JP2007183541A - 液晶パネル検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】カセット10に収納された複数枚の液晶パネルを加熱するヒーティングチャンバー100と、ヒーティングチャンバー100に近接して設置され、ヒーティングチャンバー100によって加熱された液晶パネルを受け取って不良を検査する検査部200と、カセット10と検査部200との間を移動しながら、カセット10内の液晶パネルを取り出して検査部200に提供し、検査部200から液晶パネルを取り出してカセット10に提供するパネル搬送部300とを備える。
【選択図】図3
Description
Claims (20)
- カセットに収納された複数枚の液晶パネルを加熱するヒーティングチャンバーと、
前記ヒーティングチャンバーに近接して設置され、前記ヒーティングチャンバーによって加熱された液晶パネルを受け取って不良を検査する検査部と、
前記カセットと前記検査部との間を移動しながら、前記カセット内の液晶パネルを取り出して前記検査部に提供し、前記検査部から液晶パネルを取り出して前記カセットに提供するパネル搬送部と
を備えて構成されることを特徴とする液晶パネル検査装置。 - 前記ヒーティングチャンバーは、
その前方側下部に前記検査部が設置されるように前記前方側下部に形成されるくぼみ部と、
前記液晶パネルを前記検査部に提供するために前記くぼみ部の上面に形成されるパネル出入口と
を備えることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。 - 前記パネル出入口には、その選択的な開閉のための開閉ドアがさらに備えられることを特徴とする請求項2に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記検査部は、前記パネル出入口に対向する部分にパネル流入口を有することを特徴とする請求項2に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ヒーティングチャンバーの側面後方側には、前記カセットの搬入/搬出のためのカセット出入口が形成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記カセット出入口には、その選択的な開閉のための開閉ドアがさらに備えられることを特徴とする請求項5に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ヒーティングチャンバー内の後方側底面に沿って前記カセット出入口から前記カセットが搬入/搬出されるように駆動する搬送部がさらに備えられることを特徴とする請求項5に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記搬送部は、コンベアで構成されることを特徴とする請求項7に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記カセットが選択的に傾斜するように前記搬送部の前方側を持ち上げるリフトをさらに備えることを特徴とする請求項7に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記搬送部は、前記カセットが傾いた状態に搬入/搬出されるように、傾斜するように設置されることを特徴とする請求項7に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記ヒーティングチャンバーには、ヒーティングチャンバー内部の工程進行状況を確認できる透視窓がさらに形成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記透視窓は、前記ヒーティングチャンバーの前面上側に形成されることを特徴とする請求項11に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記パネル搬送部は、
液晶パネルを選択的に把持できるように構成され、上端が前記ヒーティングチャンバーの上側外部に露出されるように設置されたハンド部と、
前記ハンド部が前記カセットと前記検査部との間を移動するようにする前後移動部と、
一端が前記前後移動部に固定され、前記ハンド部を上下方向に昇降させる昇降移動部と、
を備えて構成されることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。 - 前記ハンド部の下側先端には、前記液晶パネルの下部を把持する把持部がさらに形成されることを特徴とする請求項13に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記前後移動部は、
前記ヒーティングチャンバー上面の前後方向に沿って設置される第1レールと、
一端が前記第1レールに支持されて前後方向に移動するように設置され、他端が前記昇降移動部に固定される第1動作部と
を備えて構成されることを特徴とする請求項13に記載の液晶パネル検査装置。 - 前記昇降移動部は、
前記ヒーティングチャンバー内の上下方向に沿って設置される第2レールと、
一端が前記第2レールに支持されて上下方向に移動するように設置され、他端が前記ハンド部に固定される第2動作部と
を備えて構成されることを特徴とする請求項13に記載の液晶パネル検査装置。 - 前記ヒーティングチャンバーの上面に、前記ハンド部の移動を可能にしながら、前記ヒーティングチャンバーの上面において開口される部位を密閉する密閉部をさらに備えられることを特徴とする請求項13に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記密閉部は、蛇腹式カーテンの形状に形成され、
前記密閉部の両端は、前記ヒーティングチャンバーの上面前方側及び後方側にそれぞれ固定され、内側部位は、前記ハンド部の外周面を囲むように形成されることを特徴とする請求項17に記載の液晶パネル検査装置。 - 前記カセット、前記検査部及び前記パネル搬送部は、それぞれ、所定角度傾斜するように設置されることを特徴とする請求項1に記載の液晶パネル検査装置。
- 前記カセット、前記検査部及び前記パネル搬送部の傾斜角度は、互いに同一であることを特徴とする請求項19に記載の液晶パネル検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050133975A KR101166839B1 (ko) | 2005-12-29 | 2005-12-29 | 액정패널 검사 장치 |
KR1020050134591A KR100978262B1 (ko) | 2005-12-29 | 2005-12-29 | 액정표시소자 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007183541A true JP2007183541A (ja) | 2007-07-19 |
JP4352063B2 JP4352063B2 (ja) | 2009-10-28 |
Family
ID=36888151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006171713A Active JP4352063B2 (ja) | 2005-12-29 | 2006-06-21 | 液晶パネル検査装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7777828B2 (ja) |
JP (1) | JP4352063B2 (ja) |
DE (1) | DE102006023968B4 (ja) |
FR (1) | FR2895799B1 (ja) |
GB (1) | GB2433824B (ja) |
TW (1) | TWI312862B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8816714B2 (en) * | 2009-09-24 | 2014-08-26 | Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Testing apparatus and testing method for LCD |
CN102230866A (zh) * | 2011-06-08 | 2011-11-02 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 局部应压能力测试平台及测试装置 |
CN107564441B (zh) * | 2017-08-31 | 2021-01-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种自动光学检测装置及显示面板的检测系统 |
US11505084B2 (en) | 2019-05-03 | 2022-11-22 | Oshkosh Corporation | Battery placement for electric refuse vehicle |
US20200346556A1 (en) | 2019-05-03 | 2020-11-05 | Oshkosh Corporation | Battery storage system for electric refuse vehicle |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960006869B1 (ko) | 1987-09-02 | 1996-05-23 | 도오교오 에레구토론 가부시끼가이샤 | 프로우브 장치에 의한 전기특성 검사방법 |
US5607009A (en) * | 1993-01-28 | 1997-03-04 | Applied Materials, Inc. | Method of heating and cooling large area substrates and apparatus therefor |
JPH0718323A (ja) | 1993-06-30 | 1995-01-20 | Denkoo:Kk | 熱処理装置 |
US5801545A (en) * | 1995-07-14 | 1998-09-01 | Tokyo Electron Limited | LCD testing apparatus |
US5772835A (en) * | 1996-05-29 | 1998-06-30 | Ibm Corporation | Vacuum oven chamber for making laminated integrated circuit devices |
JP3379911B2 (ja) * | 1998-06-26 | 2003-02-24 | エスペック株式会社 | 高温目視検査装置 |
JP3191789B2 (ja) * | 1999-01-08 | 2001-07-23 | 日本電気株式会社 | 表示パネル製造ライン |
JP3553460B2 (ja) * | 1999-04-23 | 2004-08-11 | ディーイー、エンド、ティー 株式会社 | Lcdテスト装置 |
US6486927B1 (en) * | 1999-11-19 | 2002-11-26 | De & T Co., Ltd. | Liquid crystal display test system |
TW509329U (en) | 2001-04-19 | 2002-11-01 | Hannstar Display Corp | Electrified rack |
KR100486193B1 (ko) * | 2001-06-07 | 2005-04-29 | 오성엘에스티(주) | 박막 디스플레이 에이징테스트 장치 |
KR20030077070A (ko) * | 2002-03-25 | 2003-10-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 중력불량측정용 카세트 |
JP4659328B2 (ja) | 2002-10-21 | 2011-03-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 被検査体を温度制御するプローブ装置 |
US20040226513A1 (en) * | 2003-05-12 | 2004-11-18 | Applied Materials, Inc. | Chamber for uniform heating of large area substrates |
TW200506375A (en) * | 2003-05-16 | 2005-02-16 | Tokyo Electron Ltd | Inspection apparatus |
US7450213B2 (en) * | 2006-06-29 | 2008-11-11 | Lg Display Co., Ltd. | Methods of manufacturing liquid crystal display devices |
-
2006
- 2006-05-22 DE DE102006023968A patent/DE102006023968B4/de active Active
- 2006-06-02 FR FR0604953A patent/FR2895799B1/fr active Active
- 2006-06-14 TW TW095121288A patent/TWI312862B/zh active
- 2006-06-21 JP JP2006171713A patent/JP4352063B2/ja active Active
- 2006-06-27 GB GB0612734A patent/GB2433824B/en active Active
- 2006-06-30 US US11/477,820 patent/US7777828B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI312862B (en) | 2009-08-01 |
TW200724886A (en) | 2007-07-01 |
DE102006023968B4 (de) | 2009-12-10 |
FR2895799A1 (fr) | 2007-07-06 |
GB0612734D0 (en) | 2006-08-09 |
DE102006023968A1 (de) | 2007-07-12 |
JP4352063B2 (ja) | 2009-10-28 |
GB2433824B (en) | 2008-11-19 |
US7777828B2 (en) | 2010-08-17 |
US20070154294A1 (en) | 2007-07-05 |
GB2433824A (en) | 2007-07-04 |
FR2895799B1 (fr) | 2011-06-10 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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