JP2009031297A - 半導体試験システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体試験システムは、半導体デバイス11aに対して所定の試験を行う半導体試験装置1と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置1に対して指示する制御装置2とを有する。制御装置2は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第1のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部20とを備える。キャプチャ部20は、第1のデータを収集する半導体デバイス11aのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。
【選択図】図1
Description
・キャプチャ・データのファイル名の指定、
・テストプログラムの指定、
・テストプログラム上のテスト番号(どのテストに関するキャプチャを行うかを示す番号)の指定、
・ピンの指定(どのピンに関するキャプチャを行うかを示す番号)、
・トリガの指定(どのサイクルから何サイクルまでキャプチャを行うかを示す情報)、
・キャプチャ・データの内容の指定((1)VCD変換用情報、(2)フェイルレポート変換用情報、(3)VCD変換用情報とフェイルレポート変換用情報の両方、の中から一つが選択される)、
・サイクル毎のサンプリングポイント数の指定、
が含まれている。
data_capture −u F1
となる。ここで、F1は、制御データのファイル名を示す。
vcd_convertor −d F2 −v F3 −r F4
となる。ここで、F2はキャプチャ・データのファイル名を、F3はVCDデータのファイル名を、F4はフェイルレポートのファイル名をそれぞれ示している。なお、コンバータコマンド中の「−v F3」と「−r F4」の部分は必要に応じて両方あるいはいずれか一方が含まれる。「−v F3」の部分のみが含まれる場合にはVCDデータのファイルが作成され、「−r F4」の部分のみが含まれる場合にはフェイルレポートのファイルが作成される。また、「−v F3」と「−r F4」の両方が含まれる場合にはVCDデータのファイルとフェイルレポートのファイルの両方が作成される。作成されたこれらのファイルは、記憶装置3に格納される。
data_capture −u F1B
data_capture −u F1C
vcd_convertor −d F2A −v F3A
vcd_convertor −d F2B −r F4B
vcd_convertor −d F2C −v F3C
ここで、制御データのファイル「F1A」内において、収集したキャプチャ・データのファイル名「F2A」が設定されており、このファイル名で特定されるキャプチャ・データが1番目のコンバータコマンドで使用され、VCDデータのファイル「F3A」が作成される。また、制御データのファイル「F1B」内において、収集したキャプチャ・データのファイル名「F2B」が設定されており、このファイル名で特定されるキャプチャ・データが2番目のコンバータコマンドで使用され、フェイルレポートのファイル「F4B」が作成される。制御データのファイル「F1C」内において、収集したキャプチャ・データのファイル名「F2C」が設定されており、このファイル名で特定されるキャプチャ・データが3番目のコンバータコマンドで使用され、VCDデータのファイル「F3C」が作成される。
2 制御装置
3 記憶装置
4 表示装置
10 記憶部
11 固定部
12 入出力部
13 ハンドラ部
14 制御部
15 入力部
20 キャプチャ部
21 コンバータ部
22、40 入力部
41 制御部
42 表示部
Claims (4)
- 半導体デバイスに対して所定の試験を行う試験装置と、前記試験装置によって行われる試験条件を設定するとともにこの試験の実行を前記試験装置に対して指示する制御装置とを有する半導体試験システムにおいて、
前記制御装置は、
前記試験条件を設定する試験条件設定手段と、
前記試験の実行指示を行う実行指示手段と、
前記試験によって得られた第1のデータを収集する試験データ収集手段と、
を備え、前記試験条件設定手段は、前記試験データ収集手段によって前記第1のデータを収集する前記半導体デバイスのサイクル位置を可変に設定し、前記実行指示手段は、前記試験条件設定手段によって前記サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して前記実行指示を行うことを特徴とする半導体試験システム。 - 請求項1において、
前記試験データ収集手段によって収集された前記第1のデータを、冗長度が少ない第2のデータに変換する変換手段をさらに備えることを特徴とする半導体試験システム。 - 請求項2において、
前記第2のデータは、前記試験装置によって前記半導体デバイスに入出力されるデータの値が変化する時刻および変化する状況を含んでいることを特徴とする半導体試験システム。 - 請求項2または3において、
前記第2のデータは、VCDフォーマットを有することを特徴とする半導体試験システム。
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---|---|---|---|
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