JP2007096280A - 気相成長装置 - Google Patents
気相成長装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007096280A JP2007096280A JP2006225542A JP2006225542A JP2007096280A JP 2007096280 A JP2007096280 A JP 2007096280A JP 2006225542 A JP2006225542 A JP 2006225542A JP 2006225542 A JP2006225542 A JP 2006225542A JP 2007096280 A JP2007096280 A JP 2007096280A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase growth
- vapor phase
- growth apparatus
- ceramic plate
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】 基板を載置するサセプタ、基板を加熱するヒータ、基板に原料ガスを供給する原料ガス導入部、及び反応ガス排出部を有し、ヒータと基板の載置位置の間に、支持部材により保持または補強された光透過性セラミックス板を備えてなる気相成長装置とする。
【選択図】 図1
Description
従って、本発明が解決しようとする課題は、窒化ガリウム系化合物半導体のような高温で腐食性の高いガスを用いた気相成長反応を行なう場合であっても、半導体膜の品質に悪影響を与えることなく、長期間にわたり安定した成膜が可能な気相成長装置を提供することである。
すなわち本発明は、基板を載置するためのサセプタ、該基板を加熱するヒータ、該基板に原料ガスを供給する原料ガス導入部、及び反応ガス排出部を有し、該ヒータと基板の載置位置の間に、支持部材により保持または補強された光透過性セラミックス板を備えてなることを特徴とする気相成長装置である。
また、本発明の気相成長装置においては、原料ガスの種類等には特に限定されることはない。しかし、特に気相成長温度として1000℃以上の高温を必要とする窒化ガリウム系化合物半導体膜の成膜、さらに複数枚の基板への窒化ガリウム系化合物半導体膜の成膜の場合に、ヒータの断線等を抑制でき、長期的に安定した気相成長ができる点で、本発明の効果を充分に発揮させることができる。
尚、図1、図2は、本発明の気相成長装置の一例を示す垂直断面図である。図3は、本発明の気相成長装置において、環状の光透過性セラミックス板の外周端または中心孔の周端を支持部材により保持した部分の例を示す拡大断面図である。図4は、本発明の気相成長装置において、環状または円板状の光透過性セラミックス板の中心部を支持部材により保持した部分の例を示す拡大断面図である。図5は、本発明の気相成長装置における光透過性セラミックス板の例を示す構成図である。図6、図7は、本発明の気相成長装置において、光透過性セラミックス板を下から保持または補強する支持部材の例を示す構成図である。
支持部材6Cの構成としては、例えば図6及び図7(1)(2)に示すように、外周部材14、中心部材15、及びこれらを結合する部材16あるいは幾何学模様状の結合部材17からなる構成、また図7(3)(4)に示すように、外周部材14及びその内側に設けられた幾何学模様状の結合部材17からなる構成を例示することができる。外周部材14、中心部材15は、主に光透過性セラミックス板7を補強するとともに下から支える役目を成し、結合部材16あるいは幾何学模様状の結合部材17は、主に光透過性セラミックス板7の塑性変形による垂れ下がりを抑制する役目を成す。尚、結合部材16あるいは幾何学模様状部材17の形態としては、例えば、網目状、放射状、螺旋状、縦縞模様状、横縞模様状、これらを組合せた形状のものを例示することができる。
この支持部材Cの外周の形状は、通常は光透過性セラミックス板と合ったものであり円形であるが、これに限定されることなく、四角形、五角形、六角形、八角形、多角形等であってもよい。このような支持部材6Cは、外径の大きさも通常は光透過性セラミックス板7と同じ、あるいは近似するものである。尚、支持部材6Cも、光透過性セラミックス板7と同様に熱変形が緩和できるように分割製作することが望ましい。具体的な分割方法としても、光透過性セラミックス板7と同様である。
特に、支持部材6Cには、800〜1300℃における機械的強度が光透過性セラミックス板7より優れた耐熱性部材が用いられる。このような耐熱性の支持部材の構成材料としては、モリブデン、タングステン等の金属、インコネル等の耐熱合金、アルミナ、アルミニウムオキシナイトライド、マグネシア、ジルコニア等の金属酸化物、窒化ホウ素、窒化ケイ素、窒化ジルコニウム、窒化チタン、窒化タングステン、窒化アルミニウム等の窒化物系セラミックス、炭化ホウ素、炭化ケイ素、炭化ジルコニウム、炭化チタン、炭化タングステン、炭化タンタル等の炭化物系セラミックス、窒化ホウ素、炭化ホウ素、ホウ化チタン等のホウ化物系セラミックス、及び炭素材料を挙げることができる。
支持部材6Cの構成材料としては、大きく分けて、光透過性の良好な材料と光透過性の小さい材料とに分けられる。前者の例としては、サファイア、アルミナ、アルミニウムオキシナイトライド、窒化アルミニウム等が、後者の例としては耐熱性金属等が挙げられる。耐熱性金属は、熱的衝撃、機械的衝撃に強く、その点で本発明の支持部材として好適に用いることができる。さらに、これらの支持部材と光透過性セラミックスとの間に、前記の光透過性の良好な補強材を設置することで、熱線の透過をほとんど損なうことなく、補強の効果を向上させることができる点で、本発明に好適に用いることができる。さらにこのような構造とした場合、光透過性の補強材の熱膨張係数が小さくない場合でも、分割した補強材をいくつも組み合わせ、これを光透過性の小さい材質の補強材でさらに支持することができる点でも好ましい。
ステンレス製の反応容器の内部に、円板状サセプタ(直径560mm、厚さ11mm)、ヒータ、原料ガスの導入部、ガス案内部材、反応ガス排出部を設け、さらに、外周端支持部材6A(窒化ホウ素)により外周端が、中心部支持部材6B(窒化ホウ素)により中心孔の周端が保持された環状の光透過性セラミックス板(石英板)を設けて、図1に示すような気相成長装置を製作した。尚、光透過性セラミックス板は、直径650mm、厚さ3mm、中心孔の直径が32mmであった。また、炭素材料からなる外周部材(外径650mm、幅30mm、厚さ3mm)、中心部材(外径62mm、幅30mm、厚さ3mm)、及びモリブデンからなる網目構造(間隔10mm)の結合部材により構成された図6(3)に示すような支持部材6Cを用いて、光透過性セラミックス板を下から支えて補強した。また、光透過性セラミックス板とヒータの間隙は7mmであり、光透過性セラミックス板とサセプタの間隙も7mmであった。
この気相成長装置を用いて、以下の加熱実験を行なった。すなわち反応室内を窒素ガスで置換した後、ヒータ近傍に設置した熱電対の温度が1200℃になるように加熱し、この温度を合計で18時間保持した。
温度を室温まで低下させた後、光透過性セラミックス板の垂れ下がり状態を測定した。その結果、光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
次に、ヒータ近傍に設置した熱電対の温度が1200℃になるように加熱した後、反応室内にアンモニアガス(20vol%)と水素ガス(80vol%)の混合ガスを200時間流通した。
温度を室温まで低下させた後、ヒータの表面状態を測定した。その結果、窒化ホウ素膜により被覆されたヒータの表面には、腐食性ガス(アンモニアガス)による損傷は確認できなかった。
さらに、前記の窒化ホウ素膜により被覆されたヒータを、表面に何も耐アンモニア被覆していないグラファイト製のヒータに替えて、気相成長装置を製作し、前記と同様な耐腐食性実験を行なったが、同様にヒータの表面には、腐食性ガス(アンモニアガス)による損傷は確認できなかった。
実施例1の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板の外周端及び中心孔の周端を保持する支持部材6A、6Bの構成材料を、各々ステンレスとアルミナ、ステンレスとインコネル、ステンレスと炭素材に替えたほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
これらの気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
実施例1の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板を下から支える支持部材6Cの構成を、各々図6(2)(モリブデン線の径3mm)、図6(4)(網目の間隔10mm)、図7(1)(モリブデン線の径3mm)、図7(2)(モリブデン線の径3mm)に示すようなものに替えたほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
これらの気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
実施例1の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板を下から支える支持部材6Cの結合部材16の構成材料を、各々タングステン、インコネル、窒化ホウ素に替えたほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
これらの気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
実施例1の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板を、各々サファイア、アルミナ、アルミニウムオキシナイトライドに替えたほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
これらの気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
ステンレス製の反応容器の内部に、環状サセプタ(直径560mm、厚さ11mm)、ヒータ、原料ガスの導入部、ガス案内部材、反応ガス排出部を設け、さらに、外周端支持部材6Aにより外周端が、中心部支持部材6Bにより中心孔の周端が保持された環状の光透過性セラミックス板を設けて、図2に示すような気相成長装置を製作した。また、光透過性セラミックス板を、石英とサファイアを重ね合わせたもの(厚さは各々1.5mm)にして、サファイアを下側にセットした。そのほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
この気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりはほとんど見られず最大値でも1mm以下であった。
ステンレス製の反応容器の内部に、環状サセプタ(直径280mm、厚さ11mm)、ヒータ、原料ガスの導入部、ガス案内部材、反応ガス排出部を設け、さらに、支持部材6A、6B(窒化ホウ素)により外周端及び中心部が保持された中心部に孔がない円板状の光透過性セラミックス板(石英板)を設けて、図1に示すような気相成長装置を製作した。
尚、光透過性セラミックス板は、直径300mm、厚さ5mmであった。また、耐熱性の支持部材6Cは用いなかった。また、光透過性セラミックス板とヒータの間隙は7mmであり、光透過性セラミックス板とサセプタの間隙も7mmであった。
この気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして加熱実験を行なった。その結果、光透過性セラミックス板の垂れ下がりは小さく最大値でも1〜2mm程度であった。
実施例16の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板を、各々サファイア、アルミナ、アルミニウムオキシナイトライドに替えたほかは実施例16と同様にして気相成長装置を製作した。
これらの気相成長装置を用いたほかは実施例1と同様にして各々加熱実験を行なった。その結果、いずれも光透過性セラミックス板の垂れ下がりは小さく最大値でも1〜2mm程度であった。
実施例1の気相成長装置の製作において、光透過性セラミックス板を設けなかったほかは実施例1と同様にして気相成長装置を製作した。
この気相成長装置を用いて、以下の耐腐食性実験を行なった。すなわちヒータ近傍に設置した熱電対の温度が1200℃になるように加熱した後、反応室内にアンモニアガス(20vol%)と水素ガス(80vol%)の混合ガスを20時間流通した。
温度を室温まで低下させた後、ヒータの表面状態を測定した。その結果、窒化ホウ素膜により被覆されたヒータの表面には、腐食性ガス(アンモニアガス)により微小な孔(直径1mm程度)が多数発生していることが確認できた。
2 サセプタ
3 ヒータ
4 原料ガス導入部
5 反応ガス排出部
6A 外周端支持部材
6B 中心部支持部材
6C 支持部材
7 光透過性セラミックス板
8 ギア部
9 断熱板
10 ガス案内部材
11 サセプタ回転軸
12 外周端
13 中心孔の周端
14 外周部材
15 中心部材
16 結合部材
17 幾何学模様状の結合部材
Claims (15)
- 基板を載置するためのサセプタ、該基板を加熱するヒータ、該基板に原料ガスを供給する原料ガス導入部、及び反応ガス排出部を有し、該ヒータと基板の載置位置の間に、支持部材により保持または補強された光透過性セラミックス板を備えてなることを特徴とする気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板が、ヒータから放出される熱線を透過し、原料ガスまたは反応ガスからヒータを遮蔽するものである請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板の構成材料が、酸化物系セラミックスまたは窒化物系セラミックスである請求項1に記載の気相成長装置。
- 支持部材の構成材料が、金属、合金、金属酸化物、セラミックス、及び炭素材料から選ばれる1種以上である請求項1に記載の気相成長装置。
- サセプタが複数枚の基板を載置する構成である請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板が、外周端及び中心部において支持部材により保持された請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板が、中心部に孔を有し、該光透過性セラミックス板の外周端及び中心孔の周端が支持部材により保持された請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板が、その下に設けられた耐熱性の支持部材により保持または補強された請求項1に記載の気相成長装置。
- 耐熱性の支持部材の構成材料が、金属、合金、金属酸化物、窒化物系セラミックス、炭化物系セラミックス、ホウ化物系セラミックス、及び炭素材料から選ばれる1種以上である請求項8に記載の気相成長装置。
- 耐熱性の支持部材が、外周部材、中心部材、及びこれらを結合する部材からなる請求項8に記載の気相成長装置。
- 耐熱性の支持部材が、外周部材、中心部材、及びこれらの間に設けられた幾何学模様状の部材からなる請求項8に記載の気相成長装置。
- 耐熱性の支持部材が、外周部材、及びその内側に設けられた幾何学模様状の部材からなる請求項8に記載の気相成長装置。
- 基板表面に窒化ガリウム系化合物半導体膜を成膜する請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板が、ヒータと空間を隔てて設けられた請求項1に記載の気相成長装置。
- 光透過性セラミックス板とヒータの空間に、不活性ガスを導入する手段が設けられた請求項14に記載の気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006225542A JP4874743B2 (ja) | 2005-09-05 | 2006-08-22 | 窒化ガリウム系化合物半導体の気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005256001 | 2005-09-05 | ||
JP2005256001 | 2005-09-05 | ||
JP2006225542A JP4874743B2 (ja) | 2005-09-05 | 2006-08-22 | 窒化ガリウム系化合物半導体の気相成長装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007096280A true JP2007096280A (ja) | 2007-04-12 |
JP2007096280A5 JP2007096280A5 (ja) | 2009-09-10 |
JP4874743B2 JP4874743B2 (ja) | 2012-02-15 |
Family
ID=37981543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006225542A Expired - Fee Related JP4874743B2 (ja) | 2005-09-05 | 2006-08-22 | 窒化ガリウム系化合物半導体の気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4874743B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009084686A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板載置機構、基板処理装置、基板載置機構上への膜堆積抑制方法及び記憶媒体 |
JP2013110325A (ja) * | 2011-11-22 | 2013-06-06 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 気相成長装置の抵抗加熱ヒータのパージ方法、気相成長装置 |
JP2013534725A (ja) * | 2010-06-18 | 2013-09-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 処理チャンバ洗浄ガスの乱流を誘発するための方法および装置 |
US8679254B2 (en) | 2010-01-26 | 2014-03-25 | Japan Pionics Co., Ltd. | Vapor phase epitaxy apparatus of group III nitride semiconductor |
WO2014132948A1 (ja) * | 2013-02-27 | 2014-09-04 | 東洋炭素株式会社 | サセプタ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03122282A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-24 | Nec Corp | レーザcvd装置 |
JPH06151413A (ja) * | 1992-11-02 | 1994-05-31 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 熱処理装置 |
JPH10102257A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-21 | Nippon Process Eng Kk | 化学的気相成長法による成膜装置 |
JP2001118837A (ja) * | 1992-09-07 | 2001-04-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造装置 |
JP2004146811A (ja) * | 2002-09-30 | 2004-05-20 | Advanced Lcd Technologies Development Center Co Ltd | 基板処理装置、及び基板処理方法 |
-
2006
- 2006-08-22 JP JP2006225542A patent/JP4874743B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03122282A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-24 | Nec Corp | レーザcvd装置 |
JP2001118837A (ja) * | 1992-09-07 | 2001-04-27 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造装置 |
JPH06151413A (ja) * | 1992-11-02 | 1994-05-31 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 熱処理装置 |
JPH10102257A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-21 | Nippon Process Eng Kk | 化学的気相成長法による成膜装置 |
JP2004146811A (ja) * | 2002-09-30 | 2004-05-20 | Advanced Lcd Technologies Development Center Co Ltd | 基板処理装置、及び基板処理方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009084686A (ja) * | 2007-09-11 | 2009-04-23 | Tokyo Electron Ltd | 基板載置機構、基板処理装置、基板載置機構上への膜堆積抑制方法及び記憶媒体 |
US8679254B2 (en) | 2010-01-26 | 2014-03-25 | Japan Pionics Co., Ltd. | Vapor phase epitaxy apparatus of group III nitride semiconductor |
JP2013534725A (ja) * | 2010-06-18 | 2013-09-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 処理チャンバ洗浄ガスの乱流を誘発するための方法および装置 |
KR20130136957A (ko) * | 2010-06-18 | 2013-12-13 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 프로세싱 챔버 세정 가스의 난류 유발 장치 및 방법 |
KR101717899B1 (ko) * | 2010-06-18 | 2017-03-20 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 프로세싱 챔버 세정 가스의 난류 유발 장치 및 방법 |
JP2013110325A (ja) * | 2011-11-22 | 2013-06-06 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 気相成長装置の抵抗加熱ヒータのパージ方法、気相成長装置 |
WO2014132948A1 (ja) * | 2013-02-27 | 2014-09-04 | 東洋炭素株式会社 | サセプタ |
JPWO2014132948A1 (ja) * | 2013-02-27 | 2017-02-02 | 東洋炭素株式会社 | サセプタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4874743B2 (ja) | 2012-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1760170B1 (en) | Chemical vapor deposition apparatus | |
JP4348542B2 (ja) | 石英治具及び半導体製造装置 | |
US7312422B2 (en) | Semiconductor batch heating assembly | |
US7645342B2 (en) | Restricted radiated heating assembly for high temperature processing | |
TWI464292B (zh) | 塗覆金之多晶矽反應器系統和方法 | |
JP4874743B2 (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体の気相成長装置 | |
JP4936277B2 (ja) | アルミニウム系iii族窒化物結晶の製造方法 | |
WO2007055381A1 (ja) | 成膜装置および成膜装置用の載置台 | |
JP2010034372A (ja) | 気相成長装置用のサセプタ及び気相成長装置 | |
JP4652408B2 (ja) | 基板処理装置、反応管、基板処理方法及び半導体装置の製造方法 | |
JP2007096280A5 (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体の気相成長装置 | |
US20010052324A1 (en) | Device for producing and processing semiconductor substrates | |
JP3693739B2 (ja) | 高周波誘導加熱炉 | |
KR20150001781U (ko) | 히터 조립체 | |
JP2009071210A (ja) | サセプタおよびエピタキシャル成長装置 | |
JP3383784B2 (ja) | 半導体ウェハの熱処理装置 | |
JP4923667B2 (ja) | Cvd装置 | |
JP2009094232A (ja) | サセプタおよび気相成長装置 | |
EP2633096B1 (en) | Thermal shield for silicon production reactors | |
JP2001313260A (ja) | 円盤状ヒータおよびウエハ処理装置 | |
KR20080009534A (ko) | 배치식 반응챔버의 히팅시스템 | |
JP2013157502A (ja) | 基板保持具及びそれを用いた気相成長装置 | |
TWI588090B (zh) | Coated graphite member | |
JP2007208199A (ja) | 珪素用分子線セル坩堝 | |
JP6513451B2 (ja) | 高温加熱装置、気相成長装置、及び気相成長方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090723 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090723 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110616 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110822 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20111011 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111017 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20111012 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111115 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111124 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141202 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |