JP2007110615A - キャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 インピーダンス調整用トランジスタを切り替える毎に、インピーダンス調整用トランジスタを一旦非活性にする。インピーダンス調整用トランジスタを一旦非活性にすることで初期設定された電位に復帰させた後に、トランジスタの状態をインピーダンス調整用のコードに従って切り換える。トランジスタの切り替え時には初期設定電位からスタートすることで切り替え時のノイズを発生させない。ノイズが発生しないことから、コンパレータが常に安定した比較判定を行い、安定した出力が得られるキャリブレーション回路が得られる。
【選択図】 図1
Description
303 プルダウン回路
304,305 カウンタ
306,307 コンパレータ
308、309 抵抗
310,311 制御回路
401,402,403,404,405 トランジスタ
501,502,503,504,505 トランジスタ
601,602,603,604,605 OR回路
701,702,703,704,705 AND回路
ZQ キャリブレーション用ピン
DRZQIP,DRZQIN ビット信号
DRZQP,DRZQN インピーダンス制御信号
DRZQPIB 反転マスク信号
DRZQNIT マスク信号
Claims (14)
- キャリブレーション回路において、キャリブレーション用端子に接続されたレプリカ回路と、前記キャリブレーション端子の電位と基準電位を比較するコンパレータと、前記コンパレータの出力によりカウント動作するカウンタと、前記カウンタからのカウント出力とマスク信号により前記レプリカ回路のインピーダンスを制御するインピーダンス制御信号を出力する制御回路とを備え、
前記カウント出力が変化するときには、前記マスク信号により前記インピーダンス制御信号を初期状態に設定することを特徴とするキャリブレーション回路。 - 前記レプリカ回路は、並列接続された複数のトランジスタから構成され、前記複数のトランジスタはそれぞれのゲートに前記インピーダンス制御信号を入力されることで導通または非導通とされ、前記レプリカ回路のインピーダンスを制御することを特徴とする請求項1に記載のキャリブレーション回路。
- 前記レプリカ回路は、出力回路最終段の負荷側の構成と実質的に同じ構成とされ、前記キャリブレーション用端子と電源電位間に挿入されることを特徴とする請求項2に記載のキャリブレーション回路。
- 前記レプリカ回路は、出力回路最終段のドライバー側の構成と実質的に同じ構成とされ、前記キャリブレーション用端子と接地電位間に挿入されることを特徴とする請求項2に記載のキャリブレーション回路。
- キャリブレーション回路において、電源電位とキャリブレーション端子間に接続されたプルアップ回路と、前記キャリブレーション端子の電位と基準電位を比較するコンパレータと、前記コンパレータの出力によりカウント動作するカウンタと、前記カウンタからのカウント出力とマスク信号により前記プルアップ回路のインピーダンスを制御するインピーダンス制御信号を出力する制御回路とを備え、
前記カウント出力が変化するときには、前記マスク信号により前記インピーダンス制御信号を初期状態に設定することを特徴とするキャリブレーション回路。 - 第2のプルアップ回路と、プルダウン回路と、前記第2のプルアップ回路と前記プルダウン回路との接点の電位と基準電位を比較する第2のコンパレータと、前記第2のコンパレータの出力によりカウント動作する第2のカウンタと、前記第2のカウンタからの第2のカウント出力と第2のマスク信号により前記プルダウン回路のインピーダンスを制御する第2のインピーダンス制御信号を出力する第2の制御回路とをさらに備え、
前記第2のカウント出力が変化するときには、前記第2のマスク信号により前記第2のインピーダンス制御信号を初期状態に設定することを特徴とする請求項5に記載のキャリブレーション回路。 - 前記プルアップ回路は、出力回路最終段の負荷側の構成と実質的に同じ構成とされ、前記キャリブレーション用端子と電源電位間に挿入されことを特徴とする請求項6に記載のキャリブレーション回路。
- 前記第2のプルアップ回路は、出力回路最終段の負荷側の構成と実質的に同じ構成とされ、前記プルダウン回路の一端と電源電位間に挿入されことを特徴とする請求項6に記載のキャリブレーション回路。
- 前記プルダウン回路は、出力回路最終段のドライバー側の構成と実質的に同じ構成とされ、前記第2のプルアップ回路の一端と接地電位間に挿入されことを特徴とする請求項6に記載のキャリブレーション回路。
- 請求項1乃至9のいずれか1項に記載のキャリブレーション回路を備えることを特徴とする半導体装置。
- キャリブレーション回路の制御方法において、第1の回路とレプリカ回路との接点の電位と基準電位との電位差を判定し、カウント動作を指示するカウント指示信号を発生するステップと、前記カウント指示信号によりカウントし、カウント数を出力するステップと、前記カウント数に従って前記レプリカ回路のインピーダンスを調整するステップとを備え、前記カウント数を出力するステップにおいて、前記カウント数が変化する期間には前記カウント数を初期設定値として出力することを特徴とするキャリブレーション回路の制御方法。
- 前記第1の回路は抵抗であり、前記レプリカ回路は出力回路最終段の負荷側の構成と実質的に同じ構成とされることで、前記出力回路最終段の負荷側のインピーダンスを前記抵抗の有するインピーダンスと等しくすることを特徴とする請求項11に記載のキャリブレーション回路の制御方法。
- さらに、第2のレプリカ回路に前記カウント数を入力し、インピーダンスを固定するステップと、前記第2のレプリカ回路と第3のレプリカ回路との接点の電位と基準電位との電位差を判定し、カウント動作を指示する第2のカウント指示信号を発生するステップと、前記第2のカウント指示信号によりカウントし、第2のカウント数を出力するステップと、前記第2のカウント数に従って前記第3のレプリカ回路のインピーダンスを調整するステップとを備え、前記第2のカウント数を出力するステップにおいて、前記第2のカウント数が変化する期間には前記第2のカウント数を初期設定値として出力することを特徴とする請求項12に記載のキャリブレーション回路の制御方法。
- 前記第2のレプリカ回路は出力回路最終段の負荷側の構成と実質的に同じ構成とし、前記第3のレプリカ回路は出力回路最終段のインバータの構成と実質的に同じ構成とすることで、前記第2のレプリカ回路のインピーダンスと前記第3のレプリカ回路のインピーダンスを前記抵抗の有するインピーダンスと等しくすることを特徴とする請求項13に記載のキャリブレーション回路の制御方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005301717A JP4618600B2 (ja) | 2005-10-17 | 2005-10-17 | キャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 |
DE102006048846A DE102006048846B4 (de) | 2005-10-17 | 2006-10-16 | Eichschaltung und dieselbe enthaltende Halbleitervorrichtung |
US11/580,902 US7595645B2 (en) | 2005-10-17 | 2006-10-16 | Calibration circuit and semiconductor device incorporating the same |
CN200610163591.XA CN1968014B (zh) | 2005-10-17 | 2006-10-17 | 校准电路和备有校准电路的半导体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005301717A JP4618600B2 (ja) | 2005-10-17 | 2005-10-17 | キャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007110615A true JP2007110615A (ja) | 2007-04-26 |
JP4618600B2 JP4618600B2 (ja) | 2011-01-26 |
Family
ID=38036088
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005301717A Expired - Fee Related JP4618600B2 (ja) | 2005-10-17 | 2005-10-17 | キャリブレーション回路及びこれを備えた半導体装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7595645B2 (ja) |
JP (1) | JP4618600B2 (ja) |
CN (1) | CN1968014B (ja) |
DE (1) | DE102006048846B4 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7656186B2 (en) | 2007-07-04 | 2010-02-02 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and data processing system |
US7902858B2 (en) | 2007-07-10 | 2011-03-08 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and memory module |
US8483986B2 (en) | 2009-11-05 | 2013-07-09 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device, system with semiconductor device, and calibration method |
JP2014028027A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Toshiba Corp | 超音波診断装置、スイッチング制御プログラムおよびスイッチング制御方法 |
US9374088B2 (en) | 2010-03-31 | 2016-06-21 | SK Hynix Inc. | Impedance calibration apparatus of semiconductor integrated circuit |
CN113765513A (zh) * | 2020-06-05 | 2021-12-07 | 华邦电子股份有限公司 | 阻抗校正电路 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4159553B2 (ja) * | 2005-01-19 | 2008-10-01 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体装置の出力回路及びこれを備える半導体装置、並びに、出力回路の特性調整方法 |
US7646227B2 (en) * | 2007-07-20 | 2010-01-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Digital phase discriminator |
US20090248945A1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-10-01 | Navindra Navaratnam | Noise reducing methods and circuits |
US8559246B2 (en) * | 2009-10-02 | 2013-10-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Digital retention voltage generation |
US8909966B2 (en) * | 2010-03-26 | 2014-12-09 | Advantest Corporation | Wireless power supply apparatus |
US8030968B1 (en) * | 2010-04-07 | 2011-10-04 | Intel Corporation | Staged predriver for high speed differential transmitter |
KR20160029392A (ko) * | 2014-09-05 | 2016-03-15 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 임피던스 조정 회로 및 이를 이용한 반도체 메모리와 메모리 시스템 |
US9871517B1 (en) * | 2016-08-17 | 2018-01-16 | Elite Semiconductor Memory Technology Inc. | Method for determining resistance calibration direction in ZQ calibration of memory device |
KR20180038104A (ko) * | 2016-10-05 | 2018-04-16 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 캘리브레이션 회로를 사용하는 출력 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 및 시스템 |
CN106656157A (zh) * | 2016-11-18 | 2017-05-10 | 深圳市紫光同创电子有限公司 | 一种用于可编程逻辑器件的缓冲电路 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07142985A (ja) * | 1993-11-16 | 1995-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 出力回路 |
JPH1127132A (ja) * | 1997-07-01 | 1999-01-29 | Hitachi Ltd | インピーダンスマッチング回路および半導体記憶装置 |
JP2001094409A (ja) * | 1999-09-20 | 2001-04-06 | Nec Corp | インピーダンス調整回路 |
JP2004032070A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Nec Corp | 半導体集積回路のインピーダンス制御方法およびインピーダンス制御回路 |
JP2005026890A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Nec Corp | インピーダンス調整回路及び調整方法、インピーダンス調整回路を備える半導体装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4114278B2 (ja) * | 1999-06-11 | 2008-07-09 | ソニー株式会社 | ノイズ低減装置 |
KR100375986B1 (ko) * | 2000-11-27 | 2003-03-15 | 삼성전자주식회사 | 프로그래머블 임피던스 제어회로 |
US6509778B2 (en) * | 2001-03-15 | 2003-01-21 | International Business Machines Corporation | BIST circuit for variable impedance system |
KR100502666B1 (ko) * | 2002-09-02 | 2005-07-22 | 주식회사 하이닉스반도체 | 저항 보정 회로 |
JP4201128B2 (ja) * | 2003-07-15 | 2008-12-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路装置 |
KR100583636B1 (ko) * | 2003-08-19 | 2006-05-26 | 삼성전자주식회사 | 단일의 기준 저항기를 이용하여 종결 회로 및 오프-칩구동 회로의 임피던스를 제어하는 장치 |
-
2005
- 2005-10-17 JP JP2005301717A patent/JP4618600B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-16 DE DE102006048846A patent/DE102006048846B4/de active Active
- 2006-10-16 US US11/580,902 patent/US7595645B2/en active Active
- 2006-10-17 CN CN200610163591.XA patent/CN1968014B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07142985A (ja) * | 1993-11-16 | 1995-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 出力回路 |
JPH1127132A (ja) * | 1997-07-01 | 1999-01-29 | Hitachi Ltd | インピーダンスマッチング回路および半導体記憶装置 |
JP2001094409A (ja) * | 1999-09-20 | 2001-04-06 | Nec Corp | インピーダンス調整回路 |
JP2004032070A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Nec Corp | 半導体集積回路のインピーダンス制御方法およびインピーダンス制御回路 |
JP2005026890A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Nec Corp | インピーダンス調整回路及び調整方法、インピーダンス調整回路を備える半導体装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7656186B2 (en) | 2007-07-04 | 2010-02-02 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and data processing system |
US7994812B2 (en) | 2007-07-04 | 2011-08-09 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and data processing system |
US8395412B2 (en) | 2007-07-04 | 2013-03-12 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and data processing system |
US7902858B2 (en) | 2007-07-10 | 2011-03-08 | Elpida Memory, Inc. | Calibration circuit, semiconductor device including the same, and memory module |
US8483986B2 (en) | 2009-11-05 | 2013-07-09 | Elpida Memory, Inc. | Semiconductor device, system with semiconductor device, and calibration method |
US9374088B2 (en) | 2010-03-31 | 2016-06-21 | SK Hynix Inc. | Impedance calibration apparatus of semiconductor integrated circuit |
JP2014028027A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Toshiba Corp | 超音波診断装置、スイッチング制御プログラムおよびスイッチング制御方法 |
CN113765513A (zh) * | 2020-06-05 | 2021-12-07 | 华邦电子股份有限公司 | 阻抗校正电路 |
CN113765513B (zh) * | 2020-06-05 | 2023-10-13 | 华邦电子股份有限公司 | 阻抗校正电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7595645B2 (en) | 2009-09-29 |
CN1968014B (zh) | 2010-05-19 |
JP4618600B2 (ja) | 2011-01-26 |
DE102006048846A1 (de) | 2007-09-13 |
US20070143052A1 (en) | 2007-06-21 |
DE102006048846B4 (de) | 2011-04-28 |
CN1968014A (zh) | 2007-05-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080519 |
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A977 | Report on retrieval |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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