JP2008004162A - 光ディスク判別方法および光ディスク再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクの信号記録面の汚れや指紋等によって、光ディスクの種類や光ディスクの有無を誤って判別することを極力回避した光ディスク判別方法を提供する。
【解決手段】サーボ制御系の自動調整において、最初に検出したフォーカスエラー信号の振幅値によって光ディスク１が低反射型光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合、光ディスク１の信号記録面に対する光ピックアップ２の位置を変えてフォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出し、検出した振幅値の最大値に基づいて光ディスク１の種類および有無を再度判別する。
【選択図】図２

Description

本発明は、反射率の違いによって光ディスクの種類や有無を判別する光ディスク判別方法および、この判別方法を採用した光ディスク再生装置に関するものである。

ＣＤに代表されるCD-DA、CD-R、CD-RW等の光ディスク再生装置においては、データの再生動作に先立ち、光ディスクや光ピックアップに依存する特性を調整するため、サーボ制御系の自動調整が行われる。自動調整の開始時には、光ディスクの検出を行う必要がある。以下、図面を参照して光ディスクの検出方法について説明する。

図１は光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。図１において、１は再生対象の光ディスクである。２は、フォーカス方向およびトラッキング方向に駆動するアクチェータを備え、光ディスク１からの反射光に基づいてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびＲＦ信号を出力する光ピックアップである。３は光ピックアップ２を保持する基台、４は光ピックアップ２を光ディスク１の半径方向に移動させるネジ式の主軸である。５は光ピックアップ２および基台３をギア６ａ、６ｂと主軸４によって光ディスク１の半径方向に移動させる送りモータである。また７は光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータである。

次に、８は、光ピックアップ２から光ディスク１にレーザ光を照射するレーザパワー制御回路、９は、光ディスク１にレーザ光を照射して得た光ピックアップ２からの微少信号であるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびＲＦ信号を生成し、増幅する回路を内蔵したＲＦアンプ、１０は、ＰＬＬおよびデータの復調、誤り訂正等の処理を行う信号処理回路、１１はディジタルオーディオ信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器である。

一方、１２は送りモータ５のドライバであるスレッドドライバ、１３は光ピックアップ２のサーボドライバ、１４はスピンドルモータ７のドライバであるスピンドルドライバである。また１５は、ＲＦアンプ９と信号処理回路１０から制御用信号を受け取り、トラッキングサーボ、フォーカスサーボおよびスピンドルサーボを行うサーボプロセッサ、１６はサーボプロセッサ１５に指令を行う制御回路である。

次に、光ピックアップ２の移動方法について説明する。光ピックアップ２は構造的に基台３に保持されている。主軸４はラックギア構造を有しており、内周がピニオンとなっている基台３を貫通している。主軸４に対する基台３の物理的な移動は、主軸４のラックの回転により、基台３のピニオンに主軸４の軸方向への駆動力を与える構造となっている。送りモータ５の回転はギヤ６ａ、６ｂを経由して主軸４に軸中心の回転として伝達される。主軸４の回転によって、光ピックアップ２は光ディスク１の半径方向へ直線移動する。機械的な伝達構造は基台３の内部にあるが、ここでは説明を省略する。

一方、図４はフォーカスドライブ電圧とフォーカスエラー信号のタイミングチャートである。フォーカスドライブ電圧は、光ピックアップ２に内蔵されたアクチュエータをフォーカス方向に駆動するサーボドライバ１３からの電圧である。またフォーカスエラー信号は、光ピックアップ２の光ディスク１へのレーザ光照射とフォーカスドライブ電圧により得た微弱信号をＲＦアンプ９のフォーカスエラー生成回路で生成した信号である。なお、図４の横軸は時間経過Ｔを示す。

次に、図１および図４を用いて光ディスク再生装置の動作を説明する。

光ディスク１をローディングした後、光ピックアップ２を送りモータ５により光ディスク１の半径方向へ移動して、自動調整を行う位置に配置する。光ピックアップ２を光ディスク１の内周方向および外周方向へ移動する際には、制御回路１６からサーボプロセッサ１５への指令によって、スレッドドライバ１２への印可電圧および電圧極性を制御する。電圧極性は、たとえば、内周方向へ移動する場合はプラス電圧を印加し、外周方向へ移動する場合はマイナス電圧を印加する。

続いて、光ディスク１の判別方法について説明する。まず、制御回路１６からサーボプロセッサ１５へレーザ光照射のＯＮ指令を行う。ＯＮ指令によりレーザパワー制御回路８を制御して、光ピックアップ２からレーザ光を光ディスク１の信号記録面に照射する。同じく、制御回路１６は、サーボプロセッサ１５に対して光ピックアップ２を光ディスク１の回転軸方向に上下移動するよう指令する。この指令の結果、サーボドライバ１３は、図４の上段に示すフォーカスドライブ電圧を光ピックアップ２のフォーカス・アクチェータに印可する。

図４の例では、フォーカスドライブ電圧はゼロ電圧を基準にプラス電圧とマイナス電圧を交番する三角波形であり、サーボプロセッサ１５から２周期分を出力するよう制御している。フォーカス・アクチェータにプラス電圧方向が印可される場合、光ピックアップ２は光ディスク１の信号記録面に近づきつつ、プラスの最大電圧値で一定の距離に到達する。最大電圧値からマイナスの電圧方向へ序々に下げていくと、光ピックアップ２は光ディスク１の記録面から遠ざかりつつ、マイナスの最大電圧値で一定の距離まで離れる。言い換えれば、光ピックアップ２の上下移動の方向と物理的距離はフォーカスドライブ電圧の極性と電圧値で決まる。

そして、光ピックアップ２の上下移動によって、光ピックアップ２より出力された微少信号はＲＦアンプ９に入力する。ＲＦアンプ９内部のフォーカスエラー生成回路によりフォーカスエラー信号を生成し、サーボプロセッサ１５に取り込む。

図４の下段にフォーカスエラー信号を示す。フォーカスエラー信号は、フォーカスドライブ電圧のゼロ電位付近で合焦点になり、合焦点付近でゼロ電位を境にプラスとマイナスに大きく変位する。サーボプロセッサ１５は、取り込んだフォーカスエラー信号を内部でＡ／Ｄ変換したあと、最大値と最小値を保持する。

次に制御回路１６は、サーボプロセッサ１５の内部に保持したフォーカスエラー信号の最大値と最小値を取得する。取得した最大値と最小値からピークｔｏピーク値（以降、ＦＥｐｐという）を（最大値−最小値）より求め、制御回路１６内部のメモリに格納する。図４におけるフォーカスエラー信号のｍａｘが最大値、ｍｉｎが最小値に該当する。

制御回路１６は、予め設定している閾値と取得したＦＥｐｐとを比較して、光ディスクの種類および光ディスクが装着されているか否かを判別する。光ディスクの種類としては、CD-DA、CD-R、CD-RW等があり、反射率の違いによって高反射光ディスクと低反射光ディスクに大別される。高反射光ディスクの場合は低反射光ディスクに比べて光ディスク１からの反射率が約２〜４倍である。

図４を用いて光ディスク判別の具体例を説明する。図４において、閾値ａと閾値ｂは予め設定された値であり、制御回路１６に格納されている。閾値ａは閾値ｂより大きい値である。ＦＥｐｐが閾値ａ以上であれば高反射光ディスクと判別し、閾値ｂ以下であれば光ディスクなしと判別する。ＦＥｐｐが閾値ａと閾値ｂの間であれば、低反射光ディスクと判別する。

以上のように、閾値ａと閾値ｂを用いて光ディスクの種類および光ディスクが装着されているか否かを判別することができる。

光ディスクを判別した後は、フォーカスおよびトラッキングのそれぞれのオフセット調整、バランス調整と、振幅値を一定にするためにゲイン調整を行い、自動調整を終了する。

これらの調整を行った後、送りモータ５により、光ピックアップ２をＴＯＣ情報が記録されているリードイン領域へ移動してＴＯＣ情報の解析を開始する。ＲＦアンプ２で生成されたフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびＲＦ信号に基づき、サーボプロセッサ１５は、送りモータ５、スピンドルモータ８および光ピックアップ２のアクチュエータを制御して、光ピックアップ２を光ディスク１上に正しくトレースするようにサーボ制御を行いながらＴＯＣ情報を解析する。解析の結果、楽曲のナンバーやその数および演奏時間、絶対時間等の情報を得て、ディスク上の既記録情報を知ることができる。

以降、プレイ操作によって、ＴＯＣ情報を基に光ディスク１から所望の楽曲を再生する。
特開２０００−１０００５９号公報

上述した従来の光ディスク判別方法においては、光ディスクの信号記録面の汚れや指紋等によって低反射光ディスクを光ディスクが装着されていないと誤って判別したり、あるいは、高反射光ディスクを低反射光ディスクと誤って判別した場合に、フォーカスエラー信号およびＲＦ信号を一定以上の振幅に確保するためにゲインアップすることにより、各々の信号がクリップするという課題があった。

本発明は、光ディスクの信号記録面の汚れや指紋等によって光ディスクの種類や光ディスクの有無を誤って判別することを極力回避した光ディスク判別方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明の光ディスク判別方法は、
光ディスクの信号記録面に対し光ピックアップを垂直方向に変位させ、前記光ピックアップから得られるフォーカスエラー信号の振幅値を検出し、前記振幅値に基づいて反射率の違いによる光ディスクの種類および有無を判別する光ディスク判別方法であって、
最初に検出した前記フォーカスエラー信号の振幅値によって前記光ディスクが低反射型光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合、前記光ディスクの信号記録面に対する前記光ピックアップの位置を変えて前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出し、検出した振幅値の最大値に基づいて前記光ディスクの種類および有無を再度判別することを特徴とする。

本発明の光ディスク判別方法において、前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することが好ましい。同様に、前記光ピックアップを前記光ディスクの円周方向に移動させて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することが好ましい。

また、本発明の光ディスク再生装置は、
光ディスクを回転駆動する光ディスク駆動手段と、
前記光ディスクにレーザ光を照射し、反射光を電気信号に変換する光ピックアップと、
前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる光ピックアップ移動手段と、
前記光ピックアップをフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動する光ピックアップ駆動手段と、
前記光ピックアップの出力信号からフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびＲＦ信号を生成する信号生成手段と、
前記光ディスク駆動手段、光ピックアップ移動手段および光ピックアップ駆動手段の動作を制御するサーボ手段と、
前記信号生成手段の出力信号に基づいて前記サーボ手段に指令を行う制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記サーボ手段で検出したフォーカスエラー信号の振幅値に基づいて、反射率の違いによる光ディスクの種類および有無を判別すると共に、
前記サーボ手段で最初に検出した前記フォーカスエラー信号の振幅値によって前記光ディスクが低反射型光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合、前記サーボ手段に指令し、前記光ディスク駆動手段または前記光ピックアップ移動手段を駆動して前記光ディスクの信号記録面に対する前記光ピックアップの位置を変えた後、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出し、検出した振幅値の最大値に基づいて前記光ディスクの種類および有無を再度判別することを特徴とする。

本発明の光ディスク判別方法は、低反射光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合に、信号記録面に対する光ピックアップの位置を変えてフォーカスエラー信号の振幅値を検出することを複数回行い、取得した振幅値の最大値に基づいて光ディスクの種類と有無を再度判別するようにしている。このため、最初の判別で、誤って低反射光ディスクを光ディスクなしと判定した場合や、高反射光ディスクを低反射光ディスクと判定した場合でも、信号記録面に対する光ピックアップの位置を変えてフォーカスエラー信号の振幅を再取得するので、本来の振幅値を得る確率が高まる。

したがって、信号記録面の汚れや指紋等によって、低反射光ディスクを光ディスクなしと誤って判別し、あるいは、高反射光ディスクを低反射光ディスクと誤って判別して、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号およびＲＦ信号のゲインを増幅することで、それぞれの信号がクリップしてしまうという頻度を極力少なくすることができる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。

図１は本発明の実施の形態における光ディスク判別方法を実施する光ディスク再生装置のブロック図である。光ディスク再生装置の基本的な構成は、従来の判別方法と相違する点はなく、制御回路１６による制御が従来の判別方法とは異なっている。

なお図１の構成において、スピンドルモータ７は本発明の光ディスク駆動手段を構成する。同様に、基台３、主軸４、送りモータ５およびギア６ａ、６ｂは本発明の光ピックアップ移動手段を、光ピックアップ２に内蔵されたアクチュエータおよびレーザパワー制御回路８は本発明の光ピックアップ駆動手段を、ＲＦアンプ９は本発明の信号生成師団を、スレッドドライバ１２、サーボドライバ１３、スピンドルドライバ１およびサーボプロセッサ１５は本発明のサーボ手段を、制御回路１６は本発明の制御手段をそれぞれ構成する。

図２は図１の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート、また図３はフォーカスドライブ電圧に基づくフォーカスエラー信号の変位とスピンドルドライブ電圧のタイミングを示す図である。

まず、図３のタイミングチャートについて説明する。図３の上段より順にスピンドルドライブ電圧、フォーカスドライブ電圧およびフォーカスエラー信号を示し、横軸は時間経過Ｔを示す。

スピンドルドライブ電圧の制御は、制御回路１６がサーボプロセッサ１５に指令することで行われる。指令によりスピンドルドライバ１４からスピンドルモータ７に印可する電圧および極性を制御して光ディスク１を回転させる。

なお、フォーカスドライブ電圧とフォーカスエラー信号の動作については、既に説明しているため、ここでは省略する。同様に、光ディスク１をローディングした後、光ピックアップ２を光ディスク１の記録面の自動調整位置に移動させる方法についても説明を省略する。

以下、図１〜３を参照して、光ディスクの種類および光ディスクが装着されているか否かを判別する方法について説明する。

図２において、まず、ステップＳ２０で初期化のために低反射光ディスクフラグとＡｎｓの測定ループ回数Ｎ（Ｎは整数）をそれぞれクリアする。後述の処理において、低反射光ディスクと判別すれば低反射光ディスクのフラグをセットし、高反射光ディスクと判別すれば初期化時のクリア状態を保持する。また、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎは、フォーカスエラー信号の最大値と最小値からＡｎｓ（＝最大値−最小値）を求める測定の巡回数を示す。

そして、次のステップＳ２１に進む。ステップＳ２１で制御回路１６からサーボプロセッサ１５へレーザ光照射のＯＮ指令を行う。ＯＮ指令によりサーボプロセッサ１５はレーザパワー制御回路８を制御して、光ピックアップ２からレーザ光を光ディスク１の記録面に照射する。

次にステップＳ２２に進み、サーボプロセッサ１５の内部に保持しているフォーカスエラー信号の最大値と最小値をクリアし初期化する。次にステップＳ２３に進む。ステップＳ２３で、制御回路１６よりサーボプロセッサ１５に対して、フォーカスエラー信号の最大値と最小値の測定開始を指令する。

指令により、サーボドライバ１３から光ピックアップ２のフォーカス・アクチェータにフォーカスドライブ電圧の印可を開始する。図３の時間Ｔ１が指令開始点であり、かつフォーカスドライブ電圧の印可開始点である。

そして、ステップＳ２４に進む。ステップＳ２４でＡｎｓの測定ループ回数Ｎの判定を行う。ステップＳ２０で初期化したＡｎｓの測定ループ回数Ｎがクリアされており、ループ回数は１巡目なので、ＹＥＳと判定してステップＳ２５をスキップし、ステップＳ２６に進む。なおＡｎｓの測定ループ回数Ｎが２巡目以上の場合はＮＯと判定してステップＳ２５に進む。

そして、ステップＳ２６で時間ｗａｉｔの処理を行う。時間ｗａｉｔの期間は、図３の時間Ｔ１から時間Ｔ２までの周期Ｔに該当する。以下、周期Ｔの間の動作について説明する。

図３に例示するフォーカスドライブ電圧の印可と極性の制御により、光ピックアップ２を光ディスク１の光軸方向へ上下に移動させる。光ピックアップ２の上下移動によって、光ピックアップ２より出力される微少信号をＲＦアンプ９に入力する。ＲＦアンプ９内部のフォーカスエラー生成回路により図３に示すフォーカスエラー信号を生成しサーボプロセッサ１５に取り込む。

サーボプロセッサ１５はフォーカスエラー信号をＡ／Ｄ変換したあと、最大値と最小値を保持する。保持するタイミングは図３における時間Ｔ２で行う。保持する値は周期Ｔの間で最も大きい値と最も小さいそれぞれの値である。すなわち、図３のフォーカスエラー信号の１巡目においては、最大値ｍａｘ１と最小値ｍｉｎ１をサーボプロセッサ１５は保持する。

以上のように、ステップＳ２３で制御回路１６よりサーボプロセッサ１５に対して測定開始の指令をしてからフォーカスエラー信号の最大値と最小値を保持するまでの一連の動作は、ステップＳ２６の時間ｗａｉｔが終了するまで、すなわち図３における時間Ｔ１から時間Ｔ２までの周期Ｔの間に自動的に行われる。

次にステップＳ２７へ進む。ステップＳ２７で制御回路１６はフォーカスエラー信号の最大値と最小値を取得する。同時に（最大値−最小値）を求め“Ａｎｓ”とする。Ａｎｓはフォーカスエラー信号のピークｔｏピーク信号である。Ａｎｓを制御回路１６内部のメモリに格納し、次のステップＳ２８に進む。

ステップＳ２８で、Ａｎｓを測定したループ回数Ｎが１巡目か否かの判定を行う。この時点において、ステップＳ２０の初期化処理は有効であり、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎは１巡目なので、ＹＥＳと判定してステップＳ２９に進む。なお、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎが２巡目以上の場合は、ＮＯと判定してステップＳ２９をスキップし、ステップＳ３０に進む。ＮＯ判定の場合は測定ループ回数が２巡目の処理であり、後述する。
そしてステップＳ２９で、制御回路１６で求めた今回の測定結果ＡｎｓをＦＥｐｐに代入し、ステップＳ３０に進む。

ステップＳ３０で、Ａｎｓが高反射光ディスクか否かを閾値ａを用いて判定する。Ａｎｓが閾値ａより大きい場合はＹＥＳと判定してステップ３７に進む。ステップ３７でＦＥｐｐに今回測定したＡｎｓを代入し、高反射光ディスクと判別する。Ａｎｓが閾値ａより小さい場合はＮＯと判定してステップＳ３１に進む。

図３のフォーカスエラー信号は、１巡目においてＡｎｓが閾値ｂより小さい値を例示している。したがって、ステップＳ３０でＮＯと判定してステップＳ３１に進むことになる。なお、ＮＯと判定した場合は低反射光ディスクか、あるいは光ディスクが装着されていないかのどちらかの状態である。

ステップＳ３１で、Ａｎｓが前回値ＦＥｐｐより大きいか否かの判定を行う。この時点で、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎは１巡目なので、今回測定したＡｎｓと前回値ＦＥｐｐは同値であり、ＮＯと判定し、ステップＳ３２をスキップしてステップＳ３３に進む。なお、ＹＥＳと判定する場合は、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎが２巡目以上で、かつＡｎｓがＦＥｐｐより大きい場合であり、後述する。

ステップＳ３３でループ回数Ｎを＋１インクリメントし、後述の処理においてＡｎｓを測定したループ回数Ｎとして用いる。そして、次のステップＳ３４に進む。

ステップＳ３４で、Ａｎｓを測定したループ回数Ｎの判定を行う。図３の例においては、ループ回数Ｎは便宜上、２回として説明する。ステップＳ３４で、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎが２巡目でなければＮＯと判定してステップＳ２２に戻る。

ステップＳ３４でステップＳ２２に戻る判定をした場合、これより先、Ａｎｓの測定ループＮが２巡目に入り、ステップＳ２２からステップＳ３４までの処理を繰り返す。これらの処理は図３に例示する２巡目の周期Ｔの期間に行うことになる。

以下、制御回路１６からみた２巡目の処理について説明する。ステップＳ２２で、ループＮの１巡目で保持していたサーボプロセッサ１５内部の最大値と最小値をクリアしてステップＳ２３に進む。ステップＳ２３でフォーカスエラー信号の最大値と最小値の測定開始を指令してステップＳ２４に進む。ステップＳ２４でＡｎｓの測定ループＮが１巡目か否かの判定を行う。ループ回数Ｎは２巡目なのでＮＯと判定してステップＳ２５に進む。

ステップＳ２５でスピンドルモータ７の加速と加速時間を指令してステップＳ２６に進む。指令によりサーボプロセッサ１５は、スピンドルドライバ１４からスピンドルモータ７に対してスピンドルドライブ電圧を印可して光ディスク１の回転制御を行う。図３に例示するように、スピンドルドライブ電圧の電圧Ｎと期間Ｍが駆動電圧と加速時間に該当する。

光ディスク１を回転する目的は、ループ回数Ｎの１巡目において、光ディスク１の記録面の汚れや指紋等の要因で、Ａｎｓが本来の振幅値を得られず、場合によって、ＮＯ ＤＩＳＣと判別するような異常状態を回避するために、光ディスク１を回転させてＡｎｓを測定する光ディスク１上の位置を変えることにある。

そして、ステップＳ２６で時間ｗａｉｔの処理のあとステップＳ２７に進む、ステップＳ２７でフォーカスエラー信号の最大値と最小値を取得して、Ａｎｓ（＝最大値−最小値）を求め、ステップＳ２８に進む。

なお、図３に２巡目のフォーカスエラー信号の最大値ｍａｘ２、最小値ｍｉｎ２を例示している。例示において、Ａｎｓは閾値ａ以下で閾値ｂ以上なので、低反射光ディスクに相当する振幅を示している。

そして、ステップＳ２８での測定ループ回数Ｎが１巡目か否かの判定を行う。この時点では、ループ回数Ｎは２巡目であり、ＮＯと判定しステップ２９をスキップしてステップＳ３０に進む。

そして、ステップＳ３０でＡｎｓが閾値ａ以上か否かの判定を行う。図３の例示のように、２巡目のＡｎｓ（＝ｍａｘ２−ｍｉｎ２）は閾値ａより小さいのでＮＯと判定してステップＳ３１に進む。

ステップＳ３１で、Ａｎｓが前回値ＦＥｐｐより大きいか否かの判定をする。図３の例示において、ＡｎｓはＦＥｐｐより大きいのでＹＥＳと判定してステップＳ３２に進む。

ステップＳ３２で、今回測定した２巡目のＡｎｓを新たにＦＥｐｐに代入する。すなわち、２巡目のＦＥｐｐを最大値として制御回路１６のメモリに格納する。なお、ステップＳ３１でＡｎｓが前回値ＦＥｐｐ以下の場合はＮＯと判定するので、２巡目のＡｎｓはＦＥｐｐに代入されず、１巡目のＦＥｐｐが制御回路１６のメモリに格納されたままとなる。

そして、ステップＳ３３に進む。ステップＳ３３でＡｎｓの測定ループ回数Ｎを＋１インクリメントして、ステップＳ３４に進む。

ステップＳ３４で、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎが１巡目か否かの判定を行う。Ａｎｓの測定ループ回数Ｎは２巡目なので、ＹＥＳと判定してステップＳ３５に進む。よって、ステップＳ２２に戻ることはない。

そしてステップＳ３５で、ＦＥｐｐがＮＯ ＤＩＳＣすなわちディスクが装着されているか否かを閾値ｂを用いて判定する。ＦＥｐｐが閾値ｂ未満であればＹＥＳと判定し、ステップＳ３８に進む。

ステップＳ３８でＮＯ ＤＩＳＣ処理を行い、光ディスク１が再生装置にローディングされていないものとして自動調整を中止し処理を終了する。

一方、ステップＳ３５でＦＥｐｐが閾値ｂ以上の場合は、ＮＯと判定してステップＳ３６に進む。図３の例示の２巡目においてはＦＥｐｐは閾値ａ以下かつ閾値ｂ以上なので、ステップＳ３６に進む。ステップＳ３６で低反射光ディスクのフラグをセットして低反射光ディスクと判別する。

そして、ステップＳ３９に進む。ステップＳ３９はステップＳ３６とステップＳ３７のそれぞれで低反射光ディスクまたは高反射光ディスクと判別した場合のＦＥｐｐの振幅値に基づき、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号のそれぞれの振幅値を一定振幅まで増幅するゲイン設定を行い、自動調整を終了する。

なお、ステップＳ２５ではスピンドルモータ７の加速により光ディスク１を回転させてＡｎｓ測定の位置を変えているが、光ピックアップ２の位置を光ディスクの半径方向へ移動してＡｎｓ測定を行っても良い。この場合、制御回路１６は、サーボプロセッサ１５に指令をして、スレッドドライバ１２、送りモータ５を制御して、光ピックアップ２を搭載した基台３を光ディスク１の半径方向に移動する。この処理をステップＳ２５で行えば良い。また、Ａｎｓの測定ループ回数Ｎは便宜上２巡回として説明したが、これ以上の巡回数でもよいことは云うまでもない。

以上のように本実施の形態によれば、低反射光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合に、信号記録面に対する光ピックアップの位置を変えて振幅値を再取得することを複数回行い、取得した振幅値の最大値に基づいて低反射光ディスクか光ディスクなしかを再度判別している。このため、低反射光ディスクを光ディスクなしと判定した場合や、高反射光ディスクを低反射光ディスクと判定した場合でも、光ピックアップの信号記録面に対する位置を変えてフォーカスエラー信号の振幅値を新たに取得するので、本来の振幅値を得る確率を大きくすることができる。

したがって、信号記録面の汚れや指紋等によって、低反射光ディスクを光ディスクなしと誤って判別する、あるいは高反射光ディスクを低反射光ディスクと誤って判別して、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号およびＲＦ信号のゲインを増幅することでそれぞれの信号がクリップしてしまうという頻度を、極力少なくする効果が期待できる。

本発明の光ディスク判別方法は、サーボ制御特性の調整を行う自動調整技術として有用であり、光ディスクの種類にかかわらず、光ディスクから信号を読み出す光ディスク再生装置に広く適用できるものである。

本発明の実施の形態における光ディスク判別方法を実施する光ディスク再生装置のブロック図 図１の光ディスク再生装置の動作を説明するフローチャート フォーカスドライブ電圧とフォーカスエラー信号のタイミングチャート 従来技術におけるフォーカスドライブ電圧とフォーカスエラー信号のタイミングチャート

符号の説明

１ 光ディスク
２ 光ピックアップ
３ 基台
４ 主軸
５ 送りモータ
６ａ、６ｂ ギア
７ スピンドルモータ
８ レーザパワー制御回路
９ ＲＦアンプ
１０ 信号処理回路
１１ Ｄ／Ａ変換器
１２ スレッドドライバ
１３ サーボドライバ
１４ スピンドルドライバ
１５ サーボプロセッサ
１６ 制御回路

Claims (6)

1. 光ディスクの信号記録面に対し光ピックアップを垂直方向に変位させ、前記光ピックアップから得られるフォーカスエラー信号の振幅値を検出し、前記振幅値に基づいて反射率の違いによる光ディスクの種類および有無を判別する光ディスク判別方法であって、
   最初に検出した前記フォーカスエラー信号の振幅値によって前記光ディスクが低反射型光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合、前記光ディスクの信号記録面に対する前記光ピックアップの位置を変えて前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出し、検出した振幅値の最大値に基づいて前記光ディスクの種類および有無を再度判別することを特徴とする光ディスク判別方法。
2. 前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク判別方法。
3. 前記光ピックアップを前記光ディスクの円周方向に移動させて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク判別方法。
4. 光ディスクを回転駆動する光ディスク駆動手段と、
   前記光ディスクにレーザ光を照射し、反射光を電気信号に変換する光ピックアップと、
   前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させる光ピックアップ移動手段と、
   前記光ピックアップをフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動する光ピックアップ駆動手段と、
   前記光ピックアップの出力信号からフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびＲＦ信号を生成する信号生成手段と、
   前記光ディスク駆動手段、光ピックアップ移動手段および光ピックアップ駆動手段の動作を制御するサーボ手段と、
   前記信号生成手段の出力信号に基づいて前記サーボ手段に指令を行う制御手段とを備え、
   前記制御手段は、前記サーボ手段で検出したフォーカスエラー信号の振幅値に基づいて、反射率の違いによる光ディスクの種類および有無を判別すると共に、
   前記サーボ手段で最初に検出した前記フォーカスエラー信号の振幅値によって前記光ディスクが低反射型光ディスクまたは光ディスクなしと判定した場合、前記サーボ手段に指令し、前記光ディスク駆動手段または前記光ピックアップ移動手段を駆動して前記光ディスクの信号記録面に対する前記光ピックアップの位置を変えた後、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出し、検出した振幅値の最大値に基づいて前記光ディスクの種類および有無を再度判別することを特徴とする光ディスク再生装置。
5. 前記制御手段は、前記サーボ手段に指令して前記光ピックアップ移動手段を駆動し、
   前記光ピックアップを前記光ディスクの半径方向に移動させて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク再生装置。
6. 前記制御手段は、前記サーボ手段に指令して前記光ディスク駆動手段を駆動し、前記光ピックアップに対する前記光ディスクの円周方向の位置を変えて、前記フォーカスエラー信号の振幅値を複数回検出することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク再生装置。

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