JP2008157881A - タイミング検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体デバイスの良否を検査するタイミング検査装置において、遅延時間が設定され、この遅延時間に応じて試験信号を遅延させた被測定信号を出力する半導体デバイスが搭載された検査基板と、前記遅延時間を設定する制御信号及び前記試験信号を前記半導体デバイスに出力し、前記被測定信号が遷移するタイミング及び遅延時間を求めて前記半導体デバイスの良否を検査する演算制御部で構成されるテスタとを備える。
【選択図】 図1
Description
また、基準信号をタイミング測定回路に入力するための配線経路が必要であることにより、検査基板の設計が複雑になってしまうといった問題があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能なタイミング検査装置を実現することにある。
半導体デバイスの良否を検査するタイミング検査装置において、
遅延時間が設定され、この遅延時間に応じて試験信号を遅延させた被測定信号を出力する半導体デバイスが搭載された検査基板と、前記遅延時間を設定する制御信号及び前記試験信号を前記半導体デバイスに出力し、前記被測定信号が遷移するタイミング及び遅延時間を求めて前記半導体デバイスの良否を検査する演算制御部で構成されるテスタとを備えることにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項1記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算制御部が、遅延時間を設定する前記制御信号及び一定周期のパルス信号である前記試験信号を前記半導体デバイスに出力することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項1記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算制御部が、複数のストローブを設定されたストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これらのストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントし、このカウント値と前記ストローブの発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項3記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算制御部が、前記試験信号が遷移する時点から前記ストローブの発生間隔ずつ遅らせて前記ストローブを複数回発生させることにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項3記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の状態遷移が生じるまでストローブを発生させることにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項1記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算制御部が、前記被測定信号が遷移するタイミングに基づき、前記半導体デバイスが前記試験信号を遅らせる遅延時間を算出し、この遅延時間が予め設定された遅延時間の許容範囲内であるか否かによって半導体デバイスの良否を判定することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項1記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算判定部が、複数の第1ストローブを設定された第1のストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これらの前記第1ストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の状態遷移に基づき前記被測定信号が立ち上がる期間を求め、この期間内に複数の第2ストローブを設定された第2のストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これら前記第2のストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントし、このカウント値と前記第2のストローブ発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項7記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算判定部が、前記第2のストローブの発生間隔を前記第1のストローブの発生間隔よりも短く設定することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項3記載の発明であるタイミング検査装置において、
前記演算判定部が、複数のストローブを設定されたストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させると共に、前記ストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントする動作を複数回行い、得られた複数の前記カウント値の平均値を算出し、この平均値と前記ストローブの発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
請求項1、2、3、4、5、6、7、8及び請求項9の発明によれば、
テスタに備えられた演算制御部が半導体デバイスの遅延時間を設定する制御信号及び試験信号を前記半導体デバイスに出力し、半導体デバイスから出力される被測定信号が遷移するタイミング及び遅延時間を求めて前記半導体デバイスの良否を検査することにより、回路規模が小さい検査基板で半導体デバイスの信号のエッジのタイミングを検査することが可能となる。
OT=ST×K+ST×0.5・・・(1)
OT=ST×Kp+ST×0.5・・・(2)
フェイル平均回数(AK)=フェイル判定回数の合計/N・・・(3)
2、12 FCモジュール
3 DCモジュール
4 リレー制御モジュール
5、13 検査基板
6、8、9 リレー
7 分配回路
10 タイミング測定回路
100、110 半導体デバイス(DUT)
101 演算制御部
Claims (9)
- 半導体デバイスの良否を検査するタイミング検査装置において、
遅延時間が設定され、この遅延時間に応じて試験信号を遅延させた被測定信号を出力する半導体デバイスが搭載された検査基板と、
前記遅延時間を設定する制御信号及び前記試験信号を前記半導体デバイスに出力し、前記被測定信号が遷移するタイミング及び遅延時間を求めて前記半導体デバイスの良否を検査する演算制御部で構成されるテスタと
を備えることを特徴とするタイミング検査装置。 - 前記演算制御部が、
遅延時間を設定する前記制御信号及び一定周期のパルス信号である前記試験信号を前記半導体デバイスに出力することを特徴とする
請求項1記載のタイミング検査装置。 - 前記演算制御部が、
複数のストローブを設定されたストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これらのストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントし、このカウント値と前記ストローブの発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することを特徴とする
請求項1記載のタイミング検査装置。 - 前記演算制御部が、
前記試験信号が遷移する時点から前記ストローブの発生間隔ずつ遅らせて前記ストローブを複数回発生させることを特徴とする
請求項3記載のタイミング検査装置。 - 前記演算制御部が、
前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の状態遷移が生じるまでストローブを発生させることを特徴とする
請求項3記載のタイミング検査装置。 - 前記演算制御部が、
前記被測定信号が遷移するタイミングに基づき、前記半導体デバイスが前記試験信号を遅らせる遅延時間を算出し、この遅延時間が予め設定された遅延時間の許容範囲内であるか否かによって半導体デバイスの良否を判定することを特徴とする
請求項1記載のタイミング検査装置。 - 前記演算判定部が、
複数の第1ストローブを設定された第1のストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これらの前記第1ストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の状態遷移に基づき前記被測定信号が立ち上がる期間を求め、この期間内に複数の第2ストローブを設定された第2のストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させ、これら前記第2のストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントし、このカウント値と前記第2のストローブ発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することを特徴とする
請求項1記載のタイミング検査装置。 - 前記演算判定部が、
前記第2のストローブの発生間隔を前記第1のストローブの発生間隔よりも短く設定することを特徴とする
請求項7記載のタイミング検査装置。 - 前記演算判定部が
複数のストローブを設定されたストローブの発生間隔ずつ遅らせてそれぞれ発生させると共に、前記ストローブの発生時点における前記被測定信号の測定値と前記期待値との一致若しくは不一致の回数をカウントする動作を複数回行い、得られた複数の前記カウント値の平均値を算出し、この平均値と前記ストローブの発生間隔とに基づき前記被測定信号が遷移するタイミングを算出することを特徴とする
請求項1記載のタイミング検査装置。
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---|---|---|---|
JP2006349847A JP2008157881A (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | タイミング検査装置 |
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JP2006349847A JP2008157881A (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | タイミング検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008157881A true JP2008157881A (ja) | 2008-07-10 |
Family
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Family Applications (1)
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JP2006349847A Pending JP2008157881A (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | タイミング検査装置 |
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2006
- 2006-12-26 JP JP2006349847A patent/JP2008157881A/ja active Pending
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