JP2007311784A - 多重パターン構造を有する半導体発光素子 - Google Patents

多重パターン構造を有する半導体発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2007311784A
JP2007311784A JP2007121093A JP2007121093A JP2007311784A JP 2007311784 A JP2007311784 A JP 2007311784A JP 2007121093 A JP2007121093 A JP 2007121093A JP 2007121093 A JP2007121093 A JP 2007121093A JP 2007311784 A JP2007311784 A JP 2007311784A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
emitting device
light emitting
substrate
semiconductor light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007121093A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5206923B2 (ja
Inventor
Jeong-Wook Lee
庭 旭 李
Jin-Seo Im
填 緒 林
Bok-Ki Min
ミン ボッキ
Kwang-Hyeon Baik
光 鉉 白
Kenshu Den
憲 秀 田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Seoul National University Industry Foundation
Original Assignee
Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Seoul National University Industry Foundation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electro Mechanics Co Ltd, Seoul National University Industry Foundation filed Critical Samsung Electro Mechanics Co Ltd
Publication of JP2007311784A publication Critical patent/JP2007311784A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5206923B2 publication Critical patent/JP5206923B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/22Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0062Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
    • H01L33/0066Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
    • H01L33/007Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound comprising nitride compounds

Abstract

【課題】多重パターン構造を有する半導体発光素子を提供する。
【解決手段】基板31及び基板上に形成された半導体層、活性層及び電極層を備える半導体発光素子において、基板と半導体層との間に凹凸構造で形成された第1パターン32と、第1パターンの凹凸構造上に形成された凹凸構造の第2パターン33と、を備える多重パターン構造を有する半導体発光素子である。これにより、光抽出効率を大きく改善できる。
【選択図】図3

Description

本発明は、パターン構造を含む発光素子に係り、さらに詳細には、発光素子に使われる基板表面に多重凹凸パターンを形成して、発光素子の欠陥密度の制御及びストレス分布の制御が容易であり、光抽出効率を向上させた多重パターン構造を有する発光素子に関する。
一般的な半導体発光素子は、レーザーダイオード及び発光ダイオード(Light Emitting Diode:LED)があり、ここで、LEDは、化合物半導体の特性を利用したものであり、電気エネルギーを赤外線、可視光線または光の形態に変換させた信号の発信に使われる素子である。
III族窒化物系化合物半導体は、直接遷移型半導体であり、他の半導体を利用した素子よりも高温で安定した動作が得られ、LEDやレーザーダイオード(Laser Diode:LD)などの発光素子に広く応用されている。このようなIII族窒化物系化合物半導体は、通常、サファイア(Al)を基板として利用してその上部に形成されることが一般的である。
図1は、従来技術による一般的なIII族窒化物系化合物半導体発光素子の構造を示す断面図である。図1を参照すれば、サファイア基板11上にn−GaN層12が形成され、前記n−GaN層12上の一部に活性層13、p−GaN層14、及びp型電極層15が順次に形成されている。n−GaN12層上の前記活性層13が形成されていない部位にn型電極層16が形成されている。
図1に示すような一般的な発光素子では、内部の活性層から発生した光をどの程度効率的に外部に抽出できるかが重要な問題である。サファイア基板及び活性層の縦方向に発生した光を効率的に抽出するために、透明電極または反射層の形成に努力してきた。しかし、活性層から発生する光の相当量は、横方向に伝播するので、これを縦方向に抽出するために、例えば、半導体素子の積層構造の側壁に所定の角度を形成し、前記側壁を反射面として形成するなどの努力をしたが、その加工及び費用面での問題がある。また、サファイア基板を使用したIII族窒化物系化合物半導体の発光素子の光出力を向上させるために、フリップチップ形態の素子構造を採用している。しかし、光抽出効率は、GaNとサファイア基板との屈折率差によって約40%となっている。
これを補完するために、最近では、図2Aに示すように、サファイア基板21の表面に凹凸構造を形成した後、その上部に活性層22などを含む半導体結晶層を形成したLED構造が紹介された。図2Aのような構造は、活性層22の下方に凹凸形態の屈折率界面を形成することによって、素子内部で消滅する横方向光の一部を外部に抽出可能にしたのである。
また、サファイア基板21上にIII族窒化物系化合物の半導体を形成した場合、サファイア基板21とIII族窒化物系化合物半導体との格子定数の不整合によって電位が発生するという問題がある。これを防止するために、図2B−dのようにサファイア基板21の表面に凹凸構造を導入して、その上部にGaN層23を形成した。このような凹凸構造を有するサファイア基板上にLEDを形成する工程を概略的に説明すれば、次の通りである。
図2B−aのような凹凸構造を有するサファイア基板21上に、GaN層23を形成する場合、図2B−bのように、凹凸の上部及び各凹凸の側部でGaNファセット(facet)24が成長し、このような成長が進んだ後、図2B−cのような平坦化されたGaN層23が得られる。このように平坦化されたGaN層23の第1領域上部に活性層22、GaN層25、第1電極層26を形成し、GaN層23の第2領域上に第2電極層27を形成して完成したLEDを図2B−dに示した。
かかる単純凹凸構造の半導体発光素子の場合、従来の平面形基板を使用した半導体発光素子に比べて光抽出効率が向上したが、光抽出効率をさらに上昇させるための半導体発光素子の構造が要求される。
本発明は、前記問題点を解決するためのものであって、従来の一般的な平板型基板及び単一凹凸パターンを有する発光素子の基板構造を向上させて、発光層から発生した光の発光素子外部への抽出効率を高めうる多重パターン構造を有する半導体発光素子を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明では、基板及び前記基板上に形成された半導体層、活性層及び電極層を備える半導体発光素子において、前記基板と前記半導体層との間に凹凸構造で形成された第1パターンと、前記第1パターンの凹凸構造上に形成された凹凸構造の第2パターンと、を備える多重パターン構造を有する半導体発光素子を提供する。
本発明において、前記凹凸構造の第2パターンは、前記第1パターンの凹凸と凹凸構造との間に形成されたことを特徴とする。
本発明において、前記凹凸構造は、角形の凹凸と曲面型の凹凸のうち少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする。
本発明において、前記基板は、サファイアまたはSiを含む物質から形成されたことを特徴とする。
本発明において、前記第2パターンは、前記第1パターンの凹凸構造の突出部または溝部に透光性物質をナノパターン構造で形成したことを特徴とする。
本発明において、前記透光性物質は、SiOまたはSiNxであることを特徴とする。
本発明において、前記基板上に形成された第1半導体層、前記第1半導体層の第1領域上に順次に形成された活性層、第2半導体層、及び第1電極層、前記第1半導体層の第2領域上に形成された第2電極層を備えることを特徴とする。
本発明において、前記突出部は、曲面型の突出部であることを特徴とする。
本発明によれば、第1パターン表面に第2パターンが形成された多重パターン構造の基板上に発光層を備える発光素子を形成することによって、従来の一般的な平面基板または単純凹凸構造の基板を使用した半導体発光素子に比べて、活性層、すなわち、発光層から発生した光の発光素子外部への抽出効率を高めることができる。
以下、図面を参照して、本発明による発光素子について詳細に説明する。本発明は、半導体発光素子の基板に多重パターン構造を形成して、光抽出効率を向上させたことを特徴とする。
図3は、本発明の実施形態による多重パターン構造を有する半導体発光素子を示す断面図である。
図3を参照すれば、基板31上に第1半導体層34が形成され、第1半導体層34の第1領域上には、活性層35、第2半導体層36、及び第1電極37が順次に形成されている。そして、第1半導体層34の第2領域上には、第2電極層38が形成されている。ここで、基板31は、一般的な半導体発光素子に使われるサファイアまたはSiを含む物質から形成された基板を用いることが望ましいが、これらの基板には限定されず、シリコン(Si)、炭化ケイ素(SiC)など、III族窒化物系化合物半導体を成長させる基板であれば、いずれも使用することができる。
そして、第1半導体層34は、n−GaNから形成され、第2半導体層36は、p−GaNを含む物質から形成できる。ここで、第1半導体層34及び第2半導体層36を形成する物質は、GaNに限定されず、AlNまたはInNのような2元系、3元系及び4元系の物質を含む。
本発明では、基板31の表面に多重パターン構造を含むことを特徴とする。具体的には、基板31の表面には、第1パターン32が形成され、第1パターン32の表面には、第2パターン33が形成されている。このとき、第1パターン32及び第2パターン33の形態に特別な制限はない。
図4A及び図4Bは、本発明の実施形態による多重パターン構造を有する半導体発光素子に使われる基板を示す断面図である。
図4Aを参照すれば、基板31は、一般的な半導体発光素子の基板として使われるサファイア基板またはSiを含む基板である。基板31の表面には、ステップ型、すなわち角形の凹凸状に形成された第1パターン32が設けられている。そして、第1パターン32の突出部及び溝部には、凹凸状に形成された第2パターン33が設けられている。すなわち、本発明の実施形態による多重パターンを有する半導体発光素子は、基板31に第1パターン32と第1パターン32に形成された第2パターン33とを含むので、結果的に多重パターン構造を有する。また、選択的に第2パターン33内にさらに他のパターン構造を形成してもよい。
図4Bには、前記図4Aのステップ型の凹凸型パターンではない、第1パターン32が曲面型の凹凸構造である実施形態を示す。図4Bを参照すれば、基板31の表面には、曲面型第1パターン32が設けられている。そして、第1パターン32の曲面型の突出部及び各突出部の間には、凹凸状に形成された第2パターン33が設けられている。また、第2パターン33内に選択的に第3パターン(図示せず)を形成してもよい。結果として、本発明の実施形態による半導体発光素子は、多重パターン構造を有する基板を備えることを特徴とする。ここで、前記曲面型の凹凸構造は、半球型またはストライプ型でありうる。
図5Aないし図5Cは、本発明の実施形態による多重パターンを有する半導体発光素子の基板のパターン領域を拡大した図である。図5Aを参照すれば、基板31、例えば、一般的に半導体発光素子に使われるサファイア基板に第1パターン32が設けられており、第1パターン32領域には、第2パターン33構造が形成されている。ここで、第1パターン32及び第2パターン33は、凹凸型構造であることが分かる。
基板31とその上部の半導体層との界面で屈折率差を利用した光路変更の効果を極大化するために、図5B及び図5Cでは、パターンとパターンとの間またはパターン上に、SiOまたはSiNxのように基板と屈折率差のある透光性物質をナノドット40で形成した構造を示す。すなわち、このように基板31の第1パターン32領域の表面に透光性物質をナノドット40に形成して、第2パターン33と同じ機能を果たすことができる。
したがって、本発明の実施形態による多重パターンを有する半導体発光素子の基板31は、基板31自体の表面構造を多重パターンに形成して使用してもよく、透光性物質を基板31上にパターン構造に形成して使用してもよく、これらをいずれも含む構造で使用してもよい。
以下、本発明の実施形態による多重パターンを有する半導体発光素子の製造方法について説明する。本発明では、基板表面に多重パターン構造を形成するために、2回以上の乾式エッチング工程を実施する。
まず、平面形基板、例えばサファイア基板を用意する。そして、基板上にパターニングされたフォトレジストを位置させ、フォトリソグラフィ工程によって第1パターンを形成する。そして、例えば、一般的なRIE(Reactive Ion Etching:反応性イオンエッチング)工程で第1パターンを形成する。
エッチングガスとしては、Cl、BCl、HCl、CCl、SiClなどのCl系ガスのうちから選択することが望ましい。作動圧力の場合、エッチングガスまたは状況によって数mTorr〜数十mTorrで選択的に調節できる。もし、SiOまたはSiNxのような透光性物質をナノドットに形成しようとする場合には、パターン構造が形成された基板表面にSiOまたはSiNxのような透光性物質を薄く塗布した後、所定領域が開口されたマスクを位置させた後、開口された領域をエッチングする。
基板表面に多重パターン構造を形成した後、基板上に発光素子の製作に必要なn−GaN層、活性層、p−GaN層、p型電極層、及びn型電極層などを順次に形成する。本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子において、基板上に形成される化合物半導体層は、従来の形態とあまり差がなく、その製造工程も公知の技術を使用すれば、容易に実施できる。
以下、本発明の実施形態による多重パターンを有する半導体発光素子と従来技術による半導体発光素子との光抽出効率を図6Aないし図6Cを参照して説明する。図6Aは、一般的な平面構造の半導体基板、すなわち、図1に示す半導体発光素子の基板を含む半導体発光素子を示し、図6Bは、図2Aに示す凹凸構造を含む基板を含む半導体発光素子を示す。図6Cは、本発明の実施形態による多重パターン構造を有する基板を含む半導体発光素子を示す。
具体的には、図6Aは、基板61上に第1半導体層62が形成され、第1半導体層62上に活性層63が形成された一般的な構造を示す図である。
図6Bは、基板61上に第1半導体層62が形成され、第1半導体層62上に活性層63が形成され、第1半導体層62と接する基板61の表面には、第1パターン61a構造が形成された図である。
そして、図6Cは、半導体基板61上に第1半導体層62が形成され、第1半導体層62上に活性層63が形成されている。第1半導体層62と接する基板61の表面には、第1パターン61a構造が形成されており、第1パターン61a構造の突出部及び突出部の間の領域には、第2パターン61b構造が形成されている。
図6Aないし図6Cに示す半導体発光素子の光抽出効率を測定したグラフを図7に示す。図6Aの基板構造を使用した半導体発光素子を平面、図6Bの基板構造を使用した半導体発光素子をパターン1、図6Cの基板構造を使用した半導体発光素子をパターン2で表示した。
図7を参照すれば、平面構造の半導体基板を使用した半導体発光素子の光抽出効率を100とした時、単純凹凸構造の基板を使用した半導体発光素子の光抽出効率は、130を示し、本発明の実施形態による多重パターン構造を有する半導体発光素子の光抽出効率は、約170を示した。すなわち、本発明の実施形態による多重パターン構造を有する半導体発光素子の場合、単純平面構造の基板を使用した発光素子に比べて、約70%の光抽出効率が改善された効果を示し、単純凹凸構造を有する半導体発光素子に比べて、約30.8%の光抽出効率が改善された結果が得られたことを確認することができる。
前記した説明で多くの事項が具体的に記載されているが、それらは、発明の範囲を限定するものではなく、望ましい実施形態の例示として解釈されねばならない。したがって、本発明の範囲は、説明された実施形態によって限定されず、特許請求の範囲に記載された技術的思想によって決定されねばならない。本発明による発光素子の第1パターン及び第2パターンの構造は制限されず、第1パターンは、単純凹凸型または曲面型であってもよく、前記曲面型構造は、半球型、ストライプ型、馬蹄型などを含む。そして、パターンの配列形態も規則的、不規則的な配列形態がいずれも含まれうる。
本発明は、半導体発光素子の関連技術分野に好適に用いられる。
従来技術による一般的なIII族窒化物系化合物半導体の構造を示す断面図である。 従来技術による凹凸構造を有するIII族窒化物系化合物半導体を示す断面図である。 従来技術による凹凸構造を有する基板上に発光素子を形成する過程を概略的に示す図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する半導体発光素子を示す断面図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子に使われる基板の実施形態を示す断面図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子に使われる基板の実施形態を示す断面図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子の基板領域を拡大した断面図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子に透光性ナノドットを形成したことを示す断面図である。 本発明の実施形態による多重パターン構造を有する発光素子に透光性ナノドットを形成したことを示す断面図である。 従来技術による平面基板を示す図である。 従来技術による凹凸構造を有する基板を示す図である。 本発明の実施形態による多重凹凸基板を示す図である。 図6Aないし図6Cに示す従来技術による基板及び本発明の実施形態による多重凹凸構造を有する発光素子の光抽出効率を示すグラフである。
符号の説明
11、21、31、61 基板、
12、34、62 第1半導体層、
13、22、35、63 活性層、
14、36 第2半導体層、
15、16、37、38 電極層、
32、61a 第1パターン、
33、61b 第2パターン、
40 ナノドット。

Claims (13)

  1. 基板及び前記基板上に形成された半導体層、活性層及び電極層を備える半導体発光素子において、
    前記基板と前記半導体層との間に凹凸構造で形成された第1パターンと、
    前記第1パターンの凹凸構造上に形成された凹凸構造の第2パターンと、
    を備えることを特徴とする多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  2. 前記凹凸構造の第2パターンは、前記第1パターンの凹凸と凹凸構造との間に形成されたことを特徴とする請求項1に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  3. 前記第1パターンの凹凸構造は、角形の凹凸と曲面型の凹凸のうち少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする請求項1に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  4. 前記第2パターンの凹凸構造は、角形の凹凸と曲面型の凹凸のうち少なくともいずれか一つを含むことを特徴とする請求項2に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  5. 前記基板は、サファイアまたはSiを含む物質から形成されたことを特徴とする請求項1に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  6. 前記第2パターンは、前記第1パターンの凹凸構造の突出部または溝部に透光性物質をナノパターン構造で形成したことを特徴とする請求項1に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  7. 前記透光性物質は、SiOまたはSiNxであることを特徴とする請求項6に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  8. 前記突出部は、曲面型の突出部であることを特徴とする請求項6に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  9. 前記基板上に形成された第1半導体層と、
    前記第1半導体層の第1領域上に順次に形成された活性層、第2半導体層、及び第1電極層と、
    前記第1半導体層の第2領域上に形成された第2電極層と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  10. 前記基板は、サファイアまたはSiを含む物質から形成されたことを特徴とする請求項9に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  11. 前記第2パターンは、前記第1パターンの複数の曲面型の突出部または前記曲面型の突出部の間の領域に透光性物質をナノパターン構造で形成したことを特徴とする請求項9に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  12. 前記透光性物質は、SiOまたはSiNxであることを特徴とする請求項9に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
  13. 前記基板上に形成された第1半導体層と、
    前記第1半導体層の第1領域上に順次に形成された活性層、第2半導体層、及び第1電極層と、
    前記第1半導体層の第2領域上に形成された第2電極層と、
    を備えることを特徴とする請求項9に記載の多重パターン構造を有する半導体発光素子。
JP2007121093A 2006-05-15 2007-05-01 半導体発光素子 Active JP5206923B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2006-0043477 2006-05-15
KR1020060043477A KR100780233B1 (ko) 2006-05-15 2006-05-15 다중 패턴 구조를 지닌 반도체 발광 소자

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007311784A true JP2007311784A (ja) 2007-11-29
JP5206923B2 JP5206923B2 (ja) 2013-06-12

Family

ID=38024236

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007121093A Active JP5206923B2 (ja) 2006-05-15 2007-05-01 半導体発光素子

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8013354B2 (ja)
EP (1) EP1858090B1 (ja)
JP (1) JP5206923B2 (ja)
KR (1) KR100780233B1 (ja)

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012502496A (ja) * 2008-09-11 2012-01-26 エプラステク カンパニー.,リミテッド 窒化物半導体発光素子およびその製造方法
JP2012074701A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 National Chung Hsing Univ パターン基板、及びそれを用いた発光ダイオード
JP2012114277A (ja) * 2010-11-25 2012-06-14 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体発光素子
JP2012124257A (ja) * 2010-12-07 2012-06-28 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
JP2013055289A (ja) * 2011-09-06 2013-03-21 Rohm Co Ltd 発光素子および発光素子パッケージ
JP2013084953A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013084956A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013084955A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013118380A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013118379A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013118378A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
WO2013150984A1 (ja) * 2012-04-02 2013-10-10 旭化成株式会社 光学基板、半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法
US8759858B2 (en) 2011-12-03 2014-06-24 Tsinghua University Light emitting diode
US8785955B2 (en) 2011-12-03 2014-07-22 Tsinghua University Light emitting diode
US8796716B2 (en) 2011-12-03 2014-08-05 Tsinghua University Light emitting diode
JP2014529195A (ja) * 2011-09-30 2014-10-30 ソウル バイオシス カンパニー リミテッドSeoul Viosys Co.,Ltd. 凹凸パターンを有する基板、これを具備する発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法
JP2014212354A (ja) * 2014-08-20 2014-11-13 株式会社東芝 半導体発光素子及びその製造方法
US9281444B2 (en) 2011-09-01 2016-03-08 Rohm Co., Ltd. Light emitting device and light emitting device package
CN105514225A (zh) * 2014-10-09 2016-04-20 新世纪光电股份有限公司 具粗化表面的薄膜式覆晶发光二极管及其制造方法
JP2016115917A (ja) * 2014-12-12 2016-06-23 王子ホールディングス株式会社 半導体発光素子用基板、および、半導体発光素子
CN105845789A (zh) * 2016-04-11 2016-08-10 厦门乾照光电股份有限公司 一种提高背光源亮度的衬底制作方法
JP2022075717A (ja) * 2019-01-11 2022-05-18 日亜化学工業株式会社 発光装置

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100736623B1 (ko) * 2006-05-08 2007-07-09 엘지전자 주식회사 수직형 발광 소자 및 그 제조방법
KR101371819B1 (ko) 2007-11-08 2014-03-07 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR100988146B1 (ko) 2008-07-16 2010-10-18 주식회사 실트론 화합물 반도체 기판, 그 제조 방법 및 이를 이용한 화합물반도체 소자
KR101064016B1 (ko) 2008-11-26 2011-09-08 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 그 제조방법
KR101064053B1 (ko) * 2009-02-25 2011-09-08 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
KR101134810B1 (ko) * 2009-03-03 2012-04-13 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 그 제조방법
CN101877377B (zh) * 2009-04-30 2011-12-14 比亚迪股份有限公司 一种分立发光二极管的外延片及其制造方法
CN102017791B (zh) * 2009-05-12 2013-03-06 松下电器产业株式会社 板、发光装置及板的制造方法
US8203153B2 (en) * 2010-01-15 2012-06-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. III-V light emitting device including a light extracting structure
US20130000721A1 (en) * 2010-03-15 2013-01-03 Yoshiyuki Nasuno Substrate for photoelectric conversion device, photoelectric conversion device using the substrate, and method for producing the substrate and device
TW201145579A (en) * 2010-06-08 2011-12-16 Epileds Technologies Inc Substrate for light-emitting diode
KR101673955B1 (ko) 2010-07-02 2016-11-08 삼성전자주식회사 반도체 발광소자 및 이를 제조하는 방법
KR101009744B1 (ko) * 2010-07-26 2011-01-19 (주)더리즈 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR101707116B1 (ko) * 2010-07-30 2017-02-15 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 및 그 제조 방법
KR101193913B1 (ko) 2010-08-23 2012-10-29 고려대학교 산학협력단 광결정 패턴이 형성된 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법
CN101980391A (zh) * 2010-09-14 2011-02-23 映瑞光电科技(上海)有限公司 发光二极管及其制造方法
CN102280534A (zh) * 2011-07-06 2011-12-14 上海蓝光科技有限公司 预处理蓝宝石衬底提高led出光效率的方法
CN103050598B (zh) * 2012-12-17 2016-06-01 江苏新广联科技股份有限公司 混合型不等间距图形化衬底及其制备方法
CN108198918B (zh) 2013-05-15 2020-10-02 皇家飞利浦有限公司 具有衬底中的散射特征的led
KR101466833B1 (ko) * 2013-07-08 2014-11-28 코닝정밀소재 주식회사 유기발광소자용 광추출 기판, 그 제조방법 및 이를 포함하는 유기발광소자
CN103887390B (zh) * 2014-01-29 2017-06-27 华灿光电(苏州)有限公司 图形化蓝宝石衬底及其制作方法、外延片的制作方法
DE102014108301A1 (de) * 2014-06-12 2015-12-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Halbleiterchip und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterchips
CN104465927B (zh) * 2014-11-28 2017-08-25 华南理工大学 一种圆锥簇型图案的led图形优化衬底及led芯片
DE102015102365A1 (de) * 2015-02-19 2016-08-25 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungskörper und Verfahren zur Herstellung eines Strahlungskörpers
DE102016200957A1 (de) * 2016-01-25 2017-07-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Substrat mit Strukturelementen und Halbleiterbauelement
CN105821387B (zh) * 2016-04-05 2018-08-17 南京航空航天大学 基于微米级阵列结构和氧化钇薄膜的蓝宝石光学性能提升方法
FR3059788B1 (fr) 2016-12-02 2019-01-25 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Dispositif optoelectronique a diode electroluminescente a extraction augmentee
FR3059828B1 (fr) 2016-12-02 2019-05-31 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Dispositif optoelectronique a diode electroluminescente a extraction augmentee
CN108011001A (zh) * 2017-12-18 2018-05-08 苏州亿沃光电科技有限公司 具有羽化表面的堆叠式图形化led衬底及led器件

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002164296A (ja) * 2000-09-18 2002-06-07 Mitsubishi Cable Ind Ltd 半導体基材及びその作製方法
JP2003209283A (ja) * 2002-01-15 2003-07-25 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
JP2004253743A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Nichia Chem Ind Ltd 付活剤を含有した基板を用いた発光装置
JP2005064492A (ja) * 2003-07-28 2005-03-10 Kyocera Corp 単結晶サファイア基板とその製造方法及び半導体発光素子
KR20060000464A (ko) * 2004-06-29 2006-01-06 삼성전기주식회사 돌기부가 형성된 기판을 구비한 질화물 반도체 발광소자
JP2006041479A (ja) * 2004-06-24 2006-02-09 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子およびその製造方法
JP2006100518A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Toyoda Gosei Co Ltd 基板表面処理方法及びiii族窒化物系化合物半導体発光素子の製造方法。

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1234344B1 (en) * 1999-12-03 2020-12-02 Cree, Inc. Enhanced light extraction in leds through the use of internal and external optical elements
US6562644B2 (en) * 2000-08-08 2003-05-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor substrate, method of manufacturing the semiconductor substrate, semiconductor device and pattern forming method
US6787692B2 (en) * 2000-10-31 2004-09-07 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology Solar cell substrate, thin-film solar cell, and multi-junction thin-film solar cell
KR100632760B1 (ko) * 2001-03-21 2006-10-11 미츠비시 덴센 고교 가부시키가이샤 반도체 발광 소자
TW576864B (en) * 2001-12-28 2004-02-21 Toshiba Corp Method for manufacturing a light-emitting device
KR100714639B1 (ko) 2003-10-21 2007-05-07 삼성전기주식회사 발광 소자
US20050285128A1 (en) * 2004-02-10 2005-12-29 California Institute Of Technology Surface plasmon light emitter structure and method of manufacture
KR100568297B1 (ko) * 2004-03-30 2006-04-05 삼성전기주식회사 질화물 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법
TWM261838U (en) * 2004-09-16 2005-04-11 Super Nova Optoelectronics Cor Structure for GaN based LED with high light extraction efficiency
KR100657941B1 (ko) * 2004-12-31 2006-12-14 삼성전기주식회사 요철 구조를 포함하는 발광 소자 및 그 제조 방법
US20060204865A1 (en) * 2005-03-08 2006-09-14 Luminus Devices, Inc. Patterned light-emitting devices
TWI248691B (en) * 2005-06-03 2006-02-01 Formosa Epitaxy Inc Light emitting diode and method of fabricating thereof

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002164296A (ja) * 2000-09-18 2002-06-07 Mitsubishi Cable Ind Ltd 半導体基材及びその作製方法
JP2003209283A (ja) * 2002-01-15 2003-07-25 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
JP2004253743A (ja) * 2003-02-21 2004-09-09 Nichia Chem Ind Ltd 付活剤を含有した基板を用いた発光装置
JP2005064492A (ja) * 2003-07-28 2005-03-10 Kyocera Corp 単結晶サファイア基板とその製造方法及び半導体発光素子
JP2006041479A (ja) * 2004-06-24 2006-02-09 Toyoda Gosei Co Ltd 発光素子およびその製造方法
KR20060000464A (ko) * 2004-06-29 2006-01-06 삼성전기주식회사 돌기부가 형성된 기판을 구비한 질화물 반도체 발광소자
JP2006100518A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Toyoda Gosei Co Ltd 基板表面処理方法及びiii族窒化物系化合物半導体発光素子の製造方法。

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012502496A (ja) * 2008-09-11 2012-01-26 エプラステク カンパニー.,リミテッド 窒化物半導体発光素子およびその製造方法
JP2012074701A (ja) * 2010-09-27 2012-04-12 National Chung Hsing Univ パターン基板、及びそれを用いた発光ダイオード
JP2012114277A (ja) * 2010-11-25 2012-06-14 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物半導体発光素子
JP2012124257A (ja) * 2010-12-07 2012-06-28 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
US8877526B2 (en) 2010-12-07 2014-11-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
US9281444B2 (en) 2011-09-01 2016-03-08 Rohm Co., Ltd. Light emitting device and light emitting device package
US10529903B2 (en) 2011-09-01 2020-01-07 Rohm Co., Ltd. Light emitting device and light emitting device package
US9991430B2 (en) 2011-09-01 2018-06-05 Rohm Co., Ltd. Light emitting device and light emitting device package
JP2013055289A (ja) * 2011-09-06 2013-03-21 Rohm Co Ltd 発光素子および発光素子パッケージ
US10069038B2 (en) 2011-09-30 2018-09-04 Seoul Viosys Co., Ltd. Substrate having concave-convex pattern, light-emitting diode including the substrate, and method for fabricating the diode
JP2014529195A (ja) * 2011-09-30 2014-10-30 ソウル バイオシス カンパニー リミテッドSeoul Viosys Co.,Ltd. 凹凸パターンを有する基板、これを具備する発光ダイオード及び発光ダイオードの製造方法
JP2013084956A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013084955A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013084953A (ja) * 2011-10-07 2013-05-09 Qinghua Univ 発光ダイオード
US9029889B2 (en) 2011-10-07 2015-05-12 Tsinghua University Light emitting diode
US9041030B2 (en) 2011-10-07 2015-05-26 Tsinghua University Light emitting diode
US9041029B2 (en) 2011-10-07 2015-05-26 Tsinghua University Light emitting diode
TWI450420B (zh) * 2011-10-07 2014-08-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 發光二極體
JP2013118380A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
JP2013118378A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
US8796716B2 (en) 2011-12-03 2014-08-05 Tsinghua University Light emitting diode
US8785955B2 (en) 2011-12-03 2014-07-22 Tsinghua University Light emitting diode
US8759858B2 (en) 2011-12-03 2014-06-24 Tsinghua University Light emitting diode
JP2013118379A (ja) * 2011-12-03 2013-06-13 Qinghua Univ 発光ダイオード
US9614136B2 (en) 2012-04-02 2017-04-04 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Optical substrate, semiconductor light-emitting element and method of manufacturing semiconductor light-emitting element
WO2013150984A1 (ja) * 2012-04-02 2013-10-10 旭化成株式会社 光学基板、半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法
JP2014212354A (ja) * 2014-08-20 2014-11-13 株式会社東芝 半導体発光素子及びその製造方法
CN105514225A (zh) * 2014-10-09 2016-04-20 新世纪光电股份有限公司 具粗化表面的薄膜式覆晶发光二极管及其制造方法
JP2016115917A (ja) * 2014-12-12 2016-06-23 王子ホールディングス株式会社 半導体発光素子用基板、および、半導体発光素子
CN105845789A (zh) * 2016-04-11 2016-08-10 厦门乾照光电股份有限公司 一种提高背光源亮度的衬底制作方法
JP2022075717A (ja) * 2019-01-11 2022-05-18 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP7260828B2 (ja) 2019-01-11 2023-04-19 日亜化学工業株式会社 発光装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5206923B2 (ja) 2013-06-12
KR20070110688A (ko) 2007-11-20
US20070262330A1 (en) 2007-11-15
KR100780233B1 (ko) 2007-11-27
EP1858090B1 (en) 2017-07-12
US8013354B2 (en) 2011-09-06
EP1858090A3 (en) 2009-09-02
EP1858090A2 (en) 2007-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5206923B2 (ja) 半導体発光素子
JP5666164B2 (ja) 発光素子の製造方法
JP5283114B2 (ja) パターン形成基板を具備した窒化物半導体発光素子及びその製造方法
JP4964899B2 (ja) パターニングされた発光ダイオード用基板及びそれを採用する発光ダイオード
KR100882240B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
US8501582B2 (en) Semiconductor structure having low thermal stress and method for manufacturing thereof
JP2008047861A (ja) 垂直構造窒化ガリウム系発光ダイオード素子及びその製造方法
JP2007294972A (ja) 発光素子及びその製造方法
JP2006339627A (ja) 垂直構造窒化物系半導体発光ダイオード
US20110001147A1 (en) Semiconductor light-emitting device
JP2007214576A (ja) 窒化物半導体発光素子およびその製造方法
CN101796661A (zh) 半导体发光器件及其制造方法
KR20070093653A (ko) 발광 다이오드의 제조방법
US8314436B2 (en) Light emitting device and manufacturing method thereof
JP2010141331A (ja) 半導体発光素子及びその製造方法
KR101721846B1 (ko) 디스플레이용 초소형 질화물계 발광 다이오드 어레이의 제조방법 및 그에 의해 제조된 디스플레이용 초소형 질화물계 발광 다이오드 어레이
CN103811614A (zh) 具有异质材料结构的发光元件及其制造方法
KR100794121B1 (ko) 발광 다이오드
KR20080085519A (ko) 발광 소자용 기판 및 그 제조방법
KR20130046402A (ko) 반도체 발광소자 및 그 제조방법
TWI786276B (zh) 發光元件之製造方法
US20150171279A1 (en) Epitaxial substrate, method thereof, and light emitting diode
KR101216500B1 (ko) 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR20110114812A (ko) 지향특성 조절이 가능한 발광다이오드 및 그 제조방법
KR101136064B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100331

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20101112

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101227

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20110512

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120424

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120724

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20120813

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130205

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160301

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5206923

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250