JP2007191450A - スラリー法による包接化合物の製造法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】化合物(I)及び/又は化合物(II)と、化合物(III)と、溶媒とを含む懸濁液を加熱還流させる工程を有することを特徴とする包接化合物の製造方法。
【選択図】なし
Description
しかし、本発明者らは、鋭意検討し、TEP及び2P4MHZを溶媒中に懸濁させ、該懸濁液を加熱還流することにより、包接化合物を製造することが可能となることを見い出し、本発明を完成するに至った。
本発明に用いられる溶媒として、具体的には、酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル系溶媒;ジクロルメタン、クロロホルム、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒;トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒;メチルイソブチルケトン等のケトン系溶媒を例示することができ、中でもエステル系溶媒及びケトン系溶媒を好ましく例示することができ、さらに酢酸エチルを特に好ましく例示することができる。
4.38g(11mmol)の1,1,2,2−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタン(TEP)、及び3.76g(20mmol)の2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール(2P4MHZ)を100ml三口フラスコに秤取り、そこに40mlの酢酸エチルを加え、還流条件化で3時間撹拌した。フラスコ内の液体は、反応中、懸濁状態であった。還流条件化で3時間撹拌した後、フラスコを室温で放置して室温まで冷却し、結晶分を析出させた。その結晶分を濾取し、乾燥させた。乾燥して得られた結晶に、TG−DTA測定(熱分析)、粉末X線回析測定を実施し、包接比(TEP:2P4MHZ)=1.1:2という包接化合物(実施例1)であることを確認した。実施例1の熱分析(TG−DTA)のチャート及び粉末X線回析のチャートをそれぞれ図1及び図2に示す。また、2P4MHZの熱分析(TG−DTA)のチャートを図3、TEPの粉末X線解析のチャートを図4、2P4MHZの粉末X線解析のチャートを図5に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例1で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに2−メチル−イミダゾール(2MZ)を用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例2)を得た。実施例2の熱分析(TG−DTA)のチャート及び粉末X線回析のチャートをそれぞれ図6及び図7に示す。また、2MZの熱分析(TG−DTA)及び粉末X線回析のチャートを、それぞれ図8及び図9に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例2で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに2−フェニル−イミダゾール(2PZ)を用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例3)を得た。実施例3の熱分析(TG−DTA)のチャートを図10に示す。また、2PZの熱分析(TG−DTA)のチャートを図11に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例3で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに2,4−ジメチル−イミダゾールを用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例4)を得た。実施例4の熱分析(TG−DTA)のチャートを図12に示す。また、2,4−ジメチル−イミダゾールの熱分析(TG−DTA)のチャートを図13に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例4で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに1−ブチル−イミダゾールを用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例5)を得た。実施例5の熱分析(TG−DTA)のチャートを図14に示す。また、1−ブチル−イミダゾールの熱分析(TG−DTA)のチャートを図15に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例5で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに2−プロピル−イミダゾールを用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例6)を得た。実施例6の熱分析(TG−DTA)のチャートを図16に示す。また、2−プロピル−イミダゾールの熱分析(TG−DTA)のチャートを図17に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例6で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに4−メチル−イミダゾールを用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例7)を得た。実施例7の熱分析(TG−DTA)のチャートを図18に示す。また、4−メチル−イミダゾールの熱分析(TG−DTA)のチャートを図19に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例7で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
2P4MHZの代わりに1−メチル−イミダゾールを用いたこと以外は、実施例1と同様の方法により、結晶(実施例8)を得た。実施例8の熱分析(TG−DTA)のチャートを図20に示す。また、1−メチル−イミダゾールの熱分析(TG−DTA)のチャートを図21に示す。これらのチャートを比較することにより、実施例8で得られた結晶が包接体(包接化合物)であることを確認した。
Claims (4)
- 式(I)
[式(I)中、R1及びR2は、それぞれ独立して、ヒドロキシ基で置換されていてもよいC1〜C6アルキル基、又は水素原子を表す。]で表される化合物(I)及び/又は式(II)
[式(II)中、R3〜R6は、それぞれ独立して、水素原子、メチル基又はエチル基を表す。]で表される化合物(II)と、式(III)
(式(III)中、Xは、(CH2)nを表し、nは、0、1、2又は3であり、R7 〜R14 は、それぞれ独立して、水素原子、低級アルキル基、置換されていてもよいフェニル基、ハロゲン原子又は低級アルコキシ基を示す。)で表される化合物(III)と、溶媒とを含む懸濁液を加熱還流させる工程を有することを特徴とする包接化合物の製造方法。 - 溶媒が、化合物(I)及び化合物(III)、又は化合物(II)及び化合物(III)に対する貧溶媒であることを特徴とする請求項1に記載の包接化合物の製造方法。
- 化合物(I)が、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール又は2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾールであり、化合物(II)が、4,4’−ジアミノ−ジフェニルメタン、3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノ−ジフェニルメタン及び3,3’−ジメチル−4,4’−ジアミノ−5,5’−ジメチル−ジフェニルメタンからなる群から選ばれるいずれか1つ又は2つ以上の化合物であり、化合物(III)が、1,1,2,2−テトラキス(4−ヒドロキシフェニル)エタンであることを特徴とする請求項1又は2に記載の包接化合物の製造方法。
- 貧溶媒が、エステル系溶媒、ハロゲン化炭化水素溶媒、芳香族炭化水素溶媒、及び/又はケトン系溶媒であることを特徴とする請求項2又は3に記載の包接化合物の製造方法。
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