JP2008281498A - 位相差計測回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】EXOR11により、デジタル信号S1,S2の位相差に対応したパルス幅の信号S3が出力される。信号S3は、インバータ12で反転された信号S4と共にセレクタ13に与えられ、選択信号SELに従っていずれか一方が選択され、ゲート制御用の信号S5としてADN14に与えられる。AND14には連続したクロック信号CLKが与えられており、信号S5でゲート制御されたクロック信号CLKが、信号S6としてカウンタ15に与えられる。カウンタ15は、信号S6のパルス数をカウントし、カウント値CNTを出力する。選択信号で信号S3,S4を選択することにより、デジタル信号S1,S2の進み遅れに関係なく、遷移タイミングの差を測定できる。
【選択図】図1
Description
この位相差計測装置は、2つの被測定信号A1,A2の位相差を計測するもので、被測定信号A1,A2をそれぞれ矩形波V1,V2に変換する波形整形器1,2と、これらの矩形波V1,V2の排他的論理和を取って位相差パルスV3を生成する排他的論理和回路3と論理積回路4を有している。
この位相差計測回路は、測定対象となる2つのデジタル信号S1,S2の位相差(例えば、立ち上がりのタイミングの時間差)を計測するもので、デジタル信号S1,S2の排他的論理和の信号S3を出力する位相差検出手段である排他的論理和ゲート(以下、「EXOR」という)11と、この信号S3を反転して信号S4を出力する反転手段であるインバータ12を有している。信号S3,S4は、それぞれ選択手段であるセレクタ13の第1及び第2入力側に与えられている。
時刻t5においてデジタル信号S1が立ち下がると、EXOR11から出力される信号S3は再び“H”となり、セレクタ13から出力される信号S5も“H”となる。これにより、AND14のゲートが開き、このADN14からクロック信号CLKが信号S6として出力される。信号S6はカウンタ15に与えられ、信号6の立ち下がりのタイミング毎に、このカウンタ15のカウント値CNTが1ずつカウントアップされる。
時刻t11においてデジタル信号S1が立ち上がると、EXOR11から出力される信号S3は再び“L”となり、セレクタ13から出力される信号S5は“H”となる。これにより、AND14のゲートが開き、このADN14からクロック信号CLKが信号S6として出力される。信号S6はカウンタ15に与えられ、信号6の立ち下がりのタイミング毎に、このカウンタ15のカウント値CNTが1ずつカウントアップされる。
指定信号R/Fには、デジタル信号S1の立ち上がりを検出する場合には“L”を、立ち下がりを検出するときには“H”を設定する。EXOR16は、指定信号R/Fとデジタル信号S1の排他的論理和の信号S7を出力する。これにより、デジタル信号S1が指定信号R/Fで設定された変化を生じたときに、EXOR16から出力される信号S7が立ち上がる。
以上のように、この実施例2の位相差計測回路は、実施例1の構成に加えて、デジタル信号S1がデジタル信号S2に対して位相が進んでいるか遅れているかのいずれかの状態を指定するためのEXOR16とFF17を有している。これにより、実施例1と同様の利点に加えて、指定した位相関係における位相差のみを計測することができるという利点がある。
(a) 測定対象となる2つのデジタル信号S1,S2の位相差に対応する信号S3を出力する位相差検出手段は、EXORに限定するものではない。その他の論理回路で構成することも可能である。
(b) 連続して与えられるクロック信号CLKを信号S5に従って制御し、信号S6として出力する論理ゲートは、ANDに限定されない。否定的論理積ゲート(NAND)、論理和ゲート(OR)、否定的論理和ゲート(NOR)等を用いることも可能である。
(c) 信号S6のパルス数をカウントする計数手段は、この信号S6の立ち下がりのタイミングでカウントアップするものに限定されない。信号S6の立ち上がりのタイミングでカウントアップするものでも良い。また、実施例4で説明したようなカウント回路を用いることもできる。
(d) 実施例2において、デジタル信号S1の立ち上がりまたは立ち下がりの変化検出を指定する指定信号R/Fに従い、この指定信号R/Fで指定された方向にこのデジタル信号S1が変化したときに、“H”の信号S8を出力する変化検出手段は、EXOR16とFF17による回路構成に限定されない。実施例3における変化検出手段も同様である。
12,23 インバータ
13 セレクタ
14,18,18a AND
15,15a,21,22 カウンタ
17,17a FF
24 加算器
Claims (5)
- 測定対象の第1及び第2の2値信号の値が一致しているか否かを示す第3の信号を出力する位相差検出手段と、
前記第3の信号の値を反転し、第4の信号として出力する信号反転手段と、
選択信号に従って前記第3または第4の信号のいずれか一方を選択し、第5の信号として出力する選択手段と、
連続して与えられるクロック信号を前記第5の信号に従ってカウントする計数手段とを、
備えたことを特徴とする位相差計測回路。 - 前記計数手段は、
前記第5の信号が与えられたときに前記クロック信号の立ち下がりの回数をカウントする第1のカウンタと、
前記第5の信号が与えられたときに前記クロック信号の立ち上がりの回数をカウントする第2のカウンタと、
前記第1及び第2のカウンタのカウント値を加算してカウント結果を出力する加算器とを備えたことを特徴とする請求項1記載の位相差計測回路。 - 測定対象の第1及び第2の2値信号の値が一致しているか否かを示す第3の信号を出力する位相差検出手段と、
前記第3の信号の値を反転し、第4の信号として出力する信号反転手段と、
選択信号に従って前記第3または第4の信号のいずれか一方を選択し、第5の信号として出力する選択手段と、
前記第1の2値信号の変化検出を指定する指定信号に従い、該指定信号で指定された方向に該第1の2値信号が変化したときに、検出信号を出力する変化検出手段と、
連続して与えられるクロック信号を前記第5の信号と前記検出信号に従ってカウントする計数手段とを、
備えたことを特徴とする位相差計測回路。 - 測定対象の第1及び第2の2値信号の値が一致しているか否かを示す第3の信号を出力する位相差検出手段と、
前記第3の信号の値を反転し、第4の信号として出力する信号反転手段と、
選択信号に従って前記第3または第4の信号のいずれか一方を選択し、第5の信号として出力する選択手段と、
前記第1の2値信号の変化検出を指定する第1の指定信号に従い、該第1の指定信号で指定された方向に該第1の2値信号が変化したときに、第1の検出信号を出力する第1の変化検出手段と、
連続して与えられるクロック信号を前記第5の信号と前記第1の検出信号に従ってカウントする第1の計数手段と、
前記第2の2値信号の変化検出を指定する第2の指定信号に従い、該第2の指定信号で指定された方向に該第2の2値信号が変化したときに、第2の検出信号を出力する第2の変化検出手段と、
前記クロック信号を前記第5の信号と前記第2の検出信号に従ってカウントする第2の計数手段とを、
備えたことを特徴とする位相差計測回路。 - 前記計数手段は、
前記第5の信号と前記検出信号が与えられたときに前記クロック信号の立ち下がりの回数をカウントする第1のカウンタと、
前記第5の信号と前記検出信号が与えられたときに前記クロック信号の立ち上がりの回数をカウントする第2のカウンタと、
前記第1及び第2のカウンタのカウント値を加算してカウント結果を出力する加算器とを備えたことを特徴とする請求項3または4記載の位相差計測回路。
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JP (1) | JP5055016B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2629710C1 (ru) * | 2016-07-11 | 2017-08-31 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Рязанский государственный радиотехнический университет" | Фазометр когерентных неэквидистантных импульсов |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0510992A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位相差計測装置 |
JPH0510993A (ja) * | 1991-07-08 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位相差計測装置 |
JP2003066073A (ja) * | 2001-06-13 | 2003-03-05 | Toshiba Corp | 位相測定器およびマイクロ波濃度計 |
JP2004239860A (ja) * | 2003-02-10 | 2004-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位相差測定回路、位相差測定方法、および位相差調整回路 |
-
2007
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