JP2007114764A - 走査顕微鏡を用いた検出装置および方法 - Google Patents

走査顕微鏡を用いた検出装置および方法 Download PDF

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Abstract

【課題】走査顕微鏡を用いた検出装置および方法を提供する。
【解決手段】走査顕微鏡(1)を用いた検出装置および方法が開示されている。走査顕微鏡(1)は照明光線(3)を走査光学系(12)および顕微鏡光学系(13)を介して標本(15)上または内に導く走査装置(7)を含む。画素(Px、y)内の検出信号を定期的に取得するとともにそれから平均値を算出するデジタル回路(30)が検出ユニット(19)の後に配置されている。
【選択図】図1

Description

本発明は走査顕微鏡を用いた検出装置に関する。本発明は特に多数の画素内で標本を照明する照明光線を走査光学系および顕微鏡光学系を介して標本上または内に導く走査装置を有し、さらに標本から発した光を受け取るとともに検出信号を生成する検出ユニットを有する走査顕微鏡を用いた検出装置に関する。
本発明はさらに走査顕微鏡を用いた検出方法に関する。本発明は特に照明光線を走査光学系および顕微鏡光学系を介して標本上または内に導く走査装置を有し、標本が多数の画素内で照明光線で照明され、標本から発した光が検出ユニットにより受け取られ、検出信号が生成される走査顕微鏡を用いた検出方法に関する。
特許文献1はサンプルの点毎走査のための方法および装置を開示している。この方法は各走査点毎の設定信号を生成するステップと、その設定信号を走査装置に転送するステップとを特徴とする。さらなるステップにおいて走査装置の位置からの各走査点に対する実際の信号が確かめられる。また走査点毎の少なくとも1つの検出信号の検出、実際の信号および/または設定信号および検出信号からの表示信号および画像位置の算出、ならびに表示信号の画像点位置への割り当ても行われる。従来、ミラー検流計の偏向は例えば正弦波のように進む、すなわち偏向の変化が引き返し点付近(画像エッジに対応する)でゼロトランジションより遅くなることは問題である。非線形性は各画素(図4を参照)毎に異なる照明時間またはサイクル時間Tにつながる。従来、検出器により生成された信号は、すべての画素に適した一定の最大時間にわたってアナログ技術で構成された積算器を用いて積算される。そしてデータ値がアナログデジタル変換器により読み出されるとともに積算器がクリアされる。その時初めて次の画素に対して新たなサイクルが開始する。ここで積算時間が最短の照明時間またはサイクル時間を有する画素に基づいていることは不都合である。そのためより長いサイクル時間を有する、すなわち信号対ノイズ比がそこで劣化する画像エッジ(走査方向反転)の画素のために貴重な計測時間が失われる。
特許文献2は走査器駆動用トリガシステムを開示している。走査器は振動モータにより駆動されるため走査ミラーが振動する。トリガユニットは振動モータに適当な制御周波数の線形供給を提供するため、走査光線もサンプルの表面上に実質的に線形経路を描く。
特許文献3は共焦点顕微鏡および共焦点顕微鏡を用いた三次元画像を生成する方法を含む。光軸の方向への相対移動を生じる装置が設けられている。また相対移動を生成する装置と走査装置とを同時に制御または調節する制御ユニットも設けられている。
既存の技術のさらなる不都合は、アナログ積算器の不可欠なクリア時間中に入力信号が検出できないことである。しかし高走査速度ではクリア時間はサイクル時間の半分を超える時間になる。8kHz(共振走査)において、例えば画素当りの積算時間は25nsである場合がある。一方積算された信号(短い積算時間で)のクリアは少なくとも20nsかかる恐れがある。しかし高走査速度が必要なため、積算器を完全にクリアすることはできない。またこの理由のため積算時間は(そのためサイクル時間も)走査される線内で一定でなければならない。最終的な積算値、したがって主観的画像輝度は走査速度および走査形式に依存する。画像設定はユーザがこれに対応して修正しなければならない。
独国特許出願公開第10126286A1号明細書 独国特許出願公開第19702752A1号明細書 EP0845693号明細書
本発明の目的は画質を向上させることにより、使用形式および走査速度に関係なく得られた画像でバランスの取れた画像輝度を生じる装置を創出することである。
この目的は請求項1の特徴を含む装置により達成される。
本発明の目的は画質を向上させることにより、使用形式および走査速度に関係なく得られた画像でバランスの取れた画像輝度にする方法を創出することである。
上記の目的は請求項9の特徴を示す方法により達成される。
本発明によれば検出ユニットの後に、画素内の検出信号を定期的に取得するとともにそれから平均値を算出するデジタル回路が配置されている。検出ユニットの検出信号がデジタル回路により定期的に取得されて加算されるとともに、検出信号の和が加算された検出信号の数で割られることがさらに有利である。
新しいサイクルの開始時に加算要素はそのサイクルの第1の走査値を等しくするように設定される。これはクリア動作を排除するため有利である。
デジタル積算が最大デューティサイクルで行われる。実際の積算時間によるリアルタイム除算のため、画像エッジにおける信号対ノイズ比は画像全体に対する固定積算時間と比べて実質的に改善される。
さらなる利点はデジタル回路が画素内の多数の検出信号を定期的に加算する加算要素を含むとともに、デジタル回路が多数の検出信号の和をそれぞれの画素内の検出信号の数で割る除算要素を含むことである。
乗算要素がデジタル回路(30)内で加算要素および除算要素の前に配置されている。
乗算要素が検出信号の増幅を行うことにより、加算要素および除算要素の数値精度を向上させる。
走査顕微鏡には利得のための調整要素が装備されており、デジタル回路および検出ユニットのデジタルおよびアナログ増幅の組み合わせを生じる。
検出ユニットのアナログ増幅の非線形性をデジタル回路内での特性曲線の対応する蓄積により補償することができる。検出ユニットはデジタル回路内での増幅により検出ユニットの感度のダイナミクスの向上を達成する特性曲線を有する。
本発明のさらなる有利な実施形態は添付の特許請求の範囲から推断し得る。
本発明の主題を図に概略的に示すとともに図面を参照して以下に説明する。
図1は本発明による装置が実施される共焦点走査顕微鏡1の概略構成を示す。走査顕微鏡は様々な形で実現可能な検出ユニット19を含む。少なくとも1つの照明系2からの照明光線3はビームスプリッタまたは適当な偏向手段5によって走査装置7に向けられる。照明光線3は偏向手段5に当たる前に照明ピンホール6を通過する。走査装置7は、照明光線3を走査光学系12および顕微鏡光学系13を介して標本15上または内に導く少なくとも1つの走査ミラー9を含む。走査ミラー9は追加的に設けられたモータ(図示せず)、トーションロッドにより駆動可能であり、それによりまた走査ミラー9は共振走査ミラー9としても動作可能である。不透明な標本15の場合、照明光線3は標本表面上に導かれる。生物標本15(プレパラート)または透明な標本の場合、照明光線3を標本15内に導くこともできる。これらの目的のため、非発光プレパラートは適当な染料で規定通りに準備される(従来技術のため記載せず)。標本15内に存在する染料は照明光線3により励起されてそれらに特有のスペクトルの特性範囲の発光および/または蛍光を発する。標本15から発した光は検出光線17を規定する。検出光線17は顕微鏡光学系13および走査光学系12内を進んで、走査モジュール7を介して偏向手段5に到達し、偏向手段5を横断して検出ピンホール18およびスペクトル生成要素20(プリズムまたは格子)を通過して検出ユニット19上に達する。検出ユニット19を少なくとも1つの光電子倍増管で構成することができる。同様に検出ユニット19を光電子倍増管アレイまたはCCDチップ、EMCCDチップ、またはAPDアレイで構成することも考えられる。標本15から発したまたは規定された検出光線17は図1に破線として示されている。標本15から発した光の出力レベルに比例する電気検出信号が検出ユニット19内で生成される。既に前述したように1つの波長だけでない光が標本15から発せられるため、検出ユニット19の前に分散要素20を設けることが有用である。分散要素20は検出光の個々の波長が空間的に分光されるように検出光線を分光する。分散要素20の前に配置されているのは検出光線17を広げて平行にするレンズ21である。分散要素20の後に配置されているのは検出光線17の分光光線24、25を検出ユニット19上に焦点を合わせる追加レンズ22である。分光光線24、25は波長の点で異なるため異なる光電子倍増管に当たるか、または検出器19がチップとして構成されている場合にはチップの異なる領域に当たる。検出ユニット19により提供された信号はデジタル回路30に伝えられ、そこで検出信号の収集が行われる。デジタル回路30をさらにコンピュータ42に接続することが可能であり、コンピュータ42にディスプレイ48が関連し、そこに例えば画像データを表示することができる。
図2aは第1の画素サイズを用いてピクセル毎に被検標本15を走査する手順の概略図である。標本15は通常標本スライド15a上に載置される。標本15は走査装置7を用いて照明光線3でX座標方向xおよびY座標方向yに走査される。また標本15の一部分のみを走査することも可能である。各個々の画素Px、yのサイズはユーザにより選択される設定に基づいている。個々の画素Px、yのサイズは所望の解像度に応じて選択される。照明光線3により生じた信号が個々の画素Px、yのサイズによって決定された領域から得られる。画素Px1、y4、Px2、y4〜Px8、y4で構成された図2a内に示されている走査線40は、X座標方向xの走査ミラー9の走査動作の結果生じる。図4は走査ミラー9の走査動作の正弦曲線プロファイル41を示す。走査線40内の画素Px、yの数が任意であることは自明であり、明細書に提示された実施形態は本発明の限定として解釈されることはない。
図2bは第2の画素サイズを用いてピクセル毎に被検標本15を走査する手順の概略図である。ここで照明光線3は図2aに示された走査線40の場合より多くの画素Px、yから構成された走査線40を描く。画素Px1、y6、Px2、y6〜Px16、y6で構成された図2b内に示された走査線40は、X座標方向xの走査ミラー9の走査動作の結果生じる。
図3はデジタル回路30の構成の概略図である。デジタル回路30は検出ユニット19(図1参照)の後に配置されており、その回路は画素Px、y内の検出信号を定期的に取得(interrogate)してそこから平均値を算出する。デジタル回路30は画素Px、y内の複数の定期的検出信号を加算する加算要素31を含む。デジタル回路30は複数の検出信号の和をそれぞれの画素Px、y内で加算された検出信号の数で割る除算要素32をさらに含む。本発明のさらなる実施形態において乗算要素33がデジタル回路30内で加算要素31および除算要素32の前に配置されている。デジタル乗算(加算要素31およびその後の除算要素32の前)により、信号増幅を達成して数値精度を向上させることもできる。平均化の結果、検出ユニット19の出力値ひいては画像輝度が走査速度および走査形式に関係依存しない。平均化はさらに出力データのノイズを減少させるとともに、デジタル化エラー(「異常値」)も最低限に抑える。デジタル化の結果、例えばアナログ構成要素のパラメータドリフトなど(温度、エージング、構成要素公差による)の干渉効果が低減または排除される。
図4は均一サイズの画素Px1、y4、Px2、y4〜Px8、y4に対する異なるサンプリング時間T、T〜Tのグラフ図である。走査線40当りの画素数は図2aに示された数に対応している。ほぼ正弦曲線プロファイル41は少なくとも1つの走査ミラー9に適用された制御に支配されている。異なるサンプリング時間T、TまたはT内で、各画素Px、yに対して一定の数の検出信号がデジタル回路30により検出ユニット19によって定期的に取得されて加算される。取得された検出信号の数は設定されたクロック周波数に基づいている。個々の画素Px、yが隙間なく互いに隣接しているため、標本15から情報が失われないことは図4から明らかである。アナログ積分器のクリア時間を排除できることから、アナログ積算と比べて各画素Px、yに対する最適な計測時間も保証される。タイミングサイクルのため加算/積算要素のクリアまたは待機時間による時間損失が生じない。本発明はさらにまた走査点または照明光線3が標本15上を移動する速度の関数としての可変サイクル時間を可能にする。サイクル時間は無制限に選択可能である。標本15上の走査点の瞬間速度を一致させるように選択できる。
図5は得られる利得の関数としての検出ユニット19における電圧のグラフ図である。電圧(ボルト)が横座標50に、利得が縦座標51にプロットされている。検出ユニット19はこの場合光電子倍増管であり、電圧の関数としての光電子倍増管(アナログ増幅)の利得が破線曲線52として示されている。デジタル回路の乗算要素33により達成された利得(デジタル増幅)が点線曲線53として示されている。アナログ増幅とデジタル増幅の和が実線曲線54として示されている。光電子倍増管における電圧の関数としての非線形アナログ増幅の均等化は、デジタル回路30でのデジタル増幅時に対応する補償により達成される。状況に応じて異なる利得挙動を設定することもできる。ここで提案される方法により、より広い検出範囲にわたり最適動作点で光電子倍増管を作動させることが可能である。最適動作点は500V〜1000Vである。また検出ユニット19の感度は検出信号のレベルに依存するため、非線形特性曲線を用いてダイナミクスを向上させることもできる。
図6は少なくとも1つの検出ユニット19と検出信号を評価するデジタル回路30とを有する走査顕微鏡1を概略的に示す。また調整要素60も設けられ、それによりユーザは利得または増幅を調整することができる。同様に調整要素60をユーザに対してコンピュータ42のディスプレイ48上に示すことも考えられる。デジタル回路30および検出ユニット19に対するデジタルおよびアナログ増幅の適当な組み合わせは、両方の増幅が同時に変化する場合に存在する。しかしユーザにとっては調整要素60上に1つの利得ノブ61があるだけである。デジタルおよびアナログ増幅の別々の調整も同様に考えられる。その結果2つの調整要素(図示せず)がこのために必要になる。
検出ユニットと検出信号の評価のためのデジタル回路とを有する走査顕微鏡を概略的に示す。 第1の画素サイズを用いてピクセル毎に被検標本を走査する手順の概略図である。 第2の画素サイズを用いてピクセル毎に被検標本を走査する手順の概略図である。 デジタル回路の構成の概略図である。 均一サイズの画素に対する異なるサンプリング時間を図示する。 得られる利得の関数としての検出ユニットにおける電圧を図示する。 検出ユニットと検出信号の評価のためのデジタル回路とを有するとともに、増幅用調整要素を有する走査顕微鏡を概略的に示す。
符号の説明
1共焦点走査顕微鏡
2照明系
3照明光線
5偏向手段
6照明ピンホール
7走査装置
9走査ミラー
12走査光学系
13顕微鏡光学系
15標本
15a標本スライド
17検出光線
18検出ピンホール
19検出ユニット
20分散要素
21レンズ
22追加レンズ
24分光光線
25分光光線
30デジタル回路
31加算要素
32除算要素
33乗算要素
40走査線
41正弦曲線プロファイル
42コンピュータ
48ディスプレイ
50横座標
51縦座標
52破線曲線
53点線曲線
54実線曲線
60調整要素
61利得ノブ
P画素
Tサンプリング時間

Claims (16)

  1. 多数の画素内で標本(15)を照明する照明光線(3)を走査光学系(12)および顕微鏡光学系(13)を介して標本(15)上または標本内に導く走査装置(7)と、前記標本(15)から発した光を受け取るとともに検出信号を生成する検出ユニット(19)とを有し、
    前記検出ユニット(19)の後に、画素(Px、y)内の検出信号を定期的に取得するとともにそれから平均値を算出するデジタル回路(30)が配置されている、走査顕微鏡を用いた検出装置。
  2. 前記デジタル回路が、画素内の前記多数の検出信号を定期的に加算する加算要素(31)を含むとともに、前記デジタル回路(30)が前記多数の検出信号の和を前記それぞれの画素(Px、y)内の検出信号の数で割る除算要素(32)を含む、請求項1に記載の装置。
  3. 乗算要素(33)が前記デジタル回路(30)内で前記加算要素(31)および除算要素(32)の前に配置されている、請求項2に記載の装置。
  4. 前記乗算要素が前記検出信号の増幅を行うことにより、前記加算要素および前記除算要素の数値精度を向上させる、請求項3に記載の装置。
  5. 前記走査顕微鏡には利得のための調整要素が装備されており、前記デジタル回路および前記検出ユニット(19)の前記デジタルおよび前記アナログ増幅の組み合わせを生じる、請求項1〜4のいずれか一項に記載の装置。
  6. 前記検出ユニット(19)の前記アナログ増幅を前記デジタル回路内の対応する乗算により補償できる、請求項5に記載の装置。
  7. 前記検出ユニット(19)が、前記デジタル回路内での増幅により前記検出ユニット(19)の感度のダイナミクスの向上を達成する特性曲線を有する、請求項6に記載の装置。
  8. 前記走査顕微鏡がレーザ走査顕微鏡である、請求項1〜7のいずれか一項に記載の装置。
  9. 走査光学系(12)および顕微鏡光学系(13)を介して照明光線(3)を標本(15)上または標本内に導く走査装置(7)を有し、前記標本(15)が多数の画素(Px、y)内で前記照明光線(3)で照明され、前記標本(15)から発した光が検出ユニット(19)により受け取られ、検出信号が生成される走査顕微鏡を用いた検出方法であって、
    前記検出ユニット(19)の前記検出信号がデジタル回路により定期的に取得されて加算されるステップと、
    前記検出信号の和が前記加算された検出信号の数で割られるステップと
    を特徴とする方法。
  10. 前記デジタル回路が、画素内の前記多数の検出信号を定期的に加算する加算要素を含むとともに、前記デジタル回路が前記多数の検出信号の和を前記それぞれの画素内の検出信号の数で割る除算要素を含む、請求項9に記載の方法。
  11. 乗算要素が前記デジタル回路内で前記加算要素および除算要素の前に配置されている、請求項10に記載の方法。
  12. 前記乗算要素により前記検出信号の増幅を行うことにより、前記加算要素および前記除算要素の数値精度を向上させる、請求項11に記載の方法。
  13. 前記走査顕微鏡には利得のための調整要素が装備されており、前記デジタル回路のデジタル増幅と前記検出ユニット(19)のアナログ増幅とが組み合わされる、請求項9〜12のいずれか一項に記載の方法。
  14. 前記検出ユニット(19)の前記アナログ増幅が前記デジタル回路内の対応する乗算により補償される、請求項13に記載の方法。
  15. 前記検出ユニット(19)が、前記デジタル回路内での前記増幅によりダイナミクスを向上する特性曲線を有する、請求項14に記載の方法。
  16. 前記走査顕微鏡(1)がレーザ走査顕微鏡である、請求項9〜15のいずれか一項に記載の方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008293500A (ja) * 2007-05-25 2008-12-04 Integrated Dynamics Engineering Gmbh 振動絶縁システムにおける周波数応答補正のための方法および装置
JP2012145939A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Leica Microsystems Cms Gmbh 走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置
JPWO2018008070A1 (ja) * 2016-07-04 2019-04-11 パイオニア株式会社 検査装置及び方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008010435B4 (de) * 2008-02-21 2010-07-29 Tecan Trading Ag Datenerfassungsverfahren mit einem Laser Scanner-Gerät
JP2009288321A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Olympus Corp 顕微鏡
DE102010040611A1 (de) * 2010-09-13 2012-03-15 Sulfurcell Solartechnik Gmbh Spektrometer zur Erfassung opto-elektronischer Materialeigenschaften einer Halbleiterprobe
DE102011013614A1 (de) * 2011-03-08 2012-09-13 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
WO2018050888A1 (de) * 2016-09-16 2018-03-22 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskop

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06201999A (ja) * 1992-10-05 1994-07-22 Univ California 連続表示を提供する走査型コンフォーカル顕微鏡
JPH11237554A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JP2001021829A (ja) * 1999-07-05 2001-01-26 Keyence Corp 光走査装置
JP2003043369A (ja) * 2001-08-03 2003-02-13 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査型顕微鏡
DE10228478A1 (de) * 2002-06-26 2004-01-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Verbesserung der Messergebnisse in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
JP2004144734A (ja) * 2002-08-29 2004-05-20 Olympus Corp 光走査型顕微鏡及び顕微鏡用測光装置
US6914238B2 (en) * 2001-05-30 2005-07-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and apparatus for point-by-point scanning of a specimen

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5260572A (en) * 1992-08-13 1993-11-09 Wyko Corporation Scanning probe microscope including height plus deflection method and apparatus to achieve both high resolution and high speed scanning
JPH10161034A (ja) * 1996-12-02 1998-06-19 Nikon Corp コンフォーカル顕微鏡及びコンフォーカル顕微鏡を用いた3次元画像の作成方法
DE19702752C2 (de) * 1997-01-27 2001-12-13 Zeiss Carl Jena Gmbh Ansteuersystem für einen Scannerantrieb

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06201999A (ja) * 1992-10-05 1994-07-22 Univ California 連続表示を提供する走査型コンフォーカル顕微鏡
JPH11237554A (ja) * 1998-02-23 1999-08-31 Olympus Optical Co Ltd 走査型光学顕微鏡
JP2001021829A (ja) * 1999-07-05 2001-01-26 Keyence Corp 光走査装置
US6914238B2 (en) * 2001-05-30 2005-07-05 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Method and apparatus for point-by-point scanning of a specimen
JP2003043369A (ja) * 2001-08-03 2003-02-13 Olympus Optical Co Ltd レーザ走査型顕微鏡
DE10228478A1 (de) * 2002-06-26 2004-01-15 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Verbesserung der Messergebnisse in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
JP2004144734A (ja) * 2002-08-29 2004-05-20 Olympus Corp 光走査型顕微鏡及び顕微鏡用測光装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008293500A (ja) * 2007-05-25 2008-12-04 Integrated Dynamics Engineering Gmbh 振動絶縁システムにおける周波数応答補正のための方法および装置
JP2012145939A (ja) * 2011-01-11 2012-08-02 Leica Microsystems Cms Gmbh 走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置
JPWO2018008070A1 (ja) * 2016-07-04 2019-04-11 パイオニア株式会社 検査装置及び方法

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