JP2008251407A - 電子顕微鏡 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。
【解決手段】本発明は、カメラ4を試料微動装置3の試料保持手段(9)に支持させたのである。
このように構成することで、試料8の移動に連動してカメラ4も移動するので、試料8がカメラ4の視野から外れたり、周辺に設置された各種機器6で遮られたりすることがなくなる。また、カメラ4を試料室1の壁に設けることで制限していた各種機器6の設置数を増加させることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は電子顕微鏡に係り、特に、電子銃から照射される電子線に対して試料を微動させる試料微動装置を備えた電子顕微鏡に関する。
電子銃から照射される電子線に対して試料を微動させる試料微動装置を備えた電子顕微鏡は、例えば特許文献1に開示されているように、既に周知の技術である。
このような電子顕微鏡は、試料を移動させて電子線の照射位置を変えることで、電子顕微鏡の観察視野や元素分析位置を変えている。しかしながら、試料は真空保持された試料室に格納されているので、目視しながら試料を移動させることはできず、そのために、試料室の壁にカメラを設置して試料と周辺に設置された検出器を含む各種機器との位置関係をモニタしながら試料の移動を行っている。
特開平9−259805号公報
上記特許文献1に記載の電子顕微鏡によれば、目視しながら試料を移動させることができるが、カメラによる視野が固定されているために、試料の移動量によってはカメラの視野から外れてしまうことがある。また、電子線が照射される試料の周辺に設置された各種機器の数が多い場合には、その設置された各種機器によってカメラの視野が狭められたることもある。さらに、カメラを試料室の壁に設置しているために、設置される各種機器によってカメラの視野を塞ぐことがないようにしなければならず、試料室の壁への各種機器の設置数を制限せざるを得ない問題もある。
本発明の目的は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明は、カメラを試料微動装置の試料保持手段に支持させたのである。
以上のように、カメラを試料保持手段に支持することで、試料の移動に連動してカメラも移動するので、試料がカメラの視野から外れたり、周辺に設置された各種機器で遮られたりすることがなくなる。また、カメラを試料微動装置の試料保持手段に支持したので、カメラを試料室の壁に設けることで制限していた各種機器の設置数を増加させることができる。
したがって、本発明によれば、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を得ることができる。
以下本発明による電子顕微鏡の第1の実施の形態を図1に基づいて説明する。
本実施の形態による電子顕微鏡は、大きくは真空保持された試料室1と、この試料室1内に電子線を照射する電子銃2と、この電子銃2から照射される電子線2Rの試料への照射位置を変更するために試料を移動させる試料微動装置3と、この試料微動装置3に支持されたカメラ4と、このカメラ4により撮影した映像を試料室1の外部で表示するモニタ5と、前記試料室1の内側に設置され電子線2Rの照射により試料から放出される各種情報信号を検出する検出器を含む各種機器6とを備えている。
前記電子銃2は、電子線2Rを収束する対物レンズ7を、電子線2Rの放射方向先端側に設けている。
前記試料微動装置3は、試料8を保持する試料保持部材で紙面前後方向に水平駆動されるY軸テーブルを構成する試料保持台9と、この試料保持台9を支持し試料保持台9の移動方向と直行する方向に水平駆動されるX軸テーブル10と、このX軸テーブル10を支持し試料8を電子線2Rの照射方向に対して傾斜させるR軸テーブル11と、このR軸テーブル11と一体に設けられ試料室1の貫通穴1Hを貫通して試料室1外に突出する回転軸11Sと、この回転軸11Sの試料室1外に突出した部分を軸支し上下方向に駆動されるZ軸テーブル12と、このZ軸テーブル12を貫通した前記回転軸11Sの端部に設けた微動操作部である回転駆動部13とを有している。尚、前記試料室1の貫通穴1Hと回転軸11Sとの間は、ダイヤフラムやベローズ、さらには、前記Z軸テーブル12によって試料室1内の真空度が変化しないように塞がれている。
また、前記カメラ4は、例えばCCDカメラであり、前記試料保持台9に支持腕4Aを介して支持されていると共に、カメラ4の光軸が前記回転軸11Sの軸心11Cと一致するように支持されており、かつ、カメラ4の光軸が試料保持台9の上の試料8を撮影できる方向に固定されている。このカメラ4からは、撮影信号を出力する信号線14が試料室1の壁に設けた耐真空コネクタ15を介して外部に引き出されており、信号線14の引き出し側には、撮影信号を映像信号に変換するカメラドライバ回路16が接続されている。そして、カメラドライバ回路16で変換された映像信号は、モニタ5に出力されて映像を表示するようにしている。
上記構成の電子顕微鏡で試料8を観察する場合、例えば、まず、電子線2Rに対するR軸テーブル11の水平あるいは傾斜を設定する。そのために、回転駆動部13を矢印R方向に回動させてR軸テーブル11を所定の水平あるいは傾斜に保持し、次に、試料保持台9を紙面前後方向に水平駆動すると共に、X軸テーブル10を試料保持台9の移動方向と直行する方向に水平駆動して、試料8に対する電子線2Rの照射位置を定める。その後、Z軸テーブル12を矢印V方向に移動させて焦点を合わせる。
以上の操作は、試料保持台9に支持され試料8と同じ動きを行うカメラ4で撮影され、各種機器映像6G、対物レンズ映像7G、試料映像8G、試料保持台映像9Gをモニタ5で確認しながら行うことができるので、試料8がカメラ4の視界から外れることはなく、試料室1内に設置された各種機器6や対物レンズ7に接触するような不都合をなくすことができる。また、カメラ4が試料8に近接して共に移動するので、試料室1内に設置された複数の各種機器6や対物レンズ7によってカメラ4の視野が狭められることはなく、常に、試料8をモニタ5の中心に表示することができる。
さらに、カメラ4の光軸がR軸テーブル11の回転軸11Sの軸心11Cと一致しているので、R軸テーブル11を電子線2Rに対して傾斜させても、試料8がカメラの視界中心から変位することなく、常に視界の中心に置くことができ、観察がし易くなる。
このほか、カメラ4が試料保持台9に支持されているので、従来に較べて試料室1の壁を各種機器6の設置に利用することができ、試料室1内への各種機器の設置台数を増加させることができる。
以上説明したように本実施の形態によれば、常に試料8をカメラ4に視野内に位置させることができると共に、カメラ4による試料室1内への各種機器6の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を得ることができる。
ところで、図2は、本発明による電子顕微鏡の第1の実施の形態の変形例を示すもので、図1と同符号は同一構成部品を示すので、再度の詳細な説明は省略する。
本変形例が、図1に示す第1の実施の形態と異なる構成は、カメラ4で撮影した撮影信号を映像信号に変換するカメラドライバ回路16とモニタ5との間に、映像の表示位置を補正する表示位置補正手段である映像回転処理回路17を接続すると共に、回転駆動部13の傾斜角度を測定して前記映像回転処理回路17に出力する傾斜角度センサ18を設けた点である。
通常、カメラドライバ回路16を経由して実際モニタ5に表示される映像は、例えば、R軸テーブル11を傾斜させた場合、同時にカメラも傾斜するので、カメラ4が傾斜した分、2点差線で示すように、試料映像8Gを除く各種機器映像6G、対物レンズ映像7G、試料保持台映像9Gは、カメラ4の傾斜方向とは逆方向に傾斜して表示される。しかし、実際には、対物レンズ7は固定されているので、対物レンズ映像7Gなどが傾斜して表示されると、観測者は違和感を覚え、試料8の移動操作に戸惑うことがある。
このような不都合をなくすために、映像回転処理回路17を経由して映像をモニタ5に表示するようにしたものである。即ち、カメラドライバ回路16で変換された映像信号を、傾斜角度センサ18からの角度信号と加味させて映像回転処理回路17で処理し、角度信号と同量の角度を逆方向に回転処理し、各種機器映像6G、対物レンズ映像7G、試料映像8G、試料保持台映像9Gは、矢印Q方向に回転処理されて各種機器映像6GI、対物レンズ映像7GI、試料映像8GI、試料保持台映像9GIとして表示することで、常に対物レンズ7の対物レンズ映像7GIをモニタ5の上部の基準位置に位置するように表示させることができる。その結果、実際の試料8が対物レンズ7や各種機器6に対してどのような状態にあるのかを容易に確認することができ、試料8の移動操作を容易にすることができるのである。
本発明による電子顕微鏡の第1の実施の形態を示す概略図。 図1の変形例を示す概略図。
符号の説明
1…試料室、2…電子銃、3…試料微動装置、4…カメラ、5…モニタ、6…各種機器、7…対物レンズ、8…試料、9…試料保持台、10…X軸テーブル、11…R軸テーブル、11S…回転軸、12…Z軸テーブル、13…回転駆動部、14…信号線、15…耐真空コネクタ、16…カメラドライバ回路、17…映像回転処理回路、18…傾斜角度センサ。

Claims (5)

  1. 密閉された試料室と、この試料室内に設置された試料微動装置と、この試料微動装置を前記試料室の外から微動させる微動操作部と、試料微動装置の試料保持手段に支持された試料に対して電子線を照射する電子銃と、この電子銃の電子線照射方向の先端側に設けた対物レンズと、前記試料室内に設置され前記電子線の照射により前記試料から放出される各種情報信号を検出する各種検出機器と、前記試料保持手段の試料を撮影するカメラと、このカメラによる撮影信号を前記試料室の外に映像表示するモニタとを備えた電子顕微鏡において、前記カメラを前記試料保持手段に支持させたことを特徴とする電子顕微鏡。
  2. 密閉された試料室と、この試料室内に設置された試料微動装置と、この試料微動装置を前記試料室の外から微動させる微動操作部と、試料微動装置の試料保持手段に支持された試料に対して電子線を照射する電子銃と、この電子銃の電子線照射方向の先端側に設けた対物レンズと、前記試料室内に設置され前記電子線の照射により前記試料から放出される各種情報信号を検出する各種検出機器と、前記試料保持手段の試料を撮影するカメラと、このカメラによる撮影信号を前記試料室の外に映像表示するモニタとを備えた電子顕微鏡において、前記カメラを前記試料保持手段に支持させると共に、前記カメラで撮影された前記対物レンズの映像を前記モニタの画面の基準位置に表示する表示位置補正手段を設けたことを特徴とする電子顕微鏡。
  3. 前記モニタの画面の基準位置は、前記モニタの画面の上部であることを特徴とする請求項2記載の電子顕微鏡。
  4. 前記試料微動装置は、前記試料を電子線照射方向に対して傾斜させる回転軸を備えており、前記カメラの光軸は、前記回転軸と同心に設置されていることを特徴とする請求項1,2又は3記載の電子顕微鏡。
  5. 前記カメラは、試料と共に前記対物レンズを撮影する撮影角を有することを特徴とする請求項1,2,3又は4記載の電子顕微鏡。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011243454A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Hitachi High-Technologies Corp 電子顕微鏡、試料ステージおよび試料ステージの制御方法
CN102315067A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 株式会社其恩斯 放大观察设备
JP2012015028A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Keyence Corp 拡大観察装置
JP2012018811A (ja) * 2010-07-08 2012-01-26 Keyence Corp 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体
WO2020026422A1 (ja) * 2018-08-02 2020-02-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
WO2020183596A1 (ja) * 2019-03-12 2020-09-17 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5966852A (ja) * 1982-09-07 1984-04-16 ユニリ−バ−・ナ−ムロ−ゼ・ベンノ−トシヤ−プ 改良小麦粉
JPH09259805A (ja) * 1996-03-18 1997-10-03 Hitachi Ltd 荷電粒子線照射装置
JP2004138590A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Graphtec Corp レーザドップラ振動計
JP2004199884A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Sony Corp 電子線回折装置
JP2006040768A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Keyence Corp 電子顕微鏡
JP2006114348A (ja) * 2004-10-14 2006-04-27 Hitachi High-Technologies Corp 透過型電子顕微鏡装置
JP2006153894A (ja) * 2006-03-06 2006-06-15 Hitachi Ltd 電子線を用いた観察装置及び観察方法
JP2006173021A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2006173020A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5966852A (ja) * 1982-09-07 1984-04-16 ユニリ−バ−・ナ−ムロ−ゼ・ベンノ−トシヤ−プ 改良小麦粉
JPH09259805A (ja) * 1996-03-18 1997-10-03 Hitachi Ltd 荷電粒子線照射装置
JP2004138590A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Graphtec Corp レーザドップラ振動計
JP2004199884A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Sony Corp 電子線回折装置
JP2006040768A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Keyence Corp 電子顕微鏡
JP2006114348A (ja) * 2004-10-14 2006-04-27 Hitachi High-Technologies Corp 透過型電子顕微鏡装置
JP2006173021A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 電子顕微鏡、電子顕微鏡の操作方法、電子顕微鏡操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2006173020A (ja) * 2004-12-17 2006-06-29 Keyence Corp 試料表示装置、試料表示装置の操作方法、試料表示装置操作プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
JP2006153894A (ja) * 2006-03-06 2006-06-15 Hitachi Ltd 電子線を用いた観察装置及び観察方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011243454A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Hitachi High-Technologies Corp 電子顕微鏡、試料ステージおよび試料ステージの制御方法
CN102315067A (zh) * 2010-07-02 2012-01-11 株式会社其恩斯 放大观察设备
JP2012015027A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Keyence Corp 拡大観察装置
JP2012015028A (ja) * 2010-07-02 2012-01-19 Keyence Corp 拡大観察装置
CN102315067B (zh) * 2010-07-02 2016-06-08 株式会社其恩斯 放大观察设备
JP2012018811A (ja) * 2010-07-08 2012-01-26 Keyence Corp 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体
WO2020026422A1 (ja) * 2018-08-02 2020-02-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置
JPWO2020026422A1 (ja) * 2018-08-02 2021-08-02 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
JP7061192B2 (ja) 2018-08-02 2022-04-27 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
US11545334B2 (en) 2018-08-02 2023-01-03 Hitachi High-Tech Corporation Charged particle beam device
WO2020183596A1 (ja) * 2019-03-12 2020-09-17 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
JPWO2020183596A1 (ja) * 2019-03-12 2021-10-21 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
JP7065253B2 (ja) 2019-03-12 2022-05-11 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置
US11387072B2 (en) 2019-03-12 2022-07-12 Hitachi High-Tech Corporation Charged particle beam device

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