JP2007010663A - 試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するより優れた方法及び装置を提供することを目的とする。
【解決手段】1実施例において、命令の実行が機械に、1)ATE(自動試験装置)試験テンプレート選択ツール(312)を表示させ(102)、2)前記ATE試験テンプレート選択ツール(312)から試験テンプレート(314)をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート(314)のデフォルトパラメータを表示させ(104)、3)ユーザーが、前記試験テンプレート(314)によって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースを構成できるようにするツール(402)に対するアクセスをユーザーに対して提供させる(106)。
【選択図】図1
【解決手段】1実施例において、命令の実行が機械に、1)ATE(自動試験装置)試験テンプレート選択ツール(312)を表示させ(102)、2)前記ATE試験テンプレート選択ツール(312)から試験テンプレート(314)をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート(314)のデフォルトパラメータを表示させ(104)、3)ユーザーが、前記試験テンプレート(314)によって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースを構成できるようにするツール(402)に対するアクセスをユーザーに対して提供させる(106)。
【選択図】図1
Description
本発明は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置に関する。
回路基板、集積回路、又はSOC(System−On−a−Chip)などのシステム又はコンポーネントを含む電気装置の製造及び/又は出荷の前には、設計どおりに構築されているかどうか又は機能するかどうかを判定するべく、通常、装置を試験する。しばしば、この試験は、ATE(Automated Test Equipment)(これは、「テスタ」とも呼ばれる)によって行われる。
ATEを使用して装置を試験する前に、試験開発者は、装置を試験する際にATEが実行する一連の試験を開発しなければならない。従来、これは、ATEの試験対象であるそれぞれの装置ごとに別個に行われてきた。個別の試験を開発する場合には、試験開発者は、大きな自由度を有しているが、これは、装置の「Time To Market(製品の市場投入までに要する期間)」サイクルに大きな遅延を引き起こし得る高価で時間集約的なプロセスである。
いくつかのケースにおいては、試験を実施するためのデフォルトパラメータ及びハードウェアリソースを規定する試験テンプレートによって試験開発を支援可能である。これには、Agilent 93000 SOC Seriesテスタ用の試験開発機能を提供するSmartTest Program Generatorソフトウェアが該当する(これらは、いずれも、米国カリフォルニア州パロアルトに所在するAgilent Technologies, Inc.社によって流通されている)。
本発明は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するより優れた方法及び装置を提供することを目的とする。
一実施例においては、いくつかの機械可読媒体は、機械によって実行された際に、(1)ATE試験テンプレート選択ツールを表示する段階と、(2)ユーザーがATE試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートを選択した際に、選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータを表示する段階と、(3)試験テンプレートによって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスをユーザーに対して提供する段階と、を有するアクションを機械に実行させる一連の命令を保存している。
別の実施例においては、いくつかの機械可読媒体は、機械によって実行された際に、(1)ATE用の試験テンプレートによって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールを表示する段階と、(2)ハードウェアリソースの中の1つを選択するためのツールをユーザーが使用した際に、選択されたハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする段階と、を有するアクションを機械に実行させる一連の命令を保存している。
その他の実施例も開示されている。
添付の図面には、本発明の例示用の実施例が示されている。
図1及び図2は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するコンピュータによって実施される方法100、200を示している。方法100によれば、ATE(Automated Test Equipment)試験テンプレート選択ツールが表示される102。次いで、ユーザーがATE試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートを選択した際に、選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータが表示される104。次いで、試験テンプレートによって規定されている1つ又は複数のハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスがユーザーに対して提供される106。
方法200は、試験テンプレートを既に選択済みであるものと仮定している。この結果、方法200は、試験テンプレートによって規定されている1つ又は複数のハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールの表示段階202から始まっている。次いで、ハードウェアリソースの中の1つを選択するためのツールをユーザーが使用した際に、選択されたハードウェアリソースのユーザーによる構成が可能となる204。
方法100及び200は、いくつかの機械可読媒体(例えば、1つ又は複数の固定又は着脱可能なメモリ又はディスク)上に保存された一連の命令として実施可能である。機械(例えば、コンピュータ又はコンピュータネットワーク)によって実行された際に、一連の命令は、方法100又は200のアクションを機械に実行させる。
一例として、図3〜図14は、方法100又は200(並びに、これらに対する様々な変更)を実装した一連の命令の実行の結果として表示可能な模範的なグラフィカルユーザーインターフェイス(Graphical User Interface:GUI300)の様々な状態を示している。
図3に示されているように、GUI300は、試験セットアップツリービュー302と試験テンプレート選択ツール312に対するアクセスを提供している。一例として、ツリービュー302は、例えば、RF & Analog試験セットアップ304及びDigital試験セットアップ306を含む利用可能な試験セットアップのビューを提供可能である。ツリービューは、試験セットアップのそれぞれのグループ304、306内において、刺激(Stimulus)308又は計測(Measurement) 310試験セットアップの更なる選択を提供可能である。そして、クリックによって起動するツール312(例えば、ポップアップメニュー)から、利用可能な試験テンプレートをユーザーに表示可能である。図3に示されているGUIビューにおいては、「S−Parameter」というラベルが付加された試験テンプレート314が、選択されたものとして強調表示されている。
好ましくは、試験テンプレートは、実行可能な試験を定義するのに十分なデフォルトパラメータ及びハードウェアリソースを規定している。即ち、刺激試験の実行により、少なくとも1つのATEピンに刺激信号がもたらされ、計測試験の実行により、少なくとも1つのATEピンの計測値が記録される必要がある。この結果、ユーザーは、試験テンプレートを選択して装置試験を構成する以外に、なにも行う必要はない。
試験テンプレートによって規定されているパラメータ及びハードウェアリソースは、例えば、試験の際に使用するATE試験経路及びハードウェアリソースとそれらの構成の標識(例えば、刺激及び/又は計測経路の標識と、どのATEピンを装置のどのピンに結合するのかに関する標識を含む);試験周波数の標識(例えば、試験周波数レンジを含む);変調フォーマットの標識;計測帯域幅の標識;又は、電力又は電圧レベルの標識を含む試験を実行する際の物理的及び電気的パラメータを規定可能である。
図4は、ユーザーが、模範的な「S−Parameter」試験テンプレート314を選択した後のGUI300を示している。図示のように、GUI300の右手のウィンドウ(又は、試験テンプレート構成ツール402)内に、試験テンプレート314のデフォルトパラメータ400を表示可能である。好ましくは、デフォルトパラメータ400は、ユーザーによって選択及び構成可能である。一実施例においては、ユーザーによるパラメータの選択により、ユーザーは、例えば、オプション508のポップアップ、プルダウン、又はスクロールメニューなどから新しいパラメータを選択可能である。図5を参照されたい。或いは、この代わりに(又は、これに加えて)、ユーザーは、所望の選択肢を入力(例えば、キー入力)することも可能であろう。別の実施例においては、ユーザーによるパラメータの選択により、或いは、パラメータの選択の後に選択可能となるメニューオプションのユーザーによる選択により、周波数リストエディタなどのパラメータリストエディタ500に対するアクセスをユーザーに対して提供することも可能である。ユーザーは、パラメータリストエディタ500内から、任意選択により、且つ、様々に、(1)リスト生成機能502を規定してパラメータリストの定義を支援したり、(2)事前に定義されているパラメータリスト504から選択すると共に/又は、(3)例えば、エディタ500によって提供されるパラメータ入力テーブル506を使用してリストのパラメータを手動で提供可能である。
右手のウィンドウ402を中ほどまで下がったところに、ツール選択メカニズム404が提供されている。メカニズム404は、模範的なものに過ぎず、様々なツールに対するアクセスを提供可能である。図6は、試験テンプレート314による試験の実行に関連した結果を表示するための選択メカニズム404の使用法を示している。試験の実行は、「Execute」ボタン406を押下することによってトリガ可能である。任意選択により、最初に、実行モードセレクタ408から実行モードを選択することも可能である。試験を実行した際に、表(例えば、表600)及び図の形態を含む様々な事前構成又はプログラムされた形態で試験の結果を表示可能である。
図7は、試験テンプレートによって規定されているハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする模範的なハードウェア及び図構成ツール700を示している。いくつかのケースにおいては、ツール700は、試験テンプレート(例えば、試験テンプレート314)をユーザーが選択した際に自動的に起動可能である。その他のケースにおいては、ユーザーは、例えば、ツール選択メカニズム404を介して選択することにより、ツール700を起動することを要するであろう。
図7に示されているように、ツール700には、ツール700によって表示されているデフォルトハードウェアに対する偶発的な変更を防止する手段(例えば、「Always Use Default HW」というテキストの隣のチェックボックス702)を提供可能である。又、ツール700には、試験テンプレートのデフォルトハードウェアセットアップを回復する手段(例えば、ボタン704)を提供することも可能である。
ツール700が表示できるのは、ハードウェアリストのみであるが、これは、好ましくは、図706を表示する。図706は、試験テンプレートによって規定されているハードウェアリソースと、それらの接続を示すことができる。一実施例においては、図706は、SVG(Scalable Vector Graphic)画像を有している。
ツール700内からハードウェアリソース(例えば、RFソース800、図8)をユーザーが選択すると、ツール700は、交換用のハードウェアリソース802を選択可能な1つ又は複数の利用可能な代替ハードウェアリソースを表示する。一例として、1つ又は複数の代替ハードウェアリソースは、永久的な又はポップアップメニューを介して表示可能である。いくつかのケースにおいては、ツール700は、デフォルトリソースを多数のリソースによって置換する手段又はツール700が認知していないリソースを規定する手段を提供可能である。
ツール700は、選択されたハードウェアリソース900の構成可能な設定902に対するアクセスを提供することも可能である。図9を参照されたい。一実施例においては、リソース900をユーザーが選択した際に、ツール700は、(1)代替ハードウェアリソースに対するマウスのシングルクリックによるアクセス(例えば、マウスの右ボタンのクリック)と、(2)ハードウェアリソース900の構成可能な設定902に対するマウスのダブルクリックによるアクセスを提供する。図9に示されているように、構成可能な設定902は、選択されたハードウェアリソース900のコンポーネントの図904と共に、表の形態で表示可能である。
図示されてはいないが、リソースの構成可能な設定にユーザーがアクセスした際に、選択されたハードウェアリソースを操作するプログラムコードのユーザーによる選択をツール700に提供させることができる。例えば、ユーザーが、デジタイザカードを選択した場合には、カードが利用するDSP(Digital Signal Processor)アルゴリズムを変更する手段又は所望のDSPアルゴリズムをダウンロード/アップロードする手段をユーザーに提供可能である。
前述のように、GUI300は、実行モードセレクタ408を有することができる。図10は、実行モードセレクタ408をユーザーがトリガした際に表示可能な模範的なポップアップメニュー1000を示している。利用可能なモードの1つは、プロッティングモードであってよく、この場合には、第2階層のポップアップメニュー1002により、選択可能なプロットのタイプを表示可能である。例えば、「S−Parameter」試験テンプレート314の場合には、プロットの選択肢は、「Smith Chart」であってよい。電力計測テンプレートの場合には、プロットの選択肢は、「Time Domain」又は「Spectrum」プロットであってよい。周波数リストを利用する計測テンプレートの場合には、プロットの選択肢は、「Frequency vs. Results」であってよい。
プロットタイプのいくつかを選択することにより、プロット構成ツール1100の表示をトリガ可能である。図11を参照されたい。プロットの構成を(例えば、「OK」ボタン1102を押下することによって)ユーザーが確認した際、或いは、構成が不要な場合には、プロッティングモードをユーザーが選択した際に、GUI300は、プロットエリア1200を表示可能である。図12を参照されたい。但し、プロットエリア内にプロットを描画するための実行結果を得るには、表示されている試験パラメータ400に対応した試験を実行する必要があることに留意されたい。一実施例においては、GUI300は、表示されたプロット1200のデータを別のプロセス又はアプリケーションにエクスポートするためのプロットダウンロード機能1202に対するアクセスをも提供している。
図13は、実行モードセレクタ408を使用して選択可能な段階的な実行モード用の構成ツール1300を示している。一例として、ツール1300は、試験を実行する周波数レンジを選択する手段1302と、設定を試験実行段階の終了時点において表示するハードウェアリソース800を選択する手段1304を提供している。図14は、段階的な実行におけるリソースの設定の表示1400を示している。図示のように、表示1400により、ユーザーは、選択されたハードウェアリソース800を構成可能である。ウィンドウ700(図示されている)の内部又は「Execute」ボタン406の近傍のウィンドウ1400内に、段階的な実行を継続するための手段(例えば、「CONTINUE」ボタン1402)を提供可能である。
本明細書に開示されている方法100、200、及び装置300は、ATE試験セットアップにおいてハイレベルな制御(例えば、ツリービュー302、試験テンプレート選択制御312、及び試験テンプレート構成ツール402を介したもの)とローレベルな制御(例えば、試験テンプレートハードウェア及び図構成ツール700を介したもの)の両方を提供しているという点が有用である。又、ハイレベル及びローレベルの制御302、402、700に対するアクセスを単一のGUI300を通じて提供可能である。
また、以下に本発明の各実施態様の例を示す。
[実施態様1]
機械によって実行された際に、ATE(自動試験装置)試験テンプレート選択ツール(312)を表示する段階(102)と、前記ATE試験テンプレート選択ツール(312)から試験テンプレート(314)をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート(314)のデフォルトパラメータを表示する段階(104)と、ユーザーが、前記試験テンプレート(314)によって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースを構成できるようにする試験テンプレート構成ツール(402)に対するアクセスをユーザーに対して提供する段階(106)と、を有するアクションを前記機械に実行させる一連の命令を保存しているいくつかの機械可読媒体。
機械によって実行された際に、ATE(自動試験装置)試験テンプレート選択ツール(312)を表示する段階(102)と、前記ATE試験テンプレート選択ツール(312)から試験テンプレート(314)をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート(314)のデフォルトパラメータを表示する段階(104)と、ユーザーが、前記試験テンプレート(314)によって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースを構成できるようにする試験テンプレート構成ツール(402)に対するアクセスをユーザーに対して提供する段階(106)と、を有するアクションを前記機械に実行させる一連の命令を保存しているいくつかの機械可読媒体。
[実施態様2]
前記試験テンプレート(314)と関連する前記デフォルトパラメータ及び規定されている1つ又は複数のハードウェアリソースは、実行可能な試験を定義するのに十分である実施態様1記載の媒体。
前記試験テンプレート(314)と関連する前記デフォルトパラメータ及び規定されている1つ又は複数のハードウェアリソースは、実行可能な試験を定義するのに十分である実施態様1記載の媒体。
[実施態様3]
前記一連の命令は、前記表示されているデフォルトパラメータの中の少なくとも1つのユーザーによる選択及び構成を前記機械に更に可能にさせる実施態様1記載の媒体。
前記一連の命令は、前記表示されているデフォルトパラメータの中の少なくとも1つのユーザーによる選択及び構成を前記機械に更に可能にさせる実施態様1記載の媒体。
[実施態様4]
前記試験テンプレート構成ツール(402)は、規定されているハードウェアリソースとそれらの接続の図(706)を提供する実施態様1記載の媒体。
前記試験テンプレート構成ツール(402)は、規定されているハードウェアリソースとそれらの接続の図(706)を提供する実施態様1記載の媒体。
[実施態様5]
前記図(706)は、SVG画像を有する実施態様4記載の媒体。
前記図(706)は、SVG画像を有する実施態様4記載の媒体。
[実施態様6]
前記選択された試験テンプレート(314)によって定義されている試験の段階的な実行の際に、前記一連の命令は、少なくとも1つのハードウェアリソース(900)の設定(902)を前記機械に表示させる実施態様1記載の媒体。
前記選択された試験テンプレート(314)によって定義されている試験の段階的な実行の際に、前記一連の命令は、少なくとも1つのハードウェアリソース(900)の設定(902)を前記機械に表示させる実施態様1記載の媒体。
[実施態様7]
前記一連の命令は、設定(902)が表示される前記ハードウェアリソース(900)のユーザーによる構成を前記機械に可能にさせる実施態様6記載の媒体。
前記一連の命令は、設定(902)が表示される前記ハードウェアリソース(900)のユーザーによる構成を前記機械に可能にさせる実施態様6記載の媒体。
[実施態様8]
前記一連の命令は、設定(902)が表示される前記ハードウェアリソース(900)のユーザーによる選択を前記機械に更に可能にさせる実施態様6記載の媒体。
前記一連の命令は、設定(902)が表示される前記ハードウェアリソース(900)のユーザーによる選択を前記機械に更に可能にさせる実施態様6記載の媒体。
[実施態様9]
前記試験テンプレート構成ツール(402)内からハードウェアリソース(900)をユーザーが選択した際に、前記ツール(402)内は、交換用のハードウェアリソースを選択可能な少なくとも1つの代替ハードウェアリソースを表示する実施態様1記載の媒体。
前記試験テンプレート構成ツール(402)内からハードウェアリソース(900)をユーザーが選択した際に、前記ツール(402)内は、交換用のハードウェアリソースを選択可能な少なくとも1つの代替ハードウェアリソースを表示する実施態様1記載の媒体。
[実施態様10]
前記試験テンプレート構成ツール(402)からハードウェアリソース(900)をユーザーが選択した際に、前記ツール(402)は、前記ハードウェアリソース(900)の構成可能な設定(902)に対するアクセスを提供する実施態様1記載の媒体。
前記試験テンプレート構成ツール(402)からハードウェアリソース(900)をユーザーが選択した際に、前記ツール(402)は、前記ハードウェアリソース(900)の構成可能な設定(902)に対するアクセスを提供する実施態様1記載の媒体。
312 ATE試験テンプレート選択ツール
314 試験テンプレート
402 試験テンプレート構成ツール
706 図
900 ハードウェアリソース
902 設定
314 試験テンプレート
402 試験テンプレート構成ツール
706 図
900 ハードウェアリソース
902 設定
Claims (10)
- 機械によって実行された際に、
ATE(自動試験装置)試験テンプレート選択ツールを表示する段階と、
前記ATE試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートをユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータを表示する段階と、
ユーザーが、前記試験テンプレートによって規定されている少なくとも1つのハードウェアリソースを構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスをユーザーに対して提供する段階と、
を有するアクションを前記機械に実行させる一連の命令を保存しているいくつかの機械可読媒体。 - 前記試験テンプレートと関連する前記デフォルトパラメータ及び規定されている1つ又は複数のハードウェアリソースは、実行可能な試験を定義するのに十分である請求項1記載の媒体。
- 前記一連の命令は、前記表示されているデフォルトパラメータの中の少なくとも1つのユーザーによる選択及び構成を前記機械に更に可能にさせる請求項1記載の媒体。
- 前記試験テンプレート構成ツールは、規定されているハードウェアリソースとそれらの接続の図を提供する請求項1記載の媒体。
- 前記図は、SVG画像を有する請求項4記載の媒体。
- 前記選択された試験テンプレートによって定義されている試験の段階的な実行の際に、前記一連の命令は、少なくとも1つのハードウェアリソースの設定を前記機械に表示させる請求項1記載の媒体。
- 前記一連の命令は、設定が表示される前記ハードウェアリソースのユーザーによる構成を前記機械に可能にさせる請求項6記載の媒体。
- 前記一連の命令は、設定が表示される前記ハードウェアリソースのユーザーによる選択を前記機械に更に可能にさせる請求項6記載の媒体。
- 前記試験テンプレート構成ツール内からハードウェアリソースをユーザーが選択した際に、前記ツール内は、交換用のハードウェアリソースを選択可能な少なくとも1つの代替ハードウェアリソースを表示する請求項1記載の媒体。
- 前記試験テンプレート構成ツールからハードウェアリソースをユーザーが選択した際に、前記ツールは、前記ハードウェアリソースの構成可能な設定に対するアクセスを提供する請求項1記載の媒体。
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