JP2000298861A - チルトサーボ装置及び制御方法 - Google Patents
チルトサーボ装置及び制御方法Info
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
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- G11B7/13927—Means for controlling the beam wavefront, e.g. for correction of aberration active, e.g. controlled by electrical or mechanical means during transducing, e.g. to correct for variation of the spherical aberration due to disc tilt or irregularities in the cover layer thickness
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 チルトエラーの大きさに関わらず、また環境
温度の変化によって液晶パネルの応答速度が低下して
も、高速かつ高精度でチルトエラーを補正することが可
能なチルトサーボ装置を提供する。 【解決手段】 チルトエラー補正手段の補正値を第１の
補正幅だけ変更して信号強度の変化量及び増減を検出
し、この結果に基づいて補正値の補正幅及び補正方向が
決定される。変化量が所定の変化量より小さい場合には
補正幅を第１の補正幅より小さい第２の補正幅に変更
し、所定の変化量より大きい場合には第１の補正幅より
大きい第３の補正幅に変更する。また、補正幅は環境温
度の変化に応じて確定される。
温度の変化によって液晶パネルの応答速度が低下して
も、高速かつ高精度でチルトエラーを補正することが可
能なチルトサーボ装置を提供する。 【解決手段】 チルトエラー補正手段の補正値を第１の
補正幅だけ変更して信号強度の変化量及び増減を検出
し、この結果に基づいて補正値の補正幅及び補正方向が
決定される。変化量が所定の変化量より小さい場合には
補正幅を第１の補正幅より小さい第２の補正幅に変更
し、所定の変化量より大きい場合には第１の補正幅より
大きい第３の補正幅に変更する。また、補正幅は環境温
度の変化に応じて確定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、チルトサーボ装
置、特に、光ディスクの記録再生装置に用いられるチル
トサーボ装置及びその制御方法に関する。
置、特に、光ディスクの記録再生装置に用いられるチル
トサーボ装置及びその制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digita
l Versatile Disc）などの光ディスクの記録再生装置で
は、一般に、光ディスクの反りなどによって光ピックア
ップから照射された光ビームの光軸と照射位置における
光ディスクの法線とにずれが生じる。このずれの角度は
チルト角と呼ばれ、主に光ディスクの半径方向（以下、
「ラジアル方向」と称する）で発生し、光学系のコマ収
差などの要因となる。従って、チルト角が生じることに
より、隣接するトラックとのクロストークやジッターな
どの信号劣化が引き起こされ、光ディスクの再生品質に
悪影響を与える。また、特にＤＶＤのように高密度記録
を行う場合では、レーザビームのスポット径を小さくす
るために、レーザ光の波長を短くし、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要があるため、チルト角に対する
マージンが小さくなる。すなわち、光ディスクが僅かに
傾いていても再生品質の大きな劣化を招く。従って、光
ディスクの再生中にはチルト角による収差を補正するた
め、反射された光ビームの検出信号強度に基づいてチル
トエラーを補正するチルトサーボ機構を設けるのが一般
的である。
l Versatile Disc）などの光ディスクの記録再生装置で
は、一般に、光ディスクの反りなどによって光ピックア
ップから照射された光ビームの光軸と照射位置における
光ディスクの法線とにずれが生じる。このずれの角度は
チルト角と呼ばれ、主に光ディスクの半径方向（以下、
「ラジアル方向」と称する）で発生し、光学系のコマ収
差などの要因となる。従って、チルト角が生じることに
より、隣接するトラックとのクロストークやジッターな
どの信号劣化が引き起こされ、光ディスクの再生品質に
悪影響を与える。また、特にＤＶＤのように高密度記録
を行う場合では、レーザビームのスポット径を小さくす
るために、レーザ光の波長を短くし、対物レンズの開口
数ＮＡを大きくする必要があるため、チルト角に対する
マージンが小さくなる。すなわち、光ディスクが僅かに
傾いていても再生品質の大きな劣化を招く。従って、光
ディスクの再生中にはチルト角による収差を補正するた
め、反射された光ビームの検出信号強度に基づいてチル
トエラーを補正するチルトサーボ機構を設けるのが一般
的である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、チルト
サーボ機構は高速に動作することが要求され、特に高密
度記録の光ディスクを扱う再生装置では高速動作のチル
トサーボ機構が必要である。また、収差を補正するため
に液晶パネル素子を用いたチルトサーボ装置では、環境
温度の低下によって液晶の応答速度が低下し、チルトサ
ーボの動作が遅くなるという問題があった。
サーボ機構は高速に動作することが要求され、特に高密
度記録の光ディスクを扱う再生装置では高速動作のチル
トサーボ機構が必要である。また、収差を補正するため
に液晶パネル素子を用いたチルトサーボ装置では、環境
温度の低下によって液晶の応答速度が低下し、チルトサ
ーボの動作が遅くなるという問題があった。
【０００４】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、チルトエラーの大きさ
や環境温度の変化に関わらず高速・高精度で動作するチ
ルトサーボ装置を提供することにある。
あり、その目的とするところは、チルトエラーの大きさ
や環境温度の変化に関わらず高速・高精度で動作するチ
ルトサーボ装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によるチルトサー
ボ装置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光を検
出する光検出手段と、光記録媒体上の光ビーム照射位置
における法線と光ビームの光軸とのなすチルト角により
生じるチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段
と、前記光検出手段の検出信号強度に基づいてチルトエ
ラー補正手段を制御する制御手段と、を有するチルトサ
ーボ装置であって、チルトエラー補正手段の補正値を第
１の補正幅だけ変更せしめて検出信号強度を得る補正値
変更手段と、補正値を第１の補正幅だけ変更した場合の
検出信号強度の変化量と所定の変化量とを比較する比較
手段と、比較手段の比較結果に基づいて、第１の補正幅
を変更せしめる補正幅変更手段と、を有することを特徴
としている。
ボ装置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光を検
出する光検出手段と、光記録媒体上の光ビーム照射位置
における法線と光ビームの光軸とのなすチルト角により
生じるチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段
と、前記光検出手段の検出信号強度に基づいてチルトエ
ラー補正手段を制御する制御手段と、を有するチルトサ
ーボ装置であって、チルトエラー補正手段の補正値を第
１の補正幅だけ変更せしめて検出信号強度を得る補正値
変更手段と、補正値を第１の補正幅だけ変更した場合の
検出信号強度の変化量と所定の変化量とを比較する比較
手段と、比較手段の比較結果に基づいて、第１の補正幅
を変更せしめる補正幅変更手段と、を有することを特徴
としている。
【０００６】また、本発明によるチルトサーボ装置にお
いては、上記判別手段は補正値を変更した場合の検出信
号強度の減少をも判別し、上記補正幅変更手段は検出信
号強度の減少が判別された場合に補正値の増減方向を反
転せしめ、かつ補正幅を算出することを特徴としてい
る。さらに、本発明によるチルトサーボ装置において
は、上記チルトエラー補正手段は、光ビームの光軸上に
配置された収差補正用の液晶パネル素子であり、上記制
御手段の制御信号は液晶パネル素子の駆動信号であるこ
とを特徴としている。
いては、上記判別手段は補正値を変更した場合の検出信
号強度の減少をも判別し、上記補正幅変更手段は検出信
号強度の減少が判別された場合に補正値の増減方向を反
転せしめ、かつ補正幅を算出することを特徴としてい
る。さらに、本発明によるチルトサーボ装置において
は、上記チルトエラー補正手段は、光ビームの光軸上に
配置された収差補正用の液晶パネル素子であり、上記制
御手段の制御信号は液晶パネル素子の駆動信号であるこ
とを特徴としている。
【０００７】また、本発明によるチルトサーボ装置は、
更に液晶パネル素子の置かれた環境の温度を検出する温
度検出手段を有し、補正幅は検出された環境温度に基づ
いて確定されることを特徴としている。さらに、本発明
によるチルトサーボ装置は、上記変化量が所定の閾値よ
りも小となる補正値をチルトエラー補正の最適値として
蓄積する蓄積手段を更に有し、制御手段は、蓄積された
最適値をチルトエラー補正手段の補正値の初期値として
用いることを特徴としている。
更に液晶パネル素子の置かれた環境の温度を検出する温
度検出手段を有し、補正幅は検出された環境温度に基づ
いて確定されることを特徴としている。さらに、本発明
によるチルトサーボ装置は、上記変化量が所定の閾値よ
りも小となる補正値をチルトエラー補正の最適値として
蓄積する蓄積手段を更に有し、制御手段は、蓄積された
最適値をチルトエラー補正手段の補正値の初期値として
用いることを特徴としている。
【０００８】さらに、本発明によるチルトサーボ装置
は、検出信号強度が所定の上限値を超えないように前記
検出信号強度のレベルを変更するレベル変更手段を有す
ることを特徴としている。本発明によるチルトサーボ装
置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光を検出す
る光検出手段と、光記録媒体上の光ビーム照射位置にお
ける法線と光ビームの光軸とのなすチルト角により生じ
るチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段と、光
検出手段の検出信号強度に基づいてチルトエラー補正手
段を制御する制御手段と、を有するチルトサーボ装置で
あって、チルトエラー補正手段の補正値を所定値だけ変
更した場合の検出信号強度の増減及び変化量を判別する
判別手段と、判別手段の判別結果に基づいて、補正幅を
算出する算出手段と、算出された補正幅だけ互いに異な
る複数の補正値を確定する確定手段と、を有し、制御手
段は、複数の補正値のうち検出信号強度が最大となる補
正値にチルトエラー補正手段を制御することを特徴とし
ている。
は、検出信号強度が所定の上限値を超えないように前記
検出信号強度のレベルを変更するレベル変更手段を有す
ることを特徴としている。本発明によるチルトサーボ装
置は、光記録媒体に照射した光ビームの反射光を検出す
る光検出手段と、光記録媒体上の光ビーム照射位置にお
ける法線と光ビームの光軸とのなすチルト角により生じ
るチルトエラーを補正するチルトエラー補正手段と、光
検出手段の検出信号強度に基づいてチルトエラー補正手
段を制御する制御手段と、を有するチルトサーボ装置で
あって、チルトエラー補正手段の補正値を所定値だけ変
更した場合の検出信号強度の増減及び変化量を判別する
判別手段と、判別手段の判別結果に基づいて、補正幅を
算出する算出手段と、算出された補正幅だけ互いに異な
る複数の補正値を確定する確定手段と、を有し、制御手
段は、複数の補正値のうち検出信号強度が最大となる補
正値にチルトエラー補正手段を制御することを特徴とし
ている。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の実施例を図面を参照しつ
つ詳細に説明する。尚、以下に説明する図において、実
質的に同等な部分には同一の参照符を付している。第１の実施例 図１は、本発明の第１の実施例である光ディスクプレー
ヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であり、
光ディスク１、光ピックアップ２、ＲＦ振幅強度検出器
１１、チルトサーボ制御部１４、液晶駆動回路１５、及
びシステム制御部１７を有している。光ピックアップ２
は、受光素子３、対物レンズ５、液晶パネル素子７、及
びサーミスタ８を有している。
つ詳細に説明する。尚、以下に説明する図において、実
質的に同等な部分には同一の参照符を付している。第１の実施例 図１は、本発明の第１の実施例である光ディスクプレー
ヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であり、
光ディスク１、光ピックアップ２、ＲＦ振幅強度検出器
１１、チルトサーボ制御部１４、液晶駆動回路１５、及
びシステム制御部１７を有している。光ピックアップ２
は、受光素子３、対物レンズ５、液晶パネル素子７、及
びサーミスタ８を有している。
【００１０】光ピックアップ２内のレーザ光源（図示し
ない）から照射された光ビームは光ディスク１により反
射され、反射光は受光素子３で検出される。検出された
ＲＦ信号はＲＦ振幅強度検出器１１に送られる。光ピッ
クアップ２には光ビームの光軸に液晶パネル素子７が配
置され、光学系の収差を補正することができる。この液
晶パネル素子７の動作については後述する。ＲＦ振幅強
度検出器１１は、受け取ったＲＦ信号の包絡線を検出し
てＲＦ振幅強度信号としてチルトサーボ制御部１４に送
出する。また、サーミスタ８から光ピックアップ２の環
境温度を示す出力がチルトサーボ制御部１４に供給され
る。上記したＲＦ振幅強度信号及び環境温度に基づい
て、チルトサーボ制御部１４は、チルトエラーを補正す
るためのデータ制御信号、すなわちチルト制御信号及び
バイアス制御信号を液晶駆動回路１５に送出する。これ
により液晶パネル素子７は、液晶パネル素子７を通過す
る光の位相差を可変でき収差を補正することでチルトエ
ラー補正手段として機能する。一方、システム制御部１
７は、最適なチルトサーボを行うようにチルトサーボ制
御部１４を制御する。チルトサーボ制御部１４及びシス
テム制御部１７は一体としてチルトエラー補正制御手段
として機能する。また、チルトサーボ制御部１４及びシ
ステム制御部１７にはＲＯＭ及びＲＡＭからなるメモリ
ー（図示しない）が構成されている。
ない）から照射された光ビームは光ディスク１により反
射され、反射光は受光素子３で検出される。検出された
ＲＦ信号はＲＦ振幅強度検出器１１に送られる。光ピッ
クアップ２には光ビームの光軸に液晶パネル素子７が配
置され、光学系の収差を補正することができる。この液
晶パネル素子７の動作については後述する。ＲＦ振幅強
度検出器１１は、受け取ったＲＦ信号の包絡線を検出し
てＲＦ振幅強度信号としてチルトサーボ制御部１４に送
出する。また、サーミスタ８から光ピックアップ２の環
境温度を示す出力がチルトサーボ制御部１４に供給され
る。上記したＲＦ振幅強度信号及び環境温度に基づい
て、チルトサーボ制御部１４は、チルトエラーを補正す
るためのデータ制御信号、すなわちチルト制御信号及び
バイアス制御信号を液晶駆動回路１５に送出する。これ
により液晶パネル素子７は、液晶パネル素子７を通過す
る光の位相差を可変でき収差を補正することでチルトエ
ラー補正手段として機能する。一方、システム制御部１
７は、最適なチルトサーボを行うようにチルトサーボ制
御部１４を制御する。チルトサーボ制御部１４及びシス
テム制御部１７は一体としてチルトエラー補正制御手段
として機能する。また、チルトサーボ制御部１４及びシ
ステム制御部１７にはＲＯＭ及びＲＡＭからなるメモリ
ー（図示しない）が構成されている。
【００１１】次に、液晶パネル素子７の構成及び収差の
補正動作について説明する。まず、対物レンズ５の光軸
に対してディスクが傾くとき、波面収差が発生してディ
スク上の光スポットが劣化する。尚、波面収差のうちの
ほとんどはコマ収差である。この波面収差の対物レンズ
５の瞳上での分布形状はチルト角によってはほとんど変
化せず、また、１度程度の小さなチルト角範囲ではチル
ト角と波面収差量はほぼ比例する。液晶パネル素子７
は、例えばこの分布形状に基づいて、複数の領域に分割
されたパターンを有している。これら複数の分割領域は
個別の駆動電圧により各分割領域毎に可変制御すること
によって、各分割領域を通過する光の位相差を個別に変
えることができるので、チルトにより生じる収差の補正
が可能となる。一方、チルトサーボ制御部１４のＲＯＭ
にはチルト補正値に対応して液晶パネル素子７の各分割
領域に与えるべき液晶駆動量が格納されている。また、
液晶の位相特性及び応答特性は温度により変化するの
で、チルト補正値に対応する位相補正のための液晶駆動
量も変化する。従って、温度変動に対するデータも上記
ＲＯＭ内に格納されている。これらのデータによって最
適な位相補正制御がなされる。
補正動作について説明する。まず、対物レンズ５の光軸
に対してディスクが傾くとき、波面収差が発生してディ
スク上の光スポットが劣化する。尚、波面収差のうちの
ほとんどはコマ収差である。この波面収差の対物レンズ
５の瞳上での分布形状はチルト角によってはほとんど変
化せず、また、１度程度の小さなチルト角範囲ではチル
ト角と波面収差量はほぼ比例する。液晶パネル素子７
は、例えばこの分布形状に基づいて、複数の領域に分割
されたパターンを有している。これら複数の分割領域は
個別の駆動電圧により各分割領域毎に可変制御すること
によって、各分割領域を通過する光の位相差を個別に変
えることができるので、チルトにより生じる収差の補正
が可能となる。一方、チルトサーボ制御部１４のＲＯＭ
にはチルト補正値に対応して液晶パネル素子７の各分割
領域に与えるべき液晶駆動量が格納されている。また、
液晶の位相特性及び応答特性は温度により変化するの
で、チルト補正値に対応する位相補正のための液晶駆動
量も変化する。従って、温度変動に対するデータも上記
ＲＯＭ内に格納されている。これらのデータによって最
適な位相補正制御がなされる。
【００１２】次に、本実施例における可変ステップ山登
り制御を用いたチルトエラー補正について、図２、図３
に示すフローチャート、及び図４に示す可変ステップ制
御の動作の説明図を参照しつつ詳細に説明する。尚、図
４において、横軸は光ビームの光軸と照射位置における
光ディスク面とのなす角度が垂直のときを０とし、その
状態から一方のラジアル方向に生じたチルト角の向きを
正にとり、他方のラジアル方向に生じたチルト角の向き
を負にとってある。
り制御を用いたチルトエラー補正について、図２、図３
に示すフローチャート、及び図４に示す可変ステップ制
御の動作の説明図を参照しつつ詳細に説明する。尚、図
４において、横軸は光ビームの光軸と照射位置における
光ディスク面とのなす角度が垂直のときを０とし、その
状態から一方のラジアル方向に生じたチルト角の向きを
正にとり、他方のラジアル方向に生じたチルト角の向き
を負にとってある。
【００１３】図２及び図３のフローチャートに示す動作
は、例えば光ディスク１の記録又は再生中にシステム制
御部１７による割り込み処理によって実行される。ま
ず、この制御ルーチンにおいて用いられるチルト補正量
に関するパラメータ（Ｔ，Δｔ，NORMAL, UP等）や各種
の識別レベル（A, B, EPS 等）などの初期設定値を取り
込む（ステップＳ１１）。これらの設定値は、メモリー
から取り込むか、又はシステム制御部１７がこの制御ル
ーチンを呼ぶ際に引数として渡される。尚、これらの設
定値の各々については後述するが、液晶の温度特性に対
応した値が用いられるようにシステム制御部１７が制御
する。
は、例えば光ディスク１の記録又は再生中にシステム制
御部１７による割り込み処理によって実行される。ま
ず、この制御ルーチンにおいて用いられるチルト補正量
に関するパラメータ（Ｔ，Δｔ，NORMAL, UP等）や各種
の識別レベル（A, B, EPS 等）などの初期設定値を取り
込む（ステップＳ１１）。これらの設定値は、メモリー
から取り込むか、又はシステム制御部１７がこの制御ル
ーチンを呼ぶ際に引数として渡される。尚、これらの設
定値の各々については後述するが、液晶の温度特性に対
応した値が用いられるようにシステム制御部１７が制御
する。
【００１４】次に、ＲＦ振幅強度（Ｖ0）を取込み（ス
テップＳ１２）、チルト補正値を現在の値Ｔ（図４のＳ
点）からΔｔ（＝Δｔ×１）だけ増加させる（ステップ
Ｓ１３、図４のＰ点）。ここで、Δｔはチルト補正の変
更単位であり、可変ステップ制御においてはΔｔの整数
倍だけチルト補正値を変更してチルトエラー補正を実行
する。以下では、このΔｔに乗算する整数パラメータを
「STEP」で表し、従って、１回の変更におけるチルト補
正値の増分量はΔｔ×STEPで表される。チルト補正値を
変更後、ＲＦ振幅強度（Ｖ1）を取込み（ステップＳ１
４）、その増分（ΔＶ）がゼロ以上であるか否かを判別
する（ステップＳ１５）。ΔＶがゼロ未満の場合は、図
４に示すＲＦ振幅強度曲線のピーク、すなわちチルト最
適値から外れる方向であるので、Δｔを−Δｔで置き換
えてチルト補正値の補正方向を反転する（ステップＳ１
６）。ΔＶがゼロ以上の場合はステップＳ１７に進む。
テップＳ１２）、チルト補正値を現在の値Ｔ（図４のＳ
点）からΔｔ（＝Δｔ×１）だけ増加させる（ステップ
Ｓ１３、図４のＰ点）。ここで、Δｔはチルト補正の変
更単位であり、可変ステップ制御においてはΔｔの整数
倍だけチルト補正値を変更してチルトエラー補正を実行
する。以下では、このΔｔに乗算する整数パラメータを
「STEP」で表し、従って、１回の変更におけるチルト補
正値の増分量はΔｔ×STEPで表される。チルト補正値を
変更後、ＲＦ振幅強度（Ｖ1）を取込み（ステップＳ１
４）、その増分（ΔＶ）がゼロ以上であるか否かを判別
する（ステップＳ１５）。ΔＶがゼロ未満の場合は、図
４に示すＲＦ振幅強度曲線のピーク、すなわちチルト最
適値から外れる方向であるので、Δｔを−Δｔで置き換
えてチルト補正値の補正方向を反転する（ステップＳ１
６）。ΔＶがゼロ以上の場合はステップＳ１７に進む。
【００１５】次に、ΔＶがピーク値に達したかを判定す
るための所定の小さな値（EPS）と比較し（ステップＳ
１７）、ΔＶの絶対値がEPSよりも小さければ最適値に
達したとして制御をメインルーチンに返す。ΔＶの絶対
値がEPS以上であれば、更に所定値（Ａ）を越えるか否
かを判別する（ステップＳ１８）。ΔＶがＡ未満であれ
ば、STEPを「２」(NORMAL）で置き換え、チルト補正値
を２Δｔだけ増加させる（ステップＳ１９）。チルト補
正値を変更した後、ＲＦ振幅強度（Ｖ2）を取込む（ス
テップＳ２０）。このときのＲＦ振幅強度の増分（Δ
Ｖ）の絶対値がＡを超えるか否かを判別し（ステップＳ
２１）、Ａを超える場合はSTEPを「４」(UP）で置き換
え（ステップＳ２２）、Ａ以下の場合はSTEPは「２」(N
ORMAL）のままステップＳ２８に進む。ステップＳ１８
においてΔＶがＡを超える場合には、STEPを「４」(U
P）で置き換え（ステップＳ２３）、チルト補正値を４
Δｔ増加させる（ステップＳ２４、図４のＱ点）。チル
ト補正値を変更した後、ＲＦ振幅強度（Ｖ2）を取込む
（ステップＳ２５）。このときの増分（ΔＶ）の絶対値
が１．５Ａを超えるか否かを判別し（ステップＳ２
６）、１．５Ａ以下の場合はSTEPを「２」(NORMAL）で
置き換え（ステップＳ２７、図４のＲ点）、１．５Ａを
超える場合はSTEPは「４」(UP）のままステップＳ２８
に進む。更に、ΔＶの正負、すなわち、ＲＦ振幅強度が
増加したか減少したかを判別し（ステップＳ２８）、Δ
Ｖがゼロ以上の場合はステップＳ３２に進む。ΔＶが負
（減少）であった場合には、Δｔを−Δｔで置き換えて
チルト補正値の補正方向を反転させ、STEPを「２」(NOR
MAL）で置き換える（ステップＳ２９）。さらに、ΔＶ
の絶対値が所定値Ｂを超えるか否かを判別し（ステップ
Ｓ３０）、Ｂを超える場合はSTEPに微調整のための値
「１」(FINE）を加算する（ステップＳ３１、図４のＵ
点）。
るための所定の小さな値（EPS）と比較し（ステップＳ
１７）、ΔＶの絶対値がEPSよりも小さければ最適値に
達したとして制御をメインルーチンに返す。ΔＶの絶対
値がEPS以上であれば、更に所定値（Ａ）を越えるか否
かを判別する（ステップＳ１８）。ΔＶがＡ未満であれ
ば、STEPを「２」(NORMAL）で置き換え、チルト補正値
を２Δｔだけ増加させる（ステップＳ１９）。チルト補
正値を変更した後、ＲＦ振幅強度（Ｖ2）を取込む（ス
テップＳ２０）。このときのＲＦ振幅強度の増分（Δ
Ｖ）の絶対値がＡを超えるか否かを判別し（ステップＳ
２１）、Ａを超える場合はSTEPを「４」(UP）で置き換
え（ステップＳ２２）、Ａ以下の場合はSTEPは「２」(N
ORMAL）のままステップＳ２８に進む。ステップＳ１８
においてΔＶがＡを超える場合には、STEPを「４」(U
P）で置き換え（ステップＳ２３）、チルト補正値を４
Δｔ増加させる（ステップＳ２４、図４のＱ点）。チル
ト補正値を変更した後、ＲＦ振幅強度（Ｖ2）を取込む
（ステップＳ２５）。このときの増分（ΔＶ）の絶対値
が１．５Ａを超えるか否かを判別し（ステップＳ２
６）、１．５Ａ以下の場合はSTEPを「２」(NORMAL）で
置き換え（ステップＳ２７、図４のＲ点）、１．５Ａを
超える場合はSTEPは「４」(UP）のままステップＳ２８
に進む。更に、ΔＶの正負、すなわち、ＲＦ振幅強度が
増加したか減少したかを判別し（ステップＳ２８）、Δ
Ｖがゼロ以上の場合はステップＳ３２に進む。ΔＶが負
（減少）であった場合には、Δｔを−Δｔで置き換えて
チルト補正値の補正方向を反転させ、STEPを「２」(NOR
MAL）で置き換える（ステップＳ２９）。さらに、ΔＶ
の絶対値が所定値Ｂを超えるか否かを判別し（ステップ
Ｓ３０）、Ｂを超える場合はSTEPに微調整のための値
「１」(FINE）を加算する（ステップＳ３１、図４のＵ
点）。
【００１６】次に、現在のチルト補正値Ｔに現在のSTEP
値に対応する補正増分量（Δｔ×STEP）を加算してＲＦ
振幅強度を取り込むチルト補正値を求めるとともに、現
在のＲＦ振幅強度（Ｖ2）をＶ1に格納する（ステップＳ
３２）。次のチルト補正値Ｔが所定の最小チルト補正値
（TMIN）よりも小さいか否かを判別し（ステップＳ３
３）、小さければＴをTMINで置き換える（ステップＳ３
４）。また、このチルト補正値Ｔが所定の最大チルト補
正値（TMAX）よりも大きいか否かを判別し（ステップＳ
３５）、大きければＴをTMAXで置き換える（ステップＳ
３６）。チルト補正値を変更してＲＦ振幅強度（Ｖ2）
を取込み（ステップＳ３７）、ΔＶの絶対値をEPSと比
較する（ステップＳ３８）。ΔＶの絶対値がEPS以上で
あれば、ステップＳ１８に戻り、上記した処理を繰り返
し、EPSよりも小さい場合はピーク値に到達したと判断
されるので制御をメインルーチンに返す。
値に対応する補正増分量（Δｔ×STEP）を加算してＲＦ
振幅強度を取り込むチルト補正値を求めるとともに、現
在のＲＦ振幅強度（Ｖ2）をＶ1に格納する（ステップＳ
３２）。次のチルト補正値Ｔが所定の最小チルト補正値
（TMIN）よりも小さいか否かを判別し（ステップＳ３
３）、小さければＴをTMINで置き換える（ステップＳ３
４）。また、このチルト補正値Ｔが所定の最大チルト補
正値（TMAX）よりも大きいか否かを判別し（ステップＳ
３５）、大きければＴをTMAXで置き換える（ステップＳ
３６）。チルト補正値を変更してＲＦ振幅強度（Ｖ2）
を取込み（ステップＳ３７）、ΔＶの絶対値をEPSと比
較する（ステップＳ３８）。ΔＶの絶対値がEPS以上で
あれば、ステップＳ１８に戻り、上記した処理を繰り返
し、EPSよりも小さい場合はピーク値に到達したと判断
されるので制御をメインルーチンに返す。
【００１７】以上説明したように、本実施例において
は、所定の補正量（Δｔ）の整数倍だけチルト補正値を
変更し、この整数値をパラメータとしてチルトエラー補
正を実行している。すなわち、チルト補正値変更後のＲ
Ｆ振幅強度の増分に基づいて次のチルト補正値変更のた
めの整数パラメータ値を確定する可変ステップ山登り制
御を行っているので、補正開始時のチルト補正値が補正
最適値から離れていても迅速にチルト補正値を最適値に
収束させることが可能であり、また、最適値に近づいた
場合にはチルト補正値を微調整することが可能である。
従って、高速かつ高精度なチルトエラー補正が可能なチ
ルトサーボ装置を実現できる。また、前述したように、
環境温度に応じて最適なチルト補正値変更パラメータや
各種の識別レベル等のパラメータを用いるので、液晶の
応答速度が低下しても高速かつ安定した制御が可能であ
る。
は、所定の補正量（Δｔ）の整数倍だけチルト補正値を
変更し、この整数値をパラメータとしてチルトエラー補
正を実行している。すなわち、チルト補正値変更後のＲ
Ｆ振幅強度の増分に基づいて次のチルト補正値変更のた
めの整数パラメータ値を確定する可変ステップ山登り制
御を行っているので、補正開始時のチルト補正値が補正
最適値から離れていても迅速にチルト補正値を最適値に
収束させることが可能であり、また、最適値に近づいた
場合にはチルト補正値を微調整することが可能である。
従って、高速かつ高精度なチルトエラー補正が可能なチ
ルトサーボ装置を実現できる。また、前述したように、
環境温度に応じて最適なチルト補正値変更パラメータや
各種の識別レベル等のパラメータを用いるので、液晶の
応答速度が低下しても高速かつ安定した制御が可能であ
る。
【００１８】尚、上記した実施例においては、チルト補
正値を正方向に補正して行く場合を例に説明したが、チ
ルト補正値の補正方向の正負は任意である。従って、上
記した説明において負方向に補正する場合に対しても全
く同様に実行することができる。また、上記したチルト
補正値変更や識別レベル等に関するパラメータ値は説明
のためであって、チルトエラー補正が最適に行われるよ
うに設定すればよい。
正値を正方向に補正して行く場合を例に説明したが、チ
ルト補正値の補正方向の正負は任意である。従って、上
記した説明において負方向に補正する場合に対しても全
く同様に実行することができる。また、上記したチルト
補正値変更や識別レベル等に関するパラメータ値は説明
のためであって、チルトエラー補正が最適に行われるよ
うに設定すればよい。
【００１９】第２の実施例 以下に、本発明の第２の実施例について説明する。尚、
本実施例のチルトサーボ装置の構成は第１の実施例と同
様である。本実施例におけるＮ点法制御を用いたチルト
エラー補正について、Ｎ＝４の場合を例に図５に示すフ
ローチャート、及び図６〜９に示すＮ点法制御の動作を
説明するための図を参照しつつ詳細に説明する。
本実施例のチルトサーボ装置の構成は第１の実施例と同
様である。本実施例におけるＮ点法制御を用いたチルト
エラー補正について、Ｎ＝４の場合を例に図５に示すフ
ローチャート、及び図６〜９に示すＮ点法制御の動作を
説明するための図を参照しつつ詳細に説明する。
【００２０】図５のフローチャートに示す動作は、例え
ば光ディスク１の記録又は再生中にシステム制御部１７
による割り込み処理によって実行される。まず、ＲＦ振
幅強度（Ｖs）を取込み（ステップＳ４１）、チルト補
正値を現在の値Ｔ（図６〜９のＳ点）からΔｔ（＝Δｔ
×１）だけ増加させる（ステップＳ４２、図６〜９のＦ
点）。ここで、第１の実施例の場合と同様に、Δｔはチ
ルト補正値の変更単位であり、このΔｔに乗算する整数
パラメータを「STEP」で表す。チルト補正値を変更後、
ＲＦ振幅強度（Ｖf）を取込み（ステップＳ４３）、そ
の増分（ΔＶ＝Ｖf−Ｖs）がゼロ以上であるか否かを判
別する（ステップＳ４４）。ΔＶがゼロ以上の場合は、
図６又は図７に示すようにＲＦ振幅強度曲線のピーク、
すなわちチルト最適値の方向にチルト補正値を変更して
いると判断されるので、ΔＶを所定の値（Ｖth）と比較
する（ステップＳ４５）。ΔＶがＶth以上であれば、後
述する４点のＲＦ振幅強度検出点のチルト補正値間隔を
設定するための整数値パラメータSTEPを「３」に設定し
（ステップＳ４６、図６）、ΔＶがＶth未満であればST
EPを「２」に設定する（ステップＳ４７、図７）。一
方、ステップＳ４４においてΔＶがゼロ未満の場合は、
図８又は図９に示すようにＲＦ振幅強度曲線のピークか
ら外れる方向であるので、Δｔを−Δｔで置き換えてチ
ルト補正値の補正方向を反転する（ステップＳ４８）。
次に、ΔＶを所定の値Ｖthと比較する（ステップＳ４
９）。ΔＶが−Ｖth以下であれば、すなわちΔＶの絶対
値がＶth以上であればパラメータSTEPを「４」に設定し
（ステップＳ５０、図８）、ΔＶの絶対値がＶth未満で
あればSTEPを「３」に設定する（ステップＳ５１、図
９）。
ば光ディスク１の記録又は再生中にシステム制御部１７
による割り込み処理によって実行される。まず、ＲＦ振
幅強度（Ｖs）を取込み（ステップＳ４１）、チルト補
正値を現在の値Ｔ（図６〜９のＳ点）からΔｔ（＝Δｔ
×１）だけ増加させる（ステップＳ４２、図６〜９のＦ
点）。ここで、第１の実施例の場合と同様に、Δｔはチ
ルト補正値の変更単位であり、このΔｔに乗算する整数
パラメータを「STEP」で表す。チルト補正値を変更後、
ＲＦ振幅強度（Ｖf）を取込み（ステップＳ４３）、そ
の増分（ΔＶ＝Ｖf−Ｖs）がゼロ以上であるか否かを判
別する（ステップＳ４４）。ΔＶがゼロ以上の場合は、
図６又は図７に示すようにＲＦ振幅強度曲線のピーク、
すなわちチルト最適値の方向にチルト補正値を変更して
いると判断されるので、ΔＶを所定の値（Ｖth）と比較
する（ステップＳ４５）。ΔＶがＶth以上であれば、後
述する４点のＲＦ振幅強度検出点のチルト補正値間隔を
設定するための整数値パラメータSTEPを「３」に設定し
（ステップＳ４６、図６）、ΔＶがＶth未満であればST
EPを「２」に設定する（ステップＳ４７、図７）。一
方、ステップＳ４４においてΔＶがゼロ未満の場合は、
図８又は図９に示すようにＲＦ振幅強度曲線のピークか
ら外れる方向であるので、Δｔを−Δｔで置き換えてチ
ルト補正値の補正方向を反転する（ステップＳ４８）。
次に、ΔＶを所定の値Ｖthと比較する（ステップＳ４
９）。ΔＶが−Ｖth以下であれば、すなわちΔＶの絶対
値がＶth以上であればパラメータSTEPを「４」に設定し
（ステップＳ５０、図８）、ΔＶの絶対値がＶth未満で
あればSTEPを「３」に設定する（ステップＳ５１、図
９）。
【００２１】上記したようにパラメータSTEPの設定が完
了した後、ＲＦ振幅強度検出点の数を計数するためｉを
１に初期化し、ＲＦ振幅強度の最大値及びそのときのチ
ルト補正値を格納するVMAX及び TMAX を０に初期化する
（ステップＳ５２）。次に、チルト補正値を現在の値Ｔ
（図６〜９のＦ点）から（Δｔ×STEP）だけ増加させ
（ステップＳ５３、図６〜９のＰ1点）、このチルト補
正値におけるＲＦ振幅強度Ｖ(1)を取り込む（ステップ
Ｓ５４）。取り込んだＶ(1)をVMAXと比較して（ステッ
プＳ５５）、VMAX以上であればＶ(1)をVMAXとし、この
ときのチルト補正値ＴをTMAXとする（ステップＳ５
６）。次に、計数値ｉを１だけインクリメントして（ス
テップＳ５７）、計数値ｉを検出点の数Ｎ（＝４）と比
較する（ステップＳ５８）。全ての検出点についてＲＦ
振幅強度の取込みが完了していなければステップＳ５３
に戻り、ステップＳ５５までの手順を繰り返す。以上の
処理によって、４点（図６〜９の点Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，Ｐ
4）の値Ｖ(1)〜Ｖ(4)が得られる。全ての検出点につい
てＲＦ振幅強度の取込みが完了したら、チルト補正値を
TMAXに設定する（ステップＳ５９）。尚、このようにし
て得られたＲＦ振幅強度最大点は、図６〜９において、
それぞれ点Ｐ3，Ｐ2，Ｐ2，Ｐ2である。以上の処理が終
了したら可変ステップ制御ルーチンを呼び可変ステップ
山登り制御を用いたチルト制御を実行する（ステップＳ
６０）。
了した後、ＲＦ振幅強度検出点の数を計数するためｉを
１に初期化し、ＲＦ振幅強度の最大値及びそのときのチ
ルト補正値を格納するVMAX及び TMAX を０に初期化する
（ステップＳ５２）。次に、チルト補正値を現在の値Ｔ
（図６〜９のＦ点）から（Δｔ×STEP）だけ増加させ
（ステップＳ５３、図６〜９のＰ1点）、このチルト補
正値におけるＲＦ振幅強度Ｖ(1)を取り込む（ステップ
Ｓ５４）。取り込んだＶ(1)をVMAXと比較して（ステッ
プＳ５５）、VMAX以上であればＶ(1)をVMAXとし、この
ときのチルト補正値ＴをTMAXとする（ステップＳ５
６）。次に、計数値ｉを１だけインクリメントして（ス
テップＳ５７）、計数値ｉを検出点の数Ｎ（＝４）と比
較する（ステップＳ５８）。全ての検出点についてＲＦ
振幅強度の取込みが完了していなければステップＳ５３
に戻り、ステップＳ５５までの手順を繰り返す。以上の
処理によって、４点（図６〜９の点Ｐ1，Ｐ2，Ｐ3，Ｐ
4）の値Ｖ(1)〜Ｖ(4)が得られる。全ての検出点につい
てＲＦ振幅強度の取込みが完了したら、チルト補正値を
TMAXに設定する（ステップＳ５９）。尚、このようにし
て得られたＲＦ振幅強度最大点は、図６〜９において、
それぞれ点Ｐ3，Ｐ2，Ｐ2，Ｐ2である。以上の処理が終
了したら可変ステップ制御ルーチンを呼び可変ステップ
山登り制御を用いたチルト制御を実行する（ステップＳ
６０）。
【００２２】以上説明したように、本実施例において
は、所定の補正量（Δｔ）の整数倍のチルト補正値間隔
でＮ（＝４）点のＲＦ振幅強度を検出している。この
際、チルトサーボ開始時点のＲＦ振幅強度の変化に基づ
いてこの整数パラメータを確定し、チルトエラー補正を
実行している。すなわち、チルトサーボ開始位置におけ
るＲＦ振幅強度曲線の傾き及びその向きに応じて、ＲＦ
振幅強度検出のためのチルト補正値間隔を得ているの
で、データ取込みに要する時間も短く、可変ステップ制
御における収束を高速化できる。従って、高速に動作す
るチルトサーボ装置が実現できる。また、検出点の数
Ｎ、チルト補正値間隔等を最適化することによってさら
に高精度なチルトエラー補正が可能となる。さらに、前
述したように、環境温度に応じて各パラメータに最適な
値を用いるようにしているので、高速かつ安定した制御
が可能である。
は、所定の補正量（Δｔ）の整数倍のチルト補正値間隔
でＮ（＝４）点のＲＦ振幅強度を検出している。この
際、チルトサーボ開始時点のＲＦ振幅強度の変化に基づ
いてこの整数パラメータを確定し、チルトエラー補正を
実行している。すなわち、チルトサーボ開始位置におけ
るＲＦ振幅強度曲線の傾き及びその向きに応じて、ＲＦ
振幅強度検出のためのチルト補正値間隔を得ているの
で、データ取込みに要する時間も短く、可変ステップ制
御における収束を高速化できる。従って、高速に動作す
るチルトサーボ装置が実現できる。また、検出点の数
Ｎ、チルト補正値間隔等を最適化することによってさら
に高精度なチルトエラー補正が可能となる。さらに、前
述したように、環境温度に応じて各パラメータに最適な
値を用いるようにしているので、高速かつ安定した制御
が可能である。
【００２３】尚、上記した実施例においては、チルト補
正値を正方向に補正して行く場合を例に説明したが、負
方向に補正する場合も全く同様に実行することができ
る。また、上記したチルト補正値変更や識別レベル等に
関するパラメータ値は説明のためであって、チルトエラ
ー補正が最適に行われるように設定すればよい。第３の実施例 図１０は、本発明の第３の実施例である光ディスクプレ
ーヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であ
る。基本的な構成は第１の実施例と同様であるが、本実
施例に特徴的な点はＲＦ振幅強度検出器１１’内にレベ
ルシフト部２２が設けられていることである。
正値を正方向に補正して行く場合を例に説明したが、負
方向に補正する場合も全く同様に実行することができ
る。また、上記したチルト補正値変更や識別レベル等に
関するパラメータ値は説明のためであって、チルトエラ
ー補正が最適に行われるように設定すればよい。第３の実施例 図１０は、本発明の第３の実施例である光ディスクプレ
ーヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示す図であ
る。基本的な構成は第１の実施例と同様であるが、本実
施例に特徴的な点はＲＦ振幅強度検出器１１’内にレベ
ルシフト部２２が設けられていることである。
【００２４】図１１にレベルシフト部２２の内部構成を
示す。レベルシフト部２２は、オペアンプ２３、ローパ
スフィルタ（ＬＰＦ）２５、及び抵抗器２７(R1)，２８
(R2)から構成され、ＲＦ振幅強度入力端、チルトサーボ
制御部１４からのＰＷＭ（Pulse Width Modulation）制
御信号入力端、及びレベルシフト信号出力端を有してい
る。
示す。レベルシフト部２２は、オペアンプ２３、ローパ
スフィルタ（ＬＰＦ）２５、及び抵抗器２７(R1)，２８
(R2)から構成され、ＲＦ振幅強度入力端、チルトサーボ
制御部１４からのＰＷＭ（Pulse Width Modulation）制
御信号入力端、及びレベルシフト信号出力端を有してい
る。
【００２５】レベルシフト部２２の動作について説明す
ると、ＲＦ振幅強度検出器１１’内でＲＦ信号の包絡線
検出により生成されたＲＦ振幅強度信号はオペアンプ２
３の一端に入力される。他方、チルトサーボ制御部１４
から入力されたＰＷＭ制御信号がＬＰＦ２５によって積
分されてオペアンプ２３の他端に入力される。従って、
オペアンプ２３の出力端からはＰＷＭ制御信号に応じて
レベルシフトされた振幅強度信号ＶＲがチルトサーボ制
御部１４に出力される。
ると、ＲＦ振幅強度検出器１１’内でＲＦ信号の包絡線
検出により生成されたＲＦ振幅強度信号はオペアンプ２
３の一端に入力される。他方、チルトサーボ制御部１４
から入力されたＰＷＭ制御信号がＬＰＦ２５によって積
分されてオペアンプ２３の他端に入力される。従って、
オペアンプ２３の出力端からはＰＷＭ制御信号に応じて
レベルシフトされた振幅強度信号ＶＲがチルトサーボ制
御部１４に出力される。
【００２６】本実施例におけるレベルシフト制御を用い
たチルトエラー補正について、図１２及び図１３に示す
フローチャートを参照しつつ詳細に説明する。図１２及
び図１３のフローチャートに示す動作は、例えば光ディ
スク１の記録又は再生中にシステム制御部１７による割
り込み処理によって実行される。図１２のフローチャー
トを参照しつつレベルシフト制御の動作について説明す
る。まず、この制御ルーチンにおいて用いられる初期設
定値を取り込む（ステップＳ６１）。次に、レベルシフ
ト部２２の出力ＶＲの平均化のため、カウント値ｉを１
に初期化し（ステップＳ６２）、ＶＲ(i)を読み込む
（ステップＳ６３）。ＶＲを所定の回数、例えば８回読
み込んだら（ステップＳ６４）、平均値を求める（ステ
ップＳ６５）。次に、ＶＲが目標電圧範囲（所定値Ａ）
内であるか否かを判別する（ステップＳ６６）。目標電
圧範囲内である場合は、制御をメインルーチンに戻し、
目標電圧範囲内になければレベルシフト制御出力値（OU
T）を、ＯＵＴ＝ＯＵＴ＋ＶＲ／αとして求める（ステ
ップＳ６７）。求めた値OUTが所定の最大値を超えてい
るか否かを判別し（ステップＳ６８）、超えていればエ
ラー停止を示す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御
をメインルーチンに戻す。OUTが所定の最大値を超えて
いなければ、所定の最小値未満か否かを判別し（ステッ
プＳ６９）、所定の最小値未満であればエラー停止を示
す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御をメインルー
チンに戻す。OUTが所定の最小値未満でなければ、OUTに
対応するＰＷＭ制御信号を出力し（ステップＳ７０）、
調整回数を計数するカウント値Ｊを１だけインクリメン
トする（ステップＳ７１）。所定の調整回数を超えてい
るか否かを判別し（ステップＳ７２）、超えていればエ
ラー停止を示す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御
をメインルーチンに戻す。所定の調整回数を超えていな
ければ、所定の時間だけ待機（ステップＳ７３）した
後、ステップＳ６２に戻りレベルシフトの手順を繰り返
す。
たチルトエラー補正について、図１２及び図１３に示す
フローチャートを参照しつつ詳細に説明する。図１２及
び図１３のフローチャートに示す動作は、例えば光ディ
スク１の記録又は再生中にシステム制御部１７による割
り込み処理によって実行される。図１２のフローチャー
トを参照しつつレベルシフト制御の動作について説明す
る。まず、この制御ルーチンにおいて用いられる初期設
定値を取り込む（ステップＳ６１）。次に、レベルシフ
ト部２２の出力ＶＲの平均化のため、カウント値ｉを１
に初期化し（ステップＳ６２）、ＶＲ(i)を読み込む
（ステップＳ６３）。ＶＲを所定の回数、例えば８回読
み込んだら（ステップＳ６４）、平均値を求める（ステ
ップＳ６５）。次に、ＶＲが目標電圧範囲（所定値Ａ）
内であるか否かを判別する（ステップＳ６６）。目標電
圧範囲内である場合は、制御をメインルーチンに戻し、
目標電圧範囲内になければレベルシフト制御出力値（OU
T）を、ＯＵＴ＝ＯＵＴ＋ＶＲ／αとして求める（ステ
ップＳ６７）。求めた値OUTが所定の最大値を超えてい
るか否かを判別し（ステップＳ６８）、超えていればエ
ラー停止を示す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御
をメインルーチンに戻す。OUTが所定の最大値を超えて
いなければ、所定の最小値未満か否かを判別し（ステッ
プＳ６９）、所定の最小値未満であればエラー停止を示
す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御をメインルー
チンに戻す。OUTが所定の最小値未満でなければ、OUTに
対応するＰＷＭ制御信号を出力し（ステップＳ７０）、
調整回数を計数するカウント値Ｊを１だけインクリメン
トする（ステップＳ７１）。所定の調整回数を超えてい
るか否かを判別し（ステップＳ７２）、超えていればエ
ラー停止を示す信号を送出し（ステップＳ７４）、制御
をメインルーチンに戻す。所定の調整回数を超えていな
ければ、所定の時間だけ待機（ステップＳ７３）した
後、ステップＳ６２に戻りレベルシフトの手順を繰り返
す。
【００２７】次に、本実施例のチルトサーボ制御につい
て図１３のフローチャートを参照しつつ説明する。ま
ず、ディスクの交換が行われたか否かを判別し（ステッ
プＳ８１）、交換が行われていれば、上記したレベルシ
フト制御ルーチンを呼びレベルシフトを実行する（ステ
ップＳ８２）。この際、レベルシフト部２２にはダイナ
ミックレンジの十分大きなＲＦ振幅強度信号を与えるよ
うにしておく。次に、可変ステップ制御ルーチンを呼び
可変ステップ山登り制御を用いたチルト制御を実行する
（ステップＳ８３）。このルーチンに対しては上記のダ
イナミックレンジに対応したパラメータ値を渡すことに
より高精度なチルトサーボ制御がなされる。制御が終了
か否かを判別し（ステップＳ８４）、終了でなければ可
変ステップ制御を続行し、終了であれば制御をメインル
ーチンに戻す。
て図１３のフローチャートを参照しつつ説明する。ま
ず、ディスクの交換が行われたか否かを判別し（ステッ
プＳ８１）、交換が行われていれば、上記したレベルシ
フト制御ルーチンを呼びレベルシフトを実行する（ステ
ップＳ８２）。この際、レベルシフト部２２にはダイナ
ミックレンジの十分大きなＲＦ振幅強度信号を与えるよ
うにしておく。次に、可変ステップ制御ルーチンを呼び
可変ステップ山登り制御を用いたチルト制御を実行する
（ステップＳ８３）。このルーチンに対しては上記のダ
イナミックレンジに対応したパラメータ値を渡すことに
より高精度なチルトサーボ制御がなされる。制御が終了
か否かを判別し（ステップＳ８４）、終了でなければ可
変ステップ制御を続行し、終了であれば制御をメインル
ーチンに戻す。
【００２８】以上説明したように、本実施例において
は、ダイナミックレンジの十分大きなＲＦ振幅強度信号
を用い、その基準電圧を制御可能な範囲にレベルシフト
することによって高精度かつ高速に動作するチルトサー
ボ装置を実現している。第４の実施例 以下に、本発明の第４の実施例について説明する。尚、
本実施例のチルトサーボ装置の構成は第１の実施例と同
様である。
は、ダイナミックレンジの十分大きなＲＦ振幅強度信号
を用い、その基準電圧を制御可能な範囲にレベルシフト
することによって高精度かつ高速に動作するチルトサー
ボ装置を実現している。第４の実施例 以下に、本発明の第４の実施例について説明する。尚、
本実施例のチルトサーボ装置の構成は第１の実施例と同
様である。
【００２９】本実施例のチルトサーボ制御について図１
４のフローチャートを参照しつつ説明する。図１４のフ
ローチャートに示す動作は、システム制御部１７の制御
の下で実行される。まず、ディスクの交換が行われたか
否かを判別し（ステップＳ９１）、交換されていなけれ
ば、メモリーから前回のチルト補正値のデータを読み込
む（ステップＳ９２）。一方、ディスクが交換されてい
ればステップＳ９３に進む。次に、可変ステップ制御ル
ーチンを呼び可変ステップ山登り制御を用いたチルト制
御を実行する（ステップＳ９３）。制御が終了か否かを
判別し（ステップＳ９４）、終了でなければ可変ステッ
プ制御を続行し、終了であればこのときのチルト補正値
をメモリーに記憶して（ステップＳ９５）制御をメイン
ルーチンに戻す。
４のフローチャートを参照しつつ説明する。図１４のフ
ローチャートに示す動作は、システム制御部１７の制御
の下で実行される。まず、ディスクの交換が行われたか
否かを判別し（ステップＳ９１）、交換されていなけれ
ば、メモリーから前回のチルト補正値のデータを読み込
む（ステップＳ９２）。一方、ディスクが交換されてい
ればステップＳ９３に進む。次に、可変ステップ制御ル
ーチンを呼び可変ステップ山登り制御を用いたチルト制
御を実行する（ステップＳ９３）。制御が終了か否かを
判別し（ステップＳ９４）、終了でなければ可変ステッ
プ制御を続行し、終了であればこのときのチルト補正値
をメモリーに記憶して（ステップＳ９５）制御をメイン
ルーチンに戻す。
【００３０】以上説明したように、本実施例において
は、最適なチルト補正値を記憶し、次のチルトサーボ制
御時に記憶値を読み出して用いることによりチルト補正
に要する時間を大幅に短縮することができる。以上詳細
に説明したように、本発明によれば、チルトエラーの大
きさや環境温度の変化に関わらず高速かつ高精度に動作
するチルトサーボ装置を実現できる。
は、最適なチルト補正値を記憶し、次のチルトサーボ制
御時に記憶値を読み出して用いることによりチルト補正
に要する時間を大幅に短縮することができる。以上詳細
に説明したように、本発明によれば、チルトエラーの大
きさや環境温度の変化に関わらず高速かつ高精度に動作
するチルトサーボ装置を実現できる。
【００３１】尚、上記した実施例において示したチルト
サーボ制御は適宜組み合わせて用いてもよい。
サーボ制御は適宜組み合わせて用いてもよい。
【００３２】
【発明の効果】上記したことから明らかなように、本発
明によれば、チルトエラーの大きさに関わらず、また環
境温度の変化によって液晶パネルの応答速度が低下して
も、高速かつ高精度でチルトエラーを補正することが可
能なチルトサーボ装置を実現できる。
明によれば、チルトエラーの大きさに関わらず、また環
境温度の変化によって液晶パネルの応答速度が低下して
も、高速かつ高精度でチルトエラーを補正することが可
能なチルトサーボ装置を実現できる。
【図１】本発明による光ディスクプレーヤのチルトサー
ボ装置の構成を概略的に示すブロック図である。
ボ装置の構成を概略的に示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施例である可変ステップ山登
り制御の手順を示すフローチャートである。
り制御の手順を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第１の実施例である可変ステップ山登
り制御の手順を示すフローチャートである。
り制御の手順を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施例である可変ステップ制御
の動作を説明するための図である。
の動作を説明するための図である。
【図５】本発明の第２の実施例であるＮ点法制御の手順
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第２の実施例であるＮ点法制御の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図７】本発明の第２の実施例であるＮ点法制御の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図８】本発明の第２の実施例であるＮ点法制御の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図９】本発明の第２の実施例であるＮ点法制御の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図１０】本発明の第３の実施例である光ディスクプレ
ーヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示すブロック
図である。
ーヤのチルトサーボ装置の構成を概略的に示すブロック
図である。
【図１１】本発明の第３の実施例におけるレベルシフト
部の内部構成を示すブロック図である。
部の内部構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明の第３の実施例であるレベルシフト制
御の手順を示すフローチャートである。
御の手順を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の第３の実施例であるレベルシフト制
御を用いたチルトサーボ制御の手順を示すフローチャー
トである。
御を用いたチルトサーボ制御の手順を示すフローチャー
トである。
【図１４】本発明の第４の実施例であるチルトサーボ制
御の手順を示すフローチャートである。
御の手順を示すフローチャートである。
１ 光ディスク ２ 光ピックアップ ３ 受光素子 ５ 対物レンズ ７ 液晶パネル素子 ８ サーミスタ １１，１１’ ＲＦ振幅強度検出器 １４ チルトサーボ制御部 １５ 液晶駆動回路 １７ システム制御部 ２２ レベルシフト部 ２３ オペアンプ ２５ ＬＰＦ ２７，２８ 抵抗器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アレックス ブラッドショー 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 (72)発明者 松田 則夫 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 (72)発明者 猶原 真一 埼玉県川越市大字山田字西町25番地１ パ イオニア株式会社川越工場内 Ｆターム(参考） 2H088 EA47 EA61 MA10 2H093 ND60 NG20 5D118 AA13 AA14 BA01 BB02 BF02 BF03 CD04 CD08 DC03 DC12 5D119 AA09 AA21 BA01 DA01 DA05 EC01 JA70
Claims (14)
- 【請求項１】 光記録媒体に照射した光ビームの反射光
を検出する光検出手段と、前記光記録媒体上の光ビーム
照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなすチ
ルト角により生じるチルトエラーを補正するチルトエラ
ー補正手段と、前記光検出手段の検出信号強度に基づい
て前記チルトエラー補正手段を制御する制御手段と、を
有するチルトサーボ装置であって、 前記チルトエラー補正手段の補正値を第１の補正幅だけ
変更せしめて前記検出信号強度を得る補正値変更手段
と、 前記補正値を前記第１の補正幅だけ変更した場合の前記
検出信号強度の変化量と所定の変化量とを比較する比較
手段と、 前記比較手段の比較結果に基づいて、前記第１の補正幅
を変更せしめる補正幅変更手段と、を有することを特徴
とするチルトサーボ装置。 - 【請求項２】 前記補正幅変更手段は、前記比較手段に
よって前記変化量が前記所定の変化量より小なると確定
された場合には、前記第１の補正幅を前記第１の補正幅
よりも小なる第２の補正幅に変更せしめることを特徴と
する請求項１記載のチルトサーボ装置。 - 【請求項３】 前記補正幅変更手段は、前記比較手段に
よって前記変化量が前記所定の変化量より大なると確定
された場合には、前記第１の補正幅を前記第１の補正幅
よりも大なる第３の補正幅に変更せしめることを特徴と
する請求項１記載のチルトサーボ装置。 - 【請求項４】 前記判別手段は前記補正値を変更した場
合の前記検出信号強度の減少をも判別し、前記補正幅変
更手段は前記検出信号強度の減少が判別された場合に前
記補正値の増減方向を反転せしめ、かつ補正幅を算出す
ることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１に記
載のチルトサーボ装置。 - 【請求項５】 前記チルトエラー補正手段は、前記光ビ
ームの光軸上に配置された収差補正用の液晶パネル素子
であり、前記制御手段の制御信号は前記液晶パネル素子
の駆動信号であることを特徴とする請求項１ないし４の
いずれか１に記載のチルトサーボ装置。 - 【請求項６】 前記液晶パネル素子の置かれた環境の温
度を検出する温度検出手段を更に有し、前記補正幅は該
検出された環境温度に基づいて確定されることを特徴と
する請求項５に記載のチルトサーボ装置。 - 【請求項７】 前記変化量が所定の閾値よりも小となる
補正値をチルトエラー補正の最適値として蓄積する蓄積
手段を有し、前記制御手段は、該蓄積された最適値を前
記チルトエラー補正手段の補正値の初期値として用いる
ことを特徴とする請求項１ないし６のいずれか１に記載
のチルトサーボ装置。 - 【請求項８】 前記検出信号強度が所定の上限値を超え
ないように前記検出信号強度のレベルを変更するレベル
変更手段を有することを特徴とする請求項１ないし７の
いずれか１に記載のチルトサーボ装置。 - 【請求項９】 光記録媒体に照射した光ビームの反射光
を検出する光検出手段と、前記光記録媒体上の光ビーム
照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなすチ
ルト角により生じるチルトエラーを補正するチルトエラ
ー補正手段と、前記光検出手段の検出信号強度に基づい
て前記チルトエラー補正手段を制御する制御手段と、を
有するチルトサーボ装置であって、 前記チルトエラー補正手段の補正値を所定値だけ変更し
た場合の前記検出信号強度の増減及び変化量を判別する
判別手段と、 前記判別手段の判別結果に基づいて、補正幅を算出する
算出手段と、 該算出された補正幅だけ互いに異なる複数の補正値を確
定する確定手段と、を有し、 前記制御手段は、前記複数の補正値のうち前記検出信号
強度が最大となる補正値に前記チルトエラー補正手段を
制御することを特徴とするチルトサーボ装置。 - 【請求項１０】 光記録媒体に照射した光ビームの反射
光を検出する光検出手段と、前記光記録媒体上の光ビー
ム照射位置における法線と前記光ビームの光軸とのなす
チルト角により生じるチルトエラーを補正するチルトエ
ラー補正手段と、前記光検出手段の検出信号強度に基づ
いて前記チルトエラー補正手段を制御する制御手段と、
を有するチルトサーボ装置の制御方法であって、 前記チルトエラー補正手段の補正値を第１の補正幅だけ
変更せしめて前記検出信号強度を得る補正値変更ステッ
プと、 前記補正値を前記第１の補正幅だけ変更した場合の前記
検出信号強度の変化量と所定の変化量とを比較する比較
ステップと、 前記比較手段の比較結果に基づいて、前記第１の補正幅
を変更せしめる補正幅変更ステップと、を有することを
特徴とする方法。 - 【請求項１１】 前記判別ステップは前記補正値を変更
した場合の前記検出信号強度の減少を判別するステップ
を更に有し、前記補正幅変更ステップは前記検出信号強
度の減少が判別された場合に前記補正値の増減方向を反
転せしめ、かつ補正幅を算出するステップを有すること
を特徴とする請求項１０記載の方法。 - 【請求項１２】 前記チルトエラー補正手段の補正値を
所定値だけ変更した場合の前記検出信号強度の増減及び
変化量を判別する判別ステップと、 前記判別手段の判別結果に基づいて、補正幅を算出する
算出ステップと、 該算出された補正幅だけ互いに異なる複数の補正値を確
定する確定ステップと、 前記複数の補正値のうち前記検出信号強度が最大となる
補正値に前記チルトエラー補正手段を制御するステップ
と、を前記補正値変更ステップに先立ち実行することを
特徴とする請求項１０記載の方法。 - 【請求項１３】 前記チルトエラー補正手段は、前記光
ビームの光軸上に配置された収差補正用の液晶パネル素
子であり、前記制御手段の制御信号は前記液晶パネル素
子の駆動信号であることを特徴とする請求項１１又は１
２記載の方法。 - 【請求項１４】前記液晶パネル素子の置かれた環境の温
度を検出する温度検出ステップと、 該検出された環境温度に基づいて前記第１の補正幅を確
定するステップと、を有することを特徴とする請求項１
３記載の方法。
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|---|---|---|---|
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1999
- 1999-04-14 JP JP10683699A patent/JP3736666B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-12 US US09/548,263 patent/US6690632B1/en not_active Expired - Fee Related
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