JP2008026047A - プローブカードの固定機構、ローブカードの固定方法及びプローブ装置 - Google Patents

プローブカードの固定機構、ローブカードの固定方法及びプローブ装置 Download PDF

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    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor

Abstract

【課題】コンパクトな構造で低コストであり、プローブカードを安定した固定力で固定することができ、しかも駆動手段においてプローブカードの保持力を簡単に変更することができるププローブカードの固定機構を提供する。
【解決手段】本発明のプローブカードの固定機構10は、ヘッドプレート11の開口部に固定されたインサートリング12と、これに回転可能に支持されたロックリング13と、このロックリング13から径方向に延設されたレバー14と、このレバー14にそれぞれ連結されたバネ機構15及びエアシリンダ17と、を備え、エアシリンダ17がバネ機構15の圧縮力を解除した時にバネ機構15からレバー14に押圧力を付与してロックリング13を回転させてプローブカード16をそのホルダ161を介して持ち上げることにより、ロックリング13とインサートリング12とでカードホルダ161を保持してプローブカード16を固定する。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体ウエハ等の被検査体の電気的特性検査を行うプローブ装置に関し、更に詳しくは、プローブカードを固定する機構の駆動手段をコンパクト化すると共にプローブカードの固定力を常に一定に維持することができるプローブカードの固定機構及びこの固定機構を用いるプローブカードの固定方法に関するものである。
従来のプローブ装置は、例えば図11に示すように、プローブ装置本体1と、このプローブ装置本体11内にX、Y、Z及びθ方向で移動可能に配設され且つ被検査体(例えば、ウエハW)を載置する載置台2と、この載置台2上に載置されたウエハWに形成された複数の電極パッドに接触する複数のプローブ3Aを有するプローブカード3と、このプローブカード3を、カードホルダ(図示せず)を介して固定する固定機構4と、プローブカード3と接続リング5を介して電気的に接続するテストヘッドTと、を備え、テストヘッドT、接続リング5及びプローブカード3を介して図示しないテスタとウエハWの電極パッドとの間でテスト信号を送受信してウエハWの電気的検査を行なうように構成されている。尚、図11において、6は、載置台と協働してウエハWとプローブカードとの位置合わせを行う機構で、6Aは上カメラ、6Bは下カメラであり、7は固定機構4が固定されたヘッドプレートである。
ところで、プローブカード3は、カードホルダを介して固定機構4に固定されている。従来の固定方式としては、例えば特許文献1、2に記載のエア方式の固定機構がある。エア方式の固定機構は、ピストンリングを圧縮空気によって上昇させ、ピストンリングとヘッドプレートに固定された固定リングとでカードホルダを固定し、また、圧縮空気の排気によりピストンリングを下降させてプローブカードを取り外すようにしている。
しかしながら、エア方式の場合には圧縮空気を用いてプローブカードを固定するため、圧縮空気の供給源の圧力変動によりプローブカードの保持力が安定せず、最悪の場合にはプローブカードを保持することができず落下する虞がある。
そこで、圧縮空気の供給源の圧力変動の影響を受けない方式として、特許文献3に記載のスプリング方式の固定機構がある。このスプリング方式の固定機構は、ヘッドプレートに固定された固定リングの下面に固定されたシリンダリングと、シリンダリングに対して昇降可能に嵌合するピストンリングと、これら両者間に周方向に所定間隔を空けて配置された複数のコイルスプリングと、を備え、複数のコイルスプリングの働きでピストンリングを介してプローブカードを受けるカード受けリングを持ち上げて、プローブカードを固定リングに固定するようにしてある。
また、特許文献4にはプローブカードの自動交換機構を備えたプローバが記載されている。この自動交換機構は、プローブカード固定部材に対して回転可能に支持され、回転に伴い上下方向の位置が変化する案内溝を有する回転リングと、案内溝に嵌るピンと内周にカード取り付けリングの切り欠きに対応した内周つばとを有し、所定角度回転後はそれ以上回転せずに案内溝に沿って上下方向に変位するクランプリングと、回転リングを回転させる駆動手段とを備えている。そして、駆動手段によって回転リングを回転させてプローブカードの接合力(保持力)を得ている。この駆動手段はモータ及びボールねじによって構成されている。
特開平08−139141 特開平08−172116 特開平10−031035 特開2000−150596
しかしながら、特許文献3の固定機構は、シリンダリングとピストンリングの間に全周に渡って介在する複数のコイルスプリングによってプローブカードを保持するため、プローブカードに保持力を付与する複数のコイルスプリングを省略することができず、保持機構を簡素化することができない。また、特許文献4の自動交換機構は、モータとボールねじを駆動手段として用いているため、また、モータのトルク制御のためのトルクリミッタや動力源が遮断した時等のための安全対策等が必要であるため、駆動手段としては大掛かりで、高価である。また、プローブカードの保持力を調整する場合にはクランプリングの案内溝等のリング構造を変更しなくてはならず、プローブカードの保持力を簡単に変更することができない。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、駆動手段がコンパクトな構造で低コストであり、プローブカードを常に一定の固定力で固定することができ、しかも駆動手段においてプローブカードの固定力を簡単に変更することができるプローブカードの固定機構、プローブカードの固定方法及びプローブ装置を提供することを目的としている。
本発明の請求項1に記載のプローブカードの固定機構は、プローブ装置のヘッドプレートの開口部に固定されたインサートリングと、このインサートリングによって回転可能に支持されたロックリングと、このロックリングから径方向に延設されたレバーと、このレバーの延設端部に連結され且つ上記ヘッドプレートに設けられた駆動手段と、を備え、上記駆動手段により上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させてプローブカードを持ち上げることにより、上記ロックリングと上記インサートリングとで上記プローブカードを保持して上記プローブカードを固定する機構であって、上記駆動手段は、上記レバーに押圧力を付与するバネ機構と、このバネ機構に連結され且つこのバネ機構を伸縮させる押圧機構と、を備え、上記押圧機構が上記バネ機構の圧縮力を解除した時に上記バネ機構から上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項2に記載のプローブカードの固定機構は、請求項1に記載の発明において、上記バネ機構と上記押圧機構を連結体によって連結すると共に、上記連結体を上記バネ機構の伸縮方向に移動案内するガイド部材を設けたことを特徴とするものである。
また、本発明の請求項3に記載のプローブカードの固定機構は、請求項2に記載の発明において、上記連結体にシャッタを設けると共に上記ガイド部材の近傍に上記シャッタを検出する検出器を設け、上記検出器により上記シャッタを検出した時に上記押圧機構を停止させて上記バネ機構により上記プローブカードを固定することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項4に記載のプローブカードの固定機構は、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の発明において、上記バネ機構は、コイルスプリングと、このコイルスプリングを貫通し且つ上記連結体に連結されたシャフトと、このシャフトが貫通し且つ上記コイルスプリングを保持するホルダと、を有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項5に記載のプローブカードの固定機構は、請求項4に記載の発明において、上記コイルスプリングは、第1、第2のコイルスプリングからなることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項6に記載のプローブカードの固定機構は、請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の発明において、上記押圧機構は、シリンダ機構からなることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項7に記載のプローブカードの固定機構は、請求項6に記載の発明において、上記シリンダ機構は、排気速度の制御機能を有するエアシリンダからなることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項8に記載のプローブカードの固定機構は、請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の発明において、上記プローブカードは、カードホルダを有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項9に記載のプローブカードの固定方法は、プローブ装置のヘッドプレートの開口部に固定されたインサートリングと、このインサートリングによって回転可能に支持されたロックリングと、このロックリングから径方向に延設されたレバーと、このレバーの延設端部に連結された駆動手段と、を備え、上記駆動手段により上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させてプローブカードを持ち上げることにより、上記ロックリングと上記インサートリングとで上記プローブカードを保持して上記プローブカードを固定する方法であって、上記駆動手段としてバネ機構とこのバネ機構に圧縮力を付与する押圧機構を用いて上記プローブカードを固定する時に、上記押圧機構により上記バネ機構の圧縮力を解除する工程と、上記バネ機構の圧縮力の解除により上記バネ機構から上記レバーに押圧力を付与する工程と、を有することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項10に記載のプローブカードの固定方法は、請求項9に記載の発明において、上記押圧機構としてシリンダ機構を用いることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項11に記載のプローブカードの固定方法は、請求項10に記載の発明において、上記シリンダ機構として、排気速度の制御機能を有するエアシリンダを用いることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項12に記載のプローブカードの固定方法は、請求項9〜請求項11のいずれか1項に記載の発明において、上記プローブカードを、カードホルダを介して固定することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項13に記載のプローブ装置は、被検査体を載置する移動可能な載置台と、この載置台の上方に配置された且つ上記被検査体と電気的に接触する複数のプローブを有するプローブカードと、このプローブカードを上記載置台の上方で固定する固定機構と、を備えたプローブ装置において、上記固定機構は、請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載のプローブカードの固定機構によって構成されていることを特徴とするものである。
本発明によれば、駆動手段がコンパクトな構造で低コストであり、プローブカードを常に一定の固定力で固定することができ、しかも駆動手段においてプローブカードの固定力を簡単に変更することができるプローブカードの固定機構、プローブカードの固定方法及びプローブ装置を提供することができる。
以下、図1〜図10に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。尚、各図中、図1は本発明のプローブカードの固定機構の一実施形態の要部である駆動手段を示す断面図、図2は図1に示す駆動手段を拡大して示す断面図、図3は図1に示すプローブカードの固定機構の全体構造を示す断面図、図4の(a)、(b)はそれぞれ図3に示すインサートリングを示す図で、(a)はその下面側の平面図、(b)はその断面図、図5の(a)、(b)はそれぞれインサートリングとロックリングとの関係を示す要部断面図で、(a)はインサートリングの第1カムフォロアとロックリングの関係を示す断面図、(b)はインサートリングの第2カムフォロアとロックリングの関係を示す断面図、図6の(a)、(b)はそれぞれ図3に示すロックリングを示す図で、(a)はその下面側の平面図、(b)はそのB-B線方向の断面図、図7の(a)、(b)はそれぞれ図3に示す固定機構とカードホルダとの関係を示す図で、(a)はその要部断面図、(b)はカードホルダの張り出し部と支承カムフォロアとの関係を示す説明図、図8の(a)〜(c)はそれぞれ固定機構でプローブカードを固定する工程を示す図、図9はインサートリングの第2位置決めピンとカードホルダの関係を示す断面図、図10の(a)〜(c)はそれぞれカードホルダとインサートリングの関係を示す断面図で、(a)はインサートリングの逃げ孔に回転止めピンが嵌入する状態を示す断面図、(b)はインサートリングの逃げ孔に回転止めピンが嵌入した状態を示す断面図、(c)は(a)、(b)に示す回転止めピンに隣接するカムフォロアの部分を示す断面図である。
本実施形態のプローブカードの固定機構(以下、単に「固定機構」と称す。)10は、例えば図1〜図3に示すように、プローブ装置(図示せず)のヘッドプレート11の開口部に固定されたインサートリング12と、このインサートリング12によって回転可能に支持されたロックリング13(図3参照)と、このロックリング13から径方向に延設されたレバー14と、このレバー14の延設端部に連結されたバネ機構15と、を備えている。バネ機構15は、後述の押圧機構と協働してロックリング13を回転駆動させる駆動手段であり、レバー14に押圧力を付与してロックリング13を回転させてプローブカード16(図3参照)をそのカードホルダを介して持ち上げることにより、ロックリング13とインサートリング12とでカードホルダを保持してプローブカード16を固定するように構成されている。インサートリング12とロックリング13の関係については後述する。
図1、図2に示すようにヘッドプレート11にはバネ機構15及び押圧機構(例えば、エアシリンダ)17が設けられ、後述するようにバネ機構15とエアシリンダ17とが協働してレバー14を図1、図2の一点鎖線で示す位置と実線で示す位置との間で揺動させることによってロックリング13を回動させてプローブカード16を着脱するようにしてある。一点鎖線で示すレバー位置は、エアシリンダ17のロッドが最も伸びてコイルスプリング151が最も圧縮された位置であり、この位置でプローブカード16が取り外せるようにしてある。また、実線で示すレバー位置は、エアシリンダ17のロッドが縮んでコイルスプリング151の圧縮力を解除してコイルスプリング151が最も伸びた位置であり、この位置でバネ機構15によってプローブカード16を常に一定のバネ力で保持するようにしてある。つまり、本実施形態では、バネ機構15はバネ力でプローブカード16を保持する機能を有し、エアシリンダ17はプローブカード16を保持する時にバネ機構15のコイルスプリング151の圧縮力を解除し、プローブカード16を取り外す時にバネ機構15に圧縮力を付与する機能を有している。
次いで、バネ機構15とエアシリンダ17の関係について、図2を参照しながら詳述する。バネ機構15は、図2に示すように、コイルスプリング151と、このコイルスプリング151を貫通するシャフト152と、このシャフト152が貫通し且つコイルスプリング151を保持するホルダ153と、を備え、シャフト152の右端がエアシリンダ17のロッド171に連結体18を介して連結されている。シャフト152はコイルスプリング151の伸縮ガイドとしての機能を有している。また、ホルダ153の右端は開口され、その左端は端板153Aによって閉塞されている。この端板153Aの中央部にはシャフト152が貫通する貫通孔が形成されている。
上記コイルスプリング151は、第1、第2のコイルスプリング154、155がシャフト152に沿って直列に配置して構成されている。第1、第2のコイルスプリング154、155は、同一のものであっても、異なるものであっても良く、プローブカード16の固定力に応じて適宜同一のものまたは異なるものを選択することができる。特に、第1、第2のコイルスプリング154、155のバネ定数を個別に選択することで、固定力を適宜設定することができる。勿論、コイルスプリング151は、第1、第2のコイルスプリング154、155として分割されたものでなく、一体のものであっても良い。保持力を調整する場合には、2つに分割されているほうが好ましい。また、プローブカード16の固定力は、レバー14の長さを調整することによっても調整することができる。
図2に示すように、上記第1のコイルスプリング154は筒体156内に収納され、第2のコイルスプリング155はホルダ153内に収納されている。筒体156の右端は端板156Aによって閉塞され、左端は開口している。筒体156の端板156Aの中央部を連結体18の軸部材181の左端部が貫通し、その左端がシャフト152の右端に連結されている。連結体18の軸部材181の右端はエアシリンダ17のロッド171に連結されている。筒体156の外径は、ホルダ153の内周面よりも僅かに小径に形成され、コイルスプリング151の圧縮時にその一部がホルダ153内に進出するようなっている。また、第1のコイルスプリング154と第2のコイルスプリング155の間には円筒状のスライダ157が介在し、このスライダ157は第1、第2のコイルスプリング154、155の伸縮により筒体156内とホルダ153内を摺動する。スライダ157は、シャフト152が貫通する中央孔を有している。スライダ157の右端面には凹陥部が形成され、この凹陥部で第1のコイルスプリング154の左端を受けている。また、スライダ157の左端面には第2のスプリング155の右端が弾接している。
図2に示すように上記連結体18にはカムフォロア182が取り付けられ、レバー14の延設端部には長円形の貫通孔が形成されており、カムフォロア182がレバー14の貫通孔に嵌入することで、連結体18とレバー14とが連結されている。連結体18の側方にはスプリングコイル151の伸縮方向と平行にリニアガイド19が配置され、このリニアガイド19に連結体18が摺動自在に係合している。従って、連結体18は、バネ機構15とエアシリンダ17の駆動力を得てリニアガイド19に従って往復移動するようになっている。また、リニアガイド19の左端には連結体18の左方への移動を止めるストッパ20が配置され、リニアガイド19の右端には連結体18に取り付けられシャッタ183を検出する検出器21が配置されている。検出器21は、シャッタ183を検出すると、制御装置へ信号を送信し、制御装置を介してエアシリンダ17を止めるようにしてある。エアシリンダ17は、制御装置の制御下でスピードコントローラを介してロッド171の伸縮速度を適宜調整できるようになっている。
次に、インサートリング12とロックリング13の関係については詳述する。インサートリング12は、図3に示すように、筒状部12Aを有すると共にこの筒状部12Aの上端部から拡径して形成されたフランジ部12Bを有し、フランジ部12Bを介してヘッドプレート11の開口部に固定されている。また、ロックリング13は、インサートリング12のフランジ部12Bの下面に形成された環状溝12Cに上端部が嵌入し、レバー14の揺動により環状溝12Cに従って回動するようになっている。ロックリング13の内周面にはその幅方向の略中央に全周に渡って溝13Aが形成され、この溝13Aが後述のようにカムとして機能するようにしている。
また、インサートリング12の筒状部12Aには図4の(a)及び図5の(a)に示すようにロックリング13の溝13A内に嵌入する第1カムフォロア22が周方向に所定間隔を空けて少なくとも3箇所(本実施形態では3箇所)に2個ずつ設けられ、これらの第1カムフォロア22によってロックリング13を所定の高さに保持するようにしている。図4の(a)では、第1カムフォロア22は、3箇所で2個ずつ設けられているが、一個ずつ設けても良い。第1カムフォロア22を3箇所に設けることで、ロックリング13を全ての第1カムフォロア22によって均一に支持することができる。また、第1カムフォロア22にはプローブカード16を保持する時に大きな負荷がかかるため、第1カムフォロア22は、各部位に2個ずつ設けられ、機械的強度を確保している。
また、図4の(a)及び図5の(b)に示すように、インサートリング12のフランジ部12Bにはロックリング13の溝13Aの上側の内周面に接触する第2カムフォロア23が周方向に所定間隔を空けて少なくとも3箇所(図4の(a)では3箇所)に設けられ、これらの第2カムフォロア23は第1カムフォロア22がロックリング13を所定の高さで保持した状態で図5の(b)に示すようにロックリング13の内周面との接触の度合いを調整するように構成されている。つまり、第2カムフォロア23は、図5の(b)に示すように、インサートリング12のフランジ部12B上面に回転可能に配置された位置調整部材23Aに連結され、位置調整部材23Aを回転させることで第2カムフォロア23がロックリング13と離接するように構成されている。第2カムフォロア23の軸部は、図5の(b)に示すように、位置調整部材23Aの軸部に軸芯から偏倚した位置で螺合しており、位置調整部材23Aの回転により、第2カムフォロア23は位置調整部材23Aの軸芯を中心にロックリング13の内周面に近づき、あるいは離れる。従って、位置調整部材23Aを回転操作して第2カムフォロア23とロックリング13の内周面との接触状態を調整することで、インサートリング12に対するロックリング13の水平位置(X、Y位置)を調整し、これら両者12、13の軸芯を一致させる。
また、図6の(a)に示すように、ロックリング13には第1カムフォロア22に対応する切欠部13Bが周方向に所定間隔(例えば120°ずつ)隔てて形成され、ロックリング13をインサートリング12に取り付ける際に、インサートリング12側の第1カムフォロア22が切欠部13Bを通って、ロックリング13の上端がインサートリング12の環状溝12Cに嵌入した状態でロックリング13を回転させると第1カムフォロア22がロックリング13の環状溝13A内に入り込む。
更に、ロックリング13にはインサートリング12との間の位置決めを行う第1位置決めピン(図示せず)を挿入する2個の孔13Cが互いに周方向に180°隔てた位置に形成され、また、インサートリング12にもこれらの位置決め用の孔13Cに対応する位置決め用の孔(図示せず)が形成されている。そして、ロックリング13をインサートリング12に対して回転自在に一体化した状態で、これらの位置決め用孔13Cに第1位置決めピンを装着することで、インサートリング12とロックリング13とを所定の位置関係で一体化することができる。インサートリング12とロックリング13とが位置決めされた状態で、図3に示すようにロックリング13を回転操作するための連結体18とロックリング13とをレバー14を介して連結することができる。図6の(a)に示すようにロックリング13の溝13Aの下側には径方向に貫通する2箇所の雌ネジ部13Dが形成され、ここでロックリング13とレバー14を図1、図2に示すように連結している。
また、図6の(a)に示すように、ロックリング13には周方向に所定間隔を空けて複数(図6の(a)では6個)の支承カムフォロア24が取り付けられ、また、図7の(a)に示すようにカードホルダ161には支承カムフォロア24に対応する張り出し部161Aが形成されている。そして、プローブカード16は、カードホルダ161を介して支承カムフォロア24によって支承され、ロックリング13が回動することによってインサートリング12の筒状部12Aに対して離接するようになっている。
即ち、カードホルダ161の張り出し部161Aは、図7の(b)に示すように、一端部(同図では右端部)が最も薄く形成された薄肉部161Bと、他端部(同図では左端部)が最も厚く形成され厚肉部161Cと、薄肉部161Bから厚肉部161Cに向けて二段階で傾斜角を変えて形成された第1、第2傾斜部161D、161Eと、を有している。そして、ロックリング13が回転するに連れて、支承カムフォロア24が薄肉部161Bから厚肉部161Cへ移動してプローブカード16を徐々に持ち上げ(図6参照)、最終的に図7の(a)に示すように支承カムフォロア24とインサートリング12のフランジ部12Bとでプローブカード16を保持するようになっている。
また、図8(a)〜(c)に示すように、インサートリング12にはカードホルダ161を検出するセンサ機構25が上記張り出し部161Aの厚肉部161Cに位置するように装着されている。このセンサ機構25は、同図に示すように、インサートリング12のフランジ部12Bに形成された貫通孔に収納されたピン25Aと、U字状の切欠部で貫通孔を挟むように配置されたプレートセンサ25Bと、これら両者25A、25B間に弾装されたスプリング25Cと、を有し、ピン25Aを介してカードホルダ161Aを検出するようになっている。貫通孔の下端には内側への張り出し部が形成され、ピン25Aは直胴部に形成されたフランジ部で張り出し部に係止するようにしてある。プレートセンサ25Bは、切欠部にセンサ部を有し、このセンサ部で切欠部を出入りするピン25Aを非接触で検出する透過型センサとして構成されている。センサ部は、例えば発光素子及び受光素子からなり、発光素子からの光Lを受光素子で検出するか否かでカードホルダ161の有無を検出するものである。
また、図9に示すように、インサートリング12のフランジ部12Bには2つの第2位置決めピン26が互いに周方向に180°隔てて筒状部12Aに沿って垂下するように取り付けられ、また、カードホルダ161には第2位置決めピン26に対応する2つの嵌入孔161Fが形成されている。プローブカード16を固定機構10に装着する時に、インサートリング12側の第2位置決めピン26がカードホルダ161の嵌入孔161Fに嵌入することにより、プローブカード16とインサートリング12との周方向の位置を正確に設定することができる。
また、図10の(a)、(b)に示すように、カードホルダ161のインサートリング12の筒状部12Aからの張り出し部には2つの回転止めピン27が互いに周方向に180°隔てて立設され、また、インサートリング12のフランジ部12Bの下面にはブロック28が取り付けられている。このブロック28及びフランジ部12Bには回転止めピン27が遊嵌する逃げ孔28A、12Dが形成されている。また、ブロック28にはカムフォロア29が周方向で位置調整可能に取り付けられ、このカムフォロア29が筒状部11A側に突出し、回転止めピン27と係合してインサートリング12における周方向の位置を決める。
従って、図8の(a)に示すようにカードホルダ161の張り出し部161Aがインサートリング12の筒状部12Aとロックリング13の隙間に入り込み、この状態でエアシリンダ17がバネ機構15を圧縮していたシリンダの駆動エアをスピードコントローラにより制御された速度で排気することによりバネ機構15の圧縮を解除し、バネ機構15から連結体18に押圧力を付与すると、連結体18がリニアガイド19に従って所望の速度で移動し、連結体18を介してレバー14に押圧力を付与するとロックリング13が回転し、張り出し部161Aの薄肉部161Bが支承カムフォロア24と接触する。更に、ロックリング13がバネ機構15の押圧力を得て回転し、図7の(b)に示すように支承カムフォロア24が薄肉部161Bから第1、第2傾斜部161C、161Dに従って連続的に転動してプローブカード16が徐々に持ち上げられると、図8の(b)に示すようにセンサ機構25のピン25Aは、張り出し部161Aの上面に接触し、スプリング25Bの弾力に抗してカードホルダ161が徐々に上昇し、最終的にカードホルダ161が図7の(a)、図8の(c)に示すように上昇端に達し、ロックリング13の支承カムフォロア24とインサートリング12のフランジ部12Bとでカードホルダ161を保持し、プローブカード165を固定する。
この際、連結体18がエアシリンダ17に接近し、検出器21が連結体18のシャッタ183を非接触で検出すると、エアシリンダ17が停止し、ロックリング13の位置を設定する。エアシリンダ17が停止した時、支承カムフォロア24とインサートリング12のフランジ部12Bとでカードホルダ161の張り出し部161Aを保持し、その結果としてカードホルダ161を固定機構10で固定する。この時、インサートリング12の第2位置決めピン26がカードホルダ161に形成された嵌入孔161Fに嵌入する。センサ機構25では、図8の(c)に示すようにプレートセンサ25Bが切欠部に進入したピン25Aを検出する。
次に、プローブカードの固定機構10を用いる本発明のプローブカードの固定方法について説明する。まず、搬送機構を介してカードホルダ付きのプローブカード16をインサートリング12の真下まで搬送した後、上昇し、図8の(a)に示すようにカードホルダ161の張り出し部161Aがインサートリング12の筒状部12Aとロックリング13の隙間に達する。この時、エアシリンダ17のロッド171が最も伸び、バネ機構15のコイルスプリング151が最も圧縮された状態になっている。
ここで、エアシリンダ17がバネ機構15を圧縮していたシリンダの駆動エアをスピードコントローラにより制御された速度で排気することによりロッド171が縮み、バネ機構15の圧縮力を解除し、バネ機構15から連結体18に押圧力を付与すると、連結体18がリニアガイド19に従って左端から右方へ所望の速度で移動し始める。これによりレバー14が図1、図2に一点鎖線で示す位置から時計方向へ回転し始め、レバー14を介して連結体18の直進運動をロックリング13の回転運動に変換する。
ロックリング13が回転し始めると、支承カムフォロア24が張り出し部161Aの薄肉部161Bと接触する。そして、エアシリンダ17のロッド171が縮み、バネ機構15のコイルスプリング151が伸びて連結体18を移動させ、連結体18のシャッタ183を検出器21が検出すると、エアシリンダ17が止まり、コイルスプリング151が最も伸びた状態になって連結体18に一定の押圧力を付与する。
この間に、レバー14は、図1、図2の一点鎖線で示す位置から実線で示す位置まで揺動する。このレバー14はロックリング13を回転させ、図7の(b)に示すように支承カムフォロア24が薄肉部161Bから第1、第2傾斜部161C、161Dに従って連続的に転動すると、図8の(b)に示すようにセンサ機構25のピン25Aは、張り出し部161Aの上面に接触し、スプリング25Bの弾力に抗してカードホルダ161が徐々に上昇し、最終的にカードホルダ161が図7の(a)、図8の(c)に示すように上昇端に達し、ロックリング13の支承カムフォロア24とインサートリング12のフランジ部12Bとでカードホルダ161を保持し、プローブカード16を固定する。プローブカード16をヘッドプレート11において固定されると、このプローブカード16を用いて半導体ウエハの電気的特性検査を実行することができる。
検査終了後、プローブカード16を交換のために取り外す場合には、エアシリンダ17が作動し、連結体18を介してバネ機構15のコイルスプリング151を圧縮させると、ロックリング13が連結体18及びレバー14を介して上述の場合とは逆向きに回転する。そして、エアシリンダ17のロッド171がバネ機構15に圧縮力を付与しながら伸び、最も伸びた時点で連結体18がストッパ20によって止まる。この間に、ロックリング13の支承カムフォロア24がカードホルダ161の第2傾斜面161E、第2傾斜面161D及び薄肉部161Bを経由してロックリング13から外れ、待機している搬送機構上にプローブカード16が載置される。
以上説明したように本実施形態によれば、バネ機構15から連結体18に押圧力を付与してロックリング13をプローブカード16の固定位置まで回転させ、その位置をバネ機構15のバネ力で保持するようにしたため、バネ機構15による常に一定のバネ力でプローブカード16を確実にインサートリング12へ固定することができる。また、ロックリング13の駆動手段は、バネ機構15とエアシリンダ17によって構成されているため、コンパクトな構造で低コストであり、バネ機構15によってプローブカード16を常に一定の固定力で確実に固定することができる。また、プローブカード16の固定力を変更する場合には、バネ機構15のコイルスプリング151を取り替えるか、レバー14を取り替えることによって簡単に変更することができる。
また、本実施形態によれば、連結体18をバネ機構15の伸縮方向に移動案内するリニアガイド19を設けたため、バネ機構15から連結体18へ安定した直線運動を付与することができ、レバー14の揺動動作を安定化することができ、延いてはロックリング13の円滑に回転させることができる。また、連結体18にシャッタ183を設けると共にリニアガイド19の一端にシャッタ183を検出する検出器21を設けたため、ロックリング13でプローブカード16を固定した時点でエアシリンダ17を確実に止めることができる。更に、バネ機構15は、コイルスプリング151と、このコイルスプリング151を貫通し且つ連結体18に連結されたシャフト152と、このシャフト152が貫通し且つコイルスプリング151を保持するホルダ153と、を有するため、コイルスプリング151を円滑に伸縮させることができる。また、コイルスプリング151は、第1、第2のコイルスプリング154、155からなるため、バネ力をきめ細かく設定することができる。
また、本実施形態によれば、エアシリンダはスピードコントローラを有するため、スピードコントローラにより駆動エアの排気速度を適宜制御してバネ機構15の押圧力を制御しながらロックリング13を回転させてプローブカード16を円滑に固定することができる。
尚、本発明は上記実施形態に何等制限されるものではなく、各構成要素を必要に応じて適宜設計変更することができる。例えば、上記実施形態ではカードホルダ161を有するプローブカード16について説明したが、カードホルダがなくプローブカードを直接固定するタイプのものであっても良い。また、押圧機構としてエアシリンダ等のシリンダ機構を用いることが好ましいが、押圧機構はバネ機構の押圧力を適宜調整できるものであればシリンダ機構以外のものであっても良い。
本発明は、プローブ装置に好適に利用することができる。
本発明のプローブカードの固定機構の一実施形態の要部である駆動手段を示す断面図である。 図1に示す駆動手段を拡大して示す断面図である。 図1に示すプローブカードの固定機構の全体構造を示す断面図である。 (a)、(b)はそれぞれ図3に示すインサートリングを示す図で、(a)はその下面側の平面図、(b)はその断面図である。 (a)、(b)はそれぞれインサートリングとロックリングとの関係を示す要部断面図で、(a)はインサートリングの第1カムフォロアとロックリングの関係を示す断面図、(b)はインサートリングの第2カムフォロアとロックリングの関係を示す断面図である。 (a)、(b)はそれぞれ図3に示すロックリングを示す図で、(a)はその下面側の平面図、(b)はそのB-B線方向の断面図である。 (a)、(b)はそれぞれ図3に示す固定機構とカードホルダとの関係を示す図で、(a)はその要部断面図、(b)はカードホルダの張り出し部と支承カムフォロアとの関係を示す説明図である。 (a)〜(c)はそれぞれ固定機構でプローブカードを固定する工程を示す図である。 インサートリングの第2位置決めピンとカードホルダの関係を示す断面図である。 (a)〜(c)はそれぞれカードホルダとインサートリングの関係を示す断面図で、(a)はインサートリングの逃げ孔に回転止めピンが嵌入する状態を示す断面図、(b)はインサートリングの逃げ孔に回転止めピンが嵌入した状態を示す断面図、(c)は(a)、(b)に示す回転止めピンに隣接するカムフォロアの部分を示す断面図である。 プローブ装置の一例の要部を破断して示す正面図である。
符号の説明
10 固定機構
11 インサートリング
12 ロックリング
14 レバー
15 バネ機構
16 プローブカード
17 エアシリンダ(押圧機構)
19 リニアガイド(ガイド部材)
21 検出器
151 コイルスプリング
152 シャフト
153 ホルダ
154 第1のコイルスプリング
155 第2のコイルスプリング
161 カードホルダ
183 シャッタ

Claims (13)

  1. プローブ装置のヘッドプレートの開口部に固定されたインサートリングと、このインサートリングによって回転可能に支持されたロックリングと、このロックリングから径方向に延設されたレバーと、このレバーの延設端部に連結され且つ上記ヘッドプレートに設けられた駆動手段と、を備え、上記駆動手段により上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させてプローブカードを持ち上げることにより、上記ロックリングと上記インサートリングとで上記プローブカードを保持して上記プローブカードを固定する機構であって、上記駆動手段は、上記レバーに押圧力を付与するバネ機構と、このバネ機構に連結され且つこのバネ機構を伸縮させる押圧機構と、を備え、上記押圧機構が上記バネ機構の圧縮力を解除した時に上記バネ機構から上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させることを特徴とするプローブカードの固定機構。
  2. 上記バネ機構と上記押圧機構を連結体によって連結すると共に、上記連結体を上記バネ機構の伸縮方向に移動案内するガイド部材を設けたことを特徴とする請求項1に記載のプローブカードの固定機構。
  3. 上記連結体にシャッタを設けると共に上記ガイド部材の近傍に上記シャッタを検出する検出器を設け、上記検出器により上記シャッタを検出した時に上記押圧機構を停止させて上記バネ機構により上記プローブカードを固定することを特徴とする請求項2に記載のプローブカードの固定機構。
  4. 上記バネ機構は、コイルスプリングと、このコイルスプリングを貫通し且つ上記連結体に連結されたシャフトと、このシャフトが貫通し且つ上記コイルスプリングを保持するホルダと、を有することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のプローブカードの固定機構。
  5. 上記コイルスプリングは、第1、第2のコイルスプリングからなることを特徴とする請求項4に記載のプローブカードの固定機構。
  6. 上記押圧機構は、シリンダ機構からなることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のプローブカードの固定機構。
  7. 上記シリンダ機構は、排気速度の制御機能を有するエアシリンダからなることを特徴とする請求項6に記載のプローブカードの固定機構。
  8. 上記プローブカードは、カードホルダを有することを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のプローブカードの固定機構。
  9. プローブ装置のヘッドプレートの開口部に固定されたインサートリングと、このインサートリングによって回転可能に支持されたロックリングと、このロックリングから径方向に延設されたレバーと、このレバーの延設端部に連結された駆動手段と、を備え、上記駆動手段により上記レバーに押圧力を付与して上記ロックリングを回転させてプローブカードを持ち上げることにより、上記ロックリングと上記インサートリングとで上記プローブカードを保持して上記プローブカードを固定する方法であって、上記駆動手段としてバネ機構とこのバネ機構に圧縮力を付与する押圧機構を用いて上記プローブカードを固定する時に、上記押圧機構により上記バネ機構の圧縮力を解除する工程と、上記バネ機構の圧縮力の解除により上記バネ機構から上記レバーに押圧力を付与する工程と、を有することを特徴とするプローブカードの固定方法。
  10. 上記押圧機構として、シリンダ機構を用いることを特徴とする請求項9に記載のプローブカードの固定方法。
  11. 上記シリンダ機構として、排気速度の制御機能を有するエアシリンダを用いることを特徴とする請求項10に記載のプローブカードの固定方法。
  12. 上記プローブカードを、カードホルダを介して固定することを特徴とする請求項9〜請求項11のいずれか1項に記載のプローブカードの固定方法。
  13. 被検査体を載置する移動可能な載置台と、この載置台の上方に配置された且つ上記被検査体と電気的に接触する複数のプローブを有するプローブカードと、このプローブカードを上記載置台の上方で固定する固定機構と、を備えたプローブ装置において、上記固定機構は、請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載のプローブカードの固定機構によって構成されていることを特徴とするプローブ装置。
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KR1020070071620A KR100859026B1 (ko) 2006-07-19 2007-07-18 프로브 카드의 고정 기구, 프로브 카드의 고정 방법 및프로브 장치

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011002239A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Fujikura Ltd 磁界プローバ
KR101783176B1 (ko) 2012-11-22 2017-09-28 재팬 일렉트로닉 메트리얼스 코오포레이숀 프로브 카드 케이스 및 프로브 카드의 반송 방법
CN108855966A (zh) * 2018-06-12 2018-11-23 浙江捷仕泰电子有限公司 一种压针机检针机构
CN110618298A (zh) * 2019-09-20 2019-12-27 深圳市矽电半导体设备有限公司 一种抵紧固定结构、探针台及压紧针卡固定板的方法
CN117406081A (zh) * 2023-12-11 2024-01-16 武汉市富仁空调设备有限公司 一种基于空调面板加工的传送式检测装置及检测方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011064659A (ja) * 2009-09-21 2011-03-31 Tokyo Electron Ltd プローブカードのクランプ機構及び検査装置
CN102859370B (zh) * 2010-04-19 2014-10-29 日本电产理德株式会社 检查用探针及检查用夹具
JP5316964B2 (ja) * 2010-11-15 2013-10-16 ワイアイケー株式会社 半導体試験装置のベースユニット
KR101248135B1 (ko) * 2011-12-23 2013-04-01 양 전자시스템 주식회사 에어 베어링을 이용한 프로브 검사장치
WO2014186289A2 (en) 2013-05-14 2014-11-20 Formfactor Automated attaching and detaching of an interchangeable probe head
TWI651539B (zh) * 2014-03-10 2019-02-21 美商瓊斯科技國際公司 晶圓級積體電路探針陣列及建構方法
KR102566685B1 (ko) 2016-07-18 2023-08-14 삼성전자주식회사 프로브 카드용 클램핑 장치 및 이를 포함하는 프로브 카드
CN108089116B (zh) * 2017-12-01 2020-04-14 上海华岭集成电路技术股份有限公司 一种可旋转的探针卡
CN108490335B (zh) * 2018-03-10 2019-01-18 江苏鼎驰电子科技有限公司 一种集成电路测试设备
JP7138004B2 (ja) * 2018-09-28 2022-09-15 株式会社日本マイクロニクス プローブカード保持具
KR20200050563A (ko) 2018-11-02 2020-05-12 세메스 주식회사 카드 홀더 및 이를 포함하는 프로브 스테이션
CN112986801B (zh) * 2021-03-09 2021-10-08 深圳市东方宇之光科技股份有限公司 一种飞针测试机用飞针座快速固定机构
CN113466501B (zh) * 2021-08-04 2024-01-02 深圳市森美协尔科技有限公司 一种探针卡安装系统及探针卡安装方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000150596A (ja) * 1998-11-10 2000-05-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd プローバ

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07107909B2 (ja) * 1987-12-23 1995-11-15 東京エレクトロン株式会社 ウエハプローバ
JP2613438B2 (ja) * 1988-06-27 1997-05-28 東京エレクトロン株式会社 プローブ装置
JPH03199630A (ja) * 1989-12-25 1991-08-30 Nippondenso Co Ltd デイーゼル機関の燃料噴射時期調整装置における進角装置
KR100212169B1 (ko) * 1996-02-13 1999-08-02 오쿠보 마사오 프로브, 프로브의 제조, 그리고 프로브를 사용한 수직동작형 프로브 카드 어셈블리
JPH10308424A (ja) 1997-05-08 1998-11-17 Tokyo Electron Ltd プローブカードクランプ機構及びプローブ装置
KR100285606B1 (ko) * 1999-03-12 2001-03-15 이건환 웨이퍼 프로버의 카드체인저
KR100384550B1 (ko) 2000-06-26 2003-05-22 (주) 쎄믹스 웨이퍼 프로버의 프로버 카드 교환 장치
CN2711898Y (zh) * 2004-07-22 2005-07-20 美亚国际电子股份有限公司 高频悬臂式探针卡

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000150596A (ja) * 1998-11-10 2000-05-30 Tokyo Seimitsu Co Ltd プローバ

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011002239A (ja) * 2009-06-16 2011-01-06 Fujikura Ltd 磁界プローバ
KR101783176B1 (ko) 2012-11-22 2017-09-28 재팬 일렉트로닉 메트리얼스 코오포레이숀 프로브 카드 케이스 및 프로브 카드의 반송 방법
CN108855966A (zh) * 2018-06-12 2018-11-23 浙江捷仕泰电子有限公司 一种压针机检针机构
CN108855966B (zh) * 2018-06-12 2023-10-27 浙江捷仕泰电子有限公司 一种压针机检针机构
CN110618298A (zh) * 2019-09-20 2019-12-27 深圳市矽电半导体设备有限公司 一种抵紧固定结构、探针台及压紧针卡固定板的方法
CN117406081A (zh) * 2023-12-11 2024-01-16 武汉市富仁空调设备有限公司 一种基于空调面板加工的传送式检测装置及检测方法
CN117406081B (zh) * 2023-12-11 2024-03-08 武汉市富仁空调设备有限公司 一种基于空调面板加工的传送式检测装置及检测方法

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