KR100859026B1 - 프로브 카드의 고정 기구, 프로브 카드의 고정 방법 및프로브 장치 - Google Patents
프로브 카드의 고정 기구, 프로브 카드의 고정 방법 및프로브 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100859026B1 KR100859026B1 KR1020070071620A KR20070071620A KR100859026B1 KR 100859026 B1 KR100859026 B1 KR 100859026B1 KR 1020070071620 A KR1020070071620 A KR 1020070071620A KR 20070071620 A KR20070071620 A KR 20070071620A KR 100859026 B1 KR100859026 B1 KR 100859026B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- probe card
- spring
- lock ring
- ring
- lever
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
Abstract
Description
Claims (13)
- 프로브 장치의 헤드 플레이트의 개구부에 고정된 인서트 링과, 상기 인서트 링에 의해서 회전 가능하게 지지된 로크 링(lock ring)과, 상기 로크 링으로부터 지름 방향으로 연설된 레버와, 상기 레버의 연설 단부에 연결되고 또한 상기 헤드 플레이트에 설치된 구동 수단을 구비하며, 상기 구동 수단에 의하여 상기 레버에 가압력을 부여하여 상기 로크 링을 회전시켜서 프로브 카드를 들어올림으로써, 상기 로크 링과 상기 인서트 링으로 상기 프로브 카드를 보유유지하여 상기 프로브 카드를 고정하는 기구에 있어서,상기 구동 수단은 상기 레버에 가압력을 부여하는 스프링 기구와, 상기 스프링 기구에 연결되고 또한 상기 스프링 기구를 신축시키는 가압 기구를 구비하며, 상기 가압 기구가 상기 스프링 기구의 압축력을 해제하였을 때에 상기 스프링 기구로부터 상기 레버에 가압력을 부여하여 상기 로크 링을 회전시키는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 1 항에 있어서,상기 스프링 기구와 상기 가압 기구를 연결체에 의해서 연결하는 동시에, 상기 연결체를 상기 스프링 기구의 신축 방향으로 이동 안내하는 가이드 부재를 설치한 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 2 항에 있어서,상기 연결체에 셔터를 설치하는 동시에 상기 가이드 부재의 근방에 상기 셔터를 검출하는 검출기를 설치하고, 상기 검출기에 의하여 상기 셔터를 검출하였을 때에 상기 가압 기구를 정지시켜서 상기 스프링 기구에 의하여 상기 프로브 카드를 고정하는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 스프링 기구는 코일 스프링과, 이 코일 스프링을 관통하고 또한 상기 연결체에 연결된 샤프트와, 이 샤프트가 관통하고 또한 상기 코일 스프링을 보유유지하는 홀더를 갖는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 4 항에 있어서,상기 코일 스프링은 제 1 및 제 2 코일 스프링으로 이루어지는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 가압 기구는 실린더 기구로 이루어지는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 6 항에 있어서,상기 실린더 기구는 배기 속도의 제어 기능을 갖는 에어 실린더로 이루어지는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 프로브 카드는 카드 홀더를 갖는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 기구.
- 프로브 장치의 헤드 플레이트의 개구부에 고정된 인서트 링과, 상기 인서트 링에 의해서 회전가능하게 지지된 로크 링과, 상기 로크 링으로부터 지름 방향으로 연설된 레버와, 상기 레버의 연설 단부에 연결된 구동 수단을 구비하며, 상기 구동 수단에 의하여 상기 레버에 가압력을 부여하여 상기 로크 링을 회전시켜서 프로브 카드를 들어올림으로써, 상기 로크 링과 상기 인서트 링으로 상기 프로브 카드를 보유유지하여 상기 프로브 카드를 고정하는 방법에 있어서,상기 구동 수단으로서 스프링 기구와 상기 스프링 기구에 압축력을 부여하는 가압 기구를 이용하여 상기 프로브 카드를 고정할 때에, 상기 가압 기구에 의하여 상기 스프링 기구의 압축력을 해제하는 공정과, 상기 스프링 기구의 압축력의 해제에 의하여 상기 스프링 기구로부터 상기 레버에 가압력을 부여하는 공정을 갖는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 방법.
- 제 9 항에 있어서,상기 가압 기구로서 실린더 기구를 이용하는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 방법.
- 제 10 항에 있어서,상기 실린더 기구로서 배기 속도의 제어 기능을 갖는 에어 실린더를 이용하는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 방법.
- 제 9 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 프로브 카드를 카드 홀더를 개재하여 고정하는 것을 특징으로 하는프로브 카드의 고정 방법.
- 피검사체를 탑재하는 이동 가능한 탑재대와, 상기 탑재대의 위쪽에 배치되고 또한 상기 피검사체와 전기적으로 접촉하는 복수의 프로브를 갖는 프로브 카드와, 상기 프로브 카드를 상기 탑재대의 위쪽에서 고정하는 고정 기구를 구비한 프로브 장치에 있어서,상기 고정 기구는 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 프로브 카드의 고정 기구에 의해서 구성되어 있는 것을 특징으로 하는프로브 장치.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006196434A JP5099874B2 (ja) | 2006-07-19 | 2006-07-19 | プローブカードの固定機構、プローブカードの固定方法及びプローブ装置 |
JPJP-P-2006-00196434 | 2006-07-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080008271A KR20080008271A (ko) | 2008-01-23 |
KR100859026B1 true KR100859026B1 (ko) | 2008-09-17 |
Family
ID=39041926
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070071620A KR100859026B1 (ko) | 2006-07-19 | 2007-07-18 | 프로브 카드의 고정 기구, 프로브 카드의 고정 방법 및프로브 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5099874B2 (ko) |
KR (1) | KR100859026B1 (ko) |
CN (1) | CN100561233C (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101248135B1 (ko) * | 2011-12-23 | 2013-04-01 | 양 전자시스템 주식회사 | 에어 베어링을 이용한 프로브 검사장치 |
KR20180057351A (ko) | 2016-11-22 | 2018-05-30 | 세메스 주식회사 | 프로브 스테이션 |
KR20200050563A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-12 | 세메스 주식회사 | 카드 홀더 및 이를 포함하는 프로브 스테이션 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011002239A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Fujikura Ltd | 磁界プローバ |
JP2011064659A (ja) * | 2009-09-21 | 2011-03-31 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードのクランプ機構及び検査装置 |
JP5776687B2 (ja) * | 2010-04-19 | 2015-09-09 | 日本電産リード株式会社 | 検査用接触子及び検査用治具 |
JP5316964B2 (ja) * | 2010-11-15 | 2013-10-16 | ワイアイケー株式会社 | 半導体試験装置のベースユニット |
JP6054150B2 (ja) | 2012-11-22 | 2016-12-27 | 日本電子材料株式会社 | プローブカードケース及びプローブカードの搬送方法 |
JP6488281B2 (ja) | 2013-05-14 | 2019-03-20 | フォームファクター, インコーポレイテッド | 交換可能プローブヘッドの自動取り付け及び取り外し |
TWI651539B (zh) * | 2014-03-10 | 2019-02-21 | 美商瓊斯科技國際公司 | 晶圓級積體電路探針陣列及建構方法 |
KR102566685B1 (ko) | 2016-07-18 | 2023-08-14 | 삼성전자주식회사 | 프로브 카드용 클램핑 장치 및 이를 포함하는 프로브 카드 |
CN108089116B (zh) * | 2017-12-01 | 2020-04-14 | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 | 一种可旋转的探针卡 |
CN108490335B (zh) * | 2018-03-10 | 2019-01-18 | 江苏鼎驰电子科技有限公司 | 一种集成电路测试设备 |
CN108855966B (zh) * | 2018-06-12 | 2023-10-27 | 浙江捷仕泰电子有限公司 | 一种压针机检针机构 |
JP7138004B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2022-09-15 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブカード保持具 |
CN110618298A (zh) * | 2019-09-20 | 2019-12-27 | 深圳市矽电半导体设备有限公司 | 一种抵紧固定结构、探针台及压紧针卡固定板的方法 |
CN112986801B (zh) * | 2021-03-09 | 2021-10-08 | 深圳市东方宇之光科技股份有限公司 | 一种飞针测试机用飞针座快速固定机构 |
CN113466501B (zh) * | 2021-08-04 | 2024-01-02 | 深圳市森美协尔科技有限公司 | 一种探针卡安装系统及探针卡安装方法 |
CN117406081B (zh) * | 2023-12-11 | 2024-03-08 | 武汉市富仁空调设备有限公司 | 一种基于空调面板加工的传送式检测装置及检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01264235A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-10-20 | Tokyo Electron Ltd | ウエハプローバ |
JPH029145A (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-12 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置 |
JPH03199630A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-30 | Nippondenso Co Ltd | デイーゼル機関の燃料噴射時期調整装置における進角装置 |
JPH10308424A (ja) | 1997-05-08 | 1998-11-17 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードクランプ機構及びプローブ装置 |
KR20000060216A (ko) * | 1999-03-12 | 2000-10-16 | 이건환 | 웨이퍼 프로버의 카드체인저 |
KR100384550B1 (ko) | 2000-06-26 | 2003-05-22 | (주) 쎄믹스 | 웨이퍼 프로버의 프로버 카드 교환 장치 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100212169B1 (ko) * | 1996-02-13 | 1999-08-02 | 오쿠보 마사오 | 프로브, 프로브의 제조, 그리고 프로브를 사용한 수직동작형 프로브 카드 어셈블리 |
JP2000150596A (ja) * | 1998-11-10 | 2000-05-30 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | プローバ |
CN2711898Y (zh) * | 2004-07-22 | 2005-07-20 | 美亚国际电子股份有限公司 | 高频悬臂式探针卡 |
-
2006
- 2006-07-19 JP JP2006196434A patent/JP5099874B2/ja active Active
-
2007
- 2007-05-25 CN CNB2007101055251A patent/CN100561233C/zh active Active
- 2007-07-18 KR KR1020070071620A patent/KR100859026B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01264235A (ja) * | 1987-12-23 | 1989-10-20 | Tokyo Electron Ltd | ウエハプローバ |
JPH029145A (ja) * | 1988-06-27 | 1990-01-12 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置 |
JPH03199630A (ja) * | 1989-12-25 | 1991-08-30 | Nippondenso Co Ltd | デイーゼル機関の燃料噴射時期調整装置における進角装置 |
JPH10308424A (ja) | 1997-05-08 | 1998-11-17 | Tokyo Electron Ltd | プローブカードクランプ機構及びプローブ装置 |
KR20000060216A (ko) * | 1999-03-12 | 2000-10-16 | 이건환 | 웨이퍼 프로버의 카드체인저 |
KR100384550B1 (ko) | 2000-06-26 | 2003-05-22 | (주) 쎄믹스 | 웨이퍼 프로버의 프로버 카드 교환 장치 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101248135B1 (ko) * | 2011-12-23 | 2013-04-01 | 양 전자시스템 주식회사 | 에어 베어링을 이용한 프로브 검사장치 |
KR20180057351A (ko) | 2016-11-22 | 2018-05-30 | 세메스 주식회사 | 프로브 스테이션 |
KR20200050563A (ko) | 2018-11-02 | 2020-05-12 | 세메스 주식회사 | 카드 홀더 및 이를 포함하는 프로브 스테이션 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080008271A (ko) | 2008-01-23 |
JP2008026047A (ja) | 2008-02-07 |
CN101109766A (zh) | 2008-01-23 |
JP5099874B2 (ja) | 2012-12-19 |
CN100561233C (zh) | 2009-11-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100859026B1 (ko) | 프로브 카드의 고정 기구, 프로브 카드의 고정 방법 및프로브 장치 | |
KR100845349B1 (ko) | 복수종의 테스터에 대응 가능한 프로브 장치 | |
US7800387B2 (en) | Method for detecting tips of probes, alignment method and storage medium storing the methods, and probe apparatus | |
JP4625387B2 (ja) | プローブカードのクランプ機構及びプローブ装置 | |
JP4102884B2 (ja) | プローブカードの調整機構及びプローブ装置 | |
US7855568B2 (en) | Probe apparatus with mechanism for achieving a predetermined contact load | |
KR101115548B1 (ko) | 프로브카드의 평행도 조정기구 | |
KR101823118B1 (ko) | 피스톤핀 검사장치 및 이를 포함하는 피스톤핀 조립시스템 | |
KR101663004B1 (ko) | 프로버 및 프로브 카드의 니들 선단 연마 장치 | |
JPH0735777A (ja) | 検査装置および検査装置における接続方法 | |
JP2000150596A (ja) | プローバ | |
US11674980B2 (en) | Low-profile gimbal platform for high-resolution in situ co-planarity adjustment | |
KR101027739B1 (ko) | 전자부품의 실장 장치 | |
KR100451964B1 (ko) | 캐리어위치 어긋남 검출기구 | |
JPH09330960A (ja) | 検査装置 | |
JP4246010B2 (ja) | 検査装置 | |
US7057408B2 (en) | Method and prober for contacting a contact area with a contact tip | |
US8113084B2 (en) | Mounting device | |
KR0144231B1 (ko) | 웨이퍼 프로브 스테이션의 프로브 카드 고정장치 | |
KR20190074737A (ko) | 시편 고정 장치 | |
JP2006133057A (ja) | Icハンドラー装置 | |
JP2002166330A (ja) | 位置決め装置 | |
KR102366593B1 (ko) | 셀프얼라인 검사소켓 | |
KR20020007028A (ko) | Pcb용 납땜검사장치 | |
JPH04326742A (ja) | Icハンドラのソケット位置決め方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120821 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130822 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150819 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160818 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170822 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180903 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190903 Year of fee payment: 12 |