TWI414795B - 電子訊號走線特性阻抗測試系統及方法 - Google Patents

Description

電子訊號走線特性阻抗測試系統及方法

本發明涉及一種測試系統及方法，尤其是一種電子訊號走線特性阻抗測試系統及方法。

隨著電子科學技術的發展，印刷電路板(Printed Circuit Board，PCB)已成為各種電器設備(如電腦)不可缺少的重要組成部分。由於印刷電路板的電路中傳遞有超高頻率的微波訊號，若要保證印刷電路板在使用時的可靠性，就必須在出廠時對其訊號走線的特性阻抗進行檢測。所述特性阻抗是指電子訊號走線無限長所具有的阻抗，單位為歐姆。

以往傳統的檢測方法需要工作人員在測試前對測試設備狀態逐一確認，測試參數需要人工逐一輸入，由於檢測的範圍廣、功能多，因此，在檢測時常常忙得不可開交，不僅勞動強度大，工作效率低，而且容易產生人為錯誤，檢測的資料也不易管理。

鑒於以上內容，有必要提供一種電子訊號走線特性阻抗測試系統及方法，可在自動確認測試設備的狀態為正常狀態時獲取待測物件的測試參數文檔，並根據所獲取的測試參數文檔中的測試參數 進行測試。

一種電子訊號走線特性阻抗測試系統，運行於主機中，該主機與測試設備相連，該系統包括：輸入模組，用於在主機中輸入測試資訊；初始化模組，用於對測試設備進行初始化；獲取模組，用於獲取測試設備的狀態資訊，及當測試設備的狀態資訊正常時，根據測試資訊中待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑從主機中獲取測試參數；測試模組，用於控制測試設備根據所獲取的測試參數逐一對所有待測電子訊號走線進行特性阻抗測試，從測試設備中獲取測試結果，並根據測試資訊儲存所採集的測試結果；分析模組，用於根據所獲取的測試參數對每一條待測電子訊號走線的測試結果進行分析並得到分析結果；及生成模組，用於根據所有待測電子訊號走線的測試結果和分析結果生成測試報告，並根據測試資訊儲存該測試報告。

一種電子訊號走線特性阻抗測試方法，該方法應用於主機中，該主機與測試設備相連，該方法包括步驟：(a)在主機中輸入測試資訊；(b)對測試設備進行初始化；(c)獲取該測試設備的狀態資訊；(d)當測試設備的狀態資訊正常時，根據輸入的測試參數文檔的路徑從主機中獲取待測電子訊號走線的測試參數；(e)控制測試設備根據所獲取的測試參數逐一對所有待測電子訊號走線進行特性阻抗測試；(f)從測試設備中獲取測試結果，並根據測試資訊儲存所採集的測試結果；(g)根據所獲取的測試參數對每一條待測電子訊號走線的測試結果進行分析並得到分析結果；及(h)根據所有待測電子訊號走線的測試結果和分 析結果生成測試報告，並根據測試資訊儲存該測試報告。

相較於習知技術，所述的電子訊號走線特性阻抗測試系統及方法，可以在測試前自動確認測試設備的狀態，在確認測試設備的狀態為正常狀態時獲取待測物件的測試參數文檔，並根據所獲取的測試參數文檔中的測試參數進行測試，節省了測試人員確認設備狀態所需的時間和尋找測試參數的時間，提高了工作效率。

1‧‧‧主機

2‧‧‧測試設備

3‧‧‧測試機台

4‧‧‧印刷電路板

5‧‧‧探針

10‧‧‧電子訊號走線特性阻抗測試系統

100‧‧‧輸入模組

101‧‧‧初始化模組

102‧‧‧獲取模組

103‧‧‧判斷模組

104‧‧‧測試模組

105‧‧‧分析模組

106‧‧‧生成模組

圖1係本發明電子訊號走線特性阻抗測試系統較佳實施例的硬體架構圖。

圖2係圖1中所示電子訊號走線特性阻抗測試系統的功能模組圖。

圖3係本發明電子訊號走線特性阻抗測試方法較佳實施例的流程圖。

如圖1所示，係本發明電子訊號走線特性阻抗測試系統較佳實施例的系統架構圖，該電子訊號走線特性阻抗測試系統10運行於主機1中。其中，所述主機1和測試設備2相連，所述測試設備2可為時域反射儀，或者時域反射儀與機械手臂相配合的測試設備。所述測試設備2透過探針5點取印刷電路板4上的電子訊號走線進行測試。所述印刷電路板4放置於測試機台3上，在其他實施例中，所述印刷電路板4也可以是其他任意適用的電子訊號走線載體。

在測試開始前，該電子訊號走線特性阻抗測試系統10獲取測試設備2的狀態資訊並對所獲取的狀態資訊進行確認。當確認所獲取 的狀態資訊為正常狀態時，該電子訊號走線特性阻抗測試系統10從主機1中獲取待測電子訊號走線的測試參數，根據所獲取的測試參數控制測試設備2對待測電子訊號走線進行測試。測試完成後，該電子訊號走線特性阻抗測試系統10從測試設備2中採集測試結果，對測試結果進行分析以得到分析結果，並根據所述測試結果和分析結果生成測試報告。

如圖2所示，係圖1中所示電子訊號走線特性阻抗測試系統10的功能模組圖。所述電子訊號走線特性阻抗測試系統10包括輸入模組100、初始化模組101、獲取模組102、判斷模組103、測試模組104、分析模組105及生成模組106。本發明所稱的模組是完成一特定功能的電腦程式段，比程式更適合於描述軟體在電腦中的執行過程，因此在本發明以下對軟體描述中都以模組描述。

所述輸入模組100用於在主機1中輸入測試資訊。所述測試資訊包括，但不限於，測試設備2的IP位址、所使用的測試設備2的通道、待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑及測試結果儲存路徑。所述測試設備2包括多個通道，在進行測試前，需選擇所使用的通道，例如：測試設備2包括通道1、通道2、通道3、通道4及通道5，測試所需要的通道為通道3，則輸入模組100在輸入到主機1中的測試資訊中選擇通道3。

所述初始化模組101用於對測試設備2進行初始化。所述初始化是指將測試設備2中變數的值還原成該測試設備2出廠時所設定的值。

所述獲取模組102用於獲取該測試設備2的狀態資訊。所述狀態資訊包括，但不限於，測試設備2的溫度及探針5的使用狀態。

所述判斷模組103用於判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊是否正常。當測試設備2的溫度在所允許的溫度範圍之內及探針5的使用狀態為正常狀態時，判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊正常；當測試設備2的溫度不在所允許的溫度範圍之內及/或探針5的使用狀態為異常狀態時，例如：探針5被靜電擊穿時，判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊異常。

所述獲取模組102還用於當測試設備2的狀態資訊正常時，根據測試資訊中待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑，從主機1中獲取待測電子訊號走線的測試參數。所述測試參數文檔包括多條待測電子訊號走線的參數，每條待測電子訊號走線的參數按順序排列，例如：待測電子訊號走線參數1，待測電子訊號走線參數2，待測電子訊號走線參數3。其中，每條待測電子訊號走線的參數包括，但不限於，電子訊號走線的名稱、電子訊號的種類、電子訊號走線的長度及測試結果允許的範圍。其中，所述電子訊號包括單端訊號和差分訊號兩類。一般來說，差分訊號走線的特性阻抗值為100歐姆，若允許有正負10歐姆的誤差，則可設定測試結果允許的範圍為[90，110]，單位為歐姆。

所述測試模組104用於控制測試設備2根據所獲取的測試參數依次對待測電子訊號走線進行特性阻抗測試，從測試設備2中採集測試結果，並將所採集的測試結果儲存至測試資訊中所設定的測試結果儲存路徑下。

所述分析模組105用於根據測試參數中測試結果允許的範圍對採集的測試結果進行分析並得到分析結果。當所採集的測試結果在測試參數中測試結果允許的範圍之內，則分析模組105判定所採集的測試結果有效；當所採集的測試結果不在測試參數中測試結果允許的範圍之內，則分析模組105判定所採集的測試結果無效。例如，設定電子訊號走線特性阻抗的標準值範圍為[90，110]，單位為歐姆。如果測試設備2採集到的電子訊號走線的特性阻抗為95歐姆，則分析模組105判定分析結果為該電子訊號走線的特性阻抗有效；如果測試設備2採集到的電子訊號走線的特性阻抗為80歐姆，則分析模組105判定分析結果為該電子訊號走線的特性阻抗無效。

所述判斷模組103還用於根據所述測試參數文檔判斷是否繼續測試印刷電路板4上的其他電子訊號走線。當測試參數文檔中還有其他電子訊號走線未測試時，判斷模組103判斷繼續測試該印刷電路板4上的其他電子訊號走線。

所述生成模組106用於當所述測試參數文檔中所有電子訊號走線測試完成時，根據所有電子訊號走線的測試結果和分析結果生成測試報告，並將該測試報告儲存在測試資訊中設定的測試結果儲存路徑下。

如圖3所示，係本發明電子訊號走線特性阻抗測試方法較佳實施例的流程圖。

步驟S10，輸入模組100在主機1中輸入測試資訊。所述測試資訊 包括，但不限於，測試設備2的IP位址，所使用的測試設備2的通道、待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑及測試結果儲存路徑。

步驟S12，初始化模組101對測試設備2進行初始化。所述初始化是指將測試設備2中變數的值還原成該測試設備2出廠時的所設定的值。

步驟S14，獲取模組102獲取該測試設備2的狀態資訊。所述狀態資訊包括，但不限於，測試設備2的溫度及探針5的使用狀態。

步驟S16，判斷模組103判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊是否正常。當測試設備2的溫度在所允許的溫度範圍之內及探針5的使用狀態為正常狀態時，判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊正常；當測試設備2的溫度不在所允許的溫度範圍之內及/或探針5的使用狀態為異常狀態時，例如：探針5被靜電擊穿時，判斷所獲取的測試設備2的狀態資訊異常。

當測試設備2的狀態資訊異常時，返回至步驟S12；或者，步驟S18，當測試設備2的狀態資訊正常時，獲取模組102根據測試資訊中待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑，從主機1中獲取待測電子訊號走線測試參數。所述測試參數文檔可包括多條待測電子訊號走線的參數，每條待測電子訊號走線的參數按順序排列，例如：待測電子訊號走線參數1，待測電子訊號走線參數2，待測電子訊號走線參數3。其中，每條待測電子訊號走線參數包括，但不限於，電子訊號走線的名稱、電子訊號的種類、電子訊號 走線的長度及測試結果允許的範圍。

步驟S20，測試模組104控制測試設備2根據所獲取的測試參數依次對待測電子訊號走線進行特性阻抗測試。

步驟S22，從測試設備2中採集測試結果，並將所採集的測試結果儲存至測試資訊中所設定的測試結果儲存路徑下。

步驟S24，分析模組105根據測試參數中測試結果允許的範圍對所採集的測試結果進行分析並得到分析結果。當所採集的測試結果在測試參數中測試結果允許的範圍之內，則分析模組105判定所採集的測試結果有效；當所採集的測試結果不在測試參數中測試結果允許的範圍之內，則分析模組105判定所採集的測試結果無效。例如，設定電子訊號走線特性阻抗的標準值範圍為[90，110]，單位為歐姆。如果測試設備2採集到的電子訊號走線的特性阻抗為95歐姆，則分析模組105判定分析結果該電子訊號走線的特性阻抗有效；如果測試設備2採集到的電子訊號走線的特性阻抗為80歐姆，則分析模組105判定分析結果為該電子訊號走線的特性阻抗無效。

步驟S26，根據所述測試參數文檔判斷模組103判斷是否繼續測試印刷電路板4上的其他電子訊號走線。

當所述測試參數文檔還有其他電子訊號走線未測試時，返回至步驟S20，根據所獲取的測試參數依次對未測試的待測電子訊號走線進行特性阻抗測試；或者，步驟S28，生成模組106用於當所述測試參數文檔所有電子訊號走線測試完成時，根據所有待測電子 訊號走線的測試結果和分析結果生成測試報告，並將該測試報告儲存在測試資訊中設定的測試結果儲存路徑下。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，本發明之範圍並不以上述實施例為限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

10‧‧‧電子訊號走線特性阻抗測試系統

100‧‧‧輸入模組

101‧‧‧初始化模組

102‧‧‧獲取模組

103‧‧‧判斷模組

104‧‧‧測試模組

105‧‧‧分析模組

106‧‧‧生成模組

Claims (10)

1. 一種電子訊號走線特性阻抗測試系統，運行於主機中，該主機與測試設備相連，該系統包括：輸入模組，用於在主機中輸入測試資訊；初始化模組，用於對測試設備進行初始化；獲取模組，用於獲取測試設備的狀態資訊，及當測試設備的狀態資訊正常時，根據測試資訊中待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑從主機中獲取測試參數；測試模組，用於控制測試設備根據所獲取的測試參數逐一對所有待測電子訊號走線進行特性阻抗測試，從測試設備中獲取測試結果，並根據測試資訊儲存所採集的測試結果；分析模組，用於根據所獲取的測試參數對每一條待測電子訊號走線的測試結果進行分析並得到分析結果；及生成模組，用於根據所有待測電子訊號走線的測試結果和分析結果生成測試報告，並根據測試資訊儲存該測試報告。
2. 如申請專利範圍第1項所述的電子訊號走線特性阻抗測試系統，該系統還包括：判斷模組，用於根據測試參數文檔判斷是否繼續測試其他電子訊號走線。
3. 如申請專利範圍第1項所述的電子訊號走線特性阻抗測試系統，其中，所述測試資訊包括測試設備的IP位址，所使用的測試設備的通道、待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑及測試結果儲 存路徑。
4. 如申請專利範圍第1項所述的電子訊號走線特性阻抗測試系統，其中，所述狀態資訊包括測試設備的溫度及探針的使用狀態。
5. 如申請專利範圍第1項所述的電子訊號走線特性阻抗測試系統，其中，所述測試參數文檔包括多條待測電子訊號走線參數，每條待測電子訊號走線參數按順序排列，每條待測電子訊號走線參數包括電子訊號走線的名稱、電子訊號的種類、電子訊號走線的長度及測試結果允許的範圍。
6. 一種電子訊號走線特性阻抗測試方法，該方法應用於主機中，該主機與測試設備相連，該方法包括步驟：(a)在主機中輸入測試資訊；(b)對測試設備進行初始化；(c)獲取該測試設備的狀態資訊；(d)當測試設備的狀態資訊正常時，根據待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑從主機中獲取測試參數；(e)控制測試設備根據所獲取的測試參數逐一對所有待測電子訊號走線進行特性阻抗測試；(f)從測試設備中獲取測試結果，並根據測試資訊儲存所採集的測試結果；(g)根據所獲取的測試參數對每一條待測電子訊號走線的測試結果進行分析並得到分析結果；及(h)根據所有待測電子訊號走線的測試結果和分析結果生成測試報告，並根據測試資訊儲存該測試報告。
7. 如申請專利範圍第6項所述的電子訊號走線特性阻抗測試方法， 在步驟(g)之後還包括步驟：根據測試參數文檔判斷是否繼續測試其他電子訊號走線特性；當所述測試參數文檔還有其他電子訊號走線未測試時，返回至步驟(e)；當所述測試參數文檔所有電子訊號走線測試完成時，至步驟(h)。
8. 如申請專利範圍第6項所述的電子訊號走線特性阻抗測試方法，其中，所述測試資訊包括測試設備的IP位址，所使用的測試設備的通道、待測電子訊號走線的測試參數文檔的路徑及測試結果儲存路徑。
9. 如申請專利範圍第6項所述的電子訊號走線特性阻抗測試方法，其中，所述狀態資訊包括測試設備的溫度及探針的使用狀態。
10. 如申請專利範圍第6項所述的電子訊號走線特性阻抗測試方法，其中，所述測試參數文檔包括多條待測電子訊號走線參數，每條待測電子訊號走線參數按順序排列，每條待測電子訊號走線參數包括電子訊號走線的名稱、電子訊號的種類、電子訊號走線的長度及測試結果允許的範圍。