JP2007305264A - 光ディスク装置および光ディスク装置のチルト調整方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明においては、光ピックアップの光学系の光軸ずれの製造上のバラツキが発生しても光ディスクの種類に応じて最適なチルト値を設定することができる光ディスク装置および光ディスク装置のチルト調整方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光ディスクの種類を検出する検出手段と、光ディスクに対する対物レンズのチルト角を検出光ディスクの種類に応じて異なる方式のチルト制御を行うチルト制御手段と、光ディスクの種類に応じてチルト制御に用いる補正値を格納する記憶手段と、光ディスクの種類に応じたチルト制御の方式でチルト制御を行わせる際、光ディスクの種類に応じた補正値を記憶手段から読出してチルト制御手段が検出したチルト角に加算する制御手段とを具備する構成とした。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクメディアに対して記録を行う光ディスク記録再生装置に関し、特に、光ディスクのデータ記録面に対するレーザ光の入射角度を制御する機構を備えた光ディスク装置および光ディスク装置のチルト調整方法に関する。

近年パーソナルコンピュータの外部記憶装置として、円盤状の記録媒体である光ディスクが一般に使用されている。この光ディスクとして当初音楽鑑賞用の目的に開発されたＣＤからパーソナルコンピュータのデータ記録用に開発されたＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなど多くの種類がある。またこの光ディスクは、平面上で形成されているが実際には完全な平面とすることは難しく光ディスク半径方向の外周部にかけて反りを生じている。これらは雰囲気温度が高い場合には、記録および再生中に光ディスク記録装置が温度上昇し、光ディスク装置の温度上昇に伴い、光ディスクが光ディスク雰囲気の熱を吸収し、光ディスクのポリカーボネイト板が熱変形し、光ディスク半径方向に対して、さらに光ディスクが反る場合がある。このような光ディスクの反りが発生すればレーザ光が記録面に対して垂直にならず、記録面で収差が発生し、隣接トラックからの反射回折光によるクロストークを発生させ、記録マークの読み取りエラーを引き起こす要因となる。

従って、光ディスクの反りに対してレーザ光がディスク面に対し垂直になるように光ピックアップの対物レンズを調整（チルトと呼ぶ）する手法が採用されている。

例えば光ディスクのうちＤＶＤ−Ｒ／ＲＷなどに対しては、対物レンズに対して光ディスクが半径方向に傾いている場合でも記録・再生特性を理想的な状態に維持するために、対物レンズと光ディスクの間の相対角度を適正な状態に保つように学習制御するレンズチルト学習制御が行われている。このレンズチルト学習制御は、光ディスクの全面に対して光ピックアップを半径方向に移動しながら、複数のポイントでチルト値を測定し、光ディスクの全面に亘るチルトの近似曲線を求める全面チルト学習技術や、その近似曲線をもとに、光ディスクの任意の半径方向位置にシークする際に、その位置に対応するチルト駆動値をチルトアクチュエータに印加するチルト制御技術が用いられていた。

従来の光ディスク装置における対物レンズのチルト制御に関して図１５を用いて説明する。

図１５は、従来の光ディスク装置の対物レンズのチルト制御ブロック図である。図１５において、１０１はホストコンピュータ、１０２は光ディスク装置、１０３はインターフェース、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３は光ピックアップ、４はスピンドルモータ、５はフォーカス駆動コイル、６は対物レンズ、７はレーザ、８は反射光受光手段、９はチルト駆動手段、１０はキャリッジ、１１は反射光演算手段、１２はデジタルサーボコントローラ、１３はデータ処理部、１４はフォーカス駆動コイル制御手段、１６はチルト値制御手段、１７はレーザ駆動制御手段、１８はドライブ制御手段、１９はチルト値演算手段１９、２１はスピンドルモータ駆動手段である。

以上のように構成されたチルト制御手段における全面チルト学習について図１６を用いて説明する。

図１６は、従来の光ディスクのチルト制御に関する説明図である。図１６（ａ）に示すように光ディスク１は内周から外周に向けて反りを有している。この反りの角度を算出するため、ディスク半径位置２３ｍｍ〜５８ｍｍまでを複数ポイントに分割し、例えば内周から外周に向けてＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈとし、この各複数ポイントにおいてフォーカスを制御し各ポイントでのフォーカス駆動値を取得する。

図１６（ｂ）は、光ディスク１の半径方向での複数のポイントの各ポイントにおけるフォーカス駆動値を示している。このフォーカス駆動値を、各ポイントに対応させてＡｆ、Ｂｆ、Ｃｆ、Ｄｆ、Ｅｆ、Ｆｆ、Ｇｆ、Ｈｆとし、図１６（ｂ）に示すように例えばポイントＥではフォーカス駆動値Ｅｆ，ポイントＦではフォーカス駆動値Ｅｆとして光ディスクのその位置での傾きを算出する。２点間距離はＦ−Ｅで求められ、その間でのフォーカス駆動値差＝Ｆｆ−ＥｆよりＦ−Ｅ間でのディスクの高低差が求められるため、Ｅ、Ｆの２点間でのディスクの反り角度を求めることが可能である。

Ｅ−Ｆ間の傾きをＴＥＦとすると、ＴＥＦ（θ）＝ＡＴＡＮ（（Ｆｆ−Ｅｆ）／（Ｆ−Ｅ））で求めることができる。

同様にして、Ａ−Ｂ間、Ｂ−Ｃ間、Ｃ−Ｄ間、Ｄ−Ｅ間、Ｆ−Ｇ間、Ｇ−Ｈ間でのディスク反り角度を求めることにより、光ディスク全面での反り角度が分かり、その結果に応じて、対物レンズのチルトをディスク盤面に対して垂直となるように、一連の記録動作を行う前に学習する。求めたチルト値は、近似式で近似して、半径位置ごとに光ディスク１へのチルトとして参照できる。なお、近似式にしなくても、各半径位置（例えば前述のＡ−Ｂ間、Ｂ−Ｃ間、Ｃ−Ｄ間、Ｄ−Ｅ間、Ｅ−Ｆ間、Ｆ−Ｇ間、Ｇ−Ｈ間）の値をその区間のチルト値として記憶装置に格納して、チルトとして参照するようにしてもよい。この学習を全面レンズチルト学習と呼ぶ。

従来の全面レンズチルト学習制御方法の一例として、光ディスク全面に亘ってチルト学習する技術が、（特許文献１）に記載されている。

また、光ディスクのうちＤＶＤ−ＲＡＭに対しては、アドレス情報が記されたＣＡＰＡ（Ｃｏｍｐｌｉｍｅｎｔａｒｙ Ａｌｌｏｃａｔｅｄ Ｐｉｔ Ａｄｄｒｅｓｓ）部を再生しそこから得られる信号の対称性を利用してチルト制御を行っている。

これらの複数の光ディスクに対応してチルト制御する技術が（特許文献２）に記載されている。
特開２００３−２８１７６１号公報 特開２００３−１６２８３６号公報

しかしながら、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクに対してのチルト制御では光ピックアップの光学系での光軸のずれが発生した場合にはアドレス情報が記されたＣＡＰＡ部からの対称性が確保できないことがありＣＡＰＡ部の対称性を基に制御するチルト制御が誤差を生じる課題があった。

また、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷディスクにおいても光ピックアップの光学系での光軸のずれが発生した場合には、全面学習で制御するチルト制御で再生すると光ディスクに形成されているランドプリビット（ＬＰＰ）の信号がデータに漏れこみ再生特性が悪化する課題があった。

そこで本発明においては、光ピックアップの光学系の光軸ずれの製造上のバラツキが発生しても光ディスクの種類に応じて最適なチルト値を設定することができる光ディスク装置および光ディスク装置のチルト調整方法を提供することを目的とする。

かかる問題を解決するため、本発明の光ディスク装置は、光ディスクの種類を検出する検出手段と、光ディスクに対する対物レンズのチルト角を検出光ディスクの種類に応じて異なる方式のチルト制御を行うチルト制御手段と、光ディスクの種類に応じてチルト制御に用いる補正値を格納する記憶手段と、光ディスクの種類に応じたチルト制御の方式でチルト制御を行わせる際、光ディスクの種類に応じた補正値を記憶手段から読出してチルト制御手段が検出したチルト角に加算する制御手段とを具備した光ディスク装置であり、この構成によれば異なる種類の光ディスクに応じたチルト制御に用いる補正量を呼び出して光ディスクに応じたチルト制御値とすることができるようになる。従って、光ディスク装置の製造時に光ピックアップの光軸のずれに対応して光ディスクに応じた補正値を予め設定することで記録や再生のときの光ディスクと対物レンズのチルトを最適化した光ディスク装置を提供できるようになる。

本発明の光ディスク装置は、光ピックアップの光軸のずれが発生しても、光ディスクの種類に応じたチルト制御手段に予め求めた光ディスクと対物レンズのチルト値を最適にする補正値を加え新たなチルト値とすることで、このチルト値をもとに最適なチルト値制御をすることができるようになるので、情報の記録および再生の品質をよくすることができるようになる。

請求項１記載の発明は、光ディスクの種類を検出する検出手段と、光ディスクに対する対物レンズのチルト角を検出光ディスクの種類に応じて異なる方式のチルト制御を行うチルト制御手段と、光ディスクの種類に応じてチルト制御に用いる補正値を格納する記憶手段と、光ディスクの種類に応じたチルト制御の方式でチルト制御を行わせる際、光ディスクの種類に応じた補正値を記憶手段から読出してチルト制御手段が検出したチルト角に加算する制御手段とを具備した光ディスク装置であり、この構成によれば異なる種類の光ディスクに応じたチルト制御に用いる補正量を呼び出して光ディスクに応じたチルト制御値とすることができるようになる。従って、光ディスク装置の製造時に光ピックアップの光軸のずれに対応して光ディスクに応じた補正値を予め設定することで記録や再生のときの光ディスクと対物レンズのチルトを最適化した光ディスク装置を提供できるようになる。

請求項２記載の発明は、光ディスクの種類を問わず光ディスクに対する対物レンズの角度を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小のものを第１チルト値として求める第１の検出手段と、光ディスクの種類に応じて光ディスクに照射する光ビームの収差を最小とする第２チルト値を求める第２の検出手段とを有し、制御手段は、第１チルト値から第２チルト値を減算して補正値を求めて記憶手段に格納することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置であり、この構成によれば、光学系のずれなどによる記録又は再生の時のチルト値が最適でない場合に、予めエラーレートが最小となるチルト値を求めこのチルト値を基に光ディスクの種類に応じたチルト値を設定できるようになるので、チルトを最適化した光ディスク装置を提供できるようになる。

請求項３記載の発明は、外部端末装置に接続するインターフェースを有し、制御手段は、外部端末装置から所定のコマンドを受信した場合、第１チルト値から第２チルト値を減算して補正値を求めて記憶手段に格納することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置であり、この構成によれば、外部端末装置たとえばホストコンピュータなどの制御コマンドを受信したときに光ディスクの種類に応じた補正量を求め記憶装置に格納することができるようになるので、光ディスク製造時に光ディスク装置ごとに補正量を求めることができ製造時の光軸のずれのばらつきなどの影響を削減して最適な補正量とした光ディスク装置を提供できるようになる。

請求項４記載の発明は、第１の検出手段は、光ディスクの半径方向に複数の領域に分けて領域ごとにチルト値を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小となるチルト値を求めることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置であり、光ディスクの領域ごとに最適なチルト値を求めることができるので、光ディスクの領域ごとに変化する色々な変形モードに対応できるようになる。

請求項５記載の発明は、第１の検出手段は、光ディスクの半径方向に複数の領域に分けて領域ごとにチルト値を所定の複数角度に設定してエラーレートが閾値より小さくなるチルト値とすることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置であり、エラーレートの判定に閾値を設けて閾値以下であれば最適なチルト値とすることで、所定の角度の判定をしなくても最適チルトを求めることができ、また光ディスクの領域ごとに最適なチルト値を求めることができるので光ディスク装置ごとの固有の光軸のずれによるチルトの影響を補正することができるようになる。

請求項６記載の発明は、光ディスクの種類を検出し、光ディスクの種類に応じたチルト制御方式に係わる補正値を記憶手段から読出し、光ディスクの種類に応じたチルト制御方式で検出したチルト角に前記記憶手段から読出した補正値を加算し、補正値を加算したチルト値を光ディスクの種類に応じたチルト値とすることを特徴とする光ディスク装置のチルト調整方法であり、この方法によれば異なる種類の光ディスクに応じたチルト制御に用いる補正量を呼び出して光ディスクに応じたチルト制御値とすることができるようになる。従って、光ディスク装置の製造時に光ピックアップの光軸のずれに対応して光ディスクに応じた補正値を予め設定することで記録や再生のときの光ディスクと対物レンズのチルトを最適化した光ディスク装置を提供できるようになる。

請求項７記載の発明は、光ディスクの種類を問わず光ディスクに対する対物レンズの角度を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小の第１チルト値を求め、光ディスクの種類に応じて光ディスクに照射する光ビームの収差を最小とする第２チルト値を求め、前記第１チルト値から前記第２チルト値を減算して光ディスクの種類に応じた補正値を求め、光ディスクの種類に応じた補正量を前記記憶手段に格納することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置のチルト調整方法であり、この方法によれば、光学系のずれなどによる記録又は再生の時のチルト値が最適でない場合に、予めエラーレートが最小となるチルト値を求めこのチルト値を基に光ディスクの種類に応じたチルト値を設定できるようになるので、チルトを最適化した光ディスク装置を提供できるようになる。

（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について図を参照にしながら説明する。

図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図である。

図１において、１０１は外部端末装置であるホストコンピュータ、１０２は光ディスク装置、１０３はインターフェース、１は光ディスク、２は光ピックアップモジュール、３は光ピックアップ、４はスピンドルモータ、５はフォーカス駆動コイル、６は対物レンズ、７はレーザ、８は反射光受光手段、９はチルト駆動手段、１０はキャリッジ、１１は反射光演算手段、１２はデジタルサーボコントローラ、１３はデータ処理部、１４はフォーカス駆動コイル制御手段、１５はディスク判別手段、１６はチルト制御手段、１７はレーザ駆動制御手段、１８はドライブ制御手段、１９はチルト値演算手段、２０はフォーカスオフセット手段、２１はスピンドルモータ駆動手段、２２は補正値記憶手段、２３はコマンド受信手段である。

以上のように構成された本発明の実施の形態１における光ディスク装置１０２について説明する。ホストコンピュータ１０１と光ディスク装置１０２とはインターフェース１０３を介して情報の送受信がされる。ホストコンピュータ１０１から光ディスク１０２に対して、光ディスク装置１０２の動作に関する要求は、インターフェース１０３を介して光ディスク装置１０２に送られる。この要求は、ホストコンピュータ１０１からインターフェースのパケットコマンドなどで要求され、光ディスク装置１０２はこのコマンドをコマンド受信手段２３で受信してこのコマンドに対して応答して動作をする。

光ピックアップモジュール２は、情報の記録または再生の少なくとも一方を行う光ディスク１を回転させるスピンドルモータ４と、レーザ７の発光パターンを利用して光ディスク１に情報の記録または再生の少なくとも一方を行う光ピックアップ３と、光ピックアップ３が搭載されたキャリッジ１０を光ディスク１の半径方向に移動させるためのフィード部（図示せず）とによって構成されたものである。スピンドルモータ４は、ドライブ制御手段１８でスピンドルモータ駆動手段２１を制御して、回転数が調整される。

光ピックアップ３には、フォーカス駆動コイル制御手段１４によって光ピックアップ３の対物レンズ６を光ディスク１に近づけたり離れたり制御するフォーカス駆動コイル５を有しており、光ディスク１の記録面に焦点を合わせるように対物レンズ６を調整する。

反射光受光手段８は、光ディスク１からの反射光を受光し、受光した反射光を基に信号出力を行う。出力された信号は、反射光演算手段１１によってフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、ディジタルサーボコントローラー１２の中にあるデータ処理部１３でフォーカスエラーやトラッキングエラーなどの処理を行う。また、光ディスク１への記録情報を再生して再生信号のエラーレート値も検出する。

チルト駆動手段９は、チルト値演算手段１９で求めたチルト値を基に対物レンズ６と光ディスク１の半径方向の相対角度を最適に調整する。チルト制御手段１６は、光ディスク１の種類に応じて対応するチルト制御の中から選択してチルト制御を行う。
補正値記憶手段２２は、光ディスク１の半径方向の所定の位置における最適チルト値と光ディスク１の種類に応じてチルト制御するチルト値より求めた補正値を格納する記憶手段である。

またレーザ駆動制御手段１７は、光ディスク１に情報を記録または再生するときのレーザ７のパワーを駆動制御する。

図２は、本発明の実施の形態１に係わる光スポットの光学ずれの一例を示す説明図である。

図２（ａ）は、光ディスクのトラック上での光スポットの状態そ示す図、図２（ｂ）は、受光素子上の光スポットの状態を示す図、図２（ｃ）は受光素子上のスポットが最適のときのＣＡＰＡ部２０３の再生信号波形を示す図、図２（ｄ）は受光素子上のスポットずれがあるときのＣＡＰＡ部２０３の再生信号波形を示す図である。

図２において、２０１は光スポット、２０２はトラック、２０３はＣＡＰＡ部、２０４は受光センサ部、２０５は受光センサ部の光スポット、２０６ａ、２０６ｂ，２０６ｃ，２０６ｄは４分割で構成された各受受光部の信号出力である。

図２（ａ）に示すように、光ディスク１に記録する際の光ビーム２０１は、受光センサ２０４からの出力をもとにトラックのセンターに追従するように制御される。

図２（ｂ）は、受光素子２０４上の光スポット２０５を示している。ここでは光ディスクの記録面上では光ディスクのトラックに追従しているのに、光ディスク装置１０２の製造上のばらつきなどで光ピックアップ３の光軸がずれて収差が発生し、受光素子２０４上ではセンター値がずれ（Δｘ、Δｙ）が発生した状態を示している。受光素子２０４上で収差が発生すると、収差がないときの図２（ｃ）に示すような再生信号（ＲＦ信号）の波形に対して、図２（ｄ）のように前ＣＡＰＡ部２０３ａの波形と後ＣＡＰＡ部２０３ｂとで出力波形に差を生ずる。

このチルト値制御手段１６は、この再生信号の出力波形を修正するようにチルト制御を実施するので光ディスクトラック上で光ビーム２０１がトラックからずれることがあり、チルト制御エラーが発生することがある。またＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷを例にとると、光ディスクに形成されているランドプリビットの影響で、光軸のずれによるランドピリビットからの反射光の影響を受ける。

これらを修正するためには以下に説明するような光軸のずれを補正したチルト制御を行う最適チルト制御でチルト制御を行うようにしている。

複数の光ディスク１に対しては、光ディスク１の種類に対応してチルト制御方法が異なる方法とする場合があり、この複数のチルト制御に対応するために、光軸のずれの影響を補正した基準となる最適チルト値を求め、この基準値に対して書くチルト値との差分を補正量として記憶する方法としている。

まず、光軸のずれの影響を補正するに、記録した情報を再生してエラーレートの最小となるチルト値を求めこのチルト値を基準値とする。

図３は、本発明の実施の形態１に係わるチルト値とエラーレートの関係を示した図である。

図３に示すように、ＤＶＤ−ＲＡＭを例にエラーレートが最小となるチルト値を求める。まず、ＤＶＤ−ＲＡＭのＣＡＰＡ部の対称性で決定したチルト値をチルト値０度とし、所定の量記録して、記録した情報を再生しエラーレートを求める。次に所定の角度チルトし、例えば＋０．２度、−０．２度、＋０．４度、−０．４度、＋０．６度、−０．６度などのように順番にチルト角度を変えながらエラーレートを求める。もし、エラーレートがエラーレート判定上限値を越えたら、これ以上の測定はしない。

所定のチルト角でエラーレートを測定したら、最小２乗法により放物線近似して放物線の頂点を最適チルトとする。

このエラーレートによる最適チルト値は，光ディスクの半径方向の複数の位置で求める。本実施の形態１では、内周部、中央部、外周部の３点で測定を行った。

次に、光ディスクの種類に応じたチルト制御方法でエラーレートを測定した位置である内周部、中央部、外周部でチルト値を求めて、次の補正量を求める。

補正量 ＝ エラーレートで求めたチルト値 − 光ディスクの種類に応じたチルト値
この求めた補正量は記憶手段に格納する。

光ディスク装置の光軸のずれは、光ディスク装置の製造時に光ディスク装置ごとに設定したがよい。

図４は、本発明の実施の形態１に係わる補正量の格納テーブルを示した図である。

図４のように、求めた補正量は光ディスクの半径方向の領域ごと、すなわち内周部、中央部、外周部で光ディスクの種類に応じて補正値記憶手段２２に格納される。

この補正値の格納は、光ディスク装置１０２の製造時に設定したり、ホストコンピュータ１０１に組み込むときに設定しておけば、実際に記録や再生を行うときに、格納された光ディスク１の種類に応じた補正値を呼び出してチルト制御を行うことができるようになる。

図５は、本発明の実施の形態１に係わる光ディスクの種類の判別に関する説明図である。

図５に示すように、対物レンズ６を光ディスク１の遠いところから記録面に近づけていきフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を検出し、検出したのＳ字特性およびＦＥ信号の加算値ＦＳを求め、図５に示す正規化ＦＥ振幅値をもとに、閾値より大きいときＣＤ系，小さいときＤＶＤ系としてＣＤ系とＤＶＤ系の種別を切り分ける。

次に、チルト制御を行うＤＶＤ系に対して、アドレス情報からＤＶＤ−ＲＡＭやその他のＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷにより光ディスクの種別を判別する。

図６は、本発明の実施の形態１に係わる補正量記憶手段の説明図である。

図６に示すように、光ディスク装置１０２に設けた記憶装置、例えばフラッシュＲＯＭなどの記憶装置の内部に設定している。これらはデータ処理部１３のプログラム領域４０１とは別に補正量記憶領域４０２を設けている。このようにプログラム領域４０１とは別の領域とすることで、プログラムのバージョンアップによっても格納領域を一定とすることができ、容易に補正量の参照ができるようになる。

補正値は外部端末例えばホストコンピュータ１０１のソフトウェアを実行することで求める。

ホストコンピュータ１０１と光ディスク装置１０２は、インターフェースを介して接続される。ホストコンピュータ１０１から光ディスク装置１０２にコマンドを送信し、光ディスク装置１０２側では受信したコマンドを基にコマンドに対応する処理を実行する。

図７は、本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータから光ディスク装置へ送信するコマンドの一例を示す図である。

コマンドは、ベンダーユニークコマンドなどで構成することができる。図７に示すようにコマンドは１２バイトで構成し、最初のバイトにオペレーションコード例えばＦＥｈ、第６バイトにサブオペレーションコードを指定して補正量を求めるコマンドとしてホストコンピュータ１０１から光ディスク装置１０２にコマンド発行している。

図８は、本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータと光ディスク装置間で実行する処理シーケンス図である。

図８を参照しながらホストコンピュータ１０１と光ディスク装置１０２間での処理手順を説明する。

光ディスク１を光ディスク装置１０２に装着しホストコンピュータ１０１から補正量処理コマンドが発行され（Ｓ３０１）、光ディスク装置１０２で補正量処理コマンドを受信すると（Ｓ３０２）、装着された光ディスク１に対するチルトを最適化する補正量を求める処理が実行され（Ｓ３０３）、補正量処理が完了したら、完了した旨の応答をホストコンピュータ１０１に返す（Ｓ３０４）。ホストコンピュータ１０１では、全ての光ディスクの種類が終了したかどうかを判断し（Ｓ３０５）、処理を続けるときは（Ｓ３０６）、（Ｓ３０１）に戻り補正量処理を続ける。処理を終了するときは（Ｓ３０７）、終了コマンドを発行し（Ｓ３０８）、光ディスク装置では処理を終了する（Ｓ３０９）。

ホストコンピュータ１０１から、記録または再生のコマンドを発行すると（Ｓ３１０）、光ディスク装置１０２でコマンドを受信すると（Ｓ３１１）、補正量を読込んで最適チルト値として記録または再生をし（Ｓ３１２）、処理が完了する（Ｓ３１３）と完了の応答を行う（Ｓ３１４）。処理を続行するときは（Ｓ３１５）、（Ｓ３１０）に戻り、処理を終了するときは（Ｓ３０８）の終了処理を行う。

図９は、本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータの処理手順を示した図である。

ホストコンピュータ１０１で処理プログラムが起動され（Ｓ５０１）、光ディスク装置１０２に光ディスク１が装着（Ｓ５０２）されてプログラムが実行され補正量調整コマンドが発行されると（Ｓ５０３）、光ディスク装置１０２から処理が終了した応答があったかどうかを判断し（Ｓ５０４）、応答があれば装着された光ディスク１の処理が済んだフラグをたてる（Ｓ５０５）。所定の光ディスク１に対して処理が済んだかどうか判断し（Ｓ５０６）、処理が済んでいなかったら光ディスク１を交換し（Ｓ５０７）、（Ｓ５０３）に戻り処理を続ける。所定の光ディスク１の処理が済んだら、終了コマンドを発行し（Ｓ５０８）、処理を終了する（Ｓ５０９）。

図１０は、本発明の実施の形態１に係わる光ディスク装置の処理手順を示した図である。

図１０において、光ディスク装置１０２の動作が開始されると（Ｓ６０１）、光ディスク１が装着されているかどうか判断し（Ｓ６０２）、光ディスク１が装着されるまで待って光ディスク１が挿入されたら、スピンドルモータ４を回転させ（Ｓ６０３）、レーザ７を発光させる（Ｓ６０４）。次に光ディスク１の種類を判別し（Ｓ６０５）、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボをオンし（Ｓ６０６）ホストコンピュータ１０１からのコマンド入力を待つ（Ｓ６０７）。

入力したコマンドが、記録または再生のコマンドかどうか判断し（Ｓ６０８）、記録または再生のコマンドであれば、補正量記憶手段２２から光ディスク１の記録または再生領域に対応する補正量を読出し（Ｓ６０９）、光ディスク１に応じたチルト制御値に読み出した補正値を加算する（Ｓ６１０）。補正量を加算したチルト値を新たなチルト値と設定し（Ｓ６１１）、記録または再生の処理を実行し（Ｓ６１２）、処理が終了したかどうか判断し（Ｓ６１３）、処理を続けるときは（Ｓ６０９）に戻り処理を続け、処理を終了するときは、（Ｓ６０７）のコマンド入力に戻る。

コマンドが記録または再生のコマンドでなければ（Ｓ６０８）、コマンドが補正量調整のコマンドかどうか判断し（Ｓ６１４）、補正量調整のコマンドであれば補正量調整処理を実行する（Ｓ６１５）。補正量調整処理が終了したら（Ｓ６０７）のコマンド待ちに戻る。

コマンドが補正量調整コマンドでもなければ（Ｓ６１４）、終了コマンドかどうか判断し（Ｓ６１６）、終了コマンドであれば光ディスクの動作終了処理を実行する（Ｓ６１７）。終了コマンドでもなければ（Ｓ６１６）、対応するコマンド処理を実行し（Ｓ６１８）、（Ｓ６０７）のコマンド待ちに戻る。

図１１は、本発明の実施の形態１に係わる補正量調整処理手順を説明する図である。

補正量調整処理が開始されると（Ｓ６５１）、チルト制御をオフし（Ｓ６５２）、所定位置例えば内周部、中央部、外周部などへ移動し（Ｓ６５３）、あとで述べるエラーレート測定処理を実施する（Ｓ６５４）。所定の測定位置、例えば内周部、中央部、外周部の全てが処理したかどうか判断し（Ｓ６５５）、処理が終わっていなければ（Ｓ６５３）に戻り処理を続ける。所定の測定位置の処理が終了したら（Ｓ６５５）、光ディスク種別に基づくチルト制御をオンし（Ｓ６５６）、エラーレートを測定した位置へ移動して（Ｓ６５７）、チルト制御での最適チルト値を取得し（Ｓ６５８）、エラーレートによるチルト値とチルト制御に基くチルト値の差分演算し（Ｓ６５９）、差分を補正値記憶手段２２に格納し（Ｓ６６０）、所定の測定位置を処理したかどうか判断し（Ｓ６６１）、処理が済んでいなかったら（Ｓ６５７）戻り処理を続ける。所定の測定位置が済んだら補正量調整処理を終了する（Ｓ６６２）。

図１２は、本発明の実施の形態１に係わるエラーレート測定処理の手順を示す図である。

図１２において、エラーレート測定処理が開始されると（Ｓ６８１）、所定量記録し（Ｓ６８２）、記録した情報を再生してエラーレートを測定し（Ｓ６８３）、エラーレートが判定上限値を超えたかどうか判断し（Ｓ６８４）、エラーレート判定上限値以下であれば所定のチルト値を変更したかどうか判断する（Ｓ６８５）。

所定のチルト値を変更していなければ（Ｓ６８５）、チルト値を変更し（Ｓ６８６）、（Ｓ６８３）に戻り処理を続ける。

エラーレートがエラーレート判定基準を越えたら、それ以上のチルト変更を中止して（Ｓ６８７）に処理を移す。求めたチルト値で、チルト値−エラーレートの関係を放物線近似し（Ｓ６８７）、放物線の頂点を最適チルト値とし（Ｓ６８８）、補正値記憶手段２２に格納し（Ｓ６８９）終了する（Ｓ６９０）。

（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２について図を参照にしながら説明する。本発明の実施の形態２では、本発明の実施の形態１と重複する部分に関しては繰り返して述べない。

図１３は、本発明の実施の形態２に係わるチルト値とエラーレートの関係を示した図である。

図１３に示すように、ＤＶＤ−ＲＡＭを例にエラーレートが最小となるチルト値を求める。まず、ＤＶＤ−ＲＡＭのＣＡＰＡ部の対称性で決定したチルト値をチルト値０度とし、所定の量記録して、記録した情報を再生しエラーレートを求める。次に所定の角度チルトし、例えば＋０．２度、−０．２度、＋０．４度、−０．４度、＋０．６度、−０．６度などのように順番にチルト角度を変えながらエラーレートを求める。もし、エラーレートがエラーレート判定上限値を越えたら、これ以上の測定はしない。

また、エラーレート判定閾値より小さくなったら、この閾値より小さいチルトを最適チルト値と設定し補正値記憶手段２２に格納する。

測定したチルト値がすべてエラーレート判定閾値より大きかったら、本発明の実施の形態１と同様に、測定したチルト値とエラーレートの関係で、最小２乗法により放物線近似して放物線の頂点を最適チルトとする。

このエラーレートによる最適チルト値は、光ディスクの半径方向の複数の位置で求める。本実施の形態２では、内周部、中央部、外周部の３点で測定を行った。

次に、光ディスクの種類に応じたチルト制御方法でエラーレートを測定した位置である内周部、中央部、外周部でチルト値を求めて、次の補正量を求める。

補正量 ＝ エラーレートで求めたチルト値 − 光ディスクの種類に応じたチルト値
この求めた補正量は記憶手段に格納する。

光ディスク装置の光軸のずれは、光ディスク装置の製造時に光ディスク装置ごとに設定したがよい。

図１４は、本発明の実施の形態２に係わるエラーレート測定処理の手順を示す図である。

図１４において、エラーレート測定処理が開始されると（Ｓ７０１）、所定量記録し記録した情報を再生してエラーレートを測定し（Ｓ７０２）、エラーレートが判定上限値を超えたかどうか判断し（Ｓ７０３）、エラーレート判定上限値以下であれば、エラーレートがエラーレート判定閾値より小さいかどうか判定し（Ｓ７０４）、エラーレートがエラーレート判定閾値以下であれば、このチルト値を最適チルト値とし、補正値格納手段２２に格納（Ｓ７０９）する。

エラーレートがエラーレート判定閾値よりおおきければ、所定のチルト値を変更したかどうか判断する（Ｓ７０６）。

所定のチルト値を変更していなければ（Ｓ７０６）、チルト値を変更し（Ｓ７０５）、（Ｓ７０２）に戻り処理を続ける。

エラーレートがエラーレート判定基準を越えたら、それ以上のチルト変更を中止して（Ｓ７０７）に処理を移す。求めたチルト値で、チルト値−エラーレートの関係を放物線近似し（Ｓ７０７）、放物線の頂点を最適チルト値とし（Ｓ７０８）、補正値記憶手段２２に格納し（Ｓ７０９）終了する（Ｓ７１０）。

なお、本発明の実施の形態１および実施の形態２において、光ディスクの半径方向に内周部、中央部、外周部の３つの領域で最適補正量を求める例で説明したが、求める領域は３つに限らずさらに多くの領域で求めてもよい。多くの領域で求めることで、光ディスクの色々な変形モードに対応できチルト制御の品質が向上する。

本発明は、製造の組立てのときに発生する光軸のずれがあり、記録再生品質が低下する影響を有していても、光ディスクの種類に応じたチルト制御に最適な補正値を加えて記録品質を上げることができるようになるので、複数の光ディスクに対応したパーソナルコンピュータなどに組み込まれる光ディスク装置および光ディスク装置のチルト調整方法に利用できる。

本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図 本発明の実施の形態１に係わる光スポットの光学ずれの一例を示す説明図 本発明の実施の形態１に係わるチルト値とエラーレートの関係を示した図 本発明の実施の形態１に係わる補正量の格納テーブルを示した図 本発明の実施の形態１に係わる光ディスクの種類の判別に関する説明図 本発明の実施の形態１に係わる補正量記憶手段の説明図 本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータから光ディスク装置へ送信するコマンドの一例を示す図 本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータと光ディスク装置のシーケンス図 本発明の実施の形態１に係わるホストコンピュータの処理手順を示した図 本発明の実施の形態１に係わる光ディスク装置の処理手順を示した図 本発明の実施の形態１に係わる補正量調整処理手順を説明する図 本発明の実施の形態１に係わるエラーレート測定処理の手順を示す図 本発明の実施の形態２に係わるチルト値とエラーレートの関係を示した図 本発明の実施の形態２に係わるエラーレート測定処理の手順を示す図 従来の光ディスク装置の対物レンズのチルト制御ブロック図 従来の光ディスクのチルト制御に関する説明図

符号の説明

１ 光ディスク
２ 光ピックアッップモジュール
３ 光ピックアップ
４ スピンドルモータ
５ フォーカス駆動コイル
６ 対物レンズ
７ レーザ
８ 反射光受光手段
９ チルト駆動手段
１２ デジタルサーボコントローラ
１３ データ処理部
１４ フォーカス駆動コイル制御手段
１５ ディスク判別手段
１６ チルト値制御手段
１９ チルト値演算手段
２０ フォーカスオフセット手段
２２ 補正値記憶手段
２３ コマンド受信手段

Claims (7)

1. 光ディスクの種類を検出する検出手段と、
   前記光ディスクに対する対物レンズのチルト角を検出し前記光ディスクの種類に応じて異なる方式のチルト制御を行うチルト制御手段と、
   前記光ディスクの種類に応じてチルト制御に用いる補正値を格納する記憶手段と、
   前記光ディスクの種類に応じたチルト制御の方式でチルト制御を行わせる際、前記光ディスクの種類に応じた補正値を前記記憶手段から読出して前記チルト制御手段が検出したチルト角に加算する制御手段とを具備した光ディスク装置。
2. 光ディスクの種類を問わず光ディスクに対する対物レンズの角度を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小のものを第１チルト値として求める第１の検出手段と、
   光ディスクの種類に応じて光ディスクに照射する光ビームの収差を最小とする第２チルト値を求める第２の検出手段とを有し、
   前記制御手段は、第１チルト値から第２チルト値を減算して補正値を求めて前記記憶手段に格納することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 外部端末装置に接続するインターフェースを有し、前記制御手段は、前記外部端末装置から所定のコマンドを受信した場合、第１チルト値から第２チルト値を減算して補正値を求めて前記記憶手段に格納することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
4. 前記第１の検出手段は、前記光ディスクの半径方向に複数の領域に分けて前記領域ごとにチルト値を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小となるチルト値を求めることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
5. 前記第１の検出手段は、前記光ディスクの半径方向に複数の領域に分けて前記領域ごとにチルト値を所定の複数角度に設定してエラーレートが閾値より小さくなるチルト値とすることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
6. 光ディスクの種類を検出し、
   前記光ディスクの種類に応じたチルト制御方式に係わる補正値を記憶手段から読出し、
   前記光ディスクの種類に応じたチルト制御方式で検出したチルト角に前記記憶手段から読出した補正値を加算し、
   前記補正値を加算したチルト値を前記光ディスクの種類に応じたチルト値とすることを特徴とする光ディスク装置のチルト調整方法。
7. 光ディスクの種類を問わず光ディスクに対する対物レンズの角度を所定の複数角度に設定してエラーレートが最小の第１チルト値を求め、
   光ディスクの種類に応じて光ディスクに照射する光ビームの収差を最小とする第２チルト値を求め、
   前記第１チルト値から前記第２チルト値を減算して光ディスクの種類に応じた補正値を求め、
   光ディスクの種類に応じた補正量を前記記憶手段に格納することを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置のチルト調整方法。

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