JP5249357B2 - 電子デバイス、試験装置および試験方法 - Google Patents
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Description
本発明は、データ信号およびこのデータ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイス、このような電子デバイスを試験する試験装置および試験方法に関する。
ソースシンクロナスインターフェースを採用した電子デバイスが知られている。この電子デバイスは、データ信号と並行して、データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を入出力する。また、電子デバイスを試験する試験装置が知られている。試験装置は、発生タイミングが固定されたストローブ信号またはタイミング信号を用いて、電子デバイスから出力される信号の取得および電子デバイスに対して与える信号を発生する。
Stefan Walther、Guido Schulze、"マルチストローブによるソース同期I/Fの試験"、[online]、[2008年4月]、EDNjapanホームページ、インターネット<URL: http://www.ednjapan.com/issue/2008/04/u3eqp3000001tyuo.html>
ところで、ソースシンクロナスインターフェースを採用した電子デバイスは、出力および入力するデータ信号およびクロック信号に、位相ジッタ、位相ドリフトおよびスキューを含む。このような位相ジッタ等は、デバイス間の通常の通信には影響を与えないが、固定のストローブ信号およびタイミング信号を用いる試験装置との通信には影響を与える。従って、試験装置は、このような電子デバイスを試験する場合、データ信号およびクロック信号に含まれる位相ジッタ、位相ドリフトおよびスキューが試験結果に影響しないように、信号の発生および取込においてタイミングマージンを設けていた。
しかし、近年、ソースシンクロナスインターフェースを採用した電子デバイスのデータ転送速度は、より高速となっている。従って、試験装置は、位相ジッタ、位相ドリフトおよびスキューの影響を考慮したタイミングマージンが減少して、このような電子デバイスを精度良く試験することができなくなってきた。さらに、試験装置は、このような電子デバイスを試験する前に精度の良いキャリブレーションをしなければならなく、試験コストが高くなっていた。
そこで本発明の1つの側面においては、上記の課題を解決することのできる電子デバイス、試験装置および試験方法を提供することを目的とする。この目的は請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様においては、データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスであって、前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、を備える電子デバイスを提供する。
本発明の第2の態様においては、データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスを試験する試験装置であって、前記電子デバイスは、前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、を備え、当該試験装置は、前記第1端子から出力される前記データ信号および前記クロック信号の位相差を検出する位相差検出部を備える試験装置を提供する。
本発明の第3の態様においては、データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスを試験する試験方法であって、前記電子デバイスは、前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、を備え、前記第1端子から出力される前記データ信号および前記クロック信号の位相差を検出する試験方法を提供する。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、本実施形態に係る電子デバイス10および試験装置20を示す。電子デバイス10は、ソースシンクロナスインターフェースを採用し、データ信号およびデータ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する。電子デバイス10は、クロック信号の周期に対して、例えば、2倍、4倍、…の周期のデータ信号を出力する。本実施形態において、電子デバイス10が出力するデータ信号は、転送レートがクロック信号の2倍であり、エッジ位相がクロック信号の立上エッジおよび立下りエッジから、クロック信号の1/4周期(位相が90度)ずれている。
試験装置20は、電子デバイス10を試験する。試験装置20は、一例として、電子デバイス10に対して試験信号を与え、試験信号を与えたことに応じて出力されるデータ信号およびクロック信号を受け取る。そして、試験装置20は、期待されたデータ信号を受け取れたか否かを判断して電子デバイス10の良否を判定する。
図2は、本実施形態に係る電子デバイス10および試験装置20の構成を示す。本実施形態に係る電子デバイス10は、内部回路62と、出力回路64と、第1端子66と、第2端子68と、テスト用回路70とを備える。
内部回路62は、例えばデータ処理を実行して、外部の装置に供給するデータ列を出力する。内部回路62は、一例として、メモリに対して書き込むデータ列を出力する回路であってよい。
出力回路64は、内部回路62から出力されたデータ列に応じたデータ信号およびクロック信号を発生する。本実施形態において、出力回路64は、転送部72と、クロック出力部74と、データ出力部76とを有する。転送部72は、内部回路62から出力されたデータ列をデータ出力部76へ転送する。クロック出力部74は、クロック信号を出力する。データ出力部76は、転送部72により転送されたデータ列を、クロック信号に対して転送レートが2倍で位相が90度ずらしたデータ信号として出力する。
第1端子66は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、データ信号およびクロック信号のうちテスト用回路70により選択された一方の信号を外部へ出力する。第2端子68は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、テスト用回路70が取得した信号を外部へ出力する。
第1端子66は、一例として、当該電子デバイス10を通常動作させる場合に、データ信号を外部へ出力するためのデータ出力端子およびクロック信号を外部へ出力するためのクロック出力端子のいずれか一方である。そして、この場合、第2端子68は、データ出力端子およびクロック出力端子の他方である。本実施形態においては、第1端子66は、クロック出力端子であり、第2端子68は、データ出力端子である。
テスト用回路70は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、出力回路64からデータ信号およびクロック信号を出力させる。また、テスト用回路70は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、出力回路64から出力されたデータ信号を、出力回路64から出力されたクロック信号のタイミングで取得する。
そして、テスト用回路70は、取得したデータ信号の値を当該電子デバイス10の第2端子68から外部へ出力する。また、テスト用回路70は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、当該電子デバイス10の第1端子66から、データ信号およびクロック信号のいずれを出力するかを切り替える。
本実施形態においては、テスト用回路70は、第1選択部78と、遅延部80と、取得部82と、第2選択部84とを有する。第1選択部78は、外部の試験装置20からの指示に応じて、出力回路64が発生したデータ信号およびクロック信号のいずれを第1端子66に供給するかを選択する。なお、第1端子66がクロック出力端子である本実施形態においては、当該電子デバイス10が通常動作する状態において、第1選択部78は、クロック信号を第1端子66へ供給する。
遅延部80は、出力回路64が発生したデータ信号およびクロック信号の一方を他方に対して遅延させて第1選択部78および取得部82に供給する。本実施形態においては、遅延部80は、データ信号に対してクロック信号を遅延して第1選択部78に供給する。これに代えてまたはこれに加えて、遅延部80は、クロック信号に対してデータ信号を遅延して第1選択部78に供給してもよい。
さらに、遅延部80は、遅延量が可変となっている。本実施形態においては、遅延部80は、外部の試験装置20から与えられた設定値に応じた遅延量で信号を遅延する。なお、当該電子デバイス10が通常動作する状態においては、遅延部80は、データ信号およびクロック信号の一方を他方に対して基準遅延量分、遅延する。基準遅延量は、例えば、0である。また、基準遅延量は、クロック信号の整数倍の周期に対応する時間であってもよい。
取得部82は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、データ信号を、クロック信号に応じたタイミングで取得する。本実施形態においては、取得部82は、第1ラッチ86と、第2ラッチ88と、マルチプレクサ90とを含む。
第1ラッチ86は、クロック信号の立上りエッジのタイミングにおいて、データ信号の値を取得する。第2ラッチ88は、クロック信号の立下りエッジのタイミングにおいて、データ信号の値を取得する。マルチプレクサ90は、第1ラッチ86が取得した値のデータ列および第2ラッチ88が取得した値のデータ列を、一本のデータ列に多重化して出力する。
このような取得部82は、クロック信号の90度および270度の位相タイミングで、データ信号の値を取得することができる。すなわち、このような取得部82は、クロック信号の2倍の転送レートのデータ信号の値を、当該データ信号の中心位相タイミング(位相が180度のタイミング)において取得することができる。
なお、データ信号の転送レートがクロック信号の転送レートの2倍より高い場合には、取得部82は、レート倍数に対応する個数の複数のラッチを有する。そして、取得部82は、このような複数のラッチを用いて、クロック信号に応じた複数種類のタイミングのそれぞれでデータ信号をそれぞれ取得する。
第2選択部84は、出力回路64が発生したデータ信号および取得部82が取得した信号のいずれをデータ出力端子である第2端子68から出力するかを選択する。より詳しくは、第2選択部84は、当該電子デバイス10を通常動作させる場合に、出力回路64が発生したデータ信号を第2端子68へ供給する。第2選択部84は、試験装置20が当該電子デバイス10を試験する場合に、取得部82が取得した信号を第2端子68へ供給する。
なお、第1端子66がデータ出力端子であって、第2端子68がクロック出力端子であってもよい。この場合、第1選択部78は、当該電子デバイス10が通常動作する状態において、データ信号を第1端子66へ供給する。また、この場合、第2選択部84は、出力回路64が発生したクロック信号および取得部82が取得した信号のいずれをクロック出力端子である第2端子68から出力するかを選択する。
本実施形態に係る試験装置20は、位相差検出部112と、制御部113と、記憶部114と、キャリブレーション部115と、試験部116と、判定部118とを備える。位相差検出部112は、電子デバイス10から受け取った信号の位相または遅延量を測定する。位相差検出部112は、一例として、遅延部80を基準遅延量に設定した状態における、第1端子66から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差を検出する。
制御部113は、遅延部80に対して設定値を与えて遅延量を変更する。また、制御部113は、電子デバイス10の第1選択部78および第2選択部84の切り替えを制御する。記憶部114は、キャリブレーション部115により検出された遅延量設定値を記憶する。
キャリブレーション部115は、一例として、CPU等の演算処理装置がキャリブレーションプログラムを実行することにより実現される。キャリブレーション部115は、遅延部80および第1端子66を介して受け取った信号に基づいて、遅延部80の遅延量を、電子デバイス10の通常動作において用いる基準遅延量に対して予め指定されたオフセット遅延量分ずらす、遅延量設定値を検出する。本実施形態においては、キャリブレーション部115は、データ信号をクロック信号よりオフセット遅延量分遅らせる負側の遅延量設定値と、データ信号をクロック信号よりオフセット遅延量分進ませる正側の遅延量設定値とを検出する。
試験部116は、一例として、CPU等の演算処理装置が試験プログラムを実行することにより実現される。試験部116は、電子デバイス10を試験する場合に、出力回路64からデータ信号およびクロック信号を出力させ、取得部82が取得した信号を第2端子68へ供給する制御を実行する。また、試験部116は、電子デバイス10を試験する場合に、遅延部80の遅延量を設定する制御を実行する。
判定部118は、遅延部80の遅延量を基準遅延量に設定した状態において、第2端子68から出力される取得部82が取得したデータ信号と期待値との比較結果に基づき電子デバイス10の良否を判定する。また、他の試験において、判定部118は、遅延部80に遅延量設定値を設定した状態において、第2端子68から出力される取得部82が取得したデータ信号と期待値との比較結果に基づき電子デバイス10の良否を判定する。
図3は、データ信号およびクロック信号のタイミングの一例を示す。ソースシンクロナスインターフェースを採用したデバイスの試験では、被試験デバイスから出力するデータ信号とクロック信号との位相差を、標準の状態(図3の(A)の状態)として試験をする。
さらに、被試験デバイスから出力するデータ信号とクロック信号との位相差を、標準状態から所定位相ずらした状態(図3の(B),(C)の状態)として試験をする場合もある。図3の(B)および(C)の状態とした試験によれば、出力するデータ信号とクロック信号との位相差を仕様により定められた上限または下限までずらした条件であっても、被試験デバイスが正しいデータを出力できるか否かを判定することができる。
ここで、遅延量設定値は、一例として、取得部82が取得するデータ信号とクロック信号との間に、仕様により定められた上限または下限の位相差を与える遅延部80の設定値を表す。従って、本実施形態において、キャリブレーション部115は、試験に先立って、このような位相差をデータ信号およびクロック信号の間に生じさせる遅延量設定値を検出する。
図4は、電子デバイス10が通常動作する場合の、データ信号およびクロック信号の流れを示す。本実施形態においては、当該電子デバイス10が通常動作する場合、第1選択部78は、出力回路64が発生したクロック信号を、クロック出力端子である第1端子66に供給する。また、本実施形態においては、当該電子デバイス10が通常動作する場合、遅延部80は、出力回路64から発生されたクロック信号を、基準遅延量分遅延する。
また、本実施形態においては、当該電子デバイス10が通常動作する場合、第2選択部84は、出力回路64が発生したデータ信号を、データ出力端子である第2端子68に供給する。これにより、テスト用回路70は、出力回路64が出力したクロック信号をクロック出力端子である第1端子66から外部に出力し、出力回路64が出力したデータ信号をデータ出力端子である第2端子68から外部に出力することができる。
図5は、電子デバイス10を試験する場合の、試験装置20の動作フローの一例を示す。試験装置20は、電子デバイス10の出荷前等の試験において、以下のステップS11からS14の処理を実行する。
まず、ステップS11において、試験装置20は、第1端子66から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差を検出する。本実施形態においては、試験装置20は、遅延部80を基準遅延量に設定した状態として、第1端子66から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差を検出する。
続いて、ステップS12において、試験装置20は、電子デバイス10の通常動作時において用いる基準遅延量から予め指定されたオフセット遅延量分ずらした遅延量に、遅延部80を設定するための遅延量設定値を検出する。続いて、ステップS13において、試験装置20は、遅延部80を、電子デバイス10の通常動作時において用いる遅延量(基準遅延量)として、電子デバイス10を試験する。
続いて、ステップS14において、試験装置20は、遅延部80に遅延量設定値を設定した状態で、電子デバイス10を試験する。即ち、試験装置20は、遅延部80を、電子デバイス10の通常動作時において用いる基準遅延量から予め指定されたオフセット遅延量分ずらした遅延量として、電子デバイス10を試験する。
図6は、ステップS11の位相差を検出する場合におけるデータ信号の流れを示す。ステップS11の位相差を検出する場合において、まず、キャリブレーション部115は、制御部113に対して、データ信号を第1端子66から外部へと出力させるように切り替える指示を与える。この指示に応じて、制御部113は、電子デバイス10の出力回路64から発生されたデータ信号を、第1端子66から出力させるように、第1選択部78を切り替える。
このように設定した状態において、キャリブレーション部115は、電子デバイス10に対してデータ信号を出力させる指示を与える。さらに、キャリブレーション部115は、位相差検出部112に対して第1端子66から出力されたデータ信号を取得して位相を検出する指示を与える。
この指示に応じて、電子デバイス10の出力回路64は、データ信号を出力する。また、位相差検出部112は、出力回路64から発生され第1端子66から出力されたデータ信号を取得して、当該データ信号の位相を検出する。これにより、位相差検出部112は、出力回路64からデータ信号を発生させて第1端子66から出力されたデータ信号を取得し、出力回路64がデータ信号を発生してから第1端子66がデータ信号を外部に出力するまでの時間(データ信号の遅延時間)を測定することができる。
図7は、ステップS11の位相差を検出する場合におけるクロック信号の流れを示す。ステップS11の位相差を検出する場合において、続いて、キャリブレーション部115は、制御部113に対して、クロック信号を第1端子66から外部へと出力させるように切り替える指示を与える。この指示に応じて、制御部113は、電子デバイス10の出力回路64から発生されたクロック信号を、第1端子66から出力させるように、第1選択部78を切り替える。
このように設定した状態において、キャリブレーション部115は、電子デバイス10に対してクロック信号を出力させる指示を与える。さらに、キャリブレーション部115は、位相差検出部112に対して第1端子66から出力されたクロック信号を取得して位相を検出する指示を与える。
この指示に応じて、電子デバイス10の出力回路64は、クロック信号を出力する。また、位相差検出部112は、出力回路64から発生され第1端子66から出力されたクロック信号を取得して、当該クロック信号の位相を検出する。これにより、位相差検出部112は、出力回路64からクロック信号を発生させて、第1端子66から出力されたクロック信号を取得し、出力回路64がクロック信号を発生してから第1端子66がクロック信号を外部に出力するまでの時間(クロック信号の遅延時間)を測定することができる。
そして、位相差検出部112は、以上のように測定したデータ信号の遅延時間とクロック信号の遅延時間との差から、第1端子66から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差を算出して、キャリブレーション部115に供給する。なお、ステップS11の処理中においては、遅延部80は、当該電子デバイス10が通常動作する状態の遅延量、すなわち、データ信号およびクロック信号の一方を他方に対して基準遅延量分、遅延する状態に設定されている。
図8は、ステップS12の遅延量設定値を検出する場合におけるクロック信号の流れを示す。ステップS12の遅延量設定値を検出する場合において、キャリブレーション部115は、制御部113に対して、出力回路64が発生したデータ信号をデータ出力端子から出力させ、出力回路64が発生したクロック信号をクロック出力端子から出力させるように指示する。この指示に応じて、制御部113は、出力回路64が発生したデータ信号をデータ出力端子から出力させるように第2選択部84を切り替え、出力回路64が発生したクロック信号をクロック出力端子から出力させるように第1選択部78を切り替える。
本実施形態においては、制御部113は、クロック信号を第1端子66から外部へと出力させるように第1選択部78を切り替える。また、制御部113は、出力回路64が発生したデータ信号を第2端子68から外部へと出力させるように第2選択部84を切り替える。
このように設定した状態において、キャリブレーション部115は、電子デバイス10に対して、出力回路64からクロック信号およびデータ信号を発生させる指示を与える。さらに、キャリブレーション部115は、位相差検出部112に対して、第1端子66から出力されたクロック信号と、第2端子68から出力されたデータ信号との位相差を検出する指示を与える。
この指示に応じて、電子デバイス10は、出力回路64からクロック信号およびデータ信号を発生して、第1端子66および第2端子68から出力する。また、位相差検出部112は、第1端子66から出力されたクロック信号および第2端子68から出力されたデータ信号を取得して、2つの信号の位相差を検出する。
そして、キャリブレーション部115は、位相差検出部112により検出された位相差を受け取る。このようにして、キャリブレーション部115は、出力回路64からクロック信号およびデータ信号を発生させて、第1端子66からクロック信号を取得し、第2端子68からデータ信号を取得することにより、クロック信号とデータ信号との遅延時間差を測定する。
さらに、キャリブレーション部115は、このような遅延時間差の測定を複数回実行する。キャリブレーション部115は、制御部113に対して、それぞれの実行において、遅延部80に与える設定値を順次に変化させる指示を与える。この指示に応じて、制御部113は、遅延部80に与える設定値を順次に変化させる。
キャリブレーション部115は、それぞれの設定値における遅延時間差の測定結果から、遅延部80の遅延量を、基準遅延量に対してオフセット遅延量分ずらす遅延量設定値を検出する。この場合において、キャリブレーション部115は、ステップS11において算出した第1端子66から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差に応じた遅延時間に基づいて、測定したクロック信号とデータ信号との遅延時間差を補正する。
なお、本実施形態においては、キャリブレーション部115は、遅延部80の遅延量を、基準遅延量に対して負側にオフセット遅延量分ずらす負側の遅延量設定値、および、基準遅延量に対して正側にオフセット遅延量分ずらす正側の遅延量設定値を検出する。そして、キャリブレーション部115は、このように検出した遅延量設定値を記憶部114に記憶させる。
図9は、ステップS13およびステップS14の電子デバイス10を試験する場合における信号の流れを示す。ステップS13およびステップS14の試験をする場合において、まず、試験部116は、制御部113に対して、取得部82が取得した信号を第2端子68から外部へと出力させるように指示を与える。この指示に応じて、制御部113は、取得部82が取得した信号を第2端子68から外部へと出力させるように第2選択部84を切り替える。
さらに、本実施形態においては、試験部116は、制御部113に対して、クロック信号を第1端子66から外部へと出力させるように指示を与える。この指示に応じて、制御部113は、クロック信号を第1端子66から外部へと出力させるように第1選択部78を切り替える。
さらに、試験部116は、ステップS13の試験をする場合には、制御部113に対して、遅延部80の遅延量を、データ信号およびクロック信号の一方を他方に対して基準遅延量分を遅延するように指示する。この指示に応じて、制御部113は、遅延部80に対して、電子デバイス10が通常動作する場合における設定値を与える。
また、試験部116は、ステップS14の試験をする場合には、制御部113に対して、遅延部80の遅延量を、データ信号およびクロック信号の一方を他方に対して、基準遅延量からオフセット遅延量分ずれた遅延量を遅延するように、指示する。この指示に応じて、制御部113は、記憶部114から遅延量設定値を読み出し、遅延部80に対して読み出した遅延量設定値を設定する。なお、本実施形態においては、ステップS14において、遅延部80に負側の遅延量設定値を設定した状態および遅延部80に正側の遅延量設定値を設定した状態のそれぞれで、電子デバイス10を試験する。
第2選択部84および遅延部80をこのように設定した状態において、試験部116は、電子デバイス10に対して、データ信号およびクロック信号を出力回路64から発生させ、発生したデータ信号およびクロック信号をテスト用回路70の取得部82において取得する指示を与える。この指示に応じて、電子デバイス10の出力回路64は、データ信号およびクロック信号を発生する。そして、出力回路64からデータ信号およびクロック信号が発生されると、テスト用回路70の取得部82は、遅延部80により遅延されたクロック信号のタイミングに基づいて、データ信号の値を取得する。
判定部118は、取得部82により取得された値を第2端子68を介して受け取り、取得部82により取得された値を期待値と比較して、比較結果を試験部116に転送する。試験部116は、取得された値が期待値と一致する場合には当該電子デバイス10が良品と判断し、取得された値が期待値と一致しない場合には当該電子デバイス10が不良品と判断する。
以上のように本実施形態に係る電子デバイス10は、試験時において、内部のテスト用回路70が出力回路64から発生されたデータ信号を取得する。従って、電子デバイス10は、試験時において、試験装置20へ取得した値のみを供給すればよい。これにより、電子デバイス10および試験装置20によれば、データ信号とクロック信号との間に含まれる位相ジッタ、位相ドリフトおよびスキューを非常に小さくして、精度良く当該電子デバイス10の試験をすることができる。
また、電子デバイス10は、試験時において、第1端子66からデータ信号およびクロック信号を切り替えて出力する第1選択部78を備える。従って、電子デバイス10および試験装置20によれば、データ信号とクロック信号との間の位相ずれをキャンセルして、所定のオフセット遅延量ずらした状態において試験する場合におけるデータ信号とクロック信号との間の遅延量を、精度良くキャリブレーションすることができる。
図10は、本実施形態の第1変形例に係る電子デバイス10および試験装置20の構成を示す。本変形例に係る電子デバイス10および試験装置20は、図2に示した同一符号の部材と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
本変形例に係る取得部82は、マルチプレクサ90に代えて、セレクタ92を含む。セレクタ92は、外部の試験装置20からの指示に応じて、複数のラッチ(本例においては第1ラッチ86、第2ラッチ88)のうちいずれのラッチが取得したデータ信号を第2端子68から出力させるかを選択する。
ここで、本変形例において、試験部116は、出力回路64から複数サイクル分の同一のデータ信号を繰り返して出力させる。そして、セレクタ92は、出力回路64から複数サイクル分のデータ信号の信号列を出力させる度に、選択するラッチを順次に切り替える。
例えば、まず、最初の複数サイクル分のデータ信号を出力回路64が出力している場合に、セレクタ92は、第1ラッチ86を選択して、第1ラッチ86が取得した信号を第2端子68から出力させる。続いて、2回目の複数サイクル分のデータ信号を出力回路64が出力している場合に、セレクタ92は、第2ラッチ88を選択して、第2ラッチ88が取得した信号を第2端子68から出力させる。
判定部118は、複数のラッチのうち第1ラッチ86を選択している間に取得したそれぞれのデータ信号と対応する期待値とを比較した第1比較結果と、複数のラッチのうち第2ラッチ88を選択している間に取得したそれぞれのデータ信号と対応する期待値とを比較した第2比較結果とを取得する。そして、判定部118は、第1比較結果と第2比較結果とに基づいて、電子デバイス10の良否を判定する。
これにより、本変形例に係る電子デバイス10および試験装置20によれば、複数のラッチにより取り込まれたデータを多重化して転送しなくてよいので、電子デバイス10から試験装置20へのデータの転送レートを低くすることができる。
図11は、本実施形態の第2変形例に係る電子デバイス10および試験装置20の構成を示す。本変形例に係る電子デバイス10および試験装置20は、図2に示した同一符号の部材と略同一の構成および機能を採るので、以下相違点を除き説明を省略する。
本変形例に係る電子デバイス10は、データ入力端子132と、クロック入力端子134と、取得回路136とを更に備える。データ入力端子132は、他の電子デバイスからの外部データ信号を入力する。クロック入力端子134は、外部データ信号を取得すべきタイミングを示す外部クロック信号を他の電子デバイスから入力する。
取得回路136は、クロック入力端子134から入力した外部クロック信号に応じたタイミングで、データ入力端子132から入力した外部データ信号を取得する。本実施形態においては、取得回路136は、90度位相遅延器142と、第3ラッチ144と、第4ラッチ146と、転送部148とを有する。90度位相遅延器142は、クロック入力端子134が入力した外部クロック信号を、90度の位相分遅延する。
第3ラッチ144は、90度位相遅延器142により遅延された外部クロック信号の立上りエッジのタイミングにおいて、データ入力端子132が入力した外部データ信号の値を取得する。第4ラッチ146は、90度位相遅延器142により遅延された外部クロック信号の立下りエッジのタイミングにおいて、データ入力端子132が入力した外部データ信号の値を取得する。
転送部148は、第3ラッチ144が取得した値のデータ列および第4ラッチ146が取得した値のデータ列をバッファリングして、内部回路62に転送する。このような取得回路136は、外部クロック信号の90度および270度の位相タイミングで、外部データ信号の値を取得することができる。
本変形例において、内部回路62は、更に、取得回路136により取得されたデータ列に応じて動作する。内部回路62は、一例として、更に、メモリから読み出したデータ列を処理する回路であってよい。
また、本変形例に係るテスト用回路70は、第3選択部152と、第4選択部154と、デバイス内試験制御部156と、デバイス内判定部158とを更に有する。第3選択部152は、外部の試験装置20からの指示に応じて、第1選択部78が出力するクロック信号を、外部クロック信号に代えて取得回路136に供給するか否かを選択する。第4選択部154は、外部の試験装置20からの指示に応じて、出力回路64が出力するデータ信号を、外部データ信号に代えて取得回路136に供給するか否かを選択する。
デバイス内試験制御部156は、電子デバイス10を試験する場合に、試験装置20からの指示に応じて、出力回路64からデータ信号およびクロック信号を出力させる。デバイス内判定部158は、電子デバイス10を試験する場合に、取得回路136が取得した信号と期待値とを比較して、比較結果を試験装置20に送信する。
このような本変形例において、電子デバイス10の試験をする場合、まず、試験装置20は、第1選択部78に対して、出力回路64が発生したクロック信号を第1端子66から外部へと出力させるように切り替える指示を与える。さらに、試験装置20は、第3選択部152に対して、第1選択部78が出力したクロック信号を、外部クロック信号に代えて取得回路136に供給するように切り替える指示を与える。また、さらに、試験装置20は、第4選択部154に対して、出力回路64により発生されたデータ信号を、外部データ信号に代えて取得回路136に供給するように切り替える指示を与える。
また、図5のステップS13と同様の試験をする場合には、試験装置20は、一例として、クロック信号をデータ信号に対して、クロック信号の転送レートの90度分進むような遅延量に、遅延部80を設定する。さらに、図5のステップS14と同様の試験をする場合には、試験装置20は、クロック信号をデータ信号に対して、クロック信号の転送レートの90度分進むような遅延量からオフセット遅延量分ずれた遅延量を遅延するように、遅延部80を設定する。
このように設定した状態において、デバイス内試験制御部156は、データ信号およびクロック信号を出力回路64から発生させる。出力回路64からデータ信号およびクロック信号が発生されると、取得回路136は、遅延部80により遅延されたクロック信号のタイミングに基づいて、データ信号の値を取得する。そして、デバイス内判定部158は、取得回路136により取得された値を期待値と比較し、取得された値が期待値と一致する場合には当該電子デバイス10が良品と判断し、取得された値が期待値と一致しない場合には当該電子デバイス10が不良品と判断する。
以上のように、電子デバイス10がソースシンクロナスインターフェースにおけるデータ信号を取得する取得回路136を備える場合には、出力回路64から発生されたデータ信号を取得回路136に取得させて試験をしてよい。これにより、本変形例に係る電子デバイス10および試験装置20によれば、テスト用回路70の回路構成を小さくすることができる。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。
請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
Claims (12)
- データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスであって、
前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、
当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、
を備える電子デバイス。 - 前記テスト用回路は、外部の装置からの指示に応じて、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを前記第1端子に供給するかを選択する第1選択部を有する請求項1に記載の電子デバイス。
- 前記テスト用回路は、前記出力回路が発生した前記データ信号および前記クロック信号の一方を他方に対して遅延させて前記第1選択部に供給する遅延部を有する請求項2に記載の電子デバイス。
- 前記テスト用回路は、前記データ信号を、前記クロック信号に応じたタイミングで取得する取得部を更に有し、
当該電子デバイスは、前記テスト用回路により取得された前記データ信号を外部へ出力する第2端子を更に備える請求項2または3に記載の電子デバイス。 - 前記取得部は、
前記クロック信号に応じた複数種類のタイミングのそれぞれで前記データ信号をそれぞれ取得する複数のラッチと、
外部の装置からの指示に応じて、前記複数のラッチのうちいずれのラッチが取得した前記データ信号を前記第2端子から出力させるかを選択するセレクタと、
を有する請求項4に記載の電子デバイス。 - 前記第1端子は、当該電子デバイスを通常動作させる場合に、前記データ信号を外部へ出力するためのデータ出力端子および前記クロック信号を外部へ出力するためのクロック出力端子のいずれか一方であり、
前記第2端子は、前記データ出力端子および前記クロック出力端子の他方である
請求項4または5に記載の電子デバイス。 - 前記第1端子は、前記クロック出力端子であり、
前記第2端子は、前記データ出力端子であり、
前記出力回路が発生した前記データ信号および前記取得部が取得した信号のいずれを前記データ出力端子から出力するかを選択する第2選択部を更に備える
請求項6に記載の電子デバイス。 - 他の電子デバイスからの外部データ信号を入力するデータ入力端子と、
前記外部データ信号を取得すべきタイミングを示す外部クロック信号を前記他の電子デバイスから入力するクロック入力端子と、
前記クロック入力端子から入力した前記外部クロック信号に応じたタイミングで、前記データ入力端子から入力した前記外部データ信号を取得する取得回路と、
を更に備え、
前記テスト用回路は、
前記第1選択部が出力するクロック信号を、前記外部クロック信号に代えて前記取得回路に供給するか否かを選択する第3選択部と、
前記出力回路が出力するデータ信号を、前記外部データ信号に代えて前記取得回路に供給するか否かを選択する第4選択部と、
を更に有する請求項7に記載の電子デバイス。 - データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスは、
前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、
当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、
を備え、
当該試験装置は、前記第1端子から出力される前記データ信号および前記クロック信号の位相差を検出する位相差検出部を備える
試験装置。 - 前記テスト用回路は、
前記試験装置からの指示に応じて、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを前記第1端子に供給するかを選択する第1選択部と、
前記出力回路が発生した前記データ信号および前記クロック信号の一方を他方に対して遅延させて前記第1選択部に供給する、遅延量が可変の遅延部と、
前記遅延部により相対的に位相シフトされた前記データ信号を、前記クロック信号に応じたタイミングで取得する取得部と、
を更に有し、
前記電子デバイスは、前記取得部が取得した前記データ信号を外部へ出力するための第2端子を更に備え、
当該試験装置は、
前記遅延部および前記第1端子を介して受け取った信号に基づいて、前記遅延部の遅延量を、前記電子デバイスの通常動作において用いる基準遅延量に対して、予め指定されたオフセット遅延量分ずらす遅延量設定値を検出するキャリブレーション部と、
前記遅延部に前記遅延量設定値を設定した状態において、前記第2端子から出力される前記取得部が取得した前記データ信号と期待値との比較結果に基づき前記電子デバイスの良否を判定する判定部と、
を備える請求項9に記載の試験装置。 - 前記取得部は、前記クロック信号に応じた複数種類のタイミングのそれぞれで前記データ信号をそれぞれ取得する複数のラッチと、
外部の装置からの指示に応じて、前記複数のラッチのうちいずれのラッチが取得した前記データ信号を前記第2端子から出力させるかを選択するセレクタと、
を有し、
前記セレクタは、前記出力回路から複数サイクル分の前記データ信号の信号列を出力させる度に、選択する前記ラッチを切り替え、
前記判定部は、前記複数のラッチのうち第1ラッチを選択している間に取得したそれぞれの前記データ信号と対応する期待値とを比較した第1比較結果と、前記複数のラッチのうち第2ラッチを選択している間に取得したそれぞれの前記データ信号と対応する期待値とを比較した第2比較結果とに基づいて、前記電子デバイスの良否を判定する
請求項10に記載の試験装置。 - データ信号および前記データ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスを試験する試験方法であって、
前記電子デバイスは、
前記データ信号および前記クロック信号を発生する出力回路と、
当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、前記データ信号および前記クロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、
を備え、
前記第1端子から出力される前記データ信号および前記クロック信号の位相差を検出する
試験方法。
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