JP2007310964A - Nand型フラッシュメモリ装置及びメモリデバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のNAND型フラッシュメモリ装置100は、同時書き込みデータ単位内の前記複数のメモリセルにデータを転送する時に前記データの“1”データ及び“0“データの数に基づいて前記“1”データ又は前記“0“データの極性を反転させるか否かを判断し、前記データを反転して前記メモリセルアレイ101に転送する場合に前記極性を反転したことを示す反転フラグビットを前記データに追加するデータ反転制御部108を具備する。
【選択図】図1
Description
まず、本発明の実施の形態1について、図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係るNAND型フラッシュメモリ装置の構成を示すブロック図である。
次に、本発明の実施の形態2について、図面を参照して詳細に説明する。図8は、本発明の実施の形態2に係るNAND型フラッシュメモリ装置200のメモリセルアレイ201の1つのブロックを示す回路図である。図9は、本発明の実施の形態2に係るNAND型フラッシュメモリ装置200のデータ反転制御回路を示すブロック図である。本発明の実施の形態2においては、本発明の実施の形態1と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
次に、本発明の実施の形態3について、図面を参照して詳細に説明する。図12は、本発明の実施の形態3に係るNAND型フラッシュメモリ装置300のデータ反転制御回路を示すブロック図である。本発明の実施の形態3においては、本発明の実施の形態2と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
次に、本発明の実施の形態4について、図面を参照して詳細に説明する。図14は、本発明の実施の形態4に係るNAND型フラッシュメモリ装置400のデータ反転制御回路を示すブロック図である。本発明の実施の形態4においては、本発明の実施の形態2と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
次に、本発明の実施の形態5について、図面を参照して詳細に説明する。図16は、本発明の実施の形態5に係るNAND型フラッシュメモリ装置500のデータ反転制御回路を示すブロック図である。本発明の実施の形態5においては、本発明の実施の形態2と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
次に、本発明の実施の形態6について、図面を参照して詳細に説明する。図19は、本発明の実施の形態6に係るメモリデバイスを示すブロック図である。本発明の実施の形態6においては、本発明の実施の形態1と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略する。
データ反転制御回路108は、メモリインターフェイス回路625からのデータに前述の処理をして処理後のデータをECC回路624に与える。
101 メモリセルアレイ
102 ロウデコーダ
103 カラムデコーダ
104 選択回路
105 センスアンプ回路
106 主制御回路
107 ECC回路
108、203、301、401、501 データ反転制御回路
109 データレジスタ
110 インターフェイス回路
1081、2031、3011、4011、5011 書込データ反転制御回路
1082 読出データ反転制御回路
10811、20311、30111、40111、50111 データ計数部
10812、20312、30112、40112、50112 演算比較制御部
10813 ラッチ部
10814 データ転送部
600 メモリデバイス
620 コントローラ
621 ホストインターフェイス回路
622 主処理装置
623 バッファRAM
624 ECC回路
625 メモリインターフェイス回路
Claims (5)
- 電気的に書き換え可能な複数のメモリセルがマトリクス状に配置されているメモリセルアレイを具備するNAND型フラッシュメモリ装置において、
同時書き込みデータ単位内の前記複数のメモリセルにデータを転送する時に前記データの“1”データ及び“0“データの数に基づいて前記“1”データ又は前記“0“データの極性を反転させるか否かを判断し、前記データを反転して前記メモリセルアレイに転送する場合に前記極性を反転したことを示す反転フラグビットを前記データに追加するデータ反転制御部を具備することを特徴とするNAND型フラッシュメモリ装置。 - 前記NAND型フラッシュメモリ装置はセンスアンプ回路を具備し、前記センスアンプ回路は、複数のセンスアンプを具備し、1つの前記センスアンプが2つのビット線にスイッチ回路を介して接続され、かつ、前記スイッチ回路が選択情報に基づいて前記2つのビット線の一方のみを選択して1つの前記センスアンプに接続するNAND型フラッシュメモリ装置において、
前記データ反転制御部は、同時書き込みデータ単位内の前記複数のメモリセルのデータの“1”データの数と“0“データの数を計数して“1”データ計数値と“0“データ計数値を生成するデータ計数部と、
前記“1”データ計数値と前記“0“データ計数値との大小を比較して比較結果を生成する比較部と、を具備し、
前記“1”データ計数値が前記“0“データ計数値より小さいことを前記比較結果が示している時に当該比較結果に係るデータの極性を反転させることを特徴とする請求項1に記載のNAND型フラッシュメモリ装置。 - 前記NAND型フラッシュメモリ装置はセンスアンプ回路を具備し、前記センスアンプ回路は、複数のセンスアンプを具備し、1つの前記センスアンプが1つのビット線に接続されているNAND型フラッシュメモリ装置において、
前記データ反転制御部は、前記メモリセルアレイの奇数ページと偶数ページで隣り合うデータ同士の排他的論理和をとって前記“1”データと前記“0“データとが隣接する数が少なくなるように前記奇数ページ又は前記偶数ページのデータの極性を反転させることを特徴とする請求項1に記載のNAND型フラッシュメモリ装置。 - 前記データ反転制御部は、前記メモリセルアレイの奇数ページと偶数ページで隣り合うデータ同士の排他的論理和をとって前記“1”データと前記“0“データとが隣接する個数をカウントして隣接個数カウント値を生成し、前記隣接個数カウント値がページのデータの個数の半分以上である場合に前記奇数ページ又は前記偶数ページのデータの極性を反転させ、前記隣接個数カウント値が前記ページのデータの個数の半分未満である場合に前記奇数ページ及び前記偶数ページの両方のデータの極性を反転させない、又は、反転させることを特徴とする請求項3に記載のNAND型フラッシュメモリ装置。
- 電気的に書き換え可能な複数のメモリセルがマトリクス状に配置されているメモリセルアレイを具備するNAND型フラッシュメモリ装置と、前記NAND型フラッシュメモリ装置を制御するコントローラと、を具備し、
前記コントローラは、同時書き込みデータ単位内の前記複数のメモリセルにデータを転送する時に前記データの“1”データ及び“0“データの数に基づいて前記“1”データ又は前記“0“データの極性を反転させるか否かを判断し、前記データを反転して前記メモリセルアレイに転送する場合に前記極性を反転したことを示す反転フラグビットを前記データに追加するデータ反転制御部を有することを特徴とするメモリデバイス。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010218447A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Renesas Electronics Corp | データ処理装置 |
JP2011141914A (ja) * | 2010-01-05 | 2011-07-21 | Siglead Inc | Nand型フラッシュメモリの入出力制御方法及び装置 |
JP2011233207A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Univ Of Tokyo | データ入出力制御装置および半導体記憶装置システム |
WO2014010763A1 (ko) * | 2012-07-11 | 2014-01-16 | 한양대학교 산학협력단 | 쓰기 데이터 패턴 인식에 의한 플래시 메모리 관리 장치 및 방법 |
JP2014038691A (ja) * | 2008-07-02 | 2014-02-27 | Conversant Intellectual Property Management Inc | セル当たり複数ビット(mbc)不揮発性メモリ内のデータを読み出す方法、メモリコントローラおよびシステム |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009043357A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
KR20090017270A (ko) * | 2007-08-14 | 2009-02-18 | 삼성전자주식회사 | 멀티 비트 프로그래밍 장치 및 방법 |
KR100857252B1 (ko) * | 2007-12-27 | 2008-09-05 | (주)인디링스 | 마모도를 비트 수준에서 평준화하는 플래시 메모리 장치 및플래시 메모리 프로그래밍 방법 |
JP4719236B2 (ja) * | 2008-03-21 | 2011-07-06 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置及び半導体記憶システム |
US7855913B2 (en) * | 2008-06-10 | 2010-12-21 | Micron Technology, Inc. | Dynamically configurable MLC state assignment |
KR101497545B1 (ko) * | 2008-09-12 | 2015-03-03 | 삼성전자주식회사 | 프리 페이지 검출 방법 및 장치와 이를 이용한 에러 정정 코드 디코딩 방법 및 장치 |
US7978493B1 (en) * | 2008-09-18 | 2011-07-12 | Altera Corporation | Data encoding scheme to reduce sense current |
US8218380B2 (en) | 2009-10-30 | 2012-07-10 | Apple Inc. | Degradation equalization for a memory |
WO2011128867A1 (en) | 2010-04-15 | 2011-10-20 | Ramot At Tel Aviv University Ltd. | Multiple programming of flash memory without erase |
JP2012058860A (ja) | 2010-09-06 | 2012-03-22 | Toshiba Corp | メモリシステム |
KR101379883B1 (ko) * | 2012-11-06 | 2014-04-01 | 한국과학기술원 | 플래시 메모리의 소모 전력 감소 방법 및 그 장치 |
US9007866B2 (en) * | 2013-04-23 | 2015-04-14 | Tessera Inc. | Retention optimized memory device using predictive data inversion |
TWI566249B (zh) * | 2014-11-21 | 2017-01-11 | 慧榮科技股份有限公司 | 快閃記憶體的資料寫入方法與其控制裝置 |
KR102327076B1 (ko) * | 2014-12-18 | 2021-11-17 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 저장 장치 및 그것의 동작 방법 |
KR20160093430A (ko) * | 2015-01-29 | 2016-08-08 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이의 데이터 입출력 방법 |
US20160276042A1 (en) * | 2015-03-20 | 2016-09-22 | Microchip Technology Incorporated | One Time Programmable Memory |
US10007573B2 (en) | 2015-04-27 | 2018-06-26 | Invensas Corporation | Preferred state encoding in non-volatile memories |
US10084570B2 (en) * | 2016-02-08 | 2018-09-25 | Rockley Photonics Limited | System and method for line coding |
JP2018160295A (ja) | 2017-03-22 | 2018-10-11 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP6960877B2 (ja) | 2018-03-22 | 2021-11-05 | キオクシア株式会社 | メモリシステム |
US10622065B2 (en) * | 2018-09-12 | 2020-04-14 | Micron Technology, Inc. | Dedicated commands for memory operations |
US11456033B2 (en) | 2018-09-12 | 2022-09-27 | Micron Technology, Inc. | Dedicated commands for memory operations |
CN110968451B (zh) * | 2018-09-30 | 2021-09-21 | 华为技术有限公司 | 内存访问技术及计算机系统 |
GB2593690B (en) * | 2020-03-30 | 2022-11-09 | Imagination Tech Ltd | Efficient encoding methods |
CN114115701A (zh) * | 2020-09-01 | 2022-03-01 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 非易失性存储器及其写入方法及读取方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04276393A (ja) * | 1991-03-04 | 1992-10-01 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH06267283A (ja) * | 1993-03-16 | 1994-09-22 | Mitsubishi Electric Corp | データ書き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込み/読み出し方法 |
JPH09204783A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Sony Corp | 半導体不揮発性記憶装置 |
JPH113594A (ja) * | 1997-06-12 | 1999-01-06 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリおよびデータ書込み、読出し方法 |
JP2005100527A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体不揮発性記憶装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0169267B1 (ko) * | 1993-09-21 | 1999-02-01 | 사토 후미오 | 불휘발성 반도체 기억장치 |
KR20020081925A (ko) * | 2001-04-20 | 2002-10-30 | 삼성전자 주식회사 | 페이지 카피 플래그 셀 어레이를 갖는 불휘발성 반도체메모리 장치 |
KR100464951B1 (ko) | 2002-03-28 | 2005-01-06 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 플래시 메모리 소모 전력 감소 장치 및 방법 |
JP4330396B2 (ja) | 2003-07-24 | 2009-09-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
JP2005116132A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
-
2006
- 2006-05-18 JP JP2006139280A patent/JP4928830B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-05-16 US US11/749,214 patent/US7518922B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-17 KR KR1020070048053A patent/KR100934313B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04276393A (ja) * | 1991-03-04 | 1992-10-01 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH06267283A (ja) * | 1993-03-16 | 1994-09-22 | Mitsubishi Electric Corp | データ書き込み可能な読み出し専用メモリ及びそのデータ書き込み/読み出し方法 |
JPH09204783A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Sony Corp | 半導体不揮発性記憶装置 |
JPH113594A (ja) * | 1997-06-12 | 1999-01-06 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリおよびデータ書込み、読出し方法 |
JP2005100527A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体不揮発性記憶装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014038691A (ja) * | 2008-07-02 | 2014-02-27 | Conversant Intellectual Property Management Inc | セル当たり複数ビット(mbc)不揮発性メモリ内のデータを読み出す方法、メモリコントローラおよびシステム |
JP2010218447A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Renesas Electronics Corp | データ処理装置 |
JP2011141914A (ja) * | 2010-01-05 | 2011-07-21 | Siglead Inc | Nand型フラッシュメモリの入出力制御方法及び装置 |
JP2011233207A (ja) * | 2010-04-28 | 2011-11-17 | Univ Of Tokyo | データ入出力制御装置および半導体記憶装置システム |
WO2014010763A1 (ko) * | 2012-07-11 | 2014-01-16 | 한양대학교 산학협력단 | 쓰기 데이터 패턴 인식에 의한 플래시 메모리 관리 장치 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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