JP2009139241A - 光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源1からの出力光を周波数変調しつつ、被測定光ファイバFUTの片端だけからポンプ光を入射して、被測定光ファイバFUT内のブリルアン散乱により生じた反射光と参照光とを干渉させる。これにより、被測定光ファイバFUT中の狭い領域でのブリルアン散乱を、ある位置に対応した干渉出力として選択的に抽出できる。また、その位置を移動させて、被測定光ファイバFUT中の特性分布を測定することができ、高い空間分解能を実現できる。しかも、連続光を被測定光ファイバFUTの片端に入射するため、短時間での測定が可能になり、また光ヘテロダイン方式を採用することで、BOCDA法のようなSSBMを不要にできる。
【選択図】図1
Description
12 光ヘテロダイン受信器(検出手段)
18 スペクトラムアナライザ(測定手段)
19 パーソナルコンピュータ(測定手段)
21 ポンプ光生成手段
22 参照光生成手段
31 第1の光増幅器
32 第2の光増幅器
34 第1の光フィルタ(第1のフィルタ)
35 第2の光フィルタ(第2のフィルタ)
36 電気アンプ
51 強度変調器(第1の時間ゲート手段)
52 電気スイッチ(第2の時間ゲート手段)
53 強度変調器(第2の時間ゲート手段)
FUT 被測定光ファイバ
Claims (12)
- 周波数変調された連続光を出力する光源部と、
前記光源部からの出力光を、被測定光ファイバの片端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、
前記光源部からの出力光を、参照光として生成する参照光生成手段と、
前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光と前記参照光とを干渉させ、前記出力光の周波数変調を利用して、前記被測定光ファイバ内のある位置で発生した散乱による反射光を干渉出力として選択的に抽出する検出手段と、
前記検出手段からの干渉出力により、前記位置でのブリルアン周波数シフトを測定し、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。 - 前記反射光を増幅する第1の光増幅器と、
前記第1の光増幅器により得られた増幅光から不要な光成分を除去し、これを前記検出手段で前記参照光と干渉させる第1のフィルタとを備えたことを特徴とする請求項1記載の光ファイバ特性測定装置。 - 前記参照光生成手段は、
前記光源部からの出力光を増幅する第2の光増幅器と、
前記第2の光増幅器により得られた増幅光から不要な光成分を除去し、これを前記参照光として生成する第2のフィルタとを備えたことを特徴とする請求項1または2記載の光ファイバ特性測定装置。 - 前記検出手段により電気信号に変換された前記干渉出力を増幅して、前記測定手段に出力する電気アンプを備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の光ファイバ特性測定装置。
- 前記ポンプ光生成手段は、前記ポンプ光をパルス状にして前記被測定光ファイバの片端に出力する第1の時間ゲート手段を備えると共に、
前記被測定光ファイバに設定された範囲内において、一つの位置で発生した散乱による反射光のみを干渉出力として抽出するタイミングで、前記干渉出力を前記測定手段に出力する第2の時間ゲート手段を備えたことを特徴とする請求項1〜4の何れか一つに記載の光ファイバ特性測定装置。 - 前記ポンプ光生成手段は、前記ポンプ光をパルス状にして前記被測定光ファイバの片端に出力する第1の時間ゲート手段を備えると共に、
前記参照光生成手段は、前記被測定光ファイバに設定された範囲内において、一つの位置で発生した散乱による反射光のみを干渉出力として抽出するタイミングで、前記参照光を前記検出手段に出力する第2の時間ゲート手段を備えたことを特徴とする請求項1〜4の何れか一つに記載の光ファイバ特性測定装置。 - 光源部から周波数変調された連続光を出力する第1のステップと、
この光源部からの出力光を、被測定光ファイバの片端からポンプ光として入射させる第2のステップと、
前記光源部からの出力光を、参照光として生成する第3のステップと、
前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光と前記参照光とを干渉させ、前記出力光の周波数変調を利用して、前記被測定光ファイバ内のある位置で発生した散乱による反射光を干渉出力として選択的に抽出する第4のステップと、
前記干渉出力により測定手段が前記位置でのブリルアン周波数シフトを測定し、前記被測定光ファイバの特性を測定する第5のステップとからなることを特徴とする光ファイバ特性測定方法。 - 前記反射光を第1の光増幅器で増幅し、
この第1の光増幅器により得られた増幅光から、第1のフィルタにより不要な光成分を除去して、これを前記第4のステップで前記参照光と干渉させることを特徴とする請求項7記載の光ファイバ特性測定方法。 - 前記第3のステップで、前記光源部からの出力光を第2の光増幅器で増幅し、
この第2の光増幅器により得られた増幅光から、第2のフィルタにより不要な光成分を除去し、これを前記参照光として生成することを特徴とする請求項7または8記載の光ファイバ特性測定方法。 - 前記第4のステップで、電気信号に変換された前記干渉出力を電気アンプにより増幅し、前記測定手段に出力することを特徴とする請求項7〜9のいずれか一つに記載の光ファイバ特性測定方法。
- 前記第2のステップで、第1の時間ゲート手段により、前記ポンプ光をパルス状にして前記被測定光ファイバの片端に出力し、
第2の時間ゲート手段により、前記被測定光ファイバに設定された範囲内において、一つの位置で発生した散乱による反射光のみを干渉出力として抽出するタイミングで、前記干渉出力を前記測定手段に出力することを特徴とする請求項7〜10の何れか一つに記載の光ファイバ特性測定方法。 - 前記第2のステップで、第1の時間ゲート手段により、前記ポンプ光をパルス状にして前記被測定光ファイバの片端に出力し、
前記第3のステップで、第2の時間ゲート手段により、前記被測定光ファイバに設定された範囲内において、一つの位置で発生した散乱による反射光のみを干渉出力として抽出するタイミングで、前記参照光を出力することを特徴とする請求項7〜10の何れか一つに記載の光ファイバ特性測定方法。
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