KR20070012597A - 시스템 보드 검사 장치 및 방법 - Google Patents

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Abstract

시스템 보드 검사 장치 및 방법이 제공된다.
본 발명의 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치는 시스템 보드로부터 출력되는 소정의 신호를 감지하는 센싱부, 상기 감지된 신호를 통해서 상기 시스템 보드의 검사 작업 진행 상황을 분석하는 분석부, 및 상기 분석 결과에 따라서 상기 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력하는 제어 신호 출력부를 포함한다.
시스템 보드, 기능 검사

Description

시스템 보드 검사 장치 및 방법{Apparatus and method for testing system board}
도 1은 시스템 보드 제조 공정을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치와 시스템 보드의 연결 상태를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치를 나타낸 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>
210 : 센싱부 220 : 분석부
230 : 제어 신호 출력부 240 : 디스플레이부
본 발명은 시스템 보드 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 시스템 보드의 검사 진행 과정을 자동으로 수행할 수 있는 시스템 보드 검사 장 치 및 방법에 관한 것이다.
개인용 컴퓨터나 노트북의 보급이 확산됨에 따라서 이에 사용되는 시스템 보드의 대량 생산 공정이 수반되게 되었다. 시스템 보드 제조 공정에 있어서 제조 과정상의 문제나 시스템 보드에 실장 된 전자 부품들의 불량 등으로 인하여 시스템 보드의 기본적인 기능이 올바로 수행되는지의 여부를 판단하기 위한 시스템 보드 검사 작업이 필요하다. 이러한 작업은 시스템 보드 제조 공정의 최종 단계나 시스템 보드를 사용하여 컴퓨터를 조립하기 직전에 수행될 수 있다.
시스템 보드 검사 시에 시스템 보드는 외부로부터 제어 신호의 입력을 필요로 하는데, 시스템 보드 검사는 다양한 항목별로 수행되며 각 검사 항목마다 별도의 제어 신호가 필요하다. 이러한 제어 신호는 시스템 보드를 검사하는데 사용되는 시스템 보드 검사 장치로부터 출력되며, 이를 위하여 작업자는 시스템 보드와 시스템 보드 검사 장치를 연결하여야 한다.
기본적으로 작업자는 시스템 보드의 키보드 커넥터를 시스템 보드 검사 장치에 구비된 키보드 에뮬레이터나 실제 키보드와 연결시키게 되며, 필요에 따라서는 시스템 보드의 모니터 커넥터와 시스템 보드 검사 장치에 구비된 디스플레이부를 연결시킬 수 있다.
시스템 보드와 시스템 보드 검사 장치의 연결 후, 작업자는 시스템 보드 검사 장치에 구비된 키보드 에뮬레이터나 실제 키보드를 조작하여 제어 신호의 출력을 명령하게 된다. 시스템 보드 검사 장치가 출력하는 제어 신호는 시스템 보드 검사 장치와 연결된 시스템 보드의 키보드 커넥터로 전달되며, 시스템 보드는 전달 된 제어 신호에 따라서 검사 작업을 수행한다.
하나의 검사 작업 마쳐지면 시스템 보드는 모니터 커넥터를 통해서 검사 결과 및 다음 항목의 검사 작업을 위한 제어 신호를 요청하게 되며 이러한 내용들은 모니터 커넥터와 연결된 디스플레이부를 통해서 디스플레이될 수 있다. 이 때 작업자는 시스템 보드 검사 장치의 디스플레이부를 확인하고, 시스템 보드 검사 장치에 구비된 키보드나 키보드 에뮬레이터를 조작함으로써 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행할 수 있도록 하는 제어 신호를 출력시키게 된다.
이와 같이 종래 기술에서는 시스템 보드의 각 검사 항목별로 필요한 제어 신호를 출력하기 위하여 작업자의 수작업을 요구하였기 때문에, 작업자의 실수가 있거나 작업자가 다른 작업을 수행하는 경우 다음 항목의 검사가 진행되어야 할 시스템 보드는 작업자에 의해 적합한 제어 신호가 입력되기까지 대기하여야 하며 이는 곧 생산 효율의 저하로 이어지게 된다. 특히 실제 작업현장에서는 한 명의 작업자가 여러 대의 시스템 보드 검사 장치를 다루게 되므로, 이러한 문제점은 더욱 증가될수 밖에 없다.
본 발명은 시스템 보드 검사 작업을 자동으로 수행할 수 있는 시스템 보드 검사 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치는 시스템 보드로부터 출력되는 소정의 신호를 감지하는 센싱부, 상기 감지된 신호를 통해서 상기 시스템 보드의 검사 작업 진행 상황을 분석하는 분석부, 및 상기 분석 결과에 따라서 상기 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력하는 제어 신호 출력부를 포함한다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 시스템 보드 검사 방법은 시스템 보드로부터 출력되는 소정의 신호를 감지하는 단계, 상기 감지된 신호를 통해서 상기 시스템 보드의 검사 작업 진행 상황을 분석하는 단계, 및 상기 분석 결과에 따라서 상기 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력하는 단계를 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 시스템 보드 제조 공정을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도시된 바와 같이 시스템 보드 제조 공정은 크게 배선층 형성 공정(S110), 부품 실장 공정(S120), 배선 검사 공정(S130), 및 기능 검사 공정(S140)으로 구성될 수 있다.
배선층 형성 공정(S110)에서는 보드 상에 도전성 라인을 도포하는 작업이 수행된다. 도전성 라인은 보드에 실장 될 전자 부품들이 상호 전기적으로 연결될 수 있도록 하며, 보드에 실장 될 전자 부품의 종류, 위치 등에 따라서 배선 구조가 설계될 수 있다.
배선층 형성 공정(S110)을 통해서 보드 상에 기본 배선이 형성되면 부품 실장 공정(S120)이 수행된다. 부품 실장 공정(S120)에서는 배선이 형성된 보드 상에 각종 전자 부품이 실장되는데, 전자 부품은 CPU(Central Processing Unit), 메모리 등과 같은 집적회로, 저항, 콘덴서 등과 같은 전자 소자, 및 직렬 포트, 병렬 포트와 같은 커넥터 등을 포함한다.
이 때 보드에 실장된 각 전자 부품들이 자신에게 부여된 기능을 수행하기 위해서는 배선층 형성 공정(S110)에서 형성된 배선을 통해서 상호 전기적으로 연결되어야 하며, 이를 확인하기 위하여 부품 실장 공정(S120) 이후에 배선 검사 공정(S130)이 수행된다.
배선 검사 공정(S130)에서는 보드에 실장 된 각 부품들이 배선을 통해서 전 기적으로 연결되어 있는 지의 여부를 검사하게 된다. 즉, 배선 검사 공정(S130)에서는 필요한 부분의 배선이 오픈(open)되어 있는지의 여부, 불필요한 부위에서 배선이 쇼트(short)되어 있는지의 여부, 및 전자 부품의 불량으로 인하여 배선 불량이 발생했는지의 여부 등을 검사하게 된다.
배선 검사 공정(S130)이 완료되면 기능 검사 공정(S140)이 수행된다. 기능 검사 공정(S140)에서는 시스템 보드 상에 실장 된 전자 부품들이 제 기능을 수행하고 있는지의 여부를 검사하게 되며 본 발명은 이와 관련되어 있다.
도 1의 실시예에서는 본 발명이 시스템 보드의 생산 공정 중에 포함되는 것으로 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명은 시스템 보드를 이용하여 데스크 탑이나 노트북과 같은 컴퓨터 조립 공정에 있어서 컴퓨터 조립 전에 수행되는 시스템 보드 검사 과정에서 이용될 수도 있다.
이하 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치 및 방법에 대하여 보다 구체적으로 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치와 시스템 보드의 연결 상태를 나타낸 도면이다.
시스템 보드(100)는 시스템 보드 검사 장치(200)로부터 입력되는 제어 신호에 따라서 소정의 검사 작업을 수행한다. 검사 작업을 수행하기 위하여 필요한 소정의 프로그램(이하 검사 프로그램이라 한다)은 시스템 보드(100)에 실장된 소정의 메모리에 저장되어 있을 수 있다. 예를 들면 검사 프로그램은 시스템 보드에 실장된 HDD(Hard Disk Drive)나 바이오스(BIOS) 등에 저장되어 있을 수 있다.
한편, 한 항목의 검사가 마쳐지고 다음 항목의 검사 작업을 수행할 준비가 된 경우 시스템 보드(100)는 이를 시스템 보드 검사 장치(200)에게 알리게 된다. 그러나 기능 검사 단계에서 시스템 보드(100)는 LAN 카드나 IEEE1394 등과 같은 통신 어플리케이션을 사용하지 못하는 시점일 수 있으므로, 시스템 보드(100)는 LED와 같이 광 신호를 출력하는 발광 소자(110)나 전자음과 같은 음향 신호를 발생시키는 전자 스피커(120)를 사용하여 다음 항목의 검사 작업을 위한 제어 신호를 요청할 수 있다.
예를 들어 발광 소자(110)를 사용하는 경우, 시스템 보드(100)는 발광 소자(110)의 점등 조합, 점등 간격 등을 조절함으로써 필요한 제어 신호를 요청할 수 있다. 또는, 전자 스피커(120)를 사용하는 경우, 시스템 보드(100)는 전자음의 주파수나 전자음 발생 주기를 조절함으로써 필요한 제어 신호를 요청할 수 있다.
시스템 보드 검사 장치(200)는 시스템 보드(100)의 발광 소자(110) 또는 전자 스피커(120)를 통해서 출력되는 신호를 감지하고 이를 통해서 시스템 보드(100)가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력한다. 제어 신호는 시스템 보드(100)의 키보드 커넥터(130)를 통해 시스템 보드(100)로 입력될 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 장치를 나타낸 블록도이다.
도시된 시스템 보드 검사 장치(200)는 센싱부(210), 분석부(220), 제어 신호 출력부(230), 및 디스플레이부(240)를 포함한다. 시스템 보드 검사 장치(200)에서 제어 신호 출력부(230) 및 디스플레이부(240)는 각각 시스템 보드(100)의 키보드 커넥터(130) 및 모니터 커넥터(140)와 연결될 수 있다.
센싱부(210)는 시스템 보드(100)로부터 출력되는 소정의 신호를 감지한다. 예를 들어 센싱부(210)는 포토다이오드, 포토트랜지스터, CDS 등과 같은 수광 센서를 포함하여 시스템 보드(100)의 발광 소자(110)로부터 출력되는 빛을 감지할 수 있다.
다른 실시예로써 센싱부(210)는 음향센서를 포함하여 시스템 보드(100)의 전자 스피커(120)로부터 출력되는 전자음을 감지할 수 있다. 음향 센서로는 동전형 방식, 정전형 방식, 압전형 방식, 또는 접촉저항형 방식 등이 사용될 수 있다.
분석부(220)는 센싱부(210)가 감지한 신호를 통해서 시스템 보드(100)의 검사 작업 진행 상황을 분석한다. 즉, 분석부(220)는 시스템 보드(100)가 다음 항목의 검사 작업을 수행할 준비가 되었는지의 여부, 모든 항목의 검사 작업이 완료되었는지의 여부, 및 검사 결과 오류가 발생하였는지의 여부 등을 판단할 수 있다. 분석부(220)에 의해 분석된 결과는 디스플레이부(240)를 통해서 작업자에게 디스플레이될 수 있다.
제어 신호 출력부(230)는 분석부(220)의 분석 결과에 따라서 시스템 보드(100)가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력한다. 시스템 보드(100)와 시스템 보드 검사 장치(200)의 연결시 제어 신호 출력부(230)는 시스템 보드(100)의 키보드 커넥터(130)와 연결되며, 제어 신호 출력부(230)가 출력하는 제어 신호는 시스템 보드(100)가 인식할 수 있는 키보드 입력 신호로 구성되는 것이 바람직하다.
또한 제어 신호 출력부(230)는 키보드 에뮬레이터나 키보드와 같은 입력 수단을 포함할 수 있으며, 작업자는 이를 통해서 필요한 제어 명령을 입력시킬 수 있다. 작업자가 입력 수단을 통해서 제어 명령을 입력하면 제어 신호 출력부(230)는 그에 대응하는 제어 신호를 출력하게 된다. 이처럼 작업자의 수작업에 의하여 제어 신호를 출력시키는 과정은, 시스템 보드(100)가 시스템 보드 검사 장치(200)와 연결된 후 최초 항목의 검사 작업을 수행하는 경우에 수행될 수 있다.
한편, 시스템 보드(100)는 검사 작업의 진행 과정 및 각 항목의 검사 결과 등에 관한 정보를 모니터 커넥터(140)를 통해서 출력할 수도 있으며, 이러한 정보는 모니터 커넥터(140)와 연결된 디스플레이부(240)를 통해서 디스플레이 될 수 있다.
도 3을 통해 설명한 시스템 보드 검사 장치(200)를 구성하는 각 기능성 블록들은 일종의 모듈로 구현될 수 있다. '모듈'은 소프트웨어 또는 Field Programmable Gate Array(FPGA) 또는 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC)과 같은 하드웨어 구성요소를 의미하며, 모듈은 어떤 역할들을 수행한다. 그렇지만 모듈은 소프트웨어 또는 하드웨어에 한정되는 의미는 아니다. 모듈은 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 실행시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 예로서 모듈은 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스들, 함수들, 속성들, 프로 시저들, 서브루틴들, 프로그램 코드의 세그먼트들, 드라버들, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조들, 테이블들, 어레이들, 및 변수들을 포함한다. 구성요소들과 모듈들에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소들 및 모듈들로 결합되거나 추가적인 구성요소들과 모듈들로 더 분리될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 시스템 보드 검사 방법을 나타낸 흐름도이다.
최초, 검사 대상이 되는 시스템 보드(100)가 연결되면(S210), 제어 신호 출력부(230)는 작업자로부터의 제어 명령 입력을 대기한다. 시스템 보드(100) 연결시, 시스템 보드 검사 장치(200)의 제어 신호 출력부(230)와 디스플레이부(240)는 각각 시스템 보드(100)의 키보드 커넥터(130)와 모니터 커넥터에 연결될 수 있다.
키보드 에뮬레이터나 키보드와 같은 입력 수단을 통해서 작업자로부터 제어 명령이 입력되면(S220), 제어 신호 출력부(230)는 시스템 보드(100)에게 소정의 제어 신호를 출력한다(S230). 제어 신호는 시스템 보드(100)의 키보드 커넥터(130)로 전달될 수 있으며, 키보드 입력 신호의 형태를 갖는 것이 바람직하다.
제어 신호를 입력받은 시스템 보드(100)는 소정의 검사 작업을 수행하게 되고, 검사가 마쳐지면 발광 소자(110)나 전자 스피커(120)를 통해서 다음 항목의 검사 작업을 수행하는데 필요한 제어 신호의 입력을 요청하는 신호를 출력하게 된다.
시스템 보드(100)가 소정의 신호를 출력하면 센싱부(210)는 이를 감지한다(S240). 이 때 센싱부(210)가 어떠한 종류의 신호를 감지할 것인가는 실시예에 따라서 달라질 수 있다. 예를 센싱부(210)는 시스템 보드(100)의 발광 소자(110)로 부터 출력되는 빛을 감지할 수 있다. 다른 실시예로써 센싱부(210)는 시스템 보드(100)의 전자 스피커(120)로부터 출력되는 전자음을 감지할 수 있다.
이 때 분석부(220)는 센싱부(210)가 감지한 신호를 통해서 시스템 보드(100)의 검사 작업 진행 상황을 분석하게 된다(S250).
분석부(220)의 분석 결과 시스템 보드(100)가 다음 항목의 검사를 요청한 경우(S260), 제어 신호 출력부(230)는 다음 항목의 검사 작업을 수행할 수 있도록 하는 제어 신호를 출력하게 된다(S230).
그러나 분석부(220)의 분석 결과 모든 항목에 대한 검사가 종료되었거나, 검사 결과 오류가 발생하였다면 해당 시스템 보드(100)에 대한 검사는 종료하게 된다. 이 때 분석부(220)는 디스플레이부(240)를 통해서 현재 진행 중인 검사 항목, 오류 발생 여부, 및 검사 종료 여부 등을 디스플레이시킬 수 있다.
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
상기한 바와 같은 본 발명의 시스템 보드 검사 장치 및 방법에 따르면 다음과 같은 효과가 하나 혹은 그 이상 있다.
첫째, 시스템 보드 검사 작업을 자동으로 수행할 수 있다.
둘째, 시스템 보드의 검사 작업에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다.
셋째, 시스템 보드나 이를 이용하는 컴퓨팅 장치의 생산 효율을 높일 수 있다.

Claims (4)

  1. 시스템 보드로부터 출력되는 소정의 신호를 감지하는 센싱부;
    상기 감지된 신호를 통해서 상기 시스템 보드의 검사 작업 진행 상황을 분석하는 분석부; 및
    상기 분석 결과에 따라서 상기 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력하는 제어 신호 출력부를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템 보드 검사 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 시스템 보드로부터 출력되는 신호는, 광 신호 또는 음향 신호인 것을 특징으로 하는 시스템 보드 검사 장치.
  3. 시스템 보드로부터 출력되는 소정의 신호를 감지하는 단계;
    상기 감지된 신호를 통해서 상기 시스템 보드의 검사 작업 진행 상황을 분석하는 단계; 및
    상기 분석 결과에 따라서 상기 시스템 보드가 다음 항목의 검사 작업을 수행하도록 하는 제어 신호를 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템 보드 검사 방법.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 시스템 보드로부터 출력되는 신호는, 광 신호 또는 음향 신호인 것을 특징으로 하는 시스템 보드 검사 방법.
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US11/473,029 US20070018653A1 (en) 2005-07-23 2006-06-23 Apparatus and method for testing system board
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10955513B2 (en) 2016-07-27 2021-03-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus which tests semiconductor chips

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090132842A1 (en) * 2007-11-15 2009-05-21 International Business Machines Corporation Managing Computer Power Consumption In A Computer Equipment Rack
CN101604275A (zh) * 2008-06-13 2009-12-16 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Bios测试系统及其测试方法
US7986157B1 (en) * 2010-09-02 2011-07-26 Star Technologies Inc. High speed probing apparatus for semiconductor devices and probe stage for the same
CN103377102A (zh) * 2012-04-20 2013-10-30 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 电脑重启及开关机测试系统
CN103308847A (zh) * 2013-05-23 2013-09-18 东莞市百维科技有限公司 电池保护板用测试系统和其测试方法
CN108519944B (zh) * 2018-03-07 2019-04-05 北京航空航天大学 一种基于噪声共振的软件加速测试技术的构建方法
CN108519935B (zh) * 2018-03-15 2021-09-24 广州视源电子科技股份有限公司 板卡测试方法、装置、可读存储介质及计算机设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4160211A (en) * 1977-09-08 1979-07-03 Sencore, Inc. Method and instrument for measuring the sensitivity of a radio receiver
US4730158A (en) * 1986-06-06 1988-03-08 Santa Barbara Research Center Electron-beam probing of photodiodes
US5270655A (en) * 1989-12-22 1993-12-14 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor integrated circuit having light emitting devices
US6192496B1 (en) * 1997-11-26 2001-02-20 Agilent Technologies, Inc. System for verifying signal timing accuracy on a digital testing device
US6731122B2 (en) * 2001-08-14 2004-05-04 International Business Machines Corporation Wafer test apparatus including optical elements and method of using the test apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10955513B2 (en) 2016-07-27 2021-03-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus which tests semiconductor chips
US11506740B2 (en) 2016-07-27 2022-11-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Test apparatus which tests semiconductor chips

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