JP2007273547A - 半導体素子及び半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フリップチップ方式で実装される半導体素子1は、半導体基板2と、半導体基板上に形成された電極3と、電極3の上面の一部に露出面3aを形成するように電極上に配された絶縁体のカバーコート膜4と、電極3の露出面3a及びカバーコート膜4上に形成された導電体の密着層5と、密着層5上に形成されたバンプ6と、を備える。電極3の露出面3aの面積は、バンプ6と密着層5との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%である。
【選択図】図1
Description
2 半導体基板
3 電極
3a 露出面
4 カバーコート膜
4a 開口部
5 密着層
5a 凹部
6 バンプ
6a 外周
6b 凸部
7 めっきレジスト膜
8 バリアメタル層
9 バンプ
11 半導体装置
12 配線基板
13 パッド
14 ソルダーレジスト膜
15 はんだ
16 アンダーフィル樹脂
21 半導体素子
22 半導体基板
22a 層間絶縁膜
23 電極
24 カバーコート膜
25 密着層
26 バンプ
27 めっきレジスト膜
28 バリアメタル層
29 バンプ
31 半導体装置
32 配線基板
33 パッド
34 ソルダーレジスト膜
35 はんだ
36 アンダーフィル樹脂
37 クラック
Claims (10)
- フリップチップ方式で実装される半導体素子であって、
半導体基板と、
前記半導体基板上に形成された電極と、
前記電極の上面の一部に露出面を形成するように前記電極上に配された絶縁体のカバーコート膜と、
前記電極の前記露出面及び前記カバーコート膜上に形成された導電体の密着層と、
前記密着層上に形成されたバンプと、を備え、
前記電極の前記露出面の面積は、前記バンプと前記密着層との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%であることを特徴とする半導体素子。 - 前記バンプは、銅を主成分とすることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子。
- フリップチップ方式で実装される半導体素子であって、
半導体基板と、
前記半導体基板上に形成された電極と、
前記電極の上面の一部に露出面を形成するように前記電極上に配された絶縁体のカバーコート膜と、
前記電極の前記露出面及び前記カバーコート膜上に形成された導電体の密着層と、
前記密着層上に形成されたバリアメタル層と、
前記バリアメタル層上に形成されたバンプと、を備え、
前記電極の前記露出面の面積は、前記バンプと前記バリアメタル層との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%であることを特徴とする半導体素子。 - 前記バンプは錫を主成分とすることを特徴とする請求項3に記載の半導体素子。
- 前記電極の前記露出面は、前記電極上に複数形成されており、
前記電極の複数の前記露出面の合計面積が、前記バンプと前記密着層との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の半導体素子。 - 前記半導体基板の層間絶縁膜の比誘電率は、二酸化ケイ素の比誘電率よりも低いことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体素子。
- 配線基板と、
前記配線基板にフリップチップ方式で実装された半導体素子と、
前記配線基板と前記半導体素子との間の間隙を封止するアンダーフィル樹脂と、を備え、
前記配線基板は、前記半導体素子と電気的に接続するためのパッドを有し、
前記半導体素子は、半導体基板と、
前記半導体基板上に形成され、前記パッドと電気的に接続するための電極と、
前記電極の上面の一部に露出面を形成するように前記電極上に配された絶縁体のカバーコート膜と、
前記電極の前記露出面及び前記カバーコート膜上に形成された導電体の密着層と、
前記密着層上に形成されたバンプと、を備え、
前記パッドと前記電極とは、前記バンプを介して電気的に接続され、
前記電極の前記露出面の面積は、前記バンプと前記密着層との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%であることを特徴とする半導体装置。 - 配線基板と、
前記配線基板にフリップチップ方式で実装された半導体素子と、
前記配線基板と前記半導体素子との間の間隙を封止するアンダーフィル樹脂と、を備え、
前記配線基板は、前記半導体素子と電気的に接続するためのパッドを有し、
前記半導体素子は、半導体基板と、
前記半導体基板上に形成され、前記パッドと電気的に接続するための電極と、
前記電極の上面の一部に露出面を形成するように前記電極上に配された絶縁体のカバーコート膜と、
前記電極の前記露出面及び前記カバーコート膜上に形成された導電体の密着層と、
前記密着層上に形成されたバリアメタル層と、
前記バリアメタル層上に形成されたバンプと、を備え、
前記パッドと前記電極とは、前記バンプを介して電気的に接続され、
前記電極の前記露出面の面積は、前記バンプと前記バリアメタル層との接触面の外周によって形成される図形の面積に対して20%〜50%であることを特徴とする半導体装置。 - 前記半導体基板の層間絶縁膜の比誘電率は、二酸化ケイ素の比誘電率よりも低いことを特徴とする請求項7又は8に記載の半導体装置。
- 前記バッドと前記バンプとは、錫を主成分とするはんだによって接続されていることを特徴とする請求項7〜9のいずれか一項に記載の半導体装置。
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