JP2009060225A - Ｒｆ回線切り替え回路 - Google Patents

Abstract

【課題】比較的小型で、伝送特性が良く、メンテナンスや修理が容易なＲＦ回線切り替え回路を提供する。
【解決手段】ＲＦ回線切り替え回路は、Ｎ本の入力配線に接続されたＮ／２個の第１のＲＦトランスファスイッチと、Ｎ本の出力配線に接続されたＮ／２個の第２のＲＦトランスファスイッチと、内部配線又は複数の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線との組合せからなるＮ本の内部接続経路とを備える。Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、第１及び第２のＲＦトランスファスイッチと内部接続経路とからなる経路を介して、前記経路上のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。
【選択図】図１

Description

本発明は、ＲＦ回線切り替え回路に関し、特に、通信装置の無線特性試験において使用され、小型で、伝送特性が良く、メンテナンスや修理が容易なＲＦ回線切り替え回路に関する。

通信装置の無線特性試験においては、多くの通信経路について効率的に試験をする必要がある。このため、ＲＦ（高周波）マトリクススイッチを用いて、ＲＦ信号回線を順次切り替える。

なお、マイクロ波通信装置において、高周波スイッチのいずれかひとつをオン／オフする技術が知られている。（特許文献１参照）。また、複数の入力回線と複数の出力回線を有する回線配分回路において、複数のトランスファスイッチを用いる技術が知られている。（特許文献２参照）。また、アレーアンテナにおいて、複数の素子アンテナを選択するための給電回路のトランスファスイッチの個数を低減する技術が知られている。（特許文献３参照）。
特開昭６０−２４７３９２号公報 特開平７−３３６１２８号公報 特開昭６２−１６０８２６号公報

図６及び図７は、本発明の背景となったＲＦ回線切り替え回路（以下、切り替え回路）の構成を示し、４本の入力ＲＦ回線と４本の出力ＲＦ回線からなる回路（４×４回路）について試験する場合に用いられる切り替え回路を示す。図６はリレースイッチを用いる例を示し、図７は回線セレクタを用いる例を示す。

図６の例の場合、切り替え回路を構成するために、６個の入力（又は出力）と１個の出力（又は入力）との間を切り替えるスイッチ（以下、６−１ＳＷ）が、８個必要となる。内部配線は、入力のために４本、６−１ＳＷの間の接続のために１６本、出力のために４本の合計２４本必要となる。８個の６−１ＳＷを制御回路（図示せず）により制御することにより、４個の入力端子（ＩＮ１〜ＩＮ４）に接続された４本の入力ＲＦ回線（図示せず）と、４個の出力端子（ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４）に接続された４本の出力ＲＦ回線（図示せず）との間の接続が切り替えられる。

図７の例の場合、切り替え回路を構成するために、回線セレクタ（ＳＰＤＴスイッチ）が２４個必要となる。内部配線は、入力のために４本、ＳＰＤＴスイッチの間の接続のために３２本、出力のために４本の合計４０本必要となる。２４個のＳＰＤＴスイッチを制御回路（図示せず）により制御することにより、図６と同様に、４本の入力ＲＦ回線と４本の出力ＲＦ回線との間の接続を切り替える。

本発明者の検討によれば、以上のように、切り替え回路が大型にならざるを得ないので、種々の問題を生じる。

即ち、太い導波管又は同軸ケーブルを用いて多数の内部配線を構成するため、切り替え回路を収納する筐体が大型になる。無線特性試験では多くの測定器を使用するので、筐体が大きいと、切り替え回路の設置が不便になる。また、無線特性試験ではできるだけ伝送特性を良くする必要があるが、図７の例の場合、スイッチの接続及び内部配線が多くなるため、切り替え回路における伝送特性が悪くなる。また、切り替え回路の内部配線の数が多いので、日常のメンテナンスや故障時の修理が容易でない。更に、６−１ＳＷやＳＰＤＴスイッチは高価であるので、切り替え回路が高価になる。

本発明は、比較的小型で、伝送特性が良く、メンテナンスや修理が容易なＲＦ回線切り替え回路を提供することを目的とする。

本発明のＲＦ回線切り替え回路は、Ｎ（Ｎは４、８、１６、・・）本の入力ＲＦ回線に接続されるＮ本の入力配線と、Ｎ本の出力ＲＦ回線に接続されるＮ本の出力配線と、各々が前記Ｎ本の入力配線のいずれか２本であって相互に異なる入力配線に接続されたＮ／２個の第１のＲＦトランスファスイッチと、各々が前記Ｎ本の出力配線のいずれか２本であって相互に異なる出力配線に接続されたＮ／２個の第２のＲＦトランスファスイッチと、各々が内部配線又は複数の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線との組合せからなり、前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチの間を接続するＮ本の内部接続経路とを備える。前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、１本の入力配線、１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、１個の第２のＲＦトランスファスイッチ、１本の出力配線、及び、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチと当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチとの間を接続する１本の内部接続経路とからなる経路を介して、Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続可能とされる。前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、前記Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。

好ましくは、本発明の一実施態様において、当該ＲＦ回線切り替え回路が、更に、前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替える制御回路を備える。

好ましくは、本発明の一実施態様において、前記制御回路が、禁止条件を格納する禁止設定テーブルを備え、前記入力ＲＦ回線と出力ＲＦ回線との間に設定すべき経路が前記禁止条件に該当する場合、当該経路を設定しない。

好ましくは、本発明の一実施態様において、前記Ｎが４であり、前記４本の内部接続経路が、各々、１本の内部配線からなり、前記４本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ及び当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記４本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。

好ましくは、本発明の一実施態様において、前記Ｎが８であり、前記８本の内部接続経路が、各々、２個の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線とからなり、前記８本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチ及び前記２個の第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記８本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。

本発明のＲＦ回線切り替え回路によれば、Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、第１及び第２のＲＦトランスファスイッチと内部接続経路とからなる経路を介して、前記経路上のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。これにより、内部配線の数を少なくすることができるので、内部配線として太い導波管又は同軸ケーブルを用いても、切り替え回路及びその筐体が大型化することを回避することができる。この結果、無線特性試験において多くの測定器を使用しても、筐体が大きくないので、切り替え回路を支障なく設置することができる。また、内部配線の数が少ないので、切り替え回路のメンテナンスや故障時の修理を容易に行うことができる。更に、スイッチの接続及び内部配線を少なくすることができるので、無線特性試験において伝送特性を良くすることができる。

また、本発明の一実施態様によれば、ＲＦトランスファスイッチを切り替える制御回路が設けられる。これにより、前記経路上のＲＦトランスファスイッチをマニュアルで切り替えるよりも、正確に切り替えることができ、また、測定のための負担を軽減することができる。

また、本発明の一実施態様によれば、入力ＲＦ回線と出力ＲＦ回線との間に設定すべき経路が禁止条件に該当する場合、当該経路が設定されない。これにより、当該試験に起因してＲＦトランスファスイッチの破損を防止することができ、また、ＲＦトランスファスイッチを簡単な構成とすることができる。

また、本発明の一実施態様によれば、４本の入力ＲＦ回線の各々が、第１及び第２のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、４本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。これにより、最も使用頻度が高い４本の入力ＲＦ回線と４本の出力ＲＦ回線からなる回路（４×４回路）について試験する場合に用いられる切り替え回路を、容易に設計し、製造し、設置し、維持することができる。

また、本発明の一実施態様によれば、８本の入力ＲＦ回線の各々が、第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ及び２個の第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、８本の出力ＲＦ回線の各々と接続される。これにより、４×４回路の次に使用頻度が高い８本の入力ＲＦ回線と８本の出力ＲＦ回線からなる回路（８×８回路）について試験する場合に用いられる切り替え回路を、容易に設計等することができる。この結果、４×４回路と併せて、実務上、実際の測定に必要となる殆ど全ての切替器を容易に用意することができる。

図１は、本発明のＲＦ回線切り替え回路の一例を示す構成図であり、４本の入力ＲＦ回線と４本の出力ＲＦ回線からなる回路（４×４回路）について試験する場合に用いられる切り替え回路を示す。

ＲＦ回線切り替え回路（以下、切替器）１は、４個のＲＦトランスファスイッチ（Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１〜Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４）１０と、４本の入力配線１１と、４本の内部配線１２と、４本の出力配線１３とを備える。これらは、例えば１枚の基板上に設けられる。入力配線１１の数及び出力配線１３の数Ｎは同一とされる。この例はＮ＝４の例である。内部配線１２は切替器１の内部の配線である。

４本の入力配線１１は、各々、切替器１の４個の入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４に接続され、これらを介して４本の入力ＲＦ回線（図示せず）に接続される。４本の内部配線１２は、４個のＲＦトランスファスイッチ（以下、単にトランスファＳＷ）１０の間を接続する。４本の出力配線１３は、各々、切替器１の４個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４に接続され、これらを介して４本の出力ＲＦ回線（図示せず）に接続される。

また、切替器１は、電源回路１４と、リレー制御回路１５と、ＵＳＢデータ入出力回路（ＵＳＢ−ＤＩＯ）１６と、電源スイッチ１７と、商用電源との接続部１８と、ＵＳＢ接続端子１９とを備える。

電源スイッチ１７がオンである場合、商用電源との接続部１８を介して、切替器１の外部から商用電源（１００Ｖ）が電源回路１４に供給される。電源スイッチ１７がオフである場合、商用電源は遮断される。電源回路１４は、供給された商用電源から、切替器１の電源として用いられる内部電源（例えば、５Ｖ）を生成する。内部電源は、リレー制御回路１５、ＵＳＢデータ入出力回路１６及び４個のトランスファＳＷ１０にその電源として供給される。

ＵＳＢ接続端子１９は、ＵＳＢ接続用の端子であり、例えばコンピュータ（図示せず）が接続される。当該コンピュータは、ＵＳＢ接続端子１９を介して、ＵＳＢデータ入出力回路１６にリレー制御用データを送信する。ＵＳＢデータ入出力回路１６は、受信したリレー制御用データをリレー制御回路１５に入力する。

リレー制御回路１５は、例えばコンピュータからなり、与えられたリレー制御用データに基づいて制御信号を生成して、４個のトランスファＳＷ１０に供給する。リレー制御用データは、外部のコンピュータ（図示せず）から入力されるか、又は、リレー制御回路１５に直接入力される。例えば、通常時において、制御信号はロウレベルとされ、トランスファＳＷ１０はリレーの非動作状態とされる。また、動作時において、制御信号はハイレベルとされ、トランスファＳＷ１０はリレーの動作状態とされる。

なお、図１において、リレー制御回路１５からトランスファＳＷ１０への制御信号は、図示の便宜上、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４のみについて示し、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３については省略している。

トランスファＳＷ１０のリレーの動作を、図２に示す。トランスファＳＷ１０は、４個の接続端子＃１〜＃４を備え、電気機械的なリレー１０５及び１０６からなる。即ち、４個の接続端子＃１〜＃４の間の機械的に切り替え可能なリレー１０５及び１０６が、電気的な制御信号に応じて切り替えられる。

通常時（リレーの非動作状態）において、制御信号はオフ（又は０）とされる。これにより、図２（Ａ）に示すように、例えば接続端子＃１に設けられたリレー１０５が、接続端子＃３ではなく、接続端子＃２に接続される。また、接続端子＃４に設けられたリレー１０６が、接続端子＃２ではなく、接続端子＃３に接続される。この結果、接続端子＃１と＃２との間及び接続端子＃３と＃４との間が、電気的に接続される。これにより、接続端子＃１に接続された配線１０１と接続端子＃２に接続された配線１０２とが接続され、接続端子＃３に接続された配線１０３と接続端子＃４に接続された配線１０４とが接続される。

リレーの動作状態において、制御信号はオン（又は１）とされる。これにより、図２（Ｂ）に示すように、接続端子＃１に設けられたリレー１０５が接続端子＃２から接続端子＃３に接続されるように切り替えられ、接続端子＃４に設けられたリレー１０６が接続端子＃３から接続端子＃２に接続されるように切り替えられる。この結果、接続端子＃１と＃３との間及び接続端子＃２と＃４との間が、電気的に接続される。これにより、配線１０１と配線１０３とが接続され、配線１０２と配線１０４とが接続される。

なお、図１（図３及び図５において同じ）は、図示の便宜上、各々のトランスファＳＷ１０がリレーの非動作状態（図２（Ａ）の状態）にある場合を示しているが、前述のように、トランスファＳＷ１０は、各々、制御信号に応じてリレーの動作状態（図２（Ｂ）の状態）となる。

図１において、４本の入力配線１１は、４個の入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４といずれか２個のトランスファＳＷ１０との間を接続する。入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４に接続された２個のトランスファＳＷ１０を第１のトランスファＳＷということとする。即ち、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２が第１のトランスファＳＷ１０である。第１のトランスファＳＷ１０は入力用のトランスファＳＷである。

入力配線１１により、入力端子ＩＮ１及びＩＮ３は第１のトランスファＳＷ１０であるＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１と接続され、入力端子ＩＮ２及びＩＮ４は第１のトランスファＳＷ１０であるＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２と接続される。２（＝Ｎ／２）個の第１のトランスファＳＷ１０は、各々、２本の相互に異なる入力配線１１に接続される。

入力配線１１は、例えば導波管又は同軸ケーブルからなる。図１において、入力配線１１は、図示の便宜上、折れ曲がるように表示されているが、実際には、ほぼ直線状に設けられる。以上は、内部配線１２、後述する外部配線１２’、出力配線１３、後述する入力ＲＦ回線３、後述する出力ＲＦ回線４についても同様である。

４本の出力配線１３は、４個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４といずれか２個のトランスファＳＷ１０との間を接続する。出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４に接続された２個のトランスファＳＷ１０を第２のトランスファＳＷということとする。即ち、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４が第１のトランスファＳＷである。第２のトランスファＳＷ１０は、第１のトランスファＳＷと相互に異なり、また、出力用のトランスファＳＷ１０である。

出力配線１３により、出力端子ＯＵＴ１及びＯＵＴ４は第２のトランスファＳＷ１０であるＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３と接続され、出力端子ＯＵＴ２及びＯＵＴ３は第２のトランスファＳＷ１０であるＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４と接続される。２（＝Ｎ／２）個の第２のトランスファＳＷ１０は、各々、２本の相互に異なる出力配線１３に接続される。

４本の内部配線１２は、第１及び第２のトランスファＳＷ１０の間を接続する。即ち、２個の第１のトランスファＳＷ１０は、各々、２本の内部配線１２に接続される。２個の第２のトランスファＳＷ１０は、各々、２本の内部配線１２に接続される。従って、２個の第１のトランスファＳＷ１０は、同一の２個の第２のトランスファＳＷ１０に接続される。これにより、第１及び第２のトランスファＳＷ１０の状態を切り替えることにより、後述するように、４本の入力配線１１又は入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４を４本の出力配線１３又は出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４に接続することができる。

第１及び第２のトランスファＳＷ１０の間を接続する経路を内部接続経路と言うこととする。この例では、内部接続経路は、各々、１本の内部配線１２からなり、トランスファＳＷ１０を含まない。内部接続経路の数は、入力配線１１の数及び出力配線１３の数Ｎと等しくされる。従って、この例では、内部接続経路の数は４である。

図３は、本発明のＲＦ回線切り替え回路の説明図である。なお、図３において、電源回路１４、リレー制御回路１５、ＵＳＢデータ入出力回路１６等の図示を省略している。

４本の入力配線１１は、４個の入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４を介して、４本の入力ＲＦ回線３に接続される。４本の入力ＲＦ回線３は、各々、被試験装置２である基地局装置２１〜２４に接続される。基地局装置２１〜２４は、例えば高周波（ＲＦ）による通信を行う種々のデータ通信装置からなる。

４本の出力配線１３は、４個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４を介して、４本の出力ＲＦ回線４に接続される。４本の出力ＲＦ回線４は、各々、試験装置５である測定器５１〜５４に接続される。測定器５１は、例えばスペクトラムアナライザ又はパワーメータからなる。測定器５２は、例えば送信機テスタ又は周波数カウンタからなる。測定器５３は、例えばシグナルジェネレータからなる。測定器５４は、例えばネットワークアナライザからなる。測定器５１〜５４を接続する出力ＲＦ回線４を相互に入れ替えても良い。

以上により、被試験装置２と試験装置５との間は、トランスファＳＷ１０の切り替えに応じて、以下のように接続される。

例えば、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１〜Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４が、図１及び図３に示す状態、即ち、リレーの非動作状態にあるとする。これを第１の接続状態と言うこととする。

この場合、基地局装置２１は、入力端子ＩＮ１、入力配線１１、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１、内部配線１２、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３、出力配線１３、出力端子ＯＵＴ１を介して、測定器５１に接続される。同様にして、基地局装置２２は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４等を介して、測定器５２に接続される。基地局装置２３は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３等を介して、測定器５３に接続される。基地局装置２４は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３等を介して、測定器５４に接続される。

例えば、測定器５１がスペクトラムアナライザである場合、スペクトラムアナライザが基地局装置２１のスペクトルを測定するために必要な時間ｔ１は、経験的に予め知ることができる。同様に、測定器５２、５３及び５４が接続された被試験装置２についての測定を完了するために必要な時間ｔ２、ｔ３及びｔ４も、当該測定器５と被試験装置２との組合せに応じて経験的に予め知ることができる。この例では、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１〜Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４は、時間ｔ１〜ｔ４の中で最も長い時間だけ、リレーの非動作状態とされる。例えば、最も長い時間がｔ４であるとすると、これにより、第１の接続状態とされる時間Ｔ１が定まる（Ｔ１＝ｔ４とされる）。これにより、第１の接続状態において、基地局装置２１、２２、２３及び２４を、各々、測定器５１、５２、５３及び５４により測定することができる。

次に、例えばＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４をリレーの動作状態とする。また、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２は、リレーの非動作状態のままとする。これを第２の接続状態と言うこととする。第２の接続状態とされる時間Ｔ２も、第１の接続状態の時間Ｔ１と同様に、当該測定器５と被試験装置２との組合せに応じて、経験的に予め知ることができる（第３及び第４の接続状態とされる時間Ｔ３及びＴ４も同様である）。

この場合、基地局装置２１は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３、出力配線１３、出力端子ＯＵＴ４を介して、測定器５４に接続される。同様にして、基地局装置２２は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、測定器５３に接続される。基地局装置２３は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、測定器５２に接続される。基地局装置２４は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、測定器５１に接続される。これにより、第２の接続状態において、基地局装置２１、２２、２３及び２４を、各々、測定器５４、５３、５２及び５１により測定することができる。

次に、例えばＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２をリレーの動作状態とし、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４をリレーの非動作状態とする。これを第３の接続状態と言うこととする。

この場合、基地局装置２１は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１、内部配線１２、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４、出力配線１３、出力端子ＯＵＴ１を介して、測定器５３に接続される。出力配線１３、出力端子ＯＵＴ４を介して、測定器５３に接続される。同様にして、基地局装置２２は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、測定器５４に接続される。基地局装置２３は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、測定器５１に接続される。基地局装置２４は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、測定器５２に接続される。これにより、第３の接続状態において、基地局装置２１、２２、２３及び２４を、各々、測定器５３、５４、５１及び５２により測定することができる。

次に、例えばＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４をリレーの動作状態とする。また、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２は、リレーの動作状態のままとする。これを第４の接続状態と言うこととする。

この場合、基地局装置２１は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４、出力配線１３、出力端子ＯＵＴ２を介して、測定器５２に接続される。同様にして、基地局装置２２は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、測定器５１に接続される。基地局装置２３は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３の切り替えに応じて、測定器５４に接続される。基地局装置２４は、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４の切り替えに応じて、測定器５３に接続される。これにより、第１の接続状態において、基地局装置２１、２２、２３及び２４を、各々、測定器５２、５１、５４及び５３により測定することができる。

以上のように、４本の入力ＲＦ回線３の各々が、１個の第１のトランスファＳＷ１０及び１個の第２のトランスファＳＷ１０を切り替えることにより、４本の出力ＲＦ回線４の各々と接続される。これにより、基地局装置２１〜２４は、順次、予め定められた時間間隔Ｔ１〜Ｔ４で、測定器５１〜５４に接続される。

この時、入力ＲＦ回線３と出力ＲＦ回線４との間を伝送される信号は、互いに衝突しないようにされる。前述のように、測定器５と被試験装置２との組合せに応じて、第１〜第４の接続状態の時間Ｔ１〜Ｔ４は予め知ることができる。そこで、コンピュータからの入力に従って、リレー制御回路１５は、第１〜第４の接続状態の時間Ｔ１〜Ｔ４ごとに、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１〜Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃４を制御する。これにより、入力ＲＦ回線３に接続された基地局装置２１〜２４について、順次回線を切り替えて、出力ＲＦ回線４に接続された測定器５１〜５４による測定を効率良く行うことができる。

図４は、本発明のＲＦ回線切り替え回路の他の一例を示す構成図であり、図１の切替器１におけるリレー制御回路１５がトランスファＳＷ１０の切り替えを消費電力を考慮して制御する例である。なお、図４において、リレー制御回路１５を主として、切替器１の構成を簡易に図示している。

例えば、測定器５１であるスペクトラムアナライザ又はパワーメータや測定器５２である送信機テスタ又は周波数カウンタによる測定（試験）は高出力の高周波を伴い、測定器５３であるシグナルジェネレータや測定器５４であるネットワークアナライザによる測定（試験）は低出力の高周波を伴う。従って、１個のトランスファＳＷ１０に、同時に２個の高出力の高周波が印加される場合があり得る。この場合、当該トランスファＳＷ１０が故障する場合がある。この故障の可能性を完全に排除しようとすると、トランスファＳＷ１０が極めて高価なものとなる。

そこで、図４（Ａ）に示すように、設定制御部６１、設定テーブル６２、禁止設定テーブル６３を備えるコンピュータ６が用意される。設定制御部６１は、禁止設定テーブル６３の内容をリレー制御回路１５のメモリ１５１に書き込み、リレー制御回路１５のリレー設定回路１５２を制御する。

設定テーブル６２は、図４（Ｂ）に示すように、切替器１により形成可能な複数の経路（経路１〜経路ｘｘ）の全てについて、各々の経路情報を格納する。設定テーブル６２は、例えば切替器１の構成に応じて予め用意される。

例えば、図１の切替器１の場合、４個の入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４と４個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４との間を接続する１６本の経路が格納される。「経路１」が、例えば入力端子ＩＮ１から出力端子ＯＵＴ１までである場合、「経路１」の経路情報は、入力端子ＩＮ１、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃３、出力端子ＯＵＴ１とされる。

禁止設定テーブル６３は、図４（Ｃ）に示すように、設定テーブル６２に格納された複数の経路の各々について、禁止条件を格納する。禁止設定テーブル６３は、例えば切替器１の構成に応じて、設定テーブル６２を参照しつつ、予め用意される。

例えば、図１の切替器１の場合、前記１６本の経路の各々について、１個のトランスファＳＷ１０を高出力の高周波が同時に通過することを禁止する禁止条件が格納される。「経路１」については、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３が使用され、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４が使用されない。そこで、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１（ＲＦＳＷ１と表記）及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３（ＲＦＳＷ３と表記）について、各々、禁止条件「高低 ○」が設定される。禁止条件「高低 ○」は、高周波（ＲＦ）の入力レベルの高出力と低出力との組合せが許されること、即ち、高出力と高出力との組合せは許されないことを示す。また、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃２（ＲＦＳＷ２と表記）及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４（ＲＦＳＷ４と表記）については、禁止条件が設定されず、「空」とされる。

なお、禁止条件は、高周波の入力レベルの高低に限られることなく、他の条件によって定めるようにしても良い。

次に、測定 (試験）の開始に先立って、図４（Ｂ）に示すように、ＵＳＢ接続端子１９及びＵＳＢデータ入出力回路１６（図４では省略）を介して、コンピュータ６が、切替器１のリレー制御回路１５に接続される。コンピュータ６の設定制御部６１は、禁止設定テーブル６３をリレー制御回路１５のメモリ１５１に書き込む。

この後、設定制御部６１が、リレー制御回路１５のリレー設定回路１５２への経路設定コマンドの送信を開始し、測定 (試験）が開始される。設定制御部６１は、例えば前述の第１の接続状態を設定するために当該４個の経路を設定する経路設定コマンドを送信し、同様に第２、第３及び第４の接続状態を設定するために当該４個の経路を設定する経路設定コマンドを送信する。経路設定コマンドの受信に応じて、リレー設定回路１５２は、メモリ１５１の禁止設定テーブル（６３）に基づいて、トランスファＳＷ１０の切替を制御する。

例えば、前述の第１の接続状態において、基地局装置２１〜２４が経路１〜４を介して測定器５１〜５４に接続される。この時、測定器５１及び測定器５３が共に高出力であると仮定すると、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１を高出力の高周波が同時に通過することになる。しかし、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１については、禁止条件「高低 ○」が設定されている。即ち、測定器５１及び測定器５３からの高出力の高周波がＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１を同時に通過することは禁止される。

リレー設定回路１５２は、第１の接続状態のための経路１〜４の設定を指示する経路設定コマンドを受信すると、メモリ１５１の禁止設定テーブルの経路１〜４を参照して当該禁止条件を読み出す。ここで、Ｔｒａｎｓ−ＳＷ＃１の禁止条件「高低 ○」により、当該２個の経路を同時に設定することはできない。そこで、リレー設定回路１５２は、設定制御部６１に測定不可を通知する。

これを受信した設定制御部６１は、例えば設定制御部６１は、最初に測定器５１、５２及び５４による測定を行うための３個の経路の設定を指示する経路設定コマンドを送信する。これに応じて、リレー設定回路１５２は、メモリ１５１の禁止設定テーブルを参照して、当該禁止条件似該当しないので、当該３個の経路を同時に設定し、測定器５１、５２及び５４による測定を行う。この測定の終了後、リレー設定回路１５２は、設定制御部６１に測定終了を通知する。

これを受信した設定制御部６１は、残った測定器５３による測定を行うための１個の経路の設定を指示する経路設定コマンドを送信する。これに応じて、リレー設定回路１５２は、メモリ１５１の禁止設定テーブルを参照して、当該禁止条件似該当しないので、当該１個の経路を設定し、測定器５３による測定を行う。この測定の終了後、リレー設定回路１５２は、設定制御部６１に測定終了を通知する。この後、第２〜第４の接続状態についても、同様の制御が繰り返される。

コンピュータ６が測定器５１〜５４の各々にも接続され（図示せず）、設定制御部６１は、測定器５１〜５４を出力端子ＯＵＴ１〜４から遮断する（又は、測定器５１〜５４の出力を停止させる）。これにより、設定制御部６１は、測定器５１、５２及び５４による測定の期間中、測定器５３を出力端子ＯＵＴ３から遮断し、測定器５３による測定の期間中、測定器５１、５２及び５４を出力端子ＯＵＴ１、２及び４から遮断する。

図５は、本発明のＲＦ回線切り替え回路の更に他の一例を示す構成図であり、８本の入力ＲＦ回線と８本の出力ＲＦ回線からなる回路（８×８回路）について試験する場合に用いられる切り替え回路（切替器）１’を示す。即ち、Ｎ＝８の例である。なお、図５において、各々の切替器１の電源回路１、リレー制御回路１５、ＵＳＢデータ入出力回路１６等の図示を省略している。

切替器１’は、４個の図１に示す切替器１（１Ａ〜１Ｄ）を用いて構成される。切替器１Ａ及び１Ｂには、各々、４本の入力ＲＦ回線（図示せず）が接続される。切替器１Ｃ及び１Ｄには、各々、４本の出力ＲＦ回線（図示せず）が接続される。切替器１Ａと切替器１Ｃ及び１Ｄとの間は、４本の配線１２’により接続される。切替器１Ｂと切替器１Ｃ及び１Ｄとの間も、４本の配線１２’により接続される。

この配線１２’は、入力ＲＦ回線３及び出力ＲＦ回線４からみると切替器１’の内部配線であるが、一方、切替器１の外部に設けられる配線である。そこで、配線１２’を切替器１上の内部配線１２と区別するために、外部配線ということとする。

例えば、切替器１Ａの内部においては、図１を参照して前述したように、入力端子ＩＮ１〜ＩＮ４と中間端子Ｍ１〜Ｍ４（切替器１Ａの出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ４）との間の接続が順次切り替えられる。切替器１Ｂ〜１Ｄにおいても同様である。

一方、切替器１Ａと切替器１Ｃ及び１Ｄとの間は、４本の外部配線１２’により、図示のように接続される。即ち、切替器１ＡのＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４の一方の出力が切替器１Ｃに接続され、他方の出力が切替器１Ｃに接続される。切替器１Ｂと切替器１Ｃ及び１Ｄとの間も同様である。これにより、切替器１Ａ〜１ＤにおけるトランスファＳＷ１０の状態を切り替えることにより、８本の入力配線（１１）又は入力端子ＩＮ１〜ＩＮ８を８本の出力配線（１３）又は出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ８に接続することができる。

この例においては、切替器１’の第１のトランスファＳＷ１０は、４（＝８／２）個設けられ、切替器１Ａ及び切替器１Ｂの入力用のＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２からなる。切替器１’の第２のトランスファＳＷ１０は、４（＝８／２）個設けられ、切替器１Ｃ及び切替器１Ｄの出力用のＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４からなる。

内部接続経路は、各々、２個の第３のトランスファＳＷ１０と複数の（５本の）内部配線とからなる。内部接続経路の数は、Ｎに等しいので、８である。切替器１Ａ及び切替器１Ｂの出力用のＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃４と、切替器１Ｃ及び切替器１Ｄの入力用のＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１及びＴｒａｎｓ−ＳＷ＃２は、切替器１’の第３のトランスファＳＷ１０である。

この例では、図１又は図４の例と同様にして、８本の入力ＲＦ回線３の各々が、当該内部接続経路上の１個の第１のトランスファＳＷ１０、１個の第２のトランスファＳＷ１０及び２個の第３のトランスファＳＷ１０を切り替えることにより、８本の出力ＲＦ回線４の各々と接続される。

なお、切替器１Ａと切替器１Ｃとの間において、中間端子Ｍ１とＭ２とが重複して切替器１Ｃに入力され、中間端子Ｍ３とＭ４とが重複して切替器１Ｄに入力される。切替器１Ｂと切替器１Ｃ及び１Ｄとの間においても同様である。従って、この分だけ回路の構成が冗長になる。このため、例えば１個の入力端子ＩＮ１を８個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴ８に接続するためには、本来、（２³ ＝８であるので）入力端子ＩＮ１から各々の出力端子ＯＵＴまでの１本の経路上に３個のトランスファＳＷ１０が存在すれば良いはずであるが、４個のトランスファＳＷ１０が存在する必要がある。これは、当該経路上に存在する２個の切替器１の間で、前述の理由で、１個のトランスファＳＷ１０（例えば、切替器１ＡのＴｒａｎｓ−ＳＷ＃３と切替器１ＣのＴｒａｎｓ−ＳＷ＃１）が重複しているためと考えることができる。

このように、回路構成はやや冗長になるが、同一の構成の切替器１を４個用いて容易に切替器１’を構成することができる。また、入力ＲＦ回線３及び出力ＲＦ回線４の数に応じて切替器１’を設計しなおすよりも、簡単に切替器１’を設計し製作し設置し維持することができる。即ち、入力ＲＦ回線３及び／又は出力ＲＦ回線４の数が５本以上８本以下である場合、図５の切替器１’を設計等するのみで済む。なお、図１の切替器１も同様の冗長性を持つ。

図５は８×８回路について示すが、１６×１６回路（Ｎ＝１６）の場合、本来、（２⁴ ＝１６であるので）前記１本の経路上に４個のトランスファＳＷ１０が存在すれば良いはずであるが、６個のトランスファＳＷ１０が存在する必要がある。このために、１２個の切替器１を用いることにより、必要な切替器を構成することができる。この場合、当該１本の経路上に存在する３個の切替器１の間で、前述の理由で、２個のトランスファＳＷ１０が重複することになる。この場合も、回路構成はやや冗長になるが、１２個の切替器１を用いて容易に切替器１’を構成することができ、また、入力ＲＦ回線３及び出力ＲＦ回線４の数に応じて切替器１’を設計等しなおす煩雑さを回避することができる。

なお、Ｎは３２、６４、・・等（即ち、Ｎ＝２^M 、Ｍは正の整数）であっても良いが、実際には、Ｎを１６以上としてもあまり意味を持たない。切替器１（１’）の規模が大きくなると高出力同士の組合せが多くなるので、図１に示す４×４回路用又は図５に示す８×８回路用で十分である。

以上から、本発明の実施形態の特徴を以下のように把握することができる。

（付記１） Ｎ（Ｎは４、８、１６、・・）本の入力ＲＦ回線に接続されるＮ本の入力配線と、
Ｎ本の出力ＲＦ回線に接続されるＮ本の出力配線と、
各々が前記Ｎ本の入力配線のいずれか２本であって相互に異なる入力配線に接続されたＮ／２個の第１のＲＦトランスファスイッチと、
各々が前記Ｎ本の出力配線のいずれか２本であって相互に異なる出力配線に接続されたＮ／２個の第２のＲＦトランスファスイッチと、
各々が内部配線又は複数の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線との組合せからなり、前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチの間を接続するＮ本の内部接続経路とを備え、
前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、１本の入力配線、１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、１個の第２のＲＦトランスファスイッチ、１本の出力配線、及び、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチと当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチとの間を接続する１本の内部接続経路とからなる経路を介して、Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続可能とされ、
前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、前記Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
ことを特徴とするＲＦ回線切り替え回路。

（付記２） 当該ＲＦ回線切り替え回路が、更に、
前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替える制御回路を備える
ことを特徴とする付記１に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記３） 前記制御回路が、予め定められた時間間隔で前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々を順次前記Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続する
ことを特徴とする付記２に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記４） 前記制御回路が、禁止条件を格納し、前記入力ＲＦ回線と出力ＲＦ回線との間に設定すべき経路が前記禁止条件に該当する場合、当該経路を設定しない
ことを特徴とする付記２に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記５） 前記禁止条件が、前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチにおいて、当該ＲＦトランスファスイッチを通過する高周波信号の出力レベルの高低の組合せからなる
ことを特徴とする付記４に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記６） 前記制御回路が、前記禁止条件が設定された禁止設定テーブルを格納するメモリを備える
ことを特徴とする付記５に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記７） 当該ＲＦ回線切り替え回路が、更に、
前記制御回路にコンピュータを接続する接続手段を備え、
前記制御回路が、前記コンピュータから入力された前記禁止設定テーブルを前記メモリに格納する
ことを特徴とする付記６に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記８） 前記制御回路が、前記コンピュータから入力された前記入力ＲＦ回線と出力ＲＦ回線との間に設定すべき経路を指示するコマンドと、前記メモリに格納された前記禁止設定テーブルとに基づいて、当該コマンドの指示する経路が前記禁止条件に該当する場合、当該経路を設定しない
ことを特徴とする付記７に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記９） 前記Ｎが４であり、
前記４本の内部接続経路が、各々、１本の内部配線からなり、
前記４本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ及び当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記４本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
ことを特徴とする付記１に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記１０） 前記Ｎが８であり、
前記８本の内部接続経路が、各々、２個の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線とからなり、
前記８本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチ及び前記２個の第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記８本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
ことを特徴とする付記１に記載のＲＦ回線切り替え回路。

（付記１１） 当該ＲＦ回線切り替え回路が、
各々が前記８本の入力ＲＦ回線のいずれか４本に接続された２個の第１の切替器と、
各々が第１の切替器と同一の構成を有し前記８本の出力ＲＦ回線のいずれか４本に接続された２個の第２の切替器と、
前記第１及び第２の切替器の間を接続する８本の外部配線とにより構成され、
前記切替器が、各々、
４個の入力端子に接続される４本の入力配線と、
４個の出力端子に接続される４本の出力配線と、
各々が前記４本の入力配線のいずれか２本であって相互に異なる入力配線に接続された２個の入力用のＲＦトランスファスイッチと、
各々が前記Ｎ本の出力配線のいずれか２本であって相互に異なる出力配線に接続された２個の出力用のＲＦトランスファスイッチと、
前記入力用及び出力用のＲＦトランスファスイッチの間を接続する４本の内部配線とを備え、
前記４本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ及び当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記４本の出力ＲＦ回線の各々と接続される切替器であり、
前記第１の切替器の入力用のＲＦトランスファスイッチが、前記第１のＲＦトランスファスイッチとして用いられ、前記第２の切替器の入力用のＲＦトランスファスイッチが、前記第２のＲＦトランスファスイッチとして用いられ、前記第１の切替器の出力用のＲＦトランスファスイッチ及び前記第２の切替器の入力用のＲＦトランスファスイッチが、前記第３のＲＦトランスファスイッチとして用いられる
ことを特徴とする付記１０に記載のＲＦ回線切り替え回路。

以上、説明したように、本発明によれば、ＲＦ回線切り替え回路において、内部配線の数を少なくすることができるので、切り替え回路及びその筐体が大型化することを回避することができ、無線特性試験において切り替え回路を支障なく設置することができる。また、切り替え回路のメンテナンスや故障時の修理を容易に行うことができる。更に、内部配線に加えてスイッチの接続を少なくすることができるので、無線特性試験において伝送特性を良くすることができ、より正確に被試験装置について無線特性を測定することができる。更に、高価な６−１ＳＷやＳＰＤＴスイッチを使用することなく、比較的安価なＲＦトランスファスイッチにより切り替え回路を実現することができる。

本発明のＲＦ回線切り替え回路の一例を示す構成図である。 本発明のＲＦ回線切り替え回路の説明図である。 本発明のＲＦ回線切り替え回路の説明図である。 本発明のＲＦ回線切り替え回路の他の一例を示す構成図である。 本発明のＲＦ回線切り替え回路の更に他の一例を示す構成図である。 本発明の背景となったＲＦ回線切り替え回路の構成を示す。 本発明の背景となったＲＦ回線切り替え回路の構成を示す。

符号の説明

１ ＲＦ回線切り替え回路（切替器）
２ 被試験装置（基地局装置）
３ 入力ＲＦ回線
４ 出力ＲＦ回線
５ 試験装置（測定器）
１０ ＲＦトランスファスイッチ（Ｔｒａｎｓ−ＳＷ）
１１ 入力配線
１２ 内部配線
１３ 出力配線
１４ 電源回路
１５ リレー制御回路
１６ ＵＳＢデータ入出力回路（ＵＳＢ−ＤＩＯ）
１７ 電源スイッチ
１８ 商用電源との接続部
１９ ＵＳＢ接続端子

Claims (5)

1. Ｎ（Ｎは４、８、１６、・・）本の入力ＲＦ回線に接続されるＮ本の入力配線と、
   Ｎ本の出力ＲＦ回線に接続されるＮ本の出力配線と、
   各々が前記Ｎ本の入力配線のいずれか２本であって相互に異なる入力配線に接続されたＮ／２個の第１のＲＦトランスファスイッチと、
   各々が前記Ｎ本の出力配線のいずれか２本であって相互に異なる出力配線に接続されたＮ／２個の第２のＲＦトランスファスイッチと、
   各々が内部配線又は複数の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線との組合せからなり、前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチの間を接続するＮ本の内部接続経路とを備え、
   前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、１本の入力配線、１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、１個の第２のＲＦトランスファスイッチ、１本の出力配線、及び、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチと当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチとの間を接続する１本の内部接続経路とからなる経路を介して、Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続可能とされ、
   前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記Ｎ本の入力ＲＦ回線の各々が、前記Ｎ本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
   ことを特徴とするＲＦ回線切り替え回路。
2. 当該ＲＦ回線切り替え回路が、更に、
   前記第１及び第２のＲＦトランスファスイッチ又は前記第１、第２及び第３のＲＦトランスファスイッチを切り替える制御回路を備える
   ことを特徴とする請求項１に記載のＲＦ回線切り替え回路。
3. 前記制御回路が、禁止条件を格納する禁止設定テーブルを備え、前記入力ＲＦ回線と出力ＲＦ回線との間に設定すべき経路が前記禁止条件に該当する場合、当該経路を設定しない
   ことを特徴とする請求項２に記載のＲＦ回線切り替え回路。
4. 前記Ｎが４であり、
   前記４本の内部接続経路が、各々、１本の内部配線からなり、
   前記４本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ及び当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記４本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
   ことを特徴とする請求項１に記載のＲＦ回線切り替え回路。
5. 前記Ｎが８であり、
   前記８本の内部接続経路が、各々、２個の第３のＲＦトランスファスイッチと複数の内部配線とからなり、
   前記８本の入力ＲＦ回線の各々が、当該１個の第１のＲＦトランスファスイッチ、当該１個の第２のＲＦトランスファスイッチ及び前記２個の第３のＲＦトランスファスイッチを切り替えることにより、前記８本の出力ＲＦ回線の各々と接続される
   ことを特徴とする請求項１に記載のＲＦ回線切り替え回路。

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