TWI841252B - Tddi觸控模組測試方法及系統 - Google Patents
Tddi觸控模組測試方法及系統 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI841252B TWI841252B TW112106516A TW112106516A TWI841252B TW I841252 B TWI841252 B TW I841252B TW 112106516 A TW112106516 A TW 112106516A TW 112106516 A TW112106516 A TW 112106516A TW I841252 B TWI841252 B TW I841252B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- touch
- tddi
- test
- tested
- touch module
- Prior art date
Links
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 148
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 56
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 56
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 56
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012552 review Methods 0.000 description 2
- 101001121408 Homo sapiens L-amino-acid oxidase Proteins 0.000 description 1
- 102100026388 L-amino-acid oxidase Human genes 0.000 description 1
- 101100012902 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) FIG2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Abstract
一種TDDI觸控模組測試方法，其包括：利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板；該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板；以及該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
Description
本發明係關於觸控模組測試方法，尤指一種TDDI(touch display driver integration；觸控顯示驅動整合)觸控模組的量產測試方法。
一般的電容式觸控模組在量產階段會經過一定的測試流程來確保其品質合規。當前的測試通常包括螢幕容值測試、螢幕容值雜訊測試、感測元件開路測試、感測元件短路測試、感測元件補償電容值測試、韌體版本測試以及輸入、輸出測試等項目。
雖然這些測試已經包含了對電容式觸控模組諸多參數的測試，但始終尚未包含對手指觸摸後的感應量的檢測，無法直觀地驗證電容式觸控模組的正常觸摸報點功能。現有的感應量測試方法僅是對感應量的大小進行卡控。例如，對於某款觸控模組，若在調試階段發現其觸控感應量的數值約為500，那麼在進行量產測試時，先對感應量進行若干幀的統計，並將產測卡控閾值設置為500 ± 25%，只要出現感應量超出閾值範圍的，就判定為測試失敗。然而，這種方式容易造成過殺，例如，假設某一個樣品其每一幀的感應量都大於500 + 25%，且雜訊值符合要求，那麼該樣品在實際使用中是不會出現異常的，然而當前的方法卻判定此樣品為不良品。另外，當前的測試方法還有可能造成漏殺：例如，假設另一樣品之感應量的數值雖處在閾值範圍內，但抖動很強烈，那麼就有可能造成觸控位置抖動或者跳點、消點等異常現象。
為解決上述的問題，本領域亟需一種新穎的TDDI觸控螢幕測試方法。
本發明之一目的在於揭露一種TDDI觸控模組測試方法，其可避免過殺或漏殺的測試結果，從而提升TDDI觸控模組的量產良率。
本發明之另一目的在於揭露一種TDDI觸控模組測試系統，其可避免過殺或漏殺的測試結果，從而提升TDDI觸控模組的量產良率。
為達到前述目的，一種TDDI觸控模組測試方法乃被提出，其包括：
利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板；
該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板；以及
該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
在一實施例中，該觸控測試板具有一第一通信介面以與該主控裝置通信，及一第二通信介面以與該待測試TDDI觸控模組通信。
在一實施例中，該觸控測試板利用一台感應量測試夾具之接地銅柱觸碰該待測試TDDI觸控模組之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值。
在一實施例中，該主控裝置具有一顯示幕以顯示一測試表單，及一輸入單元以供操作者進行輸入操作以啟動該測試方法之流程。
在一實施例中，該觸控測試板進一步實現以下的功能：給該待測試TDDI觸控模組的觸控驅動IC燒錄一韌體程式；接收該待測試TDDI觸控模組傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
在一實施例中，該主控裝置通過在該顯示幕上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，及儲存一測試結果報表；以及該主控裝置在該顯示幕上彈出一提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
為達到前述目的，本發明進一步提出一種TDDI觸控模組測試系統，其具有一主控裝置及一觸控測試板以執行一測試方法，該測試方法包括：
利用該主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給該觸控測試板；
該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板；以及
該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
在一實施例中，該觸控測試板具有一第一通信介面以與該主控裝置通信，及一第二通信介面以與該待測試TDDI觸控模組通信。
在一實施例中，該觸控測試板利用一台感應量測試夾具之接地銅柱觸碰該待測試TDDI觸控模組之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值。
在一實施例中，該主控裝置具有一顯示幕以顯示一測試表單，及一輸入單元以供操作者進行輸入操作以啟動該測試方法之流程。
在一實施例中，該觸控測試板進一步實現以下的功能：給該待測試TDDI觸控模組的觸控驅動IC燒錄一韌體程式；接收該待測試TDDI觸控模組傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
在一實施例中，該主控裝置通過在該顯示幕上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，及儲存一測試結果報表；以及該主控裝置在該顯示幕上彈出一提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
為使 貴審查委員能進一步瞭解本發明之結構、特徵、目的、與其優點，茲附以圖式及較佳具體實施例之詳細說明如後。
請參照圖1，其繪示本發明之TDDI觸控模組測試系統之一實施例之電路圖。如圖1所示，該TDDI觸控模組測試系統具有一觸控測試板110及一主控裝置120，其中，觸控測試板110具有一第一通信介面以與主控裝置120通信，及一第二通信介面以與一待測試TDDI觸控模組10通信；且主控裝置120具有一顯示幕121以顯示一測試表單，及一輸入單元122以供操作者進行輸入操作以啟動一測試程序，其中輸入單元122可為一鍵盤裝置或一觸控裝置。該測試程序包括：
(一)主控裝置120傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給觸控測試板110；
(二)觸控測試板110驅使待測試TDDI觸控模組10感測待測試TDDI觸控模組10之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值並將該銅柱觸碰感測值傳回觸控測試板110，亦即，可感測該感測面上之一節點、部分節點或全部的節點的銅柱觸碰感測值；以及
(三)觸控測試板110依該報點閾值及該抖動幅度閾值判斷該銅柱觸碰感測值是否合格。
詳細而言，觸控測試板110可利用一台感應量測試夾具，其包括模擬手指觸控作用的接地銅柱（一般為9mm直徑），觸碰待測試TDDI觸控模組10之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值。
另外，觸控測試板110可實現以下的功能：給待測試TDDI觸控模組10的觸控驅動IC燒錄韌體；接收待測試TDDI觸控模組10傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
另外，主控裝置120可通過在顯示幕121上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，以及儲存測試結果報表(log)等。另外，主控裝置120還可在顯示幕121上彈出提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
亦即，本發明的測試原理在於：
將待測試TDDI觸控模組10的合格條件設為：該銅柱觸碰感測值須大於該報點閾值，且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度須小於該抖動幅度閾值。
依此，本發明即可避免過殺或漏殺的測試結果，從而提升TDDI觸控模組的量產良率。
依上述的說明可知，本發明揭露了一種TDDI觸控模組測試方法。請參照圖2，其繪示本發明之TDDI觸控模組測試方法之一實施例之流程圖。如圖2所示，該方法包括：利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板(步驟a)；該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板(步驟b)；以及該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格(步驟c)。
在上述的步驟中，該觸控測試板具有一第一通信介面以與該主控裝置通信，及一第二通信介面以與該待測試TDDI觸控模組通信；該觸控測試板可利用一台感應量測試夾具之接地銅柱觸碰該待測試TDDI觸控模組之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值；且該主控裝置具有一顯示幕以顯示一測試表單，及一輸入單元以供操作者進行輸入操作以啟動該測試方法之流程。
另外，該觸控測試板可實現以下的功能：給該待測試TDDI觸控模組的觸控驅動IC燒錄一韌體程式；接收該待測試TDDI觸控模組傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
另外，該主控裝置可通過在該顯示幕上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，以及儲存一測試結果報表。另外，該主控裝置還可在該顯示幕上彈出一提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
藉由前述所揭露的設計，本發明乃具有以下的優點：
一、本發明之TDDI觸控模組測試方法可避免過殺或漏殺的測試結果，從而提升TDDI觸控模組的量產良率。
二、本發明之TDDI觸控模組測試系統可避免過殺或漏殺的測試結果，從而提升TDDI觸控模組的量產良率。
本案所揭示者，乃較佳實施例，舉凡局部之變更或修飾而源於本案之技術思想而為熟習該項技藝之人所易於推知者，俱不脫本案之專利權範疇。
綜上所陳，本案無論目的、手段與功效，皆顯示其迥異於習知技術，且其首先發明合於實用，確實符合發明之專利要件，懇請 貴審查委員明察，並早日賜予專利俾嘉惠社會，是為至禱。
10:待測試TDDI觸控模組
110:觸控測試板
120:主控裝置
121:顯示幕
122:輸入單元
步驟a:利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板。
步驟b:該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板。
步驟c:該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
圖1繪示本發明之TDDI觸控模組測試系統之一實施例之電路圖。
圖2繪示本發明之TDDI觸控模組測試方法之一實施例之流程圖。
步驟a:利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板
步驟b:該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板
步驟c:該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格
Claims (12)
- 一種TDDI觸控模組測試方法，其包括： 利用一主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給一觸控測試板； 該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板；以及 該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
- 如請求項1所述之TDDI觸控模組測試方法，其中，該觸控測試板具有一第一通信介面以與該主控裝置通信，及一第二通信介面以與該待測試TDDI觸控模組通信。
- 如請求項1所述之TDDI觸控模組測試方法，其中，該觸控測試板利用一台感應量測試夾具之接地銅柱觸碰該待測試TDDI觸控模組之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值。
- 如請求項1所述之TDDI觸控模組測試方法，其中，該主控裝置具有一顯示幕以顯示一測試表單，及一輸入單元以供操作者進行輸入操作以啟動該測試方法之流程。
- 如請求項1所述之TDDI觸控模組測試方法，其中，該觸控測試板進一步實現以下的功能：給該待測試TDDI觸控模組的觸控驅動IC燒錄一韌體程式；接收該待測試TDDI觸控模組傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
- 如請求項4所述之TDDI觸控模組測試方法，其中，該主控裝置通過在該顯示幕上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，及儲存一測試結果報表；以及該主控裝置在該顯示幕上彈出一提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
- 一種TDDI觸控模組測試系統，其具有一主控裝置及一觸控測試板以執行一測試方法，該測試方法包括： 利用該主控裝置傳送一報點閾值及一抖動幅度閾值給該觸控測試板； 該觸控測試板驅使一待測試TDDI觸控模組感測該待測試TDDI觸控模組之一感測面上之至少一感測點之銅柱觸碰感測值，並將該銅柱觸碰感測值傳回該觸控測試板；以及 該觸控測試板在該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值且該銅柱觸碰感測值大於該報點閾值的幅度小於該抖動幅度閾值時判定該待測試TDDI觸控模組為合格，否則判定該待測試TDDI觸控模組為不合格。
- 如請求項7所述之TDDI觸控模組測試系統，其中，該觸控測試板具有一第一通信介面以與該主控裝置通信，及一第二通信介面以與該待測試TDDI觸控模組通信。
- 如請求項7所述之TDDI觸控模組測試系統，其中，該觸控測試板利用一台感應量測試夾具之接地銅柱觸碰該待測試TDDI觸控模組之該感測面以產生該銅柱觸碰感測值。
- 如請求項7所述之TDDI觸控模組測試系統，其中，該主控裝置具有一顯示幕以顯示一測試表單，及一輸入單元以供操作者進行輸入操作以啟動該測試方法之流程。
- 如請求項7所述之TDDI觸控模組測試系統，其中，該觸控測試板進一步實現以下的功能：給該待測試TDDI觸控模組的觸控驅動IC燒錄一韌體程式；接收該待測試TDDI觸控模組傳回的該銅柱觸碰感測值；及對該待測試TDDI觸控模組下測試命令。
- 如請求項10所述之TDDI觸控模組測試系統，其中，該主控裝置通過在該顯示幕上顯示該測試表單以供操作者設置測試項目、該報點閾值及該抖動幅度閾值，及儲存一測試結果報表；以及該主控裝置在該顯示幕上彈出一提示框以提醒操作者按照測試步驟進行操作。
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI841252B true TWI841252B (zh) | 2024-05-01 |
Family
ID=
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20210397327A1 (en) | 2020-06-17 | 2021-12-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Touch screen controller, touch screen driving circuit including the same and touch screen system |
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20210397327A1 (en) | 2020-06-17 | 2021-12-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Touch screen controller, touch screen driving circuit including the same and touch screen system |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI835631B (zh) | 積體電路板失效檢測 | |
| JP2003114260A5 (zh) | ||
| WO2014108048A1 (zh) | 触摸屏模组的测试装置和方法以及触摸屏模组 | |
| TW201435694A (zh) | 觸控裝置及其觸控偵測方法 | |
| TWI621191B (zh) | 晶圓測試機台的遠端監控方法及系統 | |
| TWI841252B (zh) | Tddi觸控模組測試方法及系統 | |
| US20070018653A1 (en) | Apparatus and method for testing system board | |
| US20140159764A1 (en) | Systems and methods for fracture detection in an integrated circuit | |
| WO2018028034A1 (zh) | 一种基于磁性开关的半成品触摸屏测试机 | |
| TW201736814A (zh) | 壓力測量方法以及壓力測量裝置 | |
| JP2020030073A (ja) | 電子製品の評価方法および評価装置 | |
| TWI399550B (zh) | 測試系統及方法 | |
| TW201539006A (zh) | 測試裝置以及測試系統 | |
| WO2010150322A1 (ja) | Ａｃカップリング入力バッファのテスト方法、テストシステム及び半導体集積回路 | |
| TWI488246B (zh) | 資源整合及晶片測試方法 | |
| CN108919023A (zh) | 一种高密度封装键合丝瞬时触碰加电检测方法 | |
| US20120126836A1 (en) | Microelectromechanical structure (mems) monitoring | |
| TWI547700B (zh) | 晶片之輸入/輸出介面識別方法 | |
| JP5254898B2 (ja) | 半導体検査方法 | |
| JP2017116556A (ja) | 不良検出装置及び不良検出方法 | |
| CN207232945U (zh) | 一种基于缺陷模式的故障检测测试系统 | |
| KR101750446B1 (ko) | 핀미스 검사 장치 및 방법 | |
| TW201514507A (zh) | 觸摸按鍵的測試系統及其方法 | |
| KR101928016B1 (ko) | 미세 전류 감지 기술을 적용한 가스 터빈 이산화탄소 소화 설비 시스템 | |
| JP2016176958A (ja) | 不良検出装置及び不良検出方法 |