JP2011503581A - 粒子の検出 - Google Patents
粒子の検出 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011503581A JP2011503581A JP2010533384A JP2010533384A JP2011503581A JP 2011503581 A JP2011503581 A JP 2011503581A JP 2010533384 A JP2010533384 A JP 2010533384A JP 2010533384 A JP2010533384 A JP 2010533384A JP 2011503581 A JP2011503581 A JP 2011503581A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- space
- detection system
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 399
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 248
- 239000000779 smoke Substances 0.000 claims abstract description 171
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 96
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 59
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 353
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 214
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 114
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 62
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 61
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 56
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 claims description 45
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 43
- 239000003550 marker Substances 0.000 claims description 31
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 23
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 22
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 22
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 13
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 13
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 claims description 12
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 11
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 10
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 claims description 9
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 4
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 3
- 230000003678 scratch resistant effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims 2
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 claims 2
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 claims 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 32
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 26
- 230000006870 function Effects 0.000 description 19
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 13
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 12
- 238000005388 cross polarization Methods 0.000 description 10
- 241000238631 Hexapoda Species 0.000 description 9
- 230000004044 response Effects 0.000 description 9
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 6
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 4
- 241000239290 Araneae Species 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 3
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 239000002917 insecticide Substances 0.000 description 2
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 2
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 2
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 2
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 description 1
- 206010069201 Smoke sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 239000004904 UV filter Substances 0.000 description 1
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 239000002801 charged material Substances 0.000 description 1
- 238000012993 chemical processing Methods 0.000 description 1
- 239000011362 coarse particle Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000000586 desensitisation Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010291 electrical method Methods 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 235000019441 ethanol Nutrition 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 210000002837 heart atrium Anatomy 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000002329 infrared spectrum Methods 0.000 description 1
- 208000014674 injury Diseases 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000013178 mathematical model Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000008447 perception Effects 0.000 description 1
- 239000011164 primary particle Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000001373 regressive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B17/00—Fire alarms; Alarms responsive to explosion
- G08B17/10—Actuation by presence of smoke or gases, e.g. automatic alarm devices for analysing flowing fluid materials by the use of optical means
- G08B17/103—Actuation by presence of smoke or gases, e.g. automatic alarm devices for analysing flowing fluid materials by the use of optical means using a light emitting and receiving device
- G08B17/107—Actuation by presence of smoke or gases, e.g. automatic alarm devices for analysing flowing fluid materials by the use of optical means using a light emitting and receiving device for detecting light-scattering due to smoke
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0656—Investigating concentration of particle suspensions using electric, e.g. electrostatic methods or magnetic methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B17/00—Fire alarms; Alarms responsive to explosion
- G08B17/12—Actuation by presence of radiation or particles, e.g. of infrared radiation or of ions
- G08B17/125—Actuation by presence of radiation or particles, e.g. of infrared radiation or of ions by using a video camera to detect fire or smoke
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
- G08B29/18—Prevention or correction of operating errors
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
- G08B29/18—Prevention or correction of operating errors
- G08B29/185—Signal analysis techniques for reducing or preventing false alarms or for enhancing the reliability of the system
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/075—Investigating concentration of particle suspensions by optical means
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Emergency Management (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
光センサの視野内の表面の少なくとも一部分を照明するステップと、
光センサの出力を分析し、前記表面の照明の変化を決定するステップと、
光センサの出力が1つ以上の所定の基準に合致する場合に、物体の存在を特定するステップと、を含む方法を提供する。
監視対象の空間の第1の側に取り付けられ、放射のビームを放射するように構成された主光源と、前記主光源から受ける入射ビームを受けて、反射ビームを反射するように構成されており、少なくとも前記反射ビームが当該システムによる監視の対象の空間を横切るように配置されている反射器と、前方散乱の幾何学にて反射ビームから散乱させられる光を受光することができるように取り付けられた光センサと、前記光センサの出力を分析し、散乱させられた放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段とを備える粒子検出システムを提供する。
を含む方法を提供する。
既知の偏光選択性を有する散乱光を測定するステップを含むことができる。
監視対象の第1の空気の空間を横切って放射のビームを導くための主照明手段、
前記ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサ、
前記取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段、および
第2の空間内の粒子を検出できるよう、該第2の空間から前記第1の空間へと空気を移動させるように構成された空気循環手段
を備える粒子検出システムを提供する。
1)レーザ1300を振幅変調し、この特定の変調に応答するように調節された受光器を使用する(例えば、レーザの1000Hzのオン−オフ振動および100msの積分期間での同期検出)。
2)受光される光の波長に関するフィルタ処理(例えば、着色フィルタまたは干渉フィルタの使用)。
3)受光される光の偏光に関するフィルタ処理(受光器の前方に偏光板を配置)。
・伝播方向に対する散乱の角度
・入射光の偏光の平面に対する散乱の角度
・照明の波長
・散乱物質の種類および量
・空気中の虫、蜘蛛の巣、および他の小さな進入物に起因する誤警報の割合を低減できる。
・空気中の塵埃に起因する誤警報の割合を低減できる。
・ビームへと進入する大きな物体を、そのような物体であると特定し、誤警報を生じさせることがないように除外することができる。
要約すると、この例は、積分領域の各ピクセルからの信号(バックグラウンドのキャンセル後)を先行および/または後続のサンプルと比較することによって動作する。該当の値が、平均を所定のしきい値よりも大きく超える場合に、そのような値が、例えばクリッピングされ、破棄され、あるいは局所平均で置き換えられることによって、無視される。
空間過渡フィルタ処理を使用する例では、積分領域の各ピクセルからの信号(バックグラウンドのキャンセル後)を、隣接ピクセルの平均と比較することができる。該当のピクセルの値が、平均を所定のしきい値よりも大きく超える場合に、そのような値を、例えばクリッピングし、あるいは破棄することによって、無視することができる。
統計的分析も、塵埃由来の散乱信号と煙由来の信号との間の区別のために使用することができる。
・所与の波長において散乱比へのわずかな光損失を決定すること、
・複数の波長において散乱比を決定すること、
・複数の波長のわずかな光損失/散乱比を組み合わせること、
・異なる偏光において散乱比を決定すること、
・異なる散乱角度における散乱レベルを決定すること(例えば、複数のカメラおよび/またはビームを使用することによって)、
を含む。
・現実的に最も大きい光センサを使用する。
・センサ光学系を使用することによって受光される光の焦点をずらす。
・レーザをターゲット表面のより大きな部分を横切って動かし、読み取りを時間平均する。
・ターゲットにより大きな直径のスポットを形成するために、より大きなレーザビームまたは発散するビームを使用する。
・非コヒーレントな光源を使用し、あるいはコヒーレントな光源が使用される場合には、ビームを非コヒーレントにするために使用することができる装置(例えば、乳白色ガラスまたは当業者にとって公知の他の技法)をセンサまたは発光体に配置する。
・コヒーレンスを減らすべくレーザの周波数を変調する。
・可能な限り大きく、あるいは現実的に最大の集光レンズを、受光器において使用する。
・システムが機能可能になる前に、システムの試運転においてレーザビームを正確に設定する必要がある。
・取り付けにおけるドリフトまたは移動。この点に関し、ドリフトが存在する場合には、必要な経路を正確に維持するために、レーザビームの間断のない調節が必要であり得る。例えば、ドリフトは、温度または湿度が変化するときに建物に生じることが多い建物の動きに起因して生じ、あるいは取り付け機構における望ましくない変化に起因して生じ得る。
・センサの視野への物体の進入。この問題に対処するための本明細書に記載の実施形態のいくつかは、光ビームの方向を一時的または継続的に変化させることを含む。
・低コスト:幅広い移動範囲および精度の両方を組み合わせる運動システムを製作することは実現可能であるが、きわめて微細な公差で製作される高価な部品が必要になると考えられる。多段式の手法は、低コストな部品の使用を可能にする。
・長寿命:ボイスコイルまたは圧電デバイスなど、第2のステージ用に選択されるアクチュエータは、他の利用可能なアクチュエータ機構と同じ様相では摩耗しない。
・例えば高さ48ピクセル×幅640ピクセルなど、センサの有効窓を細い水平窓へとプログラムする。
・センサから画像の一部のみを抽出し、次のフレームのためにセンサを速やかにリセットする。
・放射されるレーザビームの画像が窓内に表れるように保証する。
・別途の後方散乱レーザを使用することができ、主たる前方散乱システムと同じカメラによって監視することができる。
・高い煙密度での動作に合わせて構成された別のAVSDシステム一式を用意することができる。
・例えば本発明の他の態様に記載のように、レーザ目標を監視して、レーザビームの到着強度を測定する光検出器。
・光源に位置して空間を2回横断した後のレーザビームの到着強度を決定する光検出器に向かって、レーザビームの一部またはすべてを反射させるための反射面を目標に備える構成。反射器は、上述のように非鏡面または鏡面あるいは回帰反射であってよい。そのようなシステムは、光が空間を2回通過するため、感度が向上するという利点を有している。
・カメラによって測定される別の光源の強度の使用。例えば、レーザユニットが、画像内の光源点の位置の正確な割り出しを可能にするマーカーランプを既に備えることができる。同様のマーカーを、他のシステム構成部品に配置し、空間を横切って監視することができる。
・カメラから得られた画像内の基準領域の空間周波数の分析。高周波成分の大きな減少が、煙の濃度が高いことを示しており、例えば通常であればセンサの視野において数ピクセルを占めるにすぎないレーザ端におけるマーカーランプが、煙が高濃度で存在する場合には、より広い領域にわたってぼやけ、すなわち画像内の短周期(高周波)成分の数が少なくなる。
・透過、掩蔽、または粒子の濃度に関係する他の任意のパラメータを測定する任意の方法。
Claims (267)
- 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空間の少なくとも一部分を横切って光のカーテンを生成するように構成された主光源を備える粒子検出システム。 - 光のカーテンの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出する手段と、をさらに備える請求項1に記載の粒子検出システム。 - 光のカーテンが、発散ビームを生成するための光学手段を使用して生成される請求項1または2に記載の粒子検出システム。
- 光のカーテンが、監視対象の空間を横切って直線ビームを走査することによって生成される請求項1または2に記載の粒子検出システム。
- 光のカーテンが、平面状である請求項1〜3のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 画像取得手段が、前記平面内に配置される請求項5に記載の粒子検出システム。
- 粒子検出システムを、所定の開口サイズおよび第1の暴露時間で該システムの画像センサの飽和を生じさせ得る環境光レベルにおいて動作させる方法であって、
画像センサの飽和を生じさせないように減少した暴露時間を決定するステップと、
減少した暴露時間にもとづいて、増加した画像取得周波数を決定するステップと、を含む方法。 - 暴露時間が、飽和を避けるためにN倍減少し、画像取得周波数が実質的にN倍増加する請求項7に記載の方法。
- 増加した画像取得周波数が、毎秒500画像を上回る請求項7または8に記載の方法。
- 増加した画像取得周波数が、毎秒600〜2000画像の間である請求項7または8に記載の方法。
- 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空気の空間を横切って放射のビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、
監視対象の空間の少なくとも延長部にバックグラウンドを提供する表面を照明するように構成された光源と、
バックグラウンド表面から反射される光を受光するように構成された光センサと、
光センサの出力を分析して、バックグラウンド表面へと投影された影の存在を判断するための手段と、を備える粒子検出システム。 - 影の存在を判断するための手段が、
事前記録された基準画像を保存するための手段と、
前記光センサの出力を、事前記録された基準画像と比較して、影の存在を判断するための手段と、を含む請求項11に記載の粒子検出システム。 - 影が検出された場合、不具合状態を知らせるための不具合通知手段を備える請求項11または12に記載の粒子検出システム。
- 不具合通知手段が、不具合状態の継続時間を判断するための手段を含んでおり、
不具合状態が所定の継続時間にわたって続いた場合に不具合状態を知らせるように構成されている請求項3に記載の粒子検出システム。 - 前記表面が、非平行または発散ビームを使用して照明される請求項11〜14のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 表面を照明するように構成された光源が、さらに粒子の検出にも使用される請求項11〜15のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 光源が、放射の平行ビームを前記空間へと放射し、前記表面の延長部分を照明すべく前記空間を横切って走査される請求項11〜16のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 光源が、非平行または発散ビームを放射する請求項11〜17のいずれかに記載の粒子検出システム。
- AVSDシステムの光センサの視野の少なくとも一部分における物体の存在を特定するための方法であって、
光センサの視野内の表面の少なくとも一部分を照明するステップと、
光センサの出力を分析し、前記表面の照明の変化を決定するステップと、
光センサの出力が1つ以上の所定の基準に合致する場合に、物体の存在を特定するステップ、とを含む方法。 - 光センサの出力を分析するステップが、光センサの出力を光センサの基準出力と比較するステップを含む請求項19に記載の方法。
- 光センサの出力を分析するステップが、基準出力には存在しない少なくとも1つの影が光センサの出力に存在することを判定するステップを含む請求項20に記載の方法。
- 前記表面が、非平行または発散ビームを使用して照明される請求項19〜21のいずれかに記載の方法。
- 前記表面が、平行ビームを使用して照明され、
前記方法が、該ビームを前記表面の広い部分を照明するために前記表面を横切って走査するステップ、を含む請求項19〜21のいずれかに記載の方法。 - 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空気の空間を横切って放射のビームを案内するための主照明手段と、
ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された主画像センサとを含み、
主照明手段および主画像センサは、監視対象の空間の非対向面に位置決めされており、
さらに、主光源によって放射された光を所定の目標位置へ、監視対象の空間の少なくとも一部分を横切る経路を通るように案内するように構成された少なくとも1つの反射器と、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える粒子検出システム。 - 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空間の第1の側に取り付けられ、放射のビームを放射するように構成された主光源と、
主光源から受ける入射ビームを受けて、反射ビームを反射するように構成され、少なくとも反射ビームが前記システムによる監視の対象の空間を横切るように配置されている反射器と、
前方散乱配置で、反射ビームから散乱した光を受けることができるように取り付けられた光センサと、
光センサの出力を分析し、散乱させられた放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段、とを備える粒子検出システム。 - 主光源および主光センサが、監視対象の空間の同じ側に位置している請求項24または25に記載の粒子検出システム。
- 主光源および主光センサが、実質的に同じ位置にある請求項24〜26のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 主光源および主光センサが、同じハウジングに取り付けられている請求項24〜27のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 主光センサの視野が、反射器に入射するビームおよび反射ビームの少なくとも一部分を含む請求項24〜28のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 主光センサの視野が、所定の目標位置を含む請求項29に記載の粒子検出システム。
- 反射器が、複数の反射面を含む請求項24〜30のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 反射器が、光のビームを入射ビームに対して実質的に固定の角度で反射するように構成されたコーナーリフレクタである請求項24〜31のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 光源または1つ以上の反射器のいずれかが、入射または反射ビームの経路を変更するように操縦可能である請求項24〜32のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 反射ビームを受光するように配置された第2の光センサ、をさらに備える請求項24〜33のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 反射ビームの少なくとも一部が、監視対象の空間を横切る請求項24〜34のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
少なくとも1つの放射のビームを監視対象の空気の空間を横切って案内するための照明手段と、
ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備えており、
放射のビームのうちの少なくとも1つが、前記システムによる検出の対象の粒子が実質的に存在しないときに、前記空間を通過するビームの経路の決定を光センサによって行うことができるようにするマーカービームであるシステム。 - マーカービームを放射するための二次光源を備える請求項36に記載のシステム。
- マーカービームが、前記システムによる検出の対象の粒子よりも小さい粒子からの散乱を生じる波長成分を、光センサの受光帯の範囲内の波長に含む請求項36または37に記載のシステム。
- マーカービームが、短波長の光ビームである請求項36〜38のいずれかに記載のシステム。
- マーカービームが、青色または紫外の光のビームである請求項36〜39のいずれかに記載のシステム。
- マーカービームが、主光源によって生成されるビームである請求項36〜20のいずれかに記載のシステム。
- 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
2つ以上の波長成分を含む少なくとも1つの放射のビームを監視対象の空気の空間を横切って案内するための照明手段と、
ビームの少なくとも一部分の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備えるシステム。 - 少なくとも2つの波長成分からの散乱信号を決定できる請求項42に記載のシステム。
- 少なくとも2つの波長の散乱信号が、監視対象の空間の粒子のサイズ分布に関するデータを決定するために処理される請求項42に記載のシステム。
- マーカービームが、電磁スペクトルの可視帯にある請求項36〜44のいずれかに記載のシステム。
- マーカービーム源に対する既知の位置関係に、光のビームを放射する少なくとも1つの主光源を備える請求項36〜45のいずれかに記載のシステム。
- 粒子の検出に使用するための第1の光ビームを放射するための主光源と、
マーカービームを生成するためのマーカー光源とを備えており、
主光源およびマーカー光源が、所定の位置関係にて共通のハウジング内に取り付けられている請求項36〜46のいずれかに記載のシステム。 - マーカービームおよび主ビームが、下記の関係のうちの1つで配置されている請求項47に記載のシステム。
ビームが同軸である。
ビームが平行である。 - 主光ビームが、電磁スペクトルの可視域外にある請求項36〜48のいずれかに記載のシステム。
- マーカー光源が、間欠的に照明される請求項36〜49のいずれかに記載のシステム。
- 粒子検出システムのための光源装置であって、
第1の方向に光ビームを放射するように構成された発光素子と、
発光素子から放射されたビームの少なくとも一部を反射させるように配置された反射器とを備えており、
発光素子および反射器が、反射器から反射されるビームを操縦可能なように、発光素子および反射器の相対的向きが可変であるように取り付けられている光源装置。 - 発光素子および反射器の相対的向きが、2次元で可変である請求項51に記載の光源。
- 前記配置が、光ビームを受けるように構成された光センサをさらに備える請求項51または52に記載の光源。
- 光センサが、反射器から反射された光ビームを受けるように、反射器との相対位置に取り付けられている請求項53に記載の光源。
- 空気の空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
請求項1〜4のいずれかに記載の光源を備えており、監視対象の空気の空間を横切って放射のビームを案内する照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて前記空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える粒子検出システム。 - 光源から放射される少なくとも1つの光ビームを反射するように構成された反射ターゲットをさらに備える請求項55に記載の粒子検出システム。
- 反射ターゲットが、回帰反射部を含んでおり、
該回帰反射部が、該回帰反射部への入射経路と実質的に反対の経路に光を反射させるように構成されている請求項56に記載の粒子検出システム。 - 光源装置に対して既知の物理的関係に配置された二次光源を備える請求項51〜57のいずれかに記載の粒子検出システム。
- AVSDシステムにおいてビームの整列を決定する方法であって、
監視対象の空間を横切って光ビームを放射するステップと、
光ビームを所定の領域を横切って走査するステップと、
光センサで光ビームの少なくとも一部を受けるステップと、
受けた光について測定される少なくとも1つのパラメータにもとづいて、光ビームの整列を判断するステップと、を含む方法。 - 測定されるパラメータが、下記の特徴のうちの任意の1つ以上を含む請求項59に記載の方法。
光の強度、スポットサイズ、総受光放射照度、光強度パターン。 - 光ビームの少なくとも一部分を、放射ビームまたは反射ビームのいずれかが監視対象の空間を横切るように、反射器から光センサに向かって反射させるステップをさらに含む請求項59または60に記載の方法。
- 光ビームを走査するステップが、ビームを所定の角度範囲にわたって走査し、あるいはターゲットにおいて所定の直線範囲または領域にわたって走査するステップを含む請求項59〜61のいずれかに記載の方法。
- ビームの走査の結果として受ける光を分析し、AVSDシステムの一部を形成する反射器からの反射の受光パターンの特徴を特定するステップ、を含む請求項59〜62のいずれかに記載の方法。
- 反射器が、その光反射に対して少なくとも1つの検出可能な特徴を付与する光学的特徴を含む請求項61に記載の方法。
- 反射器の光学的特徴が、該反射器からの反射光に該反射器の少なくとも一部分の反射、屈折、および/または回折の特徴によって引き起こされる検出可能なパターンを形成するための手段を含む請求項64に記載の方法。
- 検出可能なパターンが、下記のうちの任意の1つ以上によって生じている請求項65に記載の方法。
反射器における反射率の変化、
バーコードパターン、
ホログラム、
既知の反射スペクトル。 - 決定した整列にもとづいて、ビームが所定のパターンで整列するように、光ビームの整列を変更するステップを含む請求項59〜67のいずれかに記載の方法。
- 光ビームを所定の領域を横切って走査するステップが、ビームを所定のパターンで走査するステップを含む請求項59〜68のいずれかに記載の方法。
- AVSDシステムにおいてビームの整列を決定する方法であって、
主光源または二次光源のいずれかから放射される光を光センサで検出するステップと、
受けた光の少なくとも1つの測定パラメータにもとづいて、光ビームの整列を決定するステップと、を含む方法。 - 測定パラメータが、下記の特徴のうちの任意の1つ以上を含む請求項59に記載の方法。
光の強度、スポットサイズ、総受光放射照度、光強度パターン。 - 主光源または二次光源のいずれかから放射される光を光センサで検出するステップが、光ビームのいずれかを所定のパターンで光センサを横切って走査するステップを含む請求項69または70に記載の方法。
- 前記パターンが、下記のパターンのうちの任意の1つ以上を含む請求項68または71に記載の方法。
直線パターン、ラスタパターン、らせんパターン。 - 決定した整列にもとづいて、ビームが所定のパターンで整列するように、システムによって放射される光ビームの整列を変更するステップを含む請求項69〜72のいずれかに記載の方法。
- 主光源と、
主光源からのビームの散乱光を検出するように構成された少なくとも1つの光センサと、
主光源からのビームの少なくとも一部を、監視対象の空間を横切って光センサに向けて反射させるように構成された反射器とを備えており、
反射器が、該反射器から反射されるビームの方向を変更できるように構成されている粒子検出システム。 - 反射器が、少なくとも1つの軸を中心にして操縦可能である請求項741に記載の粒子検出システム。
- 反射器が、2つの軸を中心にして操縦可能である請求項75に記載の粒子検出システム。
- 主光源が、放射されるビームの整列を変更できるビーム整列機構を備える請求項74〜76のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 反射器を用いて、光源から放射されたビームを第1の所定の公差の範囲内で整列させるステップと、
ビームを第2の所定の公差の範囲内で所定の点に向けて反射させるステップと、を含むAVSDシステムにおける方法。 - ビームを反射器と整列させるように、光源を移動するステップを含む請求項78に記載の方法。
- ビームを所定の点と整列させるように、前記光源を移動するステップを含む請求項78または79に記載の方法。
- 第2の所定の公差が、第1の所定の公差より厳しい請求項78〜80のいずれかに記載の方法。
- 一定期間にわたって散乱光の存在を検出するステップと、
空間の少なくとも一部分について検出される光の少なくとも1つの特徴を分析し、光が監視対象の空間内の固体物または粒子によって散乱したか否かを判断するステップと、を含むAVSDシステムにおける方法。 - 位置依存の散乱特性を分析して、光が固体物または粒子によって散乱したか否かを判断するステップを含む請求項82に記載の方法。
- 受けた光の時間または空間に関する強度プロファイルを分析して、固体物の存在を決定するステップを含む請求項82または83に記載の方法。
- 検出した光を分析して、固体物のエッジを示す検出光の特徴を特定するステップを含む請求項82〜84のいずれかに記載の方法。
- 主光源からのビームを空間の延長部を横切って走査し、掃引ビームからの散乱光を検出するステップをさらに含む請求項82〜85のいずれかに記載の方法。
- 請求項82〜86のいずれかに記載の方法のステップのうちの任意の1つ以上を繰り返し、固体物のエッジの検出を確認するステップを含む請求項82〜86のいずれかに記載の方法。
- 固体物が検出された場合、不具合を知らせるステップを含む請求項82〜87のいずれかに記載の方法。
- 監視対象の空間内へ放射ビームを放射するための主光源と、
監視対象の空間を横切った後、前記主光源から受けた光の強度を決定するための手段と、
決定した光強度にもとづいて、ビームが進入物によって少なくとも部分的に遮られたか否かを判断するように構成された監視システムと、を備える粒子検出システム。 - 主光源から受けた光の強度を決定するための手段が、光検知器を含む請求項89に記載の粒子検出システム。
- ビームを、主光源から受けた光の強度を決定するための手段に向けて反射させるための反射器を備える請求項89または90に記載の粒子検出システム。
- 監視システムが、進入物が検出された場合、主光源から放射される光のレベルを減少させるように構成されている請求項89〜91のいずれかに記載の粒子検出システム。
- AVSDシステムのビームを監視する方法であって、
主光源から受けた光の強度を監視するステップと、
受けた光の強度の低下が検出された場合、ビームの経路への進入物が生じたと判断するステップと、を含む方法。 - 進入物が検出された場合、ビームの出力を減少させるステップを含む請求項93に記載の方法。
- ビームを監視対象の空間を横切って反射させるステップを含む請求項93または94に記載の方法。
- AVSDシステムにおいて主光源の整列を維持する方法であって、
主光源から受けた光の強度を監視するステップと、
所定の光強度特性を達成するように、主光源の整列を調節するステップと、を含む方法。 - 所定の光強度特性が、所定の強度レベルおよび実質的に一定の強度レベルのいずれかまたは両方をベースとしている請求項96に記載の方法。
- 主光源からの光を、反射ビームの強度を検出するための手段に向けて反射させるステップを含む請求項96または97に記載の方法。
- 主光源の整列を調節するステップが、
光源の放射方向を変化させること、および反射器からの反射角度を変化させることの少なくとも一方を含む請求項96〜98のいずれかに記載の方法。 - 粒子検出システムの構成部品であって、
ハウジングと、
該ハウジングに対して固定の関係で取り付けられた傾き検出素子とを含む構成部品。 - 前記傾き検出素子が、下記のうちの1つ以上を含む請求項100に記載の構成部品。
加速度計、
容量式傾きセンサ、
電解式傾きセンサ、
液体内気泡式傾きセンサ、
水銀式傾きセンサ、
振り子式傾きセンサ。 - 1つ以上の光学部品が取り付けられたシャシーを備える請求項100または101に記載の構成部品。
- ハウジングが、光が光学部品へまたは光学部品から通過できる窓を備える請求項102に記載の構成部品。
- 検出素子が、構成部品の傾きを検出するために、制御システムと通信可能に接続される請求項100〜103のいずれかに記載の構成部品。
- 2つ以上の方向での構成部品の傾きを監視するように構成された複数の傾き検出素子を備える請求項100〜104のいずれかに記載の構成部品。
- AVSDシステムにおいて光センサの視野への物体の進入を判断するための方法であって、
光センサの視野の少なくとも一部を横切って光ビームを放射するステップと、
光センサの出力を分析して、物体が光ビームを妨害していないかどうかを判断するステップと、を含む方法。 - 光センサの視野の少なくとも一部を横切って光ビームを放射するステップが、監視対象の空間の一部を横切って光の直線ビームを走査するステップを含む請求項106に記載の方法。
- 光センサの出力を分析するステップが、センサの出力における下記の特徴のうちの任意の1つの存在を特定するステップを含む請求項106または107に記載の方法。
影、反射、屈折、回折パターン、または輝き。 - 主光源によって影響される画像取得装置の視野の一部分を監視するための二次光源を設けるステップを含む請求項106〜108のいずれかに記載の方法。
- 光センサの視野の拡大された領域をカバーする二次光源を設けるステップと、
光センサの出力を分析し、二次光源と画像取得手段との間に介在する物体の存在を判断するステップと、を含む請求項106〜108のいずれかに記載の方法。 - AVSDシステムの画像センサの視野を妨害する物体をチェックする方法であって、
光源を使用して監視対象の空間の領域を照明するステップと、
画像センサの出力を分析して、物体からの反射または影のいずれかにもとづいて物体を特定するステップと、を含む方法。 - 空間のうちの主ビーム位置と画像取得手段との間の領域を少なくとも一時的に照明すべく監視対象の空間の一部分を横切って光ビームを走査し、画像取得手段と、主ビーム位置にあるときの光ビームとの間の視線を遮る物体の特定を試みるステップと、を含む請求項111に記載の方法。
- AVSDシステムによる監視対象の空間への進入物を検出するための方法であって、
監視対象の空間の少なくとも一部分の複数の画像を取得するステップと、
監視対象の空間の一部分またはその背後にある画像内の実質的に時間変化しない特徴の少なくとも1つを決定するステップと、
該特徴を含む後続の画像を分析するステップと、
特徴の外観が変化した場合、少なくとも空間への進入物の可能性を知らせるステップと、を含む方法。 - 前記特徴が、画像センサの視野内の主ビームの背後に位置するバックグラウンド特徴である請求項113に記載の方法。
- バックグラウンドを照明するステップを含む請求項113または114に記載の方法。
- 照明が、不可視である請求項115に記載の方法。
- バックグラウンドを照明するステップが、バックグラウンドを照明するための複数の二次光源を設けるステップを含む請求項115に記載の方法。
- 二次光源が、LEDである請求項117に記載の方法。
- バックグラウンドを照明するステップが、バックグラウンド表面に光パターンを投影するステップを含む請求項113〜118のいずれかに記載の方法。
- 少なくとも1つの画像において前記パターンの認識を試みて、予想される部分パターンが視認できない場合、対象領域への進入物が生じたと判断するステップを含む請求項119に記載の方法。
- AVSDシステムによる監視対象の空間内の物体を特定する方法であって、
(a)少なくとも2つの空間的に離れた位置から空間の画像を取得するステップと、
(b)該位置のうちの1つからの画像において、進入が疑われる物体を特定するステップと、
(c)第1の画像とほぼ同じ時刻に取得された別の位置からの画像において同じ物体を特定し、進入が疑われる物体の位置を計算するステップと、を含む方法。 - ステップ(a)〜(c)を繰り返して、進入が疑われる物体を追跡するステップを含む請求項121に記載の方法。
- 進入物が特定される場合、不具合状態を知らせるステップをさらに含む請求項121または122に記載の方法。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空気空間を横切って放射のビームを導くための照明手段と、
視野の重なり合いを有する画像を取得するように構成された複数の画像センサであって、画像センサの1つ以上がビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置されている画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、
カメラの出力を分析し、カメラのうちの1つからの画像において進入が疑われる物体を特定し、第1の画像とほぼ同じ時刻に取得された別のカメラからの画像において同じ物体を特定し、進入が疑われる物体の位置を計算する進入物検出手段と、を備えるシステム。 - カメラのうちの少なくとも1つが、システムの主画像取得センサでもある請求項124に記載のシステム。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
第1主光源および該第1光源のビームから散乱される光を検出するように配置された第1光センサと、
第2主光源および該第2光源のビームから散乱される光を検出するように配置された第2光センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備えており、
幾何配置が、第1光センサが、第1光源と第2光センサとの間の領域を監視するように構成され、第2光センサが、第2光源と第1光センサとの間の領域を監視するように設定されるシステム。 - 第1主光源および第2画像取得デバイスの間を延びる1つ以上の二次光源と、第2主光源および第1画像取得デバイスの間を延びる1つ以上の二次光源と、を備える請求項126に記載のシステム。
- 請求項126または127に記載の粒子検出システムの構成部品であって、
主光源、画像取得手段、およびこれらの間にある1つ以上の二次光源が取り付けられた共通ハウジングを備える構成部品。 - 画像取得デバイスおよび光源が、直線配置で配置されている請求項128に記載の粒子システムの構成部品。
- 二次光源が、下記のうちの1つ以上を含む請求項129または129に記載の粒子システムの構成部品。
LEDアレイ、蛍光管、または実質的に一様な線照明パターンを形成する光源、または間欠的な照明パターンを形成する光源。 - 主光源が、第1主光源として機能するように構成され、
画像取得手段が、第2画像取得手段として機能するように構成された請求項129または130に記載の粒子システムの構成部品。 - 空気空間内の粒子を検出するように構成され、監視対象の空気空間を横切って放射ビームを導くための主照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、
少なくとも部分的に電磁スペクトルの可視部分にある光を放射する少なくとも1つの二次照明手段と、を備える粒子検出システムにおける方法であって、
環境光のレベルを検出するステップと、
環境光のレベルにもとづいて、二次光源からの光の視認性のレベルを最小限にしつつ、システムの光センサによる二次光源からの光の検出可能性を維持するように、二次光源の光の強度を設定するステップと、を含む方法。 - 二次光源の光の強度を設定するステップが、複数のあらかじめ定められた強度レベルのうちの1つを選択するステップを含む請求項132に記載の方法。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の空気空間を横切って放射ビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備えており、
システムの少なくとも1つの構成部品が、偏光選択性であるようにしたシステム。 - 電磁放射のあらかじめ定められた偏光を使用して粒子を検出するように構成されている請求項134に記載のシステム。
- 粒子を2つの偏光状態で検出するように構成されている請求項134または135に記載のシステム。
- システムの光源または光センサの一方または両方が、偏光選択的な方法で動作する請求項134〜136のいずれかに記載のシステム。
- 少なくとも1つの照明手段が、偏光光ビームを放射するように構成されている請求項134〜136のいずれかに記載のシステム。
- 光センサが、1つ以上の所定の偏光を有する光を検出するように構成されている請求項134〜138のいずれかに記載のシステム。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成され、監視対象の空気空間を横切って放射ビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える粒子検出システムにおける方法であって、
少なくとも1つの散乱光成分を、少なくとも1つの特徴的な偏光特性によって測定するステップと、
前記測定結果を処理し、監視対象の空間内の1つ以上の空気中の粒子または物体の少なくとも1つの特徴を決定するステップと、を含む方法。 - 複数の偏光状態にある光を検出するステップと、
監視対象の空間内の空気中の粒子または物体の特徴を決定するステップと、を含む請求項141に記載の方法。 - 2つの偏光状態の相対信号強度を測定するステップを含む請求項141または142に記載の方法。
- 偏光状態の一方が、非偏光状態または円偏光状態である請求項141または142に記載の方法。
- 既知の偏光を持つ光を放射する主光源を使用するステップと、
既知の偏光選択性を有する散乱光を測定するステップと、を含む請求項141〜143のいずれかに記載の方法。 - 測定される空気中の粒子の特徴が、下記のうちの1つ以上を含む請求項141〜144のいずれかに記載の方法。
粒子の濃度、所定のサイズを上回る粒子、所定のサイズを下回る粒子の濃度、あるサイズ範囲に入る粒子の濃度。 - 光ビームの経路内の大きな粒子または物体の存在を検出するために使用される請求項141〜145のいずれかに記載の方法。
- 所定のサイズプロファイルを有する粒子を検出する方法であって、
粒子を検出すべき空間を横切って、既知の偏光状態を有する光ビームを放射するステップと、
所定の偏光状態を有するビームからの散乱光を測定するステップと、を含み、
放射光および測定光の相対偏光が、所定のサイズプロファイルを有する粒子の選択的検出を可能にするように選択される方法。 - AVSDシステムの光源からのビームへと進入する物体を検出する方法であって、
既知の偏光状態を有する光のビームを空間を横切って放射するステップと、
所定の偏光状態を有するビームからの散乱光を測定するステップと、を含み、
放射光および測定光の相対偏光が、所定のサイズを超える物体の選択的検出を可能にするように選択される方法。 - 放射光および測定光の相対偏光が、平行または直角のいずれかである請求項147または148に記載の方法。
- 放射光および測定光の相対偏光が平行であり、
所定のレベルよりも小さいサイズを有する粒子を測定するステップを含む請求項147または148に記載の方法。 - 放射光および測定光の相対偏光が直角であり、
所定のレベルよりも大きいサイズを有する粒子または物体を測定するステップを含む請求項147または150に記載の方法。 - 複数の所定の偏光状態にあるビームからの光を測定するステップを含む請求項147または148に記載の方法。
- 各偏光状態が、独立に測定される請求項19に記載の方法。
- 偏光状態の各々における測定を用いて、空間空気中の粒子の特徴、または後処理で使用される補正係数を決定するステップを含む請求項147または148に記載の方法。
- 粒子検出システムにおいて塵埃を除外する方法であって、
請求項140〜154のいずれかに記載の方法を使用して塵埃を実質的に除外する所定のサイズプロファイルを有する粒子を検出するステップを含む方法。 - 粒子検出システムのための光センサであって、
偏光感受素子を有する光検出素子を備えており、
前記光検出素子が、所定偏光の光のみが前記光検出素子へ到達できるように構成されている光センサ。 - 偏光感受素子の偏光角を変化させることができる請求項146に記載の光センサ。
- 偏光感受素子が、偏光フィルタである請求項146に記載の光センサ。
- 請求項155〜158のいずれかに記載の光センサを備える粒子検出システム。
- 既知の偏光の光を放射するための偏光光源を備える請求項159に記載の粒子検出システム。
- 複数の偏光光を測定することができる光センサを備える請求項160に記載の粒子検出システム。
- 光センサが、複数の偏光光を選択的に測定するように構成されている請求項160に記載の粒子検出システム。
- 光センサが、複数の偏光を同時に測定するように構成されている請求項160に記載の粒子検出システム。
- 光センサが、光のそれぞれの偏光を受光可能である複数の受光サブシステムを含む請求項163に記載の粒子検出システム。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成された粒子検出システムであって、
監視対象の第1空気空間を横切って放射のビームを導くための主照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、
第2空間内の粒子が検出可能なように、第2空間から第1空間へと空気を移動させるように構成された空気循環手段と、を備える粒子検出システム。 - 第1空間および第2空間が、実質的に分離した空気空間である請求項1に記載の粒子検出システム。
- 第1および第2空気空間が、下記の1つ以上である請求項1または2に記載の粒子検出システム。
隣接した空間、
空間および設備キャビネット。 - 循環手段が、第1および第2空気空間の間の壁の開口を通って空気を引き込むように構成されたファンを備える請求項1〜3のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 循環手段が、第2空間から第1空間への空気を、粒子検出システムの主光源から放射されるビームまたは該ビーム付近に導入するように構成されている請求項1〜4のいずれかに記載の粒子検出システム。
- 複数の空気空間を、該空間のうちの1つを監視するように構成された粒子検出システムで監視する方法であって、
第2空間内の粒子が粒子検出システムによって検出されるように、第2空気空間から第1空気空間へと空気を引き込むことを含む方法。 - 粒子検出システムが、空気空間内の粒子を検出するように構成され、
監視対象の空気空間を横切って放射のビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える請求項170に記載の方法。 - 空気空間内の粒子を検出するように構成された、第1の煙検出サブシステムおよび第2の粒子検出サブシステムを備える煙検出システムであって、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備えるシステム。 - 煙が検出された場合、警報を生じさせるように構成された警報サブシステムをさらに備え、
警報サブシステムが、第2の粒子検出サブシステムによって煙が検出されたときに第1の低レベルの警報を生じさせ、第1の煙検出システムによって煙が検出されたときに第2の高レベルの警報を生じさせるように構成されている請求項172に記載の粒子検出システム。 - 第1の煙検出サブシステムが、規格で認可された煙検出システムである請求項172または173に記載の粒子検出システム。
- 第1の煙検出サブシステムが、吸気式煙検出システムである請求項172または173に記載の粒子検出システム。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成され、監視対象の空気空間を横切って放射のビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える粒子検出システムにおける方法であって、
システムの光ビームを監視し、該ビームの経路の一部分の屈折率の変化によって引き起こされる受光信号の変化を検出して、空間内の熱源を特定するステップを含む方法。 - 火災を検出する方法であって、
監視対象の空間を横切ってレーザビームを点灯するステップと、
光ビームを監視し、該ビームの経路の一部分の屈折率の変化によって引き起こされる受光信号の変化を検出して、空間内の火災を特定するステップと、を含む方法。 - ターゲットでのビーム整列の急激な変化、およびターゲットでの受光強度の変化、のうちの少なくとも1つを検出するステップを含む請求項176または178に記載の方法。
- 空気空間内の粒子を検出するように構成され、監視対象の空気空間を横切って放射ビームを導くための照明手段と、
ビームの少なくとも一部の画像を取得するように配置された画像センサと、
取得された画像を分析し、該画像に捕らえられた散乱放射にもとづいて空間内の粒子の存在を検出するための手段と、を備える粒子検出システムにおける方法であって、
第1画像センサを用いて、空間内の粒子によってビームから散乱した光を集めるために、ビームの少なくとも一部を含む視野から光を集めるステップと、
第2の光センサを用いて、空間内の粒子によってビームから散乱した光を実質的に除外するように、実質的に同じ視野から光を集めるステップと、を含む方法。 - システムの第1および第2の受光部によって光を集めるステップが、同時に実行される請求項179に記載の方法。
- システムの第1および第2の受光部が、AVSDシステムの同じ光センサの一部を形成している請求項179または180に記載の方法。
- 第1および第2の受光部が、共通の撮像チップに含まれている請求項179〜181のいずれかに記載の方法。
- 第2の受光部に到着する光をフィルタ処理するステップを含む請求項179〜182のいずれかに記載の方法。
- システムの光学系で光を受け、第1および第2の受光部において別々に受光するために、受けた光を分岐するステップを含む請求項179〜183のいずれかに記載の方法。
- 粒子検出システムのための光センサであって、
画像を2つの経路へと分岐するように構成された受光光学系を備えており、
前記経路の一方が、他方の経路を伝送される特定の特徴を有する光の伝送を防止するフィルタを含む光センサ。 - 異なる部分で各経路からの光を同時に受けるように構成された共通の光検出素子を備える請求項185に記載の光センサ。
- フィルタが、波長フィルタまたは偏光フィルタである請求項186に記載の光センサ。
- 他方の経路が、異なるフィルタ特性を有するフィルタをさらに含む請求項186または187に記載の光センサ。
- 粒子検出システムにおける方法であって、
光センサを用いて、該光センサと関連付けられた主光源がオンである複数の「オンフレーム」と、該光センサと関連付けられた主光源がオフである複数の「オフフレーム」とを含み、オフフレームがオンフレーム間に介在し得る一連の画像フレームを取得するステップと、
オンフレームおよびオフフレームの間の平均照明レベルの相違を補正するための係数fを用いて、オンフレームおよび/またはオフフレームを処理するステップと、を含む方法。 - 粒子検出システムからの光散乱信号を処理する方法であって、
光散乱信号を受光するステップと、
受光した信号内の散乱光強度の一時的ピークを特定するステップと、
受光した信号内の散乱光強度の一時的増加を平滑化するステップと、を含む方法。 - 受光した散乱光強度の一時的ピークが、空間ベースの平均強度と比べた場合、所定数のピクセルのサイズを有している請求項191に記載の方法。
- 前記ピークが、1ピクセルの継続時間を有している請求項192に記載の方法。
- 受光した散乱光強度の一時的ピークが、時間ベースの平均強度と比べた場合、所定数のフレームのサイズを有している請求項191に記載の方法。
- 前記ピークが、1フレームの継続時間を有している請求項194に記載の方法。
- スパイクを平滑化するステップが、下記のうちの1つ以上を含む請求項191〜195のいずれかに記載の方法。
ピークをクリップすること、
ピークを無視すること、または
ピークを所定の値で置き換えること。 - 前記ピークが、下記の値のうちの1つによって置き換えられる請求項191〜195のいずれかに記載の方法。
局所平均、
時間平均、
隣接する値、
先行の値、
後続の値。 - 一時的ピークが、受光信号の統計的指標にもとづいて決定される所定のしきい信号レベルを参照して判断される請求項191〜197のいずれかに記載の方法。
- 粒子検出システムにおける方法であって、
散乱の読み取りへの塵埃の影響を少なくとも部分的に補正するための統計的に導出される補正値を決定するステップと、
補正値を使用して散乱の読み取りを補正するステップと、を含む方法。 - 画像取得装置の1つ以上のピクセルについて、
受光した散乱値のバックグラウンド雑音レベルを決定するステップと、
塵埃および煙についての既知の代表的な統計値に関して、標準偏差および平均散乱レベルを決定するステップと、
散乱の標準偏差を計算するステップと、
煙および/または塵埃の散乱の寄与を決定するステップと、を含む請求項199に記載の方法。 - 受光した散乱値のバックグラウンド雑音レベルを決定するステップと、
塵埃および煙についての既知の代表的な統計値に関して、散乱の読み取りの分布の高次の統計学的モーメントを決定するステップと、
散乱の標準偏差を計算するステップと、
煙および/または塵埃の散乱の寄与を決定するステップと、を含む請求項199に記載の方法。 - 測定した散乱の読み取りを、煙粒子のみを表す値に補正するステップを含む請求項191〜201のいずれかに記載の方法。
- 粒子検出器における警報状態を判断する方法であって、
主光源のビームに沿って複数のセグメントを定めるステップと、
ビームに沿った位置に複数の仮想粒子検出器を定めるステップと、
各仮想粒子検出器を、少なくとも1つのセグメントと関連付けるステップと、
仮想粒子検出器の警報レベルを、該仮想粒子検出器に関連付けられたセグメントのうちの1つ以上にもとづいて決定するステップと、を含む方法。 - 仮想粒子検出器の警報レベルが、該仮想粒子検出器に関連付けられたセグメントのうちの1つ以上のうちの最高の警報レベルである請求項203に記載の方法。
- 仮想粒子検出器の警報レベルが、関連付けられたセグメントのうちの最高の煙の読み取りにもとづいて決定される請求項203に記載の方法。
- 2つ以上のセグメントが重なっている請求項203〜205のいずれかに記載の方法。
- 各セグメントの粒子検出レベルは、対応する仮想検出器の警報レベルを計算するために用いる場合、重み付けされた寄与が付与される請求項203〜206のいずれかに記載の方法。
- 主光源を有している粒子検出システムであって、
主光源が、システムが遭遇する環境光がほとんど又は全くない波長で動作する粒子検出システム。 - 主光源が、太陽吸収線または大気吸収線のいずれかに相当する波長において動作する請求項208に記載の粒子検出システム。
- 光源が、監視対象の空間または隣接する空間において照明に使用される光のスペクトルの外側の波長において動作する請求項208に記載の粒子検出システム。
- 光センサが、選択された波長を含む通過帯を有するフィルタを備える請求項208〜210のいずれかに記載の粒子検出システム。
- システムが動作する吸収線よりも狭い通過帯を有しているフィルタを備える請求項209に記載の粒子検出システム。
- 粒子検出システムにおいて大きな粒子の存在について散乱の読み取りを補正する方法であって、
主光源からのビームの少なくとも一部について総散乱を決定するステップと、
ビームの一部について総損失を決定するステップと、
ビームの一部について総散乱と総損失との比にもとづいて、ビームの一部についての散乱の読み取りの補正係数を計算するステップと、を含む方法。 - 補正係数が、(部分光損失:散乱)kとして計算され、kは0〜1の間の値をとる請求項213に記載の方法。
- 部分光損失を測定するステップが、ビームの全断面に渡る受光光強度を測定するステップを含む請求項213または214に記載の方法。
- 後の透過レベルの計算のもととなる100%の透過レベルを設定するステップを含む請求項213〜215のいずれかに記載の方法。
- 100%の透過レベルが、定期的に設定される請求項4に記載の方法。
- 複数の波長において実行される請求項213〜217のいずれかに記載の方法。
- 光のビームの部分光損失を測定するように構成された部分光損失測定装置であって、
ビームが測定装置において定める断面よりも大きい領域からの光を測定するように構成された光検出素子を備える部分光損失測定装置。 - 光検出素子が、ビーム断面よりも大きい受光面を有している請求項219に記載の部分光損失測定装置。
- ビーム断面よりも大きい領域から光を受けて、光検出素子へ案内できる光学配置をさらに備える請求項219または220に記載の部分光損失測定装置。
- レーザスペックルを防止するための手段をさらに備える請求項219〜221のいずれかに記載の部分光損失測定装置。
- 主光源と、
空間において主光源のビームから散乱した光を受けるように構成された光センサと、
請求項213〜222のいずれかに記載の部分光損失測定装置とを備えるAVSDシステム。 - 空間を横切ってビームを反射させるための反射器を備え、
部分光損失測定装置およびAVSDセンサの光センサが、実質的に同じ位置にある請求項223に記載のAVSDシステム。 - 部分光損失測定装置へのビーム投影におけるマルチパスの影響を少なくするために、下記のうちの1つ以上を使用する請求項223または224に記載のAVSDシステム。
ビーム位置のジッタリング、
ビームのデコヒアリング、
非コヒーレントな主光源の使用。 - 粒子検出システムにおいて光センサの出力を処理する方法であって、
光センサから複数の画像フレームを取得するステップを含み、
主光源が照明されているときに「オンフレーム」からなる第1の組が取得され、主光源がオフであるときに「オフフレーム」からなる第2の組が取得され、
オンフレームおよびオフフレームが同じ時間中心を有する方法。 - 時間中心が、(時間×露光長さ)フレーム数として計算される請求項226に記載の方法。
- オンフレームおよびオフフレームの総露光時間が同じである請求項226または227に記載の方法。
- フレームのうちのいくつかにスケーリングを適用するステップを含む請求項226〜228のいずれかに記載の方法。
- オンフレームおよびオフフレームが、異なる数のフレームを含む請求項226〜229のいずれかに記載の方法。
- 粒子検出システムにおいて光学部品を操縦するための装置であって、
粗調操縦ステージと、
該粗調操縦ステージに取り付けられた微調操縦ステージとを備え、
微調操縦ステージに光学部品を取り付け可能である装置。 - 粗調操縦ステージが、機械式の操縦ステージである請求項231に記載の光学部品を操縦するための装置。
- 微調操縦ステージが、好ましくは非機械式の操縦ステージである請求項231または232に記載の光学部品を操縦するための装置。
- 非機械式の操縦ステージが、下記のアクチュエータのうちの1つ以上の使用を含む請求項233に記載の光学部品を操縦するための装置。
電気機械アクチュエータ、
圧電アクチュエータ、
他の高速な非機械式アクチュエータ。 - 粒子検出システムの光学部品を操縦する方法であって、
光学部品を、機械的に駆動される粗調操縦ステージを用いて、初期位置から、所望位置の第1の所定公差の範囲内にある粗調整列位置へ操縦するステップと、
光学部品を、非機械的に駆動される微調操縦ステージを用いて、前記粗調整列位置から、所望位置の第2の所定公差の範囲内にある最終位置へ操縦するステップと、を含む方法。 - 光学部品を、非機械的に駆動される微調操縦ステージを用いて、所望位置に少なくとも定期的に再整列させるステップを含む請求項235に記載の方法。
- 粒子検出システムのための光学部品であって、
光が通過する露出光学面を備える光学アセンブリと、
内部に空間を定める少なくとも1つの壁と、光の出入りが可能な開口とを有するハウジングと、を備えており、
ハウジングが、開口を通して光を受光できるように光学アセンブリを収容するように構成されており、
光学アセンブリが、ハウジングの内部に取り付けられ、空気中に含まれる粒子のための沈降ゾーンを提供するように、光学アセンブリの光学面と開口との間に隙間が設けられている光学部品。 - 沈降ゾーンには、該沈降ゾーンの空気から粒子を除去するための粒子除去手段が設けられる請求項237に記載の光学部品。
- 粒子除去手段が、受動静電気材料、および粒子を除去するための能動静電気フィルタから選択される要素を含む請求項238に記載の光学部品。
- 粒子検出システムのための光学部品であって、
光が通過する露出光学面を備える光学アセンブリと、
内部に空間を定める少なくとも1つの壁と、光の出入りが可能な視認開口と、空間への空気の進入を可能にするように構成された空気導入部とを有しているハウジングと、を備えており、
ハウジングが、視認開口を通して光を受光できるように光学アセンブリを収容するように構成されており、空気が空気導入部からおよび視認開口から流れることができる光学部品。 - 空気を、空気導入部へ引き込み、あるいは視認開口から吸い出す吸引装置を備える請求項240に記載の光学部品。
- 空気導入部には、ハウジングに進入する空気を清浄化するためのフィルタが設けられている請求項240または241に記載の光学部品。
- 吸引装置が、複数の羽根を有する軸流ファンを備えており、
ファンが、ファンの羽根の間の開口を通って光の入出りが可能であるように配置されている請求項241に記載の光学部品。 - 光学部品が、ファンの回転と同期している請求項243に記載の光学部品。
- 粒子検出システムのための光学部品であって、
光が通過する露出光学面を備える光学アセンブリと、
少なくとも定期的に光学面を横切って移動するように構成された可動部材と、を備える光学部品。 - 複数の羽根を有する軸流ファンを備えており、
ファンが、ファンの羽根の間の開口を通って光の入出りが可能であるように配置されている請求項245に記載の光学部品。 - 光学部品が、ファンの回転と同期している請求項246に記載の光学部品。
- ファンが、ブラシレスDCモータを含むことができる請求項245〜247のいずれかに記載の光学部品。
- 可動部材が、ワイパー、ブラシ、または棒のうちの1つである請求項245〜248のいずれかに記載の光学部品。
- 可動部材が、光学面を横切って循環または往復運動を実行する請求項245〜249のいずれかに記載の光学部品。
- 可動部材が、光学面から離れている請求項245〜250のいずれかに記載の光学部品。
- 可動部材が、耐スクラッチ窓の上方を通過するように構成されている請求項245〜251のいずれかに記載の光学部品。
- 機能素子と冷却装置とを備えるAVSDシステムの光学部品。
- 光学部品が光センサであり、機能素子が光検出素子である請求項253に記載の光学部品。
- 冷却装置が、ペルチェクーラーである請求項253または254に記載の光学部品。
- 熱を大気へ伝送するために、冷却装置と熱的に接続されたヒートシンクをさらに備える請求項253〜255のいずれかに記載の光学部品。
- 粒子検出システムにおいて走査ビームを生成するための機構であって、
光の直線ビームを生成するように構成された光源と、
平坦な反射面を有し、該反射面に平行な軸周りに回転するミラーと、を備えており、
前記ミラーおよび光源が、光源からの光がミラーの回転とともに変化する入射角度でミラー表面から反射するように整列している機構。 - ミラーが、多角形である請求項257に記載の機構。
- ミラーが、八角形である請求項258に記載の機構。
- 粒子検出システムによって行われる光散乱測定を補正する方法であって、
粒子検出システムのビームに沿った部分光損失を決定するステップと、
決定した部分光損失にもとづいて、粒子検出システムの主光源に関して行われた散乱測定を補正するステップと、を含む方法。 - 部分光損失を決定するステップが、ビームに沿った部分光損失を推定するステップを含む請求項260に記載の方法。
- 前記推定が、ビームからの散乱測定にもとづいて行われる請求項261に記載の方法。
- 部分光損失の推定が、ビームの長さに沿って区分的に行われる請求項260〜262のいずれかに記載の方法。
- 部分光損失を決定するステップが、ビームに沿った部分光損失を測定するステップを含む請求項260〜263のいずれかに記載の方法。
- 部分光損失の測定が、光ビームを、光ビームの終端で受けるように構成された受光手段を設けることを含む請求項264に記載の方法。
- 反復的に繰り返される請求項260〜265のいずれかに記載の方法。
- 散乱測定を補正するステップが、散乱測定を(1−部分光損失)で除算するステップを含む請求項260〜266のいずれかに記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AU2007906260 | 2007-11-15 | ||
AU2007906260A AU2007906260A0 (en) | 2007-11-15 | Particle detection | |
PCT/AU2008/001697 WO2009062256A1 (en) | 2007-11-15 | 2008-11-14 | Particle detection |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014148142A Division JP6030092B2 (ja) | 2007-11-15 | 2014-07-18 | Avsdシステムにおけるビーム整列決定方法および粒子検出システム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011503581A true JP2011503581A (ja) | 2011-01-27 |
JP2011503581A5 JP2011503581A5 (ja) | 2012-01-12 |
JP5662154B2 JP5662154B2 (ja) | 2015-01-28 |
Family
ID=40638254
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010533384A Expired - Fee Related JP5662154B2 (ja) | 2007-11-15 | 2008-11-14 | アクティブビデオ煙検出(avsd)システムでの物体進入判断方法およびavsdシステム |
JP2014148142A Expired - Fee Related JP6030092B2 (ja) | 2007-11-15 | 2014-07-18 | Avsdシステムにおけるビーム整列決定方法および粒子検出システム |
JP2016144362A Active JP6523220B2 (ja) | 2007-11-15 | 2016-07-22 | 光散乱測定の補正方法、部分光損失測定装置、及びavsdシステム |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014148142A Expired - Fee Related JP6030092B2 (ja) | 2007-11-15 | 2014-07-18 | Avsdシステムにおけるビーム整列決定方法および粒子検出システム |
JP2016144362A Active JP6523220B2 (ja) | 2007-11-15 | 2016-07-22 | 光散乱測定の補正方法、部分光損失測定装置、及びavsdシステム |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US9025144B2 (ja) |
EP (3) | EP2217911B1 (ja) |
JP (3) | JP5662154B2 (ja) |
KR (3) | KR101705220B1 (ja) |
CN (3) | CN101952709B (ja) |
AU (1) | AU2008323626B2 (ja) |
CA (3) | CA3103407A1 (ja) |
HK (1) | HK1217807A1 (ja) |
TW (3) | TWI654418B (ja) |
WO (1) | WO2009062256A1 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015520380A (ja) * | 2012-06-08 | 2015-07-16 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | マルチモード検出 |
JP2016522409A (ja) * | 2013-06-03 | 2016-07-28 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | 粒子検知システムおよび関連方法 |
WO2017217078A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | シャープ株式会社 | 光電式ほこりセンサ装置および空調機器 |
JP2018535090A (ja) * | 2015-11-04 | 2018-11-29 | ノードソン コーポレーションNordson Corporation | ディスペンス流体の流体パターンを制御する方法及びシステム |
KR101944282B1 (ko) * | 2018-01-22 | 2019-01-31 | 주식회사 두리번테크 | 광섬유를 이용한 비상상황 모니터링 시스템 |
JP2019159742A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 古河電気工業株式会社 | 火災煙検知装置 |
KR20200021901A (ko) * | 2018-08-21 | 2020-03-02 | 비아비 솔루션즈 아이엔씨. | 다중 스펙트럼 센서 기반 비상 상태 감지기 |
JP2020076633A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | 新日本空調株式会社 | 粒子検知装置及び粒子検知方法 |
Families Citing this family (147)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU2003902319A0 (en) | 2003-05-14 | 2003-05-29 | Garrett Thermal Systems Limited | Laser video detector |
EP2595129B1 (en) * | 2004-11-12 | 2020-05-20 | Xtralis Technologies Ltd | Method and system for detecting particles |
TWI654418B (zh) | 2007-11-15 | 2019-03-21 | 巴哈馬商愛克斯崔里斯科技有限公司 | 粒子檢測器 |
US8452052B2 (en) * | 2008-01-21 | 2013-05-28 | The Boeing Company | Modeling motion capture volumes with distance fields |
SG189800A1 (en) * | 2008-04-17 | 2013-05-31 | Shilat Optronics Ltd | Intrusion warning system |
US8804119B2 (en) | 2008-06-10 | 2014-08-12 | Xtralis Technologies Ltd | Particle detection |
JP5185756B2 (ja) * | 2008-10-01 | 2013-04-17 | 川崎重工業株式会社 | 基板検出装置および方法 |
WO2010124347A1 (en) * | 2009-05-01 | 2010-11-04 | Xtralis Technologies Ltd | Improvements to particle detectors |
WO2011003145A1 (en) * | 2009-07-07 | 2011-01-13 | Xtralis Technologies Ltd | Chamber condition |
GB201003704D0 (en) * | 2010-03-05 | 2010-04-21 | Pcme Ltd | Apparatus and method for monitoring particles in a stack |
EP2378270B1 (de) * | 2010-04-15 | 2015-06-24 | SICK Engineering GmbH | Verfahren zur Bestimmung einer Partikelkonzentration und Messvorrichtung |
US8478529B2 (en) * | 2010-06-28 | 2013-07-02 | King Saud University | Visibility determination in environments containing airborne dust particles |
EP2589025A2 (fr) * | 2010-07-01 | 2013-05-08 | Thomson Licensing | Procede d'estimation de diffusion de la lumiere |
US20120120230A1 (en) * | 2010-11-17 | 2012-05-17 | Utah State University | Apparatus and Method for Small Scale Wind Mapping |
US20130155672A1 (en) * | 2011-03-11 | 2013-06-20 | General Led, Inc. | Remote control track light fixture |
EP2520169B1 (en) * | 2011-04-29 | 2019-12-04 | Electrolux Home Products Corporation N.V. | Baking oven door and baking oven |
US8854426B2 (en) * | 2011-11-07 | 2014-10-07 | Microsoft Corporation | Time-of-flight camera with guided light |
JP5656131B2 (ja) * | 2012-02-13 | 2015-01-21 | 株式会社リコー | 撮像ユニット及びその設置方法 |
CN102682293B (zh) * | 2012-05-14 | 2013-10-23 | 山东大学 | 基于图像的回旋体玻璃瓶凸点模具号识别方法及其系统 |
US9398229B2 (en) * | 2012-06-18 | 2016-07-19 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Selective illumination of a region within a field of view |
DE102012213125A1 (de) * | 2012-07-26 | 2014-01-30 | Robert Bosch Gmbh | Brandüberwachungssystem |
CA2884160C (en) * | 2012-09-13 | 2020-03-31 | Mbda Uk Limited | Room occupancy sensing apparatus and method |
JP5998830B2 (ja) * | 2012-10-15 | 2016-09-28 | 富士ゼロックス株式会社 | 電力供給制御装置、画像処理装置、電力供給制御プログラム |
KR20140088745A (ko) * | 2013-01-03 | 2014-07-11 | 삼성전기주식회사 | 파티클 검사 장치 |
US9383478B2 (en) | 2013-01-25 | 2016-07-05 | The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | System and method for atmospheric parameter enhancement |
TWI490471B (zh) * | 2013-01-28 | 2015-07-01 | Univ Nat Taiwan | 非破壞性的複合材料檢測裝置及其檢測方法 |
US20140217906A1 (en) * | 2013-02-01 | 2014-08-07 | Vung Van Vo | Remote Control Track Light Fixture |
US9086273B1 (en) * | 2013-03-08 | 2015-07-21 | Google Inc. | Microrod compression of laser beam in combination with transmit lens |
JP6186900B2 (ja) * | 2013-06-04 | 2017-08-30 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、電子機器、レンズ制御方法、および撮像モジュール |
RU2609746C2 (ru) * | 2013-06-10 | 2017-02-02 | Виктор Владимирович Холкин | Устройство контроля возникновения перемещения частей конструкций сооружения |
CN103364949B (zh) * | 2013-07-24 | 2015-07-29 | 中海阳能源集团股份有限公司 | 自然风光热反射镜自清洁装置 |
EP3030879A4 (en) * | 2013-08-09 | 2018-01-03 | CNRY Inc. | System and methods for monitoring an environment |
KR102046944B1 (ko) * | 2014-01-13 | 2019-11-20 | 페이스북, 인크. | 서브-레졸루션 광학 검출 |
DE102014001704B4 (de) * | 2014-02-08 | 2023-08-10 | Dräger Safety AG & Co. KGaA | Gasdetektionsvorrichtung |
JP6438663B2 (ja) * | 2014-03-17 | 2018-12-19 | 三菱マテリアル株式会社 | 粉塵が存在する雰囲気中の物体の温度を計測する方法 |
TWI556420B (zh) * | 2014-04-18 | 2016-11-01 | 光寶電子(廣州)有限公司 | 用於增加組裝平整度的影像擷取模組及其組裝方法 |
US10140831B2 (en) | 2014-06-03 | 2018-11-27 | Carrier Corporation | Ionization air filters for hazardous particle detection |
WO2016007575A1 (en) * | 2014-07-11 | 2016-01-14 | Carrier Corporation | Encoder-less lidar positioning technique for detection and alarm |
US9677986B1 (en) * | 2014-09-24 | 2017-06-13 | Amazon Technologies, Inc. | Airborne particle detection with user device |
DE102014223151A1 (de) * | 2014-11-13 | 2016-05-19 | Robert Bosch Gmbh | Partikelzähler |
KR20160061492A (ko) * | 2014-11-21 | 2016-06-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | 휴대용 먼지 센서 및 이를 이용한 휴대전화 |
EP3029646B1 (de) * | 2014-12-01 | 2019-01-30 | Siemens Schweiz AG | Streulichtrauchmelder mit einer zweifarbigen Leuchtdiode |
US10067234B2 (en) * | 2015-02-17 | 2018-09-04 | Honeywell International Inc. | Projected beam detector with imaging device |
US10395498B2 (en) * | 2015-02-19 | 2019-08-27 | Smoke Detective, Llc | Fire detection apparatus utilizing a camera |
CN104897538A (zh) * | 2015-06-16 | 2015-09-09 | 天津大学 | 一种基于数字全息术的工地扬尘检测装置 |
JP6315641B2 (ja) * | 2015-06-23 | 2018-04-25 | 華中科技大学 | 2波長の散乱光信号に基づくエアロゾルの特徴パラメータの取得方法及びその使用 |
US10921448B2 (en) * | 2015-09-18 | 2021-02-16 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical distance measuring system |
CN105181545A (zh) * | 2015-09-24 | 2015-12-23 | 青岛中特环保仪器有限公司 | 一种基于单摆原理的微重测量方法 |
CN105300851B (zh) * | 2015-11-11 | 2017-08-25 | 中国农业大学 | 一种基于激光技术的喷雾雾滴三维空间分布的检测方法 |
US10049440B2 (en) * | 2015-12-28 | 2018-08-14 | Key Technology, Inc. | Object detection apparatus |
US10254402B2 (en) * | 2016-02-04 | 2019-04-09 | Goodrich Corporation | Stereo range with lidar correction |
US10161852B2 (en) * | 2016-02-08 | 2018-12-25 | MANTA Instruments, Inc. | Special purpose cuvette assembly and method for optical microscopy of nanoparticles in liquids |
US10600057B2 (en) * | 2016-02-10 | 2020-03-24 | Kenexis Consulting Corporation | Evaluating a placement of optical fire detector(s) based on a plume model |
EP3225977B1 (en) * | 2016-03-31 | 2019-03-13 | ams AG | Method and sensor system for detecting particles |
CN105975066A (zh) * | 2016-04-28 | 2016-09-28 | 乐视控股(北京)有限公司 | 基于虚拟现实设备的控制方法及装置 |
US9851291B2 (en) | 2016-05-02 | 2017-12-26 | Hamilton Associates, Inc. | Realtime optical method and system for detecting and classifying biological and non-biological particles |
US10451518B2 (en) * | 2016-05-10 | 2019-10-22 | Rd2, Llc | All fiber temperature and air density sensor |
GB2551373B (en) * | 2016-06-16 | 2019-11-06 | Ffe Ltd | Beam alignment |
US10261006B2 (en) * | 2016-07-21 | 2019-04-16 | Rosemount Aerospace, Inc. | Method of estimating cloud particle sizes using LIDAR ratio |
EP4194888A1 (en) * | 2016-09-20 | 2023-06-14 | Innoviz Technologies Ltd. | Lidar systems and methods |
TWI583982B (zh) | 2016-09-26 | 2017-05-21 | 峰安車業股份有限公司 | 位移量測裝置及加工系統 |
EP3309536A1 (en) * | 2016-10-11 | 2018-04-18 | Malvern Panalytical Limited | Particle characterisation instrument |
CN106772422A (zh) * | 2016-10-25 | 2017-05-31 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 高空大气密度在线探测及计算方法 |
WO2018118934A1 (en) * | 2016-12-19 | 2018-06-28 | Massachusetts Institute Of Technology | Systems and methods for monitoring air particulate matter |
CN106644867B (zh) * | 2016-12-30 | 2023-08-29 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 气体中颗粒物的检测装置及方法 |
US9983112B1 (en) * | 2017-01-20 | 2018-05-29 | Rosemount Aerospace Inc. | Controlled sampling volume of clouds for measuring cloud parameters |
EP3382372A1 (en) * | 2017-03-27 | 2018-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Optical particle sensor and sensing method |
US10393918B2 (en) | 2017-03-28 | 2019-08-27 | Banner Engineering Corp. | Retro-reflective sensor with multiple detectors |
KR102436935B1 (ko) * | 2017-06-22 | 2022-08-26 | 삼성전자주식회사 | 빔 스티어링 장치 및 그 구동방법과, 빔 스티어링 장치를 포함하는 라이다 시스템 |
US10168273B1 (en) * | 2017-07-01 | 2019-01-01 | Kla-Tencor Corporation | Methods and apparatus for polarizing reticle inspection |
TWI651693B (zh) * | 2017-07-14 | 2019-02-21 | 元智大學 | 具有平行式雷射偵測器的巴士排煙系統及其運作方法 |
CN109387460A (zh) * | 2017-08-14 | 2019-02-26 | 阅美测量系统(上海)有限公司 | 一种污染颗粒观察及测试装置及分析方法 |
US10362296B2 (en) * | 2017-08-17 | 2019-07-23 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Localized depth map generation |
CN107504536B (zh) * | 2017-09-03 | 2019-05-24 | 浙江亿田智能厨电股份有限公司 | 一种具有反射式烟雾检测装置的油烟机及其控制方法 |
JP6885507B2 (ja) * | 2017-09-12 | 2021-06-16 | 日本電気株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
US11099129B2 (en) | 2017-09-14 | 2021-08-24 | Brown University | Spatially resolved standoff trace chemical sensing using backwards transient absorption spectroscopy |
US10320141B2 (en) | 2017-10-16 | 2019-06-11 | Rosemount Aerospace Inc. | Hard target detection for optical systems |
CN107860691B (zh) * | 2017-10-17 | 2023-10-24 | 中国矿业大学(北京) | 一种基于机器视觉技术的激光矿井煤尘遥测方法 |
TWI668673B (zh) * | 2017-11-14 | 2019-08-11 | 宏力實業股份有限公司 | Smoke detector structure |
DE102017220397A1 (de) * | 2017-11-15 | 2019-05-16 | Osram Gmbh | Abstandsmesseinheit |
CN108205867B (zh) * | 2017-12-25 | 2021-03-09 | 中国科学技术大学 | 一种具备干扰粒子识别能力的早期火灾烟雾探测方法 |
US10439713B1 (en) * | 2018-03-15 | 2019-10-08 | The Boeing Company | System and method for receiving signal information for networking using a free space optical link |
CN108982309A (zh) * | 2018-05-02 | 2018-12-11 | Oppo广东移动通信有限公司 | 检测方法、检测模组、电子装置、计算机设备和存储介质 |
WO2019217504A1 (en) * | 2018-05-11 | 2019-11-14 | Carrier Corporation | Multi-point detection system |
US10996324B2 (en) | 2018-05-14 | 2021-05-04 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Time of flight system and method using multiple measuring sequences |
US11002836B2 (en) | 2018-05-14 | 2021-05-11 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Permutation of measuring capacitors in a time-of-flight sensor |
US10969476B2 (en) | 2018-07-10 | 2021-04-06 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | High dynamic range for sensing systems and methods |
CN109117805B (zh) * | 2018-08-22 | 2022-04-29 | 浙江大丰实业股份有限公司 | 舞台灯光阵列防火控制系统 |
RU2691978C1 (ru) * | 2018-09-20 | 2019-06-19 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) | Оптический пылемер |
RU2686401C1 (ru) * | 2018-09-20 | 2019-04-25 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Донской государственный технический университет" (ДГТУ) | Фотоэлектрический способ определения средней концентрации и среднего размера частиц пыли |
US10789506B2 (en) * | 2018-09-24 | 2020-09-29 | Rockwell Automation Technologies, Inc. | Object intrusion detection system and method |
JP7044042B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2022-03-30 | 王子ホールディングス株式会社 | 微小浮遊物の測定装置、および、その測定システム |
US10931874B2 (en) * | 2018-12-06 | 2021-02-23 | Flir Commercial Systems, Inc. | Burst mode calibration sensing and image mode sensing for imaging systems and methods |
US10750645B2 (en) * | 2018-12-12 | 2020-08-18 | Texas Instruments Incorported | Transparent display panel cooling |
WO2020136644A1 (en) * | 2018-12-24 | 2020-07-02 | Mobile Physics Ltd. | Airborne particulate density determination using standard user equipment |
KR102158927B1 (ko) * | 2019-01-09 | 2020-09-22 | 인천대학교 산학협력단 | 입자 측정 장치 |
US11358184B2 (en) * | 2019-01-18 | 2022-06-14 | Johnson Controls Tyco IP Holdings LLP | Sensor system having transparent window contaminant removal using vibration |
US11016024B2 (en) * | 2019-02-19 | 2021-05-25 | Kla Corporation | Air scattering standard for light scattering based optical instruments and tools |
US11385338B2 (en) | 2019-03-06 | 2022-07-12 | Cnh Industrial America Llc | System and method for disregarding obscured sensor data during the performance of an agricultural operation |
CN110057729A (zh) * | 2019-03-12 | 2019-07-26 | 天津大学 | 一种人体颗粒物被动沉降浓度测试方法 |
CN110021135B (zh) * | 2019-03-13 | 2022-01-18 | 赛特威尔电子股份有限公司 | 一种明火报警检测方法、装置、烟雾报警器及存储介质 |
JP6970703B2 (ja) * | 2019-03-18 | 2021-11-24 | 株式会社東芝 | 電子装置および方法 |
KR102138222B1 (ko) * | 2019-04-11 | 2020-07-27 | 주식회사 제이에스티앤랩 | 배출가스 입자 측정 장치 |
US11781238B2 (en) * | 2019-05-20 | 2023-10-10 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for plate-up detection |
US11492967B2 (en) * | 2019-07-03 | 2022-11-08 | Raytheon Technologies Corporation | Particulate ingestion sensor for gas turbine engines |
EP4021569A4 (en) | 2019-08-30 | 2023-11-01 | TAE Technologies, Inc. | SYSTEMS, DEVICES AND METHODS FOR BEAM POSITION MONITORING AND BEAM IMAGING |
KR20220053001A (ko) | 2019-08-30 | 2022-04-28 | 티에이이 테크놀로지스, 인크. | 고품질 이온 빔 형성을 위한 시스템들, 디바이스들 및 방법들 |
WO2021055485A1 (en) * | 2019-09-17 | 2021-03-25 | Maka Autonomous Robotic Systems, Inc. | Autonomous laser weed eradication |
US11984526B2 (en) | 2019-12-12 | 2024-05-14 | Brolis Sensor Technology, Uab | Optical device having an out-of-plane arrangement for light emission and detection |
CN113053057B (zh) * | 2019-12-26 | 2023-02-28 | 杭州海康微影传感科技有限公司 | 火点定位系统及方法 |
CN111175205A (zh) * | 2020-02-18 | 2020-05-19 | 长江存储科技有限责任公司 | 一种气缸 |
US11348273B2 (en) | 2020-02-25 | 2022-05-31 | Zebra Technologies Corporation | Data capture system |
EP3889932B1 (en) * | 2020-03-30 | 2023-11-22 | Carrier Corporation | Beam smoke detector system |
CN111467886B (zh) * | 2020-03-31 | 2021-11-19 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种火灾监控系统及集装箱式数据中心系统 |
US11480530B2 (en) * | 2020-04-15 | 2022-10-25 | Rosemount Aerospace Inc. | Optical detection of foreign object debris ingested by aircraft engine |
CN111551474A (zh) * | 2020-05-31 | 2020-08-18 | 天津大学 | 港口扬尘颗粒物浓度空间分布实测方法 |
CN111650100A (zh) * | 2020-06-16 | 2020-09-11 | 辽东学院 | 一种基于Mie氏散射理论的颗粒粒度测量设备 |
KR102357256B1 (ko) * | 2020-07-21 | 2022-02-07 | 한밭대학교 산학협력단 | 카메라의 임의 풍경 영상을 이용한 방향 의존 시정거리 및 2 차원 공간 미세먼지 분포 측정 방법 |
US11828879B2 (en) | 2020-07-29 | 2023-11-28 | Lg Innotek Co., Ltd. | Vibrated polarizing beam splitter for improved return light detection |
CN114061907A (zh) * | 2020-07-29 | 2022-02-18 | 合肥维信诺科技有限公司 | 光晕量化系统及方法 |
US11521882B2 (en) * | 2020-08-20 | 2022-12-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Wafer notch positioning detection |
CN112284987A (zh) * | 2020-09-01 | 2021-01-29 | 华电(印尼)玻雅发电公司 | 一种煤粉细度测量系统 |
DE102020213162A1 (de) * | 2020-10-19 | 2022-04-21 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Optoelektronisches System, LiDAR-System und Verfahren zum Reinigen eines Innenraums eines optoelektronischen Systems |
IL278629A (en) * | 2020-11-10 | 2022-06-01 | Brightway Vision Ltd | System and method for detecting and identifying objects for manned and unmanned vehicles |
US11726035B2 (en) * | 2020-12-11 | 2023-08-15 | Raytheon Technologies Corporation | Terahertz enhanced foreign object debris discrimination for optical particulate sensor |
IT202000032021A1 (it) * | 2020-12-23 | 2021-03-23 | Universita’ Degli Studi Di Modena E Reggio Emilia | Metodo per valutare il rischio di contaminazione ambientale da agenti patogeni diffusi per via aerea, in locali chiusi provvisti di impianti HVAC |
CN112954152A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-06-11 | 神思电子技术股份有限公司 | 一种激光摄像机消除光反射的系统及方法 |
KR102506418B1 (ko) * | 2021-01-29 | 2023-03-06 | 에스피티씨주식회사 | 굴뚝 먼지 측정기 |
US20220341839A1 (en) * | 2021-04-27 | 2022-10-27 | Droplet Measurement Technologies, Llc | Optical particle detector with fluorescence |
DE102021205061A1 (de) * | 2021-05-19 | 2022-11-24 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln verdeckter Objekte in einer ein Umfeld repräsentierenden 3D-Punktwolke |
CN113393638A (zh) * | 2021-05-21 | 2021-09-14 | 霍为东 | 一种火灾烟雾探测装置及方法 |
CN113310851B (zh) * | 2021-05-25 | 2023-08-15 | 清华大学深圳国际研究生院 | 一种实时浑浊介质目标识别系统和方法 |
US20230009165A1 (en) * | 2021-07-07 | 2023-01-12 | Sidewalk Labs LLC | Wireless occupancy sensors and methods for using the same |
EP4392765A1 (en) * | 2021-08-25 | 2024-07-03 | Industrial Intelligence, Inc. | System, device and method for effective deployment of a dust accumulation sensor |
CN113739913B (zh) * | 2021-08-27 | 2022-03-11 | 长春理工大学 | 一种智能化透雾霾光学成像探测装置及其使用方法 |
CN113552056B (zh) * | 2021-09-17 | 2022-01-21 | 中国电器科学研究院股份有限公司 | 一种湿热海洋环境模拟设备及其辐照强度预测方法 |
CN113702597B (zh) * | 2021-09-18 | 2024-05-03 | 烟台伟昌电子材料有限公司 | 一种室内空气质量检测仪及其检测方法 |
US12039848B2 (en) | 2021-10-28 | 2024-07-16 | Honeywell International Inc. | Non-coaxial systems, methods, and devices for detecting smoke |
US11551535B1 (en) * | 2021-10-28 | 2023-01-10 | Honeywell International Inc. | Operating a scanning smoke detector |
US11657692B1 (en) | 2021-10-28 | 2023-05-23 | Honeywell International Inc. | Smoke detector |
CN114544440B (zh) * | 2022-02-22 | 2024-01-12 | 安徽理工大学 | 一种截割产尘实验系统及其截割产尘监测方法 |
CN114324098B (zh) * | 2022-03-10 | 2022-05-24 | 南京波瑞自动化科技有限公司 | 一种双光路激光前向散射颗粒物浓度测量装置 |
US11961381B2 (en) | 2022-06-21 | 2024-04-16 | The Adt Security Corporation | Life safety device with machine learning based analytics |
US20230411024A1 (en) * | 2022-06-21 | 2023-12-21 | X-Energy, Llc | System and method for making nuclear fuel elements with a controlled number of nuclear particles |
CN114979587B (zh) * | 2022-07-29 | 2022-11-04 | 四川锦美环保股份有限公司 | 一种共享涂装线调度管理控制系统 |
CN115096768A (zh) * | 2022-08-24 | 2022-09-23 | 浙江省水利水电勘测设计院有限责任公司 | 可同时测量颗粒粒径与体积浓度的背光成像系统和方法 |
CN117282200B (zh) * | 2023-11-25 | 2024-02-02 | 甘肃第四建设集团有限责任公司 | 建筑施工降尘控制方法及系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10334362A (ja) * | 1997-05-29 | 1998-12-18 | Hochiki Corp | 光電式煙感知器の投光装置 |
WO2005048208A1 (ja) * | 2003-11-17 | 2005-05-26 | Hochiki Corporation | 散乱光式煙感知器 |
WO2006050570A1 (en) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Vfs Technologies Limited | Particle detector, system and method |
Family Cites Families (83)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3429243A (en) | 1965-08-16 | 1969-02-25 | Polaroid Corp | Exposure value compensator |
US3688298A (en) | 1970-05-13 | 1972-08-29 | Security Systems Inc | Property protection system employing laser light |
US3788742A (en) | 1971-06-24 | 1974-01-29 | Westinghouse Electric Corp | Gas monitoring system |
US3737858A (en) | 1971-07-13 | 1973-06-05 | Advanced Research Corp | Versatile telemetering system |
US3727056A (en) * | 1972-03-03 | 1973-04-10 | Electro Signal Lab | Photon couplers with solid state lamps |
US3924252A (en) | 1973-03-15 | 1975-12-02 | Espey Mfg & Electronics Corp | Laser smoke detection |
CH574117A5 (ja) * | 1973-10-24 | 1976-03-31 | Sick Erwin Fa | |
US3901602A (en) | 1974-05-13 | 1975-08-26 | Us Commerce | Light scattering method and apparatus for the chemical characterization of particulate matter |
CH600456A5 (ja) | 1976-12-23 | 1978-06-15 | Cerberus Ag | |
JPS5483491A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Smoke detector |
JPS5622932A (en) | 1979-08-02 | 1981-03-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Adjusting method for sensitivity of photoelectric smoke detector |
JPS58214995A (ja) | 1982-06-08 | 1983-12-14 | 能美防災株式会社 | 火災報知設備 |
JPS61182419A (ja) | 1985-02-08 | 1986-08-15 | Nissan Motor Co Ltd | 過給機付エンジンのインタク−ラ装置 |
JPS62153780A (ja) | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Kyoritsu Denpa Kk | インタ−レ−ス表示装置 |
DE3641716A1 (de) * | 1986-12-06 | 1988-06-16 | Palas Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer partikel enthaltenden stroemung |
JPH03188596A (ja) | 1989-12-19 | 1991-08-16 | Nittan Co Ltd | 煙濃度監視方式 |
JPH03245296A (ja) | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Oki Denki Bosai Kk | 煙感知器の試験方法及び煙感知器 |
JP2935549B2 (ja) * | 1990-08-23 | 1999-08-16 | 能美防災株式会社 | 火災検出方法及び装置 |
US5266798A (en) | 1990-09-14 | 1993-11-30 | High Yield Technology | High sensitivity, large detection area particle sensor for vacuum applications |
CH683464A5 (de) | 1991-09-06 | 1994-03-15 | Cerberus Ag | Optischer Rauchmelder mit aktiver Ueberwachung. |
JPH06109631A (ja) | 1991-10-31 | 1994-04-22 | Hochiki Corp | 火災報知装置 |
JPH05288668A (ja) | 1992-04-13 | 1993-11-02 | Anelva Corp | 塵検出器 |
US5502434A (en) | 1992-05-29 | 1996-03-26 | Hockiki Kabushiki Kaisha | Smoke sensor |
US5651047A (en) | 1993-01-25 | 1997-07-22 | Cardiac Mariners, Incorporated | Maneuverable and locateable catheters |
JPH06288917A (ja) | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Nohmi Bosai Ltd | 煙式火災感知器 |
US5576697A (en) | 1993-04-30 | 1996-11-19 | Hochiki Kabushiki Kaisha | Fire alarm system |
JP3251763B2 (ja) | 1993-04-30 | 2002-01-28 | ホーチキ株式会社 | 火災報知装置及び火災検出方法 |
US5521366A (en) | 1994-07-26 | 1996-05-28 | Metanetics Corporation | Dataform readers having controlled and overlapped exposure integration periods |
RU2205382C2 (ru) | 1995-04-06 | 2003-05-27 | Альфа Лаваль Агри Аб | Способ и устройство для количественного определения частиц в жидких средах |
DE19520488C1 (de) | 1995-06-03 | 1996-09-05 | Draegerwerk Ag | Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption |
ATE172832T1 (de) | 1995-06-26 | 1998-11-15 | Phase One Denmark A S | Verfahren und system zur aufnahme digitaler kamerabilder |
US6550949B1 (en) | 1996-06-13 | 2003-04-22 | Gentex Corporation | Systems and components for enhancing rear vision from a vehicle |
JPH10154284A (ja) | 1996-11-22 | 1998-06-09 | Harumi Takeda | 煙感知システム |
JP2956653B2 (ja) | 1996-12-16 | 1999-10-04 | 日本電気株式会社 | パーティクルモニター装置 |
JP3588535B2 (ja) | 1997-06-30 | 2004-11-10 | ホーチキ株式会社 | 煙感知装置 |
US5912619A (en) | 1997-12-31 | 1999-06-15 | Wells Fargo Alarm Systems, Inc. | Security system using optical sensors |
US6119055A (en) | 1998-01-23 | 2000-09-12 | Mcdonnell Douglas Corporation | Real time imaging system and method for use in aiding a landing operation of an aircraft in obscured weather conditions |
JP4038878B2 (ja) | 1998-05-26 | 2008-01-30 | 松下電工株式会社 | 画像処理を用いた火災検出装置 |
JP3996272B2 (ja) * | 1998-06-29 | 2007-10-24 | 新日本空調株式会社 | エアロゾル検出方法 |
US6288644B1 (en) | 1998-09-01 | 2001-09-11 | Caretaker System, Inc. | Perimeter monitoring system |
JP3724689B2 (ja) | 1998-10-30 | 2005-12-07 | ホーチキ株式会社 | 火災監視装置及び火災感知器 |
US6091345A (en) | 1998-12-10 | 2000-07-18 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Synchronized target subsystem for automated docking systems |
JP2000180349A (ja) | 1998-12-10 | 2000-06-30 | Daido Steel Co Ltd | 煤塵等の監視装置 |
US6292683B1 (en) | 1999-05-18 | 2001-09-18 | General Electric Company | Method and apparatus for tracking motion in MR images |
US6700484B2 (en) | 1999-12-30 | 2004-03-02 | Texas Instruments Incorporated | Networked miniature chemical optical sensors |
DE10046992C1 (de) | 2000-09-22 | 2002-06-06 | Bosch Gmbh Robert | Streulichtrauchmelder |
GB0028162D0 (en) | 2000-11-20 | 2001-01-03 | Sentec Ltd | Distributed image processing technology and services |
JP2002223019A (ja) | 2001-01-24 | 2002-08-09 | Rion Co Ltd | レーザ発振器とそれを用いた光散乱式粒子検出器 |
JP4132692B2 (ja) * | 2001-02-20 | 2008-08-13 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
JP5115912B2 (ja) | 2001-02-23 | 2013-01-09 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 | 高速ゲート掃引型3次元レーザーレーダー装置 |
EP1239433A1 (de) | 2001-03-09 | 2002-09-11 | VIDAIR Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Rauch und/oder Feuer in Räumen |
DE10118913B4 (de) | 2001-04-19 | 2006-01-12 | Robert Bosch Gmbh | Streulichtrauchmelder |
JP3350528B2 (ja) | 2001-05-16 | 2002-11-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | アクティブマトリクス型表示装置 |
US6958689B2 (en) | 2001-09-21 | 2005-10-25 | Rosemount Aerospace Inc. | Multi-sensor fire detector with reduced false alarm performance |
EP1300816A1 (de) * | 2001-10-04 | 2003-04-09 | VIDAIR Aktiengesellschaft | Verfahren und System zur Erkennung von Bränden in Räumen |
JP2004056713A (ja) | 2002-07-24 | 2004-02-19 | Sharp Corp | 撮影部を有した携帯機器および露出調整装置 |
JP2004112034A (ja) | 2002-09-13 | 2004-04-08 | Canon Inc | 撮像装置 |
EP1546783A1 (en) * | 2002-09-27 | 2005-06-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical element, method for manufacturing such an element and a method for aligning a light beam and such an element |
DE10246056A1 (de) | 2002-10-02 | 2004-04-22 | Robert Bosch Gmbh | Rauchmelder |
JP2004144512A (ja) | 2002-10-22 | 2004-05-20 | Denso Corp | 乗員検知システム |
JP2004257876A (ja) * | 2003-02-26 | 2004-09-16 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 気中パーティクルの可視化方法 |
AU2003902319A0 (en) | 2003-05-14 | 2003-05-29 | Garrett Thermal Systems Limited | Laser video detector |
GB0323055D0 (en) * | 2003-10-02 | 2003-11-05 | Unidata Europ Ltd | Particulate detector |
KR20070093153A (ko) | 2003-10-23 | 2007-09-17 | 테렌스 콜 마틴 | 하우징을 덕트 위에 마운팅하기 위한 방법 |
US20070242269A1 (en) * | 2004-03-06 | 2007-10-18 | Michael Trainer | Methods and apparatus for determining characteristics of particles |
US20050207655A1 (en) | 2004-03-22 | 2005-09-22 | Nasreen Chopra | Inspection system and method for providing feedback |
GB0407327D0 (en) | 2004-03-31 | 2004-05-05 | Vaulted Image Technologies Ltd | Cameras |
JP4652716B2 (ja) * | 2004-04-21 | 2011-03-16 | ニッタン株式会社 | 煙感知器 |
PL368774A1 (en) | 2004-06-25 | 2005-12-27 | Artur Kozioł | Method and sales point terminal for effecting payments through the gsm mobile telephone network (or other networks, such as the umts) |
KR200363865Y1 (ko) * | 2004-07-12 | 2004-10-11 | (주)니즈 | 입자의 크기 및 종류 구분이 가능한 파티클 센서 |
US8502870B2 (en) | 2005-02-02 | 2013-08-06 | Pima Electronic Systems Ltd. | Device, system, and method of rapid image acquisition |
GB2426323A (en) * | 2005-05-16 | 2006-11-22 | Fire Fighting Entpr Ltd | Infra-red beam smoke detection system |
CN100427922C (zh) * | 2005-07-22 | 2008-10-22 | 公安部沈阳消防研究所 | 一种烟雾浓度探测装置 |
JP2007163894A (ja) * | 2005-12-14 | 2007-06-28 | Fujifilm Corp | 液晶表示装置 |
JP2007212860A (ja) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Fujifilm Corp | 積層体の製造方法、積層体、液晶表示装置用基板、液晶表示素子及び液晶表示装置 |
US7423277B2 (en) | 2006-03-14 | 2008-09-09 | Axcelis Technologies, Inc. | Ion beam monitoring in an ion implanter using an imaging device |
TWI654418B (zh) | 2007-11-15 | 2019-03-21 | 巴哈馬商愛克斯崔里斯科技有限公司 | 粒子檢測器 |
WO2009073649A1 (en) | 2007-12-04 | 2009-06-11 | Particle Measuring Systems, Inc. | Non-orthogonal particle detection systems and methods |
US8804119B2 (en) | 2008-06-10 | 2014-08-12 | Xtralis Technologies Ltd | Particle detection |
WO2010124347A1 (en) | 2009-05-01 | 2010-11-04 | Xtralis Technologies Ltd | Improvements to particle detectors |
JP4994422B2 (ja) | 2009-05-13 | 2012-08-08 | リズム時計工業株式会社 | 検知システム、検知システムの信号処理方法、および、煙感知器 |
US9082165B2 (en) | 2010-05-31 | 2015-07-14 | Dvp Technologies Ltd. | Inspection of region of interest |
DE102012210035A1 (de) | 2012-06-14 | 2013-05-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | EUV-Lithographieanlage und Verfahren zum Detektieren von Partikeln in einer EUV-Lithographieanlage |
-
2008
- 2008-11-14 TW TW106104269A patent/TWI654418B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-11-14 US US12/743,171 patent/US9025144B2/en active Active
- 2008-11-14 CN CN200880124826.1A patent/CN101952709B/zh active Active
- 2008-11-14 TW TW104103916A patent/TWI583937B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-11-14 KR KR1020167013836A patent/KR101705220B1/ko active IP Right Grant
- 2008-11-14 KR KR1020107013180A patent/KR101658581B1/ko active IP Right Grant
- 2008-11-14 TW TW097144146A patent/TWI481846B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-11-14 AU AU2008323626A patent/AU2008323626B2/en not_active Ceased
- 2008-11-14 JP JP2010533384A patent/JP5662154B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-11-14 EP EP08849716.9A patent/EP2217911B1/en active Active
- 2008-11-14 CN CN201510280542.3A patent/CN105185026B/zh active Active
- 2008-11-14 CA CA3103407A patent/CA3103407A1/en active Pending
- 2008-11-14 WO PCT/AU2008/001697 patent/WO2009062256A1/en active Application Filing
- 2008-11-14 KR KR1020177003007A patent/KR101913287B1/ko active IP Right Grant
- 2008-11-14 CA CA2705830A patent/CA2705830C/en active Active
- 2008-11-14 CA CA2993208A patent/CA2993208C/en active Active
- 2008-11-14 EP EP16161479.7A patent/EP3082117B1/en active Active
- 2008-11-14 EP EP18152374.7A patent/EP3367358A3/en not_active Withdrawn
- 2008-11-14 CN CN201810904511.4A patent/CN109255924A/zh active Pending
-
2014
- 2014-07-18 JP JP2014148142A patent/JP6030092B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-04-16 US US14/687,969 patent/US9702803B2/en active Active
-
2016
- 2016-05-20 HK HK16105796.7A patent/HK1217807A1/zh not_active IP Right Cessation
- 2016-07-22 JP JP2016144362A patent/JP6523220B2/ja active Active
-
2017
- 2017-06-07 US US15/616,429 patent/US10429289B2/en active Active
-
2019
- 2019-10-01 US US16/590,116 patent/US20200056973A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10334362A (ja) * | 1997-05-29 | 1998-12-18 | Hochiki Corp | 光電式煙感知器の投光装置 |
WO2005048208A1 (ja) * | 2003-11-17 | 2005-05-26 | Hochiki Corporation | 散乱光式煙感知器 |
WO2006050570A1 (en) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Vfs Technologies Limited | Particle detector, system and method |
JP2008519965A (ja) * | 2004-11-12 | 2008-06-12 | ブイエフエス・テクノロジーズ・リミテッド | 粒子検出器、システムおよび方法 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015520380A (ja) * | 2012-06-08 | 2015-07-16 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | マルチモード検出 |
US10677705B2 (en) | 2013-06-03 | 2020-06-09 | Garrett Thermal Systems Limited | Particle detection system and related methods |
JP2016522409A (ja) * | 2013-06-03 | 2016-07-28 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | 粒子検知システムおよび関連方法 |
US10345213B2 (en) | 2013-06-03 | 2019-07-09 | Garrett Thermal Systems Limited | Particle detection system and related methods |
JP2018535090A (ja) * | 2015-11-04 | 2018-11-29 | ノードソン コーポレーションNordson Corporation | ディスペンス流体の流体パターンを制御する方法及びシステム |
WO2017217078A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2017-12-21 | シャープ株式会社 | 光電式ほこりセンサ装置および空調機器 |
JPWO2017217078A1 (ja) * | 2016-06-13 | 2019-04-18 | シャープ株式会社 | 光電式ほこりセンサ装置および空調機器 |
KR101944282B1 (ko) * | 2018-01-22 | 2019-01-31 | 주식회사 두리번테크 | 광섬유를 이용한 비상상황 모니터링 시스템 |
JP2019159742A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 古河電気工業株式会社 | 火災煙検知装置 |
JP7203500B2 (ja) | 2018-03-13 | 2023-01-13 | 古河電気工業株式会社 | 火災煙検知装置 |
KR20200021901A (ko) * | 2018-08-21 | 2020-03-02 | 비아비 솔루션즈 아이엔씨. | 다중 스펙트럼 센서 기반 비상 상태 감지기 |
KR102422161B1 (ko) * | 2018-08-21 | 2022-07-18 | 비아비 솔루션즈 아이엔씨. | 다중 스펙트럼 센서 기반 비상 상태 감지기 |
JP2020038203A (ja) * | 2018-08-21 | 2020-03-12 | ヴァイアヴィ・ソリューションズ・インコーポレイテッドViavi Solutions Inc. | マルチスペクトルセンサベースの警報条件検知器 |
JP7231516B2 (ja) | 2018-08-21 | 2023-03-01 | ヴァイアヴィ・ソリューションズ・インコーポレイテッド | マルチスペクトルセンサベースの警報条件検知器 |
US11604129B2 (en) | 2018-08-21 | 2023-03-14 | Viavi Solutions Inc. | Multispectral sensor based alert condition detector |
JP2020076633A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | 新日本空調株式会社 | 粒子検知装置及び粒子検知方法 |
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6030092B2 (ja) | Avsdシステムにおけるビーム整列決定方法および粒子検出システム | |
JP5128285B2 (ja) | 粒子検出方法およびシステム | |
AU2018282480B2 (en) | Particle detection |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111111 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111111 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130402 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130701 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130708 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130730 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130806 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130902 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130909 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131001 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140318 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140718 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20140909 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141111 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141204 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5662154 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |