JP2009245957A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】実装基板と半導体素子とがバンプを介して電気的に接続される半導体装置において、熱膨張係数差に起因する接続部の剥離を防止して、バンプと半導体素子との間の電気的接続状態を安定化させる半導体装置を得られるようにする。
【解決手段】半導体素子4に設けられた半導体素子基板5におけるバンプ3と対向する位置に形成された接続電極7と、接続電極7の周縁部及び半導体素子基板5の上に形成された表面保護層8と、接続電極7及び表面保護層8の上に設けられ、バンプ3と電気的に接続するバリア金属層10とを備えている。表面保護層8におけるバリア金属層10との接続部には第1の凹部が設けられている。
【選択図】 図3
【解決手段】半導体素子4に設けられた半導体素子基板5におけるバンプ3と対向する位置に形成された接続電極7と、接続電極7の周縁部及び半導体素子基板5の上に形成された表面保護層8と、接続電極7及び表面保護層8の上に設けられ、バンプ3と電気的に接続するバリア金属層10とを備えている。表面保護層8におけるバリア金属層10との接続部には第1の凹部が設けられている。
【選択図】 図3
Description
本発明は、実装基板と半導体素子とをバンプを介して電気的に接続する半導体装置とその製造方法に関する。
従来より、実装基板に半導体素子を実装する際にはんだ等のバンプを用いて電気的に接続する半導体装置が広く用いられている。例えば、実装基板はガラス繊維を用いて形成され、半導体素子基板はシリコンを用いて形成されているため、はんだバンプを介して接続される実装基板と半導体素子基板との熱膨張率が異なる。このような半導体装置は、実装基板と半導体素子との熱膨張係数差があるため、バンプ接続時の加熱及び冷却により、膨張及び収縮が起こる。このため、接続部の剥離及び電気的接続状態の不安定等の不具合が生じるという問題があり、熱膨張係数差に起因する不具合を改善することが重要である。
図10は実装基板と半導体素子とをはんだからなるバンプを用いて電気的に接続する半導体装置の従来例であり、図11は、図10の一部を拡大して示したものである。
図10に示すように、特許文献1に記載された半導体装置は、半導体素子21が半導体素子基板22の上に形成されており、半導体素子基板22における半導体素子21が形成される面とは反対側の面で、はんだ23によって半導体素子21と実装基板24とが接続されている。
さらに、図11に示すように、半導体素子基板22は、チップ配線25及び絶縁膜26と、チップ配線25及び絶縁膜26の上に形成された金属配線27及び絶縁膜28とにより構成されている。表面保護膜である絶縁膜28には開口部が設けられ、開口部及びその周辺領域をバリア金属層であるはんだ拡散防止層29が覆い、開口部において、金属配線27とはんだ23とが電気的に接続している。金属配線27とはんだ23との熱膨張係数が異なることによって各材料内に生じる応力は、各材料の接触面積が大きいほど増加するため、特許文献1に記載されるように、接続部に開口部を設けて、金属配線27とはんだ23との接触面積を減少させることによって、応力を減少させることできる。よって、金属配線27とはんだ23との間の電気的接続状態を安定化させることができる。
また、図示は省略するが、特許文献2に記載された半導体装置は、半導体素子に舌片を設け、舌片の高さによって、実装基板と半導体素子との間が所定の間隔となるように形成し、はんだが実装基板と半導体素子と間で引き延ばされるようにして電気的な接続を可能にしている。このようにすることによって、実装基板と半導体素子との熱膨張によってはんだに剪断力が加わったとしても、剪断歪み及びクラックが発生することを抑制して信頼性の高い半導体装置を得られるようにしている。
特開2000−299343号公報
特開昭64−24434号公報
しかしながら、特許文献1に記載された半導体装置では、はんだ23の下に形成されるはんだ拡散防止層29、金属配線27、絶縁膜26及び絶縁膜28の割れを防止しているが、絶縁膜28とはんだ拡散防止層29との間の密着性については考慮されていない。一般に材質が異なる層の間の接続強度は小さいため、絶縁膜28とはんだ拡散防止層29との間の接続強度は小さく、実装基板1及び半導体素子基板22が膨張及び収縮することによって生じる応力が、絶縁膜28とはんだ拡散防止層29との間の剥離を発生させるおそれがある。また、絶縁膜28とはんだ拡散防止層29との間に小さな剥離、特に接続部の端部からの剥離が発生した場合は、応力がこの剥離点を基点として大きな剥離及び分断に進行するおそれがあり、電気的な接続状態が不安定となることが考えられる。さらに、複数の開口部を設けることによって、金属配線27とはんだ拡散防止層29との接触面積が減少されているため電流量が減少するおそれがある。このため、半導体装置の小型化において電流量を確保するための接触面積を確保することができないという問題がある。
また、特許文献2に記載された半導体装置は、剪断歪みの発生を低減させることはできるものの、はんだによる接続部の剥離を防止することはできない。また、舌片を設けるための工程が必要であり、半導体素子基板に舌片を設ける場所も必要であり小型化を実現することができない。
このように、従来の半導体装置では、熱膨張係数差に起因してバンプと半導体素子との間の電気的接続が不安定であり、また、接続部の剥離を防止することができないという問題がある。
本発明は、前記従来の問題に鑑み、熱膨張係数差に起因する接続部の剥離を防止して、バンプと半導体素子との間の電気的接続状態を安定化させることを目的とする。
前記の目的を達成するため、本発明の半導体装置は、接続電極の周縁部に対向する表面保護膜の実装基板側の表面に凹部及び凸部を形成して、接続電極の周縁部からの剥離を防止すると共にバンプと半導体素子との間の電気的接続状態を安定化させる構成とする。
具体的に、本発明に係る半導体装置は、実装基板と半導体素子を有する半導体素子基板とがバンプを介して電気的に接続される半導体装置を対象とし、半導体素子と接続される接続電極が設けられた半導体素子基板と、接続電極の周縁部を含む半導体素子基板の上に形成された表面保護層と、接続電極及び表面保護層の上に設けられ、バンプと電気的に接続されるバリア金属層とを備え、表面保護層におけるバリア金属層との接続部には第1の凹部が設けられていることを特徴とする。
本発明の半導体装置によると、表面保護層に設けられた第1の凹部によって、表面保護層とバリア金属層との接触面積が増加すると共に、接触部の端部がかみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となる。従って、表面保護層とバリア金属層との間に発生する剥離を防止することができる。また、バンプと半導体素子との間の電流量が低下することを防止できる。
本発明の半導体装置において、表面保護層には、第1の凹部が、表面保護層とバリア金属層との接続部の全体に亘って形成されていることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、表面保護層には、第1の凹部が、表面保護層とバリア金属層との接続部の一部に形成されていることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、表面保護層とバリア金属層との接続部の一部は、半導体素子の中心から遠い位置であることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、接続電極は、表面保護層との接続部に第2の凹部が形成されていることが好ましい。
このようにすると、接続電極に設けられた第2の凹部によって接続電極と表面保護層との接触面積が増加すると共に、接触部の端部がかみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となり、剥離を防止することができる。また、第2の凹部が形成された接続電極の上に形成される表面保護層、バリア金属層及び接合層に凹部を形成することができる。
また、本発明の半導体装置において、第2の凹部は、断面がV字状であることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、第2の凹部は、側壁が前記半導体素子基板に対して垂直であることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、第2の凹部は、接続電極を貫通していることが好ましい。
また、本発明の半導体装置において、バリア金属層は、表面保護層との接続部の上面に第3の凹部が形成されていることが好ましい。
このようにすると、バリア金属層に設けられた第3の凹部によって、バリア金属層と接合層との間の接触面積が増加すると共に、接触部の端部がかみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となり、剥離を防止することができる。
また、本発明の半導体装置において、バリア金属層の上には接合層が形成されており、接合層は第4の凹部が形成されていることが好ましい。
このようにすると、接合層に設けられた第4の凹部によって、接合層とバンプとの間の接触面積が増加すると共に、接触部の端部がかみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となり、剥離を防止することができる。
また、本発明の半導体装置において、表面保護層の第1の凹部は、断面がV字状であり、バリア金属層は、めっきにより形成されていることが好ましい。
このようにすると、表面保護層とバリア金属層との間の接触がより強固なものとなり、バリア金属層には空洞が形成されることはない。
本発明に係る半導体装置の製造方法は、実装基板と半導体素子を有する半導体素子基板とがバンプを介して電気的に接続される半導体装置の製造方法を対象とし、半導体素子基板におけるバンプと対向する領域に接続電極を形成する工程と、接続電極の周縁部に凹部を形成する工程と、接続電極が形成された半導体素子基板の上で且つ接続電極における凹部が形成されていない領域に開口部を有する表面保護層を形成する工程と、表面保護層を形成した後に、接続電極の上にバリア金属層を形成する工程とを備えていることを特徴とする。
また、本発明の半導体装置の製造方法において、凹部を形成する工程は、エッチング法を用いることが好ましい。
また、本発明の半導体装置の製造方法において、バリア金属層を形成する工程は、めっき法を用いることが好ましい。
このようにすると、バリア金属層には空洞が形成されることはない。
本発明に係る半導体装置及びその製造方法によると、接続電極と表面保護膜との間の剥離を防止することができ、バンプと半導体素子との間の電気的接続状態を安定化させることができる。
(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態について図面を参照しながら説明する。
本発明の第1の実施形態について図面を参照しながら説明する。
図1〜図3は本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の断面構成を模式的に示しており、図1は本発明の第1の実施形態に係る半導体装置全体の断面構成を示し、図2は図1の一部であり実装基板と半導体素子とのバンプによる接続部の断面構成を示し、図3(a)及び図3(b)は図2の一部を上下反転させて、半導体素子基板とバンプとの接続部の断面構成を示している。
図1及び図2に示すように、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置は、半導体素子と実装基板とがバンプによって電気的に接続された構成であり、実装基板1に設けられた接続端子2がはんだからなるバンプ3を介して、半導体素子4と電気的に接続されている。半導体素子4は、実装基板1と対向する側に半導体素子基板5が設けられており、半導体素子基板5の上に例えばシリコンナイトライドからなる絶縁層6が形成され、絶縁層6の上におけるバンプ3と対向する位置に例えばアルミニウム(Al)からなる接続電極7が形成されている。接続電極7の周縁部と接続電極7が形成されていない絶縁層6は、例えばシリコンナイトライドからなる表面保護層8が覆われている。すなわち、表面保護層8は、接続電極7の上に開口部9を有するように設けられている。接続電極7の上に設けられた開口部9から開口部9の周辺に形成された表面保護膜8に係るようにして例えばニッケルからなるバリア金属層10が形成され、さらにバリア金属層10の上に例えば金からなる接合層11が形成されている。なお、本発明に係る半導体装置は実装基板1の下面に実装端子12が設けられており、実装端子12によって、種々の電子機器のマザー基板(図示せず)に接続されている。
図3(a)及び(b)に示すように、接続電極7の上面とは表面保護層8及びバリア金属層10が接している。接続電極7の周縁部であり、表面保護層8との接続部には、絶縁層6に達する深さの凹部7aが複数設けられている。凹部7aの形状は、図3(a)に示すようにV字状であっても、図3(b)に示すように半導体素子基板に対して垂直な側壁を有していてもよい。凹部7aが接続電極7に複数設けられることによって、接続電極7の表面には凹凸が形成されることになるため、表面保護層8との接続部が、かみ合わせ状態になる。このため、接続電極7と表面保護層8との間の接続は機械的に強化される。
図4(a)及び図4(b)は、半導体素子基板5における表面保護層8の開口部9と凹部7aを形成する位置との関係を示す平面図である。
図4(a)に示すように、半導体素子基板5に設けられた表面保護層8の開口部9に対して、凹部7aは、表面保護層8の開口部9の周囲に形成されれば良い。凹部7aは、開口部9の周囲に複数列設ければ良い。また、図示は省略するが複数列に代えて、ランダムに設けてもよい。
また、図4(b)に示すように、半導体素子基板5の中心から放射状に離れた位置のみに凹部7aを設けても良い。熱膨張係数差に起因する応力は、半導体素子の中心から離れた部分に最も強くかかるため、応力が最も強くかかる位置に凹部7aを設けることによって、応力による剥離の発生を防止することができる。従って、応力による剥離が生じやすい位置、少なくとも半導体素子の中心から放射状に離れた位置に凹部7aを設ければ剥離を防止することができる。また、半導体素子基板5におけるコーナー部に相当する位置に凹部7aを形成しても同様の効果を得ることができる。また、このように凹部7aを形成することによって、プロセスの安定性を向上させることができる。
なお、図4(a)及び図4(b)においては、開口部9を円形としているが、多角形であれば良く、円形に限定されるものではない。
このように、接続電極7の端部に凹部7aを設けることによって、凹部7aが形成された接続電極7の上部の層にも凹部が形成されることになる。すなわち、凹部7aに対応して、表面保護層8に凹部が形成され、表面保護層8に形成された凹部に対応してバリア金属層10に凹部が形成され、バリア金属層10に形成された凹部に対応して接合層11に凹部が形成されるため、バンプ3は、接合層11の凹部に入り込むように形成される。従って、接続電極7及び表面保護層8、表面保護層8及びバリア金属層10、バリア金属層10及び接合層11並びに接合層11及びバンプ3のそれぞれの接触面積が増加すると共に、それぞれの接触面においてかみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となる。
ここで、接続電極7、バリア金属層10、接合層11及びバンプ3が金属材料で形成されたものであることに対して、表面保護層8は、例えばシリコンナイトライド等の絶縁膜から形成される。このため、材質が異なるため、表面保護層8とバリア金属層10との間の接続強度が小さく、実装基板1及び半導体素子基板5が膨張及び収縮することによる応力によって、表面保護層8とバリア金属層10との間の剥離が発生して、電気的接続状態が不安定となる可能性があるが、本発明に係る半導体装置では、表面保護層8に形成された凹部によって、表面保護層8とバリア金属層10との接触面積が増加すると共に、かみ合わせ状態となるため、機械的な接続状態を強固にすることができるので、表面保護層8とバリア金属層10との間の剥離を防止することができる。従って、バンプ3と半導体素子4との間の電気的接続状態を安定化させることができる。
また、本発明に係る半導体装置は、接合層11とバンプ3と接続も接合層11に形成された凹部によって、接触面積が増加すると共に、かみ合わせ状態となる。このため、機械的な接続状態を強固にすることができると共に、接合層11とバンプ3との電気的抵抗を低下させることができる。
このように、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置によると、半導体素子基板5に設けられた接続電極7の周縁部に凹部7aを形成することによって、凹部7aの上部に形成される表面保護膜8、バリア金属層10及び接合層11にも凹部が形成されるため、上層との接触面積が増加すると共に、かみ合わせ状態となるため、機械的に強固な接続となる。このため、材質が異なる表面保護層8とバリア金属層10との接続も強固なものとなるので、応力によって剥離が生じることを防止することができ電気的接続状態を安定化させることができる。また、接続電極7の端部のみに凹部7aを設けることによって、剥離を防止することが十分可能であり、バンプ3と半導体素子4との間の電流量が低下することを防止することができる。
以下、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の製造方法について図5及び図6を参照しながら説明する。
図5及び図6は本発明の第1の実施形態に係る半導体装置を製造工程順に示したものであり、図3の断面図に対応する工程断面図である。
図5(a)に示すように、半導体素子4には、半導体素子基板5が形成されており、半導体素子基板5の実装基板1に対向する側に、例えばシリコンナイトライドからなる絶縁層6及び例えばAlからなる接続電極7を順次形成する。
次に、図5(b)に示すように、ドライエッチング又はウェットエッチングを行って、周縁部に凹部7aが形成された接続電極7を形成する。このとき、凹部7aは、絶縁層6に達する深さを有し、断面はV字状に形成されている。
次に、図5(c)に示すように、接続電極7が形成されていない絶縁層6及び凹部7aを含む接続電極7の上部に表面保護層8を形成する。ここで、接続電極7の周縁部に凹部7aが形成されていることにより、凹部7aの上部に形成される表面保護層8は、凹部7aに入り込むように形成されるため、表面保護層8も、接続電極7の凹部7aに対応してV字状の凹部が形成されることになる。
次に、図6(a)に示すように、表面保護層8における接続電極7の上部をドライエッチング又はウェットエッチングにより除去して、接続用の開口部9を形成する。
次に、図6(b)に示すように、めっき法により、開口部9から該開口部9の周囲にバリア金属層10を形成する。ここで、バリア金属層10は、表面保護層8に設けられたV字状の凹部の上にも形成されることになる。バリア金属層10は、開口部9から該開口部9の周囲に向かって、スムーズに成長形成される。このため、表面保護層8に形成されたV字状の凹部の上にも、開口部から遠ざかるようにしてスムーズに成長形成されるため、表面保護層8に形成された凹部に対応したV字状の凹部がバリア金属層10にも形成されることになる。従って、表面保護層8の上部に形成されるバリア金属層10に空洞が形成されることはないため、表面保護層8とバリア金属層10間の接続はより強固なものとなる。
次に、図6(c)に示すように、バリア金属層10の表面にめっき法により接合層11を形成する。
以上のようにして、形成された半導体装置は、図示は省略するが、実装基板1に設けられた実装端子12によって種々の電子機器のマザー基板(図示せず)上へと実装される。
なお、本発明の第1の実施形態においては、バリア金属層10とバンプ3との間に接合層11を設けたが、接合層11を形成しなくてもよく、接合層11を接合しない場合においても同様の効果を得ることができる。
(第2の実施形態)
本発明の第2の実施形態について図面を参照しながら説明する。
本発明の第2の実施形態について図面を参照しながら説明する。
図7は本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の断面構成を示しており、本発明の第1の実施形態の図3に相当する半導体素子基板とバンプとの接続部の断面構成を示している。第2の実施形態において、第1の実施形態と同一の構成部材については同一の符号を付すことにより説明を省略する。第2の実施形態においては、接続電極7に凹部7aを形成しない点以外は、第1の実施形態と同様である。
図7に示すように、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置は、接続電極7には凹部7aを形成せずに、表面保護層8に凹部8aが形成されていることを特徴とする。接続電極7の上に形成された表面保護層8に凹部8aを形成することによって表面保護層8とバリア金属層10との接触面積が増加すると共に、かみ合わせ状態となるため機械的な接続状態を強固にすることができるので、表面保護層8とバリア金属層10との間の剥離を防止して電気的接続状態を安定化させることができる。
以下、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の製造方法について図8及び図9を参照しながら説明する。
図8及び図9は本発明の第2の実施形態に係る半導体装置を製造工程順に示したものであり、図7の断面図に対応する工程断面図である。
図8(a)に示すように、半導体素子4には、半導体素子基板5が形成されており、半導体素子基板5の実装基板1に対向する側に、例えばシリコンナイトライドからなる絶縁層6及び例えばAlからなる接続電極7を順次形成する。
次に、図8(b)に示すように、ドライエッチング又はウェットエッチングを行って、接続電極7を形成する。
次に、図8(c)に示すように、半導体素子基板5の上部すなわち接続電極7が形成されていない絶縁層6及び凹部7aを含む接続電極7の上部に表面保護層8を形成する。
次に、図9(a)に示すように、ドライエッチング又はウェットエッチングを行って、表面保護層8における接続電極7の周縁部の上に凹部8aを形成すると共に接続電極7の上に接続用の開口部9を形成する。表面保護層8に形成する凹部8aは、接続電極7に到達しない深さを有すし、断面がV字状に形成されている。凹部8aと開口部9とは、レジストの開口を調節することにより同一マスクを用いて同一工程で形成してもよく、また、異なるマスクを用いて異なる工程で形成してもよい。
次に、図9(b)に示すように、めっき法により、開口部9から該開口部9の周囲にバリア金属層10を形成する。ここで、バリア金属層10は、表面保護層8に設けられたV字状の凹部の上にも形成されることになる。バリア金属層10は、開口部9から該開口部9の周囲に向かって、スムーズに成長形成される。このため、表面保護層8に形成されたV字状の凹部の上にも、開口部から遠ざかるようにしてスムーズに成長形成されるため、表面保護層8に形成された凹部に対応したV字状の凹部がバリア金属層10にも形成されることになる。従って、表面保護層8の上部に形成されるバリア金属層10に空洞が形成されることはないため、表面保護層8とバリア金属層10間の接続はより強固なものとなる。
なお、凹部8aの形成方法は、ドライエッチング又はウェットエッチングに限ることなく、凹部8aが形成されれば、他の方法による形成でもよい。
本発明に係る半導体装置及びその製造方法は、接続電極と表面保護膜との間の剥離を防止すると共に、バンプと半導体素子との間の電気的接続状態を安定化させることができ、実装基板と半導体素子とをバンプを介して電気的に接続する半導体装置とその製造方法等に有用である。
1 実装基板
2 接続端子
3 バンプ
4 半導体素子
5 半導体素子基板
6 絶縁層
7 接続電極
7a 凹部
8 表面保護層
8a 凹部
9 接続用開口
10 バリア金属層
11 接合層
12 実装端子
2 接続端子
3 バンプ
4 半導体素子
5 半導体素子基板
6 絶縁層
7 接続電極
7a 凹部
8 表面保護層
8a 凹部
9 接続用開口
10 バリア金属層
11 接合層
12 実装端子
Claims (14)
- 実装基板と半導体素子を有する半導体素子基板とがバンプを介して電気的に接続される半導体装置であって、
前記半導体素子と接続される接続電極が設けられた前記半導体素子基板と、
前記接続電極の周縁部を含む前記半導体素子基板の上に形成された表面保護層と、
前記接続電極及び表面保護層の上に設けられ、前記バンプと電気的に接続されるバリア金属層とを備え、
前記表面保護層における前記バリア金属層との接続部には第1の凹部が設けられていることを特徴とする半導体装置。 - 前記表面保護層には、前記第1の凹部が、前記表面保護層と前記バリア金属層との接続部の全体に亘って形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記表面保護層には、前記第1の凹部が、前記表面保護層と前記バリア金属層との接続部の一部に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記表面保護層には、前記第1の凹部が、前記半導体素子基板の中心から遠い位置に形成されていることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。
- 前記接続電極は、前記表面保護層との接続部に第2の凹部が形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記第2の凹部は、断面がV字状であることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
- 前記第2の凹部は、側壁が前記半導体素子基板に対して垂直であることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
- 前記第2の凹部は、前記接続電極を貫通していることを特徴とする請求項5〜7のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記バリア金属層は、前記表面保護層との接続部の上面に第3の凹部が形成されていることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記バリア金属層の上には接合層が形成されており、
前記接合層は第4の凹部が形成されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記表面保護層の第1の凹部は、断面がV字状であり、
前記バリア金属層は、めっきにより形成されていることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 実装基板と半導体素子を有する半導体素子基板とがバンプを介して電気的に接続される半導体装置の製造方法であって、
前記半導体素子基板における前記バンプと対向する領域に接続電極を形成する工程と、
前記接続電極の周縁部に凹部を形成する工程と、
前記接続電極が形成された半導体素子基板の上で且つ前記接続電極における前記凹部が形成されていない領域に開口部を有する表面保護層を形成する工程と、
前記表面保護層を形成した後に、前記接続電極の上にバリア金属層を形成する工程とを備えていることを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記凹部を形成する工程は、エッチング法を用いることを特徴とする請求項12に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記バリア金属層を形成する工程は、めっき法を用いることを特徴とする請求項12又は13に記載の半導体装置の製造方法。
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