JP2008300978A - 温度補償型水晶発振器および発振器の温度補償方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】発振振動子11を含む発振回路と、温度検出部16と、発振回路の発振ループに接続された電圧可変容量素子13,14と、温度検出部6で検出された温度データを受けて温度変化を補償した補償電圧を電圧可変容量素子13,14に印加する温度補償回路18と、を有し、温度補償回路18は、温度区分を区切って複数の補正点のデータがそれぞれあらかじめ設定されており、検出された温度データに対して低温側の第1の補正点データおよび高温側の第2の補正点データを選択し、データの補間を加重平均された1次補間で行って、補償電圧VTを生成する。
【選択図】図2
Description
水晶振動子の発振周波数は非常に高精度であるが、それでもわずかに温度特性をもっており、通常のATカット水晶振動子の場合は3次曲線のカーブを描く。
この3次曲線をキャンセルするような制御を加えることにより、温度変化を補償した発振器を温度補償型水晶発振器(TCXO)という。
LSIは温度補償回路と発振回路で構成され、温度補償回路にもいくつかの方法が提案されている(たとえば特許文献1参照)。
3次曲線を発生させるために、LSI内部には温度計(1次電圧)を内蔵し、DC電圧(0次電圧)、2乗回路や3乗回路で作った2次電圧・3次電圧をそれぞれ合成する。そして、合成する際の係数をパラメータとすることで、図1に示すように、自由に3次曲線を描くことができる。
式で表すと、次のようになる。
V=A(T-T0)3 + B(T-T0)2 + C(T-T0) + D
また、2乗回路や3乗回路で作った2次電圧・3次電圧にはノイズ成分が多く、発振器の位相ノイズ特性が良くないとの指摘もある。
本発明は、補償精度を十分に確保でき、しかもノイズ特性が良好な温度補償型水晶発振器および発振器の温度補償方法を提供することにある。
これらの構成要素のうち、水晶振動子11を除く、発振用素子としてのインバータ12、電圧可変容量素子13,14、出力バッファとしてのインバータ15、温度センサ16、メモリ17、および温度補償回路18は一つのチップ(LSI)20に集積化されている。
インバータ12と15の入力端子同士および端子T1の接続点によりノードND11が形成され、インバータ12の出力端子と端子T2との接続点によりノードND12が形成されている。
電圧可変容量素子13の一端がノードND11に接続され、電圧可変容量素子14の一端がノードND12に接続されている。
そして、電圧可変容量素子13および電圧可変容量素子14の他端が、温度補償回路18の補償電圧VTの出力端に接続されている。
温度補償回路18は、温度センサ16による周囲温度に依存した補償電圧VTを発生し、電圧制御発振器としての電圧可変容量素子13,14に印加する。この温度補償回路18の具体的な構成および機能については、後で詳述する。
電圧可変容量素子13,14は、補償電圧VTによって端子間容量が変化する。その結果、水晶振動子11からみた回路側の直列等価容量(負荷容量)が変化することから、温度に応答して発振周波数も変化し、結局、温度補償される。
この温度補償された発振信号は、インバータ15を介して端子T3から出力される。
図3は、図2の温度補償型水晶発振器における温度補償回路の具体的な構成例を示す図である。
図4は、図3の温度補償回路の動作原理を説明するための図である。
この方法を用いれば、2乗回路や3乗回路が不要になる。また、水晶の温度特性が3次関数から著しく逸脱していた場合など、どんな曲線にも補正が可能である。
補正点のデータは8ビット(bit)程度のデジタルデータでLSIのメモリ17,181中に記憶しておく。補正点の点数が多いので、比較的多くのメモリ容量が必要となる(数百Bit)。補正点のデータそのものは、水晶発振器の温度測定から所定の方法によってオフラインで求めて、LSI20に記憶する。
メモリ181は、たとえば温度センサ16の検出温度がデジタル値に変換された後の温度区分信号S16が、アドレスとして供給され、そのアドレスデータに基づいて記憶された前後4ポイントの補正点データであるメモリ値Z、A、B、Cを読み出す。
メモリ値Aは第1のDAC182に入力され、メモリ値Bは第2のDAC183に入力され、メモリ値ZおよびBが引算器184に供給され、メモリ値ZおよびCが引算器184に供給される。
本実施形態のメモリ181は、温度センサ16で検出された温度データに対して低温側の第1の補正点データA、高温側の第2の補正点データB、低温側の第1の補正点データAよりさらに低温側の第3の補正点データZと、高温側の第2の補正点データBよりさらに高温側の第4の補正点データCをデジタルデータとして出力する。
第2のDAC183は、メモリ値Bをアナログ値に変換し、その結果を信号S183として加算器188に出力する。
第2の乗算器186は、引算器184による第2の傾きB’と現在温度Tに対する残差bとの乗算を行い、その結果を信号S186として第2の加算器188に出力する。
ここで、第1の残差aは現在温度Tと最も隣接する低温側の補正点に対応する温度(図4の例ではメモリ値Aに対応)との差である。第2の残差bは現在温度Tと最も隣接する高温側の補正点に対応する温度(図4の例ではメモリ値Bに対応)との差である。
第2の加算器188は、DAC183の出力信号S183と第2の乗算器186の出力信号S186を加算し、補正値βとして加重平均回路189に出力する。
NMOSトランジスタNT1,NT2は補正値αの供給ラインLαと補正値βの供給ラインLβとの間に直列に接続され、NMOSトランジスタNT1のゲートに第2の残差bのデータが供給され、NMOSトランジスタNT2のゲートに第1の残差aが供給され、両トランジスタNT1、NT2の接続ノードが補正値αと補正値βを加重平均した補償電圧VTを端子T18から出力する。
第1の残差aおよび第2の残差bの値はいわゆる相補的な関係を持ち、第1の残差aおよび第2の残差bの値に応じてNMOSトランジスタNT1、NT2のオン抵抗が変化する。これにより、補正値αと補正値βの加重平均にかかわる割合が調整され、温度変化に高精度に追従する補償電圧VTが得られる。
次に、上記構成による温度補償回路18の動作について、図3および図4に関連付けて説明する。
いま、補正点A1のメモリ値A、補正点B1のメモリ値BをDAC182,183においてDA変換することで、それぞれのアナログ電圧(あるいは電流)値S182、S183が得られる。
同じく、減算器184において、メモリ値Cからメモリ値Aを減算することによって傾きB’が求められる。この傾きB’と傾きA’のデータを係数として1次関数を生成して、それぞれに補正点A1と補正点B1の電圧(あるいは電流)値を0次係数として与えれば、乗算器185,186、および加算器187,188による演算を通して図4の補正値αと補正値βが得られる。
加重平均には第1の残差aと第2の残差bを用いる。すなわち、現在温度がメモリ値Aの温度に近い場合(残差aが小さくて残差bが大きい場合)、現在温度における補正電圧は補正値αを選び、メモリ値AをDA変換した電圧に近くなる。
現在温度がメモリ値Bの温度に近づくにつれて第1の残差aが大きく、第2の残差bが小さくなり、補正値αから徐々に補正値βへ移行してゆく。
現在温度Tがメモリ値Bの温度に近くなると、第2の残差bは小さくなり、現在温度Tにおける補償(補正)電圧VTは補正値βを選び、メモリ値BをDA変換した電圧にほぼ等しくなる。
このようにして、メモリ値Aとメモリ値Bの間を、加重平均した1次関数で補間してゆく。
今まで減算に使用していたメモリ値Zは不要になり、新しくメモリ値Dを用いる。そのため、温度区分が移行した瞬間、補正値αが大きく変化することになる。
本実施形態においては、この影響を回避するため、温度区分が移行する近辺には加重平均に不感帯を設けておく。
メモリ値Bの近辺では補正値αの影響を受けないように、αを不感として補正値βにのみ追従するように設定しておく。
このように構成することにより、温度区分が移行しても、補正値はスムーズな曲線が得られる。
そこで、本実施形態においては、温度区分が移行しても、一方の1次関数(メモリ値B近辺における補正値β)はそのまま利用し、不感帯になっている補正値αのみが変化するような回路構成を採用している。
次の温度区分移行では、逆側の1次関数のみが変化し、交互に入れ替わる構成にすることで、温度区分移行によって補正値はスムーズな曲線が得られる。
また、補間点数を多くしてゆけば、メモリすべきデータも多くなってしまうものの、あらゆる温度補償カーブが実現可能となり、補償精度も非常に高くなる。
本実施形態の温度補償型水晶発振器10によれば、周波数偏差±1ppm以下を実現できる。
したがって、携帯電話等の携帯装置や全方位測位システム(GPS)の発振器として十分に適用可能である。
Claims (9)
- 発振振動子を含む発振回路と、
温度検出部と、
上記発振回路の発振ループに接続された電圧可変容量素子と、
上記温度検出部で検出された温度データを受けて温度変化を補償した補償電圧を上記電圧可変容量素子に印加する温度補償回路と、を有し、
上記温度補償回路は、
温度区分を区切って複数の補正点のデータがそれぞれあらかじめ設定されており、検出された温度データに対して低温側の第1の補正点データおよび高温側の第2の補正点データを選択し、当該データの補間を加重平均された1次補間で行って、上記補償電圧を生成する
温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
各1次係数の算出を、補正点データにかかわるデジタルデータの減算により求める
請求項1記載の温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
上記高温側の第2の補正点データと上記低温側の第1の補正点データよりさらに低温側の第3の補正点データとの減算により、上記低温側の第1の補正点データの1次係数を得、
上記低温側の第1の補正点データと上記高温側の第2の補正点データよりさらに高温側の第4の補正点データとの減算により、上記高温側の第2の補正点データの1次係数を得る
請求項2記載の温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
上記第2の補正点データと上記第3の補正点データとの減算により得られる傾きデータに、上記温度検出部で検出された温度と上記低温側の第1の補正点データに対応する温度との第1の残差を乗算した結果を上記第1の補正点データに付加して第1の補正値を生成し、
上記第1の補正点データと上記第4の補正点データとの減算により得られる傾きデータに、上記温度検出部で検出された温度と上記高温側の第2の補正点データに対応する温度との第2の残差を乗算した結果を上記第2の補正点データに付加して第2の補正値を生成し、
上記第1の補正値と上記第2の補正値との加重平均により上記補償電圧を生成する
請求項3記載の温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
上記第1の残差および第2の残差に応じて加重平均を行う
請求項4記載の温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
温度区分が移行する加重平均の端において不感帯を設け、複数の1次関数のうちの一の1次関数を不感として処理する
請求項1から5のいずれか一に記載の温度補償型水晶発振器。 - 上記温度補償回路は、
温度区分が移行した場合には、不感となっている1次関数のみを変化させる
請求項6記載の温度補償型水晶発振器。 - 発振振動子を含む発振回路と、
温度検出部と、
上記発振回路の発振ループに接続された電圧可変容量素子と、
上記温度検出部で検出された温度データを受けて温度変化を補償した補償電圧を上記電圧可変容量素子に印加する温度補償回路と、を有し、
上記温度補償回路は、
温度区分を区切ってあらかじめ設定された複数の補正点のデータを記憶し、上記温度検出部で検出された温度データに対して低温側の第1の補正点データ、高温側の第2の補正点データ、上記低温側の第1の補正点データよりさらに低温側の第3の補正点データと、上記高温側の第2の補正点データよりさらに高温側の第4の補正点データをデジタルデータとして出力するメモリと、
上記第1の補正点データをアナログデータに変換する第1の変換器と、
上記第2の補正点データをアナログデータに変換する第2の変換器と、
上記高温側の第2の補正点データと上記低温側の第3の補正点データとを減算し第1の傾きを得、上記低温側の第1の補正点データと上記高温側の第4の補正点データとを減算し第2の傾きを得る減算器と、
第1の傾きデータに、上記温度検出部で検出された温度と上記低温側の第1の補正点データに対応する温度との第1の残差を乗算する第1の乗算器と、
第2の傾きデータに、上記温度検出部で検出された温度と上記高温側の第2の補正点データに対応する温度との第2の残差を乗算する第2の乗算器と、
上記第1の変換器の出力データに上記第1の乗算器の出力データを加算して第1の補正値を生成する第1の加算器と、
上記第2の変換器の出力データに上記第2の乗算器の出力データを加算して第2の補正値を生成する第2の加算器と、
上記第1の残差および第2の残差に応じて、上記第1の補正値と上記第2の補正値との加重平均を行って、上記補償電圧を生成する加重平均回路と
を有する温度補償型水晶発振器。 - 発振回路の発振ループに接続された電圧可変容量素子を有し、当該電圧可変容量素子に印加する電圧を温度補償する発振器の温度補償方法であって、
温度区分を区切って複数の補正点のデータをそれぞれあらかじめ設定し、
検出された温度データに対して低温側の第1の補正点データおよび高温側の第2の補正点データを選択し、
当該データの補間を加重平均された1次補間で行って、上記補償電圧を生成する
発振器の温度補償方法。
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Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009145200A1 (ja) | 2008-05-30 | 2009-12-03 | 旭硝子株式会社 | 蛍光ランプ |
JP2010093386A (ja) * | 2008-10-03 | 2010-04-22 | Fujitsu Ltd | 無線中継装置、無線端末、および、プログラム |
EP2244385A1 (en) | 2009-04-22 | 2010-10-27 | Fujitsu Limited | Temperature compensated crystal oscillator, printed-circuit board, and electronic device |
EP2244386A1 (en) | 2009-04-21 | 2010-10-27 | Fujitsu Limited | Temperature compensated crystal oscillator |
JP2011511575A (ja) * | 2008-01-31 | 2011-04-07 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | 水晶発振器周波数較正 |
JP2016158199A (ja) * | 2015-02-26 | 2016-09-01 | セイコーNpc株式会社 | ディジタル温度補償発振器 |
US10693476B2 (en) | 2017-06-12 | 2020-06-23 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device and control method of the same |
CN112684824A (zh) * | 2019-10-17 | 2021-04-20 | 旭化成微电子株式会社 | 温度控制电路、振荡控制电路以及温度控制方法 |
CN113848716A (zh) * | 2021-09-27 | 2021-12-28 | 大唐东北电力试验研究院有限公司 | 一种火力发电厂煤质热值快速校正方法 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20100244969A1 (en) * | 2009-03-30 | 2010-09-30 | Mediatek Inc. | Temperature compensated oscillation circuits |
JP2011114403A (ja) * | 2009-11-24 | 2011-06-09 | Seiko Epson Corp | 圧電発振器の温度補償方法、圧電発振器 |
DE102010011757B4 (de) * | 2010-03-17 | 2017-08-17 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Elektronische Vorrichtung zum Zwischenspeichern von Signalen eines temperaturkompensierten Quarzoszillators |
WO2012009429A1 (en) * | 2010-07-13 | 2012-01-19 | Sand9, Inc. | Methods and apparatus for calibration and temperature compensation of oscillators having mechanical resonators |
US8933760B2 (en) | 2011-10-19 | 2015-01-13 | Cornell University | System and methods for correcting clock synchronization errors |
DE112013007577T5 (de) * | 2013-11-07 | 2016-08-18 | Mitsubishi Electric Corporation | Schutzvorrichtung für Fahrzeugwechselrichter |
FR3107626B1 (fr) * | 2020-02-21 | 2022-03-11 | St Microelectronics Grenoble 2 | Compensation de dérive |
CN112653411B (zh) * | 2020-12-15 | 2022-08-19 | 重庆西南集成电路设计有限责任公司 | 一种数控移相/数字衰减器温度补偿电路及方法 |
JP2023018236A (ja) * | 2021-07-27 | 2023-02-08 | セイコーエプソン株式会社 | 回路装置及び発振器 |
CN114826155B (zh) * | 2022-05-05 | 2022-12-30 | 深圳市金科泰通信设备有限公司 | 一种温度补偿方法、系统及终端设备 |
CN115237329B (zh) * | 2022-09-23 | 2022-12-30 | 江西飞尚科技有限公司 | 温度补偿校正方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07162295A (ja) | 1993-12-03 | 1995-06-23 | Murata Mfg Co Ltd | ディジタル温度補償発振器およびそのディジタル温度補償方法 |
JP3186500B2 (ja) * | 1995-03-29 | 2001-07-11 | 三菱電機株式会社 | 無線装置及び無線装置の調整方法 |
JP4230619B2 (ja) | 1999-07-13 | 2009-02-25 | 株式会社東芝 | 温度補正回路及び温度補正機能を備えた電子機器 |
JP2002198736A (ja) | 2000-12-27 | 2002-07-12 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 温度補償水晶発振器 |
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Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011511575A (ja) * | 2008-01-31 | 2011-04-07 | クゥアルコム・インコーポレイテッド | 水晶発振器周波数較正 |
WO2009145200A1 (ja) | 2008-05-30 | 2009-12-03 | 旭硝子株式会社 | 蛍光ランプ |
JP2010093386A (ja) * | 2008-10-03 | 2010-04-22 | Fujitsu Ltd | 無線中継装置、無線端末、および、プログラム |
US8120438B2 (en) | 2009-04-21 | 2012-02-21 | Fujitsu Limited | Temperature compensated crystal oscillator |
JP2010258491A (ja) * | 2009-04-21 | 2010-11-11 | Fujitsu Ltd | 温度補償型水晶発振器、温度補償型水晶発振器を実装したプリント基板、及び温度補償型水晶発振器を搭載した電子機器 |
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