JP2007088216A - 半導体装置とその駆動方法 - Google Patents
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Abstract
【課題を解決するための手段】 本発明は、データの書き込み及び消去をデータリード用トランジスタでは一切行わないことでセルのデータ保持信頼性向上を図る。更に、データリード時にゲート酸化膜に電界をかけないようにすることでセルのデータ保持信頼性向上を図る。
【選択図】 図1
Description
[データ消去時]
図4にデータ消去動作時の電圧印加条件を示す。
[データ書き込み時]
図5にデータ書き込み動作時の電圧印加条件を示す。
図6にデータリード動作時の電圧印加条件を示す。
2 Nウェル
3 Pウェル
4 ポリシリコン(フローティングゲート)
5a p+拡散層ドレイン(コントロールゲート)
5b p+拡散層ソース(コントロールゲート)
5c n+拡散層バックゲート(コントロールゲート)
6a n+拡散層ドレイン(リードトランジスタ)
6b n+拡散層ソース(リードトランジスタ)
6c p+拡散層バックゲート(リードトランジスタ)
7 p型半導体基板
Claims (6)
- 一つのセルが少なくとも第1及び第2のMOSトランジスタから構成され、共通のゲート電極から構成されるEEPROMであって、前記第1のMOSトランジスタを用いて書込及び消去動作を実施し、前記第2のMOSトランジスタを用いて読出動作を実施することを特徴とするEEPROM。
- 前記読出動作時に前記第1のMOSトランジスタの拡散層にほぼ0Vが供給されることを特徴とする請求項1記載のEEPROM。
- 前記セルに対する読出動作は前記第2のトランジスタの拡散層に所定電位を供給して実施され、前記セルに対する書込動作は前記第1のMOSトランジスタのゲート絶縁膜を介して電荷が前記セルのゲート電極に導入されることを特徴とする請求項1記載のEEPROM。
- 一つのセルが少なくとも第1及び第2のMOSトランジスタから構成され、共通のゲート電極から構成されるEEPROMの駆動方法であって、前記セルに対する読出動作は前記第2のトランジスタの拡散層に所定電位を供給して実施され、前記セルに対する書込動作は前記第1のMOSトランジスタのゲート絶縁膜を介して電荷が前記セルのゲート電極に導入されることを特徴とするEEPROMの駆動方法。
- 前記読出動作時に前記第1のMOSトランジスタの拡散層にほぼ0Vが供給されることを特徴とする請求項4記載のEEPROMの駆動方法。
- 前記セルに対する消去動作は前記第1のMOSトランジスタのゲート絶縁膜を介して電荷が前記セルのゲート電極から引き出されることを特徴とする請求項5記載のEEPROMの駆動方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7483310B1 (en) * | 2006-11-02 | 2009-01-27 | National Semiconductor Corporation | System and method for providing high endurance low cost CMOS compatible EEPROM devices |
US7804714B1 (en) | 2007-02-21 | 2010-09-28 | National Semiconductor Corporation | System and method for providing an EPROM with different gate oxide thicknesses |
US8067795B2 (en) * | 2007-03-12 | 2011-11-29 | Texas Instruments Incorporated | Single poly EEPROM without separate control gate nor erase regions |
US8320191B2 (en) | 2007-08-30 | 2012-11-27 | Infineon Technologies Ag | Memory cell arrangement, method for controlling a memory cell, memory array and electronic device |
US7989875B2 (en) * | 2008-11-24 | 2011-08-02 | Nxp B.V. | BiCMOS integration of multiple-times-programmable non-volatile memories |
US8299519B2 (en) * | 2010-01-11 | 2012-10-30 | International Business Machines Corporation | Read transistor for single poly non-volatile memory using body contacted SOI device |
US9393573B2 (en) | 2014-04-24 | 2016-07-19 | Separation Technologies Llc | Continuous belt for belt-type separator devices |
US9764332B2 (en) | 2015-02-13 | 2017-09-19 | Separation Technologies Llc | Edge air nozzles for belt-type separator devices |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0685275A (ja) * | 1990-12-31 | 1994-03-25 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | プログラム回路に向かうインターフェイスから分離された外部回路に向かうインターフェイスを有する単一金属レベルのゲートを有するeepromセル |
JPH06334190A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-12-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Eepromおよびかかるeepromを含む論理lsiチップ |
US6285238B1 (en) * | 1998-05-18 | 2001-09-04 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Electrically programmable fuse |
WO2001093275A1 (en) * | 2000-05-30 | 2001-12-06 | Hitachi,Ltd | Semiconductor device and mobile communication terminal |
JP2003264248A (ja) * | 2002-03-11 | 2003-09-19 | Denso Corp | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
US6731541B2 (en) * | 2001-05-09 | 2004-05-04 | Gennum Corporation | Low voltage single poly deep sub-micron flash EEPROM |
JP2005353984A (ja) * | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Seiko Epson Corp | 不揮発性記憶装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7071060B1 (en) * | 1996-02-28 | 2006-07-04 | Sandisk Corporation | EEPROM with split gate source side infection with sidewall spacers |
US5339279A (en) * | 1993-05-07 | 1994-08-16 | Motorola, Inc. | Block erasable flash EEPROM apparatus and method thereof |
US5898614A (en) * | 1994-11-30 | 1999-04-27 | Nkk Corporation | Non-volatile semiconductor memory device |
JP3740212B2 (ja) * | 1996-05-01 | 2006-02-01 | 株式会社ルネサステクノロジ | 不揮発性半導体記憶装置 |
US6044018A (en) | 1998-06-17 | 2000-03-28 | Mosel Vitelic, Inc. | Single-poly flash memory cell for embedded application and related methods |
CN100359601C (zh) * | 1999-02-01 | 2008-01-02 | 株式会社日立制作所 | 半导体集成电路和非易失性存储器元件 |
US6901006B1 (en) * | 1999-07-14 | 2005-05-31 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device including first, second and third gates |
TW495977B (en) * | 2001-09-28 | 2002-07-21 | Macronix Int Co Ltd | Erasing method for p-channel silicon nitride read only memory |
US7289362B2 (en) * | 2002-07-08 | 2007-10-30 | Nxp B.V. | Erasable and programmable non-volatile cell |
-
2005
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-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0685275A (ja) * | 1990-12-31 | 1994-03-25 | Sgs Thomson Microelettronica Spa | プログラム回路に向かうインターフェイスから分離された外部回路に向かうインターフェイスを有する単一金属レベルのゲートを有するeepromセル |
JPH06334190A (ja) * | 1993-05-07 | 1994-12-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Eepromおよびかかるeepromを含む論理lsiチップ |
US6285238B1 (en) * | 1998-05-18 | 2001-09-04 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Electrically programmable fuse |
WO2001093275A1 (en) * | 2000-05-30 | 2001-12-06 | Hitachi,Ltd | Semiconductor device and mobile communication terminal |
US6731541B2 (en) * | 2001-05-09 | 2004-05-04 | Gennum Corporation | Low voltage single poly deep sub-micron flash EEPROM |
JP2003264248A (ja) * | 2002-03-11 | 2003-09-19 | Denso Corp | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP2005353984A (ja) * | 2004-06-14 | 2005-12-22 | Seiko Epson Corp | 不揮発性記憶装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013021266A (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-31 | Seiko Instruments Inc | メモリ回路 |
KR20130027992A (ko) * | 2011-07-14 | 2013-03-18 | 세이코 인스트루 가부시키가이샤 | 메모리 회로 |
KR101962965B1 (ko) * | 2011-07-14 | 2019-03-27 | 에이블릭 가부시키가이샤 | 메모리 회로 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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