JP2008519965A - 粒子検出器、システムおよび方法 - Google Patents
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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-
- G—PHYSICS
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Abstract
Description
監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
発射ステップおよび検出ステップは、発射ビームのパワーレベルと間接的に比例した関係に従って、放射ビームのオン期間および画像捕捉手段の露出期間を決定することを含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
該方法は、対象粒子の存在以外のイベントに対応した、検出画像における1つ又はそれ以上の変動および変動の原因を軽減するステップをさらに含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
該方法は、検出ステップを行うためのプローブを用いて、発射ビームを探査(probing)するステップをさらに含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
該方法は、ビームを複数のセグメントに分割するステップと、
各ビームセグメントについて画像変動を決定するステップと、
各セグメントについて決定した画像変動を制御ポイントへ提供して、複数のポイント粒子検出器をシミュレーションするステップとをさらに含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
該方法は、監視される領域内の空間での予め定めた幾何学ポイントの位置を決定するステップをさらに含む。
光源を、所定のレートでオンオフさせることと、
光源を、画像捕捉手段によって捕捉された1つ又はそれ以上のビデオ画像において識別することと、
画像捕捉手段のフレームレートを連続的に変更して、同期をとることとを含む。
監視される領域に第1の放射ビームを発射することと、
第1の画像捕捉デバイスを用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、画像変動は、後方散乱放射に対応している。
監視される領域に第1の放射ビームを発射することと、
画像捕捉デバイスを用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものであり、
該方法は、ビーム中への切迫した侵入を検出するために、少なくとも1つの追加ビームを第1のビームに近接するように設けることをさらに含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することとを含み、
放射ビームおよび画像変動を検出する手段のうち少なくとも1つは、データ通信するようにしている。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出した画像での歪みを補正することとを含む。
監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
画像部分を選択的に分解するために、検出した画像に対して重み関数を適用することとを含む。
監視される領域に、複数の放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
ビームについて動作の順序付けを行うこととを含む。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
放射源および画像検出手段のうち少なくとも1つを、制御により位置決めされるよう適合させることとを含む。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することとを含み、
画像は、少なくとも2つの位置に配置された画像検出器によって検出される。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
放射ビームを管理することとを含む。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出されたビームの中心部をマスクして、画像変動の検出を向上させることとを含む。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
監視される領域の画像を捕捉するための画像捕捉手段の動作を検査することとを含む。
監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出した画像を評価して、検出した画像変動との干渉を補正することとを含む。
所定の命令セットに従って動作するようにしたプロセッサ手段を備え、
該装置は、前記命令セットに関連して、ここで開示したような1つ又はそれ以上の方法を実行するようにした。
少なくとも1つの領域の画像を取得するための画像捕捉デバイスと、
少なくとも1つの画像を解析して、領域内での粒子の存在を示すような、画像間での少なくとも1つの特性の存在または変動を検出するためのプロセッサとを備える。
時間(temporal)フィルタ。
空間フィルタ。
バンドパスフィルタ。
偏光フィルタ。
放射源の位置をプロセッサへ伝達するステップと、
放射ビームの衝突ポイントが見えるように、第2の画像捕捉デバイスを設置するステップと、
衝突ポイントの関連した位置情報をプロセッサへ伝達するステップと、
放射源の位置および衝突ポイントの位置情報の間の幾何学的関係に従って、ビームの経路を決定するステップとを含む。
ビーム源の位置である第1のポイントを配置することを含み、画像捕捉デバイスを用いて、放射ビームの経路を含む対象となる領域を決定するステップと、
画像捕捉デバイスの視野と放射ビームの交差部である第2のポイントを配置して、第1および第2のポイントに従って、ビームの経路を決定するステップと、
決定したビーム経路を含む対象となる領域を計算するステップとを含む。
領域内で放射ビームを方向付けることと、
画像捕捉デバイスを用いて、ビーム経路の少なくとも一部の視野を選択することと、
画像捕捉デバイスに対して、放射源の場所を決定することと、
画像捕捉デバイスに対して、ビームの方向を決定することと、
放射ビームを複数のセグメントに分割することと、
セグメントと画像捕捉デバイスの間の幾何学的関係を決定することと、
幾何学的関係を考慮するように、各セグメントについて、画像捕捉デバイスで受けた光のレベルを調整することと、を含む。
幾つかの状況では、多数の発光をシステム内で使用することが望ましい。これは、規則に適合し、バックアップを用意し、あるいは単一発光器でカバーできるより大きなエリアをカバーするのを支援する。
一実施形態では、レーザビーム直径を広くして、細かい繊維がビーム断面積の小さい部分とだけ交差するようにし、アラーム閾値を下回る小さな信号だけを発生する。この小さな信号がある期間(例えば、2時間またはそれ以上の時定数)一定のままであれば、それをその場所から得られる読み取り信号から引き算し、長期の較正精度を維持することができる。
図4のステップ401において、レーザ状態の決定が実行される。本実施形態でのソフトウエアは、カメラの視野内にレーザ源を有することに依拠しており、特定のフレームについてレーザの状態を決定する。
図4のステップ401において、重心アルゴリズムは、監視されるエリア内でレーザ源の画素座標を推定する。この位置情報は、必要に応じて「レーザオン」画像ごとに更新され、マウント及び/又は建物の時間移動に起因したレーザ源やカメラ位置でのドリフトを考慮している。安定性に影響を及ぼす因子は、建物内の壁の移動、搭載位置の剛性などがある。
図4のステップ403において、対象領域が計算される。図4のステップ404において、バックグランド消去が行われる。バックグランド消去の際に、補間およびフレーム引き算の組合せが用いられ、画像から、干渉している一時的に変化する情報および不変の情報を減少させる。画像は、図5に示すように、3つの対象領域に区分される。
図4のステップ405において、フレーム積分を実行する。複数のバックグランド消去したフレームが合計され、平均化され、あるいはローパスフィルタにかけられて、ノイズが減少した散乱光画像を取得できる。複数のフレームを平均化することによって、レーザのオン/オフスイッチングと相関しない干渉が減少して、欲しい(相関のある)散乱情報が保持される。典型的には、バックグランド消去およびフレーム積分で使用するフレームの合計数は、約100個(即ち、約3秒のビデオ)である。より長い積分期間またはローパスフィルタのより低いカットオフ周波数は、改善した信号対ノイズ比を生成でき、応答時間を犠牲にして、より高い感度のシステムを実現できる。
図4のステップ406において、発光器からの半径の関数として散乱の計算を実行している。システム幾何学に起因したビームに沿った強度変動および散乱は、この方法を用いて救済できる。データアレイが、レーザ源からの、積分領域での散乱光レベル対半径(例えば、捕捉した画像での画素で測定される)を含むように、計算される。
図4のステップ408において、システムの要素/コンポーネントの幾何が決定される。後述するような各画素(または画像ポイント)は、散乱体積に関する特定の幾何構成に対応しており、こうした画像ポイントの一般的なケースは図12に示される。こうしたポイントまたは画素の各々において、下記パラメータが決定できる。
2. r レーザ源からの距離(メートル)
3. D カメラからレーザ源までの距離
4. L ビームに沿った所定のポイントにおいて、1画素が見る物理長さ
散乱角の補正は、図4のステップ409に従って、論理的に決定される。入力として、プログラムは、所定の材料に関して散乱角および対応する利得のセットを含む散乱データファイルを必要とする。このファイル中のデータは、経験上の較正プロセスによって生成され、種々の煙タイプに関する平均値を含むようにしている。
所定のビーム半径について煙の決定は、図4のステップ407において実行される。散乱したデータアレイを画素当りベースの煙レベルに変換することは、図12に示すような、データD,dおよびθiの入力を必要とする。幾何を制限する長さまたは角度の何れの組合せも使用できる。
図4のステップ410において、ビーム画像セクタに渡る積分が実行され、検出した掩蔽(obscuration)を取得する。ビーム長さは、多くのセクタに分割されて、ビームに沿ったアドレス可能性(addressability)を提供し、レーザ源とレーザビームの散乱との間を区別する。レーザ源の場所の回りの画素は、散乱によって生じた強度が解析できなくなるため、セクタの一部として含まれない。特に、コリメートされていない光源は、フレアが発生して、光源の周囲にある画素で余分な強度を生じさせるからである。
最後に、図4を参照して、アラーム状態が計算される。各セクタについてのアラーム状態は、標準の吸引煙検出器のような閾値、遅延、優先エンコード機構、そして、使用者によて決定される他のパラメータに基づいて決定される。
システムは、本質的には、画像内でレーザスポットの不在である誤り条件の検出のために用意してもよい。レーザのオンオフ信号のデューティサイクルは、1つのバックグランド消去サイクルで使用したフレーム数について、33%〜66%の範囲内になるようチェックしてもよい。
多くの代替的実施形態が、応用および所望の特徴に応じて利用可能である。例えば、誤り検出は、多くの方法で実行され得る。
1フレーム/秒またはそれ以下の検出を必要とするのみである。従って、残りの画像は、監視目的のために使用可能である。
・赤外(IR)レーザの場合、アライメントをより容易に行う(カメラを使用してIRドットを見る)。
・感度およびアドレス可能性の観点から、より均一な対象範囲を得る。
・後方散乱放射を得る。
a)目標スポット45を、カメラ41の直接視野内に入れる。
b)手動または自動で、必要ならば永久的に、部分散乱媒体をビーム44の経路に配置して、ビーム位置をチェックする。
c)ビーム44内に時々入り込む浮遊粉塵(小さな粒子)によって生ずる散乱を検出して記録する。
d)反射素子または屈折素子を用いて、カメラ41は、直接視野の外にある目標スポット45を観測できる。
e)追加の撮像デバイスを用いて、目標スポット45の位置を監視する。
この説明目的のため、「後方散乱の幾何学」は、散乱角が90度より大きい配置であってもよい。従って、散乱光は、光源の一般的な方向に逆行しても構わない。後方散乱システムの実施形態は、カメラと同じハウジングの中に組み込んだ、あるいはカメラの近くに搭載した、レーザ(または他の電磁源)を有してもよい。
1)エッジ検出および相関を使用して、景色が最初に設置したものと実質的に同じであるかを決定する。もしそうでなければ、故障を知らせる。
2)画像処理技術を用いて容易に認識されるターゲット164、例えば、十字形(cross)を使用して、ターゲットマーカ164の位置(画像内)が、設置時から閾値量より多く動いていれば、故障を知らせる。
3)追加の光源または光源165を視野内で使用し、マーカを用意する。1つより多いマーカ164の使用は、カメラ回転の積極的な検出を可能にする。これらの光源165は、主たる光源162と同期して、処理を簡単にする。画像内での光源の位置が、設置時から閾値量より多く動いていれば、故障を知らせる。
既に説明したように、背景光の影響を低減するための技術が、目標スポット176の画像を強調するために使用できる。外側ビームは、これらの技術のために、オンとオフに切り替える必要になることがある。カメラ、画像獲得および処理システムでの遅延に応じて、主ビームとは逆位相で外側ビームを動作させることによって、応答時間を減少させることが可能である。
ターゲット画像を収集するためにカメラを使用する代わりに、ターゲットは、その上に搭載した光検出器を有してもよい。こうした検出器は、システムのアライメントを維持したり監視する目的で既に存在していてもよい。この配置の場合、カメラフレームレート制限が除かれるため、より短いインターロック応答遅延が可能である。
外側のレーザビームは、主レーザと同じ方向に伝搬する必要がない。これらのレーザ源は、主レーザのターゲットの周りに搭載可能であり、そして、主レーザ源に向かって伝搬し、主レーザ源の周りのターゲットポイントに着地してもよい。
カメラとレーザの対は、他で説明するように、相互監視を提供するために配置できる。この場合、これらはまたインターロック機能のために、画像収集、処理、および主レーザ制御を実行できる。
保護ビームは、分離したビームではなく、チューブ状の光であってもよい。こうしたチューブ状の光は、例えば、ターゲットにおいて円形または楕円形のように見えるであろう。画像処理ソフトウエアは、予想される楕円内の割り込みまたは影を検出することになる。当業者に理解されるように、使用可能な幾つかの画像処理技術がある。
干渉格子またはホログラムが、単一のレーザ源から外側ビームを作成するために、使用できる。単一のレーザ源は、主レーザ171でもよく、他の独立したレーザでもよい。
レーザの実際のケージの代替として、主レーザの周りにリング状のレーザ源(これらは必ずしも正確に平行化されていなくてもよい)を使用することである。主ビーム軸の近くの主ビームターゲットに搭載されたカメラは、レーザ源を観察する。主ビームに入る侵入物に関して、それは最初に外側光源のカメラ視野を妨害する。前回の配置で必要とされるのと同様な処理が、インターロック機能を提供できる。
他の実施形態では、ビジョン・ファイア・アンド・セキュリティ・プティ社が販売する監視製品で用いられるビデオモーション検出などの画像処理技術が、危険なレーザビームにごく接近してくる人間などの物体を検出するために使用できる。
1.カメラ/レーザの同期またはタイミング情報
2.システム構成データ
3.レーザ強度、デューティサイクル、カメラ露出コマンド
4.カメラとレーザのアライメントデータ(アクティブ・アライメント及び/又は故障の監視)
5.マルチレーザシステムにおけるレーザ許可/禁止(enable/disable)コマンド
6.レーザマーカの起動/停止/デューティサイクル/強度の制御コマンド
7.レーザの偏光または波長切り替えコマンド
8.火災パネルまたは他の外部システムへ報告するための火災アラーム状態
本発明に係る発射した放射および画像検出を用いた粒子検出システムでのレンズ歪みを補正するために何もしなければ、下記の影響が生ずることがある。
2.空間精度: 特定の画素に対応した空間内での計算した位置に誤差が生ずることがある。
3.利得誤差: 特定の画素に対応したビーム長さに誤差が生じて、システム利得誤差が生ずることがある。
所定の視野に関して、複合レンズ設計が、低歪みを与えるように最適化が可能である。適切なレンズの場合、狭い視野だけを必要とするシステムは、低歪みの補正を必要としないことがある。
画像内ポイントと空間内ポイントの間の関係の経験的な較正が実行可能である。これは、ビーム中で少し散乱を生じさせる物体を置いて、そして、空間内での物体位置および画像内で見える位置を記録することによって行うことができる。この処理は、ビームに沿った多くのポイントに関して繰り返す。
1.積分エリアは、記録したポイントを含むように選ばれる。補間または曲線近似(fitting)は、ポイント間の必要な積分エリアを推定するために用られる。積分エリアは、各ポイントで充分に広くして、ビーム拡がりおよび2つのポイントの位置での不確実性を考慮する。
レーザビームおよびカメラは、ビーム画像が画像中心の近くを通過するように、整列可能である。歪みは、大部分が半径のものであるため、その結果、ビームは依然としてラインとして見える。これは、ポイント間の直線を引くことによって、ビームに沿った2つのポイントだけの知識から積分エリアが計算可能である手法であり、そして、充分な幅は、ビーム拡がりおよび2つのポイント位置の不確実性を考慮する。
数学的モデルが、レンズ歪みを表現するために使用できる。多くの場合、半径歪みモデルが充分に正確である。こうしたモデルの例は、下記の式である。
M(r)=1+ar+br2 (または、改善/減少した精度について、より高次/低次の多項式を使用する)とすること。
白の背景上に均一なアレイの黒ドットからなる風景の画像を記録すること。
1つ又はそれ以上のドット列を選択すること。
画像内(歪んだ像面)で、これらの見かけ中心の座標を決定すること。
最小自乗最適化を使用して、歪まない像面への写像を行う際、直線ライン(または1つより多くの列を選択した場合は、複数ライン)に対して可能な限り接近したポイントを作る、最もフィットする係数a,b,Px,Pyを決定すること。
歪みモデルは、幾つかの方法で用いられる。概念的には、1つの方法は、カメラから捕捉した後、最初の処理ステップとして、完全「歪み無し」の全体画像に対するものである。
2.ビーム拡がりおよびポイント位置の不確実性を考慮する(レンズ歪みが無い場合に行われるのと同じ)閉じた多角形の内部にある画素セットを計算する。
3.各画素の座標を、歪んだ像面で最も近い画素位置に対して写像を行う。
4.バックグランド消去エリアについて、上記ステップを繰り返す
5.「画素半径」(画像内の光源の見かけ位置からの画素の距離)を計算する際に用いる全ての座標は、歪まない像面に対して最初に写像すべきである。
6.同様に、全ての幾何関連量(散乱角、レーザビーム上の対応する位置など)を計算する際に用いた座標は、歪まない像面に対して最初に写像すべきである。
1.歪みモデルの視覚的確認
2.外部システムへの監視画像の配給
1つのテクニックは、オフセットレンズとして知られている。図21において、レンズ212と受光面213からなるカメラは、光源211に由来する散乱光を検知する。レンズは、受光面の中心からオフセットしており、画像での収差を低減するように傾斜させてもよい。受光面は、光ビームに対してほぼ平行となるように配置される。
同様な効果を達成する他の方法は、プリズムを使用することである。図22に例を示しており、レンズ222と受光面223からなるカメラは、光源221に由来する散乱光を検知する。散乱光は、レンズに入る前にプリズム4を通過する。
更なる方法は、湾曲ミラーを使用する。図23に例を示しており、レンズ232と受光面233からなるカメラは、光源231に由来する散乱光を検知する。散乱光は、レンズに入る前に最初に湾曲ミラー234によって反射される。
Snを、レーザnがフルパワーである場合、レーザnによって照射される粒子からの関与分とする。
Lnを、n番目のレーザのパワーとする。但し、1はフルパワーを表し、0はレーザオフ状態を表す(分数のレーザパワー0<Ln<0も許容される。)。
Nを、レーザの合計数とする。
そして、下記の式が得られる。
システムによって感知される特別な場所を決定するためには、受光器および光源の内的および外的なパラメータを決定する必要がある。
受光器が、CCDやCMOSセンサなどのエリアアレイセンサを用いたカメラである場合、重要な内的パラメータは、焦点距離、センサ素子のxとyのピッチ、レンズの主軸と画像アレイの一致ポイント、および半径レンズ歪み係数である。
外的パラメータは、そのままで較正する必要がある。これらは、光源および受光器の搭載のモードに依存しているからである。空間場所の完全な決定のために測定する必要があるパラメータは、各光源および受光器に関して、光源の回転の実効中心、X,Y,Zおよび各デカルト(Cartesian)軸回りの回転、α,β,γである。
更なる実施形態では、散乱を検出するために用いられる同じ受光器は、ビームの到達を管理してもよい。これは、図41に示している。ビーム管理システムのこの実施形態ではビーム413は、受光器412のレンズに対して直接または近くの位置415に周期的に操縦される。これは、極めて高い信号レベルを生じさせることがあり、光ビームの到達を確認するために使用される。確認の後、ビームは、通常の位置414まで操縦される。この手法の利点は、別個のビーム管理要素の必要性を排除することによって、コストを低減している点である。
ビーム広がり効果に対する感度を改善するために、光吸収性の構造または表面、またはマスキング構造に主ビームを集束して、大きい粒子の散乱によって生ずるビームの広がりを強調することが可能である。この特性を持つ適切なターゲットの例は、図45に示すようなものであり、451は通常のターゲット表面であり、452は光吸収材料の円である。同様に、452は空洞構造でもよいことに留意し、こうしてアパーチャを通じた光の戻り反射を最小化する。
受光器が正しく動作するのを確認することが必要であろう。受光器が、CCDやCMOSカメラなどのエリアアレイ検出器である場合、欠陥画像要素(画素)または、画像アレイ表面上に落ちた余分なダスト粒子により、システムは光散乱イベントを見失うことがある。
非常に可燃性の材料が点火した場合に発生するような、突然の厚い煙柱が発生した場合、光ビームは大きく減衰して、前方散乱が検出されなくなる。これらの条件下では、本発明の更なる実施形態に従って、光源に向けて後方散乱した光を使用して、上述したような空気中の煙の場所および量を示すことが可能である。
Claims (95)
- 監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
発射ステップおよび検出ステップは、発射ビームのパワーレベルと間接的に比例した関係に従って、放射ビームのオン期間および画像捕捉手段の露出期間を決定することを含む粒子検出方法。 - 変調ステップは、さらにビームのオン期間と画像捕捉手段の露出期間を同期させることをさらに含む請求項1記載の方法。
- ビームのオン期間は、露出期間より大きいか、それより小さいか、またはそれと等しい請求項2記載の方法。
- ビームは、パルス動作するようにした請求項1,2または3記載の方法。
- ビームのオン期間を、約数秒から約0.1msecまたはそれ以下の範囲に設定するステップと、
対応するビームパワーレベルを、約1.18mWまたはそれ以下から約500mWの範囲に設定するステップ、の1つ又はそれ以上のステップをさらに含む請求項1〜4のいずれかに記載の方法。 - 画像捕捉手段は、約25から100フレーム/秒の範囲のフレームレートで動作し、
ビームは、約12.5Hzから約50Hzの範囲の周波数でパルス動作するようにした請求項1〜5のいずれかに記載の方法。 - 監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
対象粒子の存在以外のイベントに対応した、検出画像における1つ又はそれ以上の変動および変動の原因を軽減するステップをさらに含む粒子検出方法。 - 軽減ステップは、拡大ビーム幅を用意して、拡大ビームと比べて比較的小さい、少なくとも1つの寸法を含む第1の物品が、ビームに対して最小の相互作用を生じさせて、検出画像において相応に低減された変動を提供することと、
発射ビームの予め定めた並進運動を用意して、第2の物品と相互作用するビームを回避することと、
第3の物品によって生ずるビームの散乱特性を決定して、第3の物品を対象粒子から区別することとの1つ又はそれ以上を含む請求項7記載の方法。 - 第1の物品および第2の物品は、クモの巣、クモの糸、フィラメントの1つ又はそれ以上の物体を含む請求項8記載の方法。
- 第3の物品は、対象粒子より実質的に大きいサイズを持つ物体を含む請求項8または9記載の方法。
- 物体は、ダスト粒子を含む請求項10記載の方法。
- 粒子は、煙粒子を含む請求項1〜11のいずれかに記載の方法。
- 監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
検出ステップを行うためのプローブを用いて、発射ビームを探査するステップをさらに含む粒子検出方法。 - プローブは、半透明な物体を含むようにした請求項13記載の方法。
- プローブは、検出される粒子の光散乱特性に近似した光散乱特性を備えるようにした請求項13または14記載の方法。
- プローブは、発射ビームと相互作用する際、実質的に2次元の物体と、
発射ビームと相互作用する際、実質的に3次元の物体、の1つ又はそれ以上を含む請求項13〜15のいずれかに記載の方法。 - プローブは、発射ビームへの移動が容易なように、グランドレベルに対して可動である請求項13〜15のいずれかに記載の方法。
- 監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示す粒子検出方法であって、
ビームを複数のセグメントに分割するステップと、
各ビームセグメントについて画像変動を決定するステップと、
各セグメントについて決定した画像変動を制御ポイントへ提供して、複数のポイント粒子検出器をシミュレーションするステップとをさらに含む粒子検出方法。 - 画像捕捉手段は、1つ又はそれ以上の画像捕捉デバイスを備える請求項1〜18のいずれかに記載の方法。
- 画像捕捉手段は、対向する画像捕捉デバイスを備える請求項1〜19のいずれかに記載の方法。
- 第1の画像捕捉デバイスと対をなす第1のビーム発光器を用意するステップと、
第2の画像捕捉デバイスと対をなす第2のビーム発光器を用意するステップと、
第2の画像捕捉デバイスを用いて、第1の発光器の発射ビームを監視するステップと、
第1の画像捕捉デバイスを用いて、第2の発光器の発射ビームを監視するステップと、をさらに含む請求項1〜20のいずれかに記載の方法。 - 第1および第2の対をなす発光器および画像捕捉デバイスのうちの1つ又はそれ以上は、同一の搭載配置に設けられる請求項21記載の方法。
- 第1および第2の対をなす発光器および画像捕捉デバイスのうちの1つ又はそれ以上を予備配列させるステップをさらに含む請求項21または22記載の方法。
- 予備配列ステップは、ビームが、対応する画像捕捉デバイスの視野中心に対して予め定めた角度で現われるように、個々の発光器のビーム方向を設定することを含む請求項23記載の方法。
- 予め定めた角度をθ、個々の発光器/画像捕捉デバイスの対の間の距離をDメートルとし、第1の発光器のビームの目標スポットと第2の画像捕捉デバイスとの間の距離が、
S=D・tanθ
で与えられるようにした請求項24記載の方法。 - 監視される領域に放射ビームを発射することと、
画像捕捉手段を用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
監視される領域内の空間での予め定めた幾何学ポイントの位置を決定するステップをさらに含む粒子検出方法。 - 決定ステップは、画像捕捉デバイスを光源で散乱した放射から遮蔽するように、その光源において、ビームを、平行化することと空間フィルタリングを行うことの1つ又はそれ以上を含む請求項26記載の方法。
- 決定ステップは、画像捕捉デバイスが発射ビーム源の位置を特定できるように、少なくとも1つの2次光源を発射ビーム源に近接して設けるステップを含む請求項26または27記載の方法。
- 決定ステップは、ビーム源の場所を決定することを含み、目標スポットが、画像捕捉デバイスに近接したポイントにおける発射ビームの入射ポイントである請求項26〜28のいずれかに記載の方法。
- 目標スポットは、プローブを用いて投射される発射ビームと、
ダスト粒子を用いて投射される発射ビームと、
画像捕捉デバイスの視野内で監視される領域内にある構造用いて投射される発射ビームのうちの1つによって提供されるようにした請求項29記載の方法。 - 画像捕捉手段は、画像捕捉デバイスと、少なくとも1つ又はそれ以上の目標スポット画像を提供するための少なくとも1つの光学素子と、を備える請求項29記載の方法。
- 少なくとも1つの光学素子は、少なくとも1つのミラーと、少なくとも1つのガラス素子と、少なくとも1つのプリズムの1つ又はそれ以上を備える請求項31記載の方法。
- 重なり合う、少なくとも2つの目標スポットの捕捉画像の間の中心間距離と、
捕捉画像内の各目標スポットの位置と、
少なくとも1つの光学素子の予め定めた角度と、
少なくとも1つの光学素子の予め定めた場所、のうち1つ又はそれ以上を基礎として、
目標スポットの場所を決定するステップをさらに含む請求項31または32記載の方法。 - 光源と画像捕捉手段の間で同期をとるための方法であって、
光源を、所定のレートでオンオフさせることと、
光源を、画像捕捉手段によって捕捉された1つ又はそれ以上のビデオ画像において識別することと、
画像捕捉手段のフレームレートを連続的に変更して、同期をとることとを含む方法。 - 光源は、広い発光角度を有する2次光源が取り付けられる請求項34記載の方法。
- 光源との所定のタイミング関係で2次光源を点滅させて、画像捕捉手段の画像において光源の位置特定を容易にするステップをさらに含む請求項35記載の方法。
- 2次光源は、周期的パターンと疑似乱数シーケンスの1つ又はそれ以上で点滅するようにした請求項36記載の方法。
- 光源の発振器レートに近似した、画像捕捉手段のフレームレートを用意するステップと、
点滅する2次光源を識別するステップと、
画像捕捉手段のフレームレートの位相を変化させて、画像捕捉手段の露出と光源の間のタイミング関係を維持するステップと、をさらに含む請求項36または37記載の方法。 - 光源の発振器の周波数が、AC幹線電力周波数と同じ、その倍数、またはその約数になるように変更するようにした請求項34〜38のいずれかに記載の方法。
- 監視される領域に第1の放射ビームを発射することと、
第1の画像捕捉デバイスを用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
画像変動は、後方散乱放射に対応している粒子検出方法。 - 第2の画像捕捉デバイスに対して近接し、ある角度にある光源を有する第2の発射ビームを用意して、第2のビームが第2の画像捕捉デバイスの視野を横切るようにするステップと、
監視される領域からの後方散乱光を検出するステップとをさらに含む請求項40記載の方法。 - 検出した後方散乱光は、発射ビーム方向に対して約180度またはそれ以下の散乱角を有する請求項41記載の方法。
- 検出した後方散乱光は、発射ビーム方向に対して約90度またはそれ以下の散乱角を有する請求項41記載の方法。
- 捕捉画像のエッジ検出およびおよび補正を用意して、ビームと画像捕捉デバイスの対の物理的移動があったか否かを決定するステップと、
画像処理を用意して、閾値アラームレベルを超える、捕捉画像での目標マーカの移動を決定し、これによりビームと画像捕捉デバイスの対の物理的移動があったか否かを決定するステップと、
監視される領域へ発射される追加の放射源を用意して、画像捕捉デバイスのためのマーカを設けて、これによりビームと画像捕捉デバイスの対の物理的移動があったか否かを決定するステップと、の1つ又はそれ以上をさらに含む請求項40〜43のいずれかに記載の方法。 - 捕捉画像内で、発射ビームの入射ビームスポットの強度を記録することによって、経路損失測定値を決定するステップと、
記録した強度を、前回記録した強度と比較するステップとをさらに含む請求項1〜44のいずれかに記載の方法。 - 監視される領域に第1の放射ビームを発射することと、
画像捕捉デバイスを用いて領域の画像変動を検出することとを含み、画像変動は粒子の存在を示すものである粒子検出方法であって、
ビーム中への切迫した侵入を検出するために、少なくとも1つの追加ビームを第1のビームに近接するように設けることをさらに含む粒子検出方法。 - 少なくとも1つの追加ビームへの侵入を検出する際、第1のビームは、オフに切り替えるようにした請求項46記載の方法。
- 予め定めた最大速度を持つ物体が第1のビームとの相互作用が可能になる前に、第1のビームは、オフに切り替えるようにした請求項47記載の方法。
- 少なくとも1つの追加ビームは、第1のビームの回りに、間隔を持つリング状のビームを形成する複数のビームを備える請求項46〜48のいずれかに記載の方法。
- 請求項1〜6のいずれか1つまたはそれ以上のステップをさらに含む請求項46〜49のいずれかに記載の方法。
- 第1のビームおよび追加ビームは、実質的に同じ方向と実質的に反対の方向のうちの1つで進行するようにした請求項46〜50のいずれかに記載の方法。
- 請求項18〜51のいずれか1つまたはそれ以上のステップをさらに含む請求項46〜51のいずれかに記載の方法。
- 少なくとも1つの追加ビームの光源は、リング状の光源と、少なくとも1つの光源と、少なくとも1つの光源および少なくとも1つのホログラムのうちの1つを備える請求項46〜52のいずれかに記載の方法。
- 監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することとを含む粒子検出方法であって、
放射ビームおよび画像変動を検出する手段のうち少なくとも1つは、データ通信するようにした粒子検出方法。 - 放射ビームは、レーザビームを含み、
画像変動検出手段は、1つ又はそれ以上のカメラと、計算手段とを備え、
粒子は、煙粒子を含む請求項54記載の方法。 - 通信すべきデータは、カメラ/レーザの同期情報と、
カメラ/レーザのタイミング情報と、
カメラ/レーザのシステム構成データと、
レーザ強度、デューティサイクルおよびカメラ露出コマンドと、
レーザとカメラのアライメントデータと、
マルチレーザシステムのためのレーザの許可/禁止コマンドと、
レーザマーカの起動/停止/デューティサイクル/強度の制御コマンドと、
レーザの偏光または波長切り替えコマンドと、
火災パネルまたは他の外部システムへ報告するための火災アラーム状態、のうちの1つ又はそれ以上を含む請求項55記載の方法。 - データは、光伝送手段と、無線伝送手段の1つ又はそれ以上の手段によって通信されるようにした請求項54,55または56記載の方法。
- データを、火災アラームパネルと通信するステップをさらに含む請求項54〜57のいずれかに記載の方法。
- 干渉する信号周波数から離れた周波数シフト動作により、データを通信するステップをさらに含む請求項54〜58のいずれかに記載の方法。
- 下記の通信技術の1つ又はそれ以上に従ってデータを通信するステップをさらに含む請求項54〜59のいずれかに記載の方法。
シリアルデータを用いた振幅変調
ビームを変調するためのデータ符号化 - 変調技術および符号化技術の1つ又はそれ以上は、
データと疑似乱数シーケンスとの排他的論理和をとり、データを乱数化すること、
データをデータ圧縮すること、
マンチェスター符号化、
パルス位置変調、
パルス幅変調、
周波数シフトキーイング、
位相シフトキーイング、
振幅シフトキーイング、
スペクトラム拡散技術、の1つ又はそれ以上を含む請求項60記載の方法。 - 少なくとも1つの追加の放射源は、放射ビームおよび画像変動検出手段の1つ又はそれ以上との組合せで、データ通信を行うようにした請求項54〜61のいずれかに記載の方法。
- 少なくとも1つの追加の放射源は、LEDを備える請求項62記載の方法。
- 検出手段は、少なくとも1つのカラー感度デバイスを備え、
データ通信を行うようにしたビーム及び/又は追加の放射源は、3つの異なる波長のうちの1つの放射を発射するようにしている請求項54〜63のいずれかに記載の方法。 - 監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出した画像での歪みを補正することとを含む粒子検出方法。 - 歪みは、画像変動を検出するための画像捕捉手段と動作上関連した少なくとも1つの光学素子から由来している請求項65記載の方法。
- 光学素子は、レンズを備える請求項66記載の方法。
- 補正ステップは、歪みを低減するようにした複合レンズを用意することと、
捕捉画像内のポイントと、監視領域内で対応するポイントとの間の経験的な関係を決定することと、
監視領域内で均等に照射された風景を用いて、画像変動を検出するため画像捕捉デバイスを較正することと、
ビーム像が、捕捉画像の画像中心近傍を通過するように、放射ビームおよび画像変動を捕捉するため画像捕捉デバイスを配向させることと、
歪んだ像面と歪まない像面との間の代表的な写像をモデル化すること、の1つ又はそれ以上を含む請求項66または67記載の方法。 - 監視される領域に放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
画像部分を選択的に分解するために、検出した画像に対して重み関数を適用することとを含む粒子検出方法。 - 重み関数を適用するステップは、画像捕捉手段の近くのビームの一部を取り込んだ画素が、画像捕捉手段から遠くにあるビームの一部を取り込んだ、対応する画素の視野より広くなるようにして、検出した画像の画素の視野を操作することを含む請求項70記載の方法。
- 操作ステップは、監視領域の画像を捕捉するための物理的な光学配置を適合させることと、
画像処理補正を、少なくとも1つの監視領域の捕捉画像に適用することの1つを含む請求項71記載の方法。 - 物理的な光学配置を適合させるステップは、請求項65〜69のいずれかに記載の方法ステップの1つをさらに含む請求項72記載の方法。
- 物理的な光学配置は、レンズ、プリズム、および湾曲ミラーのうち1つ又はそれ以上を含む請求項72または73記載の方法。
- 監視される領域に、複数の放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
ビームについて動作の順序付けを行うこととを含む粒子検出方法。 - 複数のビームおよび画像変動を捕捉するための画像捕捉手段は、1つの面内に配置される請求項75記載の方法。
- ビームについて動作の順序付けを行うステップは、1つ又はそれ以上のビームを走査することを含む請求項75または76記載の方法。
- 領域の画像変動を検出するステップは、下記のようにして、監視領域の捕捉画像に適合した画像捕捉手段の信号を、各ビームについて別個の散乱読み取り信号へ変換することを含む請求項75,76または77記載の方法。
Rを、画像捕捉手段からの画像内の1つの画素での合計受光信号とし、
Snを、ビームnがフルパワーである場合、ビームnによって照射される粒子からの関与分とし、
Lnを、n番目のビームのパワーとし、ここで、1はフルパワーを表し、0はビームオフ状態を表すものであり、
Nを、ビームの合計数とし、
そして、下記の式が得られ、
- 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
放射源および画像検出手段のうち少なくとも1つを、制御により位置決めされるよう適合させることとを含む粒子検出方法。 - 適合ステップは、パンニング、ティルティング、ズーム、ローリングの1つ又はそれ以上を含み、4つ以下の自由度が各放射源および画像検出手段に適用されて、合計8つ以下の自由度を提供するようにした請求項79記載の方法。
- パン、ティルト、ズームおよびロールの各場所での位置を決定するための多次元ルックアップテーブルにおいて、8つ以下の自由度を表現するステップをさらに含む請求項80記載の方法。
- 画像検出手段およびビーム放射源の内的パラメータおよび外的パラメータの1つ又はそれ以上に従って、パン、ティルトおよびズームの各場所での位置を決定するステップをさらに含む請求項81記載の方法。
- 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することとを含み、
画像は、少なくとも2つの位置に配置された画像検出器によって検出されるようにした粒子検出方法。 - 変動が、少なくとも2つの位置で検出された画像にとって普通でない画像は、廃棄するステップをさらに含む請求項83記載の方法。
- 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
放射ビームを管理することとを含む粒子検出方法。 - 管理ステップは、監視領域の画像を捕捉するための画像捕捉手段によって行われる請求項85記載の方法。
- 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出されたビームの中心部をマスクして、画像変動の検出を向上させることとを含む粒子検出方法。 - 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
監視される領域の画像を捕捉するための画像捕捉手段の動作を検査することとを含む粒子検出方法。 - 検査ステップは、画像捕捉手段のための参照照射を用意することと、
予備作動状態での画像捕捉手段の参照画像を保存すること、の1つ又はそれ以上を含む請求項88記載の方法。 - 監視される領域に、放射ビームを発射することと、
粒子の存在を示す領域の画像変動を検出することと、
検出した画像を評価して、検出した画像変動との干渉を補正することとを含む粒子検出方法。 - 評価ステップは、ビームがオフである背景画像を、ビームがオンである活動画像と比較することと、
ビームの側方に配置された参照領域を用いて、画像間の相対変化を追跡すること、の1つ又はそれ以上を含む請求項90記載の方法。 - 粒子を検出するように適合した装置であって、
所定の命令セットに従って動作するようにしたプロセッサ手段を備え、
前記命令セットに関連して、請求項1〜91の1つ又はそれ以上に記載の方法を実行するようにした装置。 - コンピュータ読み取り可能なプログラムコードを有するコンピュータ利用可能な媒体と、
データ処理システム内で、粒子検出用の前記媒体に組み込まれたコンピュータ読み取り可能なシステムコードとを備え、
前記コンピュータプログラム製品は、請求項1〜91の1つ又はそれ以上に記載の方法ステップを実行するために、前記コンピュータ利用可能な媒体内にコンピュータ読み取り可能なコードを備えているコンピュータプログラム製品。 - ここで記載したような方法またはプロトコル。
- ここで記載したような装置、デバイスまたはシステム。
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