JP2007262204A - エポキシ樹脂硬化性組成物 - Google Patents
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Abstract
Description
特にビルドアップのように絶縁層としてプリント配線基板に残存するメッキレジストは、高度に集積化された配線による発熱や絶縁層の薄層化、導体層と絶縁層との接着強度の低下に対応できる高いガラス転移温度、体積固有抵抗、機械特性及び低い吸水性を有することが要求される。
また、プリプレグ等に用いられるエポキシ樹脂は、種々の無機フィラーを配合することで線膨張を低減して、温度による変形を抑制することが行われている。しかし、無機フィラーを配合すると引張強度や伸びが低下したり、凝集によりショートして回路の信頼性を損なうなどの欠点がある。
非特許文献1には種々のフェノール系硬化剤が記載され、ヘテロ原子を有する縮合環にフェノールが付加した構造の化合物をエポキシ樹脂の硬化剤として、p−ヒドロキシフェニルマレイミド/ブチルアクリレート共重合体が記載されている。
特許文献1〜3には、フェノール性水酸基含有ポリアミド樹脂とエポキシ樹脂を構成成分とするエポキシ樹脂組成物が記載されている。
また、特許文献4には、ベンゾオキサゾール構造を有するフェノール化合物が記載されているが、これはエポキシ化合物の硬化剤として使用されているものではなく、得られるポリマーもエポキシ樹脂ではない。
)で表されることを特徴とする上記エポキシ樹脂硬化性組成物を提供することで、上記目的を達成したものである。
)で表されることを特徴とするエポキシ樹脂硬化性組成物を提供することで、上記目的を達成したものである。
c)または(Id)で表される複素環を形成することを特徴とするエポキシ樹脂硬化性組
成物を提供することで、上記目的を達成したものである。
また本発明は、上記エポキシ樹脂硬化性組成物を硬化させた硬化物を提供することで、上記目的を達成したものである。
ことで、上記目的を達成したものである。
本発明のエポキシ樹脂硬化性組成物は、下記一般式(I)で表されるベンゾオキサゾー
ル構造を有する化合物を含有する。
ル性水酸基を有するものであればよく、もちろん単なるフェノール基でもよい。例としては、下記、一般式(VI)で表される置換基が挙げられる。
また、上記一般式(I)中、エポキシ基を有する置換基とは、置換基中にエポキシ基を
有するものであればよく、他の置換基を有していてもよい。例としては、エポキシ基、脂環式エポキシ基、グリシジル基、または下記一般式(VII)で表されるグリシジル基を有する置換基が挙げられる。
上記エポキシ基を有する置換基は、製造のコストと物性の点から、グリシジル基または一般式(VII)で表されるグリシジル基を有する置換基が好ましい。
また、上記置換基を有していてもよい炭素原子数1〜8の炭化水素基として、メチル基、エチル基、イソプロピル基等のアルキル基、シクロヘキシル基等のシクロアルキル基、フェニル基等のアリール基等が挙げられ、該置換基として、ハロゲン原子、トリフルオロメチル基、メトキシ基等のアルコキシ基、水酸基等が挙げられる。さらに上記置換基を有していてもよい炭素原子数1〜8のアルコキシ基として、フェニルエーテル基、アルキルエーテル基、フェノキシ基、メトキシ基等が挙げられ、該置換基として、ハロゲン原子、トリフルオロメチル基、水酸基、メトキシ基等が挙げられる。
X1及びX2は互いに架橋して原子数3〜8の飽和または不飽和の複素環を形成してもよく、前記飽和または不飽和の複素環は、置換基として、フェノール性水酸基を有する置換基またはエポキシ基を有する置換基を有する。
原子数3〜8の飽和または不飽和の複素環を形成する場合、該飽和の複素環として、モルフォリン等が挙げられ、該不飽和の複素環として、オキサゾール、チアゾール等が挙げられる。
有する化合物が挙げられる。
シ基を有する置換基は、前記一般式(I)で記載したものと同様であり、好ましいものも同様である。また、mも一般式(I)と同様に、0のものが好ましい。
一般式(I)で表されるベンゾオキサゾール構造を有する化合物において、X1及びX2は互いに架橋して原子数3〜8の飽和または不飽和の複素環を形成する場合、製造コスト、反応性、熱線膨張係数、ガラス転移点等の硬化物の物性の点から、原子数5の不飽和の複素環が好ましい。
一般式(I)で表されるフェノール性水酸基を有する化合物のより具体的な構造としては、例えば、以下のNo.1〜8の構造が挙げられ、一般式(II)で表されるフェノール性水酸基を有する化合物の具体的な構造として、以下のNo.9の構造が挙げられ、同様に一般式(III)で表される化合物として、No.10−1、一般式(IV)の化合物としてNo.10−2の化合物が挙げられる。ただし、本発明は以下の構造によりなんら制限を受けるものではない。
一般式(I)で表されるエポキシ基を有する化合物のより具体的な構造としては、例えば、以下のNo.11〜18の構造が挙げられ、一般式(II)で表されるエポキシ基を有する化合物の具体的な構造として、以下のNo.19の構造が挙げられ、同様に一般式(III)で表される化合物として、No.20−1、一般式(IV)の化合物としてNo.20−2の化合物が挙げられる。ただし、本発明は以下の構造によりなんら制限を受けるものではない。
本発明のエポキシ樹脂硬化性組成物は、硬化剤として、本発明のフェノール性水酸基を有する化合物(フェノール化合物ともいう)、すなわち、一般式(I)で表されるフェノール化合物(例えば、前記化合物No.1〜8)、一般式(II)で表されるフェノール化合物(例えば、前記化合物No.9)、一般式(III)で表されるフェノール化合物(例えば、前記化合物No.10−1)、一般式(IV)で表されるフェノール化合物(例えば、前記化合物No.10−2)を用いる場合はもちろん、本発明のエポキシ基を有する化合物(エポキシ化合物ともいう)、すなわち、一般式(I)で表されるエポキシ化合物(例えば、前記化合物No.11〜18)、一般式(II)で表されるエポキシ化合物(例えば、前記化合物No.19)、一般式(III)で表されるエポキシ化合物(例えば、前記化合物No.20−1)、一般式(IV)で表されるエポキシ化合物(例えば、前記化合物No.20−2)を用いる場合においても、エポキシ化合物として公知の他のエポキシ化合物を用いることができる。
潜在性硬化剤としては、ジシアンジアミド、ヒドラジド、イミダゾール化合物,アミンアダクト、スルホニウム塩、オニウム塩、ケチミン、酸無水物、三級アミンなどが挙げられる。これら潜在性硬化剤は、一液型の硬化性組成物を与え、取り扱いが容易なので好ましい。
ポリフェノール化合物としては、例えば、フェノールノボラック、o−クレゾールノボラック、t−ブチルフェノールノボラック、ジシクロペンタジエンクレゾール、テルペンジフェノール、テルペンジカテコール、1,1,3−トリス(3−第三ブチル−4−ヒドロキシ−6−メチルフェニル)ブタン、ブチリデンビス(3−第三ブチル−4−ヒドロキシ−6−メチルフェニル)、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパンなどが挙げられる。フェノールノボラックは得られるエポキシ樹脂の電気特性、機械強度が積層板に適しているので好ましい。
[(R1)aQ]m+ で表すことができる。
更にここで、R1は炭素数が1〜60であり、炭素原子以外の原子をいくつ含んでもよい有機の基である。aは1〜5なる整数である。a個のR19は各々独立で、同一でも異なっていてもよい。また、少なくとも1つは、芳香環を有する上記の如き有機の基であることが好ましい。QはS、N、Se、Te、P、As、Sb、Bi、O、I、Br、Cl、F、N=Nからなる群から選ばれる原子あるいは原子団である。また、陽イオン[A]m+中のQの原子価をqとしたとき、m=a−qなる関係が成り立つことが必要である(但し、N=Nは原子価0として扱う)。
更にここで、Lはハロゲン化物錯体の中心原子である金属または半金属(Metalloid)であり、B、P、As,、Sb、Fe、Sn、Bi、Al、Ca、In、Ti、Zn、Sc、V、Cr、Mn、Co等である。Xはハロゲン原子である。bは3〜7なる整数である。また、陰イオン[B]m-中のLの原子価をpとしたとき、m=b−pなる関係が成り立つことが必要である。
上記一般式で表される陰イオン[LXb]m-の具体例としては、テトラフルオロボレート(BF4)-、ヘキサフルオロフォスフェート(PF6)-、ヘキサフルオロアンチモネート(SbF6)-、ヘキサフルオロアルセネート(AsF6)-、ヘキサクロロアンチモネート(SbCl6)-等が挙げられる。
本発明では、この様なオニウム塩の中でも、下記のイ)〜ハ)の芳香族オニウム塩を使用するのが特に有効である。これらの中から、その1種を単独で、または2種以上を混合して使用することができる。
ロ)ジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、ジ(4−メチルフェニル)ヨードニウムヘキサフルオロホスフェート、ジ(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムヘキサフルオロホスフェートなどのジアリールヨードニウム塩
ハ)トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、トリス(4−メトキシフェニル)スルホニウムヘキサフルオロホスフェート、ジフェニル−4−チオフェノキシフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、ジフェニル−4−チオフェノキシフェニルスルホニウムヘキサフルオロホスフェート、4,4'−ビス(ジフェニルスルフォニオ)フェニルスルフィド−ビス−ヘキサフルオロアンチモネート、4,4'−ビス(ジフェニルスルフォニオ)フェニルスルフィド−ビス−ヘキサフルオロホスフェート、4,4'−ビス[ジ(β−ヒドロキシエトキシ)フェニルスルホニオ]フェニルスルフィド−ビス−ヘキサフルオロアンチモネート、4,4'−ビス[ジ(β−ヒドロキシエトキシ)フェニルスルホニオ]フェニルスルフィド−ビス−ヘキサフルオロホスフェート、4−[4'−(ベンゾイル)フェニルチオ]フェニル−ジ−(4−フルオロフェニル)スルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、4−[4'−(ベンゾイル)フェニルチオ]フェニル−ジ−(4−フルオロフェニル)スルホニウムヘキサフルオロホスフェートなどのトリアリールスルホニウム塩等が好ましい。
これらの中でも実用面と光感度の観点から、芳香族ヨードニウム塩、芳香族スルホニウム塩、鉄−アレーン錯体を用いることが好ましい。
さらに、必要に応じてガラス繊維、ホウ酸アルミニウムウィスカー、窒化ホウ素ウィスカーなどの繊維状充填剤やシリカ、アルミナなどの球状充填剤を用いることが好ましい。繊維状充填剤は長軸方向の長さやアスペクト比を用途に応じて適宜選択することが好ましく、球状充填剤は真球状で粒径が小さいものが好ましい。
上記新規化合物がフェノール性水酸基を有する場合とは、A1がフェノール性水酸基を有する置換基(フェノール基そのものも含まれる)である場合であり、エポキシ基を有する場合とは、A1が、エポキシ基を有する置換基(エポキシ基そのものも含まれる)である場合である。
また、上記新規化合物がフェノール性水酸基を有する場合及び上記新規化合物がエポキシ基を有する場合の合成方法は、例えば、上記に記載した方法による。
上記新規化合物がフェノール性水酸基を有する場合とは、A1がフェノール性水酸基を有する置換基(フェノール基そのものも含まれる)である場合であり、エポキシ基を有する場合とは、A1が、エポキシ基を有する置換基(エポキシ基そのものも含まれる)である場合である。
また、上記新規化合物がフェノール性水酸基を有する場合及び上記新規化合物がエポキシ基を有する場合の合成方法は、例えば、上記に記載した方法による。
尚、実施例1〜10はフェノール化合物の合成例及び該フェノール化合物を用いたエポキシ化合物の合成例を示す。〔表1〕及び〔表2〕に記載の配合により、該エポキシ化合物を含有するエポキシ樹脂硬化性組成物を調製した。また、比較例1〜3は、〔表3〕に記載の配合による、比較化合物を含有する比較エポキシ樹脂硬化性組成物の調製を示す。
得られた該エポキシ樹脂硬化性組成物または該比較エポキシ樹脂硬化性組成物を用いて、下記作製方法により試験片A〜Cを作製し、下記試験方法により、耐薬品性試験、ガラス転移温度、線膨張係数、引張強度、伸び、ハンダ耐熱性、耐熱サイクル性について試験した。結果は〔表1〕〜〔表3〕に示した。
使用した硬化剤1〜3を下記に示す。
エポキシ化合物No.12を、下記方法で得られたフェノール化合物No.2から、下記記載の方法で得た。
次に、窒素気流下100mL4口フラスコに2,2'−ビス(4−フルオロフェニル)ビベンゾオキサゾール6.36g (0.015mol)、ハイドロキノン 8.253g(0.075mol)、炭酸カリウム7.69g(0.06mol)、N−メチルピロリドン(NMP)40mL、トルエン25mLを加え130℃×2時間リフラックス(reflux)しながら留出水を系外に除いた。その後昇温し、脱トルエンを行いながら160℃×6時間ホールドする。更に185℃×3時間反応を行い、黄色反応クルードを得た。この反応クルードを水800mL中に投入し、更にpH=7となるように希釈塩酸水を滴下した。中和後2時間水中で攪拌し濾取し、150℃×2時間減圧乾燥を行い、フェノール化合物である化合物No.2を8.72g得た。
(2)(エポキシ化合物No.12の合成例)
窒素気流下50mL3口フラスコに、(1)で得られた化合物No.2を、2.0g(0.0033mol)、NaOH 0.264g(0.0066mol)、水10g、ジメチルスルホキシド(DMSO) 10.0gを仕込み60℃まで昇温し攪拌溶解させた。その後、エピクロロヒドリン 1.647g(0.007mol)を滴下し、80℃×3時間ホールドする。冷却後析出した黄色のエポキシ化物を濾取し、水100mL,メタノール100mLで洗浄した。150℃×2時間減圧乾燥することにより、エポキシ化合物である、化合物No.12を 2.38g得た。〔図2〕に得られた化合物No.12のIRチャートを示す。
得られた化合物No.12のエポキシ当量は358g/eqであった。
エポキシ化合物No.13を、下記方法で得られたフェノール化合物No.3から、下記記載の方法で得た。
次に、窒素気流下100mL4口フラスコに2,2'−ビス(4−フルオロフェニル)ビベンゾオキサゾール6.36g (0.015mol)、レゾルシノール 8.253g(0.075mol)、炭酸カリウム7.69g(0.06mol)、N−メチルピロリドン(NMP)40mL、トルエン25mLを加え130℃×2時間リフラックス(reflux)しながら留出水を系外に除いた。その後昇温し、脱トルエンを行いながら160℃×6時間ホールドする。更に185℃×3時間反応を行い、黄色反応クルードを得た。この反応クルードを水800mL中に投入し、更にpH=7となるように希釈塩酸水を滴下した。中和後2時間水中で攪拌し濾取し、150℃×2時間減圧乾燥を行い、フェノール化合物である化合物No.3を、8.72gを得た。
(2)(エポキシ化合物No.13の合成例)
窒素気流下50mL3口フラスコに合成した(1)で得られた化合物No.3を、 2.0g(0.0033mol)、NaOH 0.264g(0.0066mol),水10g、ジメチルスルホキシド(DMSO)10.0gを仕込み60℃まで昇温し攪拌溶解させた。その後、エピクロロヒドリン 1.647g(0.007mol)を滴下し、80℃×3時間ホールドする。冷却後析出した黄色のエポキシ化物を濾取し、水100mL、メタノール100mLで洗浄した。150℃×2時間減圧乾燥することにより、エポキシ化合物である、化合物No.13を2.38g得た。〔図3〕に得られた化合物No.13のIRチャートを示す。
得られた化合物No.13のエポキシ当量は358g/eqであった。
エポキシ化合物No.11を、実施例1記載と同様の方法で、下記フェノール化合物No.1から得た。
また、フェノール化合物No.1は、実施例1記載と同様の方法で合成した。
エポキシ化合物No.17を、実施例1記載と同様の方法で、下記フェノール化合物No.7から得た。
また、フェノール化合物No.7は、実施例1記載と同様の方法で合成した。
エポキシ化合物No.14を、下記方法で得られたフェノール化合物No.4から、下記記載の方法で得た。
(2)(エポキシ化合物No.14の合成例)
前記(1)で得られた化合物No.4の20gをエピクロロヒドリン200mLに溶解し、48%水酸化ナトリウム5.59gによってエーテル化及び閉環を行い化合物No.14を得た。〔図5〕に得られた化合物No.14のIRチャートを示す。
得られた化合物No.14のエポキシ当量は341g/eqであった。
エポキシ化合物No.15を、実施例1記載と同様の方法で、下記フェノール化合物No.5から得た。
また、フェノール化合物No.5は、実施例1記載と同様の方法で合成した。
エポキシ化合物No.16を、実施例1記載と同様の方法で、下記フェノール化合物No.6から得た。
また、フェノール化合物No.6は、実施例1記載と同様の方法で合成した。
エポキシ化合物No.18を、実施例1記載と同様の方法で、下記フェノール化合物No.8から得た。
また、フェノール化合物No.8は、実施例1記載と同様の方法で合成した。
エポキシ化合物No.19を、下記方法で得られたフェノール化合物No.9から、実施例1記載と同様の方法で得た。
エポキシ化合物の化合物No.20−1を、下記方法で得られたフェノール化合物No.10−1から、実施例1記載と同様の方法で得た。
〔表3〕に記載の比較エポキシ化合物1〜5について比較エポキシ樹脂硬化性組成物を調製し、上記実施例と同様に試験片を作製し、評価した。結果を〔表3〕に示す。
(1)試験片の作成
試験片A:38μm厚の表面剥離処理PETフィルム上に、エポキシ樹脂硬化性組成物または比較エポキシ樹脂硬化性組成物をそれぞれ200μmの厚さに塗布し、加熱オーブン中で130℃、10分間乾燥して樹脂をBステージ化しドライフィルムを作製した。このドライフィルムを、表面剥離処理したガラス基板上に樹脂面とガラス面とが接触するように90℃、10分で、真空ラミネート法で貼り付けた後PETフィルムをはがし、ガラス基板上にBステージの樹脂を転写した。Bステージの樹脂が転写されたガラス基板を加熱オーブンに入れ、150℃、1時間で樹脂を完全に硬化させ、室温に戻した後樹脂をガラス基板から剥離し、完全に硬化した樹脂フィルム(試験片A)を得た。
試験片B:12μm厚のプリント基板用電解銅箔のマット面に、エポキシ樹脂硬化性組成物または比較エポキシ樹脂硬化性組成物を100μmの厚さに塗布し、加熱オーブン中で130℃、10分間乾燥して樹脂をBステージ化した樹脂付銅箔を作製した。この樹脂付銅箔を、0.1mm厚ガラスエポキシ両面基板(FR-4)をコア材として、真空プレス法(積層条件は以下の図1に示す)で両面に貼り付け樹脂を完全に硬化して試験基板(試験片B)を得た。
試験片C:試験片Bを用い、電極径70μm、電極ピッチ120μmの電極を備える40mm角の配線基板を作製した。電極径70μm、電極ピッチ120μmの金バンプ電極を有する縦×横×高さ=8.5×8.5×0.06mmのLSIチップを作製し、各実施例または比較例のエポキシ樹脂硬化性組成物または比較エポキシ樹脂硬化性組成物をLSIチップの電極周辺に塗布した後、基板とチップの電極が接触するようにLSIチップを配線基板上に設置し、加熱オーブンに入れ150℃、1時間で樹脂を完全に硬化し試験片Cを得た。
試験片Aを用い、NMP(N−メチルピロリドン)を浸した綿棒で試験片表面を擦り、試験片表面に傷が入るまでの回数を測定した。
(3)ガラス転移温度
試験片Aを用い、カッターナイフで5×50mmの大きさに成形し、エスアイアイナノテクノロジー社製DMS-6100で動的粘弾性を測定した。Tanδの極大値を示す温度をガラス転移温度とした。
(4)線膨張係数
試験片Aを用い、カッターナイフで5×50mmの大きさに成形し、エスアイアイナノテクノロジー社製TMA/SS6000で加熱膨張曲線を測定した。40~100℃の範囲の伸び率から、線膨張係数を算出した。
(5)引張強度、伸び
試験片Aを用い、JIS-K7127に準拠し(試験片タイプ5を使用)、測定した。
(6)ハンダ耐熱性試験
試験片Bを用い、40mm角に成形し、288℃に調整したハンダ浴に1分間浮かせ表面に剥離等の異常等がないかを検査した。試験片をハンダ浴から取り出し室温で1分間静置した後、同様の操作を10回まで繰り返し何サイクル耐えうるかを検査した。
(7)耐熱サイクル性試験
試験片Cを用い、IPC-D-275(試験条件E)に準拠し、試験した後、外観観察と、回路の抵抗率変化を検査し、断線、配線クラック、接続不良等の異常の有無を判定した。
Claims (13)
- 下記一般式(I)で表されるベンゾオキサゾール構造を有する化合物を含有することを特徴とするエポキシ樹脂硬化性組成物。
- 上記一般式(I)中、X1及びX2が、互いに架橋して、下記一般式(Ic)または(I
d)で表される複素環を形成することを特徴とする請求項1記載のエポキシ樹脂硬化性組成物。
- 上記一般式(I)中、A1がエポキシ基を有する置換基であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のエポキシ樹脂硬化性組成物。
- 上記一般式(II)中のA2、上記一般式(III)中のA3または上記一般式(IV)中のA4がエポキシ基を有する置換基であることを特徴とする請求項6〜8のいずれかに記載のエポキシ樹脂硬化性組成物。
- 請求項1〜9記載のエポキシ樹脂硬化性組成物を用いた積層版用硬化性組成物。
- 請求項1〜9記載のエポキシ樹脂硬化性組成物を硬化させた硬化物。
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