JP2009503826A - マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ - Google Patents
マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009503826A JP2009503826A JP2008523209A JP2008523209A JP2009503826A JP 2009503826 A JP2009503826 A JP 2009503826A JP 2008523209 A JP2008523209 A JP 2008523209A JP 2008523209 A JP2008523209 A JP 2008523209A JP 2009503826 A JP2009503826 A JP 2009503826A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- projection objective
- projection
- actuator
- objective according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 title claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 224
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 110
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 55
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 33
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 24
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 12
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 9
- 238000007654 immersion Methods 0.000 claims description 8
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 15
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 12
- 230000003190 augmentative effect Effects 0.000 description 10
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 10
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 10
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229910001868 water Inorganic materials 0.000 description 4
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000011067 equilibration Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 206010010071 Coma Diseases 0.000 description 1
- 206010073261 Ovarian theca cell tumour Diseases 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001447 compensatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000011038 discontinuous diafiltration by volume reduction Methods 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 208000001644 thecoma Diseases 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
- G02B27/0068—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration having means for controlling the degree of correction, e.g. using phase modulators, movable elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/12—Fluid-filled or evacuated lenses
- G02B3/14—Fluid-filled or evacuated lenses of variable focal length
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70258—Projection system adjustments, e.g. adjustments during exposure or alignment during assembly of projection system
- G03F7/70266—Adaptive optics, e.g. deformable optical elements for wavefront control, e.g. for aberration adjustment or correction
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70808—Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
- G03F7/70825—Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
Abstract
Description
a)屈折形式の第1の光学素子と、
b)第2の光学素子と、
c)第1の光学素子と第2の光学素子との間に形成された間隙と、
d)間隙を満たしている液体と、
e)少なくとも1個のアクチュエータの動作が第1の光学素子の回転非対称変形を生じるように第1の光学素子と結合された少なくとも1個のアクチュエータとを備える。
Claims (49)
- 回転非対称結像誤差を低減させるためのマニピュレータ(M1〜M11)を備えるマイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズであって、マニピュレータは、
a)屈折形式の第1の光学素子(52;252;352、452;552;652;752;852;950;1052;1152)と、
b)第2の光学素子(50;250;350;550;650;750;850;950;1050;1150)と、
c)第1の光学素子と第2の光学素子との間に形成された間隙(54;254;354;554;654;754;854;954’;1054)と、
d)間隙を満たしている液体(62;62’)と、
e)アクチュエータの動作が第1の光学素子の回転非対称変形を生じるように第1の光学素子と結合されたアクチュエータ(711〜718;2711、2712;3711〜3718;471;571;671;7711〜7718;8711〜8714;9711〜9714;10711〜10715;11711〜11715)とを備える、投影対物レンズ。 - 第1の光学素子は平行平面板(52;352;552;652;752)である請求項1に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子はメニスカスレンズ(252;852;1152)である請求項1に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子は膜(850)である請求項1に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(52)の屈折率と液体(62)の屈折率との比率は0.9ないし1.1である請求項1〜4のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(52)の屈折率と液体(62)の屈折率との比率は0.99ないし1.01である請求項5に記載の投影対物レンズ。
- 間隙(54)は投影対物レンズの光軸に沿った方向で1mm未満の最大厚さを有する上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 最大厚さは2μm未満である請求項7に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(52)の変形は、m=2、3、4、…によるm回対称性又は複数のm回対称性の重ね合せを有する上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(52)に曲げモーメントを行使するように構成されている少なくとも2個のアクチュエータ(711〜718)を備える上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 少なくとも2個のアクチュエータ(711〜718)は第1の光学素子(52)の円周に沿って配置されている請求項10に記載の投影対物レンズ。
- アクチュエータ(711〜718)は第1の光学素子(52)の少なくとも2つの変形が異なるm回対称性を持って生成されるように構成されている請求項10又は11に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子は反射形式のものである上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子(50;250;350;550;650;750;850;950;1050;1150)は屈折形式のものである請求項1〜12のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子はメニスカスレンズ(250)又は平行平面板(50;350;550;650;750;950;1150)である請求項14に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子(250;750;850;950)の変形を生成するためにもっぱら第2の光学素子(250;750;850;950)だけに作用する第2のアクチュエータ(2711、2712;7711’〜7718’;8711’〜8714’;9711〜9714)を備える上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子(250;750;850;950)の変形は回転非対称である請求項16に記載の投影対物レンズ。
- 第2の光学素子(250;750;850;950)の変形は回転対称である請求項16に記載の投影対物レンズ。
- 液浸空間における液体(62;62’)の一定圧力を維持するための圧力平衡装置(66、68;66’、68’)を備える上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(52)は瞳平面(32)に、又はそのごく近傍に配置されている、上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- アクチュエータ(3711〜3718;471)は第1の光学素子(352;452)の前面又は背面(372;472)に設けられており、アクチュエータ(3711〜3718;471)は、表面(372;472)に対し少なくとも実質的に接線方向である方向に沿って圧縮力及び/又は引張り力を第1の光学素子(352;452)で発生させるように構成されている上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- アクチュエータ(3711〜3718;471)は表面に施された層によって形成されており、前記層は少なくとも1つの方向に沿って可変の寸法を有する請求項21に記載の投影対物レンズ。
- 層は圧電性材料によって形成される請求項22に記載の投影対物レンズ。
- 層は第1の光学素子の熱膨張係数と異なる熱膨張係数を有する材料によって形成される請求項22に記載の投影対物レンズ。
- 層の温度を制御可能に変化させる装置を備える請求項24に記載の投影対物レンズ。
- 装置は放射を層上に指向させるように構成されている請求項25に記載の投影対物レンズ。
- 装置は電圧を層に印加するように構成されている請求項25に記載の投影対物レンズ。
- 複数の層(3711〜3718)はリングセグメントの形状を有しており、前記リングセグメントが投影対物レンズ(20)の光軸(OA)に関して中心に位置する円形リングを形成する請求項22〜27のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- リングセグメントは隙間によって離間されている請求項28に記載の投影対物レンズ。
- 複数のアクチュエータ(471)が、投影光が伝播する領域内の表面(472)にわたって分散されている請求項21〜29のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 複数のアクチュエータは投影光の波長で少なくとも実質的に透明である請求項30に記載の投影対物レンズ。
- 複数のアクチュエータは投影光の波長で不透明であり、マニピュレータは投影対物レンズの瞳平面に、又はそのごく近傍に配置されている請求項30に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(352)の前面又は背面(364)に締結されたセンサ(380)を備えており、センサ(3870)はアクチュエータ(3711〜3718)によって生成された第1の光学素子(352)の変形を測定するように構成されている上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- センサ(380)は、第1の光学素子(352)の変形によってセンサで生成された圧縮力及び/又は引張り力の量に応じた出力信号を生成するように構成されている請求項33に記載の投影対物レンズ。
- 複数のアクチュエータ(671)が、液体(62)と接触している表面(664)の反対側にある第1の光学素子(652)の表面(672)の、投影光が通ることができる領域にわたって分散されている上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 複数のアクチュエータ(671)が載る屈折形式のさらなる光学素子(688)を備える請求項35に記載の投影対物レンズ。
- a)第2の光学素子(86;986)と第3の光学素子(850;952)はともに屈折形式のものであり、第2の光学素子(86;986)と第3の光学素子(850;952)との間に形成されたさらなる間隙(854’;954)と、
b)第3の光学素子(850;952)を変形させるための手段(8711’〜8714’;960)とを備える上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。 - 液体(62、62’)の圧力を変化させるための装置(860、860’;960;1160)を備える上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(952)はその非変形状態において回転非対称である形状を有する上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(952)はその非変形状態において回転非対称である厚さ分布を有する請求項39に記載の投影対物レンズ。
- 第1の光学素子(952)は、液体(62)と接触しており回転非対称の形状を有する第1の表面(964)及び、第1の表面(964)の反対側に第2の表面(972)を有しており、第2の表面(972)は回転対称の形状を有する請求項40に記載の投影対物レンズ。
- 結像誤差を低減させるためのマニピュレータ(M3)を備えるマイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズであって、マニピュレータ(M3)は、
a)屈折形式の可変形光学素子(352)と、
b)アクチュエータの動作が光学素子の変形を生じるように光学素子と結合されたアクチュエータ(3711〜3718)とを備えており、
アクチュエータは光学素子の前面(364)又は背面(372)に設けられており、
アクチュエータ(3711〜3718)は、表面に対し少なくとも実質的に接線方向である方向に沿って圧縮力及び/又は引張り力を光学素子で発生させるように構成されている、投影対物レンズ。 - 結像誤差を低減させるためのマニピュレータ(M9)を備えるマイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズであって、マニピュレータは、
a)非変形状態において回転非対称である厚さ分布を有している屈折形式の第1の光学素子(952)と、
b)第2の光学素子(986)と、
c)第1の光学素子(952)と第2の光学素子(986)との間に形成された間隙(954)と、
d)間隙を満たしている流体(62)と、
e)第1の光学素子を変形させるための手段(960)とを備える、投影対物レンズ。 - 上記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズを備える投影露光装置。
- a)少なくとも1個のアクチュエータを駆動するためのコントローラ(36)と、
b)結像誤差を決定するためにコントローラ(36)と接続されたセンサ装置(44)とを備える請求項44に記載の投影露光装置。 - センサ装置は、投影対物レンズ(20)の像平面(28)又はそれと共役な視野平面内で位置決め可能であるCCDセンサ(44)を備える請求項45に記載の投影露光装置。
- マニピュレータ(M1〜M11)、コントローラ(34)とセンサ装置(44)は閉じたフィードバックループを形成する請求項45又は46に記載の投影露光装置。
- 微細構造構成要素のマイクロリソグラフィ製造のための方法であって、
a)請求項44〜47のいずれか1項に記載の投影露光装置(10)を設けるステップと、
b)投影対物レンズ(20)の物体平面(22)にマスク(24)を配置するステップと、
c)投影対物レンズ(20)の像平面(28)に配置された感光層(26)上にマスクを投影するステップとを備える、方法。 - 請求項48の方法に従って製造される微細構造装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US70213705P | 2005-07-25 | 2005-07-25 | |
US60/702,137 | 2005-07-25 | ||
PCT/EP2006/007273 WO2007017089A1 (en) | 2005-07-25 | 2006-07-24 | Projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009503826A true JP2009503826A (ja) | 2009-01-29 |
JP2009503826A5 JP2009503826A5 (ja) | 2009-07-02 |
JP5069232B2 JP5069232B2 (ja) | 2012-11-07 |
Family
ID=37309529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008523209A Expired - Fee Related JP5069232B2 (ja) | 2005-07-25 | 2006-07-24 | マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7830611B2 (ja) |
JP (1) | JP5069232B2 (ja) |
WO (1) | WO2007017089A1 (ja) |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007329457A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-12-20 | Asml Netherlands Bv | 収差補正光学エレメントおよびこれを備えたリソグラフィ装置 |
JP2010527796A (ja) * | 2007-05-21 | 2010-08-19 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | 電子部品基板をスクライブするために使用されるレーザレンズの流体式釣合い装置 |
JP2010533370A (ja) * | 2007-07-23 | 2010-10-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム |
JP2011135076A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Asml Netherlands Bv | アクティブマウント、アクティブマウントを備えるリソグラフィ装置、およびアクティブマウントを調整する方法 |
JP2012248849A (ja) * | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 照明光学ユニットを設定する方法及び装置 |
JP2013504779A (ja) * | 2009-09-15 | 2013-02-07 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 連続冠形状圧電作動変形可能ダイアフラムを有する光学デバイス |
JP2014509071A (ja) * | 2011-01-20 | 2014-04-10 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光ツールを作動させる方法 |
JP2014518011A (ja) * | 2011-05-05 | 2014-07-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 測定装置を備えた光学モジュール |
JP2015070214A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | キヤノン株式会社 | 光学装置、投影光学系、露光装置および物品の製造方法 |
JP2015513121A (ja) * | 2012-03-27 | 2015-04-30 | アドレンズ リミテッド | 変形可能な非円形膜アセンブリの改良または同アセンブリに関する改良 |
JP2015516592A (ja) * | 2012-03-27 | 2015-06-11 | アドレンズ リミテッド | 変形可能膜アセンブリの改良および同アセンブリに関する改良 |
JP2016510142A (ja) * | 2013-03-13 | 2016-04-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 波面マニピュレータを有する投影レンズ |
JP2016516213A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-02 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 高度に柔軟なマニピュレータを有する投影露光装置 |
US9651872B2 (en) | 2013-03-13 | 2017-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection lens with wavefront manipulator |
JP2017518527A (ja) * | 2014-05-14 | 2017-07-06 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ニアフィールドマニピュレータを有する投影露光装置 |
Families Citing this family (69)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7646544B2 (en) * | 2005-05-14 | 2010-01-12 | Batchko Robert G | Fluidic optical devices |
EP3232270A3 (en) * | 2005-05-12 | 2017-12-13 | Nikon Corporation | Projection optical system, exposure apparatus, and exposure method |
US7697214B2 (en) | 2005-05-14 | 2010-04-13 | Holochip Corporation | Fluidic lens with manually-adjustable focus |
US7948683B2 (en) * | 2006-05-14 | 2011-05-24 | Holochip Corporation | Fluidic lens with manually-adjustable focus |
US8064142B2 (en) | 2005-05-14 | 2011-11-22 | Holochip Corporation | Fluidic lens with reduced optical aberration |
JP5069232B2 (ja) * | 2005-07-25 | 2012-11-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ |
NO326372B1 (no) | 2006-09-21 | 2008-11-17 | Polight As | Polymerlinse |
US8045280B2 (en) | 2006-10-11 | 2011-10-25 | Polight As | Compact adjustable lens |
JP5255565B2 (ja) | 2006-10-11 | 2013-08-07 | ポライト エイエス | 調整可能なレンズの製造方法 |
CN101589342A (zh) | 2007-01-22 | 2009-11-25 | 卡尔蔡司Smt股份公司 | 改善光学系统成像特性的方法以及光学系统 |
EP2115500B1 (en) * | 2007-02-12 | 2011-11-16 | Polight AS | Flexible lens assembly with variable focal length |
FR2919073B1 (fr) | 2007-07-19 | 2010-10-15 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif optique a moyens d'actionnement d'une membrane deformable compacts |
KR101428136B1 (ko) * | 2007-08-03 | 2014-08-07 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피용 투사 대물렌즈, 투사 노광 장치, 투사 노광 방법 및 광학 보정 플레이트 |
EP2048540A1 (en) | 2007-10-09 | 2009-04-15 | Carl Zeiss SMT AG | Microlithographic projection exposure apparatus |
JP5006762B2 (ja) * | 2007-11-05 | 2012-08-22 | キヤノン株式会社 | 露光装置及びデバイス製造方法 |
WO2010005315A1 (en) | 2008-07-11 | 2010-01-14 | Polight As | A method and arrangement for reducing thermal effects in compact adjustable optical lenses |
DE102008032853A1 (de) * | 2008-07-14 | 2010-01-21 | Carl Zeiss Smt Ag | Optische Einrichtung mit einem deformierbaren optischen Element |
JPWO2010024106A1 (ja) | 2008-08-28 | 2012-01-26 | 株式会社ニコン | 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
DE102008042356A1 (de) | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsbelichtungsanlage mit optimierter Justagemöglichkeit |
DE102008049616B4 (de) | 2008-09-30 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie zur Herstellung von Halbleiterbauelementen |
US8699141B2 (en) | 2009-03-13 | 2014-04-15 | Knowles Electronics, Llc | Lens assembly apparatus and method |
US8659835B2 (en) * | 2009-03-13 | 2014-02-25 | Optotune Ag | Lens systems and method |
US9164202B2 (en) | 2010-02-16 | 2015-10-20 | Holochip Corporation | Adaptive optical devices with controllable focal power and aspheric shape |
KR101680300B1 (ko) | 2009-08-31 | 2016-11-28 | 삼성전자주식회사 | 액체 렌즈 및 그 제조방법 |
KR101675130B1 (ko) | 2009-09-03 | 2016-11-10 | 삼성전자주식회사 | 액체 렌즈 |
FR2950153B1 (fr) | 2009-09-15 | 2011-12-23 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif optique a membrane deformable a actionnement piezoelectrique |
DE102009045163B4 (de) | 2009-09-30 | 2017-04-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102010001551A1 (de) * | 2010-02-03 | 2011-08-04 | TRUMPF Laser- und Systemtechnik GmbH, 71254 | Adaptive Linse |
JP5478773B2 (ja) | 2010-03-26 | 2014-04-23 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学系、露光装置、及び波面補正方法 |
WO2011139283A1 (en) * | 2010-05-07 | 2011-11-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Telecentric optical assembly |
US9036264B2 (en) * | 2010-08-12 | 2015-05-19 | Adlens Beacon, Inc. | Fluid-filled lenses and their ophthalmic applications |
KR101912092B1 (ko) | 2010-10-05 | 2018-10-26 | 삼성전자 주식회사 | 액체 렌즈 |
KR101912093B1 (ko) | 2010-10-29 | 2018-10-26 | 삼성전자 주식회사 | 광학 장치 |
WO2012123000A1 (en) | 2011-03-15 | 2012-09-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method of operating a microlithographic projection exposure apparatus |
KR101693950B1 (ko) | 2011-09-29 | 2017-01-06 | 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 | 마이크로리소그래피 투영 노광 장치의 투영 대물 렌즈 |
JP5861973B2 (ja) | 2012-02-04 | 2016-02-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置を作動させる方法及びそのような装置の投影対物系 |
WO2013156041A1 (en) | 2012-04-18 | 2013-10-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | A microlithographic apparatus and a method of changing an optical wavefront in an objective of such an apparatus |
US9529269B2 (en) * | 2012-05-24 | 2016-12-27 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
WO2014117791A1 (en) | 2013-02-01 | 2014-08-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Microlithographic projection exposure apparatus and method of operating same |
JP6236095B2 (ja) | 2013-03-13 | 2017-11-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ装置 |
US9298102B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection lens with wavefront manipulator |
KR101668984B1 (ko) | 2013-09-14 | 2016-10-24 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래피 투영 장치의 동작 방법 |
DE102014209160A1 (de) * | 2014-05-14 | 2015-11-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul |
DE102014209147A1 (de) * | 2014-05-14 | 2015-11-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul |
DE102014209150A1 (de) * | 2014-05-14 | 2015-07-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul |
DE102014209149A1 (de) * | 2014-05-14 | 2015-10-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul |
DE102014209151A1 (de) * | 2014-05-14 | 2015-07-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Modul |
DE102014212711A1 (de) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Plattenförmiges optisches Element, optischer Manipulator, Projektionsobjektiv und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014212710A1 (de) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optischer Manipulator, Projektionsobjektiv und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014218474A1 (de) * | 2014-09-15 | 2016-03-17 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsobjektiv, Projektionsbelichtungsanlage und Projektionsbelichtungsverfahren für die EUV-Mikrolithographie |
WO2016134862A1 (en) * | 2015-02-24 | 2016-09-01 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, manipulator system and method of controlling curvature of a focal plane |
DE102015209051B4 (de) * | 2015-05-18 | 2018-08-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsobjektiv mit Wellenfrontmanipulator sowie Projektionsbelichtungsverfahren und Projektionsbelichtungsanlage |
DE102017203304A1 (de) * | 2016-03-17 | 2017-09-21 | Sony Corporation | Linsenstack auf waferebene, optisches system, elektronische einrichtung und verfahren |
DE102016218744A1 (de) | 2016-09-28 | 2018-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage mit Flüssigkeitsschicht zur Wellenfrontkorrektur |
DE102016221878A1 (de) | 2016-11-08 | 2017-11-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und deren Komponenten sowie Herstellungsverfahren derartiger Komponenten |
GB201800930D0 (en) | 2018-01-19 | 2018-03-07 | Adlens Ltd | Improvements in or relating to variable focusing power optical devices |
DE102018202687A1 (de) | 2018-02-22 | 2018-05-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Herstellungsverfahren für Komponenten einer Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie und Projektionsbelichtungsanlage |
US11378806B1 (en) * | 2018-12-07 | 2022-07-05 | Facebook Technologies, Llc | Multi-element electromechanical actuation mechanism for asymmetric optical applications |
DE102019201509A1 (de) * | 2019-02-06 | 2020-08-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abstützung eines optischen Elements |
US11635637B1 (en) | 2019-05-16 | 2023-04-25 | Meta Platforms Technologies, Llc | Fluid lens with low energy membrane adjustment |
US11867927B1 (en) | 2019-05-16 | 2024-01-09 | Meta Platforms Technologies, Llc | Modified membranes for fluid lenses |
US11333803B2 (en) | 2019-05-16 | 2022-05-17 | Facebook Technologies, Llc | Fluid lens with low energy membrane adjustment |
US11719960B1 (en) | 2019-05-16 | 2023-08-08 | Meta Platforms Technologies, Llc | Gravity sag compensation in fluid-filled lenses |
US11561415B1 (en) | 2019-05-16 | 2023-01-24 | Meta Platforms Technologies, Llc | Moving guide actuation of fluid lenses |
WO2021018499A1 (en) * | 2019-07-29 | 2021-02-04 | Asml Netherlands B.V. | Thermo-mechanical actuator |
US11506825B1 (en) | 2019-10-24 | 2022-11-22 | Meta Platforms, Inc. | Elastomer based flexures for fluid lenses |
US11703616B2 (en) | 2019-11-05 | 2023-07-18 | Meta Platforms Technologies, Llc | Fluid lens with low gas content fluid |
US11740391B1 (en) | 2020-12-31 | 2023-08-29 | Meta Platforms Technologies, Llc | Fluid lens operational feedback using sensor signal |
DE102021205368A1 (de) * | 2021-05-27 | 2022-12-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente für eine Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithografie und Verfahren zur Auslegung der Komponente |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11505335A (ja) * | 1995-05-12 | 1999-05-18 | エー. シャチャール,ロナルド | レンズの赤道直径の微少な変化による可変焦点レンズ |
JP2001217189A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-08-10 | Carl Zeiss:Fa | 光学システム |
JP2002519843A (ja) * | 1998-06-20 | 2002-07-02 | カール・ツアイス・スティフツング・トレーディング・アズ・カール・ツアイス | 光学系、特にマイクロリソグラフィの投影露光装置 |
JP2003029150A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Olympus Optical Co Ltd | 光学特性可変光学素子を含む光学系及び光学装置 |
JP2003114309A (ja) * | 2001-10-05 | 2003-04-18 | Omron Corp | 焦点可変レンズ装置 |
Family Cites Families (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4289379A (en) * | 1977-04-27 | 1981-09-15 | Quantel S.A. | Optical system having a variable focal length |
GB2183059B (en) * | 1985-11-05 | 1989-09-27 | Michel Treisman | Suspension system for a flexible optical membrane |
US4825247A (en) * | 1987-02-16 | 1989-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection exposure apparatus |
IL83179A0 (en) * | 1987-07-14 | 1987-12-31 | Daniel Barnea | Variable lens |
US5523193A (en) * | 1988-05-31 | 1996-06-04 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for patterning and imaging member |
JP2679195B2 (ja) * | 1988-12-21 | 1997-11-19 | 株式会社ニコン | 投影露光装置 |
JP2938568B2 (ja) * | 1990-05-02 | 1999-08-23 | フラウンホファー・ゲゼルシャフト・ツール・フォルデルング・デル・アンゲバンテン・フォルシュング・アインゲトラーゲネル・フェライン | 照明装置 |
JP3021142B2 (ja) * | 1990-11-28 | 2000-03-15 | キヤノン株式会社 | 光学素子、映像安定化装置及び光学装置 |
US5229872A (en) * | 1992-01-21 | 1993-07-20 | Hughes Aircraft Company | Exposure device including an electrically aligned electronic mask for micropatterning |
JP3368091B2 (ja) * | 1994-04-22 | 2003-01-20 | キヤノン株式会社 | 投影露光装置及びデバイスの製造方法 |
JPH085942A (ja) | 1994-06-16 | 1996-01-12 | Canon Inc | 可変頂角プリズム装置 |
JP3480071B2 (ja) | 1994-10-13 | 2003-12-15 | 株式会社デンソー | 可変焦点レンズ |
US5684637A (en) * | 1995-07-19 | 1997-11-04 | Floyd; Johnnie E. | Fluid filled and pressurized lens with flexible optical boundary having variable focal length |
JP3526042B2 (ja) | 1995-08-09 | 2004-05-10 | 株式会社ニコン | 投影露光装置 |
EP0851304B1 (en) | 1996-12-28 | 2004-03-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection exposure apparatus and device manufacturing method |
SE511727C2 (sv) | 1998-02-17 | 1999-11-15 | Haakan Bonds | Anordning innefattande en optisk kropp |
US6437925B1 (en) * | 1998-06-30 | 2002-08-20 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical apparatus |
JP2000058436A (ja) | 1998-08-11 | 2000-02-25 | Nikon Corp | 投影露光装置及び露光方法 |
DE19859634A1 (de) * | 1998-12-23 | 2000-06-29 | Zeiss Carl Fa | Optisches System, insbesondere Projektionsbelichtungsanlage der Mikrolithographie |
JP2001013306A (ja) | 1999-06-28 | 2001-01-19 | Canon Inc | 可変焦点レンズ装置 |
JP4532647B2 (ja) | 2000-02-23 | 2010-08-25 | キヤノン株式会社 | 露光装置 |
TW550377B (en) * | 2000-02-23 | 2003-09-01 | Zeiss Stiftung | Apparatus for wave-front detection |
DE10119861A1 (de) * | 2000-05-04 | 2001-11-08 | Zeiss Carl | Projektionsobjektiv, insbesondere für die Mikrolithographie |
JP2002131513A (ja) | 2000-10-27 | 2002-05-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 焦点距離可変レンズ |
EP1231515B1 (en) | 2001-02-08 | 2008-11-05 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US6666559B2 (en) * | 2001-04-17 | 2003-12-23 | Olympus Optical Co., Ltd. | Variable-profile optical device including variable-profile mirror and optical element including variable-profile optical element |
DE10140608A1 (de) * | 2001-08-18 | 2003-03-06 | Zeiss Carl | Vorrichtung zur Justage eines optischen Elements |
DE10225266A1 (de) * | 2001-12-19 | 2003-07-03 | Zeiss Carl Smt Ag | Abbildungseinrichtung in einer Projektionsbelichtungsanlage |
JP2003257052A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-12 | Sony Corp | 露光装置、露光方法、記録および/または再生装置ならびに記録および/または再生方法 |
WO2004036316A1 (en) * | 2002-10-15 | 2004-04-29 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical arrangement and method of specifying and performing a deformation of an optical surface of an optical element being part of the optical arrangement |
JPWO2005022614A1 (ja) * | 2003-08-28 | 2007-11-01 | 株式会社ニコン | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
US20060018045A1 (en) * | 2003-10-23 | 2006-01-26 | Carl Zeiss Smt Ag | Mirror arrangement and method of manufacturing thereof, optical system and lithographic method of manufacturing a miniaturized device |
KR101200654B1 (ko) | 2003-12-15 | 2012-11-12 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 고 개구율 및 평평한 단부면을 가진 투사 대물렌즈 |
US7466489B2 (en) * | 2003-12-15 | 2008-12-16 | Susanne Beder | Projection objective having a high aperture and a planar end surface |
WO2005059654A1 (en) | 2003-12-15 | 2005-06-30 | Carl Zeiss Smt Ag | Objective as a microlithography projection objective with at least one liquid lens |
EP1706793B1 (en) * | 2004-01-20 | 2010-03-03 | Carl Zeiss SMT AG | Exposure apparatus and measuring device for a projection lens |
EP1723467A2 (en) | 2004-02-03 | 2006-11-22 | Rochester Institute of Technology | Method of photolithography using a fluid and a system thereof |
JP2007522508A (ja) * | 2004-02-13 | 2007-08-09 | カール・ツアイス・エスエムテイ・アーゲー | マイクロリソグラフィック投影露光装置のための投影対物レンズ |
JP4980922B2 (ja) | 2004-11-18 | 2012-07-18 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置及びマイクロリソグラフィ投影露光装置の像面湾曲を修正するための方法 |
TWI454731B (zh) | 2005-05-27 | 2014-10-01 | Zeiss Carl Smt Gmbh | 用於改進投影物鏡的成像性質之方法以及該投影物鏡 |
JP5069232B2 (ja) * | 2005-07-25 | 2012-11-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ |
-
2006
- 2006-07-24 JP JP2008523209A patent/JP5069232B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-07-24 WO PCT/EP2006/007273 patent/WO2007017089A1/en active Application Filing
-
2008
- 2008-01-09 US US11/971,328 patent/US7830611B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-10-01 US US12/896,128 patent/US7990622B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11505335A (ja) * | 1995-05-12 | 1999-05-18 | エー. シャチャール,ロナルド | レンズの赤道直径の微少な変化による可変焦点レンズ |
JP2002519843A (ja) * | 1998-06-20 | 2002-07-02 | カール・ツアイス・スティフツング・トレーディング・アズ・カール・ツアイス | 光学系、特にマイクロリソグラフィの投影露光装置 |
JP2001217189A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-08-10 | Carl Zeiss:Fa | 光学システム |
JP2003029150A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-29 | Olympus Optical Co Ltd | 光学特性可変光学素子を含む光学系及び光学装置 |
JP2003114309A (ja) * | 2001-10-05 | 2003-04-18 | Omron Corp | 焦点可変レンズ装置 |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4639357B2 (ja) * | 2006-04-25 | 2011-02-23 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 収差補正光学エレメントおよびこれを備えたリソグラフィ装置 |
JP2007329457A (ja) * | 2006-04-25 | 2007-12-20 | Asml Netherlands Bv | 収差補正光学エレメントおよびこれを備えたリソグラフィ装置 |
JP2010527796A (ja) * | 2007-05-21 | 2010-08-19 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | 電子部品基板をスクライブするために使用されるレーザレンズの流体式釣合い装置 |
JP2010533370A (ja) * | 2007-07-23 | 2010-10-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム |
US8294991B2 (en) | 2007-07-23 | 2012-10-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Interference systems for microlithgraphic projection exposure systems |
JP2013504779A (ja) * | 2009-09-15 | 2013-02-07 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | 連続冠形状圧電作動変形可能ダイアフラムを有する光学デバイス |
JP2018156114A (ja) * | 2009-09-15 | 2018-10-04 | ウェブスター キャピタル エルエルシーWebster Capital Llc | 連続冠状部形成圧電作動変形可能メンブレンを有する光学デバイス |
US8717532B2 (en) | 2009-12-22 | 2014-05-06 | Asml Netherlands B.V. | Active mount, lithographic apparatus comprising such active mount and method for tuning such active mount |
JP2011135076A (ja) * | 2009-12-22 | 2011-07-07 | Asml Netherlands Bv | アクティブマウント、アクティブマウントを備えるリソグラフィ装置、およびアクティブマウントを調整する方法 |
JP2014509071A (ja) * | 2011-01-20 | 2014-04-10 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光ツールを作動させる方法 |
US9442381B2 (en) | 2011-01-20 | 2016-09-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method of operating a projection exposure tool for microlithography |
US10241423B2 (en) | 2011-01-20 | 2019-03-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Method of operating a projection exposure tool for microlithography |
JP2014518011A (ja) * | 2011-05-05 | 2014-07-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 測定装置を備えた光学モジュール |
JP2012248849A (ja) * | 2011-05-25 | 2012-12-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 照明光学ユニットを設定する方法及び装置 |
JP2015513121A (ja) * | 2012-03-27 | 2015-04-30 | アドレンズ リミテッド | 変形可能な非円形膜アセンブリの改良または同アセンブリに関する改良 |
US9709824B2 (en) | 2012-03-27 | 2017-07-18 | Adlens Ltd. | Deformable non-round membrane assemblies |
JP2017194692A (ja) * | 2012-03-27 | 2017-10-26 | アドレンズ リミテッドAdlens Limited | 変形可能な非円形膜アセンブリの改良または同アセンブリに関する改良 |
JP2015516592A (ja) * | 2012-03-27 | 2015-06-11 | アドレンズ リミテッド | 変形可能膜アセンブリの改良および同アセンブリに関する改良 |
US10823981B2 (en) | 2012-03-27 | 2020-11-03 | Adlens Ltd. | Deformable non-round membrane assemblies |
JP2016510142A (ja) * | 2013-03-13 | 2016-04-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 波面マニピュレータを有する投影レンズ |
US9651872B2 (en) | 2013-03-13 | 2017-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection lens with wavefront manipulator |
JP2016516213A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-02 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 高度に柔軟なマニピュレータを有する投影露光装置 |
US10261425B2 (en) | 2013-03-15 | 2019-04-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection exposure apparatus with a highly flexible manipulator |
JP2015070214A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | キヤノン株式会社 | 光学装置、投影光学系、露光装置および物品の製造方法 |
JP2017518527A (ja) * | 2014-05-14 | 2017-07-06 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ニアフィールドマニピュレータを有する投影露光装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20110019169A1 (en) | 2011-01-27 |
US7990622B2 (en) | 2011-08-02 |
US20080239503A1 (en) | 2008-10-02 |
JP5069232B2 (ja) | 2012-11-07 |
WO2007017089A1 (en) | 2007-02-15 |
US7830611B2 (en) | 2010-11-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5069232B2 (ja) | マイクロリソグラフィ投影露光装置の投影対物レンズ | |
US8773638B2 (en) | Microlithographic projection exposure apparatus with correction optical system that heats projection objective element | |
JP5684412B2 (ja) | 瞳ミラーを有する反射屈折投影対物器械、投影露光装置及び方法 | |
JP5224218B2 (ja) | マイクロリソグラフィ投影露光装置の光学システム | |
JP4639357B2 (ja) | 収差補正光学エレメントおよびこれを備えたリソグラフィ装置 | |
US20080212183A1 (en) | Lithographic apparatus, aberration correction device and device manufacturing method | |
JP5861973B2 (ja) | マイクロリソグラフィ投影露光装置を作動させる方法及びそのような装置の投影対物系 | |
JP6147924B2 (ja) | マイクロリソグラフィ投影装置を作動させる方法 | |
KR20080047993A (ko) | 리소그래피 장치, 디바이스 제조 방법, 및 컴퓨터 프로그램제품 | |
US20090231568A1 (en) | Method of measuring wavefront error, method of correcting wavefront error, and method of fabricating semiconductor device | |
US20160054662A1 (en) | Projection exposure apparatus with a highly flexible manipulator | |
JP4896919B2 (ja) | リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 | |
US20230384685A1 (en) | Field facet system and lithography apparatus | |
WO2014117791A1 (en) | Microlithographic projection exposure apparatus and method of operating same | |
TWI397781B (zh) | Optical system, exposure apparatus and apparatus manufacturing method | |
JP4469820B2 (ja) | 照明ビーム測定 | |
JP2007316634A (ja) | 偏光変調光学素子および偏光変調光学素子の製造方法 | |
CN116472499A (zh) | 场分面系统和光刻设备 | |
EP1906253A1 (en) | Projection objective of a microlithographic projection exposure apparatus | |
US20110134403A1 (en) | Microlithographic projection exposure apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090514 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090514 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110909 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110920 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20111220 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120717 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120816 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150824 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5069232 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |