JP2008282775A - 透過型電子顕微鏡及び撮影方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料の所定の領域全体の電子線像を得るために、撮像装置の視野において収差の少ない領域を特定し、この領域を単位に試料ステージを移動しながら、前記領域全体を複数の連続する視野像として撮影する。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の透過型電子顕微鏡の構成の一例を示す概略図である。電子顕微鏡本体1の電子銃2より放出された電子線3は、照射レンズ4によって、試料ステージに保持されている試料Sに照射されるようになっている。そして、試料Sを透過した電子線3は、対物レンズ6と拡大レンズ系7により拡大され、CCDカメラ等の撮像装置8に投影される。
Px=H×D/U
Py=V×D/U
(Uは1インチ)
となる。
ステップS303において、撮影回数を導出する。画素数m×n(ピクセル)の撮像装置8を用いて撮影するとき、隣接する視野を撮影するときの撮像装置8の撮像素子上での重なり量をΔp(ピクセル)とすると、撮影回数Tは、x方向及びy方向のそれぞれの回数の積として、
T=Tx×Ty
Tx=integer〔(Px−Δp)/(m−Δp)+0.5〕
Ty=integer〔(Py−Δp)/(n−Δp)+0.5〕
となる。
ΔX=X/(Tx−1)
ΔY=Y/(Ty−1)
となる。
X/Tx×M×R=W
∴M=W×Tx/(X/R) (=W×Ty(Y/R))
となる。
このように設定された倍率M’に基づいて、ステップS307において、実際の撮影範囲を設定する。実際の試料上での撮像範囲X’、Y’は、
M=W×Tx/(X×R) (=W×Ty/(Y×R))
M’=W×Tx/(X’×R) (=W×Ty/(Y’×R))
X’=kX
Y’=kY
となる。
ΔX’=X’/(Tx−1)
ΔY’=Y’/(Ty−1)
となる。
これらの条件を撮影パラメータとして、画像処理装置18に入力する。
収差の影響が大きい領域は、撮像した画像の収差を補正した画像を連結してもよい。
ΔΦ=tan−1(r2×Kr) (1)
ここで、Krはレンズによる係数である。
Δr=r3×Kp×M (2)
(歪率=Δr/r=r2×Kp×M)
ここで、Kpはレンズによる係数、Mはレンズ倍率である。
r=r0+Δr0=r0+Kr×r0 3 (3)
Φ=Φ0+ΔΦ0=Φ0+tan−1Kp×r0 2 (4)
ただし、Φ=tan−1(Y/X)、Φ0=tan−1(Y0/X0)である。式(3)および(4)より、KrおよびKpは、
Kr=(r−r0)/r0 3
Kp=(tan(Φ−Φ0))/r0 2
として求められる。
r0 3+p×r0+q=0 (p=1/Kr,q=−r/Kr)
となる。したがって、
r0=(−q/2+((q/2)2+(p/3)3)1/2)1/3
+(−q/2−((q/2)2+(p/3)3)1/2)1/3 (5)
Φ0=Φ−tan−1(Kp×r0 2) (6)
式(5)および(6)より、
X0=r0×cosΦ0
Y0=r0×sinΦ0
となり、座標変換された補正画像が求まる。
最終的な解像度を考慮した撮影パラメータを設定するようになっていないので、各画像の解像度を維持したまま、連続視野を撮影することはできなかった。
2 電子銃
3 電子線
4 照射レンズ
5 試料ステージ制御機構
6 対物レンズ
7 拡大レンズ系
8 撮像装置
9 カメラ室
10 蛍光板
11 電子銃制御装置
12 照射レンズ制御装置
13 対物レンズ制御装置
14 拡大レンズ系制御装置
15 試料ステージ駆動機構制御装置
16 撮像装置制御装置
17 モニタ
18 画像処理装置
19 入力機器
20 画像表示用モニタ
21 解析用モニタ
Claims (12)
- 電子線を発生する電子銃と、
発生した電子線を集束する集束光学系と、
試料を搭載する試料ステージと、
前記試料ステージを駆動する駆動部と、
試料を透過した電子線像を拡大する拡大光学系と、
拡大された電子線像を撮影する撮像装置と、
前記装置各部を制御すると共に、撮影された電子線像を記録・処理する制御部とを備え、
前記制御部は、前記電子線像の視野中の収差量が所定の値以下の所定の領域を移動単位として前記試料ステージを順次移動させ、複数の連続視野像として撮影することを特徴とする透過型電子顕微鏡。 - 前記制御部は、前記移動ステージの移動量を撮影した視野像と対応付けて記録することを特徴とする請求項1記載の透過型電子顕微鏡。
- 前記制御部は、撮影された複数の連続視野像を連結することを特徴とする請求項1記載の透過型電子顕微鏡。
- 前記制御部は、撮影された複数の連続視野像を、収差補正した後、連結することを特徴とする請求項1記載の透過型電子顕微鏡。
- 撮影範囲を入力する入力部をさらに備え、
前記制御部は、入力された撮影範囲全体を複数の連続視野像として撮影することを特徴とする請求項1記載の透過型電子顕微鏡。 - 前記制御部は、前記撮影範囲を所定の解像度で撮影するように連続視野像の数を設定することを特徴とする請求項5記載の透過型電子顕微鏡。
- 電子線を試料ステージに搭載された試料に照射する電子線照射ステップと、
前記試料を透過した電子線像を拡大する電子線像拡大ステップと、
前記電子線像の視野中の収差量が所定の値以下の所定の領域を移動単位として前記試料ステージを順次移動させる試料ステージ移動ステップと、
前記試料ステージの移動と連動して前記拡大された電子線像を撮影する撮影ステップとを含むことを特徴とする透過型電子顕微鏡による撮影方法。 - 前記移動ステージの移動量を撮影した視野像と対応付けて記録する移動量記録ステップをさらに含むことを特徴とする請求項7記載の透過型電子顕微鏡による撮影方法。
- 撮影された複数の連続視野像を連結する視野像連結ステップをさらに備えることを特徴とする請求項7記載の透過型電子顕微鏡による撮影方法。
- 撮影された複数の連続視野像を収差補正する収差補正ステップと、
収差補正された連続視野像を連結する視野像連結ステップとをさらに備えることを特徴とする請求項7記載の透過型電子顕微鏡による撮影方法。 - 撮影範囲を入力する撮影範囲入力ステップをさらに含み、
前記撮影ステップにおいて、前記撮影範囲入力ステップで入力された撮影範囲全体を複数の連続視野像として撮影することを特徴とする請求項7記載の透過型電子顕微鏡による撮影方法。 - 前記撮影ステップにおいて、前記撮影範囲を所定の解像度で撮影するように連続視野像の数を設定することを特徴とする請求項11記載の透過型電子顕微鏡による撮影方法。
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