JP2003207542A - 電子テストシステム - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31912—Tester/user interface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- User Interface Of Digital Computer (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 選択可能な仕様を有する、電子デバイス試験
用テストシステムを提供する。 【解決手段】 ユーザは、仕様３２３の複数群４２０、
４３０、４４０から所望の仕様を選択することができ
る。選択された仕様は、次に、テスト結果に適用され、
仕様を適用した結果３１０、３１１、３１２を示す表示
３０９が示される。
用テストシステムを提供する。 【解決手段】 ユーザは、仕様３２３の複数群４２０、
４３０、４４０から所望の仕様を選択することができ
る。選択された仕様は、次に、テスト結果に適用され、
仕様を適用した結果３１０、３１１、３１２を示す表示
３０９が示される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子デバイス、電
気機械デバイス、及び機械デバイスを自動試験する為の
電子システムに関するものである。より具体的には、本
発明はデバイスに実施した試験の結果に対して１つ以上
の仕様の適用を可能とすることに関する。更に具体的に
は、本発明は、試験結果に対して適用する１つの仕様
を、複数仕様からユーザが選択出来るようにすることに
関する。
気機械デバイス、及び機械デバイスを自動試験する為の
電子システムに関するものである。より具体的には、本
発明はデバイスに実施した試験の結果に対して１つ以上
の仕様の適用を可能とすることに関する。更に具体的に
は、本発明は、試験結果に対して適用する１つの仕様
を、複数仕様からユーザが選択出来るようにすることに
関する。
【０００２】
【従来の技術】電子、電気機械、及び機械の複雑なデバ
イスは、通常、自動テストシステムを使用して試験され
ている。このような試験には、各種動作を起動して被試
験デバイス（ＤＵＴ）がこれらを適正に実施できたかど
うかについての結果を記録する検証試験が含まれる。更
にこれらの試験には、温度、圧力及び湿度を様々に組み
合わせた環境にＤＵＴを晒す環境試験も含まれる。その
動作結果は環境の変化に伴って記録される。また、生産
試験等のような他の試験が実施される場合もある。一般
的に、ＤＵＴと、そのＤＵＴに環境的制約及び他の制約
を提供するシステムは、電子的に制御されている。過去
１０年程の間に、この分野において「試験実行（test e
xecutive）」プログラムと呼ばれる様々な自動試験を制
御することが出来るコンピュータプログラムが開発され
てきた。
イスは、通常、自動テストシステムを使用して試験され
ている。このような試験には、各種動作を起動して被試
験デバイス（ＤＵＴ）がこれらを適正に実施できたかど
うかについての結果を記録する検証試験が含まれる。更
にこれらの試験には、温度、圧力及び湿度を様々に組み
合わせた環境にＤＵＴを晒す環境試験も含まれる。その
動作結果は環境の変化に伴って記録される。また、生産
試験等のような他の試験が実施される場合もある。一般
的に、ＤＵＴと、そのＤＵＴに環境的制約及び他の制約
を提供するシステムは、電子的に制御されている。過去
１０年程の間に、この分野において「試験実行（test e
xecutive）」プログラムと呼ばれる様々な自動試験を制
御することが出来るコンピュータプログラムが開発され
てきた。
【０００３】従来技術による試験実行プログラムとして
は、Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社が開
発した内部試験実行プログラムやＮａｔｉｏｎａｌ Ｉ
ｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社が開発したＴＥＳＴＳＴＡＮＤ
ソフトウエアがあげられるが、これは自動化されたプロ
トタイプの、検証又は生産試験システムを、系統化、制
御、及び実行する、即時稼動が可能な試験実行プログラ
ムとして記載されている。従来技術によるＡｇｉｌｅｎ
ｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のプログラムは、グラ
フィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）を使用した
ものではない為、大量のデータを単純な様式で表示する
為のプログラム能力には制約があった。一方ＧＵＩを利
用したＴＥＳＴＳＴＡＮＤソフトウエアは、試験の進行
を判定する為にユーザが複数のウィンドウをスクロール
して行かなければならない。
は、Ａｇｉｌｅｎｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社が開
発した内部試験実行プログラムやＮａｔｉｏｎａｌ Ｉ
ｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社が開発したＴＥＳＴＳＴＡＮＤ
ソフトウエアがあげられるが、これは自動化されたプロ
トタイプの、検証又は生産試験システムを、系統化、制
御、及び実行する、即時稼動が可能な試験実行プログラ
ムとして記載されている。従来技術によるＡｇｉｌｅｎ
ｔ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のプログラムは、グラ
フィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）を使用した
ものではない為、大量のデータを単純な様式で表示する
為のプログラム能力には制約があった。一方ＧＵＩを利
用したＴＥＳＴＳＴＡＮＤソフトウエアは、試験の進行
を判定する為にユーザが複数のウィンドウをスクロール
して行かなければならない。
【０００４】試験は通常、ＤＵＴが比較される一群の規
定、即ち仕様により定義される。これらの規定、即ち仕
様は、一般的にＤＵＴに印加される電気的、機械的パラ
メータにより定義される各種入力を有し、電圧、電流、
制御及び装置部品の所定の操作はもちろんのこと、温
度、湿度、圧力、及びパラメータを印加する時間等、試
験を実行する環境パラメータ等をも含む。各試験とも、
ＤＵＴの各要素に印加するパラメータの組み合わせが多
数存在し、これらが多数回にわたって繰り返し印加され
ることも多い。パラメータの各組み合わせは、１つ以上
のデータポイントを得る測定を定義するものであり、こ
れらは記録され、その仕様を定義する限界値又はブーリ
アン限界値と比較される。従って、装置がより複雑化す
ればするほど電子テストプログラムは非常に長く複雑と
なり、時には試験を完遂するまでに数日、或いは１週間
以上かかってしまうこともしばしばである。
定、即ち仕様により定義される。これらの規定、即ち仕
様は、一般的にＤＵＴに印加される電気的、機械的パラ
メータにより定義される各種入力を有し、電圧、電流、
制御及び装置部品の所定の操作はもちろんのこと、温
度、湿度、圧力、及びパラメータを印加する時間等、試
験を実行する環境パラメータ等をも含む。各試験とも、
ＤＵＴの各要素に印加するパラメータの組み合わせが多
数存在し、これらが多数回にわたって繰り返し印加され
ることも多い。パラメータの各組み合わせは、１つ以上
のデータポイントを得る測定を定義するものであり、こ
れらは記録され、その仕様を定義する限界値又はブーリ
アン限界値と比較される。従って、装置がより複雑化す
ればするほど電子テストプログラムは非常に長く複雑と
なり、時には試験を完遂するまでに数日、或いは１週間
以上かかってしまうこともしばしばである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】電子デバイスは時に異
なるアプリケーション用の異なる仕様に適合していなけ
ればならない場合もある。例えば、米国空軍へと納入さ
れる電子デバイスは、家庭用或いは商業用の電子デバイ
スとは異なる仕様に準拠していなければならない。これ
までの従来技術においては、ＤＵＴに異なる仕様を用い
ることは出来なかった。従来技術において異なる仕様を
用いるには、異なる仕様を一対一で入力するか、各仕様
群に対して別の試験を実施するかしなければならなかっ
た。
なるアプリケーション用の異なる仕様に適合していなけ
ればならない場合もある。例えば、米国空軍へと納入さ
れる電子デバイスは、家庭用或いは商業用の電子デバイ
スとは異なる仕様に準拠していなければならない。これ
までの従来技術においては、ＤＵＴに異なる仕様を用い
ることは出来なかった。従来技術において異なる仕様を
用いるには、異なる仕様を一対一で入力するか、各仕様
群に対して別の試験を実施するかしなければならなかっ
た。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に基づく選択可能
な仕様を持つ電子テストプログラムは、上述した問題及
びその他の問題を解消し、当該技術に進歩をもたらすも
のである。この電子テストプログラムにより、ユーザは
特定のＤＵＴを試験する為に一群の仕様を選択すること
が可能となる。この仕様群は、試験結果に適用される。
よって、試験の再実行や、仕様の個別の変更を要するこ
となく、異なる仕様を試験結果に適用することが出来る
のである。
な仕様を持つ電子テストプログラムは、上述した問題及
びその他の問題を解消し、当該技術に進歩をもたらすも
のである。この電子テストプログラムにより、ユーザは
特定のＤＵＴを試験する為に一群の仕様を選択すること
が可能となる。この仕様群は、試験結果に適用される。
よって、試験の再実行や、仕様の個別の変更を要するこ
となく、異なる仕様を試験結果に適用することが出来る
のである。
【０００７】本発明は、処理ユニットにより実行される
プロセス及び方法である。当業者には周知のように、本
発明のプロセス又は方法のための命令は、ソフトウエア
命令としてメモリへと記憶することも、固定ハードウエ
アとすることも、また或いはファームウエアとして格納
することも可能である。このアプリケーションの処理
は、本発明に推奨される実施例において以下に説明する
様式で動作する。ユーザは、メニュー中の設定オプショ
ンを選択する。メニューはＧＵＩ上に表示されるツール
バーである。設定オプションが選択されると、仕様オプ
ションを含む複数のオプションを持つメニューが表示さ
れる。
プロセス及び方法である。当業者には周知のように、本
発明のプロセス又は方法のための命令は、ソフトウエア
命令としてメモリへと記憶することも、固定ハードウエ
アとすることも、また或いはファームウエアとして格納
することも可能である。このアプリケーションの処理
は、本発明に推奨される実施例において以下に説明する
様式で動作する。ユーザは、メニュー中の設定オプショ
ンを選択する。メニューはＧＵＩ上に表示されるツール
バーである。設定オプションが選択されると、仕様オプ
ションを含む複数のオプションを持つメニューが表示さ
れる。
【０００８】その後ユーザは表示された設定メニューか
ら仕様オプションを選択する。仕様オプションの選択を
受けると、処理ユニットはどのデバイスがＤＵＴであ
り、どの試験がそのＤＵＴに実施されているかを判断す
る。その後実施されている試験に対応する仕様が判定さ
れ、使用可能な仕様を含むメニューが表示される。
ら仕様オプションを選択する。仕様オプションの選択を
受けると、処理ユニットはどのデバイスがＤＵＴであ
り、どの試験がそのＤＵＴに実施されているかを判断す
る。その後実施されている試験に対応する仕様が判定さ
れ、使用可能な仕様を含むメニューが表示される。
【０００９】ユーザは試験結果に適用するべき仕様を選
択する。プロセッサはその仕様をＤＵＴに実施された試
験結果に適用する。すると表示が更新され、選択した仕
様を試験結果に適用した結果が表示される。
択する。プロセッサはその仕様をＤＵＴに実施された試
験結果に適用する。すると表示が更新され、選択した仕
様を試験結果に適用した結果が表示される。
【００１０】本発明は、デバイスの試験を制御する試験
実行プログラムを提供する製品を提供するものであり、
試験により生成されたデータポイントを評価するための
複数の選択可能な仕様から選択された１つの仕様を処理
ユニットに受信させ、選択された仕様を試験により生成
されたデータポイントに適用させる命令と、そしてそれ
らの命令を記憶した、処理ユニットによる読み出しが可
能な媒体を含むものである。これらの命令は更に、処理
ユニットに使用可能な複数の仕様を表示する要求を受信
させ、使用可能な複数の仕様を判定させ、そしてそれら
複数の仕様を表示させる命令を含んでいることが望まし
い。その要求は表示メニューのオプション選択を含んで
いることが望ましい。そして複数の使用可能な仕様がメ
ニュー上に表示されることが望ましい。また、選択、受
信される仕様は、使用可能な複数の仕様メニューからの
選択として受信されることが望ましい。使用可能な複数
の仕様を判定する命令は、現在試験されているデバイス
を処理ユニットに判定させるように命じる命令を含んで
いることが望ましい。使用可能な複数の仕様を判定する
為の命令は、そのデバイスに実施されている試験を判定
するように処理ユニットに命じる命令を含んでいること
が望ましい。
実行プログラムを提供する製品を提供するものであり、
試験により生成されたデータポイントを評価するための
複数の選択可能な仕様から選択された１つの仕様を処理
ユニットに受信させ、選択された仕様を試験により生成
されたデータポイントに適用させる命令と、そしてそれ
らの命令を記憶した、処理ユニットによる読み出しが可
能な媒体を含むものである。これらの命令は更に、処理
ユニットに使用可能な複数の仕様を表示する要求を受信
させ、使用可能な複数の仕様を判定させ、そしてそれら
複数の仕様を表示させる命令を含んでいることが望まし
い。その要求は表示メニューのオプション選択を含んで
いることが望ましい。そして複数の使用可能な仕様がメ
ニュー上に表示されることが望ましい。また、選択、受
信される仕様は、使用可能な複数の仕様メニューからの
選択として受信されることが望ましい。使用可能な複数
の仕様を判定する命令は、現在試験されているデバイス
を処理ユニットに判定させるように命じる命令を含んで
いることが望ましい。使用可能な複数の仕様を判定する
為の命令は、そのデバイスに実施されている試験を判定
するように処理ユニットに命じる命令を含んでいること
が望ましい。
【００１１】他の態様においては、本発明はデバイスに
実施される試験を制御する試験実行プログラムを提供す
る方法を提供するものであり、方法は、試験により生成
されたデータポイントの評価を行う為に複数の選択可能
な仕様から選択された１つを受信するステップと、そし
て選択された仕様を試験により生成されたデータポイン
トに適用するステップとを含む。更に方法は、使用可能
な複数の仕様の表示要求を受信するステップと、使用可
能な複数の仕様を判定するステップと、そしてその複数
の仕様を表示するステップとを含んでいることが望まし
い。要求は、表示されたメニューのオプションを選択す
ることにより実施されることが望ましい。また、使用可
能な複数の仕様がメニュー上に表示されることが望まし
い。選択された仕様を受信するステップにおいては、そ
の使用可能な複数の仕様のメニューから選択されたもの
を受信することが望ましい。使用可能な複数の仕様を判
定するステップは、被試験デバイスを判定するステップ
を含んでいることが望ましい。使用可能な複数の仕様を
判定するステップは、そのデバイスに適用されている試
験を判定するステップを含んでいることが望ましい。方
法は更に、選択された仕様と比較した結果の表示を更新
するステップを含んでいることが望ましい。
実施される試験を制御する試験実行プログラムを提供す
る方法を提供するものであり、方法は、試験により生成
されたデータポイントの評価を行う為に複数の選択可能
な仕様から選択された１つを受信するステップと、そし
て選択された仕様を試験により生成されたデータポイン
トに適用するステップとを含む。更に方法は、使用可能
な複数の仕様の表示要求を受信するステップと、使用可
能な複数の仕様を判定するステップと、そしてその複数
の仕様を表示するステップとを含んでいることが望まし
い。要求は、表示されたメニューのオプションを選択す
ることにより実施されることが望ましい。また、使用可
能な複数の仕様がメニュー上に表示されることが望まし
い。選択された仕様を受信するステップにおいては、そ
の使用可能な複数の仕様のメニューから選択されたもの
を受信することが望ましい。使用可能な複数の仕様を判
定するステップは、被試験デバイスを判定するステップ
を含んでいることが望ましい。使用可能な複数の仕様を
判定するステップは、そのデバイスに適用されている試
験を判定するステップを含んでいることが望ましい。方
法は更に、選択された仕様と比較した結果の表示を更新
するステップを含んでいることが望ましい。
【００１２】他の態様においては、本発明は電子テスト
システムを提供するものであり、電子テストシステム
は、テストシステム以外の製品に実施するべき試験、試
験から結果として得られた複数のデータポイント及びそ
のデータポイントにアクセスする為の複数の選択可能仕
様群を記憶する媒体と、その選択可能な仕様群の１つを
選択する入力装置と、入力装置に応答して仕様群を受信
し、それをデータポイントと比較するプロセッサと、そ
して比較結果を表示する出力装置と、を含む。入力装置
は、表示装置上のメニューと、そのメニュー上のアイテ
ムを選択する為の手動装置を含むものであることが望ま
しい。出力装置はディスプレイであることが望ましい。
媒体は、電子メモリであることが望ましい。記憶された
試験は、動作試験及び環境試験を含むことが望ましい。
システムを提供するものであり、電子テストシステム
は、テストシステム以外の製品に実施するべき試験、試
験から結果として得られた複数のデータポイント及びそ
のデータポイントにアクセスする為の複数の選択可能仕
様群を記憶する媒体と、その選択可能な仕様群の１つを
選択する入力装置と、入力装置に応答して仕様群を受信
し、それをデータポイントと比較するプロセッサと、そ
して比較結果を表示する出力装置と、を含む。入力装置
は、表示装置上のメニューと、そのメニュー上のアイテ
ムを選択する為の手動装置を含むものであることが望ま
しい。出力装置はディスプレイであることが望ましい。
媒体は、電子メモリであることが望ましい。記憶された
試験は、動作試験及び環境試験を含むことが望ましい。
【００１３】本発明は１つの試験に複数の異なる仕様群
を適用することが出来るだけではなく、他にも多くの利
点がある。例えば、新しい顧客から違う仕様群を提供さ
れた場合において、既に試験が実施され、結果が記憶さ
れた製品が存在すれば、迅速にその顧客を満足させる製
品がどれであるかを判断することが出来る。本発明の他
の利点及び用途は、以下の詳細説明を読むことにより明
らかとなる。
を適用することが出来るだけではなく、他にも多くの利
点がある。例えば、新しい顧客から違う仕様群を提供さ
れた場合において、既に試験が実施され、結果が記憶さ
れた製品が存在すれば、迅速にその顧客を満足させる製
品がどれであるかを判断することが出来る。本発明の他
の利点及び用途は、以下の詳細説明を読むことにより明
らかとなる。
【００１４】本発明の上述及びその他の特徴は、以下の
説明及び添付図に記載、図示されている。
説明及び添付図に記載、図示されている。
【００１５】
【発明の実施の形態】本発明は電子的試験実行プログラ
ムに関する。図１は本発明に基づく試験実行プログラム
を実行するコンピュータシステム１００を描いたもので
ある。コンピュータシステム１００は、メモリ１０１、
マイクロプロセッサ１０２、入力装置１０４、そして出
力装置１０６を含む。メモリ１０１は電気線１１０を介
してマイクロプロセッサ１０２と通信するものである。
メモリ１０１はリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）のよう
な不揮発性メモリ又はランダムアクセスメモリ（ＲＡ
Ｍ）のような揮発性メモリとすることが出来る。入力装
置１０４は電気線１１２を介してマイクロプロセッサ１
０２と通信する。入力装置１０４はキーボード、マウ
ス、ジョイスティック、又はユーザがデータ入力を行う
ことが出来るその他の装置及びソフトウエアドライバと
することが出来る。
ムに関する。図１は本発明に基づく試験実行プログラム
を実行するコンピュータシステム１００を描いたもので
ある。コンピュータシステム１００は、メモリ１０１、
マイクロプロセッサ１０２、入力装置１０４、そして出
力装置１０６を含む。メモリ１０１は電気線１１０を介
してマイクロプロセッサ１０２と通信するものである。
メモリ１０１はリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）のよう
な不揮発性メモリ又はランダムアクセスメモリ（ＲＡ
Ｍ）のような揮発性メモリとすることが出来る。入力装
置１０４は電気線１１２を介してマイクロプロセッサ１
０２と通信する。入力装置１０４はキーボード、マウ
ス、ジョイスティック、又はユーザがデータ入力を行う
ことが出来るその他の装置及びソフトウエアドライバと
することが出来る。
【００１６】一実施例においては、本発明の試験実行プ
ログラムは命令としてメモリ１０１中に記憶されてい
る。当業者には明らかなように、命令はマイクロプロセ
ッサ１０２により読み出して実行することが可能なコン
ピュータソフトウエアとして、及び／又はファームウエ
アとして記憶しておくことが出来る。試験実行プログラ
ムにより実施された試験結果は出力装置１０６上に表示
される。出力装置１０６とは、表示装置及びアプリケー
ションによるユーザへの画像表示を可能とする付随のド
ライバである。当業者には周知のように、表示装置は従
来の陰極線管モニタ又は液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）と
することが出来る。実際にどの表示装置を使用するか
は、本発明の目的においては問題ではない。
ログラムは命令としてメモリ１０１中に記憶されてい
る。当業者には明らかなように、命令はマイクロプロセ
ッサ１０２により読み出して実行することが可能なコン
ピュータソフトウエアとして、及び／又はファームウエ
アとして記憶しておくことが出来る。試験実行プログラ
ムにより実施された試験結果は出力装置１０６上に表示
される。出力装置１０６とは、表示装置及びアプリケー
ションによるユーザへの画像表示を可能とする付随のド
ライバである。当業者には周知のように、表示装置は従
来の陰極線管モニタ又は液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）と
することが出来る。実際にどの表示装置を使用するか
は、本発明の目的においては問題ではない。
【００１７】マイクロプロセッサ１０２は、本発明に基
づく試験実行プログラムを実行するものである。マイク
ロプロセッサ１０２は経路１１６を介して被試験デバイ
ス（ＤＵＴ）１０８と通信している。マイクロプロセッ
サ１０２は電気線１１８を通じて試験装置１１７を制御
する。経路１１６を介してマイクロプロセッサ１０２に
より受信された信号は、利用する為にメモリ１０１へと
保存される。
づく試験実行プログラムを実行するものである。マイク
ロプロセッサ１０２は経路１１６を介して被試験デバイ
ス（ＤＵＴ）１０８と通信している。マイクロプロセッ
サ１０２は電気線１１８を通じて試験装置１１７を制御
する。経路１１６を介してマイクロプロセッサ１０２に
より受信された信号は、利用する為にメモリ１０１へと
保存される。
【００１８】当業者には明らかなように、本発明は図１
に概要を示した一般構成と同じ構成を持ついずれの電子
装置によっても実現可能である。これらの電子装置とし
ては、コンピュータシステム、ハードウエアに埋め込ま
れた論理回路、及び電子アナライザが含まれるが、これ
らに限られない。
に概要を示した一般構成と同じ構成を持ついずれの電子
装置によっても実現可能である。これらの電子装置とし
ては、コンピュータシステム、ハードウエアに埋め込ま
れた論理回路、及び電子アナライザが含まれるが、これ
らに限られない。
【００１９】本発明の理解を助ける為に、図２に試験実
行プログラムの階層構造を示した。ブロック図２００は
試験実行プログラムの一実施例における階層化された、
複数レベルの構造を描いたものである。
行プログラムの階層構造を示した。ブロック図２００は
試験実行プログラムの一実施例における階層化された、
複数レベルの構造を描いたものである。
【００２０】第１のレベル２０１は特定のデバイスモデ
ル番号の製品群を試験する為に試験開発者が作成したフ
ァイルである製品モデルに対応するものである。このフ
ァイルはテストプロシージャ（試験手順）及び入力を含
んでいる。第２のレベル２０２は一群のプロシージャで
ある。プロシージャとは、デバイス上で起動するべき試
験の番号付きリスト、シーケンス、或いはスクリプトで
ある。試験２０３は、各プロシージャ２０２において起
動される試験１〜Ｎを含む次のレベルである。そして試
験２０３の各々は、試験２０３において実施されるべき
複数の測定を含んでいる。例えば、試験２０５は測定２
０６を含んでいる。各測定１〜Ｎは１つ以上のデータポ
イント２１４を含む。例えば、測定２０７はデータポイ
ント２１０〜２１２を含む等である。
ル番号の製品群を試験する為に試験開発者が作成したフ
ァイルである製品モデルに対応するものである。このフ
ァイルはテストプロシージャ（試験手順）及び入力を含
んでいる。第２のレベル２０２は一群のプロシージャで
ある。プロシージャとは、デバイス上で起動するべき試
験の番号付きリスト、シーケンス、或いはスクリプトで
ある。試験２０３は、各プロシージャ２０２において起
動される試験１〜Ｎを含む次のレベルである。そして試
験２０３の各々は、試験２０３において実施されるべき
複数の測定を含んでいる。例えば、試験２０５は測定２
０６を含んでいる。各測定１〜Ｎは１つ以上のデータポ
イント２１４を含む。例えば、測定２０７はデータポイ
ント２１０〜２１２を含む等である。
【００２１】プロシージャ２０２の各々は、ソフトウエ
アオブジェクトを構築する為に用いられる書き込まれた
プログラム又はコードにより定義される。一実施例にお
いては、ソフトウエアオブジェクトはコンポーネントオ
ブジェクトモデル、即ちＣＯＭである。ＣＯＭは言語独
立型のコンポーネントアーキテクチャであり、プログラ
ム言語ではない。これは一般的に使用される機能及びサ
ービスを含む為の汎用オブジェクト指向型構造である。
アオブジェクトを構築する為に用いられる書き込まれた
プログラム又はコードにより定義される。一実施例にお
いては、ソフトウエアオブジェクトはコンポーネントオ
ブジェクトモデル、即ちＣＯＭである。ＣＯＭは言語独
立型のコンポーネントアーキテクチャであり、プログラ
ム言語ではない。これは一般的に使用される機能及びサ
ービスを含む為の汎用オブジェクト指向型構造である。
【００２２】試験２０３は、共通のテストアルゴリズム
又は同じテストソフトウエアコードを共有するプロシー
ジャ２０２中の一群の測定である。試験２０３の例とし
ては振幅精度試験や高調波歪試験等が含まれるが、これ
らに限られない。試験実行プログラム２００は、各測定
及びデータポイント毎に試験を繰り返し呼び出すもので
ある。
又は同じテストソフトウエアコードを共有するプロシー
ジャ２０２中の一群の測定である。試験２０３の例とし
ては振幅精度試験や高調波歪試験等が含まれるが、これ
らに限られない。試験実行プログラム２００は、各測定
及びデータポイント毎に試験を繰り返し呼び出すもので
ある。
【００２３】測定２０６は、試験の構成、即ち試験設定
である。試験２０３中の各測定２０６は、異なる設定、
即ち異なる構成パラメータを含むこともある。試験２０
３はパラメータにより実施される。パラメータは測定レ
ベルにおける入力である。測定２０６とは、ボルト範
囲、キロヘルツでの周波数又は高調波（整数）といった
要素である。
である。試験２０３中の各測定２０６は、異なる設定、
即ち異なる構成パラメータを含むこともある。試験２０
３はパラメータにより実施される。パラメータは測定レ
ベルにおける入力である。測定２０６とは、ボルト範
囲、キロヘルツでの周波数又は高調波（整数）といった
要素である。
【００２４】各プロシージャ２０２においては、測定２
０６はプロシージャから試験に送られるデータとして取
り扱われる。測定はまた、試験実行の段階でもある。試
験２０３実行の測定段階においては、測定は開始される
が、データは収集されない。従って、複数のＤＵＴ１０
８を構成し、同時に試験することが出来るのである。
０６はプロシージャから試験に送られるデータとして取
り扱われる。測定はまた、試験実行の段階でもある。試
験２０３実行の測定段階においては、測定は開始される
が、データは収集されない。従って、複数のＤＵＴ１０
８を構成し、同時に試験することが出来るのである。
【００２５】試験２０５と第２の試験２０３は同じ測定
２０６を含む場合がある。例えば、試験２０５が電圧測
定及び周波数測定に関する振幅精度を試験するものであ
るとする。そして第２の試験においても電圧測定及び周
波数測定に関する振幅精度を調べる場合がある。更に周
波数測定に関する高調波歪、又は信号の高調波を試験す
る第３の試験が実施される場合もある。
２０６を含む場合がある。例えば、試験２０５が電圧測
定及び周波数測定に関する振幅精度を試験するものであ
るとする。そして第２の試験においても電圧測定及び周
波数測定に関する振幅精度を調べる場合がある。更に周
波数測定に関する高調波歪、又は信号の高調波を試験す
る第３の試験が実施される場合もある。
【００２６】データポイント２１０〜２１２は測定のサ
ブセットである。これらのデータポイント２１０〜２１
２は、１つの測定が複数の結果を生成した場合に１つの
結果を選択する追加パラメータを含んでいる。例えば、
測定はスペクトラムアナライザの掃引においては最小値
及び最大値を含むものであったり、装置の各チャネルに
対して異なるデータポイントを含むものであったりす
る。各データポイント２１０〜２１２について、値結果
が判定される。データポイントは値結果を仕様と比較す
ることによりアクセスされる。仕様は数的限界、ストリ
ング一致、及び／或いはブーリアン合否である。限界範
囲には３種類あり、これらは境界限界（marginal limi
t）、ライン限界及び顧客限界である。各限界には上限
値及び下限値がある。
ブセットである。これらのデータポイント２１０〜２１
２は、１つの測定が複数の結果を生成した場合に１つの
結果を選択する追加パラメータを含んでいる。例えば、
測定はスペクトラムアナライザの掃引においては最小値
及び最大値を含むものであったり、装置の各チャネルに
対して異なるデータポイントを含むものであったりす
る。各データポイント２１０〜２１２について、値結果
が判定される。データポイントは値結果を仕様と比較す
ることによりアクセスされる。仕様は数的限界、ストリ
ング一致、及び／或いはブーリアン合否である。限界範
囲には３種類あり、これらは境界限界（marginal limi
t）、ライン限界及び顧客限界である。各限界には上限
値及び下限値がある。
【００２７】試験実行プログラムを実行するコンピュー
タシステム１００（図１）の全ての入出力は、ＧＵＩを
介して取り扱われる。図３は、本発明の試験実行プログ
ラムに基づいて出力装置１０６上に表示されたＧＵＩ３
００を示す。ＧＵＩ３００は試験を制御する為に用いら
れるボタン３０１を含んでいる。ユーザに便宜を図る上
で、ボタン３０１にはそれぞれのボタンが提供する機能
を示す印がつけられている。例えば、本発明の推奨され
る実施例によれば、ボタン３０１はテープレコーダボタ
ンのように表示される。この実施例においては、これら
のボタンは、中止（Ａｂｏｒｔ）３０２、試験再スター
ト（Ｔｅｓｔ）３０３、測定再スタート（Ｍｅａｓ）３
０４、一時停止（Ｐａｕｓｅ）３０５、始動（Ｒｕｎ）
３０６、測定スキップ（Ｍｅａｓ）３０７、試験スキッ
プ（Ｔｅｓｔ）３０８となっている。当業者には明らか
なように、この実施例においてはテープレコーダのよう
な記号を利用したが、ボタン３０１の識別には他のいず
れの記号を使用しても良いことは言うまでもない。
タシステム１００（図１）の全ての入出力は、ＧＵＩを
介して取り扱われる。図３は、本発明の試験実行プログ
ラムに基づいて出力装置１０６上に表示されたＧＵＩ３
００を示す。ＧＵＩ３００は試験を制御する為に用いら
れるボタン３０１を含んでいる。ユーザに便宜を図る上
で、ボタン３０１にはそれぞれのボタンが提供する機能
を示す印がつけられている。例えば、本発明の推奨され
る実施例によれば、ボタン３０１はテープレコーダボタ
ンのように表示される。この実施例においては、これら
のボタンは、中止（Ａｂｏｒｔ）３０２、試験再スター
ト（Ｔｅｓｔ）３０３、測定再スタート（Ｍｅａｓ）３
０４、一時停止（Ｐａｕｓｅ）３０５、始動（Ｒｕｎ）
３０６、測定スキップ（Ｍｅａｓ）３０７、試験スキッ
プ（Ｔｅｓｔ）３０８となっている。当業者には明らか
なように、この実施例においてはテープレコーダのよう
な記号を利用したが、ボタン３０１の識別には他のいず
れの記号を使用しても良いことは言うまでもない。
【００２８】この実施例におけるＧＵＩ３００の右側の
領域３１４には、試験結果が表示されている。この実施
例においては、領域３１４には個々の試験の結果３４０
を表示する、一連の行３１５及び列３１６が示されてい
る。列３１７は試験が実行された時間を示す。列３１８
は試験の状態を表示している。列３１９は試験名を表示
するものである。例えば、試験の１つは振幅精度（Ａｍ
ｐｌｉｔｕｄｅ Ａｃｃｕｒａｃｙ）である。列３２０
は試験中に実施された測定の種類を示す。例えばＲａｎ
ｇｅ（レンジ）＝５Ｖｐ，Ｆｒｅｑ（周波数）＝１ｋＨ
ｚ等である。列３２１はチャネル、即ち試験されている
データポイントを表す。例えばＣｈ＝１又はＣｈ＝２等
である。列３２２は値、即ちチャネル（データポイン
ト）の試験結果を表す。列３２３は＋０．２等の仕様を
表す。列３２４は１ｋＨｚ等のパラメータを表示してい
る。
領域３１４には、試験結果が表示されている。この実施
例においては、領域３１４には個々の試験の結果３４０
を表示する、一連の行３１５及び列３１６が示されてい
る。列３１７は試験が実行された時間を示す。列３１８
は試験の状態を表示している。列３１９は試験名を表示
するものである。例えば、試験の１つは振幅精度（Ａｍ
ｐｌｉｔｕｄｅ Ａｃｃｕｒａｃｙ）である。列３２０
は試験中に実施された測定の種類を示す。例えばＲａｎ
ｇｅ（レンジ）＝５Ｖｐ，Ｆｒｅｑ（周波数）＝１ｋＨ
ｚ等である。列３２１はチャネル、即ち試験されている
データポイントを表す。例えばＣｈ＝１又はＣｈ＝２等
である。列３２２は値、即ちチャネル（データポイン
ト）の試験結果を表す。列３２３は＋０．２等の仕様を
表す。列３２４は１ｋＨｚ等のパラメータを表示してい
る。
【００２９】ボタン３２５は、ユーザが所望の試験を見
ることが出来るように、表示された試験の記憶を容易に
するものである。この実施例においては、ボタン３２５
は全結果ボタン（Ａｌｌ）、境界値合格ボタン（Ｍａｒ
ｇ）、及び不合格ボタン（Ｆａｉｌ）を含む。しかしな
がら、データ表示を行う為にどのような追加手段を講じ
ても良いことは当業者には明らかである。領域３３０に
は、実行中のプロシージャの進行状態を示す進行バーが
表示されている。
ることが出来るように、表示された試験の記憶を容易に
するものである。この実施例においては、ボタン３２５
は全結果ボタン（Ａｌｌ）、境界値合格ボタン（Ｍａｒ
ｇ）、及び不合格ボタン（Ｆａｉｌ）を含む。しかしな
がら、データ表示を行う為にどのような追加手段を講じ
ても良いことは当業者には明らかである。領域３３０に
は、実行中のプロシージャの進行状態を示す進行バーが
表示されている。
【００３０】この実施例においては、領域３０９にはプ
ロシージャ領域３０９において実行されている試験を表
す試験ツリー３１３が表示されているが、これは試験、
測定及びデータポイントの階層を含むものである。試験
ツリー３１３は試験の状態（例えばデータポイントの試
験結果）を示すアイコン３１０、３１１、３１２を含ん
でいる。これらのアイコンは、合格、不合格、境界及
び、未試験を示す。一実施例においては、「笑顔」が合
格を示し、「驚いた顔」が境界合格を示し、「しかめ
面」が不合格を示している。プロシージャのアイコンは
プロシージャ全体の状態を表示する。各試験のアイコン
が個々の試験の状態を表す一方で、プロシージャのアイ
コンは、最悪の結果を起用するアルゴリズムにより決定
する。従って試験が１つでも不良となった場合、プロシ
ージャ自体が不良となるのである。
ロシージャ領域３０９において実行されている試験を表
す試験ツリー３１３が表示されているが、これは試験、
測定及びデータポイントの階層を含むものである。試験
ツリー３１３は試験の状態（例えばデータポイントの試
験結果）を示すアイコン３１０、３１１、３１２を含ん
でいる。これらのアイコンは、合格、不合格、境界及
び、未試験を示す。一実施例においては、「笑顔」が合
格を示し、「驚いた顔」が境界合格を示し、「しかめ
面」が不合格を示している。プロシージャのアイコンは
プロシージャ全体の状態を表示する。各試験のアイコン
が個々の試験の状態を表す一方で、プロシージャのアイ
コンは、最悪の結果を起用するアルゴリズムにより決定
する。従って試験が１つでも不良となった場合、プロシ
ージャ自体が不良となるのである。
【００３１】ＧＵＩ３００は更にメニューバー３５０を
含んでいる。メニューバー３５０は試験実行プログラム
を制御する為のメニューオプションのリストを表示する
ものである。メニューバー３５０は、ファイルメニュー
（Ｆｉｌｅ）３５１、モデルファイル（Ｍｏｄｅｌ）３
５２、ＤＵＴメニュー（ＤＵＴ）３５３、設定メニュー
（Ｓｅｔｔｉｎｇｓ）３５４、プラグインメニュー（Ｐ
ｌｕｇ−ｉｎｓ）３５５及びヘルプメニュー（Ｈｅｌ
ｐ）３５６を含んでいる。ファイルメニュー３５１は試
験実行プログラムで利用するファイルの開閉オプション
のリストである。モデルメニュー３５２は試験可能なモ
デル系列のリストを表示するものである。ＤＵＴメニュ
ー３５３は、ＤＵＴを識別する為のＤＵＴモデル、シリ
アル番号、オプション及びその他の情報を入力する画面
を表示するものである。設定メニュー３５４は実行設定
を閲覧及び変更する為のメニューを表示するものであ
る。プラグインメニュー３５５はシステムに搭載された
プラグイン用のユーザインターフェースを表示する。ヘ
ルプメニュー３５６は試験実行プログラムで使用可能な
ヘルプ機能のリストを表示するものである。
含んでいる。メニューバー３５０は試験実行プログラム
を制御する為のメニューオプションのリストを表示する
ものである。メニューバー３５０は、ファイルメニュー
（Ｆｉｌｅ）３５１、モデルファイル（Ｍｏｄｅｌ）３
５２、ＤＵＴメニュー（ＤＵＴ）３５３、設定メニュー
（Ｓｅｔｔｉｎｇｓ）３５４、プラグインメニュー（Ｐ
ｌｕｇ−ｉｎｓ）３５５及びヘルプメニュー（Ｈｅｌ
ｐ）３５６を含んでいる。ファイルメニュー３５１は試
験実行プログラムで利用するファイルの開閉オプション
のリストである。モデルメニュー３５２は試験可能なモ
デル系列のリストを表示するものである。ＤＵＴメニュ
ー３５３は、ＤＵＴを識別する為のＤＵＴモデル、シリ
アル番号、オプション及びその他の情報を入力する画面
を表示するものである。設定メニュー３５４は実行設定
を閲覧及び変更する為のメニューを表示するものであ
る。プラグインメニュー３５５はシステムに搭載された
プラグイン用のユーザインターフェースを表示する。ヘ
ルプメニュー３５６は試験実行プログラムで使用可能な
ヘルプ機能のリストを表示するものである。
【００３２】図４は設定メニュー３５４を選択した場合
に表示される画面を描いたものである。設定メニュー３
５４は「Ｓｅｔｔｉｎｇｓ」という語をクリックするこ
とにより、或いは「ｓ」を打ち込むことにより選択する
ことが出来る。設定メニュー３５４が選択されると、ド
ロップダウンメニュー４００が表示される。ドロップダ
ウンメニュー４００はプログラムの実行設定を変更する
オプションを含んでいる。仕様選択オプション（Ｓｐｅ
ｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ）４１０はドロップダウンメニ
ュー４００中のオプションの１つである。
に表示される画面を描いたものである。設定メニュー３
５４は「Ｓｅｔｔｉｎｇｓ」という語をクリックするこ
とにより、或いは「ｓ」を打ち込むことにより選択する
ことが出来る。設定メニュー３５４が選択されると、ド
ロップダウンメニュー４００が表示される。ドロップダ
ウンメニュー４００はプログラムの実行設定を変更する
オプションを含んでいる。仕様選択オプション（Ｓｐｅ
ｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ）４１０はドロップダウンメニ
ュー４００中のオプションの１つである。
【００３３】ドロップダウンメニュー４００中の仕様メ
ニュー４１０をクリックすることにより、仕様群メニュ
ー４１５が選択される。この仕様メニュー４１０を選択
した場合、仕様ドロップダウンメニュー４１５が表示さ
れる。ドロップダウンメニュー４１５は仕様群（Ｓｐｅ
ｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｓｅｔ）４２０、４３０及び４
４０を含んでいる。当業者には明らかなように、仕様群
４２０、４３０及び４４０にはその仕様が試験する用途
の種別を表す名前をつけておくことが出来る。例えば、
仕様群４２０には「軍用」、仕様群４３０には「商用」
及び仕様群４４０には「小売」というラベルをつけてお
くことが出来る。表示される仕様群は被試験デバイスと
実施される試験によって決まる。
ニュー４１０をクリックすることにより、仕様群メニュ
ー４１５が選択される。この仕様メニュー４１０を選択
した場合、仕様ドロップダウンメニュー４１５が表示さ
れる。ドロップダウンメニュー４１５は仕様群（Ｓｐｅ
ｃｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｓｅｔ）４２０、４３０及び４
４０を含んでいる。当業者には明らかなように、仕様群
４２０、４３０及び４４０にはその仕様が試験する用途
の種別を表す名前をつけておくことが出来る。例えば、
仕様群４２０には「軍用」、仕様群４３０には「商用」
及び仕様群４４０には「小売」というラベルをつけてお
くことが出来る。表示される仕様群は被試験デバイスと
実施される試験によって決まる。
【００３４】仕様群が選択されると、試験実行プログラ
ムはデータポイントにアクセスし、仕様パラメータをデ
ータポイントの試験結果と比較することにより、試験の
結果を表示する。するとＧＵＩ３００は、選択された仕
様群を用いて評価結果を表示する為に更新される。例え
ば、試験ツリー３１３のアイコンが更新され（図３）、
そして領域３１４における「合格」及び「仕様」欄が更
新される。
ムはデータポイントにアクセスし、仕様パラメータをデ
ータポイントの試験結果と比較することにより、試験の
結果を表示する。するとＧＵＩ３００は、選択された仕
様群を用いて評価結果を表示する為に更新される。例え
ば、試験ツリー３１３のアイコンが更新され（図３）、
そして領域３１４における「合格」及び「仕様」欄が更
新される。
【００３５】図５は、本発明の一実施例に基づいて仕様
選択を可能とする処理５００のフローチャートである。
処理５００は、処理ユニットが設定メニュー要求を受信
するステップ５０５から始まる。当業者には周知の通
り、この要求はＧＵＩ３００の設定メニュー表示３５４
をマウスでクリックすることにより、或いは設定メニュ
ー３５４に指定された英数字を入力することにより実施
されるものである。ステップ５１０においては、処理ユ
ニットが設定メニューをドロップダウンメニュー４００
として表示する。ステップ５１５においては、処理ユニ
ットは仕様メニュー４１０要求を受信する。
選択を可能とする処理５００のフローチャートである。
処理５００は、処理ユニットが設定メニュー要求を受信
するステップ５０５から始まる。当業者には周知の通
り、この要求はＧＵＩ３００の設定メニュー表示３５４
をマウスでクリックすることにより、或いは設定メニュ
ー３５４に指定された英数字を入力することにより実施
されるものである。ステップ５１０においては、処理ユ
ニットが設定メニューをドロップダウンメニュー４００
として表示する。ステップ５１５においては、処理ユニ
ットは仕様メニュー４１０要求を受信する。
【００３６】仕様メニュー要求を受信すると、これに応
答してステップ５２０において処理ユニットは被試験デ
バイス（ＤＵＴ）を判定する。ステップ５３０において
は、処理ユニットはＤＵＴに実行されている試験を判定
する。ステップ５３５において、ＤＵＴ及び実行される
試験が判定されるのに応答して、ＤＵＴに実施される試
験に対して使用可能な仕様が判定される。ステップ５４
０において、その試験に対して使用可能な仕様のメニュ
ーが表示される。
答してステップ５２０において処理ユニットは被試験デ
バイス（ＤＵＴ）を判定する。ステップ５３０において
は、処理ユニットはＤＵＴに実行されている試験を判定
する。ステップ５３５において、ＤＵＴ及び実行される
試験が判定されるのに応答して、ＤＵＴに実施される試
験に対して使用可能な仕様が判定される。ステップ５４
０において、その試験に対して使用可能な仕様のメニュ
ーが表示される。
【００３７】ステップ５４５においては、１つの仕様に
対する要求が受信される。要求の受信に応答して、処理
ユニットはその仕様を試験結果に適用する（ステップ５
５０）。その後ステップ５５５において、処理ユニット
が表示を更新して仕様を試験結果に適用した結果を示す
ことにより処理５００が終了する。
対する要求が受信される。要求の受信に応答して、処理
ユニットはその仕様を試験結果に適用する（ステップ５
５０）。その後ステップ５５５において、処理ユニット
が表示を更新して仕様を試験結果に適用した結果を示す
ことにより処理５００が終了する。
【００３８】上述は、仕様の選択を可能とした試験実行
プログラムに推奨される一実施例について説明したもの
である。当業者であれば、本願請求項の文言及び均等論
に照らして本発明の侵害と考え得る仕様選択可能な試験
実行プログラムの他の態様を設計することは可能である
ことが予想される。
プログラムに推奨される一実施例について説明したもの
である。当業者であれば、本願請求項の文言及び均等論
に照らして本発明の侵害と考え得る仕様選択可能な試験
実行プログラムの他の態様を設計することは可能である
ことが予想される。
【図１】本発明に基づく電子テストプログラムを実行す
るハードウエア部品のブロック図である。
るハードウエア部品のブロック図である。
【図２】本発明の実施例に基づく試験実行プログラムの
階層構造を示すブロック図である。
階層構造を示すブロック図である。
【図３】本発明に基づく電子試験実行プログラムのＧＵ
Ｉを示す図である。
Ｉを示す図である。
【図４】本発明に基づく電子試験実行プログラムのＧＵ
Ｉと、仕様選択メニューを示す図である。
Ｉと、仕様選択メニューを示す図である。
【図５】本発明の仕様選択機能を提供するアプリケーシ
ョンのフローチャートである。
ョンのフローチャートである。
１００：電子テストシステム
１０１：記憶媒体
１０２：プロセッサ
１０４：入力装置
１０６：出力装置
１０８：ＤＵＴ
４１５：メニュー
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 クリストファー・ケイ・サットン
アメリカ合衆国ワシントン州98203，エヴ
ァレット，ドーバー・ストリート 5027
Ｆターム(参考） 2G132 AA00 AB01 AB13 AD01 AD04
AE14 AE16 AE18 AE23 AL06
AL25
Claims (10)
- 【請求項１】 製品に実施する試験と前記試験から得ら
れる複数の試験データポイントと前記データポイントに
アクセスする為の仕様とを記憶した記憶媒体と、前記記
憶媒体と通信して前記仕様群を受信し、これらを前記デ
ータポイントと比較するプロセッサと、前記比較の結果
を提示する為の出力装置と、を有する電子テストシステ
ムであって、前記記憶媒体が前記データポイントにアク
セスする為の異なる選択可能な前記仕様群を複数記憶し
たものであり、前記選択可能な仕様群から１つを入力装
置により選択する、ことを特徴とする電子テストシステ
ム。 - 【請求項２】 前記入力装置が、表示装置上のメニュー
と、前記メニュー上のアイテムを選択する為の手動装置
と、を備えていることを特徴とする、請求項１に記載の
電子テストシステム。 - 【請求項３】 前記複数の選択可能な仕様群が、試験を
実施するべき異なるデバイスに各々が対応する第１の複
数の仕様群と、前記デバイスの１つに適用することが出
来る異なる試験に各々が対応する第２の複数の仕様群
と、を備えていることを特徴とする、請求項１に記載の
電子テストシステム。 - 【請求項４】 前記出力装置が表示装置を備え、前記記
憶媒体が電子メモリを備えていることを特徴とする、請
求項１、２又は３に記載の電子テストシステム。 - 【請求項５】 前記記憶された試験が動作試験及び環境
試験を含むことを特徴とする、請求項１、２又は３に記
載の電子テストシステム。 - 【請求項６】 被試験デバイスに実施する試験を制御す
る試験実行プログラムを操作する方法であって、試験に
より生成されたデータポイントを評価する為に、複数の
選択可能な仕様のうち、選択された１つを受信するステ
ップと、前記選択された仕様を前記試験により生成され
た前記データポイントに適用するステップと、を含む方
法。 - 【請求項７】 前記受信するステップが、前記複数の使
用可能な仕様の表示要求を受け入れるステップと、前記
複数の使用可能な仕様を判定するステップと、前記複数
の仕様をメニュー上に表示するステップと、前記複数の
使用可能な仕様から１つを選択するステップと、を含む
ことを特徴とする、請求項６に記載の方法。 - 【請求項８】 前記複数の使用可能な仕様を判定するス
テップが、前記被試験デバイスを判定するステップを含
むことを特徴とする、請求項７に記載の方法。 - 【請求項９】 前記複数の使用可能な仕様を判定するス
テップが、前記被試験デバイスに実施されている前記試
験を判定するステップを含むことを特徴とする、請求項
７に記載の方法。 - 【請求項１０】 被試験デバイスに実施される試験を制
御する為の試験実行プログラムを提供する製品であっ
て、試験により生成されたデータポイントにアクセスす
る為の複数の選択可能な仕様から選択された１つを受信
し、前記選択された仕様を前記試験により生成された前
記データポイントに適用するように処理ユニットに指示
する為の命令と、前記処理ユニットによる読み取りが可
能な、前記命令を記憶した媒体と、を含む製品。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/991020 | 2001-11-15 | ||
| US09/991,020 US20030093718A1 (en) | 2001-11-15 | 2001-11-15 | Electronic test program with selectable specifications |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003207542A true JP2003207542A (ja) | 2003-07-25 |
Family
ID=25536764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002332236A Pending JP2003207542A (ja) | 2001-11-15 | 2002-11-15 | 電子テストシステム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20030093718A1 (ja) |
| EP (1) | EP1312931A3 (ja) |
| JP (1) | JP2003207542A (ja) |
| KR (1) | KR20030040171A (ja) |
| TW (1) | TW200700980A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300324A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | 被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム |
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| JP2006275986A (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Advantest Corp | 診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 |
| US20070162446A1 (en) * | 2006-01-12 | 2007-07-12 | Appenzeller David P | Method of testing a multi-processor unit microprocessor |
| JP5248496B2 (ja) | 2007-06-19 | 2013-07-31 | 株式会社丸仁 | 虹色反射光を持つ再帰性反射材 |
| CN101368991B (zh) * | 2007-08-15 | 2012-01-25 | 鹏智科技(深圳)有限公司 | 电子装置测试装置及方法 |
| TWI453693B (zh) * | 2011-12-16 | 2014-09-21 | Universal Scient Ind Shanghai | 用以自動測試待測物之通訊功能的方法及其電腦可讀取媒體 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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