JP2007304603A - 液晶表示装置用アレイ基板とその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】開口率向上と共に十分な補助容量確保、速い作動特性そしてCgdの変動量が少ない新しい構造の液晶表示装置用アレイ基板を提供する。
【解決手段】液晶表示装置用アレイ基板と、アレイ基板の製作方法を開示する。アレイ基板を構成する薄膜トランジスタの構成中ソース電極とドレーン電極の構造を改善して、薄膜トランジスタの大きさをさらにコンパクトに構成することによってストレージ容量と開口率を改善すると同時に、ソース電極とドレーン電極間のチャネル幅は広く、長さは短く構成してスイッチング素子の作動特性を改善して、ドレーン電極とゲート電極間に生成される寄生容量Cgdの変動を最少化して残像または画素間の不均一を改善する。
【選択図】図5A

Description

本発明は液晶表示装置に係り、詳細にはコンパクトな構造の薄膜トランジスタを含む液晶表示装置用アレイ基板とその製造方法に関する。
前記液晶表示装置は液晶の光学的異方性を利用して画像を表示する装置であって、大別して上部基板と下部基板と前記上部基板と下部基板の間に位置した液晶によって構成される。
以下、図1を参照して説明する。
図1は、一般的な液晶表示装置を概略的に図示した分解斜視図である。
図示したように、一般的な液晶表示装置はブラックマトリックス6とサブカラーフィルタ(赤、緑、青)7を含んだカラーフィルタ7とカラーフィルタ上に透明な共通電極18が形成された上部基板5と、画素領域Pと画素領域上に形成された画素電極17とスイッチング素子Tを含んだアレイ配線が形成された下部基板22とで構成され、前記上部基板5と下部基板22間には液晶14が充填されている。
前記下部基板22は、アレイ基板ともいって、スイッチング素子である薄膜トランジスタTがマトリックス状(matrix type)で位置して、このような多数の薄膜トランジスタを交差して経由するゲート配線13とデータ配線15が形成される。
前記画素領域Pは、前記ゲート配線13とデータ配線15が交差して定義される領域である。前記画素領域P上に形成される画素電極17はインジウム−スズ−オキサイド(ITO)またはインジウム−酸化亜鉛(IZO)のように光の透過率が比較的優れた透明導電性金属を用いる。
前述したように構成される液晶表示装置は、前記画素電極17上に位置した液晶層14が前記薄膜トランジスタTから印加された信号によって配向されて、前記液晶層の配向程度によって前記液晶層14を透過する光の量を調節する方式で画像を表現できる。
図2は、従来の第1例による液晶表示装置用アレイ基板の一部の画素を図示した拡大平面図である。
アレイ基板22は、図示したような画素Pの多数がマトリックス状に構成され、画素はスイッチング素子である薄膜トランジスタTと画素電極17と補助容量であるストレージキャパシタCとで構成される。
前記薄膜トランジスタTは、ゲート電極26とソース電極28とドレーン電極30とアクティブ層24で構成されて、前記ソース電極28はデータ配線15と連結され前記ゲート電極26は前記データ配線15と交差して画素領域Pを定義するゲート配線13と連結されるように構成される。
この時、前記データ配線15は、アクティブ層24と平面的に重ねて形成される構造であり、前記ストレージキャパシタCはストレージオンゲート(storage on gate)構造であって、画素電極17とその下部のゲート配線15がストレージキャパシタCの上/下電極になってM/I/M(metal/insulator/metal)に形成された構造である。
このような構成を有するアレイ基板の作動特性は、前記スイッチング素子である薄膜トランジスタTの作動特性と前記ストレージキャパシタCの充電容量に影響を受ける。したがって、アレイ基板を設計する時重要な部分が前記薄膜トランジスタと、前記ストレージキャパシタの構造と形状である。
さらに詳細に説明すると、一般に前記薄膜トランジスタTはソース電極28とドレーン電極30間に存在するアクティブチャネルの幅Wとアクティブチャネルの長さLによって作動特性が変わる問題と、ドレーン電極30とゲート電極26間の重ねられた面積によって発生する寄生キャパシタであるCgdの変動量を減らす問題は、前記薄膜トランジスタの設計において最も大きな課題である。
前記Cgd値は、以下式(1)によって計算できる。
Figure 2007304603
この時、前記Agdは、前記ゲート電極26とドレーン電極30が重なる面積Mを示し、前記dgdは前記ゲート電極26とドレーン電極30間の距離を意味する。
したがって、前記ゲート電極26とドレーン電極30の重なる面積が小さいほど望ましい構成であることが分かる。
また、前記Cgdは、前で説明したように、交流で駆動するアレイ基板で液晶を劣化させて、残像を誘発する主な原因である直流成分のオフセット電圧ΔVと密接な関連を有する。
前記Cgdと、ΔVとの関係は以下式(2)によって分かる。
Figure 2007304603
前述した式で前記VSCは、信号電圧の中間値であり、電圧Vpcは画素電極にかかる電圧の中間値であって、電圧Vはゲート電極にかかる電圧であって、前記Cは全体容量であってC=Cgd+C+CLCに示すことができる。
この時、前記Cgdは、ゲート電極とドレーン電極間の寄生容量であり、前記Cはストレージキャパシタ補助容量であって、前記CLCは液晶容量を示す。
前記式(2)によって前記オフセット電圧値ΔVは前記ゲート電極とドレーン電極間に発生するCgd値に比例するという結論を得ることができる。したがって、アレイ基板の作動特性を向上させるには、前記Cgd値は小さいほど好ましい。
薄膜トランジスタTの構成上前記Cgd値は常に存在し、一般に前記Cgd値が一定である仮定の上で共通電圧を利用して前記ΔV値を補正する。
しかし、多数の工程を経て初めて完成されるアレイ基板の工程過程中整列誤差(ミスアラインメント)によって前記ゲート電極26とドレーン電極30間の重ね合わせ部の面積は変化し、結果的に前記Cgd値の変動によってΔV値が変化する。
結果的に、補正が不十分になって画面に残像または画素間の不均一が発生する。
したがって、前記Cgd値を一定に維持することも重要である。
前述したような多くの要因を考慮する時、従来の第1例である図2の構成は、第一に、製造工程において誤差が発生すれば、ゲート電極26値とドレーン電極30間の重ねあわせ面積が変化する構造である。
第二に、薄膜トランジスタTが画素領域Pの一部分を占めている構造なので、液晶パネルの輝度を決定する開口率が小さくなる構造である。
図2に示したこのような構成の、より改善された構造を以下に、図3を参照して説明する。
図3は、従来の第3例による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図である。
図示したように、図3は前記図2の構成とは違って薄膜トランジスタTを画素領域Pでないゲート配線13上部に構成した。
このように構成すれば、前記画素領域Pで薄膜トランジスタTが占めたのと同程度の領域をさらに確保できるので開口率が大きく改善される。
また、ソース電極28とドレーン電極30間のチャネルCHをアクティブ層24上に“L”型に構成して前記チャネル幅Wをさらに広めて薄膜トランジスタTの作動特性を改善する構造である。
しかし、このような構造は、前記薄膜トランジスタTをゲート配線13上に構成したので、ストレージオンゲート構造で形成されるストレージキャパシタCの面積が小さくなる結果を招く。
したがって、十分な補助容量値を確保できない構造である。
また、ゲート電極(ゲート配線の一部を使用)とドレーン電極30間に整列誤差が発生すれば、二電極間の重なる面積Mも変化する構造である。
したがって、この場合にもやはり残像または画質の不均一を示す要素が発生する。
ストレージ容量と、開口率を考慮して前記第2例よりさらに改善された構造を以下、図4を参照して説明する。
図4は、従来の第3例による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図である。
従来の第3例は図示したように、前記ソース電極28とドレーン電極30を前記ゲート配線13を沿って1方向に相互対称的に構成せず、前記ドレーン電極30が前記ゲート配線13に対して所定の傾斜を有して画素領域Pの微少領域一部と、前記ゲート配線13の微少領域の一部にかけて構成されている。
したがって、前記従来の第2例の構成に比べて前記ゲート配線13上部を占める薄膜トランジスタTの領域が縮小しており、画素領域に占める比率の変化が従来の第2例に比べて小さい。
したがって、ストレージキャパシタCの領域をさらに拡大できるので十分な量の補助容量を確保できる構造であって、開口率も従来の第1例に比べてはるかに改善された構造である。
また、前記ソース電極28とドレーン電極30間のアクティブチャネルが従来の第2の構成のように“L”字形に構成されてさらに大きなチャネル幅を確保できるのでスイッチング素子である薄膜トランジスタの速い作動特性を確保できる構造である。
しかし、従来の第3例も工程中に前記ゲート電極(ゲート配線の一部)26とドレーン電極間に整列誤差が発生すれば、前記2つの電極の重なる部分の面積Mが大きく変化する構造である。
したがって、Cgdが変動して画質が不安定になる問題点がある。
したがって、前述したような問題を解決するために、本発明は開口率向上と共に十分な補助容量確保、速い作動特性そしてCgdの変動量が少ない新しい構造の液晶表示装置用アレイ基板を提供することを目的とする。
前述したような目的を達成するための本発明による液晶表示装置用アレイ基板は、基板と;前記基板上に構成されたゲート配線と;前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線と;”U”字状の溝を有するソース電極と、前記”U”字状の溝内部で棒状で位置したドレーン電極を含む薄膜トランジスタと;前記ドレーン電極と接触する透明画素電極と;前記画素領域を定義するゲート配線の一部をストレージ第1電極にして、前記画素電極と接触するストレージ第2電極を有するストレージキャパシタを具備する。
望ましくは、前記ソース電極の”U”字状溝の対称軸と前記ゲート配線がなす角θは30°≦θ≦60°の範囲を有する。
前記ソース電極及びドレーン電極は、前記ゲート配線上に構成される。
前記透明画素電極は、インジウム−スズ−オキサイド(ITO)とインジウム−酸化亜鉛(IZO)で形成する。
前記ストレージ第1電極とストレージ第2電極間には誘電層が存在し、前記誘電層は窒化シリコン(SiN)またはシリコン酸化膜で形成する。
本発明の特徴による液晶表示装置用アレイ基板製造方法は基板を準備する過程と;前記基板上にゲート配線を形成する過程と;前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線を形成する過程と;前記データ配線から突出するよう形成されて、”U”字状の溝を有するソース電極と、前記”U”字状の溝内部で、前記ソース電極と所定間隔離隔して棒状で位置したドレーン電極を形成する過程と;前記ドレーン電極と接触する透明画素電極を形成する過程と;前記画素領域を定義する一部ゲート配線である第1ストレージ電極上部にアイランド状の第2ストレージ電極を構成して、前記第2ストレージ電極と前記画素電極が接触してストレージキャパシタを形成する過程を含む。
本発明による液晶表示装置用アレイ基板は、第一に、ソース電極に凹状溝を形成して、ドレーン電極を前記凹状溝内部に構成して、ソース/ドレーン電極が占める領域を縮めたために開口率が改善されたアレイ基板を製作できる効果がある。
また、前記ソース電極の仮想的な対称軸を前記ゲート配線と30°≦θ≦60°間の傾斜を有して構成する場合、ストレージキャパシタの面積をさらに確保することができて整列誤差が発生してもCgdの変動量がほとんどないために液晶パネルの安定な作動特性と液晶パネルの画質を改善する効果がある。
第二に、前記アクティブ層を前記データ配線の下部に延長形成して、前記データ配線の付着特性が改善されるようにすることによって、信頼性ある液晶パネルを製作できる効果がある。
第三に、前述したような本発明によるソース電極とドレーン電極の構成は、前記二電極間に存在するアクティブチャネルの長さを縮めると同時に、アクティブチャネルの構成が短いチャネル長さと一緒にさらに広いチャネル幅を確保できる構造であるので速い作動特性を有するアレイ基板を製作できる効果がある。
以下、添付した図面を参照して本発明による望ましい実施例を説明する。
−−実施例−−
図5Aは、本発明によるアレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図であり、図5Bはドレーン電極がゲート配線となす角度を示すためのグラフである。
図示したように本発明による液晶表示装置用アレイ基板100は、1方向に延びたゲート配線102と、ゲート配線102と交差して画素領域Pを定義して1方向に延びたデータ配線120を含む。ゲート配線102では画素領域P側に突出したゲート電極101を形成する。このゲート電極101はゲート配線102と連結される部分に連結部101'を含んでいる。
前記データ配線120から突出するよう形成されてソース電極112が形成され、前記ソース電極112と所定間隔離隔され突出部114aを有したドレーン電極114が形成される。
前記突出状のソース電極112に”U”字状の溝が構成され、前記ドレーン電極114の突出部114aは前記”U”字状の溝内側に前記ソース電極112と所定間隔離隔して位置して、前記ソース電極112とドレーン電極114の突出部114a間に存在する”U”字状のアクティブチャネルCHを定義する。
この時、望ましくは図示したように、前記”U”字状及びドレーン電極114の突出部114aの仮想的な対称軸Aは前記ゲート配線102と所定の角θを作り、前記θは30°≦θ≦60°の値を有するようにする。
このように構成すれば、アレイ基板の製作工程中整列誤差が発生しても前記ゲート電極101とドレーン電極114の重なる部分の面積Mの変動量が少なくCgdの変動量が大きくならないために画質に影響を及ぼさない。すなわち、ゲート電極101が連結部101'を含んでおり、この連結部101'上にドレーン電極114の突出部114aが重なるので、ゲート電極101とドレーン突出部114aの重なる面積Mの変動量が少なくてCgdの変動量が少なくなる。
以下、前述したように構成された本発明の第1例の特徴は下の3つに要約できる。
第1の特徴は、薄膜トランジスタTを小型に製作できるということである。
すなわち、ソース電極112に”U”字状の溝を構成して、前記”U”字状の溝内部に突出部114aを含むドレーン電極114を形成するために、前記ドレーン電極114の面積ほど小さくなったスイッチング素子を得ることができる。
第2の特徴は、前記”U”字状の溝を有するソース電極112とドレーン電極114の構成によって、アクティブチャネル116の形状を短いチャネル長さLと広いチャネル幅Wを有する”U”字状で構成できるので、スイッチング素子の速い作動特性を得ることができることである。
第3の特徴は、前記小型薄膜トランジスタTを前記ゲート配線102上部に構成するために開口率をさらに確保できることである。
第4の特徴は、前記ゲート配線102上に構成された薄膜トランジスタTが小型なので、ストレージオンゲート構造のストレージキャパシタCの面積をさらに確保でき、十分な補助容量を得ることができることである。
第5の特徴は、前記ソース電極112の”U”字状の溝が前記ゲート配線102と所定の角度を有するように構成することで、前記第3の特徴ないし前記第4の特徴をさらに大きくする構造である。
また、工程中整列誤差が発生しても前記ゲート電極101がドレーン電極114の突出部114aに対応する連結部101'を含んでいるために、前記ドレーン電極114とゲート電極101間の重ねる面積Mの変動が少なくて画質が安定な液晶パネルを得ることができる。
前述したような特徴を有する本発明による液晶表示装置用アレイ基板の製造方法を以下図6Aないし図6Jを参照して説明する。
図6Aないし図6Jは、図5の構成を工程順序によって図示した工程平面図と対応する平面図のVI−VIに沿って切断した工程断面図である。
図6Aと6Bは、ゲート配線を形成する過程である。
まず、基板100上にアルミニウム(Al)、アルミニウム系合金(AlNd)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)等の導電性金属グループ中一つを蒸着してパターニングして、ゲート配線102及びゲート電極101を形成する。前記ゲート電極101はゲート配線102と連結される部分に連結部101'を含んでおり、この連結部101'はあとに形成されるドレーン電極の突出部と対応する。
前記ゲート配線をアルミニウム系金属を用いて形成する場合にはアルミニウム−ネオジム/モリブデン(AlNd/Mo)またはアルミニウム−ネオジム/クロム(AlNd/Cr)のように二重層に形成する。なぜなら、前記ゲート配線102の第1層に用いられたアルミニウム系金属は抵抗が小さいためにゲート配線を流れる信号のRCディレイを減らすことができるからである。しかし、前記アルミニウム系金属は化学製品に対する耐食性が小さいためにエッチング溶液によってエッチング侵食されて断線不良が生じる問題が発生する。したがって、これを防止するために化学薬品に対する耐食性が強いモリブデン(Mo)などの金属を用いて二重層に形成する。
この時、前記ゲート配線102の一部は、ゲート電極101とストレージ第1電極102’に用いる。
図6C及び図6Dは、半導体層を形成する過程を図示した図面である。
すなわち、前記ゲート配線102などが形成された基板100の全面にシリコン窒化膜(SiN)とシリコン酸化膜(SiO)を含む無機絶縁物質グループまたは場合によってはベンゾシクロブテンとアクリル系樹脂等を含む有機絶縁物質のグループから選択された一つを蒸着または塗布してゲート絶縁膜200を形成する。
次に、前記ゲート絶縁膜200が形成された基板100の全面に純粋な非晶質シリコン(a−Si:H)と不純物を含む非晶質シリコン(n+a−Si:H)を蒸着した後パターンして、アクティブ層116とオーミックコンタクト層118を形成する。
この時、図示したように、望ましくは前記平面的に重なったアクティブ層116とオーミックコンタクト層118に延長部116a、118aを形成し、前記延長部116a、118aは以後工程で形成されるデータ配線と同一な様子のパターンに形成する。前記延長部116a、118aをさらに形成する理由は、以後の工程で形成されるデータ配線の付着特性を改善するためである。
図6Eと図6Fは、データ配線120と第2ストレージ電極120’を形成する過程を図示した図面である。
すなわち、前記オーミックコンタクト層118が形成された基板100の全面に導電性金属を蒸着してパターンして、前記積層されたアクティブ層116とオーミックコンタクト層118の延長部116a、118a上にデータ配線120と、前記データ配線120から前記ゲート電極101上部に突出するよう形成されたソース電極112と、これとは所定間隔離隔されたドレーン電極114と前記ストレージ第1電極102’の上部にアイランド状にストレージ第2電極120’を形成する。
この時、前記ソース電極112の突出部は凹状溝(望ましくは”U”字状の溝)を構成し、前記凹状の溝内部にドレーン電極114の棒状突出部114aを形成する。このように構成すれば、前記ドレーン電極114が前記ソース電極112内に位置するために従来に比べて薄膜トランジスタTの大きさを縮小することができる構造である。
この時、望ましくは、前記凹状溝の仮想的な対称軸Aが前記ゲート配線102に対して傾斜を有するように構成すれば、前記薄膜トランジスタTがゲート配線102を占める領域が大幅に減少する。
望ましくは、前記ゲート配線102と前記ソース電極112の凹状溝の対称軸がなす角θを30°≦θ≦60°間の値にすれば前記薄膜トランジスタTがゲート配線102を占める領域が最小になって、工程中整列誤差が発生しても前記ゲート電極101と前記ドレーン電極114の重ねる面積の変動が小さい。
さらに望ましくは、前記ゲート配線102と前記ソース電極の凹状溝の仮想的な対称軸Aがなす角θが45°である時、前述したような本発明による特徴を極大化できる。また、前記ドレーン突出部114aが連結部101'をすぎて前記ゲート電極101と重なるので、突出部114aとゲート電極101が整列誤差(misalignment)が発生しても、重ねる面積Mの変動が少なくてCgdの変動が少なく、液晶表示装置の画質が改善される。
以後、前記パターンされたソース電極112及びドレーン電極114をマスクとして、前記オーミックコンタクト層118の一部分をエッチングして下部の半導体層116を露出する。
前記ソース電極112とドレーン電極114間に存在するオーミックコンタクト層118を除去する理由は漏れ電流を減らすためである。
図6Gと図6Hは、保護膜124を蒸着してコンタクトホールを形成する過程である。
前述したような絶縁物質を蒸着または塗布して保護層124を形成した後パターンして、前記ストレージ第2電極120'の一部分が露出されるストレージコンタクトホール204と、前記ドレーン電極114が露出されるドレーンコンタクトホール119を形成する。
図6I及び図6Jは、画素電極を形成する過程を図示した図面である。
図示したように、前記保護層124がパターンされた基板100の全面にインジウム−スズ−オキサイドとインジウム−酸化亜鉛(IZ0)等で構成された透明導電性金属のグループから選択された一つを蒸着してパターンして、画素電極117を形成する。
この時、前記画素電極117は、前記ドレーンコンタクトホール119を通して一部が露出されたドレーン電極114と接触すると同時に、前記ストレージコンタクトホール204を通して一部が露出されたストレージ第2電極120'と接触する。
最終的に、ストレージ第1電極102’と、誘電層であるゲート絶縁膜200と、ストレージ第2電極120’で構成されたストレージキャパシタCが構成される。
前述したような工程を経て本発明による液晶表示装置用アレイ基板を製作できる。
本発明による液晶表示装置用アレイ基板は、第一に、ソース電極に凹状溝を形成して、ドレーン電極を前記凹状溝内部に構成して、ソース/ドレーン電極が占める領域を縮めたために開口率が改善されたアレイ基板を製作できる効果がある。
また、前記ソース電極の仮想的な対称軸を前記ゲート配線と30°≦θ≦60°間の傾斜を有して構成する場合、ストレージキャパシタの面積をさらに確保することができて整列誤差が発生してもCgdの変動量がほとんどないために液晶パネルの安定な作動特性と液晶パネルの画質を改善する効果がある。
第二に、前記アクティブ層を前記データ配線の下部に延長形成して、前記データ配線の付着特性が改善されるようにすることによって、信頼性ある液晶パネルを製作できる効果がある。
第三に、前述したような本発明によるソース電極とドレーン電極の構成は、前記二電極間に存在するアクティブチャネルの長さを縮めると同時に、アクティブチャネルの構成が短いチャネル長さと一緒にさらに広いチャネル幅を確保できる構造であるので速い作動特性を有するアレイ基板を製作できる効果がある。
一般的なカラー液晶表示装置を図示した分解斜視図である。 従来の第1例による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図である。 従来の第2例による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図である。 従来の第3例による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図である。 図5Aは、本発明による液晶表示装置用アレイ基板の一部画素を図示した拡大平面図であり、図5Bは、ドレーン電極がゲート配線となす角度を見せるためのグラフである。 図6Aないし図6Jは、図5Aのアレイ基板の製作工程による平面図と、これを対応するVI−VIを沿って切断して工程によって図示した工程断面図である。
符号の説明
100:(透明)基板
101:ゲート電極
102:ゲート配線
102’:ストレージ第1電極
112:ソース電極
114:ドレーン電極
116:アクティブ層
117:画素電極
118:オーミックコンタクト層
119:ドレーンコンタクトホール
120’:ストレージ第2電極
124:保護層
200:ゲート絶縁膜
204:ストレージコンタクトホール

Claims (22)

  1. 基板と;前記基板上に構成されたゲート配線と;
    前記ゲート電極を含むゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線と;
    ゲート電極と、アクティブ層と、ソース電極及びドレーン電極を含む薄膜トランジスタにおいて、
    前記ゲート電極はゲート配線と接する部分に連結部を含み、前記ソース電極は凹状の溝を有し、前記ドレーン電極は前記ソース電極の凹状溝内部で前記ソース電極と一定な間隔を置いて位置した突出部を含み、前記ソース電極とドレーン電極の仮想的な対称軸
    はゲート配線と一定な角度をなす薄膜トランジスタと;
    前記ドレーン電極と接触する透明画素電極とを含み、
    前記ドレーン電極の前記突出部は、前記ゲート電極の連結部と重なること
    を特徴とする液晶表示装置用アレイ基板。
  2. 前記ソース電極の凹状溝及びドレーン電極の仮想的な対称軸が前記ゲート配線となす角θは30°≦θ≦60°の範囲を有することを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  3. 前記ソース電極の凹状溝及びドレーン電極の仮想的な対称軸が前記ゲート配線となす角θは45度であることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  4. 前記凹状の溝は”U”字状であることを特徴とする請求項2または3のいずれか1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  5. 前記ソース電極及びドレーン電極は、前記ゲート配線上に構成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  6. 前記アクティブ層は延長部を有し、前記延長部は前記データ配線と平面的に重ねて形成されたことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  7. 前記透明画素電極は、インジウム−スズ−オキサイド(ITO)とインジウム−酸化亜鉛(IZO)とで構成された透明導電性金属のグループから選択された一つであることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  8. ゲート電極とアクティブ層間にゲート絶縁膜をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  9. ストレージ第1電極にゲート配線の一部と、前記画素電極と連結されるストレージ第2電極と、誘電層でゲート絶縁膜を含むストレージキャパシタをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  10. 前記ゲート絶縁膜は、窒化シリコン(SiN)または酸化シリコン(SiO)を含む無機絶縁物質のグループから選択された一つであることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  11. 透明画素電極と薄膜トランジスタ間に、さらに保護層を含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  12. 基板を準備する過程と;
    前記基板上にゲート配線であって、前記ゲート配線と連結される部位に連結部を含むゲート電極を含んだゲート配線を形成する過程と;
    前記ゲート配線と交差して画素領域を定義するデータ配線を形成する過程と;
    前記ゲート電極上部に位置するアクティブ層を形成する過程と;
    前記データ配線から突出するよう形成されて凹状の溝を有するソース電極と、前記凹状の溝内部で前記ソース電極と一定な間隔を置いて位置し、前記ゲート電極の連結部と重なる突出部を含んだドレーン電極と、前記ソース電極とドレーン電極の仮想的な対称軸がゲート配線と一定な角度をなすように形成する過程と;
    前記ドレーン電極と接触する透明画素電極を形成する過程とを含むことを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  13. 前記ソース電極の凹状溝及びデータ電極の突出部の対称軸と前記ゲート配線がなす角θは30°≦θ≦60°の範囲を有することを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  14. 前記ソース電極の凹状溝及びドレーン電極の仮想的な対称軸が前記ゲート配線となす角θは45度であることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  15. 前記凹状の溝は”U”字状であることを特徴とする請求項12ないし14のうちのいずれか1に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  16. 前記ソース電極及びドレーン電極は、前記ゲート配線上に構成されることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  17. 前記アクティブ層は延長部を有し、前記延長部は前記データ配線と平面的に重ねて形成されることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  18. 前記透明電極は、インジウム−スズ−オキサイド(ITO)とインジウム−酸化亜鉛(IZO)等を含む透明導電性金属のグループから選択された一つであることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  19. さらに、ゲート電極とアクティブ層間にゲート絶縁膜を形成する過程を含むことを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  20. さらに、ストレージ第1電極にゲート配線の一部と、前記画素電極と連結されるストレージ第2電極と、誘電層でゲート絶縁膜を含むストレージキャパシタを形成する過程を含むことを特徴とする請求項19に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  21. 前記ゲート絶縁膜は、窒化シリコン(SiN )または酸化シリコン(SiO )を含む無機絶縁物質のグループから選択された一つで形成することを特徴とする請求項20に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
  22. さらに、透明画素電極をソース電極、ドレーン電極及びデータ配線上に保護層を形成する過程を含むことを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置用アレイ基板製造方法。
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