JP2007072579A - 情報処理装置、自己診断方法及びプログラム - Google Patents

情報処理装置、自己診断方法及びプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】本発明は自己診断テストを実施後、テスト結果とともに特定マークを表示する情報処理装置、自己診断方法およびプログラム。
【解決手段】所定の複数のキー(AC、シフト、メニュー)の同時押しにより、自己診断テストモードへの移行を報知する画面が表示され、さらに、所定のキー信号(“1”、“2”、“3”、“・”)のいずれかの入力により自己診断テストモードに移行し、自己診断テストが実施される。テスト結果が画面中央に表示され、所定の文字列(ABCDE)からなる特定マークが前記報知画面の表示中に入力されたキー信号に応じた位置とサイズで表示される。
【選択図】 図13

Description

本発明は自己診断機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びそのプログラムに関する。
小型の携帯可能な情報処理装置の一例として、各種数式を入力すると、入力された数式に基づいて演算を実行し、演算結果を表示する関数電卓(電子式卓上計算機)が知られている。関数電卓は複雑な演算をするために複雑な半導体回路を各種内蔵している。また、入力した数値、演算式、演算結果等を表示する表示装置を備えていることが一般的であった。
一方、半導体回路が正しく動作しているか否かを検査する装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。当該装置を関数電卓に備えることにより、例えば、電卓に内蔵されている半導体回路が正常であるか、異常があるかを検査する機能(以下、自己診断テスト機能と呼称する)を搭載することができる。
ここで、関数電卓等の製造工程において、検査者が製品の最終検査をすることが一般的である。例えば、電卓に内蔵された自己診断テストプログラムを実行させ、テスト結果を目視することにより、製品一つ一つの良否を判断する方法が採られている。
ここで、自己診断テストの結果を表示する画面は多くが単調な表示画面であった。工場等において極めて多くの製品をチェックする検査者にとっては単調な結果表示画面を見誤らないように一定の緊張感を持って検査をする必要があり、大きな負担を強いるものであった。
特開平6−342040号公報
このように従来の自己診断テスト機能には、テスト結果の表示の視認性が低いという欠点がある。
本発明の目的はテスト結果の表示の視認性が高い自己診断テスト機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びプログラムを提供することにある。
上記した課題を解決し目的を達成するために、本発明は以下に示す手段を用いている。
(1)本発明による自己診断テスト機能を有する情報処理装置の自己診断方法は、
入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を具備する自己診断方法である。
(2)本発明によるプログラムは、自己診断テスト機能を有する情報処理装置のコンピュータに
入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
を実行させるためのプログラムである。
(3)本発明による自己診断テスト機能を有する情報処理装置は、
入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定手段と、
このテストモード設定手段によって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施手段と、
このテスト実施手段により実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示手段と、
を具備する情報処理装置である。
以上説明したように本発明によれば、自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、動作モードをテストモードに設定するための第1キー信号の中の入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で特定マークを表示することにより、自己診断テストの結果表示の視認性が高い自己診断テスト機能を有する情報処理装置、自己診断方法及びプログラムを提供することができる。
以下、図面を参照して本発明による情報処理装置、自己診断方法の実施の形態を説明する。
図1は本発明の第1の実施の形態に係る携帯可能な情報処理装置としての関数電卓の構成を示すブロック図である。この関数電卓は、通常の動作モード以外に、種々の機能が正常に動作するか否かをテストする自己診断テストモードを有する。
システムバス12にCPU14、ROM16、RAM18、キー入力部20、表示部22が接続される。キー入力部20は、数字キーや演算キー等の数式の入力や機能選択等に必要なキー群を備えた入力装置であり、押下されたキーの信号をCPU14に出力する。このキー入力部20におけるキー入力により、数式の入力、関数の選択、演算実行の指示等の入力手段が実現される。キー入力部20は、電源オンのためのACキー20a、“0”〜“9”、“・”、“=”キーを含むテンキー20b、関数演算のための演算キー20c、シフトキー20d、メニューキー20e、終了(EXIT)キー20fとからなる。
テンキー20bは、関数電卓に対し数値を入力する為のキーであり、演算キー20cは、四則演算、関数演算を実行する場合の演算子を入力するためのキーである。
関数演算の入力は演算キー20c(単独の場合及びシフトキー20dとの組み合わせ)の入力のみならず、メニュー画面からの指定によっても可能である。これにより多数の種類の関数演算が可能である。
メニューキー20eは、関数電卓において各計算機能を実行する為のメニューを呼出すキーであり、シフトキー20dは他のキーと組み合わせて押下する際に利用するキーである。例えば、ACキー20aが押下されると、関数電卓の電源がON状態となり、シフトキー20dとACキー20aとを組み合わせて押下することにより、関数電卓の電源がOFF状態となる。
表示部22は各種キーの押下に応じた数式や文字等、関数電卓を使用するために必要な各種データ、数式、演算結果が表示される部分であり、ドットマトリクス方式の液晶表示装置(LCD)からなる。しかし、セグメント方式の液晶表示装置等であってもよい。
ROM16は図2の(a)に示すように、制御プログラム、計算プログラム、テストモードプログラム、テストモードROMデータからなる。テストモードプログラムはテストモードで実行されるテストプログラムである。テストモードROMデータは自己診断テスト時に使われる種々のデータを記憶するものであり、特定マークデータ、マークサイズ・位置データ、チェックデータ、チェック・サム等からなる。特定マークは自己診断テスト終了後にテスト結果の視認性を良くするために診断結果と共に表示されるものであり、ここでは、例えばABCDEが特定マークとして登録されている。マークサイズ・位置データは特定マークのサイズ、表示位置を指定するものであり、3種類の組み合わせがプリセットされている。この種類は自己診断テストモードへの移行を指示するキー入力(ここでは、“1”、“2”、“3”のいずれか)により指定される。チェックデータはROMのテスト(チェック・サムテスト)のためのチェック・サム計算のためのデータである。チェック・サムはチェック・サムテストの照合のための正しいチェック・サムである。
表示位置とは、表示部22における特定マークを表示する位置を示す。実際には表示部の座標を利用して位置を特定するが(例えば、横方向で5ドット目、縦方向で3ドット目)、本実施形態においては、説明の簡明化の為、表示部50の左上、右下、上中央等と相対的な位置として表すことにする。
サイズとは特定マークの大きさを表すものであり、ここでは関数電卓が数値や数式を表示する場合の標準的なサイズの何倍の大きさであるかを相対的に示している。なお、他にも大きさを指定する方法として、例えば、文字のポイントを指定する方法であったりしても良い。
RAM18はCPU14が実行する各種プログラムや、これらのプログラムの実行にかかるデータ等を一時的に保持する随時書き込み可能なメモリであり、図2の(b)に示すように、システムエリアとユーザエリアとからなり、システムエリアはテストモードRAMデータと、その他のデータからなる。テストモードRAMデータはテスト移行キー、テスト項目フラグ1〜テスト項目フラグ5からなる。テスト移行キーは自己診断テストモードへの移行を指示するキー(上記マークサイズ・位置を指定するキー)を記憶するものである。テスト項目フラグは各項目のテスト結果を示すもので、初期値は0がセットされ、テスト終了時に、結果が正常(OK)であれば1が、異常(NG)であれば2がセットされる。
図3、図4は自己診断テストモード処理のフローチャートである。本実施形態は通常モードに加えて自己診断テストモードを備えている。通常モードはACキー20aにより電源オンされると開始されるが、自己診断テストモードは電源オフ中にACキー20aを含む少なくとも2つの特定キー、ここではシフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されることにより開始される。なお、自己診断モードは工場で出荷前に使われるもので、一般ユーザには無関係のものである。そのため、自己診断テストモード開始のためのキーはユーザには知らせない。
ステップS12で電源オフか否か判定される。なお、電源オフ時でもキースキャンは行われている。オフの場合は、ステップS14でACキー20a、シフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されたか否か判定される。同時押しが検出されない場合は、ステップS12に戻る。電源がオンされると、通常モード処理が行われる。
3つの特定キーの同時押しが検出された場合は、ステップS16で自己診断モードへの移行を報知する画面を表示する。これは、電源オフ中に間違ってACキー20a、シフトキー20d、メニューキー20eを同時に押してしまった一般ユーザのためであり、「自己診断テストモードは工場で使用するためのものです。終了キーを押して(通常モードに戻って)下さい。」を表示する。この後、ステップS18で終了キーが押された否か判定され、押されたことが検出されると、通常モード処理が行われる。
工場では実際に自己診断テストモードに移行する必要があり、自己診断テストモード移行報知画面の表示中に終了キーではない所定のテスト移行キーを押す必要がある。前述したように、テスト移行キーは特定マークの表示の態様(サイズ、位置)を指定する機能も兼ねており、移行キーは“1”、“2”、“3”、“・”が予め決められている。なお、移行キー “・”は、自己診断テストモードに移行するが、自己診断テスト終了後に特定マークの表示を省略したい場合に押される。ステップS20でこれらのテスト移行キーのいずれかが押されたか否か判定される。これらのテスト移行キーのいずれも押されない場合は、通常モード処理が行われる。
これらのテスト移行キーのいずれかが押された場合、自己診断テストモード処理が実際に開始する。ステップS22でこのテスト移行キー信号がRAM18のテスト移行キーメモリに格納される。ステップS24でRAM18のテスト項目フラグ1〜5がリセット(“0”をセット)される。ステップS26でテスト項目一覧が表示される。テスト項目は5つ:LCDテスト、ROMテスト、RAMテスト、通信テスト、リセットあり、それぞれに数字の1〜5が割り振られ、数字を入力することによりテスト項目が選択できる。
ステップS28でテスト項目を選択するキーが押されたか否か判定される。キー入力が検出されるまでステップS28が繰り返され、キー入力が検出されると、ステップS30でキーが判別される。“1”キーが押された場合はステップS32でLCDテストが、“2”キーが押された場合はステップS34でROMテストが、“3”キーが押された場合はステップS36でRAMテストが、“4”キーが押された場合はステップS38で通信テストが、“5”キーが押された場合はステップS40でリセット処理が実行される。各テスト(リセット処理もテストに含む)の詳細は後述する。
ステップS42で全てのテストが実行されたか否か判定される。テスト項目フラグ1〜5は初期値が“0”であるので、テスト項目フラグ1〜5の全てが“0”以外であれば、全てのテストが実行されたと判定できる。“0”であるテスト項目フラグが1つでもあれば、ステップS26に戻り、テスト項目の選択が繰り返される。ステップS44で全てのテスト結果が正常か否か判定される。後述するが、テストが終了すると、テスト結果に応じた値がテスト項目フラグにセットされるので、このフラグの値に応じてテスト結果を判定できる。
全てのテスト結果が正常である場合は、ステップS46で、画面中央に「全てのテストOK」と表示される。1つでもテスト結果が異常である場合は、ステップS48で、画面中央に「テストNG」と表示される。この後、ステップS50で特定マークも表示される。この詳細も後述する。
ステップS52でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、通常モード処理に移行する。
図5は図4のステップS50で実行されるマーク表示処理の詳細なフローチャートである。ステップS62でRAM18のテスト移行キーメモリを参照してテスト移行キーが“・”であったか否か判定される。テスト移行キーが“・”であった場合は、マーク表示処理を実行せずに終了する。
テスト移行キーが“・”ではない場合は、ステップS64でテスト移行キー“1”、“2”、“3”に応じたマークサイズデータがROM16のテストモードROMデータエリアから読み出され、ステップS66でそのサイズデータに応じて特定マークが拡大される。例えば、テスト移行キーが“1”の場合は拡大処理無し、“2”の場合は3倍、“3”の場合は2倍に拡大される。
ステップS68でテスト移行キー“1”、“2”、“3”に応じたマーク位置データがROM16のテストモードROMデータエリアから読み出され、ステップS70でその表示位置に拡大処理後の特定マークが表示される。例えば、テスト移行キーが“1”の場合は左上に、“2”の場合は上中央、“3”の場合は右下に特定マークが表示される。
図6は図4のステップS32で実行されるLCDテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップS74でLCDの全画素が点灯される。LCDテストは人が目視して正しく点灯しているか否かを判定するもので、正しく点灯している場合は“=”キーを押し、正しくない場合はそれ以外のキーを押すことにしている。ステップS76で“=”キーが押されたか否かが判定される。“=”キー以外のキーが押された場合は、ステップS94でテスト項目フラグ1に“2”がセットされ、ステップS96で画面中央に「LCDテストNG」が表示される。
ステップS76で“=”キーが押されたと判定された場合は、ステップS78でLCDの全画素が消灯される。ステップS80で“=”キーが押されたか否かが判定される。“=”キー以外のキーが押された場合は、ステップS94でテスト項目フラグ1に“2”がセットされ、ステップS96で画面中央に「LCDテストNG」が表示される。
ステップS80で“=”キーが押されたと判定された場合は、ステップS82でLCDの画素が一つおきに千鳥状に点灯される。ステップS84で“=”キーが押されたか否かが判定される。“=”キー以外のキーが押された場合は、ステップS94でテスト項目フラグ1に“2”がセットされ、ステップS96で画面中央に「LCDテストNG」が表示される。
ステップS84で“=”キーが押されたと判定された場合は、ステップS86で周辺画素のみが枠状に点灯される。ステップS88で“=”キーが押されたか否かが判定される。“=”キー以外のキーが押された場合は、ステップS94でテスト項目フラグ1に“2”がセットされ、ステップS96で画面中央に「LCDテストNG」が表示される。周辺画素とは表示部22を構成する表示ドットのうち、端から所定の幅(例えば、3ドット分)を点灯状態とし、残りの部分(中央部分)を消灯状態とする表示である。
ステップS88で“=”キーが押されたと判定された場合は、ステップS90でテスト項目フラグ1に“1”がセットされ、ステップS92で画面中央に「LCDテストOK」が表示される。
ステップS98で図5に示すマーク表示処理が実行され、“1”、“2”、“3”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ABCDE”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
ステップS100でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、LCDテストを終了する。
図7は図4のステップS34で実行されるROMテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップS102でROM16のテストモードROMデータエリアからチェックデータを読み出し、チェック・サムを計算する。ステップS104で、この計算結果とROM16のテストモードROMデータエリアに格納されているチェック・サムとが照合される。
両者が一致する場合は、ステップS106でテスト項目フラグ2に“1”がセットされ、ステップS108で画面中央に「ROMテストOK」が表示される。両者が一致しない場合は、ステップS110でテスト項目フラグ2に“2”がセットされ、ステップS112で画面中央に「ROMテストNG」が表示される。
ステップS114で図5に示すマーク表示処理が実行され、“1”、“2”、“3”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ABCDE”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
ステップS116でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、ROMテストを終了する。
図8は図4のステップS36で実行されるRAMテスト処理の詳細なフローチャートである。ステップS120でRAM18のリード・ライトチェックを行う。ステップS122で、このリード・ライトチェックの結果が正常か否か判定される。
チェック結果が正常の場合は、ステップS124でテスト項目フラグ3に“1”がセットされ、ステップS126で画面中央に「RAMテストOK」が表示される。チェック結果が正常ではない場合は、ステップS128でテスト項目フラグ3に“2”がセットされ、ステップS130で画面中央に「RAMテストNG」が表示される。
ステップS132で図5に示すマーク表示処理が実行され、“1”、“2”、“3”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ABCDE”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
ステップS134でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、RAMテストを終了する。
図9は図4のステップS38で実行される通信テスト処理の詳細なフローチャートである。ステップS138でデータの送信チェックが開始される。ステップS140で通信表示処理(詳細は後述する)が実行される。ステップS142でデータの受信チェックが開始される。ステップS144で通信表示処理が実行される。
ステップS146で送信/受信チェックの結果が正常か否か判定される。
チェック結果が正常の場合は、ステップS148でテスト項目フラグ4に“1”がセットされ、ステップS150で画面中央に「通信テストOK」が表示される。チェック結果が正常ではない場合は、ステップS152でテスト項目フラグ4に“2”がセットされ、ステップS154で画面中央に「通信テストNG」が表示される。
ステップS156で図5に示すマーク表示処理が実行され、“1”、“2”、“3”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断モードに移行した場合は、特定マークである“ABCDE”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
ステップS158でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、通信テストを終了する。
図10は図9のステップS140で実行される通信(送信)表示処理の詳細を示すフローチャートである。ステップS144で実行される通信(受信)表示処理は図10の送信を受信に変えるだけで他は同じであるので、説明は省略する。
ステップS162で通信が行われるか否か判定される。本実施形態は関数電卓間をコードで接続することにより通信が行われるので、ステップS162では他の関数電卓と接続されているか否かに基づいて判定される。通信すると判定された場合は、ステップS164で所定の通信時間を特定マークの文字数である5で除算する。これは、特定マークを1文字ずつ送信しながら、スクロール表示するので、1文字の通信・表示時間を求めるものである。
ステップS166で“A”の送信中であることを通信時間の1/5だけ表示する。ステップS168で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップS184で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
終了キーが押されていない場合は、ステップS170で“B”の送信中であることを通信時間の1/5だけ表示する。ステップS172で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップS184で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
終了キーが押されていない場合は、ステップS174で“C”の送信中であることを通信時間の1/5だけ表示する。ステップS176で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップS184で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
終了キーが押されていない場合は、ステップS178で“D”の送信中であることを通信時間の1/5だけ表示する。ステップS180で終了キーが押されたか否か判定される。終了キーが押されると、ステップS184で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
終了キーが押されていない場合は、ステップS182で“E”の送信中であることを通信時間の1/5だけ表示する。
その後、ステップS184で送信が終了され、送信表示処理も終了する。
図11は図4のステップS40で実行されるリセット処理の詳細なフローチャートである。ステップS186でRAMのユーザエリアのデータをリセットする。
ステップS188でリセットが正常に行われたか否か判定される。
リセットが正常に行われた場合は、ステップS190でテスト項目フラグ5に“1”がセットされ、ステップS192で画面中央に「リセットOK」が表示される。リセットが正常に行われなかった場合は、ステップS194でテスト項目フラグ5に“2”がセットされ、ステップS196で画面中央に「リセットNG」が表示される。
ステップS198で図5に示すマーク表示処理が実行され、“1”、“2”、“3”のいずれかのキー入力に基づいて自己診断テストモードに移行した場合は、特定マークである“ABCDE”が入力キーに応じた位置、入力キーに応じたサイズで表示される。テスト結果の表示位置は画面中央に固定されているが、特定マークの表示位置は移行キーに応じて可変される。
ステップS200でいずれかのキーが操作されたか否か判定される。キー入力が検知されると、リセット処理を終了する。
以上の各フローチャートの動作に基づく全体の動作を画面の状態遷移を参照して説明する。
図12はLCDテストの動作を示す。図3のステップS14で電源オフ時にACキー20a、シフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されたことが検出されると、ステップS16で「自己診断テストモード(工場検査で使用)。終了キーを押して下さい。」というガイダンスが表示される。ガイダンス通り終了キーが押されると、通常モード処理が行われ、所定のテスト移行キーが押されると、テストモードに移行する。
ここでは、“1”キー(サイズ:1、表示位置:左上)によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップS26でテスト項目一覧が表示される。ここで、“1”キーが押され、LCDテストが開始される。
図6のステップS74でLCDの全画素が点灯される。作業者の目視の結果、正常であると判定されると、“=”キーが押され、ステップS78でLCDの全画素が消灯される。正常であると判定されると、“=”キーが押され、ステップS82でLCDの画素が一つおきに千鳥状に点灯される。正常であると判定されると、“=”キーが押され、ステップS86で周辺画素のみが枠状に点灯される。正常であると判定されると、“=”キーが押され、ステップS92で画面中央に「LCDテストOK」が表示され、ステップS98で画面左上に等倍で特定マーク“ABCDE”が表示される。各判定で異常と判断され、“=”キー以外のキーが押された場合は、ステップS92で画面中央に「LCDテストNG」が表示され、ステップS98で画面左上に等倍で特定マーク“ABCDE”が表示される。
図13はROMテストの動作を示す。図3のステップS14で電源オフ時にACキー20a、シフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されたことが検出されると、ステップS16で「自己診断テストモード(工場検査で使用)。終了キーを押して下さい。」というガイダンスが表示される。ガイダンス通り終了キーが押されると、通常モード処理が行われ、所定のテスト移行キーが押されると、テストモードに移行する。
ここでは、“2”キー(サイズ:3、表示位置:上中央)によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップS26でテスト項目一覧が表示される。ここで、“2”キーが押され、ROMテストが開始される。
ROMテストの結果はテストプログラムが判断し、チェック・サムが正しければ、ステップS108で画面中央に「ROMテストOK」が表示され、ステップS114で画面上中央に3倍に拡大された特定マーク“ABCDE”が表示される。異常と判断された場合は、ステップS112で画面中央に「ROMテストNG」が表示され、ステップS114で画面上中央に3倍に拡大された特定マーク“ABCDE”が表示される。
RAMテスト、リセットの表示画面の遷移はROMテスト同様であるので、説明は省略する。
図14は通信テストの動作を示す。自己診断テストモード移行報知画面で“3”キー(サイズ:2、表示位置:右下)によりテストモードへの移行が指示されたとする。ステップS26でテスト項目一覧が表示される。ここで、“4”キーが押され、通信テストが開始される。
図10のステップS166で“A”の送信中であること通信時間の1/5だけが表示される。以下、同様にステップS170、S174、S178、S182で“B”、“C”、“D”、“E”の送信中であることが表示される。ステップS184で送信完了した旨が表示される。
その後、図9の送信/受信チェックが行われ、正常な場合は、ステップS150で画面中央に「通信テストOK」が表示され、ステップS156で画面右下に2倍に拡大された特定マーク“ABCDE”が表示される。異常と判断された場合は、ステップS154で画面中央に「通信テストNG」が表示され、ステップS156で画面右下に2倍に拡大された特定マーク“ABCDE”が表示される。
以上説明したように、第1の実施の形態によれば、第1キー信号に応じて動作モードをテストモードに設定し、自己診断テストを実施し、テスト結果を所定の位置に表示するとともに、特定マークを第1キー信号に応じた態様で表示する。
これにより、自己診断テストの結果が所定のマークと共に表示されるので、テスト結果の視認性が向上する。
テストモード設定は、少なくとも2つのキー信号に応じてテストモード移行報知画面を表示し、テストモード移行報知画面の表示中に入力された第1キー信号に応じてテストモードに移行し、テスト項目選択画面を表示する。テストの実施は、テスト項目選択画面の表示中に入力された第2キー信号に応じた項目の自己診断テストが実施される。
これにより、複数の自己診断テストを選択的に実行することができる。
テストモード移行報知画面表示手段はユーザに第1キー信号以外の第3キー信号の入力を促すメッセージを表示し、第3キー信号が入力されると、通常のモードが設定される。
これにより、誤って自己診断テストモードの開始を指示した場合、その指示をキャンセルすることができる。
特定マークは第1キー信号に応じた位置とサイズで表示される。
表示する特定マークのサイズを選択することができるので、テスト結果の視認性を状況に応じて変えることができる。
第1キー信号に応じたサイズと表示位置を示すデータを記憶するメモリをさらに具備し、特定マークはメモリを参照して第1キー信号に応じた位置に第1キー信号に応じたサイズで表示される。
表示する特定マークのサイズ、表示位置を選択することができるので、テスト結果の視認性を状況に応じて変えることができる。
特定マークを非表示とする第4キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定することができる。
これにより、テスト結果のみの表示も選択することができ、利便性の向上が図れる。
テスト項目には通信機能のテストも含まれ、特定マークは通信テスト中にも表示される。特定マークは複数の文字からなり、複数の文字が1文字ずつスクロール表示される。
テスト中にも特定マークがテストの進捗に従った態様で表示されるので、自己診断テストの実行が確認できる。
テスト項目が複数ある場合、全ての項目のテスト結果が正常であるか否かが表示される。
これにより、自己診断テストの結果が一目で確認できる。
変形例
この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。例えば、自己診断テストモードは電源オフ中にACキー20aを含む少なくとも2つの所定のキー、ここではシフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されることにより開始されるとしたが、電源オン中に少なくとも2つの所定のキー、ここではシフトキー20d、メニューキー20eが同時に押されることにより開始されるとしてもよいし、複数のキーを同時に押すのではなく、順番に押されても開始するようにしてもよい。また、通信テストに限り、テスト中に特定マークを表示することとしたが、他のテストにおいてもテスト中に特定マークを表示するようにしてもよい。さらに、所定のマークとして複数の文字を用いて説明したが、文字をモチーフにしたロゴであったり、所定のキャラクター絵柄であったり、さらには、静止画に限らず、アニメーション表示であってもよい。
また、上述した説明は、情報処理装置しては関数電卓を例に挙げて説明したが、関数電卓に限らず、四則演算を中心に扱う電卓や、金融計算機能を内蔵する金融計算電卓等に適用しても良いことは勿論である。さらに、電卓に限らず、携帯電話機、パーソナルコンピュータ、電子時計、PDA(Personal Digital Assistance)などの電子機器全般に本発明を適用して良いことは勿論である。具体的には、図2に示したROM16の各種データ・プログラムを記憶し、実行できる環境にある電子機器であれば、何れの電子機器にも適用可能である。
また、本発明は、コンピュータに所定の手段を実行させるための、あるいはコンピュータを所定の手段として機能させるための、あるいはコンピュータに所定の機能を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体としても実施することもできる。
本発明の携帯可能な情報処理装置の実施の形態としての関数電卓の構成を示すブロック図。 図1のROM、RAMに記憶されるデータの構造を構成を示す図。 関数電卓の自己診断テストモード処理を示すフローチャート。 図3に続く自己診断テストモード処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内のマーク表示処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内のLCDテスト処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内のROMテスト処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内のRAMテスト処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内の通信テスト処理を示すフローチャート。 通信テスト処理内の通信表示処理を示すフローチャート。 自己診断テストモード処理内のリセット処理を示すフローチャート。 LCDテスト時の表示部の画面遷移を示す図。 ROMテスト時の表示部の画面遷移を示す図。 通信テスト時の表示部の画面遷移を示す図。
符号の説明
14…CPU、16…ROM、18…RAM、20…キー入力部、22…表示部。

Claims (18)

  1. 自己診断テスト機能を有する情報処理装置の自己診断方法において、
    入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
    このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
    このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
    を具備する自己診断方法。
  2. 前記テストモード設定ステップは、
    入力された少なくとも2つのキー信号に応答してテストモード移行報知画面が前記表示画面に表示された状態で、いずれかの第1キー信号に応答してテストモードに設定し、このテストモードに設定された際に、テスト選択画面を前記表示画面に表示する選択画面表示ステップを具備し、
    前記テスト実施ステップは、
    この選択画面表示ステップによる前記テスト選択画面の表示中に入力されたいずれかの第2キー信号に応じた項目の自己診断テストを実施するテスト項目実施ステップを具備する請求項1記載の自己診断方法。
  3. 前記選択画面表示ステップはユーザに前記第1キー信号以外の第3キー信号の入力を促すメッセージを表示し、前記第3キー信号が入力されると、各計算機能を実行するための通常のモードが設定される請求項2記載の自己診断方法。
  4. 前記結果表示ステップは特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項1記載の自己診断方法。
  5. 前記テストモード設定ステップは、特定マークを非表示とする第4キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定する請求項1記載の自己診断方法。
  6. 前記テスト実施ステップは通信機能のテストを行なう通信テスト実施ステップを具備し、
    この通信テスト実施ステップによる通信テスト中に前記特定マークを前記表示画面に表示する通信中表示ステップを具備する請求項1記載の自己診断方法。
  7. 前記通信中表示ステップは、前記通信テスト中に前記特定マークを構成する文字を1文字ずつスクロール表示する請求項6記載の自己診断方法。
  8. 前記結果表示ステップは前記テスト実施ステップにより全ての自己診断テストが実施された際に、全ての結果が正常であるかどうかを表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する全結果表示ステップを具備する請求項2記載の自己診断方法。
  9. 自己診断テスト機能を有する情報処理装置のコンピュータに
    入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定ステップと、
    このテストモード設定ステップによって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施ステップと、
    このテスト実施ステップにより実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示ステップと、
    を実行させるためのプログラム。
  10. 自己診断テスト機能を有する情報処理装置において、
    入力されたいずれかの第1キー信号に応答して動作モードをテストモードに設定するテストモード設定手段と、
    このテストモード設定手段によって設定されたテストモードにおいて自己診断テストを実施するテスト実施手段と、
    このテスト実施手段により実施された自己診断テストの結果を表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する結果表示手段と、
    を具備する情報処理装置。
  11. 前記テストモード設定手段は、
    入力された少なくとも2つのキー信号に応答してテストモード移行報知画面が前記表示画面に表示された状態で、いずれかの第1キー信号に応答してテストモードに設定し、このテストモードに設定された際に、テスト選択画面を前記表示画面に表示する選択画面表示手段とを具備し、
    前記テスト実施手段は、
    この選択画面表示手段による前記テスト選択画面の表示中に入力されたいずれかの第2キー信号に応じた項目の自己診断テストを実施するテスト項目実施手段を具備する請求項10記載の情報処理装置。
  12. 前記選択画面表示手段はユーザに前記第1キー信号以外の第3キー信号の入力を促すメッセージを表示し、
    前記テストモード設定手段は前記第3キー信号が入力されると、各計算機能を実行するための通常のモードを設定する請求項11記載の情報処理装置。
  13. 前記結果表示手段は特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項10記載の情報処理装置。
  14. 前記第1キー信号に応じたサイズと表示位置を示すデータを記憶するメモリをさらに具備し、前記結果表示手段は前記メモリを参照して特定マークを前記第1キー信号に応じた位置とサイズで表示する請求項13記載の情報処理装置。
  15. 前記テストモード設定手段は、特定マークを非表示とする第4キー信号に応じても動作モードをテストモードに設定する請求項10記載の情報処理装置。
  16. 前記テスト実施手段は通信機能のテストを行なう通信テスト実施ステップを具備し、
    前記表示手段はこの通信テスト実施ステップによる通信テスト中に前記特定マークを前記表示画面に表示する通信中表示ステップを具備する請求項10記載の情報処理装置。
  17. 前記通信中表示手段は、前記通信テスト中に前記特定マークを構成する文字を1文字ずつスクロール表示する請求項16記載の情報処理装置。
  18. 前記結果表示手段は前記テスト実施手段により全ての自己診断テストが実施された際に、全ての結果が正常であるかどうかを表示画面の所定の位置に表示するとともに、特定マークを前記入力されたいずれかの第1キー信号に応じた態様で表示する全結果表示手段を具備する請求項11記載の情報処理装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019139745A (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
WO2019160047A1 (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8103908B2 (en) * 2007-12-28 2012-01-24 Intel Corporation Method and system for recovery of a computing environment during pre-boot and runtime phases
CN102298482A (zh) * 2010-06-23 2011-12-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 实现进入工程模式的电子装置及其方法
CN107943542A (zh) * 2017-11-28 2018-04-20 山东浪潮通软信息科技有限公司 一种配置信息管理方法、装置、可读介质及存储控制器

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS623349A (ja) * 1985-06-28 1987-01-09 Nec Corp 端末装置
JPS6280736A (ja) * 1985-10-02 1987-04-14 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 分散デ−タ処理システムのオペラビリテイをテストし表示するための装置
JPH02190940A (ja) * 1989-01-20 1990-07-26 Hitachi Ltd 情報処理装置
JPH04195341A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Hitachi Ltd 情報処理装置
JPH0566959A (ja) * 1991-09-09 1993-03-19 Sony Corp 電子機器
JPH0743784B2 (ja) * 1990-01-11 1995-05-15 矢崎総業株式会社 タクシーカードシステムの自己診断装置
JPH08179890A (ja) * 1994-12-26 1996-07-12 N J K:Kk コンピュータ処理用操作ボタンの自己診断情報表示方法
JPH11242611A (ja) * 1998-02-25 1999-09-07 Clarion Co Ltd 自己診断装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5119489A (en) * 1985-10-02 1992-06-02 International Business Machines Corporation Method of monitoring the bring up of all units in a multiple system from a remote unit including diagnostic testing with visual indicator illumination indicating operability
JPH0292135A (ja) 1988-09-29 1990-03-30 Toshiba Corp ボタン電話機
US5173906A (en) 1990-08-31 1992-12-22 Dreibelbis Jeffrey H Built-in self test for integrated circuits
US5822335A (en) * 1992-08-26 1998-10-13 Navistar International Transportation Corp. Display of electronic self-test results using gauge dial pointers
US5673028A (en) * 1993-01-07 1997-09-30 Levy; Henry A. Electronic component failure indicator
JP3080530B2 (ja) 1994-03-11 2000-08-28 アンリツ株式会社 無線端末試験装置
JP3363015B2 (ja) 1996-02-05 2003-01-07 本田技研工業株式会社 車両診断方法および装置
US6816143B1 (en) 1999-11-23 2004-11-09 Koninklijke Philips Electronics N.V. Self diagnostic and repair in matrix display panel
DE60140289D1 (de) * 2000-05-29 2009-12-10 Nxp Bv Auf indikation beruhendes datenträgermodul für die indikation von untersuchungresultaten
KR100793453B1 (ko) 2000-07-07 2008-01-14 동경 엘렉트론 주식회사 처리 장치의 유지 보수 방법, 처리 장치의 자동 검사방법, 처리 장치의 자동 복귀 방법 및 처리 장치를구동하는 소프트웨어의 자기 진단 방법
EP1471242B1 (en) * 2002-01-29 2020-04-01 Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha Self-diagnosis display unit
JP2004030765A (ja) 2002-06-25 2004-01-29 Fujitsu Ltd 自己診断機能内蔵の半導体記憶装置
JP2004093198A (ja) 2002-08-29 2004-03-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 自己診断機能を有する電子装置
US7111218B2 (en) * 2004-08-09 2006-09-19 Maytag Corporation Apparatus with self-test circuit

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS623349A (ja) * 1985-06-28 1987-01-09 Nec Corp 端末装置
JPS6280736A (ja) * 1985-10-02 1987-04-14 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 分散デ−タ処理システムのオペラビリテイをテストし表示するための装置
JPH02190940A (ja) * 1989-01-20 1990-07-26 Hitachi Ltd 情報処理装置
JPH0743784B2 (ja) * 1990-01-11 1995-05-15 矢崎総業株式会社 タクシーカードシステムの自己診断装置
JPH04195341A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Hitachi Ltd 情報処理装置
JPH0566959A (ja) * 1991-09-09 1993-03-19 Sony Corp 電子機器
JPH08179890A (ja) * 1994-12-26 1996-07-12 N J K:Kk コンピュータ処理用操作ボタンの自己診断情報表示方法
JPH11242611A (ja) * 1998-02-25 1999-09-07 Clarion Co Ltd 自己診断装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019139745A (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
WO2019160047A1 (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
CN111727431A (zh) * 2018-02-14 2020-09-29 卡西欧计算机株式会社 电子设备、电子设备的控制方法及程序
JP7035977B2 (ja) 2018-02-14 2022-03-15 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
JP2022044670A (ja) * 2018-02-14 2022-03-17 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
JP7226596B2 (ja) 2018-02-14 2023-02-21 カシオ計算機株式会社 電子機器、電子機器の制御方法及びプログラム
CN111727431B (zh) * 2018-02-14 2023-12-19 卡西欧计算机株式会社 电子设备和电子设备的控制方法

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