CN113450865B - 存储器测试系统及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本公开是关于一种存储器测试系统及其测试方法，所述存储器测试系统包括：多个测试装置、上位机和驱动模块；每个所述测试装置上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器；所述上位机分别和多个所述测试装置连接，所述上位机用于控制所述测试装置对所述待测试存储器进行测试；所述驱动模块和所述测试装置连接，所述驱动模块向所述测试装置输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互。提高了存储器测试的效率。

Description

存储器测试系统及其测试方法
技术领域
本公开涉及存储器技术领域，具体而言，涉及一种存储器测试系统及其测试方法。
背景技术
随着技术的发展和进步，存储器在各类电子设备中的应用越来越广泛。在存储器的生产和制造过程中，为了降低存储器故障率和次品率，往往需要对存储器进行测试，因此亟需一种存储器测试系统及存储器测试方法。
需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种存储器测试系统及存储器测试方法，进而能够对存储器进行测试。
根据本公开的第一方面，提供一种存储器测试系统，所述存储器测试系统包括：
多个测试装置，每个所述测试装置上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器；
上位机，所述上位机分别和多个所述测试装置连接，所述上位机用于控制所述测试装置对所述待测试存储器进行测试；
驱动模块，所述驱动模块和所述测试装置连接，所述驱动模块用于向所述测试装置输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试系统包括多个驱动模块，每个所述测试装置连接一所述驱动模块。
根据本公开的一实施方式，所述驱动模块包括：
第一驱动单元，所述第一驱动单元用于向所述测试装置发送第一驱动信号，所述第一驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互；
测试单元，所述测试单元用于存储测试程序。
根据本公开的一实施方式，所述上位机包括：
第二驱动单元，所述上位机通过所述第二驱动单元和所述测试装置连接，所述第二驱动单元用于响应所述第一驱动信号，向所述测试装置发送第二驱动信号以实现所述测试装置和所述上位机的数据交互。
根据本公开的一实施方式，所述上位机和所述测试装置通过有线连接或者无线连接的方式连接。
根据本公开的一实施方式，所述测试装置为台基于UEFI的存储器验证平台；
所述测试装置还包括：
存储单元，所述存储单元用于存储所述待测试存储器的测试结果。
根据本公开的第二方面，提供一种存储器测试方法，所述存储器测试方法包括：
发送测试请求，所述测试请求用于请求连接上位机；
接收测试指令，所述测试指令为所述上位机根据所述测试请求发送的信号；
基于所述测试指令，判断驱动模块中是否具有第一预设测试策略；
当所述驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过所述第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果；
当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从所述上位机获取第一初始测试策略，并通过所述第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
将所述第一测试结果发送至所述上位机，所述上位机用于根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试；
当需要进行第二测试策略测试时，接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略对所述待测试存储器进行测试，以获取第二测试结果。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
存储所述第一测试结果至存储单元。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
利用驱动模块，连接所述上位机，以实现和所述上位机的数据交互。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
从所述驱动模块加载测试程序，利用所述测试程序对待测试存储器进行测试。
根据本公开的第三方面，提供一种存储器测试方法，所述存储器测试方法包括：
接收测试请求，所述测试请求为测试装置所发送；
根据所述测试请求，向所述测试装置发送测试指令；
当接收到测试策略请求时，向所述测试装置发送第一初始测试策略，所述第一初始测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
接收第一测试结果，所述第一测试结果为测试装置通过第一预设测试策略或者第一初始测试策略对所述待测试存储器进行测试的结果；
根据所述第一测试结果，判断是否需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试；
当需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送第二测试策略，所述第二测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
根据本公开的一实施方式，所述存储器测试方法还包括：
当不需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送结束测试指令。
根据本公开的一实施方式，所述测试策略请求为当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，所述测试装置向上位机发送的请求。
本公开实施例提供的存储器测试系统，通过驱动模块驱动测试装置和上位机连接，实现了上位机和测试装置的数据交互，进而可以实现上位机对测试装置的控制，以及测试装置的测试结果在上位机上的展示，提高了存储器测试的效率，并且使得存储器测试结果能够在上位机上直观的展示。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
通过参照附图来详细描述其示例实施例，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。
图1为本公开示例性实施例提供的第一种存储器测试系统的示意图；
图2为本公开示例性实施例提供的第二种存储器测试系统的示意图；
图3为本公开示例性实施例提供的第三种存储器测试系统的示意图；
图4为本公开示例性实施例提供的第一种存储器测试方法的流程图；
图5为本公开示例性实施例提供的第二种存储器测试方法的流程图；
图6为本公开示例性实施例提供的第三种存储器测试方法的流程图；
图7为本公开示例性实施例提供的第四种存储器测试方法的流程图；
图8为本公开示例性实施例提供的第五种存储器测试方法的流程图；
图9为本公开示例性实施例提供的一种存储器测试系统的工作流程图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。
此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、材料、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个软件硬化的模块中实现这些功能实体或功能实体的一部分，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
本公开示例性实施例首先提供一种存储器测试系统，如图1所示，所述存储器测试系统包括多个测试装置120、上位机110和驱动模块130，每个所述测试装置120上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器210，以实现所述测试装置120和所述待测试存储器210的数据交互；所述上位机110分别和多个所述测试装置120连接，所述上位机110用于控制所述测试装置120对所述待测试存储器210进行测试；所述驱动模块130和所述测试装置120连接，所述驱动模块130向所述测试装置120输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置120和所述上位机110进行数据交互。
本公开实施例提供的存储器测试系统，通过驱动模块130驱动测试装置120和上位机110连接，实现了上位机110和测试装置120的数据交互，进而可以实现上位机110对测试装置120的控制，以及测试装置120的测试结果在上位机110上的展示，提高了存储器测试的效率，并且使得存储器测试结果能够在上位机110上直观的展示。
下面将对本公开实施例提供的存储器测试系统的各组成部分进行详细说明：
测试装置120上设置有测试接口，该测试接口用于连接待测试存储器210，在测试时可以将待测试存储器210插接在测试接口。示例的，测试接口可以是设置于测试装置120上的插槽。在一个测试装置120上可以设置一个或多个测试接口。
测试装置120可以是基于UEFI(Unified Extensible Firmware Interface，统一可扩展固件接口)的存储器验证平台。该测试装置120可以包括测试电路、存储单元、接口电路和壳体等，测试电路和接口电路连接，测试电路设于壳体的内部。在壳体的外壁上设置有通孔，接口电路可以设置于该通孔位置处，待测试存储器210通过该通孔连接接口电路。待测试存储器210还可以通过卡槽式连接器和贴片式连接器连接测试装置120。
通常存储器的故障可以包括固定故障、状态转换故障、耦合故障、图形敏感故障、寻址故障、读写放大故障和存储阵列故障等。
本公开实施例中的测试电路可以用于检测上述故障，相应的，在测试装置120、驱动模块130或者上位机110中存储有对应的测试策略和/或测试程序，在测试时可以根据测试需求或者存储器的实际故障基于测试程序调用对应的测试策略进行测试。还可以通过在上位机110动态输入测试策略，以实现对存储器的实时动态测试。
示例的，可以根据测试数据类型和测试用例选择测试方法，比如，棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法等。在选择测试策略时还需要确定单核或者多核测试，测试时间、测试存储器区间、CPU的缓存关闭与打开和测试循环次数等。比如，例如，对于一待测试存储器可以顺序进行上述的测试，在进行全部测试类型测试时，蝴蝶算法测试出错的次数较多。此时可以调整测试策略，调整测试为只有蝴蝶算法的测试策略，然后进一步做出分析。例如，发现高速缓冲存储器(cache)打开的情况下测试成功概率较低，可以实时打开CPU的高速缓冲存储器，再做进一步测试。
驱动模块130和所述测试装置120连接，所述驱动模块130向所述测试装置120输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置120和所述上位机110进行数据交互。
其中，每个所述测试装置120连接一所述驱动模块130，或者多个测试装置120可以共用一个驱动模块130，或者本公开实施例对此不做具体限定。也即是可以通过一个驱动模块130驱动一个测试装置120，或者可以通过一个驱动模块130驱动多个测试装置120。
如图2所示，所述驱动模块130包括第一驱动单元131和测试单元132，所述第一驱动单元131向所述测试装置120发送第一驱动信号，所述第一驱动信号用于驱动所述测试装置120和所述上位机110进行数据交互；所述测试单元132用于存储测试程序。
示例的，测试装置120可以是台式机或者笔记本电脑等计算机设备，驱动模块130可以是启动盘，启动盘可以是放在外面的U盘或者移动硬盘，一般和测试装置120一一对应，启动盘里存储有驱动程序和测试程序，需要测试的时候将启动盘连接测试装置120，测试装置120通过加载驱动程序连接上位机110，然后由上位机110控制测试装置120加载测试程序对待测试存储器进行测试。
上位机110可以包括：第二驱动单元111，所述上位机通过第二驱动单元111和所述测试装置120连接，所述第二驱动单元111用于响应所述第一驱动信号，向所述测试装置发送第二驱动信号以实现所述测试装置120和所述上位机110的数据交互。
在上位机110的第二驱动单元111内配置有驱动程序，该驱动程序驱动上位机110和测试装置120连接，上位机110还可以包括但不限于：上述至少一个处理单元、上述至少一个存储单元、连接不同系统组件(包括存储单元和处理单元)的总线、显示单元和交互单元。
存储单元还可以包括具有一组(至少一个)程序模块的程序/实用工具，这样的程序模块包括但不限于：操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。
总线可以为表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储单元总线或者存储单元控制器、外围总线、图形加速端口、处理单元或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。
显示单元可以用于显示存储器测试结果，交互单元可以是鼠标或者键盘等设备，通过鼠标键盘等设备能够将测试指令等输入上位机110，以控制测试装置120进行测试。
如图3所示，测试装置120还可以包括存储单元121，存储单元121用于存储存储器测试结果。当测试装置120为台式机或者笔记本电脑时，存储单元121可以是笔记本电脑或者台式机的硬盘，或者和台式机、笔记本电脑连接的移动硬盘等。
所述测试装置120为基于UEFI的存储器验证平台，UEFI是传统BIOS的替代产物。测试装置120还可以包括但不限于：至少一个处理单元、至少一个存储单元、连接不同系统组件(包括存储单元和处理单元)的总线、显示单元和交互单元中的一种或多种的组合。
在此基础上，测试装置120的主板支持UEFI启动，UEFI建立在被称为平台初始化(Platform Initialization，简称PI)标准的框架之上。PI标准为前期硬件初始化提供了标准流程和架构。
存储单元121可以包括易失性存储单元形式的可读介质，例如随机存取存储单元(RAM)和/或高速缓存存储单元，还可以进一步包括只读存储单元(ROM)。其中，所述存储单元121可存储测试程序，所述测试程序可以被测试装置120的处理单元执行，使得所述处理单元执行存储器各类测试的步骤。
上位机110也可以与一个或多个外部设备(例如测试装置120等)通信，和/或与使得该上位机110能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如路由器、调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口进行。并且，上位机110还可以通过网络适配器与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信，以实现和测试装置120的连接。
所述上位机110和所述测试装置120通过有线连接或者无线连接的方式连接。比如，上位机110可以通过网络、串口、USB等介质连接测试装置120，上位机110可以精确控制每一台的测试输入数据，并且查看每一台的测试输出数据及结果。
应当注意，尽管在上文详细描述中提及了存储器测试系统的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。
本公开实施例提供的存储器测试系统，通过驱动模块130驱动测试装置120和上位机110连接，实现了上位机110和测试装置120的数据交互，进而可以实现上位机110对测试装置120的控制，以及测试装置120的测试结果在上位机110上的展示，提高了存储器测试的效率，并且使得存储器测试结果能够在上位机110上直观的展示。
本公开示例性实施例还一种存储器测试方法，用于上述的存储器测试系统的测试装置，如图4所示，所述存储器测试方法包括如下步骤：
步骤S410，发送测试请求，所述测试请求用于请求连接上位机。
步骤S420，接收测试指令，所述测试指令为所述上位机根据所述测试请求发送的信号，所述测试指令用于指示测试装置开始测试。
步骤S430，基于所述测试指令，判断驱动模块中是否具有第一预设测试策略。
步骤S440，当所述驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过所述第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
步骤S450，当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从所述上位机获取第一初始测试策略，并通过所述第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
本公开实施例提供的存储器测试方法，通过向上位机发送测试请求，连接上位机，接收上位机返回的测试指令，测试指令为上位机根据所述测试请求发送的信号，测试指令用于指示测试装置开始测试，当驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果，当驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从上位机获取第一初始测试策略，并对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。实现了存储器的测试，提高了存储器测试的效率，并且使得存储器测试结果能够在上位机上直观的展示。
为了进一步测试存储器的性能，如图5所示，本公开实施例提供的储器测试方法还可以包括如下步骤：
步骤S460，将所述第一测试结果发送至所述上位机，所述上位机用于根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试；
步骤S470，当需要进行第二测试策略测试时，接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略对所述待测试存储器进行测试，以获取第二测试结果。
通过第一测试结果发送至所述上位机，上位机根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试，当需要进行第二测试策略测试时，测试装置接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略进行测试。实现了对存储器性能的进一步测试。
进一步的，如图6所示，本公开实施例提供的储器测试方法还可以包括如下步骤：
步骤S480，存储所述第一测试结果，所述第一测试结果存储于所述测试装置的存储单元内。
步骤S490，利用驱动模块，连接所述上位机，以实现和所述上位机的数据交互。
在步骤S410中，可以发送测试请求，所述测试请求用于请求连接上位机。
其中，需要进行待测试存储器的测试时，测试装置向上位机发送测试请求，上位机接收测试请求，进而将发送测试请求的测试装置加入测试队列。当具有多个测试装置时，只有发送测试请求的测试装置能够实现和上位机的数据交互。上位机被配置为实时监听测试装置的测试请求，当上位机监听到数据请求后允许测试装置加入测试队列，进行存储器测试。
在步骤S420中，可以接收测试指令，所述测试指令为所述上位机根据所述测试请求发送的信号，所述测试指令用于指示测试装置开始测试。
其中，当上位机接收到测试请求时，上位机向测试装置发送测试指令，该测试指令用于指示测试装置进行存储器测试。并且当测试装置接收到测试指令时，表明测试装置和上位机的连接完成，能够进行数据交互，测试装置接收到测试指令后，开始对待测试存储器进行测试。
在步骤S430中，可以基于所述测试指令，判断驱动模块中是否具有第一预设测试策略。
在步骤S440中，当所述驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过所述第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
其中，测试装置调用驱动模块中的第一预设测试策略，其中，第一预设测试策略可以是任意一种或多种存储器测试策略，比如，第一预设测试策略而可以是棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法中的任意一个或多个，本公开实施例对此不做具体限定。当然第一预设策略也可以是用户根据测试需求所指定的测试策略。
当测试装置在驱动模块中获取到第一预设测试策略时，测试装置根据该第一预设测试策略测试存储器进行测试，测试装置运行第一预设测试策略，进而得到第一测试结果。
步骤S450，当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从所述上位机获取第一初始测试策略，并通过第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
其中，在测试装置从驱动模块内调用第一预设策略，而驱动模块中不存在第一预设测试策略时，测试装置从上位机中获取测试策略。从上位机获取测试策略后，通过该测试策略进行测试，进而获得待测试存储器的第一测试结果。
第一初始测试策略可以是任意一种或多种存储器测试策略，比如，第一预设测试策略而可以是棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法中的任意一个或多个，本公开实施例对此不做具体限定。
在步骤S460中，将所述第一测试结果发送至所述上位机110，所述上位机110用于根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试。
步骤S460可以在步骤S450之后执行，由于存储器需要通过多项测试才能确定是否合格，并且第二项测试往往和第一项测试的结果有关。示例的，当第一项测试为合格时，可以执行第二项测试；当第一项测试为不合格时，需要执行第三项测试以确定具体故障。比如，首先进行0/1读写测试，当0/1读写测试合格时，执行棋盘算法测试；当0/1读写测试不合格时，进行跃步测试等。
第一预设测试策略或者第一初始测试策略可以是对于一待测试存储器顺序进行多个测试。在第一测试结果中，发现多个测试方法中的某一测试时故障较多，此时第二测试策略可以是以该故障较多的测试进行测试。
比如，在进行全部测试类型测试时，蝴蝶算法测试出错的次数较多。此时可以调整测试策略，调整测试为只有蝴蝶算法的测试策略，然后进一步做出分析。例如，发现高速缓冲存储器(cache)打开的情况下测试成功概率较低，可以实时打开CPU的高速缓冲存储器，再做进一步测试。
步骤S470，当需要进行第二测试策略测试时，接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略对所述待测试存储器进行测试，以获取第二测试结果。
当需要第二测试策略测试时，上位机根据第一测试结果向测试装置发送第二测试策略。测试装置接收第二测试策略，并通过所述第二测试策略进行测试。
其中，第二测试策略而可以是棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法中的任意一个或多个，具体的第二测试策略需要根据第一测试结果确定。当然在实际应用中，第二测试策略也可以通过经验确定，本公开实施例并不以此为限。
步骤S480，存储所述第一测试结果，所述第一测试结果存储于所述存储单元。
其中，在测试装置内设置有存储单元，在测试装置测试获得待测试存储器的测试结果后，可以将测试结果存储于存储单元。当存储单元为台式机或者笔记本电脑的硬盘时，测试结果被存储于该硬盘。
在步骤S490中，可以利用驱动模块，连接所述上位机，以实现和所述上位机的数据交互。
步骤S490可以在步骤S410之前执行，驱动模块向所述测试装置输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行电连接。每个所述测试装置连接一所述驱动模块，或者多个测试装置可以共用一个驱动模块，或者本公开实施例对此不做具体限定。也即是可以通过一个驱动模块驱动一个测试装置，或者可以通过一个驱动模块驱动多个测试装置。
进一步的，本公开实施例所提供的存储器测试方法还包括：从所述驱动模块加载测试程序，利用所述测试程序对待测试存储器进行测试。
其中，驱动模块中存储有测试程序，在测试装置和上位机创建数据交互之后，上位机可向测试装置发送测试指令，测试指令用于指示测试装置从驱动模块中加载测试程序至本地，以使得测试装置能够基于获取的第一预设测试策略或第一初始测试策略运行测试程序，对待测试存储区进行测试。
本公开示例性实施例还一种存储器测试方法，用于上述的存储器测试系统的上位机，如图7所示，所述存储器测试方法包括如下步骤：
步骤S710，接收测试请求，所述测试请求为测试装置所发送；
步骤S720，根据所述测试请求，向所述测试装置发送测试指令；
步骤S730，当接收到测试策略请求时，向所述测试装置发送第一初始测试策略，所述第一初始测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
本公开实施例提供的存储器测试方法，通过接收测试装置发送的测试请求，连接测试装置并向测试装置发送测试指令，测试指令用于指示测试装置开始测试，当驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果，当驱动模块中不具有第一预设测试策略时，上位机发送第一初始测试策略，测试装置根据第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。实现了存储器的测试，提高了存储器测试的效率，并且使得存储器测试结果能够在上位机上直观的展示。
进一步的，如图8所示，所述存储器测试方法还包括：
步骤S740，接收第一测试结果，所述第一测试结果为测试装置通过第一预设测试策略或者第一初始测试策略对所述待测试存储器进行测试的结果；
步骤S750，根据所述第一测试结果，判断是否需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试；
步骤S760，当需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送第二测试策略，所述第二测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
步骤S770，当不需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送结束测试指令。
通过第一测试结果发送至所述上位机，上位机根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试，当需要进行第二测试策略测试时，测试装置接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略进行测试。实现了对存储器性能的进一步测试。
在步骤S710中，可以接收测试请求，所述测试请求为测试装置所发送。
其中，需要进行待测试存储器的测试时，测试装置向上位机发送测试请求，上位机接收测试请求，进而将发送测试请求的测试装置加入测试队列。当具有多个测试装置时，只有发送测试请求的测试装置能够实现和上位机的数据交互。上位机被配置为实时监听测试装置的测试请求，当上位机监听到数据请求后允许测试装置加入测试队列，进行存储器测试。
在步骤S720中，可以根据所述测试请求，向所述测试装置发送测试指令。
其中，当上位机接收到测试请求时，上位机向测试装置发送测试指令，该测试指令用于指示测试装置进行存储器测试。并且当测试装置接收到测试指令时，表明测试装置和上位机的连接完成，能够进行数据交互，测试装置接收到测试指令后，开始对待测试存储器进行测试。
在步骤S730中，当接收到测试策略请求时，向所述测试装置发送第一初始测试策略，所述第一初始测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
测试装置可以基于所述测试指令，判断驱动模块中是否具有第一预设测试策略。当所述驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过所述第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
其中，测试装置调用驱动模块中的第一预设测试策略，其中，第一预设测试策略可以是任意一种或多种存储器测试策略，比如，第一预设测试策略而可以是棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法中的任意一个或多个，本公开实施例对此不做具体限定。当然第一预设策略也可以是用户根据测试需求所指定的测试策略。
当测试装置在驱动模块中获取到第一预设测试策略时，测试装置根据该第一预设测试策略测试存储器进行测试，测试装置运行第一预设测试策略，进而得到第一测试结果。当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，测试装置向上位机发送测试策略请求。上位机接收该测试策略请求，并根据测试策略请求向测试装置发送第一初始测试策略。
第一初始测试策略可以是任意一种或多种存储器测试策略，比如，第一预设测试策略而可以是棋盘算法、0/1读写测试、Marching算法、跃步(galloping)算法、蝴蝶(butterfly)算法中的任意一个或多个，本公开实施例对此不做具体限定。
当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从所述上位机获取第一初始测试策略，并通过第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。在测试装置从驱动模块内调用第一预设策略，而驱动模块中不存在第一预设测试策略时，测试装置向上位机发送测试策略请求，上位机响应测试策略请求向测试装置发送第一初始测试策略，。从上位机获取第一初始测试策略后，通过该测试策略进行测试，进而获得待测试存储器的第一测试结果。
在步骤S740中，可以接收第一测试结果，所述第一测试结果为测试装置通过第一预设测试策略或者第一初始测试策略对所述待测试存储器进行测试的结果。
其中，当测试装置通过第一预设测试策略或者第一初始测试策略获得第一测试结果时，可以将该第一测试结果发送至上位机，上位机接收该第一测试结果。
在步骤S750中，可以根据所述第一测试结果，判断是否需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试。
其中，上位机对第一测试结果进行分析，根据分析结果确定是否需要调整测试策略。由于存储器需要通过多项测试才能确定是否合格，并且第二项测试往往和第一项测试的结果有关。示例的，当第一项测试为合格时，可以执行第二项测试；当第一项测试为不合格时，需要执行第三项测试以确定具体故障。比如，首先进行0/1读写测试，当0/1读写测试合格时，执行棋盘算法测试；当0/1读写测试不合格时，进行跃步测试等。
在步骤S760中，当需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送第二测试策略，所述第二测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
当需要第二测试策略测试时，上位机根据第一测试结果向测试装置发送第二测试策略。测试装置接收第二测试策略，并通过所述第二测试策略进行测试。
第一预设测试策略或者第一初始测试策略可以是对于一待测试存储器顺序进行多个测试。在第一测试结果中，发现多个测试方法中的某一测试时故障较多，此时第二测试策略可以是以该故障较多的测试进行测试。
比如，在进行全部测试类型测试时，蝴蝶算法测试出错的次数较多。此时可以调整测试策略，调整测试为只有蝴蝶算法的测试策略，然后进一步做出分析。例如，发现高速缓冲存储器(cache)打开的情况下测试成功概率较低，可以实时打开CPU的高速缓冲存储器，再做进一步测试。
在步骤S770中，当不需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，可以向所述测试装置发送结束测试指令。该结束测试指令用于控制测试装置结束测试。
示例的，以测试装置为基于UEFI的存储器验证平台为例，如图9所示，并结合图1，本公开实施例提供的存储器测试系统的工作流程如下：
上位机110侧，首先执行步骤S911，启动上位机110；上位机110在启动完成之后，执行步骤S912加载驱动；加载驱动后，执行步骤S913，监听测试装置120加入请求，此时上位机110实时监测测试装置120发送的加入请求；然后在执行步骤S914，监听到测试装置120加入请求，向测试装置120发送测试指令；当接收到测试装置120发送的测试结果后，执行步骤S915，调整测试策略，并将调整后的测试策略发送至测试装置120。可以基于历史存储的测试结果以及对应的更新策略，可自动化推荐新策略进行测试。
测试装置120侧，首先执行步骤S921，启动UEFI测试平台；启动测试平台后，执行步骤S922，启动驱动模块130；然后执行步骤S923，加载驱动，并向上位机110发送测试请求；在接收到测试指令后，执行步骤S924，以第一测试策略测试。命令UEFI测试平台检测驱动模块130是否有初始测试策略数据，有的话先直接采用初始测试策略进行测试，否则的话再从上位机110输入新的测试策略；在接收到调整后的测试策略后，执行步骤S925，重复测试并存储测试结果，直至测试停止。其中，步骤S924、S915和S925可以循环执行，直至触发测试结束条件。测试结果后续可以大数据分析存储器那些地方有问题，或者哪些测试方法能高效针对存储器进行验证。
需要说明的是，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
此外，上述附图仅是根据本发明示例性实施例的方法所包括的处理的示意性说明，而不是限制目的。易于理解，上述附图所示的处理并不表明或限制这些处理的时间顺序。另外，也易于理解，这些处理可以是例如在多个模块中同步或异步执行的。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (13)

1.一种存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统包括：
多个测试装置，每个所述测试装置上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器；
上位机，所述上位机分别和多个所述测试装置连接，所述上位机用于控制所述测试装置对所述待测试存储器进行测试；
驱动模块，所述驱动模块包括第一驱动单元和测试单元，所述第一驱动单元用于向所述测试装置发送第一驱动信号，所述第一驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互，所述测试单元用于存储测试程序。
2.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试系统包括多个驱动模块，每个所述测试装置连接一所述驱动模块。
3.如权利要求1所述的存储器测试系统，其特征在于，所述上位机包括：
第二驱动单元，所述上位机通过所述第二驱动单元和所述测试装置连接，所述第二驱动单元用于响应所述第一驱动信号，向所述测试装置发送第二驱动信号以实现所述测试装置和所述上位机的数据交互。
4.如权利要求1-3任一所述的存储器测试系统，其特征在于，所述上位机和所述测试装置通过有线连接或者无线连接的方式连接。
5.如权利要求1-3任一所述的存储器测试系统，其特征在于，所述测试装置为台基于UEFI的存储器验证平台；
所述测试装置还包括：
存储单元，所述存储单元用于存储所述待测试存储器的测试结果。
6.一种存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法包括：
发送测试请求，所述测试请求用于请求连接上位机；
接收测试指令，所述测试指令为所述上位机根据所述测试请求发送的信号；
基于所述测试指令，判断驱动模块中是否具有第一预设测试策略；
当所述驱动模块中具有第一预设测试策略时，通过所述第一预设测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果；
当所述驱动模块中不具有第一预设测试策略时，从所述上位机获取第一初始测试策略，并通过所述第一初始测试策略对待测试存储器进行测试，以获取第一测试结果。
7.如权利要求6所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法还包括：
将所述第一测试结果发送至所述上位机，所述上位机用于根据所述第一测试结果确定是否需要通过第二测试策略进行测试；
当需要进行第二测试策略测试时，接收所述第二测试策略，并通过所述第二测试策略对所述待测试存储器进行测试，以获取第二测试结果。
8.如权利要求6所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法还包括：
存储所述第一测试结果至存储单元。
9.如权利要求6所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法还包括：
利用驱动模块，连接所述上位机，以实现和所述上位机的数据交互。
10.如权利要求9所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法还包括：
从所述驱动模块加载测试程序，利用所述测试程序对待测试存储器进行测试。
11.一种存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法包括：
接收测试请求，所述测试请求为测试装置所发送；
根据所述测试请求，向所述测试装置发送测试指令；
当接收到测试策略请求时，向所述测试装置发送第一初始测试策略，所述第一初始测试策略用于对待测试存储器进行测试；
接收第一测试结果，所述第一测试结果为测试装置通过第一预设测试策略或者第一初始测试策略对所述待测试存储器进行测试的结果；
根据所述第一测试结果，判断是否需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试；
当需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送第二测试策略，所述第二测试策略用于对所述待测试存储器进行测试。
12.如权利要求11所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法还包括：
当不需要通过第二测试策略对所述待测试存储器进行测试时，向所述测试装置发送结束测试指令。
13.如权利要求11所述的存储器测试方法，其特征在于，所述测试策略请求为当驱动模块中不具有第一预设测试策略时，所述测试装置发送的请求。
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