JP2007225488A - ブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法及びこれを用いた装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法であって、光学部から光ファイバにパルス光を出射し、光ファイバから戻ってくるブリルアン散乱光が光学部に入射され、ブリルアン散乱光を受光部で電気信号に変換し、電気信号と発振器から出力される信号をミキサで混合して出力し、混合された信号の高周波成分をフィルタ部で除去し、フィルタ部から出力された信号を信号処理部でサンプリングし、得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により周波数シフトを求める。
【選択図】 図1
Description
光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法であって、
光学部から前記光ファイバにパルス光を出射し、前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が前記光学部に入射され、前記ブリルアン散乱光を受光部で電気信号に変換し、この電気信号と発振器から出力される信号をミキサで混合して出力し、この混合された信号の高周波成分をフィルタ部で除去し、このフィルタ部から出力された信号を信号処理部でサンプリングし、得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により前記周波数シフトを求めることを特徴とするものである。
光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトを測定する周波数シフト測定装置において、
前記光ファイバにパルス光を出射し、前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が入射される光学部と、この光学部を経由した前記ブリルアン散乱光を電気信号に変換する受光部と、所望の周波数を出力する発振器と、前記電気信号と前記発振器から出力される信号を混合するミキサと、このミキサから出力される信号の高周波成分を除去するフィルタ部と、このフィルタ部から出力される信号をサンプリングし、得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により前記周波数シフトを求める信号処理部とを備えたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明である周波数シフト測定装置において、
前記光学部が、
一定周波数の光を出射する光源と、この光源から出射される光を分岐する第1の光方向性結合器と、この第1の光方向性結合器の一方の出射端から出射される光が入射され、パルス光を出射する光パルス発生回路と、前記パルス光を増幅する光増幅器と、この増幅されたパルス光が入射端に入射され、入出射端から前記光ファイバへ出射し、前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が入出射端に入射され、出射端から出射する第2の光方向性結合器と、この第2の光方向性結合器の出射端から出射される光と前記第1の光方向性結合器の他方の出射端から出射される光を合波し、再び分岐して出射する第3の光方向性結合器とから構成されることを特徴とするものである。
請求項2若しくは請求項3記載の発明である周波数シフト測定装置において、
前記信号処理部が、
前記サンプリングを行うサンプリング部と、このサンプリング部でサンプリングされた前記サンプリングデータを用いて演算を行う演算制御部とから構成されることを特徴とするものである。
請求項4記載の発明である周波数シフト測定装置において、
前記サンプリング部が、
A/D変換回路、若しくは、オシロスコープであることを特徴とするものである。
請求項1,2,3,4及び請求項5の発明によれば、光学部から光ファイバにパルス光を入射し、光ファイバから戻ってくるブリルアン散乱光を受光部で電気信号に変換し、この電気信号と発振器からの信号をミキサで混合し、フィルタ部で高周波成分を除去した信号を信号処理部でサンプリングし、サンプリングデータを適度な間隔に分け、高速フーリエ変換を用いて周波数シフトを求めることにより、従来のような周波数の掃引などが無く、即座に周波数シフトが得られるので、安価な部品構成でブリルアン散乱光の周波数シフトを高速に測定し、任意の測定点でのリアルタイムの周波数変化の検出が可能になる。
2,3,6 光方向性結合器
4 光パルス発生回路
5 光増幅器
7 光コネクタ
8 受光器
9,10 増幅器
11 シンセサイザ
12 ミキサ
13 ローパスフィルタ
14 サンプリング部
15 演算制御部
16 発振器
50 光学部
51 受光部
52 フィルタ部
53 信号処理部
100 光ファイバ
Claims (5)
- 光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法であって、
光学部から前記光ファイバにパルス光を出射し、
前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が前記光学部に入射され、
前記ブリルアン散乱光を受光部で電気信号に変換し、
この電気信号と発振器から出力される信号をミキサで混合して出力し、
この混合された信号の高周波成分をフィルタ部で除去し、
このフィルタ部から出力された信号を信号処理部でサンプリングし、
得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により前記周波数シフトを求める
ことを特徴とするブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法。 - 光ファイバで生じるブリルアン散乱光の周波数シフトを測定する周波数シフト測定装置において、
前記光ファイバにパルス光を出射し、前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が入射される光学部と、
この光学部を経由した前記ブリルアン散乱光を電気信号に変換する受光部と、
所望の周波数を出力する発振器と、
前記電気信号と前記発振器から出力される信号を混合するミキサと、
このミキサから出力される信号の高周波成分を除去するフィルタ部と、
このフィルタ部から出力される信号をサンプリングし、得られたサンプリングデータを用いて高速フーリエ変換により前記周波数シフトを求める信号処理部と
を備えたことを特徴とする周波数シフト測定装置。 - 前記光学部が、
一定周波数の光を出射する光源と、
この光源から出射される光を分岐する第1の光方向性結合器と、
この第1の光方向性結合器の一方の出射端から出射される光が入射され、パルス光を出射する光パルス発生回路と、
前記パルス光を増幅する光増幅器と、
この増幅されたパルス光が入射端に入射され、入出射端から前記光ファイバへ出射し、前記光ファイバから戻ってくる前記ブリルアン散乱光が入出射端に入射され、出射端から出射する第2の光方向性結合器と、
この第2の光方向性結合器の出射端から出射される光と前記第1の光方向性結合器の他方の出射端から出射される光を合波し、再び分岐して出射する第3の光方向性結合器とから構成されることを特徴とする
請求項2記載の周波数シフト測定装置。 - 前記信号処理部が、
前記サンプリングを行うサンプリング部と、
このサンプリング部でサンプリングされた前記サンプリングデータを用いて演算を行う演算制御部とから構成されることを特徴とする
請求項2若しくは請求項3記載の周波数シフト測定装置。 - 前記サンプリング部が、
A/D変換回路、若しくは、オシロスコープであることを特徴とする
請求項4記載の周波数シフト測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006048342A JP4826747B2 (ja) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | ブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法及びこれを用いた装置 |
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Publications (2)
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JP2007225488A true JP2007225488A (ja) | 2007-09-06 |
JP4826747B2 JP4826747B2 (ja) | 2011-11-30 |
Family
ID=38547439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006048342A Expired - Fee Related JP4826747B2 (ja) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | ブリルアン散乱光の周波数シフトの測定方法及びこれを用いた装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP4826747B2 (ja) |
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