CN100507641C - 用于液晶显示板的检查装置 - Google Patents
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Abstract
用于液晶显示板的检查装置。此处公开了一种用于液晶显示板的检查装置,该检查装置可在保持均匀温度的同时检查液晶显示板的取向异常。该检查装置包括:加热室,用于对收容在盒中的多个LCD板进行加热;检查单元,布置在加热室附近,用来接收由加热室加热的LCD板,并用来检查各LCD板的异常;以及板传送部,用于从盒内取出各LCD板,并将各LCD板提供给检查单元,并且用来从检查单元取出各LCD板,并在盒与检查单元之间移动的同时将各LCD板提供给盒。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于液晶显示(LCD)板的检查装置,更具体地,涉及一种用于LCD板的、能够迅速检查LCD板的取向异常同时将LCD板保持在均匀温度下的检查装置。
背景技术
诸如移动电话、PDA、笔记本电脑等各种便携式电子产品的不断普及产生了对于重量轻、小型的平板显示器件的需求。在平板显示器件中,已经积极开发了液晶显示(LCD)器件、等离子显示板(PDP)器件、场致发射显示(FED)器件、真空荧光显示(VFD)器件等。其中,LCD器件以其大规模生产性能、简单的驱动机构、高清晰画面等而最为普及。
图1是示出现有技术的液晶显示器件的剖面图,而图2是示出用于制造液晶显示器件的现有技术方法的流程图。
LCD器件是利用折射各向异性在屏幕上显示信息的器件。
如图1所示,由标号1表示的现有技术LCD器件包括上基板3、下基板5、以及在上基板3与下基板5之间的液晶层7。
下基板5是其上形成有驱动元件阵列的基板。尽管图1中未示出,但是下基板5具有形成于其上的多个像素,每个像素都形成有诸如薄膜晶体管的驱动元件。上基板3是滤色器基板,并且具有形成于其上的用于实现真彩色的滤色器层。另外,上基板3与下基板5中的每一个都形成有像素电极和公共电极,并且涂覆有取向膜,用于调整液晶层7中的液晶分子的排列方向。
通过密封材料9将上基板3和下基板5接合。液晶层7置于上基板3与下基板5之间,从而通过利用布置在下基板5上的驱动元件驱动液晶分子来对透过液晶层的光量进行控制,以显示信息。
用于制造液晶显示器件的方法通常包括:驱动元件阵列处理,用于在下基板5上形成驱动元件;滤色器处理,用于在上基板3上形成滤色器;以及单元处理。下面将参照图2来详细描述用于制造液晶显示器件的方法。
首先,在驱动元件阵列处理中,在下基板5上排列多条选通线和数据线以限定像素区,然后每个像素区形成有一薄膜晶体管,该薄膜晶体管为连接至选通线和数据线的驱动元件(S101)。另外,通过驱动元件阵列处理还将像素电极形成为与薄膜晶体管相连,从而当经由薄膜晶体管向像素电极施加信号时,像素电极驱动液晶层。
随后,通过滤色器处理在上基板3上形成公共电极和用于展现色彩的R、G及B滤色器层(S104)。
在将取向膜涂覆在上基板3和下基板5上之后,摩擦取向膜来为形成在上基板3与下基板5之间的液晶层中的液晶分子提供取向约束力或表面定位力(即,预倾斜角和取向)(S102,S105)。
接着,在将用于保持固定单元间隔的间隔件分散到下基板5上并将密封材料9涂覆于上基板3的外周之后,通过将上基板3和下基板5压在一起来令它们彼此接合(S103,S106,S107)。
通常上基板3和下基板5中的每一个都是由大尺寸玻璃基板形成。结果,利用滤色器层和作为形成在各个板区中的驱动元件的TFT,在单个大尺寸玻璃基板上形成多个板区。由此,必须切割并处理玻璃基板(S108)。在通过将液晶经由液晶注入口注入到每个经处理的液晶显示板中形成液晶层并且密封了液晶注入口之后,检查各液晶显示板(S109,S110),由此完成对LCD板的制造。
通常可将对液晶显示板的检查分为外观检查、电子点亮检查以及取向异常检查。
按照通过将信号施加到完成的液晶显示板来判断各种电子元件是否能够正常工作的方式来执行点亮检查,从而验证结果。按照通过操作员裸眼检查液晶显示板来判断液晶显示板是否具有缺陷的方式来执行表观检查。另外,按照判断液晶是否聚集或集中在液晶显示板(由于其自身重量而下陷)下部的方式来执行取向异常检查。
液晶的取向异常是由于液晶层体积的意外增加(这是由于在制造液晶显示板时液晶显示板内的液晶层的温度过高所致)造成的。这使得液晶显示板的单元间隙超过间隔件提供的高度。因此,因为液晶显示板下陷所以液晶移动到液晶显示板的下部,这使得单元间隙显得不均匀,由此劣化了液晶显示器件的质量。
通常通过以下方式来执行取向异常检查,即在光透过液晶显示板的同时操作者利用裸眼观察液晶显示板下部的图像。即,如果在观察液晶显示板下部期间在图像中检测到任何异常,则判定在液晶显示板中存在取向异常。
也就是说,在将所完成的液晶显示板保持在高温下的状态下执行取向异常检查。为此,在将各液晶显示板在加热室中加热之后执行取向异常检查。为了提高检查效率,通常在盒(cassette)内执行对液晶显示板的加热。换言之,将多个液晶显示板收容在盒内之后,在加热室中将它们加热到高温。通过附加运送装置将经加热的液晶显示板运送给检查装置,然后对其进行检查。
然而,这种用于检测LCD板的取向异常的现有技术检查装置的问题在于,因为检查装置位于距加热室预定距离远处,所以液晶显示板暴露于周围空气中,并在从加热室的盒内移出之后运送给检查装置期间被冷却,由此不可能执行精确检查。
另外,现有技术取向异常检查装置的问题在于,因为在将液晶显示板从加热室的盒内移出的同时加热室内部暴露于周围空气中,所以周围空气被引入了加热室中,这导致加热室的温度不均匀。
另外,因为现有技术取向异常检查装置要求昂贵的机构,包括用于将液晶显示板从加热室运送给检查方的自动机械,所以总是增加了制造成本,并且需要很多时间来运送液晶显示板。
发明内容
因此,本发明旨在提供一种用于液晶显示板的检查装置,该装置基本上消除了由于现有技术的局限和缺点导致的一个或更多个问题。
本发明的优点在于提供了一种用于液晶显示板的检查装置,该检查装置在将加热室保持在均匀温度下且防止由加热室加热到高温的液晶显示板的温度下降的同时执行对液晶显示板的取向异常的检查,使得能够始终精确地执行取向异常检查,并且所述检查装置包括向加热室提供盒的运送器,使得运送器以与按照预定角度安装在加热室中的盒的角度相同的角度放置,由此降低了加热室的制造成本,并减小了加热室的空间。
本发明的其他优点和特征将在以下说明书中部分地给予阐述,并将在本领域普通技术人员研究了以下内容后变得显见,或可从对本发明的实践中获知。本发明的目的和其他优点可通过文字说明及其权利要求以及附图中具体指出的结构来实现并获得。
为了实现这些和其他优点并根据本发明的目的,如在此具体实现和广泛描述的,提供了一种用于液晶显示板的检查装置,该检查装置包括:加热室,用于对在盒中收容的多个LCD板进行加热;检查单元,布置在加热室附近,用来接收由加热室加热的LCD板,并用来检查各LCD板的异常;板传送部,用于从盒内取出各LCD板,并将各LCD板提供给检查单元,并且用来从检查单元取出各LCD板,并当在盒与检查单元之间移动的同时将各LCD板提供给盒。
检查装置进一步包括运送部,用于将盒运送给加热室/从加热室运送出盒。
运送部可倾斜布置,以将盒运送给加热室/从加热室运送出盒。
板传送部可包括:手部,被构造为选择性地夹持各LCD板,并具有暴露给加热室外上侧的上端;前后移动部,用于沿加热室的前后方向移动手部;以及提升部,一端固定在前后移动部上并且另一端用来沿上下方向提升或降低手部。
此时,前后移动部可以包括:第一导轨,沿前后方向安装在加热室上表面上;和第一活动部,一端安装为在由第一导轨支撑的同时沿前后方向移动,而另一端固定到提升部。
提升部包括:第二导轨,沿上下方向安装在加热室中;和第二活动部,一端安装为在由第二导轨支撑的同时沿上下方向移动,而另一端固定到手部。
应当理解,对本发明的前述一般描述和以下详细描述都是示例性和说明性的,旨在提供对如权利要求所述的本发明的进一步解释。
附图说明
附图被包括进来用以提供对本发明的进一步理解,其被并入且构成该申请的一部分,例示本发明的实施例,并与说明书一起用来解释本发明的原理。在附图中:
图1是示出现有技术液晶显示器件的剖面图;
图2是示出用于制造现有技术液晶显示器件的方法的流程图;
图3是示意性地示出根据本发明一个实施例的用于液晶显示板的检查装置的内部结构的侧视图;
图4是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的内部结构的主要部件的透视图;
图5是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的板传送部的透视图;
图6是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的主要部件的侧视图,其中液晶显示板被检查装置的夹持部和提升部夹持;
图7是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的另一运送部(运送器)的结构图;以及
图8A至8F是示意性地示出利用根据本发明实施例的检查装置来检查液晶显示板的一系列过程的图。
具体实施方式
下面将详细参照本发明的实施例,其示例示出在附图中。只要可能,在整个附图中采用相同的附图标号来指示相同或相似的部件。
图3是示意性地示出根据本发明的一个实施例的用于液晶显示板的检查装置的内部结构的侧视图。图4是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的内部结构的主要部件的透视图。
参照图3,根据实施例的用于液晶显示板的检查装置通常包括加热室100、检查单元200以及板传送部300。
下面将详细描述各部件。
参照图3和4,加热室100接收其中堆放有多个液晶显示板(未示出)的盒10。加热室100具有基本为箱形的内部结构,并适于在其后侧接收盒10。加热室100将LCD板加热到预设温度。
图3中示出的加热室100具有形成在其前侧下部的凹部110,使得可将检查单元200放置在该凹部110。应当理解,可以构想并包括其中加热室不具有这种凹部的本发明的其他实施例。
返回图3,凹部110在其上表面形成有板入口111,各LCD板通过该板入口111进入加热室100。这里,板入口111具有允许LCD板能够平滑地从中通过的大小。
在大多数情况下,板入口111设置有门(未示出),用于选择性地打开和关闭板入口111。该门设置为用来将加热室100保持在密闭状态下,除了在打开加热室的情况下。
加热室100在侧后方进一步形成有盒入口112,通过盒入口112将盒10运送给加热室100并从加热室100运送出盒10。加热室100在侧后方底面上进一步形成有运送部120,用于通过盒入口112将盒10运送给加热室100并从加热室100运送出盒10。当然,盒入口112可设置有门(未示出),用于选择性地打开和关闭盒入口112。在这一方面,该门适于关闭盒入口112,除了安装有运送部120的部分以外。
尽管运送部120具有各种结构,但是在本实施例中将其描述为运送器。
加热室100在前侧的上表面可形成有窗130,操作员通过窗130可观察到加热室100内的情况。
加热室100设置有加热器150来对盒10中收容的LCD板进行加热。加热器150可安装在加热室100的内部空间中。然而,应当注意,本发明并不限于该结构,并且加热器150可安装在加热室100的壁上。
当然,尽管附图中未示出,但是可与加热室100无关地将加热器150安装为使得热空气从单独的加热器150通过导管(duck)等流入加热室100。
检查单元200为用来接收由加热室100加热的各LCD板并用来检查LCD板的取向异常的部件。将检查单元200布置在加热室100的凹部110中。检查单元200具有进口210,其被形成为面对加热室100的板入口111,使得将从加热室100取出的LCD板直接输入到检查单元200中。
图5是示出根据实施例的用于液晶显示板的检查装置的板传送部的透视图,并且图6是示出检查装置的传送部(其夹持LCD板)的侧视图。
板传送部300是用来从加热室100中的盒10取出各LCD板并将LCD板通过板入口111提供至检查单元200的部件。
即,如图5所示,板传送部300包括手部310、前后移动部320、以及提升部330。
手部310包括主体311和多个指312。主体311具有暴露给加热室100上部外侧的上端。这里,各指312的末端形成有夹持部313,用以选择性地夹持各LCD板1。夹持部313可由聚四氟乙烯树脂或其他类似树脂材料制成,以防止在LCD板1的表面上产生的刮痕。
具体地,如图6所示,夹持部313具有多个弯曲结构,图6中所示的一个弯曲结构向前或向后弯曲,然后向上弯曲以夹持各LCD板1的下部。尽管图中未示出,但是夹持部313在其内表面(其接触LCD板)上还形成有单独的台阶以防止被夹持部313夹持的LCD板1活动。
另外,手部310还设置有提升夹314,其夹持LCD板1的上部,如图5和6所示。提升夹314被构造为夹持LCD板1的上部外周,同时选择性地沿手部310升高或降低,并用来在运送LCD板1期间防止LCD板活动。在这方面,尽管图中未示出,但是可将提升夹314构造为利用诸如步进电机、致动器等的驱动机构而升高或降低。
前后移动部320被构造为沿加热室100的前后方向移动手部310的主体311,并包括第一导轨321和第一活动部322。
第一导轨321沿前后方向的假定轴安装在加热室100的上表面上,而第一活动部322的一端被安装为沿前后方向移动同时受到第一导轨321的支撑,另一端固定到如下所述的提升部330的第二导轨331。这里,采用步进电机323来提供第一活动部322的移动。当然,可采用致动器来代替步进电机。
提升部330被构造为沿加热室100的上下方向移动手部310的主体311,并且包括第二导轨331和第二活动部332。
第二导轨331沿上下方向安装到加热室100上,并连接至构成前后移动部320的第一活动部322。即,第二导轨331沿加热室100的前后方向与第一活动部322一起移动。
另外,第二活动部332的一端被安装为沿上下方向移动同时受到第二导轨331的支撑,另一端固定到手部310的主体311的上端。这里,采用步进电机(未示出)用作使第二活动部332移动的部件。当然,可采用致动器来代替步进电机。
希望将构成根据本发明实施例的用于LCD板的检查装置的检查单元200和手部310以预定角度倾斜或翘起地安装,使得当盒10在被运送给加热室100的同时其前侧朝加热室100下降时盒10面对加热室100的前侧。这是因为由检查单元200来执行检查,在其中各LCD板以预定角度θ倾斜。换言之,提供该结构用以以进行检查所需的角度θ将LCD板提供给检查单元200。
盒10可被构造为自身倾斜。另选地,如图所示,盒10可以利用附加起落架140有选择地倾斜,起落架140被构造为提升运送部120的前侧(图中的后侧)。另外,尽管图中未示出,但是盒10可利用起落架140有选择地倾斜,起落架140被构造为直接提升盒10的前侧而非运送部120的前侧。
在这种情况下,不仅增加了制造起落架的成本,而且由于安装起落架所需的空间还导致增大了加热室100所需的空间,由此增加了安装成本。
根据本发明,运送部120可以自身倾斜以允许盒10以预定角度θ倾斜。不仅在加热室100内实现运送部120的这种倾斜。如果其中收容有完成的LCD板1的盒10不是倾斜的,而是在相对于地面呈水平状态下被提供给加热室100,则必须在将其安装在加热室100中之前将盒10倾斜预定角度θ,这需要附加的起落架。因此,最为优选的是,从盒10的初始运送阶段开始在以预定角度θ的倾斜状态下来运送盒10。
图7是示出根据本发明实施例的用于液晶显示板的检查装置的另一运送部(运送器)的结构图。具体地,图7示出了运送器500,该运送器500将其中收容有LCD板(其在完成制造过程后被临时储存)的盒10运送给加热室100。
如图7所示,运送器500包括:多个辊520,用来在转动的同时运送其中收容有LCD板1的盒10;侧支架530,用来支撑盒10,并被安装在辊520上的盒10所倾向的一侧;以及导辊532,可转动地设置在侧支架530上以接触盒10侧面。
侧支架530安装在具有辊520的运送器500下面的一侧上,并使辊520倾斜预定角度θ。按照这种方式,辊520由此是倾斜的,因此辊520上的盒10也是倾斜的。另外,由于盒10的倾斜导致固定到形成在盒10上的板固定部511的LCD板1也倾斜预定角度θ。
尽管导辊532是可转动的,但是并不通过诸如电机的外部驱动装置,而是通过对其施加外力来使导辊532转动。因此,导辊532的转动速度与盒10的移动速度相同,由此防止了倾斜的盒10在运送器上移动的同时受到与侧支架530的摩擦的影响。
如上所述构造的这种运送器从前一处理装置或物理分布装置延伸到加热室100,使得其中收容有LCD板1的盒10在倾斜状态下被运送给加热室100,并被安装到其中。
另外,根据实施例,用于LCD板的检查装置还包括密闭部400,如图3所示。
密闭部400被构造为保证手部310可通过其移动的空间,同时关闭加热室100上表面上的开口。也就是说,密闭部400确保加热室100内部处于密闭状态下,由此防止由于暴露于周围空气中而导致加热室的温度改变。
密闭部400具有可折叠帘形。另外,密闭部400的两端分别固定到加热室100的前上侧和后上侧,并且内表面环绕构成手部310的主体311的周面。
当手部310的各个指312被构造为暴露给到加热室100的外部时,密闭部400可形成有使得各个指312能够通过的附加入口410。
下面将说明利用根据实施例的检查装置来检查LCD板的取向异常的方法。
图8A至8F是示意性地示出利用根据本发明实施例的检查装置来检查液晶板的一系列过程。
首先,如图8A所示,经由运送部120将其中堆放有多个LCD板1的盒10运送给加热室100。此时,操作加热室100的门(未示出)以打开盒入口112。
在如上所述将盒10安装到加热室100中之后,通过门的操作关闭盒入口112。
如图8B所示,通过起落架140的操作使得盒10的前侧比其后侧更加倾斜。此时,盒10的倾角与板传送部300和/或检查单元200的倾角相同。
如果运送部120被实现为如图7所示的倾斜预定角度θ的运送器500,则无需图8B中所示的步骤。换言之,通过图7中所述的运送器500将其中堆放有多个LCD板1的盒10在倾斜预定角度θ的同时被运送到加热室100中且安装于其中。
接着,加热器150工作以将加热室100加热到预设温度(例如,约50到70℃)。
如图8C所示,当在加热室100中收容在盒10中的各个LCD板1通过上述系列过程达到预定温度时,驱动板传送部300。
也就是说,如图8C所示,操作构成前后移动部320的第一活动部322以允许手部310置于盒10上部处的希望被取出的LCD板(以下将其称作“目标板”)的高度处,并且操作第二活动部332以将手部310的指312降低到各个指312可取出盒10内的目标板1的位置处。
接着,操作第一活动部322以允许各个指312支撑目标板1的后侧,同时允许目标板1的下部定位为面对形成在各指312的末端处的夹持部313。
另外,在上述状态下,当由第二活动部332来提升手部310的各个指312时,在目标板1的下部被夹持部313夹持的状态下将目标板1从盒10中取出,并且同时,目标板1的后侧相对于各指312倾斜。
在取出目标板1之后,将手部310提升到手部310不会受到盒10的干扰的高度,然后通过第一活动部322令手部310移动到面对加热室100的板入口111的位置处,如图8D所示。
然后,如图8E和8F所示,由第二活动部332来降低手部310,由此各个指312和加载到指312上的目标板1通过板入口111移动到检查单元200。
检查单元200仅固定目标板1,并且通过第一活动部322与第二活动部332对保留在检查单元200中的目标板1的顺序操作来经由板入口111取出各个指312。
接着,在检查单元200中对目标板1的取向异常进行检查。然后,在完成检查之后,从检查单元200中取出目标板1,然后按照上述相反过程将其再次安装在盒10中。连续执行这些系列过程,直到完全检查了收容在盒10中的各LCD板1。
如果完成了对盒10中收容的全部LCD板1的检查,则打开盒入口112,使得将盒10从加热室运送出来,同时使得另一个盒(具有作为进行异常检查的物体的多个LCD板)被运送到加热室中,从而如上所述再次执行检查过程。
从上述描述中显见,根据本发明的用于LCD板的检查装置允许在处于密闭状态下的加热室中执行将LCD板从盒传送到检查单元的过程。
因此,本发明的检查装置在最小化LCD板的温度变化方面具有有利效果,由此使得可以准确地对LCD板的异常进行检查。
另外,本发明的检查装置在最小化加热室的温度变化方面具有另外的有利效果。
对本领域技术人员来说,在不脱离本发明的精神或范围的情况下对本发明进行各种变型和修改是显而易见的。因此,本发明旨在覆盖对本发明进行的多种变型和修改,只要这些变型和修改落入所附权利要求及其等同物的范围内。
本申请要求2005年12月29日提交的韩国专利申请第10-2005-133975号和第10-2005-134591号的优先权,在此通过引用将其并入,如在此完全阐述一样。
Claims (19)
1、一种用于液晶显示板的检查装置,包括:
加热室,用于对收容在盒中的多个LCD板进行加热;
检查单元,布置在加热室附近,用来接收由加热室加热的LCD板,并用来检查各LCD板的异常;以及
板传送部,用于从盒内取出各LCD板,并将各LCD板提供给检查单元,并且用来从检查单元取出各LCD板,并在盒与检查单元之间移动的同时将各LCD板提供给盒,
其中所述板传送部位于加热室内,并且其中加热室包括:凹部,形成在加热室前侧下部,使得检查单元可置于加热室前侧下部;和板入口,形成在凹部上表面上,用来通过该板入口将LCD板提供至检查单元。
2、根据权利要求1所述的检查装置,其中板入口设置有门,用来选择性地打开或关闭板入口。
3、根据权利要求1所述的检查装置,其中检查单元具有形成为面对板入口的板进口。
4、根据权利要求1所述的检查装置,其中加热室在侧后方形成有盒入口,用以允许通过该盒入口将盒运送给加热室并从加热室运送出盒。
5、根据权利要求4所述的检查装置,其中盒入口设置有门,用来选择性地打开或关闭盒入口。
6、根据权利要求4所述的检查装置,其中加热室在侧后方底面上进一步设置有运送部,用来允许通过盒入口沿后侧面部将盒运送给加热室并从加热室运送出盒。
7、根据权利要求6所述的检查装置,其中运送部包括运送器。
8、根据权利要求7所述的检查装置,进一步包括:起落架,用来提升盒前侧以允许盒选择性地倾斜。
9、根据权利要求6所述的检查装置,其中使运送部被安装成倾斜地将盒运送给加热室中/从加热室中运送出盒。
10、根据权利要求1所述的检查装置,其中加热室包括窗,用来允许通过其观察加热室内的情况。
11、根据权利要求10所述的检查装置,其中所述窗形成在加热室的前侧上表面上。
12、根据权利要求1所述的检查装置,其中板传送部包括:手部,被构造为选择性地夹持各LCD板,并具有暴露给加热室外上侧的上端;前后移动部,用于在盒与检查单元之间移动手部;以及提升部,一端固定在前后移动部上并且另一端用来沿上下方向提升或降低手部。
13、根据权利要求12所述的检查装置,其中手部具有形成在其下末端的夹持部,用来夹持LCD板的下部。
14、根据权利要求12所述的检查装置,其中前后移动部包括:第一导轨,沿前后方向安装在加热室的上表面上;和第一活动部,一端安装为在由第一导轨支撑的同时沿前后方向移动,而另一端固定到提升部。
15、根据权利要求12所述的检查装置,其中提升部包括:第二导轨,沿上下方向安装在加热室中;和第二活动部,一端安装为在由第二导轨支撑的同时沿上下方向移动,而另一端固定到手部。
16、根据权利要求12所述的检查装置,其中加热室具有:开口,形成在其上表面上,用来允许手部通过其移动;和密闭部,用来关闭该开口。
17、根据权利要求16所述的检查装置,其中密闭部具有可折叠帘形,并且密闭部的两端分别固定到加热室前上侧和后上侧,其内表面环绕手部的周面。
18、根据权利要求1所述的检查装置,其中分别以预定角度安装盒、检查单元以及板传送部。
19、根据权利要求18所述的检查装置,其中以相同的角度安装盒、检查单元以及板传送部。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6486927B1 (en) * | 1999-11-19 | 2002-11-26 | De & T Co., Ltd. | Liquid crystal display test system |
JP2003294801A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-15 | Micronics Japan Co Ltd | 被検査基板の検査装置 |
CN1576867A (zh) * | 2003-06-27 | 2005-02-09 | 东京电子工业株式会社 | 显示板检查装置和检查方法 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6486927B1 (en) * | 1999-11-19 | 2002-11-26 | De & T Co., Ltd. | Liquid crystal display test system |
JP2003294801A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-15 | Micronics Japan Co Ltd | 被検査基板の検査装置 |
CN1576867A (zh) * | 2003-06-27 | 2005-02-09 | 东京电子工业株式会社 | 显示板检查装置和检查方法 |
CN1598598A (zh) * | 2003-09-18 | 2005-03-23 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 显示面板的检查装置 |
CN1693902A (zh) * | 2004-04-30 | 2005-11-09 | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 | 检查装置 |
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