JP2008251407A - 電子顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、カメラ4を試料微動装置3の試料保持手段(9)に支持させたのである。
このように構成することで、試料8の移動に連動してカメラ4も移動するので、試料8がカメラ4の視野から外れたり、周辺に設置された各種機器6で遮られたりすることがなくなる。また、カメラ4を試料室1の壁に設けることで制限していた各種機器6の設置数を増加させることができる。
【選択図】図1
Description
Claims (5)
- 密閉された試料室と、この試料室内に設置された試料微動装置と、この試料微動装置を前記試料室の外から微動させる微動操作部と、試料微動装置の試料保持手段に支持された試料に対して電子線を照射する電子銃と、この電子銃の電子線照射方向の先端側に設けた対物レンズと、前記試料室内に設置され前記電子線の照射により前記試料から放出される各種情報信号を検出する各種検出機器と、前記試料保持手段の試料を撮影するカメラと、このカメラによる撮影信号を前記試料室の外に映像表示するモニタとを備えた電子顕微鏡において、前記カメラを前記試料保持手段に支持させたことを特徴とする電子顕微鏡。
- 密閉された試料室と、この試料室内に設置された試料微動装置と、この試料微動装置を前記試料室の外から微動させる微動操作部と、試料微動装置の試料保持手段に支持された試料に対して電子線を照射する電子銃と、この電子銃の電子線照射方向の先端側に設けた対物レンズと、前記試料室内に設置され前記電子線の照射により前記試料から放出される各種情報信号を検出する各種検出機器と、前記試料保持手段の試料を撮影するカメラと、このカメラによる撮影信号を前記試料室の外に映像表示するモニタとを備えた電子顕微鏡において、前記カメラを前記試料保持手段に支持させると共に、前記カメラで撮影された前記対物レンズの映像を前記モニタの画面の基準位置に表示する表示位置補正手段を設けたことを特徴とする電子顕微鏡。
- 前記モニタの画面の基準位置は、前記モニタの画面の上部であることを特徴とする請求項2記載の電子顕微鏡。
- 前記試料微動装置は、前記試料を電子線照射方向に対して傾斜させる回転軸を備えており、前記カメラの光軸は、前記回転軸と同心に設置されていることを特徴とする請求項1,2又は3記載の電子顕微鏡。
- 前記カメラは、試料と共に前記対物レンズを撮影する撮影角を有することを特徴とする請求項1,2,3又は4記載の電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007092932A JP4842875B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007092932A JP4842875B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 電子顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008251407A true JP2008251407A (ja) | 2008-10-16 |
JP4842875B2 JP4842875B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=39976105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007092932A Expired - Fee Related JP4842875B2 (ja) | 2007-03-30 | 2007-03-30 | 電子顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4842875B2 (ja) |
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