回収した基板を持ち上げ、処理チャンバに入れることができる。更に、ロボット600は、異なる高さの処理チャンバへ基板を入れるようにZ平面において移動できることも意図される。例えば、ロボット600は、互いに上下に積み重ねられた処理チャンバにアクセスすることができる。
[0042]一実施形態では、ダブルデッカーチャンバが使用される。ダブルデッカーチャンバは、垂直方向に互いに上下に積み重ねられた2つのチャンバであり、システム内の同じ設置面積を共有する。各チャンバは、ダブルデッカー構成体内で互いに他のチャンバから環境的に分離できるチャンバ容積部を有する。これらチャンバは、コストを低く保てるように同じポンプ及びガスパネルを共有してもよいし、又は独立したポンプ及び独立したガスパネルを有してもよい。更に、これらチャンバは、異なる機能を遂行するように仕立てられてもよい。これらチャンバは、ダブルデッカー構成体の一方のチャンバが、ダブルデッカー構成体の他方のチャンバに対して逆転されるように、互いに鏡像であってもよい。処理システム内の全ての処理チャンバがダブルデッカーチャンバに切り換えられたときには、基板スループットを倍増することができる。
[0043]ロボット600は、各アームアッセンブリ608、616に対する下部ピボットアーム602、610と、各アームアッセンブリ608、616に対する上部ピボットアーム604、612とを含む。アームアッセンブリ608、616の各々は、2つのフラットブレード618、620を有する。それ故、各アームアッセンブリ608、616は、2枚の基板を保持することができる。各ブレード618、620に1つの基板を保持することができる。一実施形態では、ブレード618、620は、ポケットを有することができる。図8に示す実施形態では、ブレード618、620がフラットであり、ポケットを形成しない。ブレード618、620は、基板622の後側に対してフラットである。基板622は、ブレード618、620が基板622の縁を擦らないように、ブレード618、620に載せられる。ポケットを形成しないブレード618、620は、基板の縁に接触しない。
[0044]図9に見られるように、ロボット600は、アーム602、610の各々が移送チャンバ400に沿った異なる場所にある異なるプロセスチャンバへブレード618、620を伸ばせるように、伸び出すことができる。アーム602、610は、処理チャンバ又はロードロックチャンバ100にアクセスすることができ、各アーム602、610は、移送チャンバ400の反対側又は移送チャンバ400の隣接側のチャンバにアクセスする。上部アームアッセンブリ616及び下部アームアッセンブリ608が互いに独立して伸びるように、下部ピボットアーム602、610及び上部ピボットアーム604、612を各々伸ばすことができる。アームアッセンブリ608、616を伸ばすために、上部ピボットアーム604、612及び下部ピボットアーム602、610が回転する。ロボット600を集合的にZ方向に移動し、これにより、移送チャンバ用ロボット600全体をZ方向に並進移動することができる。
[0045]4つの環境的に分離されたチャンバを有するロードロックチャンバ100を設けることにより、ロードロックチャンバ100を通して4枚という数の基板を同時に移送できるので、基板スループットを著しく高めることができる。更に、複数の平面内を移動できるダブルアームロボットを有することで、一度に4枚という数の基板をロボットにより搬送できるので、基板スループットが高められる。
[0046]以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明の基本的な範囲から逸脱せずに、他の実施形態及び更に別の実施形態を案出することができ、従って、本発明の範囲は、特許請求の範囲によって決定されるものとする。
ロードロックチャンバと、ロボットアッセンブリが配設された移送チャンバと、処理チャンバとを備えた装置の平面図である。 本発明のロードロックチャンバのファクトリインターフェイス側の前面図である。 本発明のロードロックチャンバの断面図である。 本発明のロードロックチャンバの上面図である。 本発明の移送チャンバの概略図である。 ロードロックチャンバがインターフェイスする移送チャンバの概略図である。 本発明の移送ロボットの概略図である。 本発明の移送ロボットの底面図である。 本発明の移送ロボットの概略図である。
符号の説明
10…クラスターツール又は処理システム、16…プロセスチャンバ、18…基板、100…複数レベルのロードロックチャンバ、102…スリットバルブドア、104…チャンバアクセス蓋、106…スリットバルブドアアクチュエータ、108…流体供給管、110…蓋ロックメカニズム、112…基板リフトピンアクチュエータ、114…基板支持柱、116…チャンバ開口、204…フープ、206、210…基板支持体、218…チャンバ本体、220、222…上部チャンバ、224、226…下部チャンバ、302、308…雄コネクタ、306…蓋、400…移送チャンバ、406、408…雌コネクタ、412…中央空洞、508…スルービーム局部中心ファインダー、510…蓋、512…ロボットアーム、600…移送チャンバ用ロボット、608、616…アームアッセンブリ、602、610…下部ピボットアーム、604、612…上部ピボットアーム

Claims (20)

  1. 一体的チャンバ本体と、
    上記チャンバ本体に横方向に間隔を開けて形成された第1チャンバ及び第2チャンバと、
    上記第1チャンバ及び第2チャンバより低い高さで上記チャンバ本体に横方向に間隔を開けて形成された第3チャンバ及び第4チャンバと、
    を備え、上記第1チャンバ、第2チャンバ、第3チャンバ及び第4チャンバは、互いに環境的に分離され、
    更に、各チャンバに各々配置された基板支持体、
    を備えたロードロックチャンバ。
  2. 上記ロック本体に結合された移送チャンバであって、中央空洞を有する移送本体を含む移送チャンバと、
    上記中央空洞内に配設されたロボットアッセンブリと、
    を更に備えた請求項1に記載のチャンバ。
  3. 上記第1チャンバ及び第2チャンバを選択的にシールする上部スリットバルブドアと、
    上記第3チャンバ及び第4チャンバを選択的にシールする下部スリットバルブドアと、
    を更に備えた請求項1又は2に記載のチャンバ。
  4. 上記上部スリットバルブドアに結合されたアクチュエータであって、上記上部スリットバルブドアを、下降された閉じた位置と、上昇された開いた位置との間で移動するアクチュエータと、
    上記下部スリットバルブドアに結合された第2のアクチュエータであって、上記下部スリットバルブドアを、上昇された閉じた位置と、下降された開いた位置との間で移動する第2のアクチュエータと、
    を更に備えた請求項3に記載のチャンバ。
  5. 上記基板支持体は、更に、ヒーター素子を含む、請求項1又は2に記載のチャンバ。
  6. 上記チャンバ本体に結合されて、上記第1チャンバを選択的にシールする第1の蓋と、
    上記チャンバ本体に結合されて、上記第2チャンバを選択的にシールする第2の蓋と、
    を更に備えた請求項1又は2に記載のチャンバ。
  7. 上記チャンバ本体に結合されて、上記第3チャンバを選択的にシールする第3の蓋と、
    上記チャンバ本体に結合されて、上記第4チャンバを選択的にシールする第4の蓋と、
    を更に備えた請求項6に記載のチャンバ。
  8. 上記第3の蓋及び第4の蓋は、底部から上記第3チャンバ及び第4チャンバにアクセスするためにヒンジにおいて枢着回転する、請求項7に記載のチャンバ。
  9. 上記第3チャンバ及び第4チャンバに配設された複数のリフトピンであって、下降された位置と上昇された位置との間で移動できるリフトピンと、
    上記第1チャンバ及び第2チャンバに配設された基板リフトフープであって、下降された位置と上昇された位置との間で移動できる第1チャンバ及び第2チャンバの基板リフトフープと、
    を更に備えた請求項1又は2に記載のチャンバ。
  10. 上記移送チャンバは、更に、
    上記移送本体を通して上記中央空洞へと形成された2つの開口を有するロードロックチャンバインターフェイスと、
    上記本体に結合された2対のスリットバルブドアであって、上記ロードロックチャンバインターフェイスの各開口に各対が配設された、2対のスリットバルブドアと、
    を更に含む請求項2に記載の装置。
  11. 中央空洞及びロードロックチャンバインターフェイスを有する本体であって、該インターフェイスが、該本体を通して該中央空洞へと形成された2つの開口を含むような本体と、
    上記本体に結合された2対のスリットバルブドアであって、上記ロードロックチャンバインターフェイスの各開口に各対が配設された、2対のスリットバルブドアと、
    上記中央空洞内に配設されたロボットアッセンブリと、
    を備えた移送チャンバ。
  12. 1枚の基板を各々受け入れることができる2つの基板受け入れ延長部を含む少なくとも1つのアームと
    各アームに結合された少なくとも1つの基板受け入れブレードであって、基板の周りにブレードが巻き付くことなく基板がブレードに対してフラットに横たわるよう基板を受け入れる構成とされた少なくとも1つの基板受け入れブレードと、
    を備えたロボットアッセンブリ。
  13. 上記ロボットアッセンブリは2つのアームを含む、請求項12に記載のアッセンブリ。
  14. 上記2つのアームは、個別の平面に横たわり、各々他のアームとは独立して移動する、請求項13に記載のアッセンブリ。
  15. 基板を処理する方法において、
    ロードロックチャンバ本体内に2つの基板を位置付けるステップであって、上記ロードロックチャンバ本体内にある第1及び第2チャンバ内に基板を位置付け、上記第1チャンバ及び第2チャンバは、横方向に間隔を開けて横たわり、上記ロードロックチャンバ本体は、一体的な処理ツールに結合されるようなステップと、
    上記ロードロックチャンバ本体から基板を取り出して、その基板を上記一体的な処理ツールに位置付けるステップと、
    基板を処理するステップと、
    上記ロードロックチャンバ本体内に基板を再位置付けするステップであって、上記ロードロックチャンバ本体内にある第3及び第4チャンバ内に基板を位置付け、これら第3チャンバ及び第4チャンバは、上記第1チャンバ及び第2チャンバより上の高さにおいて横方向に間隔を開けて横たわり、上記第1チャンバ、第2チャンバ、第3チャンバ及び第4チャンバは、互いに環境的に分離されるようなステップと、
    を備えた方法。
  16. 第1チャンバ及び第2チャンバ内に基板を位置付ける上記ステップは、上記第1チャンバ及び第2チャンバにアクセスするためにファクトリインターフェイスドアを開くことを含み、上記第1チャンバ及び第2チャンバには共通のドアが結合され、更に、上記ファクトリインターフェイスドアは、上記ロードロックチャンバ本体の第1の側に配置される、請求項15に記載の方法。
  17. 基板を取り出す上記ステップは、上記第1チャンバ及び第2チャンバに対する移送チャンバドアを開くことを含み、各チャンバは、個別の移送チャンバドアを有し、更に、上記移送チャンバドアは、上記第1の側とは反対のロードロックチャンバ本体の側に位置される、請求項16に記載の方法。
  18. 上記第1チャンバ、第2チャンバ、第3チャンバ及び第4チャンバ内の基板の状態を監視するステップを更に備え、この監視は、透過性チャンバ蓋を通して状態を監視することを含む、請求項15に記載の方法。
  19. 付加的な基板に対して上記位置付け、取り出し、処理、及び再位置付けを繰り返すステップを更に備えた、請求項15に記載の方法。
  20. 付加的な基板に対する上記繰り返しステップは、上記取り出しの後に開始する、請求項19に記載の方法。
JP2009515565A 2006-06-15 2007-06-04 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット Pending JP2009540613A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/424,461 US7695232B2 (en) 2006-06-15 2006-06-15 Multi-level load lock chamber, transfer chamber, and robot suitable for interfacing with same
PCT/US2007/070328 WO2007146643A2 (en) 2006-06-15 2007-06-04 Multi-level load lock chamber, transfer chamber, and robot suitable for interfacing with same

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013051921A Division JP2013141015A (ja) 2006-06-15 2013-03-14 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009540613A true JP2009540613A (ja) 2009-11-19
JP2009540613A5 JP2009540613A5 (ja) 2012-02-09

Family

ID=38832647

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009515565A Pending JP2009540613A (ja) 2006-06-15 2007-06-04 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット
JP2013051921A Withdrawn JP2013141015A (ja) 2006-06-15 2013-03-14 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013051921A Withdrawn JP2013141015A (ja) 2006-06-15 2013-03-14 複数レベルのロードロックチャンバ、移送チャンバ、及びこれにインターフェイスするのに適したロボット

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7695232B2 (ja)
JP (2) JP2009540613A (ja)
KR (1) KR20090007367A (ja)
CN (1) CN101432856B (ja)
TW (1) TWI455225B (ja)
WO (1) WO2007146643A2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012514569A (ja) * 2009-01-11 2012-06-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 電子デバイス製造において基板を搬送するためのロボットシステム、装置、および方法
WO2012098871A1 (ja) * 2011-01-20 2012-07-26 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置
US9033644B2 (en) 2012-07-05 2015-05-19 Applied Materials, Inc. Boom drive apparatus, multi-arm robot apparatus, electronic device processing systems, and methods for transporting substrates in electronic device manufacturing systems with web extending from hub
JP2022091812A (ja) * 2011-09-16 2022-06-21 パーシモン テクノロジーズ コーポレイション ロボット及び無線データカップリング

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009079845A1 (en) * 2007-12-20 2009-07-02 Applied Materials, Inc. Staggered dual proess chambers using one single facet on a transfer module
KR100941934B1 (ko) * 2007-12-28 2010-02-11 주식회사 아토 상하좌우 독립처리영역을 갖는 이중적재 구현 로드락 챔버
WO2010008929A1 (en) * 2008-07-15 2010-01-21 Ulvac, Inc. Work-piece transfer systems and methods
US8440048B2 (en) 2009-01-28 2013-05-14 Asm America, Inc. Load lock having secondary isolation chamber
JP2011077399A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Tokyo Electron Ltd 被処理体の搬送方法及び被処理体処理装置
US8845816B2 (en) 2011-03-01 2014-09-30 Applied Materials, Inc. Method extending the service interval of a gas distribution plate
CN103403852B (zh) 2011-03-01 2016-06-08 应用材料公司 双负载闸配置的消除及剥离处理腔室
WO2012148568A1 (en) 2011-03-01 2012-11-01 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for substrate transfer and radical confinement
US11171008B2 (en) 2011-03-01 2021-11-09 Applied Materials, Inc. Abatement and strip process chamber in a dual load lock configuration
US8992689B2 (en) 2011-03-01 2015-03-31 Applied Materials, Inc. Method for removing halogen-containing residues from substrate
CN102420161A (zh) * 2011-11-23 2012-04-18 北京七星华创电子股份有限公司 一种运送晶圆状物件的装置及方法
WO2013130191A1 (en) 2012-02-29 2013-09-06 Applied Materials, Inc. Abatement and strip process chamber in a load lock configuration
TWM476362U (en) 2012-09-07 2014-04-11 Applied Materials Inc Load lock chamber with slit valve doors
WO2014150260A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Applied Materials, Inc Process load lock apparatus, lift assemblies, electronic device processing systems, and methods of processing substrates in load lock locations
US20150030771A1 (en) * 2013-07-24 2015-01-29 Applied Materials, Inc. Cobalt substrate processing systems, apparatus, and methods
CN104445981A (zh) * 2014-11-10 2015-03-25 芜湖真空科技有限公司 镀膜装置
US10879177B2 (en) * 2015-06-19 2020-12-29 Applied Materials, Inc. PVD deposition and anneal of multi-layer metal-dielectric film
DE202016104588U1 (de) * 2015-09-03 2016-11-30 Veeco Instruments Inc. Mehrkammersystem für chemische Gasphasenabscheidung
JP6285411B2 (ja) * 2015-12-25 2018-02-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム
CN105789091B (zh) * 2016-03-16 2020-04-24 沈阳拓荆科技有限公司 负载腔室及其使用该负载腔室之多腔室处理系统
US10559483B2 (en) * 2016-08-10 2020-02-11 Lam Research Corporation Platform architecture to improve system productivity
US11482434B2 (en) * 2016-10-18 2022-10-25 Belting E-Town Semiconductor Technology Co., Ltd Systems and methods for workpiece processing
US10886155B2 (en) * 2019-01-16 2021-01-05 Applied Materials, Inc. Optical stack deposition and on-board metrology
KR102400603B1 (ko) * 2019-03-29 2022-05-19 삼성에스디아이 주식회사 레지스트 하층막용 조성물 및 이를 이용한 패턴 형성 방법
KR102640172B1 (ko) 2019-07-03 2024-02-23 삼성전자주식회사 기판 처리 장치 및 이의 구동 방법
US20230113673A1 (en) * 2021-10-12 2023-04-13 Applied Materials, Inc. Factory interface robots usable with integrated load locks

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10233423A (ja) * 1997-02-21 1998-09-02 Nikon Corp ロードロック式真空処理装置
JP2002504744A (ja) * 1997-11-28 2002-02-12 マットソン テクノロジイ インコーポレイテッド 真空処理を行う非加工物を、低汚染かつ高処理能力で取扱うためのシステムおよび方法
JP2004221197A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JP2005064213A (ja) * 2003-08-12 2005-03-10 Tokyo Electron Ltd 真空容器

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4047624A (en) * 1975-10-21 1977-09-13 Airco, Inc. Workpiece handling system for vacuum processing
US5563798A (en) * 1994-04-05 1996-10-08 Applied Materials, Inc. Wafer positioning system
KR100310249B1 (ko) * 1995-08-05 2001-12-17 엔도 마코토 기판처리장치
US5830272A (en) * 1995-11-07 1998-11-03 Sputtered Films, Inc. System for and method of providing a controlled deposition on wafers
US6062798A (en) * 1996-06-13 2000-05-16 Brooks Automation, Inc. Multi-level substrate processing apparatus
US5944940A (en) * 1996-07-09 1999-08-31 Gamma Precision Technology, Inc. Wafer transfer system and method of using the same
US5928389A (en) 1996-10-21 1999-07-27 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for priority based scheduling of wafer processing within a multiple chamber semiconductor wafer processing tool
US6152070A (en) 1996-11-18 2000-11-28 Applied Materials, Inc. Tandem process chamber
US6082950A (en) * 1996-11-18 2000-07-04 Applied Materials, Inc. Front end wafer staging with wafer cassette turntables and on-the-fly wafer center finding
KR100234539B1 (ko) 1996-12-24 1999-12-15 윤종용 반도체장치 제조용 식각 장치
US6270582B1 (en) 1997-12-15 2001-08-07 Applied Materials, Inc Single wafer load lock chamber for pre-processing and post-processing wafers in a vacuum processing system
US6340406B1 (en) * 1999-03-24 2002-01-22 Moore North America, Inc. Simple pressure seal units
US6486444B1 (en) * 1999-06-03 2002-11-26 Applied Materials, Inc. Load-lock with external staging area
KR20010002112A (ko) 1999-06-11 2001-01-05 윤종용 에칭설비의 공정챔버
JP4392811B2 (ja) 1999-07-29 2010-01-06 三井造船株式会社 基板のプロセス処理システム
US6949143B1 (en) * 1999-12-15 2005-09-27 Applied Materials, Inc. Dual substrate loadlock process equipment
US20020196201A1 (en) * 2000-06-30 2002-12-26 Rosen Products Llc. Vehicular display system
US6553280B2 (en) * 2000-07-07 2003-04-22 Applied Materials, Inc. Valve/sensor assemblies
WO2002023597A2 (en) * 2000-09-15 2002-03-21 Applied Materials, Inc. Double dual slot load lock for process equipment
US6528427B2 (en) 2001-03-30 2003-03-04 Lam Research Corporation Methods for reducing contamination of semiconductor substrates
US6506994B2 (en) 2001-06-15 2003-01-14 Applied Materials, Inc. Low profile thick film heaters in multi-slot bake chamber
US20020195201A1 (en) 2001-06-25 2002-12-26 Emanuel Beer Apparatus and method for thermally isolating a heat chamber
US6841006B2 (en) 2001-08-23 2005-01-11 Applied Materials, Inc. Atmospheric substrate processing apparatus for depositing multiple layers on a substrate
US7316966B2 (en) 2001-09-21 2008-01-08 Applied Materials, Inc. Method for transferring substrates in a load lock chamber
US20030075915A1 (en) * 2001-10-24 2003-04-24 S.Y. Kim Slide hatch for bulk carrier
US6729824B2 (en) * 2001-12-14 2004-05-04 Applied Materials, Inc. Dual robot processing system
US6962644B2 (en) 2002-03-18 2005-11-08 Applied Materials, Inc. Tandem etch chamber plasma processing system
US7085622B2 (en) 2002-04-19 2006-08-01 Applied Material, Inc. Vision system
US20030213560A1 (en) 2002-05-16 2003-11-20 Yaxin Wang Tandem wafer processing system and process
US6827128B2 (en) * 2002-05-20 2004-12-07 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Flexible microchannel heat exchanger
US7959395B2 (en) * 2002-07-22 2011-06-14 Brooks Automation, Inc. Substrate processing apparatus
US6696367B1 (en) 2002-09-27 2004-02-24 Asm America, Inc. System for the improved handling of wafers within a process tool
US6896387B2 (en) * 2003-05-02 2005-05-24 Gregg A. Renfro Courtesy illumination disk for a cup holder
US6766596B1 (en) * 2003-07-14 2004-07-27 Gemtron Corporation Appliance door or lid
US20050150452A1 (en) 2004-01-14 2005-07-14 Soovo Sen Process kit design for deposition chamber
US20050229849A1 (en) 2004-02-13 2005-10-20 Applied Materials, Inc. High productivity plasma processing chamber
US20050196971A1 (en) 2004-03-05 2005-09-08 Applied Materials, Inc. Hardware development to reduce bevel deposition
KR101071817B1 (ko) * 2004-04-19 2011-10-11 엘지전자 주식회사 건조겸용 드럼세탁기
US7282097B2 (en) * 2004-06-14 2007-10-16 Applied Materials, Inc. Slit valve door seal
US7094442B2 (en) 2004-07-13 2006-08-22 Applied Materials, Inc. Methods for the reduction and elimination of particulate contamination with CVD of amorphous carbon
JP4860167B2 (ja) * 2005-03-30 2012-01-25 東京エレクトロン株式会社 ロードロック装置,処理システム及び処理方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10233423A (ja) * 1997-02-21 1998-09-02 Nikon Corp ロードロック式真空処理装置
JP2002504744A (ja) * 1997-11-28 2002-02-12 マットソン テクノロジイ インコーポレイテッド 真空処理を行う非加工物を、低汚染かつ高処理能力で取扱うためのシステムおよび方法
JP2004221197A (ja) * 2003-01-10 2004-08-05 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JP2005064213A (ja) * 2003-08-12 2005-03-10 Tokyo Electron Ltd 真空容器

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012514569A (ja) * 2009-01-11 2012-06-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 電子デバイス製造において基板を搬送するためのロボットシステム、装置、および方法
US8784033B2 (en) 2009-01-11 2014-07-22 Applied Materials, Inc. Robot systems, apparatus and methods for transporting substrates
US9457464B2 (en) 2009-01-11 2016-10-04 Applied Materials, Inc. Substrate processing systems and robot apparatus for transporting substrates in electronic device manufacturing
WO2012098871A1 (ja) * 2011-01-20 2012-07-26 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置
JP6006643B2 (ja) * 2011-01-20 2016-10-12 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置
JP2022091812A (ja) * 2011-09-16 2022-06-21 パーシモン テクノロジーズ コーポレイション ロボット及び無線データカップリング
US9033644B2 (en) 2012-07-05 2015-05-19 Applied Materials, Inc. Boom drive apparatus, multi-arm robot apparatus, electronic device processing systems, and methods for transporting substrates in electronic device manufacturing systems with web extending from hub

Also Published As

Publication number Publication date
US7997851B2 (en) 2011-08-16
WO2007146643A2 (en) 2007-12-21
US7695232B2 (en) 2010-04-13
CN101432856B (zh) 2012-05-30
US20070292244A1 (en) 2007-12-20
WO2007146643A3 (en) 2008-10-23
CN101432856A (zh) 2009-05-13
US20090092466A1 (en) 2009-04-09
KR20090007367A (ko) 2009-01-16
TW200807608A (en) 2008-02-01
TWI455225B (zh) 2014-10-01
JP2013141015A (ja) 2013-07-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7695232B2 (en) Multi-level load lock chamber, transfer chamber, and robot suitable for interfacing with same
US6877946B2 (en) Wafer transport apparatus
JP4912253B2 (ja) 基板搬送装置、基板処理装置及び基板搬送方法
US8033769B2 (en) Loadlock designs and methods for using same
US7651315B2 (en) Large area substrate transferring method for aligning with horizontal actuation of lever arm
US6000227A (en) Wafer cooling in a transfer chamber of a vacuum processing system
EP1166180B1 (en) Semiconductor wafer processing system with vertically-stacked process chambers and single-axis dual-wafer transfer system
US20170114456A1 (en) Apparatus and method for treating a substrate
US9412634B2 (en) Atmosphere replacement apparatus, substrate transport apparatus, substrate transport system, and EFEM
TW201319294A (zh) 適合處理在多層中之基板的機器人系統、設備及方法
US11688619B2 (en) Vacuum processing apparatus and substrate transfer method
US9145611B2 (en) Load lock chamber with slit valve doors
KR20180111592A (ko) 기판 처리 장치
US20220213594A1 (en) Process module, substrate processing system, and processing method
WO2017209881A1 (en) Dodecadon transfer chamber and processing system having the same
US20220230896A1 (en) Substrate processing apparatus
KR20070109298A (ko) 반도체 제조 장치 및 이를 이용한 반도체 기판의 이송 방법
JP2005277049A (ja) 熱処理システム及び熱処理方法
KR100807600B1 (ko) 반도체 자재 예열 기능을 갖는 인덱서
KR100843103B1 (ko) 반도체공정장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100527

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20101130

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101210

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111216

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20111216

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20111226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120418

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120717

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120724

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120814

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120925

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121120

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130314

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130322