JP2007322141A - 半導体集積回路試験装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】試験時間を短縮し、スループットの向上を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供する。
【解決手段】複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験装置であって、前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行う判定手段と、各被試験対象デバイスのピンに対応して、前記判定手段によるパス/フェイル判定結果を個別に記憶する判定結果記憶手段と、前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示する判定結果書込制御手段とを具備する。
【選択図】図1
【解決手段】複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験装置であって、前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行う判定手段と、各被試験対象デバイスのピンに対応して、前記判定手段によるパス/フェイル判定結果を個別に記憶する判定結果記憶手段と、前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示する判定結果書込制御手段とを具備する。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体集積回路試験装置及び方法に関し、特にメモリICの試験を行う際に用いる半導体集積回路試験装置及び方法に関する。
周知のように、半導体集積回路試験装置(いわゆるメモリテスタやICテスタ)は、被試験対象デバイスとしての半導体集積回路に試験パターンを印加して得られる信号と予め定められている期待値とが一致している(パス)か否か(フェイル)を判定することにより、半導体集積回路の良品又は不良品を試験するものである。半導体集積回路の試験においては、試験効率を向上させるために並列して複数の半導体集積回路に対する試験が行われる。
複数の半導体集積回路を並列して試験するには、複数の半導体集積回路各々に対して同一の試験パターンを分配して同時に印加し、各々の半導体集積回路から得られる信号と予め定められた期待値を各半導体集積回路毎に比較し、この比較結果に応じてパス・フェイルを判定して、半導体集積回路各々の良品又は不良品を試験している。このように、被試験対象の半導体集積回路の並列数を増加させるほど、試験効率の向上を図ることができる。
図6は、従来の半導体集積回路試験装置の構成ブロック図である。この図に示すように、半導体集積回路試験装置は、CPU(Central Processing Unit)1、パターン発生器2、フォーマッタ3、アドレス発生器4、判定回路5〜10、フェイルデータログ回路11及び12、OR回路13、AND回路14、アドレス書込制御部15、アドレスメモリ16から構成されている。
この半導体集積回路試験装置は、複数(n個)の被試験対象メモリ(以下、DUTと称す)20a〜20nの良否判定試験を行なうものである。これらDUT20a〜20nは、図示しないDUTボードを介して半導体集積回路試験装置と接続されている。なお、以下では説明の簡略化のため、データ入力ピン及びデータ出力ピンを2ピンずつ備えるDUTを想定して説明する。
CPU1は、所定の制御プログラムに基づいて、半導体集積回路試験装置の全体動作を制御するものである。パターン発生器2は、CPU1による制御の下、DUT20a〜20nへの試験パターン信号を生成し、フォーマッタ3に出力する。フォーマッタ3は、上記試験パターン信号を例えばRZ(Return to Zero)信号、またはNRZ(Non Return to Zero)信号に波形整形し、当該波形整形後の試験パターン信号をDUT20a〜20nのデータ入力ピンに出力する。アドレス発生器4は、CPU1による制御の下、試験パターン信号の記憶先アドレスを生成し、当該記憶先アドレスを示すアドレス信号をフォーマッタ3及びアドレスメモリ16のデータ入力ピンに出力する。また、フォーマッタ3は、上記アドレス発生器4から入力されるアドレス信号を波形整形してDUT20a〜20nのアドレス入力ピンに出力する。
DUT20a〜20nは、上記アドレス発生器4により指定されたアドレスに試験パターン信号を記憶する一方、当該試験パターンに応じたデータ信号をデータ出力ピンから出力する。
判定回路5〜10は、DUT20a〜20nのデータ出力ピンに1対1に対応して設けられており、各データ出力ピンから出力されるデータ信号と予め定められた期待値とを比較し、データ信号のパス/フェイル判定を行なう。より具体的には、判定回路5は、アナログコンパレータ5a及びデジタルコンパレータ5bから構成されている。アナログコンパレータ5aは、DUT20aのデータ出力ピンPo1から出力されるデータ信号と所定の基準電圧との比較を行い、当該比較結果を示す2値信号(Hi信号またはLo信号)をデジタルコンパレータ5bに出力する。デジタルコンパレータ5bは、上記2値信号と期待値との比較によってパス/フェイル判定を行い、「パス」の場合Lo信号を、また「フェイル」の場合Hi信号を判定結果信号としてフェイルデータログ回路11に出力する。一方、判定回路6は、判定回路5と同様にアナログコンパレータ6a及びデジタルコンパレータ6bから構成され、DUT20aのデータ出力ピンPo2から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定を行い、判定結果信号をフェイルデータログ回路12に出力する。
同じく判定回路7は、アナログコンパレータ7a及びデジタルコンパレータ7bから構成され、DUT20bのデータ出力ピンPo1から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定を行い、判定結果信号をフェイルデータログ回路11に出力する。また、判定回路8は、アナログコンパレータ8a及びデジタルコンパレータ8bから構成され、DUT20bのデータ出力ピンPo2から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定を行い、判定結果信号をフェイルデータログ回路12に出力する。
さらに、判定回路9は、アナログコンパレータ9a及びデジタルコンパレータ9bから構成され、DUT20nのデータ出力ピンPo1から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定を行ない、判定結果信号をフェイルデータログ回路11に出力する。また、判定回路10は、アナログコンパレータ10a及びデジタルコンパレータ10bから構成され、DUT20nのデータ出力ピンPo2から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定を行い、判定結果信号をフェイルデータログ回路12に出力する。
このように、各DUT20a〜20nのデータ出力ピンPo1から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定結果はフェイルデータログ回路11に出力され、データ出力ピンPo2から出力されるデータ信号のパス/フェイル判定結果はフェイルデータログ回路12に出力される。つまり、フェイルデータログ回路は、DUTのデータ出力ピン数と同数分だけ設けられている。
フェイルデータログ回路11は、セレクタ11a、フェイルデータメモリ11b及びフェイルデータ書込制御部11cから構成されている。セレクタ11aは、CPU1の制御の下、判定回路5、7、9から入力される判定結果信号(Hi信号またはLo信号)のいずれかを選択的にフェイルデータメモリ11b及びOR回路13に出力する。フェイルデータメモリ11bは、フェイルデータ書込制御部11cの制御の下、上記セレクタ11aから入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ11bは、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部11cは、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ11bの書込制御を行なう。より具体的には、フェイルデータ書込制御部11cは、AND回路14からHi信号が出力された場合に、フェイルデータメモリ11bに対してWE(ライトイネーブル)信号を出力する。また、このフェイルデータ書込制御部11cは、アドレスポインタ機能を有しており、フェイルデータメモリ11bに記憶するパス/フェイル判定結果の書込アドレスを指定する。
同様に、フェイルデータログ回路12は、セレクタ12a、フェイルデータメモリ12b及びフェイルデータ書込制御部12cから構成されている。セレクタ12aは、CPU1の制御の下、判定回路6、8、10から入力される判定結果信号(Hi信号またはLo信号)のいずれかを選択的にフェイルデータメモリ12b及びOR回路13に出力する。フェイルデータメモリ12bは、フェイルデータ書込制御部12cの制御の下、上記セレクタ12aから入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ12bは、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部12cは、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ12bの書込制御を行なう。より具体的には、フェイルデータ書込制御部12cは、AND回路14からHi信号が出力された場合に、フェイルデータメモリ12bに対してWE(ライトイネーブル)信号を出力する。また、このフェイルデータ書込制御部12cは、アドレスポインタ機能を有しており、フェイルデータメモリ12bに記憶するパス/フェイル判定結果の書込アドレスを指定する。
OR回路13は、上記セレクタ11a及び12aから入力される判定結果信号のOR処理を行い、その処理結果を示す信号をAND回路14に出力する。AND回路14は、図示しないクロック信号発生器から入力される所定のクロック信号と、上記OR回路13から入力される信号とのAND処理を行い、その処理結果を示す信号をアドレス書込制御部15、フェイルデータ書込制御部11c及び12cに出力する。
アドレス書込制御部15は、AND回路14の出力信号に基づいて、アドレスメモリ16の書込制御を行なう。より具体的には、アドレス書込制御部15は、AND回路14からHi信号が出力された場合に、アドレスメモリ16に対してWE(ライトイネーブル)信号を出力する。また、このアドレス書込制御部15は、アドレスポインタ機能を有しており、アドレスメモリ16に記憶すべきアドレス(つまりDUTにおいて試験パターンが記憶されているアドレス)の書込アドレスを指定する。アドレスメモリ16は、上記アドレス書込制御部15の制御の下、アドレス発生器4から入力されるアドレス信号(つまりDUTにおいて試験パターンが記憶されているアドレス)を記憶する。また、このアドレスメモリ16は、CPU1の制御の下、記憶しているアドレスをCPU1に出力する。
次に、このように構成された従来の半導体集積回路試験装置の動作について説明する。
まず、CPU1は、パターン発生器2及びアドレス発生器4を制御して、試験パターン
及び当該試験パターンの記憶先アドレスの生成を指示する。パターン発生器3は、生成した試験パターン信号をフォーマッタ3を介してDUT20a〜20nのデータ入力ピンに出力する。一方、アドレス発生器4は、生成したアドレス信号をフォーマッタ3を介してDUT20a〜20nのアドレス入力ピンに出力する。DUT20a〜20nは、指定されたアドレスに試験パターンを記憶する。このような一連の動作が繰り返されることにより、DUT20a〜20nの全アドレスに試験パターンが記憶される。
まず、CPU1は、パターン発生器2及びアドレス発生器4を制御して、試験パターン
及び当該試験パターンの記憶先アドレスの生成を指示する。パターン発生器3は、生成した試験パターン信号をフォーマッタ3を介してDUT20a〜20nのデータ入力ピンに出力する。一方、アドレス発生器4は、生成したアドレス信号をフォーマッタ3を介してDUT20a〜20nのアドレス入力ピンに出力する。DUT20a〜20nは、指定されたアドレスに試験パターンを記憶する。このような一連の動作が繰り返されることにより、DUT20a〜20nの全アドレスに試験パターンが記憶される。
次に、CPU1は、アドレス発生器4を制御してアドレス(読出アドレス)の生成を指示する。アドレス発生器4は、生成した読出アドレスを示すアドレス信号をアドレスメモリ16、及びフォーマッタ3を介してDUT20a〜20nのアドレス入力ピンに出力する。
DUT20a〜20nは、指定された読出アドレスに記憶されている試験パターンに応じたデータ信号をデータ出力ピンPo1及びPo2からそれぞれ出力する。そして、判定回路5〜10によって、各データ信号のパス/フェイル判定が行われる。ここで、CPU1は、セレクタ11a及び12aに対してDUT20aの判定結果信号を選択するように指示する。つまり、セレクタ11aは、判定回路5から入力される判定結果信号を選択してフェイルデータメモリ11b及びOR回路13に出力し、また、セレクタ12aは、判定回路6から入力される判定結果信号を選択してフェイルデータメモリ12b及びOR回路13に出力する。
ここで、例えば、セレクタ11a及び12aから出力される判定結果信号がLo信号の場合(つまりDUT20aのデータ出力ピンPo1及びPo2から出力されたデータ信号が「パス」と判定された場合)、OR回路13の出力はLo信号となり、AND回路14の出力はLo信号となる。従って、この場合、フェイルデータ書込制御部11c及び12cとアドレス書込制御部15はWE信号を出力しないため、フェイルデータメモリ11b及び12bは、セレクタ11a及び12aから出力されるフェイル判定結果を記憶せず、また、アドレスメモリ16はアドレス発生器4から出力されるアドレスを記憶しない。
一方、セレクタ11a及び12aから出力される判定結果信号の内、一方もしくは両方がHi信号の場合(つまりDUT20aのデータ出力ピンPo1及びPo2から出力されたデータ信号の内、一方もしくは両方が「フェイル」と判定された場合)、OR回路13の出力はHi信号となり、AND回路14の出力はHi信号となる。従って、この場合、フェイルデータ書込制御部11c及び12cとアドレス書込制御部15はWE信号を出力するため、フェイルデータメモリ11b及び12bは、セレクタ11a及び12aから出力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス発生器4から出力されるアドレスを記憶する。
上記のような動作がDUT20aの全アドレスに対して行なわれ、その結果、フェイルデータメモリ11bには、DUT20aのデータ出力ピンPo1から出力されたデータ信号のパス/フェイル判定結果が記憶され、フェイルデータメモリ12bには、DUT20aのデータ出力ピンPo2から出力されたデータ信号のパス/フェイル判定結果が記憶され、また、アドレスメモリ16には、「フェイル」と判定されたアドレスが記憶される。図7は、フェイルデータメモリ11b及び12b、アドレスメモリ16に記憶されるデータ例を示すものである。なお、この図において、「1」は「フェイル」を示し、「0」は「パス」を示しており、また、アドレスX1、X2、X5のデータ信号は、データ出力ピンPo1及びPo2共に「パス」と判定され、各メモリにアドレス及びパス/フェイル判定結果が記憶されていない場合を示している。
そして、CPU1は、上記のようにDUT20aのパス/フェイル判定結果の集計が終了すると、各メモリに記憶されているデータを読出し、集計結果を表示装置(図示せず)に表示させたり、集計結果に基づいてDUT20aの良否判定を行い、その結果を表示させる。続いて、CPU1は、各メモリを初期化すると共に、セレクタ11a及び12aに対してDUT20bのパス/フェイル判定結果を選択するように指示し、上記と同様に、DUT20bについてのフェイル判定結果の集計処理を行う。以上のように、従来の半導体集積回路試験装置は、上述したパス/フェイル判定結果の集計処理をDUT20nまで繰り返すことにより、複数のDUTの良否判定試験を行なっている。なお、従来の半導体集積回路試験装置についての詳細は、例えば下記特許文献1を参照されたい。
特開2004−348892号公報
上記のように、従来の半導体集積回路試験装置では、複数のDUTの試験を行なう場合、パス/フェイル判定結果の集計処理をDUT毎に順次切り替えて行う必要があった。つまり、例えば、DUTを32個同時に試験する場合、上記集計処理に費やす時間が32倍に増大することになり、スループットの大幅な低下を招く原因となっていた。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、試験時間を短縮し、スループットの向上を図ることのできる半導体集積回路試験装置及びその方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第1の解決手段として、複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験装置であって、前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行う判定手段と、各被試験対象デバイスのピンに対応して、前記判定手段によるパス/フェイル判定結果を個別に記憶する判定結果記憶手段と、前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示する判定結果書込制御手段とを具備することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された回数を、各被試験対象デバイス毎にカウントするフェイル数カウンタをさらに備え、前記判定結果書込制御手段は、前記フェイル数カウンタによりカウントされた前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第3の解決手段として、上記第2の解決手段において、前記フェイル数カウンタにおける各被試験対象デバイスに対する前記回数のカウント結果の使用/不使用を選択する選択手段をさらに備え、前記判定結果書込制御手段は、前記選択手段によって「使用」と選択された被試験対象デバイスの前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイス、及び前記選択手段によって「不使用」と選択された被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第4の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記パス/フェイル判定が行われた出力データの被試験対象デバイスにおける記憶先アドレスを記憶するアドレス記憶手段と、前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記アドレス記憶手段に対して、パス/フェイル判定が行われた出力データの記憶先アドレスを記憶するように指示するアドレス書込制御手段とをさらに具備することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第5の解決手段として、上記第4の解決手段において、前記被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された回数を、各被試験対象デバイス毎にカウントするフェイル数カウンタをさらに備え、前記フェイル数カウンタによりカウントされた前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果書込制御手段は、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示すると共に、前記アドレス書込制御手段は、前記アドレス記憶手段に対して前記記憶先アドレスを記憶するように指示することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第6の解決手段として、上記第5の解決手段において、前記フェイル数カウンタにおける各被試験対象デバイスに対する前記回数のカウント結果の使用/不使用を選択する選択手段をさらに備え、前記選択手段によって「使用」と選択された前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイス、及び前記選択手段によって「不使用」と選択された被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果書込制御手段は、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示すると共に、前記アドレス書込制御手段は、前記アドレス記憶手段に対して前記記憶先アドレスを記憶するように指示することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第7の解決手段として、上記第1または第4のいずれかの解決手段において、前記判定結果書込制御手段は、各被試験対象デバイスの特定のピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする。
また、本発明では、半導体集積回路試験装置に係る第8の解決手段として、上記第2、第3、第5または第6のいずれかの解決手段において、前記フェイル数カウンタは、特定のピンから出力される出力データが「フェイル」と判定された回数をカウントすることを特徴とする。
一方、本発明では、半導体集積回路試験方法に係る第1の解決手段として、複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験方法であって、前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記出力ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行い、少なくとも1つの出力データが「フェイル」と判定された場合に、各被試験対象デバイスのピンに対応して個別にパス/フェイル判定結果を記憶することを特徴とする。
本発明によれば、複数の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データのパス/フェイル判定結果を、各被試験対象デバイスのピンに対応して個別に記憶する判定結果記憶手段を備えるため、各被試験対象デバイスのパス/フェイル判定結果を同時に記録することができ、その結果、試験時間を短縮し、スループットの向上を図ることが可能である。
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。図1は、本実施形態における半導体集積回路試験装置の構成ブロック図である。なお、この図において、図6と同一の構成要素については同一符号を付し、説明を省略する。
図1に示すように、本実施形態における半導体集積回路試験装置は、各判定回路5〜10に1対1に対応して設けられたフェイルデータメモリ30〜35と、これらフェイルデータメモリ30〜35の書込制御を行なうフェイルデータ書込制御部40〜45、OR回路50a〜50n、フェイル数制御部60a〜60nを新たに備えている。
フェイルデータメモリ30は、フェイルデータ書込制御部40の制御の下、判定回路5(具体的にはデジタルコンパレータ5b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ30は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部40は、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ30の書込制御を行なう。より具体的には、フェイルデータ書込制御部40は、AND回路14からHi信号が出力された場合に、フェイルデータメモリ30に対してWE(ライトイネーブル)信号を出力する。また、このフェイルデータ書込制御部40は、アドレスポインタ機能を有しており、フェイルデータメモリ30に記憶するパス/フェイル判定結果の書込アドレスを指定する。
フェイルデータメモリ31は、フェイルデータ書込制御部41の制御の下、判定回路6(具体的にはデジタルコンパレータ6b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ31は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部41は、上記フェイルデータ書込制御部40と同様に、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ31の書込制御を行なう。
フェイルデータメモリ32は、フェイルデータ書込制御部42の制御の下、判定回路7(具体的にはデジタルコンパレータ7b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ32は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部42は、上記フェイルデータ書込制御部40と同様に、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ32の書込制御を行なう。
フェイルデータメモリ33は、フェイルデータ書込制御部43の制御の下、判定回路8(具体的にはデジタルコンパレータ8b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ33は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部43は、上記フェイルデータ書込制御部40と同様に、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ33の書込制御を行なう。
フェイルデータメモリ34は、フェイルデータ書込制御部44の制御の下、判定回路9(具体的にはデジタルコンパレータ9b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ34は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部44は、上記フェイルデータ書込制御部40と同様に、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ34の書込制御を行なう。
フェイルデータメモリ35は、フェイルデータ書込制御部45の制御の下、判定回路10(具体的にはデジタルコンパレータ10b)から入力される判定結果信号(つまりパス/フェイル判定結果)を記憶する。また、このフェイルデータメモリ35は、CPU1の制御の下、記憶しているパス/フェイル判定結果をCPU1に出力する。フェイルデータ書込制御部45は、上記フェイルデータ書込制御部40と同様に、AND回路14の出力信号に基づいて、フェイルデータメモリ35の書込制御を行なう。
OR回路50aは、デジタルコンパレータ5b及び6bから入力される判定結果信号のOR処理を行い、その処理結果を示す信号をフェイル数制御部60aに出力する。OR回路50bは、デジタルコンパレータ7b及び8bから入力される判定結果信号のOR処理を行い、その処理結果を示す信号をフェイル数制御部60bに出力する。OR回路50nは、デジタルコンパレータ9b及び10bから入力される判定結果信号のOR処理を行い、その処理結果を示す信号をフェイル数制御部60nに出力する。
フェイル数制御部60aは、上記OR回路50aからHi信号が出力された場合(つまりDUT20aに対応する判定回路5及び6の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定した場合)に、規定値をディクリメントするカウンタ機能を有しており、当該規定値が「0」になるまではOR回路50aの出力信号を通過させてOR回路13に出力し、一方、規定値が「0」になった場合は、OR回路50aの出力信号を遮断してOR回路13への出力を停止する。
フェイル数制御部60bは、上記OR回路50bからHi信号が出力された場合に、規定値をディクリメントするカウンタ機能を有しており、当該規定値が「0」になるまではOR回路50bの出力信号を通過させてOR回路13に出力し、一方、規定値が「0」になった場合は、OR回路50bの出力信号を遮断してOR回路13への出力を停止する。
フェイル数制御部60nは、上記OR回路50nからHi信号が出力された場合に、規定値をディクリメントするカウンタ機能を有しており、当該規定値が「0」になるまではOR回路50nの出力信号を通過させてOR回路13に出力し、一方、規定値が「0」になった場合は、OR回路50nの出力信号を遮断してOR回路13への出力を停止する。
このように、各フェイル数制御部60a〜60nは、それぞれ各DUT20a〜20nに1対1に対応して設けられている。なお、図1において、フェイルデータ書込制御部40〜45、OR回路13及びAND回路14は、本発明における判定結果書込制御手段を構成するものである。また、アドレス書込制御部15、OR回路13及びAND回路14は、本発明におけるアドレス書込制御手段を構成するものである。さらに、フェイル数制御部60a〜60n及びOR回路50a〜50nは、本発明におけるフェイル数カウンタを構成するものである。
次に、上記のように構成された本実施形態における半導体集積回路試験装置の動作について、図2のタイミングチャートを用いて詳細に説明する。なお、以下では説明の簡略化のために、DUT20a及び20bを代表的に用いて説明し、各DUT20a及び20bの全アドレスには、従来と同様な動作により試験パターンが記憶されているものとする。
CPU1は、アドレス発生器4を制御してアドレス(読出アドレス)の生成を指示する。アドレス発生器4は、生成した読出アドレスを示すアドレス信号をアドレスメモリ16、及びフォーマッタ3を介してDUT20a及び20bのアドレス入力ピンに出力する。この時指定されたアドレスを「X0」とし、当該アドレス「X0」に記憶されている試験パターンに応じてDUT20a及び20bから出力されるデータ信号のパス/フェイル判定処理を行う期間をサイクルAとする。以下、図2に示すように、アドレスが「X1」、「X2」・・と順次選択され、それぞれのアドレスについて行なわれるパス/フェイル判定処理の期間をサイクルB、C・・・とする。
また、図2に示すように、DUT20aのデータ出力ピンP01に対応する判定回路5(具体的にはデジタルコンパレータ5b)から、サイクルA、E、F、Gにおいて「フェイル」を示すHi信号が出力され、サイクルB、C、Dにおいて「パス」を示すLo信号が出力されるものとする。一方、DUT20aのデータ出力ピンP02に対応する判定回路6(具体的にはデジタルコンパレータ6b)からは、サイクルBにおいて「フェイル」を示すHi信号が出力され、その他のサイクルにおいて「パス」を示すLo信号が出力されるものとする。また、DUT20bのデータ出力ピンP01に対応する判定回路7(具体的にはデジタルコンパレータ7b)からは、サイクルDにおいて「フェイル」を示すHi信号が出力され、その他のサイクルにおいて「パス」を示すLo信号が出力されるものとする。さらに、DUT20bのデータ出力ピンP02に対応する判定回路8(具体的にはデジタルコンパレータ8b)からは、全てのサイクルにおいて「パス」を示すLo信号が出力されるものとする。
<サイクルA>
まず、サイクルAにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(本実施形態では例えば「4」に設定されている)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(本実施形態では例えば「4」に設定されている)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
まず、サイクルAにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(本実施形態では例えば「4」に設定されている)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(本実施形態では例えば「4」に設定されている)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはHi信号が出力され、AND回路14からはHi信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されるため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス「X0」を記憶する。つまり、図3に示すように、サイクルAにおいて、フェイルデータメモリ30には「フェイル」を示す「1」が記憶され、フェイルデータメモリ31〜33には「パス」を示す「0」が記憶される。ここで、サイクルAのパス/フェイル結果及びアドレス「X0」は、アドレスポインタ「0」で示される記憶領域に記憶される。
なお、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15は、WE信号の立下りに同期してアドレスポインタをインクリメントする。
<サイクルB>
次に、サイクルBにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
次に、サイクルBにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはHi信号が出力され、AND回路14からはHi信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されるため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス「X1」を記憶する。つまり、図3に示すように、サイクルBにおいて、フェイルデータメモリ31には「フェイル」を示す「1」が記憶され、その他のフェイルデータメモリには「パス」を示す「0」が記憶される。なお、サイクルBのパス/フェイル結果及びアドレス「X1」は、アドレスポインタ「1」で示される記憶領域に記憶される。
<サイクルC>
次に、サイクルCにおいて、OR回路50aからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントせずにLo信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
次に、サイクルCにおいて、OR回路50aからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントせずにLo信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはLo信号が出力され、AND回路14からはLo信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されないため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶せず、また、アドレスメモリ16はアドレス「X2」を記憶しない。つまり、図3に示すように、サイクルCにおけるパス/フェイル判定結果及びアドレス「X2」は記憶されない。
<サイクルD>
次に、サイクルDにおいて、OR回路50aからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントせずにLo信号を出力する。また、OR回路50bからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。
次に、サイクルDにおいて、OR回路50aからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントせずにLo信号を出力する。また、OR回路50bからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「4」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。
この時、OR回路13からはHi信号が出力され、AND回路14からはHi信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されるため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス「X3」を記憶する。つまり、図3に示すように、サイクルDにおいて、フェイルデータメモリ32には「フェイル」を示す「1」が記憶され、その他のフェイルデータメモリには「パス」を示す「0」が記憶される。なお、サイクルDのパス/フェイル結果及びアドレス「X3」は、アドレスポインタ「2」で示される記憶領域に記憶される。
<サイクルE>
次に、サイクルEにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
次に、サイクルEにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「2」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはHi信号が出力され、AND回路14からはHi信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されるため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス「X4」を記憶する。つまり、図3に示すように、サイクルEにおいて、フェイルデータメモリ30には「フェイル」を示す「1」が記憶され、その他のフェイルデータメモリには「パス」を示す「0」が記憶される。なお、サイクルEのパス/フェイル結果及びアドレス「X4」は、アドレスポインタ「3」で示される記憶領域に記憶される。
<サイクルF>
次に、サイクルFにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「1」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
次に、サイクルFにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるため、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値(この時点では「1」)をディクリメントすると共にHi信号を出力する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはHi信号が出力され、AND回路14からはHi信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されるため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶し、また、アドレスメモリ16はアドレス「X5」を記憶する。つまり、図3に示すように、サイクルFにおいて、フェイルデータメモリ30には「フェイル」を示す「1」が記憶され、その他のフェイルデータメモリには「パス」を示す「0」が記憶される。なお、サイクルFのパス/フェイル結果及びアドレス「X5」は、アドレスポインタ「4」で示される記憶領域に記憶される。
<サイクルG>
次に、サイクルGにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるが、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値が「0」になっているので、以降OR回路13への信号出力を停止する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
次に、サイクルGにおいて、OR回路50aからはHi信号が出力されるが、フェイル数制御部60aは、カウンタの規定値が「0」になっているので、以降OR回路13への信号出力を停止する。また、OR回路50bからはLo信号が出力されるため、フェイル数制御部60bは、カウンタの規定値(この時点では「3」)をディクリメントすることなくLo信号を出力する。
この時、OR回路13からはLo信号が出力され、AND回路14からはLo信号が出力される。よって、フェイルデータ書込制御部40〜43、及びアドレス書込制御部15からはWE信号が出力されないため、フェイルデータメモリ30〜33は、それぞれに対応する判定回路から入力されるパス/フェイル判定結果を記憶せず、また、アドレスメモリ16はアドレス「X6」を記憶しない。つまり、図3に示すように、サイクルGにおけるパス/フェイル判定結果及びアドレス「X6」は記憶されない。
CPU1は、上記のような動作をDUTの全アドレスについて行った後、各メモリに記憶されているデータを読出し、集計結果を表示装置(図示せず)に表示させたり、集計結果に基づいて各DUTの良否判定を行い、その結果を表示させる。
以上のように、本実施形態によれば、各判定回路に1対1に対応してパス/フェイル判定結果を記憶するフェイルデータメモリを設け、全ての判定回路の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定したサイクルの場合に、全てのフェイルデータメモリに対してパス/フェイル判定結果を記憶させることにより、DUT毎のパス/フェイル判定結果を同時に取り込むことができ、その結果、試験時間が短縮され、スループットの向上を図ることが可能である。また、全ての判定回路にて「パス」と判定されたサイクルのパス/フェイル判定結果を記憶しても意味がないため、そのようなサイクルは記憶しないことにより、記憶容量の小さいメモリを使用することができ、装置コストの低減を図ることができる。
さらに、サイクルGで説明したように、本実施形態では、フェイル数制御部によって、それぞれのDUTに対応する判定回路の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定した回数をカウントし、当該回数が規定値を越えた場合、以降はそのフェイル数制御部からの信号出力を停止し、規定値を越えたDUTを除く他のDUTに対応する判定回路の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定した場合に、全てのフェイルデータメモリに対して、パス/フェイル判定結果を記憶するように指示する。このような構成を採用することにより、フェイル数が多い特定のDUTに影響されることなく、他のフェイル数の少ないDUTのパス/フェイル判定結果を正確に集計することができる。以下、この理由について詳細に説明する。
仮にフェイル数制御部を設けない場合を想定すると、本実施形態では、全ての判定回路の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定したサイクルの場合に、全てのフェイルデータメモリに対してパス/フェイル判定結果を記憶させる、という構成を採用しているので、例えばDUT20aにおける「フェイル」の発生頻度がDUT20bと比べてはるかに大きい場合、サイクルの早い段階でフェイルデータメモリ30及び31は「フェイル」データで容量オーバとなり、一方、フェイルデータメモリ32及び33は「パス」データで容量オーバとなってしまう。この時、例えば後半のサイクルでDUT20bにおける「フェイル」の発生頻度が上昇したとしても、「フェイル」データを集計することができず、DUT20bに関して正確な試験を行なうことができない。このように、試験結果がフェイル数が多い特定のDUTに影響されることになる。
この問題を解決するためには、大容量のフェイルデータメモリを使用する方法が考えられるが、装置コストの増加を招くことになり好ましくない。従って、本実施形態のように、フェイル数をカウントして当該フェイル数が規定値を越えたDUTを救済不可能品とみなし、以降は規定値を越えたDUTを除く他のDUTに対応する判定回路の内、少なくとも1つが「フェイル」と判定した場合に、全てのフェイルデータメモリに対して、パス/フェイル判定結果を記憶するように指示することで、フェイル数が多い特定のDUTに影響されることなく、他のフェイル数の少ないDUTのパス/フェイル判定結果を正確に集計することが可能である。
なお、大容量のフェイルデータメモリの使用が許可される場合は、フェイル数制御部を設ける必要はない。この場合、図1において、OR回路50a〜50n、及びフェイル数制御部60a〜60nを設けずに、各デジタルコンパレータの出力をOR回路13に直接接続すれば良い。
また、本発明は上記実施形態に限らず、以下のような変形例が考えられる。
図4に本実施形態の変形例を示す。この図4において、図1と異なる点は、各フェイル数制御部60a〜60nの後段に、フェイル数制御部の出力信号と選択信号(DUT1EN〜DUTNEN)とのAND処理を行うAND回路70a〜70nが設けられ、また、各DUTのデータ出力ピンP01に対応する判定回路5、7、9の出力信号とピン選択信号(PIN1EN)とのAND処理を行うAND回路80a〜80nが設けられ、さらに、また、各DUTのデータ出力ピンP02に対応する判定回路6、8、10の出力信号とピン選択信号(PIN2EN)とのAND処理を行うAND回路90a〜90nが設けられている。これらAND回路70a〜70nの出力信号はOR回路13に入力されている。また、AND回路80a及び90aの出力信号はOR回路50aに入力され、AND回路80b及び90bの出力信号はOR回路50bに入力され、さらにAND回路80n及び90nの出力信号はOR回路50nに入力されている。
上記のように、AND回路70a〜70nを設けることにより、フェイル数制御部60a〜60nにおけるカウンタ機能によるカウント結果の使用/不使用を選択することができる。すなわち、図5のタイミングチャートに示すように、選択信号DUT1ENを「Lo」、他の選択信号DUT2EN〜DUTNENを「Hi」とすると、常にAND回路70aの出力信号は「Lo」となり、フェイル数制御部60aは「不使用」の状態となる。このような方法を採用することで、例えばDUT20aが初めから救済不可能品とわかっている場合などは、予めフェイル数制御部60aを「不使用」状態に選択することにより、DUT20aのフェイル数に影響されることなく、他のDUTのパス/フェイル判定結果を正確に集計することが可能である。
また、AND回路80a〜80n及び90a〜90nを設けることにより、各DUTの特定の出力ピンに対応する判定回路によるパス/フェイル判定結果のみを使用することができる。すなわち、図5のタイミングチャートに示すように、ピン選択信号PIN1ENを「Hi」、PIN2ENを「Lo」とすると、OR回路50a〜50nからは、常に各DUTのデータ出力ピンP01に対応する判定回路5、7、9の出力信号のOR信号が出力されることになる。つまり、フェイル数制御部は、特定の出力ピンに対応する判定回路が「フェイル」と判定した回数のみをカウントすることになる。このような構成を採用することで、特定の出力ピンのフェイル数に影響されることなく、他の出力ピンのパス/フェイル判定結果を正確に集計することが可能である。
1…CPU(Central Processing Unit)、2…パターン発生器、3…フォーマッタ、4…アドレス発生器、5〜10…判定回路、30〜35…フェイルデータメモリ、40〜45…フェイルデータ書込制御部、50a〜50n、13…OR回路、60a〜60n…フェイル数制御部、11、12…フェイルデータログ回路、14、70a〜70n、80a〜80n、90a〜90n…AND回路、15…アドレス書込制御部、16…アドレスメモリ
Claims (9)
- 複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験装置であって、
前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行う判定手段と、
各被試験対象デバイスのピンに対応して、前記判定手段によるパス/フェイル判定結果を個別に記憶する判定結果記憶手段と、
前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示する判定結果書込制御手段と
を具備することを特徴とする半導体集積回路試験装置。 - 前記被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された回数を、各被試験対象デバイス毎にカウントするフェイル数カウンタをさらに備え、
前記判定結果書込制御手段は、前記フェイル数カウンタによりカウントされた前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路試験装置。 - 前記フェイル数カウンタにおける各被試験対象デバイスに対する前記回数のカウント結果の使用/不使用を選択する選択手段をさらに備え、
前記判定結果書込制御手段は、前記選択手段によって「使用」と選択された被試験対象デバイスの前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイス、及び前記選択手段によって「不使用」と選択された被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路試験装置。 - 前記パス/フェイル判定が行われた出力データの被試験対象デバイスにおける記憶先アドレスを記憶するアドレス記憶手段と、
前記判定手段において、前記出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記アドレス記憶手段に対して、パス/フェイル判定が行われた出力データの記憶先アドレスを記憶するように指示するアドレス書込制御手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路試験装置。 - 前記被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された回数を、各被試験対象デバイス毎にカウントするフェイル数カウンタをさらに備え、
前記フェイル数カウンタによりカウントされた前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果書込制御手段は、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示すると共に、前記アドレス書込制御手段は、前記アドレス記憶手段に対して前記記憶先アドレスを記憶するように指示することを特徴とする請求項4記載の半導体集積回路試験装置。 - 前記フェイル数カウンタにおける各被試験対象デバイスに対する前記回数のカウント結果の使用/不使用を選択する選択手段をさらに備え、
前記選択手段によって「使用」と選択された前記回数が規定値を越えた場合、当該規定値を越えた被試験対象デバイス、及び前記選択手段によって「不使用」と選択された被試験対象デバイスを除く他の被試験対象デバイスのピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果書込制御手段は、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示すると共に、前記アドレス書込制御手段は、前記アドレス記憶手段に対して前記記憶先アドレスを記憶するように指示することを特徴とする請求項5記載の半導体集積回路試験装置。 - 前記判定結果書込制御手段は、各被試験対象デバイスの特定のピンから出力される出力データの少なくとも1つが「フェイル」と判定された場合に、前記判定結果記憶手段に対して、各被試験対象デバイスのピンに対応するパス/フェイル判定結果を記憶するように指示することを特徴とする請求項1または4記載の半導体集積回路試験装置。
- 前記フェイル数カウンタは、特定のピンから出力される出力データが「フェイル」と判定された回数をカウントすることを特徴とする請求項2、3、5または6記載の半導体集積回路試験装置。
- 複数の被試験対象デバイスに試験パターンを印加して試験を行なう半導体集積回路試験方法であって、
前記複数の被試験対象デバイスのピンに対して、印加された試験パターンに応じて前記出力ピンから出力される出力データと所定の期待値とを比較することにより、前記出力データのパス/フェイル判定を行い、
少なくとも1つの出力データが「フェイル」と判定された場合に、各被試験対象デバイスのピンに対応して個別にパス/フェイル判定結果を記憶する
ことを特徴とする半導体集積回路試験方法。
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