JP2009100108A - 撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像装置は、撮像素子の画素毎もしくは複数画素からなる領域毎の所定の出力レベルを判定する判定手段(比較器14−21.比較用電位14−22、論理和部14−23)を備える。判定手段の判定結果に応じて、所定出力レベル以上の画素もしくは領域を含む行の電荷転送期間のみを変更する。
【選択図】図2
Description
図2は、図1における撮像素子(CMOS型エリアセンサ)の画素部の回路図(1)である。
本発明の第1の実施の形態では、本撮影時の露光時に所定範囲(行毎)の出力レベルを判定して電荷転送期間を判定していた。本発明の第2の実施の形態では、本撮影前に確認する事前撮影動作(例えば、電子ファインダモードによる構図確認動作等)時に、予め、出力レベルを判定して、判定結果を本撮影に反映させるものである。
本発明の第3の実施の形態は、第2の実施の形態における静止状態の検出が三脚等の固定検出であったのに対し、静止状態の検出を振動検出部360により行うものである。
本発明の第4の実施の形態は、飽和レベルに達している画素があるための画質劣化が発生するという基本的な考えの中の例外として、一行全ての画素が飽和していると判定できている場合を前提とする。その場合は、画像劣化に対応できるため、電荷転送期間を変更しない(延ばさない)ことで無駄な遅延を防ぐものである。
ここまでの実施の形態は、判定手段の判定を電荷蓄積動作中に行っていたが、タイミングでは漏れ電荷による判定となるため、かなり高輝度被写体でなければ検出が難しいものであった。
14−1 フォトダイオード
14−2 転送スイッチ
14−3 リセットスイッチ
14−10 ソースフォロア
14−11 ソースフォロアのゲート
14−21 比較器
14−22 比較用電位
14−23 論理和部
14−24 排他的論理和部
50 システム制御部
360 振動検出部
Claims (13)
- CMOS型エリアセンサを撮像素子として使用し、撮影した画像を記録媒体に記録する撮像装置において、
前記撮像素子の画素毎もしくは複数画素からなる領域毎の所定の出力レベルを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に応じて、所定出力レベル以上の画素もしくは領域を含む行の場合には水平ブランキング期間における電荷転送期間を変更する制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。 - 前記電荷転送期間とは、前記撮像素子の画素部に蓄積された信号分の電荷を信号蓄積部に対して転送、安定待ち、保持するまでの時間を含み、変更する期間とは、前記電荷転送期間のうち、信号分電荷の安定待ち時間を含むことを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
- 前記電荷転送期間とは、信号分の比較用初期化電荷を前記撮像素子の信号蓄積部に対して転送し、安定待ち、保持するまでの時間を含み、変更する期間とは、前記電荷転送期間のうち、初期化電荷の安定待ち時間を含むことを特徴とする請求項1記載の撮像装置。
- 上記請求項1乃至請求項3の撮像装置において、前記所定出力レベルとは飽和レベルであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記所定出力レベル以上の出力が検出された場合、前記制御手段は、前記電荷転送期間を前記所定出力レベル未満の出力時より長く設定することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記所定出力レベルを判定する領域は1行の出力領域であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記判定手段は、露光動作時の電荷蓄積動作中に発生する前記撮像素子のフローティングディフュージョンへの漏れ電荷を検出することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記判定手段は、前記電荷転送期間内の前記撮像素子のフローティングディフュージョンへの漏れ電荷を検出することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記判定手段は、本撮影前に行う事前撮影時に取り込む画像の信号レベルを検出することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の撮像装置。
- 前記撮像装置の静止状態を検出する検出手段を備え、前記検出手段により静止が検出された場合に、前記制御手段は、出力レベルに応じた前記電荷転送期間の変更動作を行うことを特徴とする請求項9記載の撮像装置。
- 前記検出手段は、固定状態を検出する検出手段であり、三脚が装着されている場合に静止状態にあると検出することを特徴とする請求項10記載の撮像装置。
- 前記検出手段は、振動を検出する振動検出手段であり、前記振動検出手段の検出結果が所定値以下の振動であった場合には静止状態にあると検出することを特徴とする請求項10記載の撮像装置。
- 前記判定手段による判定結果で、1行すべてが前記所定出力レベル以上だった場合は、前記制御手段は、前記電荷転送期間の変更を停止することを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれかに記載の撮像装置。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010272839A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Pixart Imaging Inc | Cmosイメージセンサ及びその動作方法 |
JP2012044307A (ja) * | 2010-08-16 | 2012-03-01 | Nikon Corp | 撮像装置 |
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Families Citing this family (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0575913A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 動きベクトル検出回路及び手ぶれ補正回路 |
JP2002027327A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Toshiba Corp | 固体撮像システム |
JP2005323108A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Canon Inc | 撮像装置 |
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---|---|---|---|---|
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0575913A (ja) * | 1991-09-13 | 1993-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 動きベクトル検出回路及び手ぶれ補正回路 |
JP2002027327A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-25 | Toshiba Corp | 固体撮像システム |
JP2005323108A (ja) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Canon Inc | 撮像装置 |
JP2006229362A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Canon Inc | 撮像素子及び処理装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010272839A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Pixart Imaging Inc | Cmosイメージセンサ及びその動作方法 |
US9223444B2 (en) | 2009-05-21 | 2015-12-29 | Pixart Imaging Inc. | CMOS image sensor with shared multiplexer and method of operating the same |
JP2012044307A (ja) * | 2010-08-16 | 2012-03-01 | Nikon Corp | 撮像装置 |
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