CN112654839A - 光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法 - Google Patents
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Abstract
光纤特性测定装置(1)具有:光源部(11),其将频率调制后的连续光(L1)输出;第1光分流部(12),其使得连续光分流为泵浦光(LP)和参照光(LR);脉冲化部(13),其使得泵浦光实现脉冲化;第2光分流部(14),其使得实现了脉冲化的泵浦光从被测定光纤(FUT)的一端射入,将通过被测定光纤内的布里渊散射而产生的后方散射光(LS)输出;检测部(17),其对后方散射光和参照光的干涉光进行检测;剪切部(18、20a、34、41、42a),其针对每段规定时间而对从检测部输出的检测信号进行剪切;以及测定部(19、35a、35b),其分别利用由剪切部剪切出的每段规定时间的检测信号,对被测定光纤的特性进行测定。
Description
技术领域
本发明涉及一种光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法。
背景技术
光纤特性测定装置是如下装置,即,使连续光或脉冲光射入至被测定光纤,接受被测定光纤内产生的散射光或反射光而对被测定光纤的长度方向上的温度分布、应变分布、其他特性进行测定。在该光纤特性测定装置中,接受的散射光或反射光根据对被测定光纤造成影响的物理量(例如温度、应变)而变化,因此将被测定光纤本身用作传感器。
作为这种光纤特性测定装置之一,存在BOCDR(Brillouin Optical CorrelationDomain Reflectometry)方式的装置。该BOCDR方式的光纤特性测定装置使对频率调制后的连续光即泵浦光从被测定光纤的一端射入,接受使得从被测定光纤的一端射出的布里渊散射光和参照光(以与泵浦光相同的频率调制的光)发生干涉后的光而求出布里渊频移量,由此测定被测定光纤的特性。
在BOCDR方式的光纤特性测定装置中,通过使布里渊散射光和参照光发生干涉而在被测定光纤中选择性地提取出现“相关峰值”的特定位置的布里渊散射光。这里,被测定光纤内的相关峰值的间隔与泵浦光以及参照光的调制频率成反比。另外,通过对泵浦光以及参照光的调制频率进行扫描而能够使相关峰值沿被测定光纤的长度方向移动。因此,使相关峰值移动且求出出现各相关峰值的位置的布里渊频移量,由此能够测定被测定光纤的长度方向的温度分布、应变分布。
在BOCDR方式的光纤特性测定装置中,在被测定光纤的长度大于上述相关峰值的间隔的情况下,被测定光纤中会出现多个相关峰值。在这种情况下,需要选择多个相关峰值中的1个,仅提取出现了选择的相关峰值的位置的布里渊散射光,不提取出现了其他相关峰值的位置的布里渊散射光,由此避免串扰。作为这种选择相关峰值的方法之一,存在称为时间门法的方法。
时间门法是如下方法,即,将泵浦光整形为脉冲状并使其射入至被测定光纤,对布里渊散射光的受光定时进行调整,由此选择被测定光纤的任意的相关峰值。这里,以仅选择多个相关峰值中的1个的方式将泵浦光整形为脉冲幅度小于相关峰值的间隔。下面,将这样整形的泵浦光称为“泵浦脉冲光”。此外,例如参照下面的专利文献1对时间门法进行详细叙述。
专利文献1:日本特开2009-139241号公报
发明内容
但是,如上所述,当前的时间门法是如下方法,即,使泵浦脉冲光射入至被测定光纤,对布里渊散射光的受光定时进行调整,由此选择被测定光纤的任意的相关峰值。因此,在当前的时间门法中,使泵浦脉冲光从被测定光纤的一端射入,直至该泵浦脉冲光到达被测定光纤的另一端而获得的布里渊散射光(被测定光纤的另一端的布里渊散射光)返回至被测定光纤的一端为止,无法使后续的泵浦脉冲光射入至被测定光纤。
即,在当前的时间门法中,需要在使1束泵浦脉冲光射入至被测定光纤之后,经过在该泵浦脉冲光在被测定光纤中往返所需的时间的基础上加上泵浦脉冲光的幅度(时间幅度)所得的时间(下面,称为“测定等待时间”),然后使后续的泵浦脉冲光射入至被测定光纤。假设如果在经过该测定等待时间之前使后续的泵浦脉冲光射入至被测定光纤,则同时接受出现不同的相关峰值的不同位置的布里渊散射光而产生串扰,会变为测定误差。
当前的时间门法是如下方法,即,利用1束泵浦脉冲光选择多个相关峰值中的1个,仅提取出现了选择的相关峰值的位置的布里渊散射光。这里,在当前的时间门法中,对于使泵浦脉冲光射入至被测定光纤的时间间隔(周期),无法使其比上述测定等待时间短。因此,在使用当前的时间门法的光纤特性测定装置中,存在如下问题,即,如果要大范围地测定被测定光纤的长度方向上的特性,则测定所需的时间大幅延长。
本发明就是鉴于上述情形而提出的,其目的在于提供与以往相比能够缩短被测定光纤的特性的测定所需的时间的光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法。
为了解决上述问题,本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置具有:光源部(11),其将频率调制后的连续光(L1)输出;第1光分流部(12),其使得所述连续光分流为泵浦光(LP)和参照光(LR);脉冲化部(13),其使得所述泵浦光实现脉冲化;第2光分流部(14),其使得实现了脉冲化的所述泵浦光从光纤(FUT)的一端射入,将通过所述光纤内的布里渊散射而产生的后方散射光(LS)输出;检测部(17),其对所述后方散射光和所述参照光的干涉光进行检测;剪切部(18、20a、34、41、42a),其针对每段规定时间而对从所述检测部输出的检测信号进行剪切;以及测定部(19、35a、35b),其分别利用由所述剪切部剪切出的每段所述规定时间的检测信号对所述光纤的特性进行测定。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述测定部具有根据所述检测信号而求出布里渊频移量的频率分析器(19a~19d)。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述频率分析器设置有多个,所述剪切部具有:切换部(18),其对将所述检测部与多个所述频率分析器的哪一个连接进行切换;以及控制部(20a),其考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,具有:移频器(32),其使所述泵浦光或者所述参照光的频率偏移;以及变换部(33),其设置于所述检测部与所述剪切部之间,将从所述检测部输出的所述检测信号变换为数字信号的检测数据。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述移频器使所述泵浦光的频率以接近布里渊频移量的频率进行偏移。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述剪切部具有:存储部(34),其具有对所述检测数据进行存储的多个存储器(34a~34d);切换部(18),其对将所述变换部与所述多个存储器的哪一个连接进行切换;以及控制部(20a),其考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述测定部具有:运算部(35a),其针对从所述多个存储器分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据;以及频率分析部(35b),其根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,所述测定部具有根据从所述多个存储器分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量的频率分析部(35b)。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述剪切部具有考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而针对每段所述规定时间分别读出所述检测数据的读出部(42a),所述测定部根据由所述读出部分别读出的所述检测数据而对所述光纤的特性进行测定。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述测定部具有:运算部(35a),其针对由所述读出部分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据;以及频率分析部(35b),其根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,所述测定部根据由所述读出部分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量。
另外,根据本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定装置,所述剪切部具有对所述检测数据进行存储的存储器(41),所述读出部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间,而针对每段所述规定时间分别读出所述存储器中存储的所述检测数据。
在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,利用光源部(11)将频率调制后的连续光(L1)输出,利用第1光分流部(12)使所述连续光分流为泵浦光(LP)和参照光(LR),利用脉冲化部(13)将所述泵浦光脉冲化,利用第2光分流部(14)使脉冲化后的所述泵浦光从光纤(FUT)的一端射入,利用所述第2光分流部将通过所述光纤内的布里渊散射而产生的后方散射光(LS)输出,利用检测部(17)对所述后方散射光和所述参照光的干涉光进行检测,利用剪切部(18、20a、34、41、42a)针对每段规定时间而对从所述检测部输出的检测信号进行剪切,利用测定部(19、35a、35b)并分别利用由所述剪切部剪切出的每段所述规定时间的检测信号,对所述光纤的特性进行测定。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,所述测定部具有频率分析器(19a~19d),利用所述频率分析器根据所述检测信号而求出布里渊频移量。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,所述频率分析器设置有多个,所述剪切部具有切换部(18)以及控制部(20a),利用所述切换部对将所述检测部与多个所述频率分析器的哪一个连接进行切换,利用所述控制部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,利用移频器(32)使所述泵浦光或者所述参照光的频率偏移,利用设置于所述检测部与所述剪切部之间的变换部(33),将从所述检测部输出的所述检测信号变换为数字信号的检测数据。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,利用所述移频器使所述泵浦光的频率以接近布里渊频移量的频率进行偏移。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,所述剪切部具有:存储部(34),其具有多个存储器(34a~34d);切换部(18);以及控制部(20a),利用所述存储部对所述检测数据进行存储,利用所述切换部对将所述变换部与所述多个存储器的哪一个连接进行切换,利用所述控制部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,所述测定部具有运算部(35a)以及频率分析部(35b),利用所述运算部针对从所述多个存储器分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据,利用所述频率分析部,根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
另外,在本发明的一个方式所涉及的光纤特性测定方法中,利用所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,所述测定部具有频率分析部(35b),利用所述频率分析部,根据从所述多个存储器分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量。
参照附图并通过下面记载的实施方式的详细说明而使得本发明的特征及方式变得更加明确。
发明的效果
根据本发明,具有如下效果,即,与以往相比能够缩短被测定光纤的特性的测定所需的时间。
附图说明
图1是表示本发明的第1实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。
图2是表示本发明的第1实施方式所涉及的光纤特性测定装置的动作例的流程图。
图3是用于说明本发明的第1实施方式中设定的测定条件的图。
图4是表示本发明的第2实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。
图5是表示本发明的第3实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。
具体实施方式
下面,参照附图对本发明的实施方式所涉及的光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法进行详细说明。
[第1实施方式]
<光纤特性测定装置的结构>
图1是表示本发明的第1实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。如图1所示,本实施方式的光纤特性测定装置1具有光源部11、第1光分流部12、脉冲化部13、第2光分流部14、光延迟部15、合波部16、检测部17、切换部18(剪切部)、测定部19以及控制装置20。
本实施方式的光纤特性测定装置1是基于使泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT而获得的后方散射光LS对被测定光纤FUT的特性进行测定的所谓BOCDR方式的光纤特性测定装置。此外,上述泵浦脉冲光P是使作为进行了频率调制的连续光的泵浦光LP实现了脉冲化的光。另外,上述后方散射光LS是因被测定光纤FUT内的布里渊散射而产生的后方散射光。
对于被测定光纤FUT,可以根据泵浦脉冲光P的波长等而使用任意光纤。另外,在本实施方式中,被测定光纤FUT的长度设为大于相关峰值的间隔dm,被测定光纤FUT中存在多个相关峰值。此外,在图1中,为了容易理解,示出了被测定光纤FUT中存在的4个相关峰值CP1~CP4。
光源部11具有光源11a以及调制部11b,在控制装置20的控制下将调制频率后的连续光L1输出。光源11a例如具有分布反馈式激光二极管(DFB-LD:Distributed Feed-BackLaser Diode)等半导体激光元件,将根据从调制部11b输出的调制信号m1而调制频率后的连续光L1输出。调制部11b在控制装置20的控制下,输出用于对从光源11a输出的连续光L1进行频率调制的调制信号m1。该调制信号m1例如为正弦波状的信号,其频率(调制频率fm)以及振幅由控制装置20控制。
第1光分流部12使得从光源部11输出的连续光L1分流为预先规定的强度比(例如1比1)的泵浦光LP和参照光LR。脉冲化部13在控制装置20的控制下使得利用第1光分流部12分流的泵浦光LP实现脉冲化。例如,脉冲化部13对泵浦光LP进行强度调制而将泵浦光LP整形为脉冲状。设置这种脉冲化部13是为了获得时间门法中使用的泵浦脉冲光P。这里,泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw设定为泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT内传播时使得泵浦脉冲光P内仅包含1个相关峰值。具体而言,以满足下面的(1)式的方式设定泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw。
tpw≤1/fm…(1)
第2光分流部14具有第1端口、第2端口以及第3端口。第1端口与脉冲化部13连接。第2端口与被测定光纤FUT连接。第3端口与合波部16连接。第2光分流部14将从第1端口输入的泵浦脉冲光P输出至第2端口。另外,将从第2端口输入的来自被测定光纤FUT的后方散射光LS输出至第3端口。这种第2光分流部14例如可以是光循环器。
光延迟部15使利用第1光分流部12分流的参照光LR以规定的时间延迟。光延迟部15例如包含规定长度的光纤。通过对光纤的长度进行变更而能够调节延迟时间。设置这种光延迟部15是为了将即使进行了调制频率fm的扫描而出现的位置也未移动的0次相关峰值配置于被测定光纤FUT的外部。
合波部16使得从第2光分流部14的第3端口输出的来自被测定光纤FUT的后方散射光LS、和从第1光分流部12输出且经由光延迟部15的参照光LR汇合。另外,合波部16使得汇合后的光分流为预先规定的强度比(例如1比1)的2束光并输出至检测部17。利用合波部16分流后的2束光分别包含例如来自被测定光纤FUT的后方散射光的50%和参照光的50%。这种合波部16例如可以是光耦合器。
检测部17使从合波部16输出的2束光中包含的后方散射光LS和参照光LR发生干涉而进行光学外差检测。检测部17例如具有由2个光电二极管(PD:Photo Diode)17a、17b构成的均衡·光电二极管、以及合波器17c。光电二极管17a、17b分别接受从合波部16输出的2束光。光电二极管17a的受光信号以及光电二极管17b的受光信号被输入至合波器17c。从合波器17c输出表示后方散射光LS和参照光LR的频率差的干涉信号(节拍信号:检测信号)。
切换部18具有1个输入端以及多个(图1所示的例子中为5个)输出端。切换部18在设置于控制装置20的控制部20a的控制下进行与输入端连接的输出端的切换。检测部17的合波器17c与切换部18的输入端连接。设置于测定部19的频率分析器19a~19d分别与设置于切换部18的5个输出端中的4个输出端连接。设置于切换部18的5个输出端中的剩余1个输出端设为未与频率分析器等仪器连接的开路端。这种切换部18例如可以是机械式开关或电子式开关等。
为了针对每段规定时间而剪切从检测部17的合波器17c输出的检测信号,设置切换部18。这里,剪切意味着从时间上连续的信号提取出所需的部分。这样,针对每段规定时间而剪切从检测部17的合波器17c输出的检测信号的目的在于,与射入至被测定光纤FUT的泵浦脉冲光P的行进相应地,依次改变被测定光纤FUT中出现的多个相关峰值中的选择的相关峰值。
即,在当前的时间门法中,在使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT的情况下,仅选择1个相关峰值。与此相对,在本实施方式的时间门法中,在使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT的情况下,与泵浦脉冲光P的行进相应地依次选择不同的相关峰值。由此,能缩短被测定光纤FUT的特性的测定所需的时间。此外,后文中对切换部18剪切从检测部17的合波器17c输出的检测信号的时间(上述规定时间)进行详细叙述。
测定部19具有多个频率分析器。测定部19将从切换部18输出的检测信号(针对每段规定时间而剪切出的检测信号)分别输入至多个频率分析器,而对被测定光纤FUT的特性进行测定。考虑被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量而设定测定部19的频率分析器的数量。例如,如图1所示,在被测定光纤FUT中出现4个相关峰值CP1~CP4的情况下,与上述4个相关峰值CP1~CP4对应地,将4个频率分析器19a~19d设置于测定部19。
频率分析器19a~19d例如具有频谱分析仪(ESA:Electrical SpectrumAnalyzer)。频率分析器19a~19d分别求出表示从切换部18输出的检测信号(针对每段规定时间而剪切出的检测信号)的频率特性的频谱数据。另外,频率分析器19a~19d根据分别求出的频谱数据而分别求出布里渊频移量。频率分析器19a~19可以具有将分别获得的布里渊频移量变换为应变、温度等物理信息的功能。
控制装置20参照测定部19的测定结果、且对光纤特性测定装置1的动作进行统一控制。例如,控制装置20对光源部11进行控制而变更从光源部11输出的连续光L1的调制频率fm。另外,控制装置20对脉冲化部13进行控制而生成泵浦脉冲光P。另外,控制装置20具有控制部20a(剪切部)。控制部20a考虑来自被测定光纤FUT的后方散射光LS到达检测部17的时间而进行切换部18的切换控制。
<光纤特性测定装置的动作>
图2是表示本发明的第1实施方式所涉及的光纤特性测定装置的动作例的流程图。此外,图2所示的流程图例如通过对光纤特性测定装置1发出测定开始的指示而开始,在整个长度方向上测定被测定光纤FUT的特性的情况下以恒定的周期反复进行。
在反复进行图2所示的流程图的处理的情况下,例如每当经过测定等待时间(在泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT中往返所需的时间的基础上加上泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw所得的时间)时反复进行处理。下面,将反复执行的图2所示的流程图的处理中的第k次(k为大于或等于1的整数)的处理称为“第k次处理”。
在被测定光纤FUT的特性的测定之前进行被测定光纤FUT的测定条件的设定。例如用户对设置于控制装置20的未图示的操作部进行操作而进行该测定条件的设定。此外,关于针对光纤特性测定装置1的测定条件的设定,可以在测定开始前由用户对未图示的操作部进行操作而1个1个地设定,也可以通过选择控制装置20中存储的多个设定条件而设定。
图3是用于说明本发明的第1实施方式中设定的测定条件的图。如图3所示,将被测定光纤FUT的一端(射入泵浦脉冲光P、且射出后方散射光LS的端部)的位置设为原点。作为测定条件,例如,设定对被测定光纤FUT的特性进行测定的范围即测定范围RM、调制频率的初始值fm0、泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw、测定间隔ΔD等。
在图3所示的例子中,关于测定范围RM,设定于从被测定光纤FUT的一端(原点)起的距离为D1至D2的范围。另外,将调制频率的初始值fm0设定为使得在从原点起的距离为D1的位置出现相关峰值CP1。泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw设定为满足前述的(1)式的幅度。考虑分辨率等而设定测定间隔ΔD。
此外,如果被测定光纤FUT中的光的群速度设为vg,则由下面的(2)式表示相关峰值的间隔dm。因此,如果设定了调制频率fm,则还设定了相关峰值的间隔dm。
dm=vg/(2×fm)…(2)
另外,如果调制频率fm变化,则相关峰值CP1的位置改变。因此,如果设定了测定间隔ΔD,则还设定了为了使相关峰值CP1的位置以测定间隔ΔD移动所需的调制频率fm的变化量Δfm。
下面,如图3所示,在测定开始时间点,在测定范围RM内隔开间隔dm而出现3个相关峰值CP1~CP3。此外,在测定开始时间点,出现相关峰值CP1~CP3的位置如下。
相关峰值CP1:从原点起的距离为D1的位置
相关峰值CP2:从原点起的距离为D1+dm的位置
相关峰值CP3:从原点起的距离为D1+2×dm的位置
《第1次处理》
如果对光纤特性测定装置1发出测定开始的指示,开始图2所示的流程图的处理,则首先光纤特性测定装置1的控制装置20设定调制频率(步骤S11)。这里,将上述调制频率的初始值fm0设定为调制频率fm。如果进行调制频率fm的设定,则设置于光源部11的调制部11b由控制装置20控制,将从调制部11b输出的调制信号m1的频率设定为调制频率fm。如果将这种调制信号m1输入至光源11a,则从光源11a射出以调制频率fm调制频率后的连续光L1。
从光源11a射出的连续光L1射入至第1光分流部12而分流为泵浦光LP和参照光LR。分流后的泵浦光LP射入至脉冲化部13。于是,利用控制装置20对脉冲化部13进行控制,将泵浦光LP整形为脉冲状而生成泵浦脉冲光P(步骤S12)。利用脉冲化部13生成的泵浦脉冲光P经由第2光分流部14而射入至被测定光纤FUT。此外,将泵浦脉冲光P的前缘射入至被测定光纤FUT的一端(原点)的时刻设为0。
射入至被测定光纤FUT的泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT内传播。而且,依次通过出现相关峰值CP1的位置(从原点起的距离为D1的位置)、出现相关峰值CP2的位置(从原点起的距离为D1+dm的位置)、出现相关峰值CP3的位置(从原点起的距离为D1+2×dm的位置)。如果泵浦脉冲光P依次通过出现相关峰值CP1~CP3的位置,则在各位置依次产生基于布里渊散射的后方散射光LS。各位置产生的后方散射光LS在泵浦脉冲光P传播的方向的相反方向上传播,从被测定光纤FUT的一端依次射出。
在进行前述的生成泵浦脉冲光P的处理之后,控制装置20对出现相关峰值CP1~CP3的各位置产生的后方散射光LS的返回时间进行计算(步骤S13)。这里,在泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT之后,泵浦脉冲光P的前缘到达出现相关峰值CP1~CP3的位置的时刻t1~t3如下。
时刻t1=D1/vg
时刻t2=(D1+dm)/vg
时刻t3=(D1+2×dm)/vg
这里,将在出现相关峰值CP1的位置产生的后方散射光LS设为后方散射光LS1,将在出现相关峰值CP2的位置产生的后方散射光LS设为后方散射光LS2,将在出现相关峰值CP3的位置产生的后方散射光LS设为后方散射光LS3。上述后方散射光LS1~LS3到达被测定光纤FUT的一端(原点)的时刻如下。
后方散射光LS1:(2×t1)~(2×t1+tpw)
后方散射光LS2:(2×t2)~(2×t2+tpw)
后方散射光LS3:(2×t3)~(2×t3+tpw)
这里,为了使说明变得简单,将从被测定光纤FUT的一端射出的后方散射光LS依次经由第2光分流部14以及合波部16而到达检测部17所需的时间设为0。于是,可以将后方散射光LS1~LS3到达检测部17的时刻分别视为上述后方散射光LS1~LS3到达被测定光纤FUT的一端(原点)的时刻。
从被测定光纤FUT的一端射出的后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)经由第2光分流部14而射入至合波部16。射入至合波部16的后方散射光LS与利用第1光分流部12分流且经由光延迟部15的参照光LR汇合。检测部17对通过汇合而生成的干涉光进行检测(步骤S14)。如果检测出上述干涉光,则检测部17将检测信号输出至切换部18。
于是,控制装置20的控制部20a考虑步骤S13中计算出的返回时间而对切换部18进行控制,针对每段规定时间而剪切检测信号(步骤S15)。具体而言,控制装置20的控制部20a以下述方式对切换部18进行控制,即,在时刻(2×t1)~时刻(2×t1+tpw)的期间,使得频率分析器19a与检测部17连接,在时刻(2×t2)~时刻(2×t2+tpw)的期间,使得频率分析器19b与检测部17连接,在时刻(2×t3)~时刻(2×t3+tpw)的期间,使得频率分析器19c与检测部17连接。此外,控制装置20的控制部20a在除了以上时刻以外的时刻,以使得设为切换部18的断开端的输出端与检测部17连接的方式对切换部18进行控制。
即,在从检测部17输出的检测信号中,剪切出时刻(2×t1)~时刻(2×t1+tpw)之间的检测信号并输入至频率分析器19a。另外,在从检测部17输出的检测信号中,剪切出时刻(2×t2)~时刻(2×t2+tpw)之间的检测信号并输入至频率分析器19b。另外,在从检测部17输出的检测信号中,剪切出时刻(2×t3)~时刻(2×t3+tpw)之间的检测信号并输入至频率分析器19c。
如果利用切换部18剪切的检测信号被输入至频率分析器19a~19c,则频率分析器19a~19c利用剪切出的检测信号而分别进行对被测定光纤FUT的特性进行测定的处理(步骤S16)。具体而言,频率分析器19a~19c求出利用切换部18剪切出的检测信号的频谱数据,分别根据求出的频谱数据而进行求出布里渊频移量的处理。此外,求出的布里渊频移量输出至控制装置20。
《第2次处理》
如果开始处理,则首先控制装置20设定调制频率(步骤S11)。这里,以测定间隔ΔD改变相关峰值CP1的位置,因此将调制频率设定为(fm+Δfm)。此外,通过将调制频率设定为(fm+Δfm)而使得相关峰值的间隔变化为(dm+Δdm)。
如果进行以上设定,则从光源11a射出以调制频率(fm+Δfm)调制频率后的连续光L1。与第1次处理相同地,利用第1光分流部12使得从光源11a射出的连续光L1分流为泵浦光LP和参照光LR。如果分流的泵浦光LP射入至脉冲化部13,则脉冲化部13生成泵浦脉冲光P(步骤S12)。生成的浦脉冲光P经由第2光分流部14而射入至被测定光纤FUT。此外,在第2次处理中,也将泵浦脉冲光P的前缘射入至被测定光纤FUT的一端(原点)的时刻设为0。
射入至被测定光纤FUT的泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT内传播。而且,依次通过出现相关峰值CP1的位置、出现相关峰值CP2的位置、出现相关峰值CP3的位置。出现相关峰值CP1~CP3的位置如下。
相关峰值CP1:从原点起的距离为D1+ΔD的位置
相关峰值CP2:从原点起的距离为D1+ΔD+dm+Δdm的位置
相关峰值CP3:从原点起的距离为D1+ΔD+2×(dm+Δdm)的位置
这里,在以足够的精度维持测定间隔ΔD而使得ΔD>>Δdm的关系、以及ΔD>>2×Δdm)的关系成立的情况下,可以以下面的方式表示出现相关峰值CP1~CP3的位置。
相关峰值CP1:从原点起的距离为D1+ΔD的位置
相关峰值CP2:从原点起的距离为D1+dm+ΔD的位置
相关峰值CP3:从原点起的距离为D1+2×dm+ΔD的位置
即,出现相关峰值CP1~CP3的位置可以分别表示为,从在第1次处理中出现了相关峰值CP1~CP3的位置以测定间隔ΔD偏移后的位置。
如果泵浦脉冲光P依次通过出现相关峰值CP1~CP3的位置,则在各位置依次产生基于布里渊散射的后方散射光LS。在各位置产生的后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)沿在泵浦脉冲光P传播的方向的相反方向传播,从被测定光纤FUT的一端依次射出。
在进行了前述的生成泵浦脉冲光P的处理之后,控制装置20对在出现相关峰值CP1~CP3的各位置产生的后方散射光LS的返回时间进行计算(步骤S13)。这里,在泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT之后,泵浦脉冲光P的前缘到达出现相关峰值CP1~CP3的位置的时刻t1~t3分别比第1次处理中的时刻t1~t3以测定间隔ΔD的量滞后。
具体而言,如下所述。
时刻t1=(D1+ΔD)/vg
时刻t2=(D1+dm+ΔD)/vg
时刻t3=(D1+2×dm+ΔD)/vg
因此,在出现相关峰值CP1~CP3的位置产生的后方散射光LS1~LS3到达被测定光纤FUT的一端(原点)的时刻变为光直至达到相关峰值为止而往返的时间,因此以相当于测定间隔ΔD的2倍的量变化。
从被测定光纤FUT的一端射出的后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)经由第2光分流部14而射入至合波部16。射入至合波部16的后方散射光LS与利用第1光分流部12而分流且经由光延迟部15的参照光LR汇合。检测部17对通过汇合而生成的干涉光进行检测(步骤S14)。如果检测出上述干涉光,则从检测部17将检测信号输出至切换部18。
于是,控制装置20的控制部20a考虑步骤S13中计算出的返回时间对切换部18进行控制,针对每段规定时间而剪切检测信号(步骤S15)。这里进行的处理基本上与通过第1次处理进行的处理相同,但将频率分析器19a~19c与检测部17连接的定时(剪切检测信号的定时)以相当于测定间隔ΔD的2倍的量而变化。
如果利用切换部18剪切出的检测信号输入至频率分析器19a~19c,则与第1次处理相同地,频率分析器19a~19c利用剪切出的检测信号而分别进行对被测定光纤FUT的特性进行测定的处理(步骤S16)。此外,求出的布里渊频移量输出至控制装置20。
在第3次处理以后,进行与第2次处理相同的处理。即,光纤特性测定装置1一边使调制频率每次以Δfm而变化、且使相关峰值CP1~CP3的位置每次以测定间隔ΔD移动,一边对被测定光纤FUT的特性进行测定。因此,省略对第3次处理以后的处理的说明。此外,直至第M次处理为止而进行图2所示的流程图的处理。这里,M=[dm/ΔD]。此外,左式中的符号“[]”为高斯符号(赋予未超过商的最大整数)。
如上,本实施方式的光纤特性测定装置1使得频率调制后的泵浦光LP实现脉冲化而生成泵浦脉冲光P,使生成的泵浦脉冲光P从被测定光纤FUT的一端射入。光纤特性测定装置1对射入泵浦脉冲光P而由于被测定光纤FUT内的布里渊散射产生的后方散射光LS、和频率调制后的参照光LR的干涉光进行检测。而且,光纤特性测定装置1针对每段规定时间,剪切对干涉光进行检测而获得的检测信号,分别利用剪切出的每段规定时间的检测信号,对被测定光纤FUT的特性进行测定。由此,通过使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT而能够对出现相关峰值的多个部位的特性进行测定,因此与以往相比能够缩短被测定光纤的特性的测定所需的时间。
具体而言,如图3所示,在被测定光纤FUT的测定范围RM内出现3个相关峰值CP1~CP3的情况下,通过使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT而能够对出现相关峰值CP1~CP3的3个部位的特性进行测定。因此,能够使被测定光纤FUT的特性的测定所需的时间缩短为以往的1/3。
在图3所示的例子中,在使相关峰值CP1~CP3沿被测定光纤FUT的长度方向移动的情况下,有时出现相关峰值CP3的位置会超出测定范围RM。在这种情况下,通过使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT而能够对出现相关峰值CP1、CP2的2个部位的特性进行测定,因此被测定光纤FUT的特性的测定所需的时间变为以往的1/2。
此外,在上述实施方式中,对考虑被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量而将4个频率分析器19a~19d设置于测定部19的例子进行了说明。然而,设置于测定部19的频率分析器的数量无需与被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量相同,也可以不同(可以多于或少于相关峰值的数量)。
另外,如果是能够以比泵浦脉冲光P的脉冲幅度tpw充分短的时间进行处理的频率分析器、或者能够进行流水线处理的频率分析器,则设置于测定部19的频率分析器的数量可以仅为1个。在设置于测定部19的频率分析器为1个的情况下,利用1个频率分析器依次对由切换部18依次剪切的检测信号进行处理。
另外,在上述实施方式中,对设置于测定部19的频率分析器19a~19d具有频谱分析仪的例子进行了说明,但如果设置于测定部19的频率分析器能够获得频谱数据,则并非一定需要具有频谱分析仪。设置于测定部19的频率分析器可以具有A/D变换器以及高速傅里叶变换器。
另外,在上述实施方式中,在使相关峰值CP1~CP3移动的情况下产生的相关峰值的间隔dm的变化量N×Δdm(N为测定范围内存在的相关峰值的数量)视为足够小。即,考虑了ΔD>>N×Δdm的关系成立的情况。在该关系不成立的情况下,考虑了在要观测的场所与出现相关峰值的位置之间产生误差的可能性。以使得相关峰值的间隔dm变为测定间隔ΔD的方式设定调制频率fm,从而能够防止产生上述误差。
此外,在上述实施方式中,对在进行了生成泵浦脉冲光P的处理(图2中的步骤S12)之后计算后方散射光的返回时间的处理(图2中的步骤S13)的例子进行了说明。然而,可以在步骤S11与步骤S12之间进行图2中的步骤S13,或者可以与步骤S12并行地进行图2中的步骤S13。
[第2实施方式]
<光纤特性测定装置的结构>
图4是表示本发明的第2实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。此外,图4中对与图1所示的结构相同的结构标注了相同的标号。如图4所示,本实施方式的光纤特性测定装置2是在图1所示的光纤特性测定装置1追加了振荡器31、移频器32以及A/D变换部33(变换部),分别由存储部34(剪切部)以及控制装置35代替光纤特性测定装置1的测定部19以及控制装置20得到的结构。
本实施方式的光纤特性测定装置2将从检测部17输出的检测信号(表示后方散射光LS和参照光LR的频率差的干涉信号)的频域变换为直流附近的频域。通过进行这种变换,本实施方式的光纤特性测定装置2能够容易地进行针对检测信号的处理(求出被测定光纤FUT的特性的处理)。
振荡器31在控制装置35的控制下,例如将正弦波状的信号S1输出。从振荡器31输出的信号S1的频率由控制装置35控制。具体而言,在控制装置35的动作模式为第1模式(进行高速傅里叶变换的动作模式)的情况下,将信号S1的频率控制为恒定的频率。与此相对,在控制装置35的动作模式为第2模式(不进行高速傅里叶变换的动作模式)的情况下,将信号S1的频率控制为以预先规定的周期而变化。这里,信号S1的频率变化的周期例如为泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT往返所需的时间。
移频器32例如具有SSB(Single Side Band)调制元件。移频器32利用从振荡器31输出的信号S1,使利用第1光分流部12分流的泵浦光LP的频率以信号S1的频率而偏移。具体而言,移频器32使泵浦光LP的频率以接近被测定光纤FUT中产生的布里渊频移量的频率而偏移。即,移频器32以使得布里渊频移量与泵浦光LP的频率差处于直流附近的频域的方式使泵浦光LP的频率偏移。
例如,在被测定光纤FUT的布里渊频移量为10GHz左右的情况下,在控制装置35的动作模式为第1模式时,从振荡器31输出的信号S1的频率为11GHz左右,移频器32使泵浦光LP的频率以信号S1的频率量而偏移。与此相对,在控制装置35的动作模式为第2模式时,从振荡器31输出的信号S1的频率在9.5GHz左右至10.5GHz左右的范围内以上述周期而变化,移频器32使泵浦光LP的频率以信号S1的频率量而偏移。即,在第2模式下,移频器32以上述周期对泵浦光LP的频率的偏移量进行扫描。
A/D变换部33设置于检测部17与切换部18之间。A/D变换部33将从检测部17输出的检测信号变换为数字信号的检测数据并输出至切换部18。这里,根据如第1实施方式那样不具有移频器32的结构,从检测部17输出的检测信号的频域为10GHz左右的较高频率。因此,根据价格、耗电量、数据量的观点,难以将其直接输入至A/D变换部33。在本实施方式中,设置上述移频器32而将从检测部17输出的检测信号的频域设为直流附近的频域(例如1GHz左右的频域),从而容易使用A/D变换部33。
存储部34具有多个存储器。存储部34将从切换部18输出的检测数据(针对每段规定时间而剪切出的检测数据)分别存储于多个存储器。与图1所示的测定部19的频率分析器的数量相同地,考虑被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量而设定存储部34的存储器的数量。例如,如图4所示,在被测定光纤FUT中出现4个相关峰值CP1~CP4的情况下,与上述4个相关峰值CP1~CP4对应地将4个存储器34a~34d设置于存储部34。
存储器34a~34d例如可以是RAM(Random Access Memory)等易失性的半导体存储器、闪存等非易失性的半导体存储器等。另外,存储器34a~34d并不局限于半导体存储器,除了半导体存储器以外,也可以是HDD(硬盘驱动器)、SSD(固态驱动器)等。
控制装置35对光纤特性测定装置2的动作进行统一控制。例如,与图1所示的控制装置20相同地,控制装置35对光源部11进行控制而变更从光源部11输出的连续光L1的调制频率fm,对脉冲化部13进行控制而生成泵浦脉冲光P,考虑来自被测定光纤FUT的后方散射光LS到达检测部17的时间而进行切换部18的切换控制。另外,控制装置35对振荡器31进行控制而将频率恒定的信号S1或者频率以预先规定的周期变化的信号S1输出。
控制装置35具有FFT运算部35a(运算部、测定部)、频率分析部35b(测定部)、以及控制部20a(剪切部)。FFT运算部35a针对从存储器34a~34d分别读出的检测数据而进行高速傅里叶变换,求出表示检测数据(针对每段规定时间而剪切出的检测数据)的频率特性的频谱数据。频率分析部35b根据利用FFT运算部35a求出的频谱数据、或者从存储器34a~34d分别读出的检测数据而求出布里渊频移量。
这里,控制装置35中准备了下面所示的2种动作模式。例如,用户对设置于控制装置35的未图示的操作部进行操作而选择控制装置35的动作模式。
第1模式:进行高速傅里叶变换的动作模式
第2模式:不进行高速傅里叶变换的动作模式
在控制装置35的动作模式为第1模式的情况下,以使得信号S1的频率变为恒定频率的方式对振荡器31进行控制。另外,使得控制装置35的FFT运算部35a处于动作状态,频率分析部35b设定为根据利用FFT运算部35a求出的频谱数据而求出布里渊频移量。与此相对,在控制装置35的动作模式为第2模式的情况下,以使得信号S1的频率变化的方式对振荡器31进行控制。另外,使得控制装置35的FFT运算部35a处于停止状态,频率分析部35b设定为根据从存储器34a~34d分别读出的检测数据而求出布里渊频移量。
<光纤特性测定装置的动作>
光纤特性测定装置2的基本动作与图1所示的光纤特性测定装置1相同。因此,在光纤特性测定装置2中,也基本上进行与图2所示的流程图的处理相同的处理。下面,主要对光纤特性测定装置2的动作中的与光纤特性测定装置1不同的动作进行说明。另外,在控制装置35的动作模式为第1模式的情况下、以及第2模式的情况下,若干动作不同,因此下面分为控制装置35的动作模式为第1模式的情况下的动作、以及第2模式的情况下的动作进行说明。
(1)第1模式
在控制装置35的动作模式为第1模式的情况下,以使得输入至移频器32的信号S1的频率变为恒定的频率的方式对振荡器31进行控制。如果利用第1光分流部12分流的泵浦光LP射入至移频器32,则泵浦光LP的频率以接近被测定光纤FUT中产生的布里渊频移量(例如10GHz左右)的频率(例如11GHz左右)而偏移。频率偏移后的泵浦光LP由脉冲化部13整形为脉冲状。在脉冲化部13生成的泵浦脉冲光P经由第2光分流部14而射入至被测定光纤FUT。
如果射入至被测定光纤FUT的泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT内传播,则与第1实施方式相同地,依次产生后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)并从被测定光纤FUT的一端依次射出。从被测定光纤FUT的一端射出的后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)经由第2光分流部14而射入至合波部16。射入至合波部16的后方散射光LS与利用第1光分流部12分流且经由光延迟部15的参照光LR汇合。检测部17对通过汇合而生成的干涉光进行检测。
如果检测出上述干涉光,则从检测部17将检测信号输出至A/D变换部33。这里,使泵浦光LP的频率偏移11GHz左右,因此如果被测定光纤FUT的布里渊频移量设为10GHz左右,则从检测部17输出的检测信号的频率变为1GHz左右。从检测部17输出至A/D变换部33的检测信号在A/D变换部33变换为数字信号的检测数据并输出至切换部18。
于是,与第1实施方式相同地,控制装置35的控制部20a考虑后方散射光LS的返回时间而对切换部18进行控制,针对每段规定时间而剪切检测数据。针对每段规定时间而剪切出的检测数据依次存储于存储器34a~34c。而且,通过控制装置35的控制而分别依次读出存储器34a~34c中存储的检测数据。
接下来,FFT运算部35a针对从存储器34a~34c读出的检测数据而进行高速傅里叶变换,求出表示检测数据的频率特性的频谱数据。利用FFT运算部35a求出的频谱数据依次输出至频率分析部35b。而且,频率分析部35b根据利用FFT运算部35a求出的频谱数据而求出布里渊频移量。一边使调制频率每次以Δfm变化、且使相关峰值CP1~CP3的位置每次以测定间隔ΔD移动,一边反复执行以上处理。
(2)第2模式
在控制装置35的动作模式为第2模式的情况下,以使得输入至移频器32的信号S1的频率变化的方式对振荡器31进行控制。如果利用第1光分流部12分流的泵浦光LP射入至移频器32,则与控制装置35的动作模式为第1模式的情况相同地,泵浦光LP的频率以接近被测定光纤FUT中产生的布里渊频移量的频率(例如9.5GHz至10.5GHz左右的范围内)而偏移。但是,以预先规定的周期(例如泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT往返所需的时间)对泵浦光LP的频率的偏移量进行扫描。频率偏移后的泵浦光LP由脉冲化部13整形为脉冲状。脉冲化部13中生成的泵浦脉冲光P经由第2光分流部14而射入至被测定光纤FUT。
如果射入至被测定光纤FUT的泵浦脉冲光P在被测定光纤FUT内传播,则与控制装置35的动作模式为第1模式的情况相同地,依次产生后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)并从被测定光纤FUT的一端依次射出。从被测定光纤FUT的一端射出的后方散射光LS(后方散射光LS1~LS3)经由第2光分流部14而射入至合波部16。射入至合波部16的后方散射光LS与利用第1光分流部12分流且经由光延迟部15的参照光LR汇合。检测部17对通过汇合而生成的干涉光进行检测。
从检测部17输出至A/D变换部33的检测信号在A/D变换部33变换为数字信号的检测数据并输出至切换部18。于是,与控制装置35的动作模式为第1模式的情况相同地,控制装置35的控制部20a考虑后方散射光LS的返回时间而对切换部18进行控制,针对每段规定时间而剪切检测数据。针对每段规定时间而剪切出的检测数据依次存储于存储器34a~34c。这里,以预先规定的周期对泵浦光LP的频率的偏移量进行扫描,因此存储器34a~34c中存储的检测数据变为频谱数据。
通过控制装置35的控制分别依次读出存储器34a~34c中存储的检测数据。于是,频率分析部35b根据从存储器34a~34c分别依次读出的检测数据而求出布里渊频移量。一边使调制频率每次以Δfm变化、且使相关峰值CP1~CP3的位置每次以测定间隔ΔD移动,一边反复执行以上处理。
如上,本实施方式的光纤特性测定装置2利用移频器32使泵浦光LP的频率以接近被测定光纤FUT中产生的布里渊频移量的频率而偏移,由此将从检测部17输出的检测信号的频域变换为直流附近的频域。因此,能够将检测信号变换为作为数字信号的检测数据而容易地进行求出被测定光纤FUT的特性的处理。
另外,在本实施方式中,也与第1实施方式相同地,光纤特性测定装置2针对每段规定时间而剪切检测数据,分别利用剪切出的每段规定时间的检测数据而对被测定光纤FUT的特性进行测定。由此,通过使1束泵浦脉冲光P射入至被测定光纤FUT而能够对出现相关峰值的多个部位的特性进行测定,因此与以往相比能够缩短被测定光纤的特性的测定所需的时间。
此外,在上述实施方式中,对考虑被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量而将4个存储器34a~34d设置于存储部34的例子进行了说明。然而,设置于存储部34的存储器的数量并非一定与被测定光纤FUT中出现的相关峰值的数量相同,也可以不同(可以多于或少于相关峰值的数量)。
另外,在上述实施方式中,对使利用第1光分流部12分流的泵浦光LP的频率偏移的例子进行了说明。然而,也可以不使泵浦光LP的频率偏移,而是使利用第1光分流部12分流的参照光LR的频率偏移。即,只要使利用第1光分流部12分流的泵浦光LP以及参照光LR中的任一者的频率偏移即可。
[第3实施方式]
<光纤特性测定装置的结构>
图5是表示本发明的第3实施方式所涉及的光纤特性测定装置的要部结构的框图。此外,图5中对与图4所示的结构相同的结构标注相同的标号。如图5所示,本实施方式的光纤特性测定装置3是省略了图4所示的光纤特性测定装置2的切换部18,并分别由存储器41(剪切部)以及控制装置42代替光纤特性测定装置2的存储部34以及控制装置35得到的结构。
图4所示的光纤特性测定装置2将利用切换部18针对每段规定时间而剪切出的检测数据分别存储于多个存储器。与此相对,本实施方式的光纤特性测定装置3将检测数据全部都存储于存储器41,考虑后方散射光LS到达检测部17的时间,而针对每段规定时间分别读出存储器41中存储的检测数据。即,图4所示的光纤特性测定装置2在存储于存储器之前进行检测数据的剪切,与此相对,本实施方式的光纤特性测定装置3在将检测数据存储于存储器之后进行检测数据的剪切。
与图4所示的存储器34a~34d相同地,存储器41例如可以是RAM等易失性的半导体存储器、闪存等非易失性的半导体存储器等。另外,存储器41并不局限于半导体存储器,除了半导体存储器以外,也可以是HDD(硬盘驱动器)、SSD(固态驱动器)等。
控制装置42对光纤特性测定装置3的动作进行统一控制。例如,与图4所示的控制装置35相同地,控制装置42对光源部11进行控制而使从光源部11输出的连续光L1的调制频率fm变更,对脉冲化部13进行控制而生成泵浦脉冲光P,对振荡器31进行控制而将频率恒定的信号S1或者频率以预先规定的周期变化的信号S1输出。
在图4所示的FFT运算部35a以及频率分析部35b的基础上,控制装置42还具有读出部42a(剪切部)。读出部42a考虑后方散射光LS到达检测部17的时间,针对每段规定时间分别读出存储器41中存储的检测数据。此外,利用控制装置42进行与图2所示的步骤S13相同的处理而求出后方散射光LS到达检测部17的时间(后方散射光LS的返回时间)。
这里,在从A/D变换部33输出的检测数据按照地址顺序写入至存储器41的情况下,检测数据写入至存储器41的时刻与存储器41的地址一一对应。读出部42a利用相对于存储器41的检测数据的写入开始的时刻、相对于存储器41的检测数据的写入开始地址、A/D变换部33的采样频率,将后方散射光LS到达检测部17的时间变换为地址而进行所需的检测数据的读出。
此外,可以仅将从A/D变换部33输出的检测数据写入至存储器41,也可以将表示检测数据的数据顺序的附加信息和从A/D变换部33输出的检测数据一起写入至存储器41。这种附加信息例如可以是时刻信息、数据编号(序列号)。在作为附加信息而使用时刻信息的情况下,读出部42a参照作为附加信息的时刻信息而进行所需的检测数据的读出。在作为附加信息而使用数据编号的情况下,读出部42a利用相对于存储器41的检测数据的写入开始的时刻、A/D变换部33的采样频率,将后方散射光LS到达检测部17的时间变换为数据番号并进行所需的检测数据的读出。
这里,与图4所示的控制装置35相同地,控制装置42中也准备了2种动作模式(第1模式以及第2模式)。在控制装置42的动作模式为第1模式的情况下,以使得信号S1的频率变为恒定的频率的方式对振荡器31进行控制。另外,使得控制装置42的FFT运算部35a处于动作状态,对由读出部42a读出的检测数据进行处理,频率分析部35b设定为根据利用FFT运算部35a求出的频谱数据而求出布里渊频移量。与此相对,在控制装置42的动作模式为第2模式的情况下,以使得信号S1的频率变化的方式对振荡器31进行控制。另外,使得控制装置42的FFT运算部35a处于停止状态,频率分析部35b设定为根据由读出部42a读出的检测数据而求出布里渊频移量。
<光纤特性测定装置的动作>
除了对从A/D变换部33输出的检测数据进行剪切的定时以外,光纤特性测定装置3的动作与图4所示的光纤特性测定装置2相同。因此,在光纤特性测定装置3中,也基本上进行与图2所示的流程图的处理相同的处理。下面,主要对光纤特性测定装置3的动作中的、与光纤特性测定装置2不同的动作进行说明。此外,下面,为了使说明简化,举出控制装置42的动作模式为第1模式的情况为例进行说明。
在从光源11a射出连续光L1之后直至利用检测部17检测出后方散射光LS和参照光LR的干涉光为止的动作,与利用图4所示的光纤特性测定装置2进行的动作相同。从检测部17输出至A/D变换部33的检测信号在A/D变换部33变换为数字信号的检测数据并输出至存储器41,依次存储于存储器41。
如果检测数据存储于存储器41,则读出部42a考虑后方散射光LS到达检测部17的时间,针对每段规定时间分别读出存储器41中存储的检测数据。利用读出部42a分别读出的数据依次输出至FFT运算部35a。FFT运算部35a求出表示检测数据的频率特性的频谱数据。
利用FFT运算部35a求出的频谱数据依次输出至频率分析部35b。而且,频率分析部35b根据利用FFT运算部35a求出的频谱数据,而求出布里渊频移量。一边使调制频率每次以Δfm变化、且使相关峰值CP1~CP3的位置每次以测定间隔ΔD而移动,一边反复执行以上处理。
此外,与第2实施方式相同地,可以在每次将检测数据写入至存储器41时,进行基于读出部42a的检测数据的读出,也可以在与第2实施方式不同的定时进行基于读出部42a的检测数据的读出。例如,在存储器41的容量富余的情况下,可以将测定中获得的检测数据全部都存储于存储器41,在测定结束后由读出部42a统一进行检测数据的读出。另外,在控制装置42的处理非常快的情况下,也可以省略存储器41。在这种情况下,利用设置于控制装置42的读出部42a直接进行从A/D变换部33输出的检测数据的剪切。
如上,在本实施方式的光纤特性测定装置3中,在将从A/D变换部33输出的检测数据存储于存储器41之后,读出部42a考虑后方散射光LS到达检测部17的时间,而针对每段规定时间分别读出存储器41中存储的检测数据。由此,可以省略图4所示的切换部18、多个存储器34a~34d,因此能够使得装置结构简化。另外,例如,可以实现如下灵活的使用方法,即,在测定结束后统一进行存储器41中存储的检测数据的读出,统一求出被测定光纤FUT的特性。
另外,本实施方式和第2实施方式仅在将检测数据存储于存储器之后进行检测数据的剪切、或者在存储于存储器之前进行检测数据的剪切这一点上不同。因此,在本实施方式中,也能够获得与第2实施方式中获得的作用效果相同的作用效果。具体而言,能够获得如下效果,即,能够容易地进行将从检测部17输出的检测信号变换为作为数字信号的检测数据而求出被测定光纤FUT的特性的处理的作用效果、以及与以往相比能够缩短被测定光纤的特性的测定所需的时间的作用效果。
以上对本发明的实施方式所涉及的光纤特性测定装置以及光纤特性测定方法进行了说明,但本发明并不局限于上述实施方式,可以在本发明的范围内自由地变更。例如,在上述实施方式中,脉冲化部13对泵浦光LP进行强度调制而将泵浦光LP整形为脉冲状。然而,使泵浦光LP实现脉冲化的方法并不局限于对泵浦光LP进行强度调制的方法。例如,可以对泵浦光LP进行频率调制而使泵浦光LP的光频率变化为脉冲状(使光频率大幅振荡)。
另外,除了第1光分流部12与合波部16之间以外,也可以在第1光分流部12与第2光分流部14之间、或者第2光分流部14与合波部16之间设置光延迟部15。另外,可以在第1光分流部12与第2光分流部14之间具有使泵浦光LP增幅的第1光增幅部。另外,可以在第2光分流部14与合波部16之间具有使后方散射光LS增幅的第2光增幅部。另外,可以在第1光分流部12与合波部16之间具有使参照光LR增幅的第3光增幅部。并且,作为移频器32,可以使用强度调制器而并非SSB调制器。另外,可以在检测部17与A/D变换部33之间设置移频器32。并且,调制部11b可以不直接对光源11a进行调制,可以利用与光源11a的输出连接的调制部对光进行调制。
在本说明书中,“前、后、上、下、右、左、垂直、水平、纵、横、行及列”等表示方向的用语是针对本发明的装置的上述方向而述及的。因此,本发明的说明书中的上述用语应当针对本发明的装置进行相对性解释。
“构成为”之类的用语用于表示为了执行本发明的功能而构成、或者表示装置的机构、要素、部分。
并且,技术方案中作为“方法及功能”而表述的用语应当包含能够用于执行本发明中包含的功能的所有构造。
“单元”之类的用语用于表示结构要素、单元、硬件、为了执行所需的功能而编制的软件的一部分。硬件的典型例为设备、电路,但并不局限于此。
以上对本发明的优选实施例进行了说明,但本发明并不限定于上述实施例。在不脱离本发明的主旨的范围内,可以进行结构的附加、省略、置换以及其他变更。本发明并未受到前述说明的限定,仅由后附的权利要求书来限定。
标号的说明
1~3 光纤特性测定装置
11 光源部
12 第1光分流部
13 脉冲化部
14 第2光分流部
17 检测部
18 切换部
19 测定部
19a~19d 频率分析器
20 控制装置
20a 控制部
32 移频器
33 A/D变换部
34 存储部
34a~34d 存储器
35 控制装置
35a FFT运算部
35b 频率分析部
40 存储部
41 存储器
42a 读出部
FUT 被测定光纤
L1 连续光
LP 泵浦光
LR 参照光
LS 后方散射光
Claims (20)
1.一种光纤特性测定装置,其中,
所述光纤特性测定装置具有:
光源部,其将频率调制后的连续光输出;
第1光分流部,其将所述连续光分流为泵浦光和参照光;
脉冲化部,其将所述泵浦光脉冲化;
第2光分流部,其使脉冲化后的所述泵浦光从光纤的一端射入,将通过所述光纤内的布里渊散射而产生的后方散射光输出;
检测部,其对所述后方散射光和所述参照光的干涉光进行检测;
剪切部,其针对每段规定时间而对从所述检测部输出的检测信号进行剪切;以及
测定部,其分别利用由所述剪切部剪切出的每段所述规定时间的检测信号对所述光纤的特性进行测定。
2.根据权利要求1所述的光纤特性测定装置,其中,
所述测定部具有根据所述检测信号求出布里渊频移量的频率分析器。
3.根据权利要求2所述的光纤特性测定装置,其中,
所述频率分析器设置有多个,
所述剪切部具有:
切换部,其对将所述检测部与多个所述频率分析器中的哪一个连接进行切换;以及
控制部,其考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
4.根据权利要求1所述的光纤特性测定装置,其中,
所述光纤特性测定装置具有:
移频器,其使所述泵浦光或者所述参照光的频率偏移;以及
变换部,其设置于所述检测部与所述剪切部之间,将从所述检测部输出的所述检测信号变换为数字信号的检测数据。
5.根据权利要求4所述的光纤特性测定装置,其中,
所述移频器使所述泵浦光的频率以接近布里渊频移量的频率进行偏移。
6.根据权利要求4或5所述的光纤特性测定装置,其中,
所述剪切部具有:
存储部,其具有对所述检测数据进行存储的多个存储器;
切换部,其对将所述变换部与所述多个存储器中的哪一个连接进行切换;以及
控制部,其考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
7.根据权利要求6所述的光纤特性测定装置,其中,
所述测定部具有:
运算部,其针对从所述多个存储器分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据;以及
频率分析部,其根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
8.根据权利要求6所述的光纤特性测定装置,其中,
所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,
所述测定部具有根据从所述多个存储器分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量的频率分析部。
9.根据权利要求4或5所述的光纤特性测定装置,其中,
所述剪切部具有考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间,而针对每段所述规定时间分别读出所述检测数据的读出部,
所述测定部根据由所述读出部分别读出的所述检测数据而对所述光纤的特性进行测定。
10.根据权利要求9所述的光纤特性测定装置,其中,
所述测定部具有:
运算部,其针对由所述读出部分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据;以及
频率分析部,其根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
11.根据权利要求9所述的光纤特性测定装置,其中,
所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,
所述测定部具有根据由所述读出部分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量的频率分析部。
12.根据权利要求9至11中任一项所述的光纤特性测定装置,其中,
所述剪切部具有对所述检测数据进行存储的存储器,
所述读出部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间,针对每段所述规定时间分别读出所述存储器中存储的所述检测数据。
13.一种光纤特性测定方法中,其中,
利用光源部将频率调制后的连续光输出,
利用第1光分流部将所述连续光分流为泵浦光和参照光,
利用脉冲化部将所述泵浦光脉冲化,
利用第2光分流部使脉冲化后的所述泵浦光从光纤的一端射入,
利用所述第2光分流部将通过所述光纤内的布里渊散射而产生的后方散射光输出,
利用检测部对所述后方散射光和所述参照光的干涉光进行检测,
利用剪切部,针对每段规定时间而对从所述检测部输出的检测信号进行剪切,
利用测定部并分别使用由所述剪切部剪切出的每段所述规定时间的检测信号,对所述光纤的特性进行测定。
14.根据权利要求1所述的光纤特性测定方法,其中,
所述测定部具有频率分析器,
利用所述频率分析器根据所述检测信号而求出布里渊频移量。
15.根据权利要求14所述的光纤特性测定方法,其中,
所述频率分析器设置有多个,
所述剪切部具有切换部以及控制部,
利用所述切换部对将所述检测部与多个所述频率分析器中的哪一个连接进行切换,
利用所述控制部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
16.根据权利要求13所述的光纤特性测定方法,其中,
利用移频器使所述泵浦光或者所述参照光的频率偏移,
利用设置于所述检测部与所述剪切部之间的变换部,将从所述检测部输出的所述检测信号变换为数字信号的检测数据。
17.根据权利要求16所述的光纤特性测定方法,其中,
利用所述移频器使所述泵浦光的频率以接近布里渊频移量的频率进行偏移。
18.根据权利要求16或17所述的光纤特性测定方法,其中,
所述剪切部具有:存储部,其具有多个存储器;切换部;以及控制部,
利用所述存储部对所述检测数据进行存储,
利用所述切换部对将所述变换部与所述多个存储器中的哪一个连接进行切换,
利用所述控制部考虑所述后方散射光到达所述检测部的时间而进行所述切换部的切换。
19.根据权利要求18所述的光纤特性测定方法,其中,
所述测定部具有运算部以及频率分析部,
利用所述运算部针对从所述多个存储器分别读出的所述检测数据进行高速傅里叶变换而求出频谱数据,
利用所述频率分析部,根据由所述运算部求出的所述频谱数据而求出布里渊频移量。
20.根据权利要求18所述的光纤特性测定方法,其中,
利用所述移频器以预先规定的周期对所述泵浦光的频率的偏移量进行扫描,
所述测定部具有频率分析部,
利用所述频率分析部,根据从所述多个存储器分别读出的所述检测数据而求出布里渊频移量。
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