JP2009134821A - 光ディスク再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク再生装置において、光学系のチルト角を最適化するのに要する時間を短縮する。
【解決手段】光ディスク再生装置は、所定の第１の方向において、光学系のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作を、測定したジッタ値（Ｐ_＋１、Ｐ_＋２、・・・）が閾値を超えるまで繰り返す。このとき、直前に測定したジッタ値と閾値との差が大きいほど、次に測定するときのチルト角変化量Δθを大きくし、直前に測定したジッタ値と閾値との差が小さいほど、次に測定するときのチルト角変化量Δθを小さくする。また、第１の方向とは逆方向の第２の方向において、同様に、光学系のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値（Ｐ_−１、Ｐ_−２、・・・）を測定する動作を繰り返す。そして、測定したジッタ値が閾値を超えたときの２つのチルト角（θ_＋４とθ_−５）の中間のチルト角θｃを最適チルト角として、光学系のチルト角を最適化する。
【選択図】図４

Description

本発明は、例えばＣＤやＤＶＤ等の光ディスクから情報を再生する光ディスク再生装置に関するものである。

従来から、光ディスク再生装置は、光ディスクを回転させながら、半導体レーザから対物レンズを介して光ディスクに光を照射して、光ディスクからの反射光をフォトダイオードで受光し、そして、フォトダイオードから出力される受光信号から、光ディスクに形成されているピットの有無に対応して変化するＲＦ信号を生成し、そのＲＦ信号に基いて、光ディスクに形成されているピットにより表現される情報を再生するようになっている。

ところで、ＲＦ信号にジッタがあると、ピットによる信号波形をノイズと区別できないことがあり、光ディスクからの情報の再生性能が劣化する。また、ＲＦ信号のジッタ値が大きくなるほど、再生性能が劣化する。ジッタとは、信号パルスの時間軸上の位置誤差（進み、遅れ）のことである。ＲＦ信号のジッタ値は、フォトダイオードから出力される受光信号の信号特性値の１つである。ＲＦ信号のジッタ値は、光ディスクに照射される光の収差（光線収差、波面収差）による影響によって変化する。

そこで、対物レンズのチルト角を変化させることにより、光ディスクに照射される光の収差による影響を変化させて、ＲＦ信号のジッタ値を改善するようにした光ディスク再生装置がある。すなわち、この光ディスク再生装置では、ＲＦ信号のジッタ値が最小（最適）になるように対物レンズのチルト角を最適化するチルト角最適化動作を行うようになっている。

ＲＦ信号のジッタ値は、図６に示すように、対物レンズのチルト角に依存して変化し、対物レンズのチルト角がある特定のチルト角のときに最小値（極小値）になり、その特定のチルト角の近傍で２次曲線的に変化する。

従って、チルト角最適化動作では、対物レンズのチルト角を幾つかの異なるチルト角に変化させて、それら幾つかの異なるチルト角においてＲＦ信号のジッタ値を測定し、それら測定したＲＦ信号のジッタ値とそのときの対物レンズのチルト角に基いて、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるときのチルト角を求め、そして、ＲＦ信号のジッタ値が最適になるときのチルト角を最適チルト角として、対物レンズのチルト角を最適化するようになっている。このように対物レンズのチルト角を最適化することにより、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

従来のチルト角最適化動作では、図６に示すようにして、最適チルト角を求めている。すなわち、まず、対物レンズの初期の任意のチルト角θ_０でのＲＦ信号のジッタ値Ｐ_０を測定する。続いて、所定の第１の方向（例えば光ディスクの半径外向き方向）において、対物レンズのチルト角を初期チルト角θ_０から一定角度Δθずつ変化させて、各々のチルト角θ_＋１、θ_＋２、・・・でのＲＦ信号のジッタ値Ｐ_＋１、Ｐ_＋２、・・・を測定する。これを、閾値を超えるジッタ値が測定されるまで（図示の例では、チルト角θ_＋８でジッタ値Ｐ_＋８が測定されるまで）繰り返す。

また、第１の方向とは逆方向の第２の方向（例えば光ディスクの半径内向き方向）において、同様に、対物レンズのチルト角を初期チルト角θ_０から一定角度Δθずつ変化させて、各々のチルト角θ_−１、θ_−２、・・・でのＲＦ信号のジッタ値Ｐ_−１、Ｐ_−２、・・・を測定する。これを、閾値を超えるジッタ値が測定されるまで（図示の例では、チルト角θ_−１１でジッタ値Ｐ_−１１が測定されるまで）繰り返す。

そして、それら第１の方向及び第２の方向において測定したＲＦ信号のジッタ値とそのときの対物レンズのチルト角に基いて、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるときの対物レンズのチルト角θｃを求め（例えば、測定したジッタ値が閾値を超えたときの２つのチルト角（図示の例では、θ_＋８とθ_−１１）の中間のチルト角θｃを求め）、その求めたチルト角θｃを対物レンズの最適チルト角とする。

なお、ＲＦ信号のジッタ値は、半導体レーザからフォトダイオードに至る光学系全体のチルト角、又は光学系を構成する対物レンズ以外の光学部品のチルト角を変化させても、対物レンズのチルト角を変化させた場合と同様に変化する。

従って、チルト角最適化動作は、対物レンズのチルト角を変化させることに代えて、半導体レーザからフォトダイオードに至る光学系全体のチルト角、又は光学系を構成する対物レンズ以外の光学部品のチルト角を変化させて、行ってもよい。このようにしても、対物レンズのチルト角を変化させる場合と同様に、ＲＦ信号のジッタ値を最小（最適）にすることができ、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。対物レンズのチルト角、光学系全体のチルト角、及び対物レンズ以外の光学部品のチルト角を、総称して光学系のチルト角という。

また、フォトダイオードから出力される受光信号の信号特性値としては、ＲＦ信号のジッタ値のほかに、ＲＦ信号の振幅値やＴＥ信号の振幅値がある。ＴＥ信号とは、半導体レーザから出射されて対物レンズにより集光される光の集光点の、光ディスクの記録トラックから半径方向へのずれ量に対応する信号である。

ＲＦ信号の振幅値が小さい場合にも、ピットによる信号波形をノイズと区別できないことがあり、光ディスクからの情報の再生性能が劣化する。また、ＲＦ信号の振幅値が小さくなるほど、再生性能が劣化する。ＲＦ信号の振幅値は、対物レンズのチルト角に依存して変化し、対物レンズのチルト角がある特定のチルト角のときに最大値（極大値）になり、その特定のチルト角の近傍で２次曲線的に変化する。また、ＲＦ信号の振幅値とＴＥ信号の振幅値の間には、相関関係があり、ＴＥ信号の振幅値は、ＲＦ信号の振幅値と同様に、光学系のチルト角がある特定のチルト角（ＲＦ信号の振幅値が最大値になるときのチルト角）のときに最大値（極大値）になり、その特定のチルト角の近傍で２次曲線的に変化する。

従って、チルト角最適化動作は、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるように光学系のチルト角を最適化することに代えて、ＲＦ信号の振幅値又はＴＥ信号の振幅値が最大になるように光学系のチルト角を最適化して、行ってもよい。このようにすれば、ＲＦ信号の振幅値を最大にすることができ、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

つまり、従来のチルト角最適化動作では、光学系のチルト角を一定角度ずつ変化させて、各々のチルト角において受光信号の信号特性値（ＲＦ信号のジッタ値、ＲＦ信号の振幅値、又はＴＥ信号の振幅値）を測定し、それら測定した信号特性値とそのときの光学系のチルト角に基いて、受光信号の信号特性値が最適になるとき（信号特性値がＲＦ信号のジッタ値の場合は、最小になるとき、信号特性値がＲＦ信号の振幅値又はＴＥ信号の振幅値の場合は、最大になるとき）のチルト角を最適チルト角として、光学系のチルト角を最適化するようになっている。このように光学系のチルト角を最適することにより、受光信号の信号特性値が最適になるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

このようなチルト角最適化動作は、光ディスクが挿入されたときや、光ディスクからの情報の再生を開始するときに行われる。これは、光学系のチルト角が同じであっても、光ディスクの種類、光ディスクの装着状態、光ディスクの固体バラツキ、光学系を構成する光学部品の温度変化や経時変化、光ディスク再生装置を構成する電子部品の温度変化や経時変化等によって、受光信号の信号特性値が変化するためである。

一方、チルト角制御値を出力してチルト角を変化させると共に、そのときの実際のチルト角変化量を測定し、チルト角制御値と測定した実際のチルト角変化量との相関関係により、チルト角制御値と、チルト角を変化させるアクチュエータに供給する電圧値又は電流値との対応を示す角度変換係数を設定するようにした光ディスク再生装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。また、複数の異なるチルト角においてレーザ光の最適パワーを求めるＯＰＣ動作を行って、各チルト角におけるレーザ光の最適パワーである仮最適レーザパワーを求め、仮最適レーザパワーが最小であるチルト角を最適チルト角として、チルト角を最適化するようにした光ディスク再生装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。また、光ディスクの最内周位置及び最外周位置で、チルト角を一定角度ずつ変化させてＴＥ信号を測定し、それら測定したＴＥ信号に基いて、チルト角を最適化するようにした光ディスク再生装置が知られている（例えば、特許文献３参照）。また、チルト角を変化させてＴＥ信号の信号レベル及びＲＦ信号の信号レベルを測定し、ＴＥ信号の信号レベルが最大なるチルト角とＲＦ信号の信号レベルが最大になるチルト角の中間のチルト角を最適チルト角として、チルト角を最適化するようにした光ディスク再生装置が知られている（例えば、特許文献４参照）。また、光ディスクの内周側において記録するのに最適なチルト角と、光ディスクの外周側において記録するのに最適なチルト角を求め、それら２つのチルト角の角度差に基いて、記録速度の変更可能速度を判定するようにした光ディスク再生装置が知られている（例えば、特許文献５参照）。
特開２００６−５９４７８号公報 特許第３９４６７１４号公報 特開２００６−２３６４５７号公報 特開２００６−１１４１３０号公報 特開２００５−２４３１３７号公報

ところで、上述した従来のチルト角最適化動作において、光学系の最適チルト角を精度良く求めるには、受光信号の信号特性値（ＲＦ信号のジッタ値、ＲＦ信号の振幅値、又はＴＥ信号の振幅値）と閾値との差が小さいところでは、光学系のチルト角を小さく変化させて受光信号の信号特性値を測定する必要があるが、受光信号の信号特性値と閾値との差が大きいところでは、光学系のチルト角を小さく変化させて受光信号の信号特性値を測定する必要がなく、光学系のチルト角を大きく変化させて受光信号の信号特性値を測定しても十分である。

しかしながら、従来のチルト角最適化動作においては、受光信号の信号特性値と閾値との差の大小に関係なく、光学系のチルト角を一定角度Δθずつ変化させて受光信号の信号特性値を測定している。すなわち、受光信号の信号特性値と閾値との差が大きいところで、不必要に多くの回数の信号特性値の測定を行っており、その結果、光学系のチルト角を最適化するのに要する時間が長くなり、光ディスクからの情報の再生が開始されるまでの時間が遅くなる。なお、上述した特許文献１乃至特許文献５に開示の内容を適用したとしても、上記の問題を解決することはできない。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、光学系のチルト角を最適化するのに要する時間を短縮することができる光ディスク再生装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために請求項１の発明は、光を出射する発光手段と、発光手段から出射された光を光ディスク上に集光照射するための集光手段と、光ディスクからの反射光を受光して、その受光強度に応じた電圧レベルの受光信号を出力する受光手段とを備え、光ディスクを回転させながら、発光手段から出射された光を集光手段を介して光ディスクに照射し、受光手段から出力される受光信号に基いて、光ディスクに形成されているピットにより表現される情報を再生する光ディスク再生装置において、発光手段から受光手段に至る光学系全体又は光学系を構成する光学部品の少なくとも１つのチルト角（以下、光学系チルト角という）を変化させるチルト角調整手段と、受光手段から出力される受光信号の信号特性値を測定する信号特性値測定手段と、信号特性値測定手段により測定される信号特性値に基いて、信号特性値が最適になるように、光学系チルト角をチルト角調整手段により変化させて最適化するチルト角最適化手段とを備え、チルト角最適化手段は、信号特性値を信号特性値測定手段により測定する第１の信号特性値測定ステップと、第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、光学系チルト角を所定の第１の方向へ変化させるチルト角変化量を決定する第１のチルト角変化量決定ステップと、第１のチルト角変化量決定ステップで決定されたチルト角変化量だけ、光学系チルト角を第１の方向へチルト角調整手段により変化させる第１のチルト角変化ステップと、第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が所定の閾値を超えるまで、第１の信号特性値測定ステップ、第１のチルト角変化量決定ステップ、及び第１のチルト角変化ステップを繰返す第１の繰返しステップと、信号特性値を信号特性値測定手段により測定する第２の信号特性値測定ステップと、第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、光学系チルト角を第１の方向とは逆方向の第２の方向へ変化させるチルト角変化量を決定する第２のチルト角変化量決定ステップと、第２のチルト角変化量決定ステップで決定されたチルト角変化量だけ、光学系チルト角を第２の方向へチルト角調整手段により変化させる第２のチルト角変化ステップと、第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が閾値を超えるまで、第２の信号特性値測定ステップ、第２のチルト角変化量決定ステップ、及び第２のチルト角変化ステップを繰返す第２の繰返しステップと、第１の繰返しステップ及び第２の繰返しステップの後に、それまでに第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値とそのときの光学系チルト角、及びそれまでに第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値とそのときの光学系チルト角に基いて、信号特性値が最適になるときの光学系チルト角である最適チルト角を算出する最適チルト角算出ステップと、光学系チルト角が最適チルト角算出ステップで算出された最適チルト角となるように、光学系チルト角をチルト角調整手段により変化させて最適化するチルト角最適化ステップとを実行し、第１のチルト角変化量決定ステップにおいて、その時点における直前の第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と閾値との差が大きいほどチルト角変化量を大きく決定すると共に、その時点における直前の第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と閾値との差が小さいほどチルト角変化量を小さく決定し、第２のチルト角変化量決定ステップにおいて、その時点における直前の第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と閾値との差が大きいほどチルト角変化量を大きく決定すると共に、その時点における直前の第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と閾値との差が小さいほどチルト角変化量を小さく決定するものである。

請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク再生装置において、チルト角最適化手段は、光学系チルト角が初期の任意のチルト角にある状態で、信号特性値を信号特性値測定手段により測定する初期信号特性値測定ステップと、初期信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、閾値を設定する閾値設定ステップとを実行するものである。

請求項３の発明は、請求項２に記載の光ディスク再生装置において、チルト角最適化手段は、最適チルト角算出ステップにおいて、第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が閾値を超えたときの光学系チルト角と、第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が閾値を超えたときの光学系チルト角と、の中間のチルト角を最適チルト角として算出するものである。

請求項４の発明は、請求項３に記載の光ディスク再生装置において、チルト角最適化手段は、第１のチルト角変化量決定ステップ及び第２のチルト角変化量決定ステップにおいて、信号特性値と閾値との差の大きさに応じて区分された複数の特性値範囲をＲｉ（ｉ＝１、２、３、・・・）、各特性値範囲Ｒｉに対応付けられた係数値をＮｉ、最小チルト角変化量をαとして、チルト角変化量Δθを、測定された信号特性値が特性値範囲Ｒｉのいずれの範囲にあるかに応じて、チルト角変化量Δθ＝係数値Ｎｉ×最小チルト角変化量αにより算出して決定するものである。

請求項５の発明は、請求項４に記載の光ディスク再生装置において、信号特性値測定手段は、信号特性値として、光ディスクに形成されているピットに対応して検出されるＲＦ信号のジッタ値を測定するものである。

請求項１の発明によれば、光学系チルト角を第１の方向に変化させて受光信号の信号特性値を測定する動作が、閾値を超える信号特性値が測定されるまで繰り返されると共に、光学系チルト角を第２の方向に変化させて受光信号の信号特性値を測定する動作が、閾値を超える信号特性値が測定されるまで繰り返され、そして、それら測定された信号特性値とそのときの光学系チルト角に基いて、受光信号の信号特性値が最適になるときの光学系チルト角である最適チルト角が算出され、その算出された最適チルト角となるように、光学系チルト角が調整される。これにより、受光信号の信号特性値が最適となるように改善され、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

しかも、最適チルト角を算出するために、光学系チルト角を変化させて受光信号の信号特性値を測定する動作を繰り返すとき、信号特性値と閾値との差が大きいところほど、光学系チルト角を大きく変化させて信号特性値を測定し、信号特性値と閾値との差が小さいところほど、光学系チルト角を小さく変化させて信号特性値を測定することになる。従って、受光信号の信号特性値と閾値との差が大きいところで、不必要に多くの回数の測定を行うことなく、最適チルト角を算出することができ、その結果、光学系チルト角を最適化するのに要する時間を短縮することができる。

請求項２の発明によれば、適切に閾値が設定され、これにより、より精度良く、最適チルト角を算出することができる。

請求項３の発明によれば、閾値を超える信号特性値が測定されたときの光学系チルト角から、容易に、最適チルト角を算出することができる。

請求項４の発明によれば、容易に、チルト角変化量を決定することができる。

請求項５の発明によれば、ＲＦ信号のジッタ値が最適となるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

以下、本発明を具体化した実施形態による光ディスク再生装置について図面を参照して説明する。図１は、本実施形態による光ディスク再生装置の構成を示す。光ディスク再生装置１は、例えばＣＤやＤＶＤ等の光ディスク２から情報を再生する装置である。光ディスク再生装置１は、光ディスク２に光を照射して、光ディスク２からの反射光を受光することにより、光ディスク２から情報を再生するようになっている。この光ディスク再生装置１は、光ディスク２に照射する光の収差（光線収差、波面収差）による影響を変化させて、光ディスク２からの情報の再生性能を向上させる機能を備えている。

光ディスク再生装置１は、ディスクセンサ１１と、スピンドルモータ１２と、光ピックアップ１３と、シークモータ１４と、レーザ駆動部１５と、信号処理部１６と、サーボ制御部１７と、再生処理部１８と、画像／音声デコーダ１９とを備える。また、光ディスク再生装置１は、ジッタ値測定部２０と、チルト調整部２１と、メモリ２２と、リモコン２３と、リモコン受信部２４と、光ディスク再生装置１を制御するためのＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ等を含む制御部２５等を備える。制御部２５のＲＯＭには、光ディスク再生装置１の動作を制御するためのプログラムや各種データが記憶されている。

ディスクセンサ１１は、光ディスク２がディスク挿入部（不図示）から挿入されたことを検出し、光ディスク２が挿入されたことを示すディスク検出信号を出力する。ディスク挿入部に挿入された光ディスク２は、制御部２５による制御のもと、ディスク装着機構（不図示）によって、スピンドルモータ１２に装着される。スピンドルモータ１２は、制御部２５による制御のもと、回転駆動され、装着された光ディスク２を回転させる。

光ピックアップ１３は、光ディスク２に光を照射すると共に光ディス２からの反射光を受光する光学系をユニット化したものである。光ピックアップ１３は、半導体レーザ３１、コリメートレンズ３２、ビームスプリッタ３３、対物レンズ３４、受光レンズ３５、及びフォトダイオード３６等の光学部品を有し、これらの光学部品により、光ディスク２に光を照射すると共に光ディスク２からの反射光を受光する光学系を構成している。また、光ピックアップ１３は、フォーカシングアクチュエータ３７、トラッキングアクチュエータ３８、チルトアクチュエータ３９等を有する。

半導体レーザ３１は、レーザ駆動部１５により駆動されてレーザ光を出射する。半導体レーザ３１から出射された光は、コリメートレンズ３２によりコリメート化され、ビームスプリッタ３３を透過し、対物レンズ３４により集光されて、光ディスク２上に照射される。光ディスク２上に照射された光は、光ディスク２により反射される。光ディスク２により反射された光は、対物レンズ３４によりコリメート化され、ビームスプリッタ３３により反射され、受光レンズ３５によりフォトダイオード３６上に集光される。

フォトダイオード３６は、光ディスク２からの反射光を対物レンズ３４、ビームスプリッタ３３、及び受光レンズ３５を介して受光して、その受光強度に応じた電圧レベルの受光信号を出力する。半導体レーザ３１等により、発光手段が構成され、コリメートレンズ３２及び対物レンズ３４等により、集光手段が構成され、フォトダイオード３６等により、受光手段が構成されている。

対物レンズ３４は、レンズ支持機構（不図示）により、スピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の情報記録面と垂直な方向の位置、スピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の半径方向の位置、及びスピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の情報記録面と垂直な方向に対する光ディスク２の半径方向の傾き角であるチルト角、が変化し得るように支持されている。

フォーカシングアクチュエータ３７は、サーボ制御部１７による制御のもと、駆動され、対物レンズ３４の位置をスピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の情報記録面と垂直な方向に変化させる。この対物レンズ３４の位置の変化により、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の位置が、スピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の情報記録面と垂直な方向に変化する。

トラッキングアクチュエータ３８は、サーボ制御部１７による制御のもと、駆動され、対物レンズ３４の位置をスピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の半径方向に変化させる。この対物レンズ３４の位置の変化により、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の位置が、スピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の半径方向に変化する。

チルトアクチュエータ３９は、チルト調整部２１による制御のもと、駆動され、対物レンズ３４のチルト角（スピンドルモータ１２に装着される光ディスク２の情報記録面と垂直な方向に対する光ディスク２の半径方向の傾き角）を変化させる。この対物レンズ３４のチルト角の変化により、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の収差（光線収差及び波面収差）が変化する。チルト調整部２１及びチルトアクチュエータ３９等により、チルト角調整手段が構成されている。

シークモータ１４は、制御部２５による制御のもと、光ピックアップ１３を光ディスク２の半径方向に移動（シーク動作）させる。レーザ駆動部１５は、制御部２５による制御のもと、半導体レーザ３１を発光させる。

信号処理部１６は、フォトダイオード３６から出力される受光信号から、ＲＦ信号、ＦＥ信号、及びＴＥ信号を生成する。ＦＥ信号とは、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の、光ディスク２の情報記録面からの情報記録面と垂直な方向へのずれ量に対応する信号である。ＴＥ信号とは、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の、光ディスク２の記録トラックから半径方向へのずれ量に対応する信号である。ＲＦ信号とは、光ディスク２の記録トラックに形成されているピットの有無に対応して変化する信号である。

サーボ制御部１７は、信号処理部１６により生成されたＦＥ信号に基いて、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の位置が光ディスク２の情報記録面上に位置する状態を保つように、フォーカシングアクチュエータ３７の駆動（すなわち光ディスク２の情報記録面と垂直な方向における対物レンズ３４の位置）を制御する。また、サーボ制御部１７は、信号処理部１６により生成されたＴＥ信号に基いて、半導体レーザ３１から出射されて対物レンズ３４により集光される光の集光点の位置が光ディスク２の記録トラック上に位置する状態を保つように、トラッキングアクチュエータ３８の駆動（すなわち光ディスク２の半径方向における対物レンズ３４の位置）を制御する。

再生処理部１８は、信号処理部１６により生成されたＲＦ信号に基いて、光ディスク２に形成されているピットを検出し、その検出したピットの配列に基いて、ピットの配列により表現される情報（「０」及び「１」により２値化された２値化データ）を再生する。画像／音声デコーダ１９は、制御部５による制御のもと、再生処理部１８により再生された情報（２値化データ）に基いて、画像データ及び音声データを生成する。画像／音声デコーダ１９により生成された画像データ及び音声データは、制御部２５による制御のもと、外部機器９０に出力され、光ディスク２から再生した情報による画像が外部機器９０のディスプレイ９１に表示されると共に、光ディスク２から再生した情報による音声が外部機器９０のスピーカ９２から出力される。

ジッタ値測定部２０は、信号処理部１６から出力されるＲＦ信号のジッタ値を測定する。ジッタとは、信号パルスの時間軸上の位置誤差（進み、遅れ）のことである。すなわち、ＲＦ信号のジッタ値とは、ＲＦ信号の時間軸上の位置誤差のことである。ＲＦ信号のジッタ値は、フォトダイオード３６から出力される受光信号の信号特性値の１つである。ジッタ値測定部２０により、信号特性値測定手段が構成されている。

チルト調整部２１は、制御部２５による制御のもと、制御部２５から出力されるチルト制御信号に基いて、対物レンズ３４のチルト角がチルト制御信号の示すチルト角となるように、チルトアクチュエータ３９の駆動（すなわち対物レンズ３４のチルト角）を制御する。メモリ２２は、制御部２５による制御のもと、ジッタ値測定部２０により測定したＲＦ信号のジッタ値を示すデータや、ＲＦ信号のジッタ値を測定したときの対物レンズ３４のチルト角を示すチルト角データ等、各種データを記憶する。

リモコン２３は、光ディスク再生装置１の各種動作を指示するためにユーザに操作される各種操作キーを備えており、各種操作キーが操作されることにより、その操作に対応付けられた赤外線信号を送出する。リモコン受信部２４は、リモコン２３から送出された赤外線信号を受信して電気信号に変換し、リモコン２３の操作に対応するリモコン受信信号を出力する。

制御部２５は、リモコン受信部２４から出力されるリモコン受信信号を基にリモコン２３の操作による指示内容を判断すると共に、ディスクセンサ１１から出力されるディスク検出信号を基に光ディスク２の挿入有無を判断し、リモコン２３の操作及び光ディスク２の挿入状況に基いて、光ディスク２から情報を再生する情報再生動作、対物レンズ３４のチルト角を最適化するチルト角最適化動作等、光ディスク再生装置１の各種動作を制御する。制御部２５により、チルト角最適化手段が構成されている。

図２は、上記光ピックアップ１３のフォトダイオード３６及び信号処理部１６の構成を示す。フォトダイオード３６は、４つの受光領域Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に分割されており、受光領域Ｄ１の受光強度に応じた電圧レベルの受光信号Ｅ１、受光領域Ｄ２の受光強度に応じた電圧レベルの受光信号Ｅ２、受光領域Ｄ３の受光強度に応じた電圧レベルの受光信号Ｅ３、受光領域Ｄ４の受光強度に応じた電圧レベルの受光信号Ｅ４を出力するようになっている。光ディスク２により反射された光は、受光レンズ３５により、非点収差を持って、フォトダイオード３６の４つの受光領域Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４に跨るように集光照射される（図中Ｆは、フォトダイオード３６上に集光照射された光を示している）。

信号処理部１６は、フォトダイオード３６の受光信号Ｅ１とＥ２を加算する加算回路６１、フォトダイオード３６の受光信号Ｅ３とＥ４を加算する加算回路６２、フォトダイオード３６の受光信号Ｅ１とＥ３を加算する加算回路６３、及びフォトダイオード３６の受光信号Ｅ２とＥ４を加算する加算回路６４を有している。また、信号処理部１６は、加算回路６１の加算出力と加算回路６２の加算出力を加算する加算回路６５、加算回路６１の加算出力と加算回路６２の加算出力との差を求める減算回路６６、及び加算回路６３の加算出力と加算回路６４の加算出力との差を求める減算回路６７を有している。

信号処理部１６は、加算回路６１、加算回路６２、及び加算回路６５によってＲＦ信号を生成する。すなわち、信号処理部１６は、Ｅ１＋Ｅ２＋Ｅ３＋Ｅ４によってＲＦ信号を生成する。また、信号処理部１６は、加算回路６１、加算回路６２、及び減算回路６６によってＴＥ信号を生成する。すなわち、信号処理部１６は、いわゆるプッシュプル法により、（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｅ３＋Ｅ４）によってＴＥ信号を生成する。また、信号処理部１６は、加算回路６３、加算回路６４、及び減算回路６７によってＦＥ信号を生成する。すなわち、信号処理部１６は、いわゆる非点収差法により、（Ｅ１＋Ｅ３）−（Ｅ２＋Ｅ４）によってＦＥ信号を生成する。

光ディスク２から情報を再生する情報再生動作は、制御部２５による制御のもと、以下のようにして行われる。情報再生動作では、まず、スピンドルモータ１２により光ディスク２を回転させながら、光ピックアップ１３により光ディスク２に光を照射すると共に光ディスク２からの反射光を受光する。そして、そのときに信号処理部１６により生成されるＲＦ信号に基いて（すなわち光ピックアップ１３のフォトダイオード３６から出力される受光信号に基いて）、再生処理部１８により光ディスク２のピットの表現する情報を再生する。情報再生動作は、このようにして行われる。

対物レンズ３４のチルト角を最適化するチルト角最適化動作は、ＲＦ信号のジッタ値が最適になるように（ＲＦ信号の時間軸上の位置誤差が最も小さくなるように）、対物レンズ３４のチルト角を調整する動作である。このチルト角最適化動作は、制御部２５による制御のもと、以下のようにして行われる。

チルト角最適化動作では、まず、情報再生動作と同様に、スピンドルモータ１２により光ディスク２を回転させながら、光ピックアップ１３により光ディスク２に光を照射すると共に光ディスク２からの反射光を受光する。続いて、その状態で、対物レンズ３４のチルト角をチルト調整部２１により幾つかの異なるチルト角に変化させて、それら幾つかの異なるチルト角において信号処理部１６により生成されるＲＦ信号のジッタ値をジッタ値測定部２０により測定し、それらジッタ値を測定したときのチルト角と測定されたジッタ値に基いて、ＲＦ信号のジッタ値が最小（最適）になるときの対物レンズ３４のチルト角を求め、その求めたチルト角を最適チルト角とする。そして、対物レンズ３４のチルト角を、最適チルト角となるようにチルト調整部２１により調整して最適化する。チルト角最適化動作は、このようにして行われる。

このようにチルト角最適化動作を行うことにより、ＲＦ信号のジッタ値が最小となるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。チルト角最適化動作は、光ディスク２が挿入されたときや、光ディスク２から情報の再生を開始するときに行われ、チルト角最適化動作で最適化された対物レンズ３４のチルト角において、情報再生動作が行われる。

図３は、上記チルト角最適化動作のフローチャートを示す。チルト角最適化動作では、まず、制御部２５は、スピンドルモータ１２により光ディスク２を回転させ、また、光ピックアップ１３により光ディスク２に光を照射すると共に光ディスク２からの反射光を受光する状態にする。

そして、制御部２５は、ジッタ値測定部２０により、そのときの対物レンズ３４のチルト角（すなわち対物レンズ３４が初期の任意のチルト角にある状態）で、ＲＦ信号のジッタ値を測定し（＃１）、その測定したジッタ値に基いて、閾値を設定する（＃２）。このとき、制御部２５は、閾値として、測定したジッタ値よりも予め決められた所定値だけ大きい値を設定する。

続いて、制御部２５は、第１の方向（光ディスク２の半径外向き方向）へ対物レンズ３４のチルト角を変化させるためのチルト角変化量を決定し（＃３）、チルト調整部２１により、その決定したチルト角変化量だけ、第１の方向へ対物レンズ３４のチルト角を変化させ（＃４）、そして、ジッタ値測定部２０により、ＲＦ信号のジッタ値を測定する（＃５）。なお、＃３におけるチルト角変化量の決定方法の詳細については後述する。

ここで、ＲＦ信号のジッタ値が閾値を超えていなければ（＃６でＮＯ）、制御部２５は、上記＃３〜＃５の処理を繰り返す。すなわち、制御部２５は、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、第１の方向へ対物レンズ３４のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作を繰り返す。上記＃３〜＃５の処理が繰り返されることにより、第１の方向において、対物レンズ３４の複数の異なるチルト角でのＲＦ信号のジッタ値が測定される。

一方、測定したＲＦ信号のジッタ値が閾値を超えていると（＃６でＹＥＳ）、すなわち、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されると、制御部２５は、第２の方向（光ディスク２の半径内向き方向）へ対物レンズ３４のチルト角を変化させるためのチルト角変化量を決定し（＃７）、チルト調整部２１により、その決定したチルト角変化量だけ、第２の方向へ対物レンズ３４のチルト角を変化させ（＃８）、そして、ジッタ値測定部２０により、ＲＦ信号のジッタ値を測定する（＃９）。なお、＃７におけるチルト角変化量の決定方法は、上記＃３におけるチルト角変化量の決定方法と同様であり、その詳細については後述する。

ここで、ＲＦ信号のジッタ値が閾値を超えていなければ（＃１０でＮＯ）、制御部２５は、上記＃７〜＃９の処理を繰り返す。すなわち、制御部２５は、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、第２の方向へ対物レンズ３４のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作を繰り返す。上記＃７〜＃９の処理が繰り返されることにより、第２の方向において、第１の方向と同様に、対物レンズ３４の複数の異なるチルト角でのＲＦ信号のジッタ値が測定される。

そして、測定したＲＦ信号のジッタ値が閾値を超えていると、すなわち、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されると（＃１０でＹＥＳ）、制御部２５は、それまでの測定結果に基いて（上記＃５及び＃９の処理で測定した１つ又は複数のＲＦ信号のジッタ値とそのときの光学系チルト角に基いて）、ＲＦ信号のジッタ値が最小（最適）になるときのチルト角である最適チルト角を算出する（＃１１）。なお、最適チルト角の算出方法の詳細については後述する。最後に、制御部２５は、チルト調整部２１により、算出された最適チルト角となるように対物レンズ３４のチルト角を変化させる（＃１２）。これにより、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるように対物レンズ３４のチルト角が最適化される。

図４は、上記チルト角最適化動作においてＲＦ信号のジッタ値を測定するときの、対物レンズ３４のチルト角と測定したジッタ値との関係を示す。チルト角最適化動作では、上述のように、＃３〜＃６の処理により、第１の方向において、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、対物レンズ３４のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が繰り返され、また、＃７〜＃１０の処理により、第２の方向において、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、対物レンズ３４のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が繰り返される。

このとき、＃３及び＃７における対物レンズ３４のチルト角を変化させるチルト角変化量の決定は、制御部２５により、以下のようにして行われる。すなわち、制御部２５は、チルト角変化量を、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差に応じて決定し、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいほど、チルト角変化量を大きくし、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さいほど、チルト角変化量を小さくする。

このようにチルト角変化量を決定することにより、チルト角最適化動作では、例えば図４に示すようにして、ＲＦ信号のジッタ値が測定されることになる。すなわち、まず、対物レンズ３４の初期の任意のチルト角θ_０でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_０が測定され、このジッタ値Ｐ_０に基いて閾値が設定される。

続いて、ジッタ値Ｐ_０と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθが決定され、そのチルト角変化量Δθだけ、対物レンズ３４のチルト角をθ_０から第１の方向へ変化させて、チルト角θ_＋１でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_＋１が測定される。さらに、ジッタ値Ｐ_＋１と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθが決定され、そのチルト角変化量Δθだけ、対物レンズ３４のチルト角をθ_＋１から第１の方向へ変化させて、チルト角θ_＋２でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_＋２が測定される。

以下、同様にして、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθを決定して、その決定したチルト角変化量Δθだけ対物レンズ３４のチルト角を第１の方向へ変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が繰り返される。図示の例では、チルト角θ_＋４でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_＋４が測定されるまで繰り返される。

このとき、直前に測定されたＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいほど、チルト角変化量Δθが大きく決定されると共に、直前に測定されたＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さいほど、チルト角変化量Δθが小さく決定されるため、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいところでは、対物レンズ３４のチルト角を大きく変化させてＲＦ信号のジッタ値が測定されると共に、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さくなるにつれて、対物レンズ３４のチルト角を小さく変化させてＲＦ信号のジッタ値が測定されることになる。

また、第２の方向において、第１の方向と同様に、ＲＦ信号のジッタ値が測定される。すなわち、ジッタ値Ｐ_０と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθが決定され、そのチルト角変化量Δθだけ、対物レンズ３４のチルト角をθ_０から第２の方向へ変化させて、チルト角θ_−１でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_−１が測定される。さらに、ジッタ値Ｐ_−１と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθが決定され、そのチルト角変化量Δθだけ、対物レンズ３４のチルト角をθ_−１から第２の方向へ変化させて、チルト角θ_−２でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_−２が測定される。

以下、同様にして、閾値を超えるＲＦ信号のジッタ値が測定されるまで、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差に応じてチルト角変化量Δθを決定して、その決定したチルト角変化量Δθだけ対物レンズ３４のチルト角を第２の方向へ変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が繰り返される。図示の例では、チルト角θ_−５でＲＦ信号のジッタ値Ｐ_−５が測定されるまで繰り返される。

このとき、第１の方向と同様に、直前に測定されたＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいほど、チルト角変化量Δθが大きく決定されると共に、直前に測定されたＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さいほど、チルト角変化量Δθが小さく決定されるため、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいところでは、対物レンズ３４のチルト角を大きく変化させてＲＦ信号のジッタ値が測定されると共に、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さくなるにつれて、対物レンズ３４のチルト角を小さく変化させてＲＦ信号のジッタ値が測定されることになる。

図５は、上記チルト角最適化動作の＃３及び＃７におけるチルト角変化量の決定方法の例を示す。チルト角最適化動作の＃３及び＃７におけるチルト角変化量の決定は、より具体的には、制御部２５により、例えば、図５に示すようにして行われる。

すなわち、制御部２５は、測定されるＲＦ信号のジッタ値の閾値までの区間を、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差の大きさに対応する複数の特性値範囲に区分して、それら区分された複数の特性値範囲をＲｉ（ｉ＝１、２、３、・・・）とする。また、各特性値範囲Ｒｉに係数値を対応付けて、それら各特性値範囲Ｒｉに対応付けられた係数値をＮｉとする。また、最小チルト角変化量をαとする。上述のように、閾値は、対物レンズ３４の初期の任意のチルト角θ_０で測定したＲＦ信号のジッタ値Ｐ_０に基いて設定される。従って、特性値範囲Ｒｉは、初期の任意のチルト角θ_０で測定したＲＦ信号のジッタ値Ｐ_０に基いて区分される。係数値Ｎｉ及び最小チルト角αは、予め決められている。

そして、制御部２５は、直前の任意のチルト角θ_ｋ（ｋ＝０、＋１、＋２、・・・、−１、−２、・・・）で測定したＲＦ信号のジッタ値Ｐ_ｋが特性値範囲Ｒｉのいずれの範囲にあるかに応じて（従って、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差の大きさに応じて）、チルト角変化量Δθを、チルト角変化量Δθ＝係数値Ｎｉ×最小チルト角変化量αにより算出して決定する。

図５に示す例では、特性値範囲Ｒｉは、Ｒ_１、Ｒ_２、Ｒ_３、Ｒ_４の４つの範囲に区分されており、また、係数値Ｎｉは、Ｎ_１＝１０、Ｎ_２＝４、Ｎ_３＝２、Ｎ_４＝１となっている。従って、図５に示す例では、直前の任意のチルト角θ_ｋで測定したＲＦ信号のジッタ値Ｐ_ｋが特性値範囲Ｒ_１の範囲にある場合には、チルト角変化量Δθは、Δθ＝Ｎ_１×α＝１０αに決定される。また、ＲＦ信号のジッタ値Ｐ_ｋが特性値範囲Ｒ_２の範囲にある場合には、チルト角変化量Δθは、Δθ＝Ｎ_２×α＝４αに決定され、ＲＦ信号のジッタ値Ｐ_ｋが特性値範囲Ｒ_３の範囲にある場合には、チルト角変化量Δθは、Δθ＝Ｎ_３×α＝２αに決定され、ＲＦ信号のジッタ値Ｐ_ｋが特性値範囲Ｒ_４の範囲にある場合には、チルト角変化量Δθは、Δθ＝Ｎ_４×α＝αに決定される。

チルト角最適化動作の＃３及び＃７におけるチルト角変化量の決定は、このようにして行われる。このようなチルト角変化量の決定方法によれば、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいほど、チルト角変化量Δθが大きくなると共に、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さいほど、チルト角変化量Δθが小さくなるように、容易に、チルト角変化量Δθを決定することができる。

なお、チルト角変化量の決定方法は、これに限られず、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいほど、チルト角変化量Δθが大きくなり、直前に測定したＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が小さいほど、チルト角変化量Δθが小さくなれば、どのような決定方法であってもよい。

上記チルト角最適化動作の＃１１における最適チルト角の算出は、制御部２５により、例えば、以下のようにして行われる。すなわち、制御部２５は、第１の方向において測定したジッタ値（＃５において測定したジッタ値）が閾値を超えたときのチルト角（図４に示す例では、θ_＋4）と、第２の方向において測定したジッタ値（＃９において測定したジッタ値）が閾値を超えたときのチルト角（図４に示す例では、θ₋₅）と、の中間のチルト角θｃを算出し、そのチルト角θｃを最適チルト角とする。このような最適チルト角の算出方法によれば、容易に、最適チルト角を算出することができる。

なお、最適チルト角の算出方法は、これに限られず、例えば、第１の方向において測定したジッタ値が閾値を超える直前のチルト角（図４に示す例では、θ_＋３）と、第２の方向において測定したジッタ値が閾値を超える直前のチルト角（図４に示す例では、θ_−４）と、の中間のチルト角を最適チルト角として算出するようにしてもよい。また、第１の方向において閾値を超えるまでに測定した複数のジッタ値とそのときの対物レンズのチルト角、及び第２の方向において閾値を超えるまでに測定した複数のジッタ値とそのときの対物レンズのチルト角に基いて、最小２乗法などの近似計算や補間計算によって、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるときのチルト角を算出して、そのチルト角を最適チルト角としてもよい。

このように、上記構成の光ディスク再生装置１によれば、対物レンズ３４のチルト角を第１の方向に変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が、閾値を超えるジッタ値が測定されるまで繰り返されると共に、対物レンズ３４のチルト角を第２の方向に変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作が、閾値を超えるジッタ値が測定されるまで繰り返され、そして、それら測定されたジッタ値とそのときの対物レンズ３４のチルト角に基いて、ＲＦ信号のジッタ値が最適になるときのチルト角である最適チルト角が算出され、その算出された最適チルト角となるように、対物レンズ３４のチルト角が調整される。これにより、ＲＦ信号のジッタ値が最適となるように改善され、光ディスク２からの情報の再生性能が向上する。

しかも、最適チルト角を算出するために、対物レンズ３４のチルト角を変化させてＲＦ信号のジッタ値を測定する動作を繰り返すとき、ジッタ値と閾値との差が大きいところほど、対物レンズ３４のチルト角を大きく変化させてジッタ値を測定し、ジッタ値と閾値との差が小さいところほど、対物レンズ３４のチルト角を小さく変化させてジッタ値を測定することになる。従って、ＲＦ信号のジッタ値と閾値との差が大きいところで、不必要に多くの回数の測定を行うことなく、最適チルト角を算出することができ、その結果、対物レンズ３４のチルト角を最適化するのに要する時間を短縮することができる。また、測定したＲＦ信号のジッタ値に基いて閾値を設定することにより、適切に閾値を設定することができ、これにより、より精度良く、最適チルト角を算出することができる。

なお、本発明は、上記実施形態の構成に限られず、種々の変形が可能である。例えば、チルト角最適化動作は、対物レンズのチルト角を変化させることに代えて、半導体レーザからフォトダイオードに至る光学系全体のチルト角、又は光学系を構成する対物レンズ以外の光学部品（半導体レーザ、コリメートレンズ等）のチルト角を変化させて、行ってもよい。このようにしても、対物レンズのチルト角を変化させる場合と同様に、ＲＦ信号のジッタ値が最小（最適）となるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

また、チルト角最適化動作は、ＲＦ信号のジッタ値が最小になるように対物レンズのチルト角を最適化することに代えて、ＲＦ信号の振幅値又はＴＥ信号の振幅値が最大になるように光学系のチルト角を最適化して、行ってもよい。このようにすれば、ＲＦ信号の振幅値が最大（最適）となるように改善されて、光ディスクからの情報の再生性能が向上する。

また、チルト角最適化動作は、光ディスクの内周側の領域から情報を再生するときと、外周側の領域から情報を再生するときの、それぞれで行ってもよい。また、チルト角最適化動作においてチルト角を変化させる方向は、光ディスク再生装置の半径方向に限られず、光ディスクの接線方向や、半径方向と接線方向の中間の方向であってもよい。

本発明の一実施形態に係る光ディスク再生装置の概略構成を示す電気的ブロック構成図。 同光ディスク再生装置のフォトダイオード及び信号処理部の構成を示す図。 同光ディスク再生装置のチルト角最適化動作を示すフローチャート。 同光ディスク再生装置のチルト角最適化動作においてＲＦ信号のジッタ値を測定するときの、対物レンズのチルト角と測定したジッタ値との関係を示す図。 同光ディスク再生装置のチルト角最適化動作におけるチルト角変化量の決定方法の例を示す図。 従来の光ディスク再生装置のチルト角最適化動作においてＲＦ信号のジッタ値を測定するときの、対物レンズのチルト角と測定したジッタ値との関係を示す図。

符号の説明

１ 光ディスク再生装置
２ 光ディスク
１１ ディスクセンサ
１２ スピンドルモータ
１３ 光ピックアップ
１４ シークモータ
１５ レーザ駆動部
１６ 信号処理部
１７ サーボ制御部
１８ 再生処理部
１９ 画像／音声デコーダ
２０ ジッタ値測定部
２１ チルト調整部
２２ メモリ
２３ リモコン
２４ リモコン受信部
２５ 制御部
３１ 半導体レーザ
３２ コリメートレンズ
３３ ビームスプリッタ
３４ 対物レンズ
３５ 受光レンズ
３６ フォトダイオード
３７ フォーカシングアクチュエータ
３８ トラッキングアクチュエータ
３９ チルトアクチュエータ
９０ 外部機器
９１ ディスプレイ
９２ スピーカ

Claims (5)

1. 光を出射する発光手段と、前記発光手段から出射された光を光ディスク上に集光照射するための集光手段と、前記光ディスクからの反射光を受光して、その受光強度に応じた電圧レベルの受光信号を出力する受光手段とを備え、
   前記光ディスクを回転させながら、前記発光手段から出射された光を前記集光手段を介して前記光ディスクに照射し、前記受光手段から出力される受光信号に基いて、前記光ディスクに形成されているピットにより表現される情報を再生する光ディスク再生装置において、
   前記発光手段から前記受光手段に至る光学系全体又は光学系を構成する光学部品の少なくとも１つのチルト角（以下、光学系チルト角という）を変化させるチルト角調整手段と、
   前記受光手段から出力される受光信号の信号特性値を測定する信号特性値測定手段と、
   前記信号特性値測定手段により測定される信号特性値に基いて、前記信号特性値が最適になるように、前記光学系チルト角を前記チルト角調整手段により変化させて最適化するチルト角最適化手段とを備え、
   前記チルト角最適化手段は、
   前記信号特性値を前記信号特性値測定手段により測定する第１の信号特性値測定ステップと、
   前記第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、前記光学系チルト角を所定の第１の方向へ変化させるチルト角変化量を決定する第１のチルト角変化量決定ステップと、
   前記第１のチルト角変化量決定ステップで決定されたチルト角変化量だけ、前記光学系チルト角を前記第１の方向へ前記チルト角調整手段により変化させる第１のチルト角変化ステップと、
   前記第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が所定の閾値を超えるまで、前記第１の信号特性値測定ステップ、前記第１のチルト角変化量決定ステップ、及び前記第１のチルト角変化ステップを繰返す第１の繰返しステップと、
   前記信号特性値を前記信号特性値測定手段により測定する第２の信号特性値測定ステップと、
   前記第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、前記光学系チルト角を前記第１の方向とは逆方向の第２の方向へ変化させるチルト角変化量を決定する第２のチルト角変化量決定ステップと、
   前記第２のチルト角変化量決定ステップで決定されたチルト角変化量だけ、前記光学系チルト角を前記第２の方向へ前記チルト角調整手段により変化させる第２のチルト角変化ステップと、
   前記第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が前記閾値を超えるまで、前記第２の信号特性値測定ステップ、前記第２のチルト角変化量決定ステップ、及び前記第２のチルト角変化ステップを繰返す第２の繰返しステップと、
   前記第１の繰返しステップ及び第２の繰返しステップの後に、それまでに前記第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値とそのときの光学系チルト角、及びそれまでに前記第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値とそのときの光学系チルト角に基いて、前記信号特性値が最適になるときの光学系チルト角である最適チルト角を算出する最適チルト角算出ステップと、
   前記光学系チルト角が前記最適チルト角算出ステップで算出された最適チルト角となるように、前記光学系チルト角を前記チルト角調整手段により変化させて最適化するチルト角最適化ステップとを実行し、
   前記第１のチルト角変化量決定ステップにおいて、その時点における直前の第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と前記閾値との差が大きいほど前記チルト角変化量を大きく決定すると共に、その時点における直前の第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と前記閾値との差が小さいほど前記チルト角変化量を小さく決定し、
   前記第２のチルト角変化量決定ステップにおいて、その時点における直前の第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と前記閾値との差が大きいほど前記チルト角変化量を大きく決定すると共に、その時点における直前の第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値と前記閾値との差が小さいほど前記チルト角変化量を小さく決定する、
   ことを特徴とする光ディスク再生装置。
2. 前記チルト角最適化手段は、
   前記光学系チルト角が初期の任意のチルト角にある状態で、前記信号特性値を前記信号特性値測定手段により測定する初期信号特性値測定ステップと、
   前記初期信号特性値測定ステップで測定した信号特性値に基いて、前記閾値を設定する閾値設定ステップとを実行する、
   ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク再生装置。
3. 前記チルト角最適化手段は、前記最適チルト角算出ステップにおいて、
   前記第１の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が前記閾値を超えたときの光学系チルト角と、前記第２の信号特性値測定ステップで測定した信号特性値が前記閾値を超えたときの光学系チルト角と、の中間のチルト角を前記最適チルト角として算出する、
   ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク再生装置。
4. 前記チルト角最適化手段は、前記第１のチルト角変化量決定ステップ及び第２のチルト角変化量決定ステップにおいて、
   前記信号特性値と前記閾値との差の大きさに応じて区分された複数の特性値範囲をＲｉ（ｉ＝１、２、３、・・・）、前記各特性値範囲Ｒｉに対応付けられた係数値をＮｉ、最小チルト角変化量をαとして、
   前記チルト角変化量Δθを、測定された信号特性値が前記特性値範囲Ｒｉのいずれの範囲にあるかに応じて、チルト角変化量Δθ＝係数値Ｎｉ×最小チルト角変化量αにより算出して決定する、
   ことを特徴とする請求項３に記載の光ディスク再生装置。
5. 前記信号特性値測定手段は、前記信号特性値として、前記光ディスクに形成されているピットに対応して検出されるＲＦ信号のジッタ値を測定する、
   ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク再生装置。
   
   

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