JP2007134395A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007134395A JP2007134395A JP2005323557A JP2005323557A JP2007134395A JP 2007134395 A JP2007134395 A JP 2007134395A JP 2005323557 A JP2005323557 A JP 2005323557A JP 2005323557 A JP2005323557 A JP 2005323557A JP 2007134395 A JP2007134395 A JP 2007134395A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- die bonding
- island
- semiconductor chip
- bonding region
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L24/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49503—Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49503—Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
- H01L23/49513—Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad having bonding material between chip and die pad
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/27—Manufacturing methods
- H01L2224/27011—Involving a permanent auxiliary member, i.e. a member which is left at least partly in the finished device, e.g. coating, dummy feature
- H01L2224/27013—Involving a permanent auxiliary member, i.e. a member which is left at least partly in the finished device, e.g. coating, dummy feature for holding or confining the layer connector, e.g. solder flow barrier
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/3205—Shape
- H01L2224/32057—Shape in side view
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/83009—Pre-treatment of the layer connector or the bonding area
- H01L2224/83051—Forming additional members, e.g. dam structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
- H01L2224/8338—Bonding interfaces outside the semiconductor or solid-state body
- H01L2224/83385—Shape, e.g. interlocking features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01029—Copper [Cu]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01047—Silver [Ag]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/0105—Tin [Sn]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01051—Antimony [Sb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/35—Mechanical effects
- H01L2924/351—Thermal stress
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
【解決手段】半導体装置10は、半導体チップ11と、半導体チップ11がダイボンディング材15を介してダイボンディングされるアイランド12とを備えており、アイランド12は、半導体チップ11のダイボンディング領域17を有し、ダイボンディング領域17内の一部を除いてダイボンディング領域17の外周全域を含む平面視形状を有する凹部16が形成されている。ダイボンディング領域17内において凹部16が形成されていない島状部17bは、該島状部17b上に半導体チップ11を保持可能なものであり、ダイボンディング材15は、少なくとも半導体チップ11の裏面の全域とダイボンディング領域17との間に介在している。
【選択図】図1
Description
図4(a)に示すように、半導体装置70は、表面に複数の電極71aが形成された半導体チップ71、半導体チップ71がダイボンディング材(例えば半田)75を介してダイボンディングされているアイランド72、複数本のリード端子73、電極71aとリード端子73とを電気的に接続するワイヤ74、及び、これらを封止する樹脂パッケージ部79を備えている。
図5(a)に示すように、半導体装置80は、表面に複数の電極81aが形成された半導体チップ81、半導体チップ81がダイボンディング材85を介してダイボンディングされているアイランド82、複数本のリード端子83、電極81aとリード端子83とを電気的に接続するワイヤ84、及び、これらを封止する樹脂パッケージ部89を備えている。
アイランド82には、凹部86が形成されていて、ダイボンディング材85は、凹部86内にのみ充填されている。図5(b)に示すように、凹部86の平面視形状は矩形であり、凹部86の開口面積は、半導体チップ81の裏面81bの面積より小さい。
図6(a)に示すように、半導体装置90は、表面に複数の電極91aが形成された半導体チップ91、半導体チップ91がダイボンディング材95を介してダイボンディングされているアイランド92、複数本のリード端子93、電極91aとリード端子93とを電気的に接続するワイヤ94、及び、これらを封止する樹脂パッケージ部99を備えている。
図6(b)に示すように、アイランド92の表面(半導体チップ91と対向する面)には、規則的に配列された複数の凹部96が形成され、アイランド92の裏面にも、凹部96と互いに重ならないように、複数の凹部97が形成されている。凹部96、97は、図6(a)に示すように、半球状を有している。
(1) 半導体チップと、
上記半導体チップがダイボンディング材を介してダイボンディングされるアイランドと
を備えた半導体装置であって、
上記アイランドは、上記半導体チップがダイボンディングされるダイボンディング領域を有し、
上記アイランドには、上記ダイボンディング領域内の一部を除いて上記ダイボンディング領域の外周全域を含む平面視形状を有する凹部が形成され、
上記ダイボンディング領域内において上記凹部が形成されていない島状部は、該島状部上に上記半導体チップを保持可能なものであり、
上記ダイボンディング材は、少なくとも上記半導体チップの裏面の全域と上記ダイボンディング領域との間に介在していることを特徴とする半導体装置。
また、ダイボンディング領域の外周全域上において、ダイボンディング材の厚さが確保されていて、ダイボンディング材の外周側を起点としたクラックが生じることを防止することができるため、ダイボンディング領域内にある島状部の直上で、ダイボンディング材の厚さが薄くなっていても、クラックによって半導体チップが剥離してしまうことを防止することができる。
(2) 上記(1)の半導体装置であって、
上記凹部は、上記ダイボンディング領域の中央部の少なくとも一部を除いて上記ダイボンディング領域の全域を含む平面視形状を有することを特徴とする。
(3) 上記(1)の半導体装置であって、
上記凹部は、上記ダイボンディング領域の外周部の一部を除いて上記ダイボンディング領域の全域を含む平面視形状を有することを特徴とする。
また、上記ダイボンディング領域の外周部に島状部が配置されているため、島状部と半導体チップとは、半導体チップの中心位置から離れた位置で近接する。従って、半導体チップは、島状部によって安定した状態で保持されることとなるため、ダイボンディング時に、半導体チップが傾くことを防止することができる。
(4) 上記(1)〜(3)のいずれか1の半導体装置であって、
上記凹部の底面は、少なくとも一部が平面からなることを特徴とする。
例えば、図6に示した半導体装置90のように、凹部96が半球状であると、ダイボンディング材95と凹部96との密着性が低くなってしまうという問題がある。しかし、(4)の発明では、底面の少なくとも一部が平面であるため、その箇所においてダイボンディング材と凹部との密着性を高めることができ、アイランドとダイボンディング材とを強固に接合することが可能になる。
(5) 上記(4)の半導体装置であって、
上記凹部の側面は、上記凹部の底面の周縁から漸次に立ち上がる曲面を含むことを特徴とする。
そこで、以下の説明においては、前者を第1の本発明の半導体装置ともいうこととし、後者を第2の本発明ともいうこととする。また、特に両者を区別せずに説明する場合には、単に、本発明の半導体装置ということとする。
まず、第1の本発明の半導体装置について説明することとする。
図1(a)は、第1実施形態に係る半導体装置を模式的に示す縦断面図であり、(b)は、(a)に示した半導体装置の部分平面透視図である。なお、図1(a)は、(b)のA−A線断面図である。
図2は、図1に示した半導体装置の部分拡大縦断面図である。
半導体チップ11は、半田材15(ダイボンディング材)を介して、アイランド12のダイボンディング領域17にダイボンディングされている。なお、ダイボンディング領域17は、半導体チップ11の裏面11bと正対する領域(図中、二点鎖線により示す領域)である。
なお、本明細書において、ダイボンディング領域の中心位置から島状部までの距離とは、島状部において最もダイボンディング領域の外周に近い箇所を基準としたものをいう。また、島状部の面積とは、島状部の上面の面積をいう。
まず、リードフレーム(図示せず)のアイランド12に、エッチングにより、島状部17bを除いてダイボンディング領域17の外周17d全域を含む平面視形状を有する凹部16を形成する。エッチングにより凹部16を形成することによって、底面16aの少なくとも一部が平面であり、側面16cが底面16aの周縁16bから漸次に立ち上がる曲面を有する凹部16を形成することができる。なお、凹部の形成方法は、エッチングに限定されず、例えば、プレス加工により形成することとしてもよい。
また、ダイボンディング領域17の外周17d全域上において、半田材15の厚さが確保されていて、半田材15の外周側を起点としたクラックが生じることを防止することができるため、ダイボンディング領域17内の島状部17bの直上で、半田材15の厚さが薄くなっていても、クラックによって半導体チップ11が剥離してしまうことを防止することができる。
また、ダイボンディング領域17の外周部に島状部17bが配置されているため、島状部17bと半導体チップ11とは、半導体チップ11の中心位置から離れた位置で近接する。従って、半導体チップ11は、島状部17bによって安定した状態で保持されることとなるため、ダイボンディング時に、半導体チップ11が傾くことを防止することができる。
次に、第2の本発明の半導体装置について説明することとする。
図3(a)は、第2実施形態に係る半導体装置を模式的に示す縦断面図であり、(b)は、(a)に示した半導体装置の部分平面透視図である。
半導体装置20は、半導体チップ21、アイランド22、リード端子23、ワイヤ24、吊りリード28及び樹脂パッケージ部29を備えている。
また、本発明において、凹部の数は、特に限定されるものではないが、1つであることが望ましい。ダイボンディング時に、ダイボンディング材が、島状部上を経由することなく広がることができるため、より均一に接合することができるからである。
11、21 半導体チップ
11a、21a 電極
11b、21b (半導体チップの)裏面
12、22 アイランド
13、23 リード端子
14、24 ワイヤ
15、25 半田材(ダイボンディング材)
16、26 凹部
16a (凹部の)底面
16b (凹部の底面の)周縁
16c (凹部の)側面
17、27 ダイボンディング領域
17b、27b 島状部
17c、27c (ダイボンディング領域の)中心位置
17d、27d (ダイボンディング領域の)外周
17e (ダイボンディング領域の)角
18、28 吊りリード
19、29 樹脂パッケージ部
Claims (5)
- 半導体チップと、
前記半導体チップがダイボンディング材を介してダイボンディングされるアイランドと
を備えた半導体装置であって、
前記アイランドは、前記半導体チップがダイボンディングされるダイボンディング領域を有し、
前記アイランドには、前記ダイボンディング領域内の一部を除いて前記ダイボンディング領域の外周全域を含む平面視形状を有する凹部が形成され、
前記ダイボンディング領域内において前記凹部が形成されていない島状部は、該島状部上に前記半導体チップを保持可能なものであり、
前記ダイボンディング材は、少なくとも前記半導体チップの裏面の全域と前記ダイボンディング領域との間に介在していることを特徴とする半導体装置。 - 前記凹部は、前記ダイボンディング領域の中央部の少なくとも一部を除いて前記ダイボンディング領域の全域を含む平面視形状を有する請求項1に記載の半導体装置。
- 前記凹部は、前記ダイボンディング領域の外周部の一部を除いて前記ダイボンディング領域の全域を含む平面視形状を有する請求項1に記載の半導体装置。
- 前記凹部の底面は、少なくとも一部が平面からなる請求項1〜3のいずれか1に記載の半導体装置。
- 前記凹部の側面は、前記凹部の底面の周縁から漸次に立ち上がる曲面を含む請求項4に記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005323557A JP2007134395A (ja) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005323557A JP2007134395A (ja) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007134395A true JP2007134395A (ja) | 2007-05-31 |
Family
ID=38155832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005323557A Pending JP2007134395A (ja) | 2005-11-08 | 2005-11-08 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007134395A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094135A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置、半導体装置の製造方法、および半田ペースト塗布用のメタルマスク |
JP2012104709A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | リードフレーム及び半導体装置 |
JP2012190958A (ja) * | 2011-03-10 | 2012-10-04 | Denso Corp | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法 |
JP2019145743A (ja) * | 2018-02-23 | 2019-08-29 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | イグナイタ |
JP6885522B1 (ja) * | 2020-09-03 | 2021-06-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置、電力変換装置および半導体装置の製造方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01115127A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JPH02283041A (ja) * | 1989-04-25 | 1990-11-20 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
JPH04154155A (ja) * | 1990-10-18 | 1992-05-27 | Canon Inc | 半導体装置 |
JPH07106350A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH08116007A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-05-07 | Nec Corp | 半導体装置 |
JP2003318350A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップの実装基板および実装方法 |
-
2005
- 2005-11-08 JP JP2005323557A patent/JP2007134395A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01115127A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JPH02283041A (ja) * | 1989-04-25 | 1990-11-20 | Seiko Epson Corp | 半導体装置 |
JPH04154155A (ja) * | 1990-10-18 | 1992-05-27 | Canon Inc | 半導体装置 |
JPH07106350A (ja) * | 1993-09-30 | 1995-04-21 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH08116007A (ja) * | 1994-10-13 | 1996-05-07 | Nec Corp | 半導体装置 |
JP2003318350A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チップの実装基板および実装方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094135A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体装置、半導体装置の製造方法、および半田ペースト塗布用のメタルマスク |
JP2012104709A (ja) * | 2010-11-11 | 2012-05-31 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | リードフレーム及び半導体装置 |
JP2012190958A (ja) * | 2011-03-10 | 2012-10-04 | Denso Corp | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法 |
JP2019145743A (ja) * | 2018-02-23 | 2019-08-29 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | イグナイタ |
JP6885522B1 (ja) * | 2020-09-03 | 2021-06-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置、電力変換装置および半導体装置の製造方法 |
WO2022049697A1 (ja) * | 2020-09-03 | 2022-03-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置、電力変換装置および半導体装置の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7228063B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5634033B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法 | |
US8115299B2 (en) | Semiconductor device, lead frame and method of manufacturing semiconductor device | |
US6437429B1 (en) | Semiconductor package with metal pads | |
JP4738983B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20050139982A1 (en) | Method of manufacturing a semiconductor device | |
KR20060121823A (ko) | 가역 리드리스 패키지, 및 이를 제조 및 사용하기 위한방법 | |
US9177836B1 (en) | Packaged integrated circuit device having bent leads | |
JP2005057067A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPH08116016A (ja) | リードフレーム及び半導体装置 | |
JP2014220439A (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | |
JP2014232811A (ja) | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | |
TWI573235B (zh) | 半導體裝置及其製造方法 | |
JP2007134395A (ja) | 半導体装置 | |
JP2003174131A (ja) | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 | |
US20210265214A1 (en) | Methods and apparatus for an improved integrated circuit package | |
JP2007096042A (ja) | 半導体装置 | |
JP2011155286A (ja) | 半導体装置 | |
TWI775747B (zh) | 半導體裝置之製造方法及半導體裝置 | |
JP2008071927A (ja) | 半導体装置の製造方法および半導体装置 | |
JP6909630B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5285289B2 (ja) | 回路装置およびその製造方法 | |
JP2005311099A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP4362902B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP2001267484A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20070831 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20071004 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20071004 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20071121 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081023 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090316 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101216 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110214 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110303 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120105 |