JP2008523053A - フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体 - Google Patents

フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体 Download PDF

Info

Publication number
JP2008523053A
JP2008523053A JP2007545390A JP2007545390A JP2008523053A JP 2008523053 A JP2008523053 A JP 2008523053A JP 2007545390 A JP2007545390 A JP 2007545390A JP 2007545390 A JP2007545390 A JP 2007545390A JP 2008523053 A JP2008523053 A JP 2008523053A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chemical formula
substituted
fluoroalkylsulfonium
side chain
novel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007545390A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4642860B2 (ja
Inventor
ヘ ウォン イ
ヒ ヤン オ
ヒュン ジン ヨン
ヨン ジル キム
Original Assignee
インダストリー−ユニバーシティー コオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by インダストリー−ユニバーシティー コオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティー filed Critical インダストリー−ユニバーシティー コオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティー
Publication of JP2008523053A publication Critical patent/JP2008523053A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4642860B2 publication Critical patent/JP4642860B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C309/00Sulfonic acids; Halides, esters, or anhydrides thereof
    • C07C309/01Sulfonic acids
    • C07C309/02Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms
    • C07C309/03Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton
    • C07C309/06Sulfonic acids having sulfo groups bound to acyclic carbon atoms of an acyclic saturated carbon skeleton containing halogen atoms, or nitro or nitroso groups bound to the carbon skeleton
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C07ORGANIC CHEMISTRY
    • C07CACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
    • C07C381/00Compounds containing carbon and sulfur and having functional groups not covered by groups C07C301/00 - C07C337/00
    • C07C381/12Sulfonium compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/14Methyl esters, e.g. methyl (meth)acrylate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/12Esters of monohydric alcohols or phenols
    • C08F220/16Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms
    • C08F220/18Esters of monohydric alcohols or phenols of phenols or of alcohols containing two or more carbon atoms with acrylic or methacrylic acids
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F220/00Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
    • C08F220/02Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
    • C08F220/10Esters
    • C08F220/38Esters containing sulfur
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0045Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/039Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
    • G03F7/0392Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists the macromolecular compound being present in a chemically amplified positive photoresist composition

Abstract

本発明はフルオロアルキルスルホニウム光酸発生基を備える新規化合物と、前記新規化合物とメタクリル酸塩単量体をラジカル重合して製造された有機溶媒に対する溶解性が優れた新規の共重合体に関する。

Description

本発明は、フルオロアルキルスルホニウム(fluoroalkylsulfonium)置換された光酸発生基を備える新規化合物、および前記新規化合物とメタクリル酸塩単量体とのラジカル重合により製造された有機溶媒に対する優れた溶解性を備える新規共重合体に関する。
既存のAFMリソグラフィーにおいて、パターン形成は、有機物レジストを用いて自己組織化単分子膜を製造することにより、大部分は遂行されている(非特許文献1、2、3)。
AFMによる酸化パターン形成の工程は、下記の通りである。有機薄膜はケイ素基板上に一定の厚さで形成される。その後、ほぼ数ボルトの電圧は、AFMのチップを用いて局部的に印加され、酸化パターンを形成する。得られた酸化ケイ素は遊離構造(loose structure)を有するので、他の部分よりエッチング速度が非常に早くなる。求めるポジティブパターン(positive pattern)を得るためにエッチング処理を施す間、電圧が印加されなかった有機薄膜の一部がレジストとして用いられ得る。しかしながら、実際には、基板と化学的結合がかなり強いため、パターン形成後、薄膜を完全に除去することがかなり難しい。
AFMリソグラフィーにおいて、印加される電圧、電流、走査速度、湿度、レジスト能力などは、重要な要素である(非特許文献4、5、6)。
最適条件でリソグラフィーが遂行されなければ、線幅が不規則で、切れた線のパターンが得られる。より良いパターン形成のために、まず高性能レジストの開発が必要であり、また、印加される電圧、走査速度と湿度などの条件は、適切に制御されるべきである。
一方、スルホニウムは、通常、重合で光酸開始剤またはラジカル光開始剤として、または有機化合物を脱保護するための酸触媒発生剤として使用される。スルホニウムに対し数種の用途が開発されており、特定領域の紫外線により活性化され陽イオン光酸開始剤を発生する。そして、最近の電子工学の発達とともに、ミクロ電子工学において微細パターンの形成に用いられる。スルホニウム陽イオン光開始剤は光を照射すると強酸を生成するので優れた光重合効率を有するが、しかし、有機溶媒に対する溶解性が小さいという短所がある。
この問題点に関して、光を照射することにより非イオン性光開始剤の使用が、有機溶媒に対する溶解性を向上させるという報告がある(非特許文献7)。しかしながら、非イオン性光開始剤により発生される酸は、弱酸、例えば、メチルスルホン酸、プロピルスルホン酸およびカンファースルホン酸などであり、強いトリフルオロメタンスルホン酸ではない。
Jpn. J. Appl. Phys., 37, 7148, 1998, Kim J. C. J. Kor. Phys. Soc., 35, 1013, 1999, Kim J. C. Adv. Mater., 12, 6, 424, 2000, Rivka M. Vac. Sci. Technol., 1223, 1996, Sugimura A. J. Vac. Sci. Technol., 2912, 1997, Birkelund K. J. Appl. Phys. Lett., 285, 1997, Avouris P. Journal of Photopolymer Science and Technology, Vol. 13, No. 2(2000), pp223〜230
そこで、本発明の発明者は、スルホニウム塩の有機溶媒に対する難溶解性と、酸化パターン形成時の線幅の不均一性と不連続の問題点を解決するために様々な努力を行った。その際に、ジフェニルスルホキシドを新規フルオロアルキルスルホンニウム塩で置換することにより製造される新規化合物と、メタクリル酸メチル単量体とのラジカル重合により製造される新規共重合体は有機溶媒に対し優れた溶解性を有することを確認した。
従って、フルオロアルキルスルホニウムで置換された新規化合物を提供することが本発明の目的である。
フルオロアルキルスルホニウムの光酸発生基が側鎖に導入された新規共重合体を提供することが本発明の別の目的である。
本発明はフルオロアルキルスルホニウムで置換された下記化学式(1)により表される化合物に関する。
Figure 2008523053
およびRは独立に、C〜Cのアルキルカルボニル、アルデヒド、シアノ、ニトロおよびフェニルから成る基から選択された電子供与基または電子求引基で置換されたフェニルであり、
は水素原子または直鎖状、側鎖状または環状のC〜Cアルキル基であり、
nは0から20の整数である。
また、本発明は同様に、フルオロアルキルスルホニウムの光酸発生基が側鎖に導入されている下記化学式(2)により表される共重合体にも関する。
Figure 2008523053
とRは前記化学式(1)で定義されたのと同様であり、
は直鎖状、側鎖状または環状のC〜C20アルキル基であり、
およびRは独立に、水素原子または直鎖状、側鎖状または環状のC〜Cアルキル基であり、
nは0〜20の整数であり、x+y=1、0≦x≦0.99、および0.01≦y≦1である。
以下に、本発明についてより詳細に説明する。
本発明は、化学式(1)により表されるフルオロアルキルスルホニウムの光酸発生基を有する新規の単量体に関する。
化学式(1)により表される化合物は、特定領域の紫外線を照射させると陽イオン開始剤を発生させ、そして、このように、例えば、有機化合物の脱保護において、光酸開始剤、ラジカル開始剤および酸触媒発生剤として使用される。
本発明に基づく化学式(1)により表される化合物の製造方法は以下の工程を含む。
(a)ジフェニルスルホキシドからアルキルスルホニウムトリフルオレート(alkylsulfonium trifluorate)の合成。
(b)ハロゲン置換されたアルキルスルホニウムトリフルオレートの合成。
(c)アルキルアクリロイルオキシアルキルスルホニウムトリフルオレート(alkylacryloyloxy alkylsulfonium trifluorate)の合成。
フルオロアルキルスルホニウム置換された化合物を製造する3段階の工程がより詳細に記載される。
まず、ジフェニルスルホキシドとトルエンを塩化メチレンに溶かし、アセトン−ドライアイスを用いて反応器内部の温度を−78℃に調整させる。その後、三フッ化無水物(trifluoric anhydride)をゆっくりと滴加する。−78℃で1〜2時間反応させた後、反応溶液はゆっくりと室温まで加熱され、重炭酸ナトリウム飽和溶液と蒸留水で洗浄される。溶液が無水硫酸マグネシウムで乾燥された後、溶媒は減圧条件下で除去される。その後、約60〜70℃の高温の酢酸エチル中に結果物を溶解した後、再結晶が遂行され、アルキルスルホニウムトリフルオレートを得る。
次に、得られたアルキルスルホニウムトリフルオレートがハロスクシンイミド(halosuccinimide)と反応され、ハロゲン置換されたアルキルスルホニウムトリフルオレートを得る。反応において、少量の過酸化ベンゾイルが反応開始剤として用いられる。溶媒は、反応中さらなる精製をせずに用いられる。溶媒に対して、二硫化炭素、四塩化炭素およびジクロロメタンの混合物を用いられ得り、好ましくは、1〜100:1〜100:1〜100の重量の混合比である。好ましくは、反応は10〜12日間遂行させる。
次に、得られたハロゲン置換されたアルキルスルホニウムトリフルオレートがメタクリル酸ナトリウム、ヨウ化ナトリウム、臭化テトラアンモニウムおよびジヒドロキシキノンと反応され、アルキルアクリロイルオキシアルキルスルホニウムトリフルオレート(alkylacryloyloxy alkylsulfonium trifluorate)を得る。好ましくは、反応は約1〜2時間遂行され、アセトニトリルが、さらなる精製をせずに溶媒として用いられる。
本発明は、フルオロアルキルスルホニウム光酸発生基が側鎖に導入された化学式(2)により表される新規の共重合体により、同様な特性を示す。
フルオロアルキルスルホニウム置換された光酸発生基が側鎖に導入された化学式(2)により表される新規の共重合体は、化学式(1)により表されるフルオロアルキルスルホニウム化合物とメタクリル酸単量体とのラジカル重合から製造される。ラジカル反応の際、少量の通常のラジカル開始剤、例えば、アゾビスイソブチロニトリルなどが添加される。
フルオロアルキルスルホニウム光酸発生基が側鎖に導入された化学式(2)により表される得られた共重合体は、有機溶媒に対する向上された溶解性、および置換された光酸発生基のおかげで優れた光重合を有する。
以下、本発明は実施例を通じてさらに詳しく説明される。しかしながら、以下の実施例は本発明の理解のためだけであり、本発明の範囲を限定するとして解釈すべきではない。
(実施例1)光酸発生基で置換された単量体の合成
以下の化学式(3)は新規の光酸発生基が置換された4−メタクリロイルオキシフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレート(4−methacryloyloxyphenyl diphenylsulfonium trifluorate)の合成を図解するが、本発明はこの実施例に限定されない。
Figure 2008523053
(1)4−メチルフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレートの合成
ジフェニルスルホキシド10g(49.4mmol)とトルエン5.1g(49.4mmol)がジクロロメタン500mLに溶解された。アセトン−ドライアイス槽を用いて溶液を含む反応器の温度が約−78℃に調節され、三フッ化無水物(trifluoric anhydride)14.8g(49.4mmol)をゆっくりと滴加させた。その後、溶液は同一温度で1時間攪拌され、室温までゆっくりと温められた。30分間攪拌した後、反応溶液は重炭酸ナトリウム飽和溶液、およびその後蒸留水で洗浄された。溶液は無水硫酸マグネシウムで乾燥された後、溶媒は回転蒸発器を用いることにより除去され、残渣は高温の酢酸エチル中で再結晶され、4−メチルフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレート(収率=50%)を得た。
このように得られた合成物の構造はH−NMRと19F−NMR分光法により確認された。
H−NMR(CDCl,ppm):2.48(s,3H)、7.46(d,2H フェニル)、7.60(d,2H フェニル)、7.70(m,10H フェニル)
(2)4−ブロモメチルフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレート(4-bromomethylphenyl diphenylsulfonium trifluorate)の合成
(1)で合成されたスルホニウム化合物5g(11.7mmol)はN−ブロモスクシンイミド(N-bromosuccinimide)5.5g(30.9mmol)と混合され、混合溶媒(二硫化炭素30mL、四塩化炭素30mL、ジクロロメタン40mL)に溶解される。混合物に過酸化ベンゾイル0.3g(1.2mmol)が加えられた後、混合物は加熱還流下で10日間攪拌された。溶媒は反応溶液から減圧下で除去され、残渣がジクロロメタン100mLに溶解され、蒸留水で2度洗浄され、そして無水硫酸マグネシウムで乾燥された。その後、溶媒は回転蒸発器で除去され、精製がコラムクロマトグラフィー法により遂行され、4−ブロモメチルフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレート(収率=60%)を得た。
このように得られた化合物の構造はH−NMR分析法により確認された。
H−NMR(CDCl,ppm):4.51(s,2H)、7.30(m,14H フェニル)
(3)4−メタアクリロイルオキシフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレートの合成
(2)で合成された化合物22g(3.9mmol)、メタクリル酸ナトリウム0.47g(4.3mmol)、ヨウ化ナトリウム60mg(0.4mmol)、臭化テトラエチルアンモニウム(tetraethylammonium bromide)84mg(0.4mmol)と微量のジヒドロキシキノンがアセトニトリル20mLに溶解され、そして混合物が加熱還流下で1.5時間攪拌された。溶媒が反応溶液から減圧下で除去され、そして残渣が蒸留水30mLに溶解された。生成物がジクロロメタンで抽出され、溶液が無水硫酸マグネシウムで乾燥された。その後、溶媒が回転蒸発器で除去され、精製がコラムクロマトグラフィー法により遂行され、4−メタアクリロイルオキシフェニルジフェニルスルホニウムトリフルオレート(収率=93%)を得た。
このように得られた化合物の構造をH−NMR分析法により確認した。
H−NMR(CDCl,ppm):1.97(s,1H,C−CH)、5.28(2H,O−CH)、5.64(1H,CH=)、6.66(1H,CH=)、7.70(14H フェニル)
(実施例2)側鎖に導入された光発生基を備える共重合体の合成
以下の化学式(4)は、光酸発生基が側鎖で置換された共重合体の例として、ポリ(メタクリル酸メチル・4−ジフェニルトリフルオレートメタクリル酸ベンジル共重合体(methylmethacrylate-co-4-diphenylsulfoniumtrifluoratebenzylmethacrylate))の合成を図解する。本発明はこの実施例に限定されない。
Figure 2008523053
メタクリル酸メチル1.35g(13.5mmol)と実施例1で合成された化合物3.45g(6.75mmol)が精製されたテトラヒドロフラン300mLに溶解された。アゾビスイソブチロニトリル22mg(0.27mmol)を加えた後、混合物は加熱還流下で24時間攪拌された。反応溶液はゆっくりと、イソプロピルとn−ヘキサンの7:3混合溶液に注がれた。沈殿物が濾過され、そして真空乾燥されて、化学式(2)により表される化合物(収率=50)を得た。
このように得られた化合物のH−NMRおよびTGA分析結果は、図1と図2に示される。
H−NMR分析によれば、xとyの比が1.92:1であり、そして重量平均分子量は約4500であった。
(実施例3)
化学式(2)により表される共重合体は、実施例2と同様な方法で合成された。ただしtert−メタクリル酸ブチル(tert-butylmetacrylate)と実施例1で合成された化合物が1:1のモル比(収率=50%)で用いられたことを除く。
このように得られた化合物のH−NMRとTGA分析結果は、図3と図4に示される。
H−NMR分析によれば、xとyの比が1:1であり、そして重量平均分子量は約5000であった。
(実施例4)
化学式(2)により表された共重合体は、実施例2と同様な方法で合成された。ただしテトラヒドロピラニルメタクリル酸と実施例1で合成された化合物が1:1のモル比(収率=45%)で用いられたことを除く。
このように得られた化合物のH−NMRとTGA分析結果は、図3と図4に示される。
H−NMR分析によれば、xとyの比が1:1であり、そして重量平均分子量は約5000であった。
化学式(2)により表される合成された共重合体は、アセトン、塩化メチレン、クロロホルム、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール、ジメチルスルホキシド、テトラヒドロフランを含む様々な溶媒に対して優れた溶解性を示す。
上述から明らかなように、フルオロアルキルスルホニウムの光酸発生基が置換された新規の単量体から重合して製造された本発明の共重合体は、有機溶媒に対して優れた溶解性および優れた塗布性能を有している。
本発明は好ましい実施形態に関して詳細に記述されているが、当業者は、添付の特許請求の範囲で説明するように、本発明の真意(spirit)および目的から離れることなしに、様々な変更および置換がなされ得ることを理解する。
図1は実施例2で生成された本発明の共重合体のH−NMR(核磁気共鳴)分析の結果を示す図である。 図2は実施例2で生成された本発明の共重合体のTGA(熱重量分析)分析の結果を示す図である。 図3は実施例3で生成された本発明の共重合体のH−NMR(核磁気共鳴)分析の結果を示す図である。 図4は実施例3で生成された本発明の共重合体のTGA(熱重量分析)分析の結果を示す図である。

Claims (2)

  1. フルオロアルキルスルホニウムで置換された下記の化学式(1)により表される化合物。
    Figure 2008523053

    前記化学式(1)において、
    およびRは独立に、C〜Cアルキルカルボニル、アルデヒド、シアノ、ニトロ、フェニルから成る基から選択された電子供与基または電子求引基で置換されたフェニルであり、
    は水素原子または直鎖状、側鎖状または環状のC〜Cアルキル基であり、
    およびnは0〜20の整数である。
  2. フルオロアルキルスルホニウム置換された光酸発生基が側鎖に導入されている下記の化学式(2)により表される共重合体。
    Figure 2008523053
    前記化学式(2)において、
    およびRは独立に、C〜Cアルキルカルボニル、アルデヒド、シアノ、ニトロ、フェニルから成る基から選択された電子供与基または電子求引基で置換されたフェニルであり、
    は直鎖状、側鎖状または環状のC〜C20アルキル基であり、
    およびRは独立に、水素原子または直鎖状、側鎖状または環状のC〜Cアルキル基であり、
    nは0〜20の整数であり、
    およびx+y=1、0≦x≦0.99および0.01≦y≦1である。
JP2007545390A 2005-02-16 2006-02-16 フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体 Expired - Fee Related JP4642860B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050012680A KR100637450B1 (ko) 2005-02-16 2005-02-16 플루오로알킬술폰늄염의 광산발생기가 치환된 화합물과 이를 중합한 공중합체
PCT/KR2006/000535 WO2006088317A1 (en) 2005-02-16 2006-02-16 Novel monomer substituted photoacid generator of fluoroalkylsulfon and a polymer thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008523053A true JP2008523053A (ja) 2008-07-03
JP4642860B2 JP4642860B2 (ja) 2011-03-02

Family

ID=36916688

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007545390A Expired - Fee Related JP4642860B2 (ja) 2005-02-16 2006-02-16 フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7534844B2 (ja)
EP (1) EP1848690B1 (ja)
JP (1) JP4642860B2 (ja)
KR (1) KR100637450B1 (ja)
WO (1) WO2006088317A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010538155A (ja) * 2008-08-18 2010-12-09 アイユーシーエフ−エイチワイユー(インダストリー−ユニバーシティ コーオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティ) 光酸発生剤を含むレジスト用共重合体及びその製造方法
WO2012050065A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 日産化学工業株式会社 単分子層又は多分子層形成用組成物
JP2016081053A (ja) * 2014-10-10 2016-05-16 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC フォトレジスト組成物及び電子デバイスを形成する関連方法

Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7534548B2 (en) * 2005-06-02 2009-05-19 Hynix Semiconductor Inc. Polymer for immersion lithography and photoresist composition
KR100823471B1 (ko) * 2006-11-01 2008-04-21 한양대학교 산학협력단 플루오로알킬술폰늄염의 광산발생기가 측쇄에 도입된 호모폴리머 제조용 화합물의 제조방법
JP4966886B2 (ja) * 2008-02-12 2012-07-04 富士フイルム株式会社 感光性組成物、該感光性組成物を用いたパターン形成方法及び該感光性組成物に用いられる化合物
KR101529940B1 (ko) * 2008-02-12 2015-06-19 한양대학교 산학협력단 플루오로알킬술폰늄염의 광산발생기가 측쇄에 도입된단량체 제조방법
JP2011525918A (ja) * 2008-06-27 2011-09-29 ユニバーサル ディスプレイ コーポレイション 架橋可能なイオンドーパント
KR101229960B1 (ko) 2011-01-28 2013-02-06 한양대학교 산학협력단 광산발생제를 포함하는 테트라 폴리머 레지스트 및 이의 제조 방법
KR101385508B1 (ko) * 2011-06-21 2014-04-16 한양대학교 산학협력단 광산발생제를 포함하는 포지티브형 폴리머 레지스트 및 그 제조 방법
US9588095B2 (en) 2012-07-24 2017-03-07 Massachusetts Institute Of Technology Reagents for oxidizer-based chemical detection
JP6031420B2 (ja) * 2012-08-31 2016-11-24 ダウ グローバル テクノロジーズ エルエルシー 光酸発生剤を含む末端基を含むポリマー、前記ポリマーを含むフォトレジストおよびデバイスの製造方法
WO2014126830A2 (en) 2013-02-12 2014-08-21 Eipi Systems, Inc. Method and apparatus for three-dimensional fabrication
EP3203318A1 (en) 2013-02-12 2017-08-09 CARBON3D, Inc. Continuous liquid interphase printing
US10816530B2 (en) 2013-07-23 2020-10-27 Massachusetts Institute Of Technology Substrate containing latent vaporization reagents
US9365659B2 (en) * 2014-01-29 2016-06-14 Excelsior Nanotech Corporation System and method for optimizing the efficiency of photo-polymerization
WO2015142546A1 (en) 2014-03-21 2015-09-24 Carbon3D, Inc. Method and apparatus for three-dimensional fabrication with gas injection through carrier
WO2015154087A1 (en) 2014-04-04 2015-10-08 Massachusetts Institute Of Technology Reagents for enhanced detection of low volatility analytes
US10259171B2 (en) 2014-04-25 2019-04-16 Carbon, Inc. Continuous three dimensional fabrication from immiscible liquids
WO2015195924A1 (en) 2014-06-20 2015-12-23 Carbon3D, Inc. Three-dimensional printing with reciprocal feeding of polymerizable liquid
US10661501B2 (en) 2014-06-20 2020-05-26 Carbon, Inc. Three-dimensional printing method using increased light intensity and apparatus therefor
US10569465B2 (en) 2014-06-20 2020-02-25 Carbon, Inc. Three-dimensional printing using tiled light engines
JP6720092B2 (ja) 2014-06-23 2020-07-08 カーボン,インコーポレイテッド 多様な硬化機構を有する材料からのポリウレタン三次元物体製造方法
US11390062B2 (en) 2014-08-12 2022-07-19 Carbon, Inc. Three-dimensional printing with supported build plates
EP3240671B1 (en) 2014-12-31 2020-12-16 Carbon, Inc. Three-dimensional printing of objects with breathing orifices
US20160193786A1 (en) 2015-01-06 2016-07-07 Carbon3D, Inc. Three-dimensional printing with build plates having a rough or patterned surface and related methods
WO2016112090A1 (en) 2015-01-07 2016-07-14 Carbon3D, Inc. Microfluidic devices and methods of making the same
EP3245044B1 (en) 2015-01-13 2021-05-05 Carbon, Inc. Three-dimensional printing with build plates having surface topologies for increasing permeability and related methods
EP3250368A1 (en) 2015-01-30 2017-12-06 Carbon, Inc. Build plates for continuous liquid interface printing having permeable sheets and related methods, systems and devices
WO2016123499A1 (en) 2015-01-30 2016-08-04 Carbon3D, Inc. Build plates for continuous liquid interface printing having permeable base and adhesive for increasing permeability and related methods, systems and devices
WO2016126779A1 (en) 2015-02-05 2016-08-11 Carbon3D, Inc. Method of additive manufacturing by fabrication through multiple zones
US11000992B2 (en) 2015-02-20 2021-05-11 Carbon, Inc. Methods and apparatus for continuous liquid interface printing with electrochemically supported dead zone
US10391711B2 (en) 2015-03-05 2019-08-27 Carbon, Inc. Fabrication of three dimensional objects with multiple operating modes
US20180029292A1 (en) 2015-03-05 2018-02-01 Carbon, Inc. Continuous liquid interface production with sequential patterned exposure
US20180015662A1 (en) 2015-03-05 2018-01-18 Carbon, Inc. Fabrication of three dimensional objects with variable slice thickness
WO2016145050A1 (en) 2015-03-10 2016-09-15 Carbon3D, Inc. Microfluidic devices having flexible features and methods of making the same
WO2016145182A1 (en) 2015-03-12 2016-09-15 Carbon3D, Inc. Additive manufacturing using polymerization initiators or inhibitors having controlled migration
US10792856B2 (en) 2015-03-13 2020-10-06 Carbon, Inc. Three-dimensional printing with flexible build plates
WO2016149097A1 (en) 2015-03-13 2016-09-22 Carbon3D, Inc. Three-dimensional printing with reduced pressure build plate unit
WO2016149151A1 (en) 2015-03-13 2016-09-22 Carbon3D, Inc. Three-dimensional printing with concurrent delivery of different polymerizable liquids
WO2017048710A1 (en) 2015-09-14 2017-03-23 Carbon, Inc. Light-curable article of manufacture with portions of differing solubility
EP3352972B1 (en) 2015-09-25 2021-10-27 Carbon, Inc. Build plate assemblies for continuous liquid interphase printing having lighting panels and related methods and devices
WO2017059082A1 (en) 2015-09-30 2017-04-06 Carbon, Inc. Method and apparatus for producing three-dimensional objects
US10647873B2 (en) 2015-10-30 2020-05-12 Carbon, Inc. Dual cure article of manufacture with portions of differing solubility
CN108475008B (zh) 2015-12-22 2020-11-06 卡本有限公司 一种形成三维物体的方法
WO2017112483A2 (en) 2015-12-22 2017-06-29 Carbon, Inc. Accelerants for additive manufacturing with dual cure resins
WO2017112521A1 (en) 2015-12-22 2017-06-29 Carbon, Inc. Production of flexible products by additive manufacturing with dual cure resins
WO2017112653A1 (en) 2015-12-22 2017-06-29 Carbon, Inc. Dual precursor resin systems for additive manufacturing with dual cure resins
US10538031B2 (en) 2015-12-22 2020-01-21 Carbon, Inc. Dual cure additive manufacturing of rigid intermediates that generate semi-rigid, flexible, or elastic final products
US11465339B2 (en) 2016-05-31 2022-10-11 Northwestern University Method for the fabrication of three-dimensional objects and apparatus for same
JP7026058B2 (ja) 2016-07-01 2022-02-25 カーボン,インコーポレイテッド ビルドプレート経由での脱ガスによって気泡を低減する三次元印刷法および装置
WO2018094131A1 (en) 2016-11-21 2018-05-24 Carbon, Inc. Method of making three-dimensional object by delivering reactive component for subsequent cure
US10239255B2 (en) 2017-04-11 2019-03-26 Molecule Corp Fabrication of solid materials or films from a polymerizable liquid
US11616302B2 (en) 2018-01-15 2023-03-28 Rogers Corporation Dielectric resonator antenna having first and second dielectric portions
US11552390B2 (en) 2018-09-11 2023-01-10 Rogers Corporation Dielectric resonator antenna system
TWI820237B (zh) 2018-10-18 2023-11-01 美商羅傑斯公司 聚合物結構、其立體光刻製造方法以及包含該聚合物結構之電子裝置
WO2020117489A1 (en) 2018-12-04 2020-06-11 Rogers Corporation Dielectric electromagnetic structure and method of making the same
NL2022372B1 (en) 2018-12-17 2020-07-03 What The Future Venture Capital Wtfvc B V Process for producing a cured 3d product
CA3131996A1 (en) 2019-04-09 2020-10-15 David Alan WALKER Methodologies to rapidly cure and coat parts produced by additive manufacturing
TW202043298A (zh) 2019-05-30 2020-12-01 美商羅傑斯公司 用於立體微影的光可固化組合物、形成該組合物的方法、使用該組合物的立體微影方法、藉由該立體微影方法形成的聚合物組件、及包含該聚合物組件的裝置
US11482790B2 (en) 2020-04-08 2022-10-25 Rogers Corporation Dielectric lens and electromagnetic device with same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04230645A (ja) * 1990-08-27 1992-08-19 Ciba Geigy Ag オレフィン的に不飽和のオニウム塩
JPH05178819A (ja) * 1991-04-13 1993-07-20 Ciba Geigy Ag 新規なスルホキソニウム塩
JPH10111563A (ja) * 1996-10-07 1998-04-28 Hitachi Ltd パタン形成方法及びそれを用いた半導体装置の製造方法並びに感放射線組成物
JPH10182999A (ja) * 1996-12-26 1998-07-07 Sumitomo Chem Co Ltd モノアゾ化合物及びそれを用いる繊維材料の染色又は捺染方法
JPH10221852A (ja) * 1997-02-06 1998-08-21 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型感光性組成物
JPH11338146A (ja) * 1998-05-28 1999-12-10 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型画像形成材料
JP2002207293A (ja) * 2001-01-12 2002-07-26 Fuji Photo Film Co Ltd 平版印刷版原版
JP2002528766A (ja) * 1998-10-27 2002-09-03 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー フォトレジストおよびミクロリソグラフィのための方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4250053A (en) * 1979-05-21 1981-02-10 Minnesota Mining And Manufacturing Company Sensitized aromatic iodonium or aromatic sulfonium salt photoinitiator systems
DE3902114A1 (de) * 1989-01-25 1990-08-02 Basf Ag Strahlungsempfindliche, ethylenisch ungesaettigte, copolymerisierbare sulfoniumsalze und verfahren zu deren herstellung
TW237466B (ja) 1992-07-21 1995-01-01 Giba Gerigy Ag
KR100279497B1 (ko) 1998-07-16 2001-02-01 박찬구 술포늄 염의 제조방법
US7008749B2 (en) * 2001-03-12 2006-03-07 The University Of North Carolina At Charlotte High resolution resists for next generation lithographies
US20050018595A1 (en) * 2001-06-06 2005-01-27 Spectra Systems Corporation System for applying markings to optical media

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04230645A (ja) * 1990-08-27 1992-08-19 Ciba Geigy Ag オレフィン的に不飽和のオニウム塩
JPH05178819A (ja) * 1991-04-13 1993-07-20 Ciba Geigy Ag 新規なスルホキソニウム塩
JPH10111563A (ja) * 1996-10-07 1998-04-28 Hitachi Ltd パタン形成方法及びそれを用いた半導体装置の製造方法並びに感放射線組成物
JPH10182999A (ja) * 1996-12-26 1998-07-07 Sumitomo Chem Co Ltd モノアゾ化合物及びそれを用いる繊維材料の染色又は捺染方法
JPH10221852A (ja) * 1997-02-06 1998-08-21 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型感光性組成物
JPH11338146A (ja) * 1998-05-28 1999-12-10 Fuji Photo Film Co Ltd ポジ型画像形成材料
JP2002528766A (ja) * 1998-10-27 2002-09-03 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー フォトレジストおよびミクロリソグラフィのための方法
JP2002207293A (ja) * 2001-01-12 2002-07-26 Fuji Photo Film Co Ltd 平版印刷版原版

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010538155A (ja) * 2008-08-18 2010-12-09 アイユーシーエフ−エイチワイユー(インダストリー−ユニバーシティ コーオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティ) 光酸発生剤を含むレジスト用共重合体及びその製造方法
WO2012050065A1 (ja) * 2010-10-14 2012-04-19 日産化学工業株式会社 単分子層又は多分子層形成用組成物
US9023583B2 (en) 2010-10-14 2015-05-05 Nissan Chemical Industries, Ltd. Monolayer or multilayer forming composition
JP2016081053A (ja) * 2014-10-10 2016-05-16 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシーRohm and Haas Electronic Materials LLC フォトレジスト組成物及び電子デバイスを形成する関連方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4642860B2 (ja) 2011-03-02
KR20060091911A (ko) 2006-08-22
EP1848690A4 (en) 2010-06-30
EP1848690A1 (en) 2007-10-31
US20070203312A1 (en) 2007-08-30
KR100637450B1 (ko) 2006-10-23
WO2006088317A1 (en) 2006-08-24
EP1848690B1 (en) 2017-09-13
US7534844B2 (en) 2009-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4642860B2 (ja) フルオロアルキルスルホンの光酸発生部が置換された新規の単量体およびその重合体
TWI525066B (zh) 鹽、光阻組成物及製備光阻圖案之方法
JP5138627B2 (ja) 光酸発生剤、共重合体、化学増幅型レジスト組成物、および化学増幅型レジスト組成物を用いたパターン形成方法
CN109843853A (zh) 组合物和使用该组合物的设备的制造方法
JP2009280562A (ja) 化学増幅型レジスト組成物用の酸発生剤
JP2011252147A (ja) 光酸発生剤、この製造方法、及びこれを含むレジスト組成物
WO2006121150A1 (ja) (メタ)アクリルアミド誘導体、重合体、化学増幅型感光性樹脂組成物及びパターン形成方法
JP7079647B2 (ja) 組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法
JPH09221519A (ja) 酸誘導体化合物、高分子化合物、それを用いた感光性樹脂組成物およびパターン形成方法
KR20140033027A (ko) 안정화된 산 증폭제
JP2009527019A (ja) 200nm未満リソグラフィー用アダマンタン系分子性ガラスフォトレジスト
JP2009221194A (ja) 光酸発生基結合型多価フェノール誘導体、該誘導体の製造方法及び該誘導体を含む電子線用又はeuv用化学増幅型レジスト組成物
JP4683887B2 (ja) ラクトン化合物、ラクトン含有単量体、高分子化合物、それを用いたレジスト材料及びパターン形成方法
US8481663B2 (en) Resist copolymers containing photoacid generators for lithographic applications and its method of preparation
KR20140042753A (ko) 안정화된 산 증폭제
CN112142769B (zh) 含硅多苯基单分子树脂及其光刻胶组合物
TWI457319B (zh) 化合物及其製造方法以及含該化合物之阻劑組成物
US4965316A (en) Radiation sensitive polymers and use thereof
JP2020176096A (ja) オニウム塩、組成物及びそれを用いたデバイスの製造方法
KR100823471B1 (ko) 플루오로알킬술폰늄염의 광산발생기가 측쇄에 도입된 호모폴리머 제조용 화합물의 제조방법
JP5948862B2 (ja) 新規化合物及びその製造方法
JP6304644B2 (ja) ハイパーブランチポリマー
KR101529940B1 (ko) 플루오로알킬술폰늄염의 광산발생기가 측쇄에 도입된단량체 제조방법
JP5812914B2 (ja) レジスト組成物
JP7341074B2 (ja) 交互共重合体、交互共重合体の製造方法、高分子化合物の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100518

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100818

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100825

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100921

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101102

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4642860

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees