JP2007129044A - 半導体装置の過電圧印加監視回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体装置100の入力電圧線11にツェナダイオード13で構成される過電圧検出回路12を接続する。その過電圧検出回路12と直列に、電流が流れたときにその痕跡が残る溶断素子14を接続する。これにより、半導体装置100に過電圧が印加されると、ツェナダイオード13にツェナ電流が流れ、それに伴い溶断素子14にも電流が流れる。従って、その溶断素子14の状態から、半導体装置100に過電圧が印加されたことを確認することができる。
【選択図】図2
Description
半導体装置に対する、定格電圧以上の過電圧の印加を検出する過電圧検出回路と、
過電圧検出回路が過電圧の印加を検出したときに電流が通電されるとともに、電流が通電されると、その痕跡が残る溶断素子とを備えることを特徴とする。
以下、本発明の第1実施形態による半導体装置の過電圧印加監視回路について図面に基づいて説明する。本実施形態では、ツェナダイオードを用いて過電圧を検出する。そして、印加された過電圧が、ツェナダイオードのツェナ電圧を超えてツェナ電流が流れるのと連動して、溶断素子に電流が流れるようになっている。以下、詳細に説明する。
次に、本発明の第2実施形態による半導体装置の過電圧印加監視回路について説明する。上述した第1実施形態では、過電圧検出回路12に直列に溶断素子14を接続していた。しかし、図4に示すように、過電圧検出回路12が過電圧の印加を検出した際にオンするトランジスタなどの半導体スイッチング素子16に直列に溶断素子14を接続し、その一端を入力電圧線11に接続し、他端を接地するようにしても良い。
次に、本発明の第3実施形態による半導体装置の過電圧印加監視回路について説明する。上記第1実施形態では、過電圧検出回路12が、複数の直列接続されたツェナダイオード13から構成されていた。しかし、ツェナダイオード13のツェナ電圧は温度や製造工程に起因してばらつくことがあるため、過電圧となった電圧を検出する精度が低下する恐れがある。そこで、本実施形態では、過電圧の検出精度が、ツェナダイオード13を用いた過電圧検出回路12に比較して高いコンパレータを用いて過電圧を検出する回路を構成した。以下、図面に基づいて詳細に説明する。
次に、本発明の第4実施形態による半導体装置の過電圧印加監視回路について説明する。上述した第1〜第3実施形態では、半導体装置100に過電圧が印加されたときに、溶断素子14に電流を流すことによって、半導体装置100に対して過電圧が印加された履歴を残すものであった。このため、過電圧検出回路において設定した所定電圧以上の過電圧が印加されたことは確認できるが、実際のどの程度の大きさの過電圧が印加されたかを確認することはできない。
11 入力電圧線
12 過電圧検出回路
13 ツェナダイオード
14 溶断素子
15、20 抵抗
16〜18 半導体スイッチング素子
21、22 コンパレータ
23 クロック発生器
24 A/D変換器
25 EEPROM
Claims (8)
- 半導体装置に対する、定格電圧以上の過電圧の印加を検出する過電圧検出回路と、
前記過電圧検出回路が過電圧の印加を検出したときに電流が通電されるとともに、電流が通電されると、その痕跡が残る溶断素子とを備えることを特徴とする半導体装置の過電圧印加監視回路。 - 前記過電圧検出回路は、前記過電圧が印加される配線に接続されたツェナダイオードから構成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。
- 前記溶断素子は、前記ツェナダイオードと直列に接続されることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。
- 前記過電圧検出回路は、前記過電圧の印加検出時に、出力端子からの出力レベルが低下するコンパレータを有し、
前記溶断素子は、前記過電圧が印加される配線と、前記コンパレータの出力端子との間に接続されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。 - 前記溶断素子は、前記過電圧検出回路が過電圧の印加を検出した際にオンする半導体スイッチング素子と直列に接続され、この半導体素子と溶断素子との直列回路の一端が、前記過電圧が印加される配線に接続され、他端が接地されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。
- 前記半導体スイッチング素子は、ダーリントン接続されていることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。
- 前記半導体装置に過電圧が印加されたときの当該過電圧をアナログ値からデジタル値に変換するA/D変換器と、
前記半導体装置に過電圧が印加されたときに、前記A/D変換器を動作させる動作回路と、
前記A/D変換器が変換した前記過電圧のデジタル値を記憶する記憶部とを備えることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の半導体装置の過電圧印加監視回路。 - 半導体装置に対する、定格電圧以上の過電圧の印加を検出する過電圧検出回路と、
前記半導体装置に印加された過電圧をアナログ値からデジタル値に変換するA/D変換器と、
前記半導体装置に過電圧が印加されたことが検出されたときに、前記A/D変換器を動作させる動作回路と、
前記A/D変換器が変換した前記過電圧のデジタル値を記憶する記憶部とを備えることを特徴とする半導体装置の過電圧印加監視回路。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014032210A (ja) * | 2009-03-09 | 2014-02-20 | Qualcomm Inc | 半導体チップ接合のために静電放電(esd)イベントの大きさを測定するための回路 |
EP3147945A1 (en) * | 2015-09-25 | 2017-03-29 | MediaTek Inc. | Esd detection circuit |
CN107450002A (zh) * | 2016-05-20 | 2017-12-08 | 英飞凌科技股份有限公司 | 器件过压检测器 |
JP2018152391A (ja) * | 2017-03-10 | 2018-09-27 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 半導体装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253651A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Corp | 半導体集積回路の入力保護回路 |
JP2002222923A (ja) * | 2001-01-25 | 2002-08-09 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP2003273227A (ja) * | 2002-03-13 | 2003-09-26 | Rohm Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02253651A (ja) * | 1989-03-28 | 1990-10-12 | Nec Corp | 半導体集積回路の入力保護回路 |
JP2002222923A (ja) * | 2001-01-25 | 2002-08-09 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
JP2003273227A (ja) * | 2002-03-13 | 2003-09-26 | Rohm Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014032210A (ja) * | 2009-03-09 | 2014-02-20 | Qualcomm Inc | 半導体チップ接合のために静電放電(esd)イベントの大きさを測定するための回路 |
EP3147945A1 (en) * | 2015-09-25 | 2017-03-29 | MediaTek Inc. | Esd detection circuit |
CN107450002A (zh) * | 2016-05-20 | 2017-12-08 | 英飞凌科技股份有限公司 | 器件过压检测器 |
US10250029B2 (en) | 2016-05-20 | 2019-04-02 | Infineon Technologies Ag | Device overvoltage detector |
DE102017110869B4 (de) | 2016-05-20 | 2024-03-07 | Infineon Technologies Ag | Bauelement-Überspannungsdetektor |
JP2018152391A (ja) * | 2017-03-10 | 2018-09-27 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 半導体装置 |
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