JP2009117624A - 部品実装装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】実装基板に搭載後の第1電子部品に第2電子部品を搭載する際に、搭載後の第1電子部品の部品マークを撮像する動作を省略して、タクトを短くする。
【解決手段】第1電子部品102aと第2電子部品102bのうち、少なくとも第1電子部品102aの画像を取得・保持・処理する画像処理手段と、該画像処理手段により処理された結果に基づいて、該第1及び第2電子部品102a、102bを吸着ノズル106により保持して搭載する搭載ヘッド108とを備えた部品実装装置100において、前記実装基板104に第1電子部品102aを搭載する際に行った吸着姿勢の補正値を格納する格納手段と、該第1電子部品102aの吸着前の供給状態の画像と該補正値とを用いて、第1電子部品102aが搭載された状態の仮想画像を作成する画像作成手段と、該仮想画像に基づき、前記第2電子部品102bの吸着姿勢を補正する補正手段と、を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、部品実装装置に係り、特に、実装基板に搭載される第1電子部品と該第1電子部品に搭載される第2電子部品のうち、少なくともいずれか一方の画像を取得し、該画像情報を保持し、処理する画像処理手段と、該画像処理手段により処理された結果に基づいて、該第1及び第2電子部品を吸着ノズルにより保持して搭載する搭載ヘッドとを備えた部品実装装置に用いるのに好適な、実装基板に搭載された状態の第1電子部品を撮像することなく、第1電子部品に第2電子部品を積層搭載する際に適切に補正が可能な部品実装装置に関する。
従来の部品実装装置の構成の一例について説明する。図1は、部品実装装置の斜視図である。図1において、部品実装装置100は、電子部品を吸着する吸着ノズル106を備える搭載ヘッド108を有し、搭載ヘッド108の位置決めを行うX軸移動機構110、Y軸移動機構112、部品供給装置を設置する部品供給部116、実装基板104を搬送及び位置決めする基板搬送部118、吸着された電子部品の状態を認識する部品認識カメラ120、実装基板104上の基板マーク等を認識する基板認識カメラ122、並びに本体130により構成される。
従来、ベアチップ等の実装基板104へ搭載後の電子部品(第1電子部品102a(図10)という)に他の電子部品(第2電子部品という)を搭載する積層搭載において、精度良く搭載する為には、搭載後の第1電子部品102aの上面にある部品マーク、又はパターンの一部を基板認識カメラ122で認識することで、搭載位置に対する補正処理を行った上で搭載を行っていた(特許文献1、2)。
特開2006−93321号公報 特開2007−27300号公報
しかしながら、実装基板104へ搭載後の第1電子部品102aに第2電子部品を積層搭載する場合には、先に搭載される第1電子部品102aに対して、部品供給部116での第1電子部品102aの供給状態を基板認識カメラ122で撮像する動作と、搭載後の第1電子部品102aの上面の部品マーク等を撮像する動作の両方が必要であり、第2電子部品の搭載に要する時間(タクトという)が長くなる問題があった。
又、図10に示す如く、搭載後の第1電子部品102aの上面高さが基板認識カメラ122の焦点距離dの焦点範囲FDからはずれた距離Dである場合には、搭載後の第1電子部品102aの認識処理を行うことができないため、補正機能が有効ではなくなってしまう。このような第1電子部品102aに対応する場合には、基板認識カメラ122の焦点距離の調整、或いは、オートフォーカス機能の追加、焦点範囲の異なる新たなカメラを追加する等の対応が必要であり、コストが増大する問題があった。
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、実装基板に搭載後の第1電子部品に第2電子部品を搭載する際に、搭載後の第1電子部品の部品マークを撮像する動作を省略して、タクトを短くすることが可能な部品実装装置を提供することを課題とする。
本願の請求項1に係る発明は、実装基板に搭載される第1電子部品と該第1電子部品に搭載される第2電子部品のうち、少なくとも第1電子部品の画像を取得し、該画像情報を保持し、処理する画像処理手段と、該画像処理手段により処理された結果に基づいて、該第1及び第2電子部品を吸着ノズルにより保持して搭載する搭載ヘッドとを備えた部品実装装置において、前記実装基板に第1電子部品を搭載する際に行った吸着姿勢の補正値を格納する格納手段と、該第1電子部品の吸着前の供給状態の画像と該補正値とを用いて、第1電子部品が搭載された状態の仮想画像を作成する画像作成手段と、該仮想画像に基づき、前記第2電子部品の吸着姿勢を補正する補正手段と、を有することにより前記課題を解決したものである。
本発明によれば、第1電子部品の吸着前の供給状態の画像と実装基板に第1電子部品を搭載する際に行った吸着姿勢の補正値(補正値A)とを用いて仮想画像を作成することで、搭載後の第1電子部品の部品マークを撮像しなくても、搭載後の第1電子部品の部品マークを撮像したことと同等の第1電子部品の位置ずれ情報を得ることができる。
本発明によれば、仮想画像に基づき第2電子部品の吸着姿勢を制御するので、精度良く第2電子部品を搭載することができる。その際に、搭載後の第1電子部品の画像を取得する動作がないため、タクトを短縮することができる。同時に、搭載後の第1電子部品の部品高さに影響されることなく、精度良く搭載することができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
まず、本発明の実施形態について図1から図9を用いて説明する。図1は本発明の実施形態である部品実装装置の斜視図、図2は部品実装装置の構成ブロック図、図3は第1電子部品の搭載フロー図、図4は第2電子部品の搭載フロー図、図5は吸着前の供給状態の第1電子部品の画像の一例を示す図、図6は傾きのある実装基板に第1電子部品を搭載した場合の一例を示す図、図7は吸着前の供給状態の第1電子部品の画像の別の一例を示す図、図8は図6の実装基板に図7の第1電子部品を傾斜角を有さずに搭載した場合の仮想画像、図9は図6の実装基板に図7の第1電子部品を90度の傾斜角を有して搭載した場合の仮想画像、である。
部品実装装置について、図1と図2を用いて、詳細に説明する。
部品実装装置100は、従来の部品実装装置の構成と同じく、搭載ヘッド108と、X軸移動機構110と、Y軸移動機構112と、部品実装装置100の前部に配設され、実装基板104に実装される電子部品102(第1電子部品102aと第2電子部品102bとからなる)を供給する部品供給部116と、部品実装装置100中央部から少し後方で左右方向に延在する基板搬送部118と、画像処理手段の少なくとも一部を備える本体130と、を有する。なお、画像処理手段は、実装基板104に搭載される第1電子部品102aと第1電子部品102aに搭載される第2電子部品102bのうち、少なくとも第1電子部品102aの画像を取得し、その画像情報を保持し、処理する。そのため、本実施形態では、画像処理手段は、例えば、第1電子部品102aと第2電子部品102bを撮像して、その画像処理をするために、部品認識カメラ120と、基板認識カメラ122と、後述する画像認識装置142とを有する。
前記搭載ヘッド108は、吸着ノズル106を垂直方向(Z軸方向)に昇降可能に移動させるZ軸移動機構(図示せず)を備え、又、吸着ノズル106をノズル軸(吸着軸)を中心に回転させるθ軸移動機構(図示せず)を備えている。又、搭載ヘッド108には、実装基板104上に形成された基板マーク104a(図6)を撮像する基板認識カメラ122が搭載されている。なお、基板認識カメラ122は、吸着ノズル106による吸着前の供給状態の電子部品102を撮像することができる。
前記X軸移動機構110は、X軸移動機構110の駆動源であるX軸モータ111により、搭載ヘッド108をX軸方向に移動することができる。
前記Y軸移動機構112は、Y軸移動機構112の駆動源であるY軸モータ113により、搭載ヘッド108を備えるX軸移動機構110をY軸方向に移動することができる。
前記基板搬送部118は、複数の部品実装装置と実装ラインを構成したときなどにおいて、両側の部品実装装置からの基板104の受け取り、受け渡しをするためのものであり、実装基板104を部品実装装置100の所定の位置に固定することができる。
前記部品認識カメラ120は、部品供給部116の近傍に設けられ、吸着ノズル106に吸着された電子部品102を下方から撮像するように配置されている。
前記本体130は、図2に示す如く、コントローラ132と、記憶装置134と、表示装置136と、キーボード138と、マウス140と、画像認識装置142とを、有する。
前記コントローラ132は、例えば、装置全体を制御するCPUなどのマイクロコンピュータであり、RAMとROMなどを有する。図2のブロック図に示す如く、各構成要素に接続されて、部品実装装置100全体を制御することができる。又、後述する仮想画像に基づいて各軸移動機構の制御を行い、電子部品102の吸着姿勢の補正指令と搭載を行うことができる。すなわち、本実施形態では、例えば、コントローラ132と各軸移動機構とで補正手段を構成することができる。
前記記憶装置134は、例えば、フラッシュメモリなどで構成され、キーボード138とマウス140により入力された実装基板104のレイアウトデータや第1及び第2電子部品102a、102bのレイアウトデータ等、並びに、図示しないホストコンピュータから供給される上記のデータ等を格納するのにも用いることができる。又、実装基板104に第1電子部品102aを搭載する際に行った吸着姿勢の補正値(補正値Aという)を格納することにも用いることができる。すなわち、本実施形態では、例えば、記憶装置134を格納手段とすることができる。
前記表示装置(モニタ)136は、例えば、部品データ、演算データ、部品認識カメラ120、並びに、基板認識カメラ122で撮像した電子部品102の画像などをその表示面に表示することができる。
前記画像認識装置142は、部品認識カメラ120に接続され、吸着ノズル106に吸着された部品102の画像認識を行うことができ、A/D変換器144、CPU146及びメモリ148から構成することができる。部品認識カメラ120から出力される電子部品102のアナログ画像信号を、A/D変換器144によりデジタル信号に変換してメモリ148に格納して、CPU146が前記画像情報に基づいて吸着された電子部品102の認識を行う。すなわち、画像認識装置142は、部品102の中心と吸着位置との位置ずれと吸着角度を演算し、部品102の吸着姿勢を認識することができる(部品認識処理)。
又、画像認識装置142は、基板認識カメラ122で撮像された基板マーク104a(図6)の画像情報を処理して基板マーク104aの位置を演算し、実装基板104の位置ずれなどを認識する機能も有する。更に、画像認識装置142は、基板認識カメラ122で撮像された吸着前の供給状態の電子部品102の画像情報を保存することができ、補正値Aを用いて第1電子部品が搭載された状態の仮想画像を作成することができる。すなわち、本実施形態では、例えば、画像認識装置142を画像作成手段とすることができる。上述したこれらの画像情報を処理して、補正値等をコントローラ132へ転送する機能も有する。
次に、本実施形態に係る部品実装装置の動作について、図3から図9を用いて詳細に説明する。
最初に、実装基板104に第1電子部品102aを搭載する動作について、主に図3を用いて説明をする。
まず、実装基板104の位置ずれを補正するために、実装基板104の基板マーク104a(図6)を基板認識カメラ122で撮像し、実装基板104の位置ずれ等の認識を行う(ステップS2)。なお、この動作は、1つの実装基板104が基板搬送部118で固定された最初に行うことですむため、積層搭載する毎に行う必要はない。
次に、基板認識カメラ122を部品供給部116の第1電子部品102aの吸着位置へ移動させ(ステップS4)、キャビティ103(図5)内の第1電子部品102aの吸着前の供給状態を撮像する(ステップS6)。撮像された画像情報はメモリ148に保持される。ここで、キャビティ103とは、例えば、電子部品102が、リールテープで供給される場合に、電子部品102が収納されているリールテープの凹みの空間を指している。
次に、上記撮像された画像情報から、第1電子部品102aの部品マーク102c(図5)を確認し、第1電子部品102aの特定の吸着位置を吸着ノズル106で吸着する(ステップS8)。
ここで、図5を用いて、特定の吸着位置SPについて具体的に説明する。なお、第1電子部品102aの中心PCは、キャビティ103の中心位置CCとはずれているが、キャビティ103とは角度ずれがないとしている。この場合には、キャビティ103の中心位置CC(xc、yc)から第1電子部品102aの部品中心PCまでの位置ずれ(x1、y1)を画像情報から求める。更に部品中心PCから吸着禁止位置を避けるための特定された位置SP(x2、y2)を確認して、吸着ノズル106の位置の補正調整を行い、前記特定位置SPで第1電子部品102aを吸着する。なお、吸着禁止位置は、例えば、そこで吸着するとその電子部品102の機能を損なうおそれがある位置や、バンプなどが形成されていて、形状的に吸着に適さない位置等である。又、ここでの部品中心PCは、例えば、部品マーク102cを基準として算出することができる。
次に、部品認識カメラ120により、吸着ノズル106で吸着された第1電子部品102aを撮像する。そして、部品認識処理により第1電子部品102aの中心と吸着位置とのずれ量、角度を取得する(ステップS10)。そして、実装基板104の位置ずれを考慮して、第1電子部品102aの吸着姿勢を補正する(ステップS12)。このとき、実際に補正した補正値(補正値Aとする)を記憶装置134に保持する。
最後に、上記補正値Aで補正された状態で、第1電子部品102aを実装基板104に搭載する。
次に、実装基板104に搭載された第1電子部品102aに第2電子部品102bを搭載する動作について、主に図4を用いて説明をする。
まず、吸着ノズル106を移動させ、部品供給部116の第2電子部品102bを吸着する。吸着された第2電子部品102bを、部品認識カメラ120で撮像する。そして、部品認識処理により第2電子部品102bの中心と吸着位置とのずれ量、角度を取得する(ステップS20)。
次に、第2電子部品102bの吸着姿勢を実装位置に対して補正する(ステップS22)。即ち、実装基板104のずれを考慮して、第2電子部品102bの吸着姿勢は補正される。
次に、メモリ148に保持されていた吸着前の供給状態の第1電子部品102aの画像と記憶装置134に保持されていた補正値Aを用いて仮想画像を作成する(ステップS24)。ここで、図6から図9を用いて、仮想画像について説明する。
例えば、図6で示す如く、実装基板104が5度の角度ずれを有している場合を想定する。そして、実装基板104に対して、(a)0度の角度で搭載された第1電子部品102aの状態と、(b)90度の角度で搭載された第1電子部品102aの状態、それぞれに対する仮想画像を得ることを考える。
図7で示す如く、第1電子部品102aは、キャビティ103内でー10度の角度で傾いているとする。なお、角度の傾き判定は、部品マーク102cを基準とする。理由は、従来の積層搭載においても、第1電子部品102aの部品マーク102cを基準として第2電子部品102bの補正を行うからである。なお、説明の簡略化のため、第1電子部品102aの中心PCとキャビティ103の中心CCとの位置ずれはないものとしている。
図7の画像情報はステップS6で得ることができる。補正値Aは部品認識カメラ120の部品認識処理で得られた画像情報であり、実際に補正された値である。このため、補正値Aを、図7の第1電子部品102aの画像情報に与えることで、現に実装基板104上に搭載された第1電子部品102aの部品マーク102cの位置を高精度に算出して、仮想画像として作成することができる。すなわち、実装基板104に対して0度の傾きを有するように、第1電子部品102aの補正値Aとして15度の回転補正が、第1電子部品102aになされて実装基板104に搭載される。この場合には、図7の画像情報にこの補正値Aの15度の回転を行うと、仮想画像として図8の画像を得ることができる。すなわち、この仮想画像は、図6の(a)の状態と等しくなる。
同様に、実装基板104に対して90度の傾きを有するように、第1電子部品102aの補正値Aとして105度の回転補正が、第1電子部品102aになされて実装基板104に搭載される。この場合には、図7の画像情報にこの補正値Aの105度の回転を行うと、仮想画像として図9の画像を得ることができる。すなわち、この仮想画像は、図6の(b)の状態と等しくなる。
このため、搭載後の第1電子部品102aの部品マーク102cを撮像する動作を不要にすることができる。即ち、仮想画像は、搭載後の第1電子部品102aの部品マーク102cを撮像しなくても、搭載後の第1電子部品102aの部品マーク102cを撮像したことと同等の第1電子部品102aの位置ずれ情報を提供することができる。
次に、第2電子部品102bの吸着姿勢を、上記仮想画像に基づく第1電子部品102aの搭載位置に対して補正を行う(ステップS26)。実装基板104の基板マーク104aによる基準と仮想画像に基づいて求められた第1電子部品102aの部品マーク102cによる基準とでずれがない場合には、ステップ22の補正により、本ステップで補正がなされずに高精度に搭載を実現できる。しかし、実装基板104の基板マーク104aによる基準と仮想画像に基づいて求められた第1電子部品102aの部品マーク102cによる基準とでずれがある場合には、その位置ずれ量を補正することとなる。
最後に、第2電子部品102bを第1電子部品102aに搭載する(ステップS28)。
このようにして、第1電子部品102aの吸着前の供給状態の画像と実装基板104に第1電子部品102aを搭載する際に行った吸着姿勢の補正値Aとを用いて仮想画像を作成するので、搭載後の第1電子部品102aの部品マーク102cを撮像しなくても、搭載後の第1電子部品102aの部品マーク102cを撮像したことと同等の第1電子部品102aの位置ずれ情報を得ることができる。
従って、本実施形態によれば、仮想画像に基づき第2電子部品102bの吸着姿勢を制御するので、精度良く第2電子部品102bを搭載することができる。その際に、搭載後の第1電子部品102aの画像を取得する動作がないため、タクトを短縮することができる。同時に、搭載後の第1電子部品102aの部品高さに影響されることなく、精度良く搭載することができる。
本実施形態では、吸着前の供給状態の第1電子部品102aは、キャビティ103に収納されているとしたが、これに限定されるものではない。例えば、シリコンウェーハから直接ベアチップを吸着して搭載する場合や、バルク供給される場合であっても、本発明は適用可能である。
又、本実施形態では、補正値Aは記憶装置134に、供給状態の画像情報はメモリ148に保持されているとしたが、本発明はこれに限定されるものではない。補正値A、供給状態の画像情報のいずれが、記憶装置134、又はメモリ148に保持されてもよい。いずれであっても本発明はその効果を発揮するからである。又、その処理等もCPU146であっても、コントローラ132のいずれでもよいことは明らかである。
又、本実施形態では、必ず部品認識カメラ120を使用して部品認識処理など(ステップS10、S20)を行ったが、基板認識カメラ122で部品認識カメラ120が行っていた部品認識処理を行い、その結果で吸着姿勢の補正(ステップS12、S22)を行うことも可能である。又、部品認識カメラ120を使用せず、その代わりにレーザによる部品認識を行ってもよい。
又、本発明において、第1電子部品102aと第2電子部品102bとは、パッケージ形態やICとチップ部品の異同を問わないことは明らかである。例えば、ICパッケージにチップ抵抗やチップコンデンサを搭載してもよいし、IC同士の積層搭載であってもよい。IC同士の場合において、挿入型のDIPやSIP等、表面実装型のBGA、SOP、SON、QFP、CSP、べアチップ等をどのように組み合わせてもよい。いずれであっても本発明はその効果を発揮する。
又、第2電子部品102bに電子部品を搭載しない場合であっても、基板認識カメラ122で供給状態の第2電子部品102bを撮像してもよい。ベアチップ等の第2電子部品102b自身の搭載においても、吸着の際のダメージを減らす為などの理由から、吸着禁止位置を外して特定された位置SPに対して精度良く吸着することが求められる場合には、基板認識カメラ122にて、第2電子部品102bの供給状態を認識して吸着位置を補正調整を行うことが望ましいからである。
又、仮想画像の作成の際には補正値Aとして回転のみを示したが、第1電子部品102aの中心PCの位置ずれがあれば、その分だけ補正値Aが変わることは当然に行われることとなる。そして、上記実施形態においても、第1電子部品102aと実装基板104のレイアウトデータが考慮されて、第2電子部品102bの搭載がなされることは言うまでもない。
本発明の実施形態である部品実装装置の斜視図 同じく部品実装装置の構成ブロック図 同じく第1電子部品の搭載フロー図 同じく第2電子部品の搭載フロー図 同じく吸着前の供給状態の第1電子部品の画像の一例を示す図 同じく傾きのある実装基板に第1電子部品を搭載した場合の一例を示す図 同じく吸着前の供給状態の第1電子部品の異なる画像の一例を示す図 図6の実装基板に図7の第1電子部品を傾斜角を有さずに搭載した場合の仮想画像 図6の実装基板に図7の第1電子部品を90度の傾斜角を有して搭載した場合の仮想画像 従来の基板認識カメラの焦点距離の課題を示す概略図
符号の説明
100…部品実装装置
102、102a、102b…電子部品
102c…部品マーク
103…キャビティ
104…実装基板
104a…基板マーク
106…吸着ノズル
108…搭載ヘッド
110…X軸移動機構
112…Y軸移動機構
116…部品供給部
120…部品認識カメラ
122…基板認識カメラ
130…本体
132…コントローラ
134…記憶装置
142…画像処理装置
146…CPU
148…メモリ

Claims (1)

  1. 実装基板に搭載される第1電子部品と該第1電子部品に搭載される第2電子部品のうち、少なくとも第1電子部品の画像を取得し、該画像情報を保持し、処理する画像処理手段と、
    該画像処理手段により処理された結果に基づいて、該第1及び第2電子部品を吸着ノズルにより保持して搭載する搭載ヘッドとを備えた部品実装装置において、
    前記実装基板に第1電子部品を搭載する際に行った吸着姿勢の補正値を格納する格納手段と、
    該第1電子部品の吸着前の供給状態の画像と該補正値とを用いて、第1電子部品が搭載された状態の仮想画像を作成する画像作成手段と、
    該仮想画像に基づき、前記第2電子部品の吸着姿勢を補正する補正手段と、
    を有することを特長とする部品実装装置。
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